JPH0615112B2 - 溶接2次ケーブルの断線検出方法 - Google Patents
溶接2次ケーブルの断線検出方法Info
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- JPH0615112B2 JPH0615112B2 JP62246920A JP24692087A JPH0615112B2 JP H0615112 B2 JPH0615112 B2 JP H0615112B2 JP 62246920 A JP62246920 A JP 62246920A JP 24692087 A JP24692087 A JP 24692087A JP H0615112 B2 JPH0615112 B2 JP H0615112B2
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、溶接ガンと変圧器とを接続する溶接2次ケー
ブルを構成する複数の内部導体の断線を検出する検出方
法に関する。
ブルを構成する複数の内部導体の断線を検出する検出方
法に関する。
「従来の技術」 本件出願人は既に溶接用2次ケーブルの断線検出方法と
して磁気センサの磁界強度信号を統計的手法により処理
して磁気強度のバラツキ量(標準偏差、分散等の統計
量)を求め、このバラツキ量と予め設定したしきい値と
の比較により、溶接2次ケーブルを構成する内部導体の
断線を検出する方法を提案し、迅速かつ連続的な断線検
出を可能にして常時監視態勢を採り、突発的な作業中断
を未然に防止するとともに点検工数の削減を図った。
して磁気センサの磁界強度信号を統計的手法により処理
して磁気強度のバラツキ量(標準偏差、分散等の統計
量)を求め、このバラツキ量と予め設定したしきい値と
の比較により、溶接2次ケーブルを構成する内部導体の
断線を検出する方法を提案し、迅速かつ連続的な断線検
出を可能にして常時監視態勢を採り、突発的な作業中断
を未然に防止するとともに点検工数の削減を図った。
「発明が解決しようとする問題点」 しかしながら、前記方法は溶接2次ケーブル外周上に配
設した複数の磁気センサの磁界強度信号を、統計的手法
により処理して求めた磁界強度のバラツキ量(標準偏
差、偏差平方和、分散、範囲等)を断線判定値とするも
のである。一方、前記ケーブル外周上の磁界の強さは、
溶接時の通電電流により変化する。このため通電電流の
多寡により前記断線判定値たる統計量も必然的に変化
し、ケーブルを構成する内部導体の断線率に変化がなく
ても、予め設定したしきい値を越えたり越えなかったり
して、判定誤差を生じる危険性がある等の解決すべき問
題点があった。
設した複数の磁気センサの磁界強度信号を、統計的手法
により処理して求めた磁界強度のバラツキ量(標準偏
差、偏差平方和、分散、範囲等)を断線判定値とするも
のである。一方、前記ケーブル外周上の磁界の強さは、
溶接時の通電電流により変化する。このため通電電流の
多寡により前記断線判定値たる統計量も必然的に変化
し、ケーブルを構成する内部導体の断線率に変化がなく
ても、予め設定したしきい値を越えたり越えなかったり
して、判定誤差を生じる危険性がある等の解決すべき問
題点があった。
「問題点を解決するための手段」 本発明は、前記問題点を解決し溶接2次ケーブルの内部
導体の断線による溶接品質の低下、及び突発的な作業中
断を未然に防止することを目的とするもので、第1の発
明の具体的構成は、溶接ガンと変圧器とを接続する複数
の正側内部導体と、複数の負側内部導体とをケーブル断
面に対して交互にリング状に配列して構成した溶接2次
ケーブルの外周に、前記各内部導体に対応させて複数の
磁気センサを配置し、その各磁気センサから出力される
磁界強度信号を統計的手法により処理して磁界強度のバ
ラツキ量を求めるとともに、このバラツキ量を前記複数
の磁気センサ出力の総和、若しくはその平均値で除して
算出した特性値と予め設定したしきい値との比較によ
り、前記溶接2次ケーブルを構成する各内部導体の断線
を検出することを特徴とするものである。
導体の断線による溶接品質の低下、及び突発的な作業中
断を未然に防止することを目的とするもので、第1の発
明の具体的構成は、溶接ガンと変圧器とを接続する複数
の正側内部導体と、複数の負側内部導体とをケーブル断
面に対して交互にリング状に配列して構成した溶接2次
ケーブルの外周に、前記各内部導体に対応させて複数の
磁気センサを配置し、その各磁気センサから出力される
磁界強度信号を統計的手法により処理して磁界強度のバ
ラツキ量を求めるとともに、このバラツキ量を前記複数
の磁気センサ出力の総和、若しくはその平均値で除して
算出した特性値と予め設定したしきい値との比較によ
り、前記溶接2次ケーブルを構成する各内部導体の断線
を検出することを特徴とするものである。
また、第2の発明の具体的構成は、溶接ガンと変圧器と
を接続する複数の正側内部導体と、複数の負側内部導体
とをケーブル断面に対して交互にリング状に配列して構
成した溶接2次ケーブルの外周に、前記各内部導体に対
応させて複数の磁気センサを配置し、その各磁気センサ
から出力される磁界強度信号を統計的手法により処理し
て磁界強度のバラツキ量を求めるとともに、このバラツ
キ量を前記複数の磁気センサ出力の総和、若しくはその
平均値で除して算出した特性値を毎回記憶し、過去N回
の特性値の平均値と予め設定したしきい値との比較によ
り、前記溶接2次ケーブルを構成する各内部導体の断線
を検出することを特徴とするものである。
を接続する複数の正側内部導体と、複数の負側内部導体
とをケーブル断面に対して交互にリング状に配列して構
成した溶接2次ケーブルの外周に、前記各内部導体に対
応させて複数の磁気センサを配置し、その各磁気センサ
から出力される磁界強度信号を統計的手法により処理し
て磁界強度のバラツキ量を求めるとともに、このバラツ
キ量を前記複数の磁気センサ出力の総和、若しくはその
平均値で除して算出した特性値を毎回記憶し、過去N回
の特性値の平均値と予め設定したしきい値との比較によ
り、前記溶接2次ケーブルを構成する各内部導体の断線
を検出することを特徴とするものである。
「作用」 本発明方法は、前記具体的構成の説明により明らかにし
たように、内部導体に対応させて配置した磁気センサか
ら出力される磁界強度信号を統計的手法により処理して
磁界強度のバラツキ量を定量的に求めるとともに、この
バラツキ量を前記複数の磁気センサ出力の総和、若しく
はその平均値で除して算出した値をケーブルの断線検出
の特性値としてとらえることにより、通電電流変化によ
る影響を小さくして、溶接2次ケーブルを構成する内部
導体の断線の有無を、明確な有意差をもって確実に検出
する。
たように、内部導体に対応させて配置した磁気センサか
ら出力される磁界強度信号を統計的手法により処理して
磁界強度のバラツキ量を定量的に求めるとともに、この
バラツキ量を前記複数の磁気センサ出力の総和、若しく
はその平均値で除して算出した値をケーブルの断線検出
の特性値としてとらえることにより、通電電流変化によ
る影響を小さくして、溶接2次ケーブルを構成する内部
導体の断線の有無を、明確な有意差をもって確実に検出
する。
また、前記特性値を毎回記憶し、過去N回の特性値の平
均値によって断線を判定することにより、前記特性値の
溶接位置によるバラツキを低減でき、より精度の高い断
線検出が可能である。
均値によって断線を判定することにより、前記特性値の
溶接位置によるバラツキを低減でき、より精度の高い断
線検出が可能である。
「実施例」 本件発明方法及びその装置の一実施例を添付図面に基づ
いて説明する。
いて説明する。
第1図は、溶接2次ケーブル1(以下ケーブルという)
の断面構造の一例を示したもので、それぞれ電流方向が
相反する正側内部導体2a,2b,2cと負側内部導体
3a,3b,3cとを、交互にケーブル断面に対してリ
ング状に平行に配置し、各内部導体間を絶縁セパレータ
4により分離区画するとともに、交流インピーダンスを
下げるため各内部導体にケーブル長手方向の撚りをか
け、外装チューブ5に収める。このケーブル1の使用時
には、外装チューブ5内の空隙6に冷却水を通して冷却
する。
の断面構造の一例を示したもので、それぞれ電流方向が
相反する正側内部導体2a,2b,2cと負側内部導体
3a,3b,3cとを、交互にケーブル断面に対してリ
ング状に平行に配置し、各内部導体間を絶縁セパレータ
4により分離区画するとともに、交流インピーダンスを
下げるため各内部導体にケーブル長手方向の撚りをか
け、外装チューブ5に収める。このケーブル1の使用時
には、外装チューブ5内の空隙6に冷却水を通して冷却
する。
第2図は、本発明方法の基礎となる前記ケーブル1の近
傍磁界の計測方法を示したもので、同図矢線に示すよう
に各内部導体に通電した場合に、ケーブル1の中心から
放射方向に発生する磁力線gで形成される磁界の強さ
を、ガウスメータGにより計測する。
傍磁界の計測方法を示したもので、同図矢線に示すよう
に各内部導体に通電した場合に、ケーブル1の中心から
放射方向に発生する磁力線gで形成される磁界の強さ
を、ガウスメータGにより計測する。
またこの計測方法によりケーブル1を構成する内部導体
の断線を検出することができる原理を簡単に説明する。
の断線を検出することができる原理を簡単に説明する。
平行に置かれた2本の導体に、それぞれ逆方向に電流を
流すと、各導体の周りには磁力線の方向が逆方向の磁界
が発生し、2本の導体の中間位置の磁界強度は両者を重
ね合わせた強度を示す。この中間位置に磁気センサを配
置すると2本の導体に流れる電気量の変化を、磁界強度
の変化として捉えることができる。さらにこれをケーブ
ル1を構成する3組の内部導体束に適用すると、3個の
磁気センサにより、各3組の導体束に流れる電流量の変
化を捉えることが可能となり、各内部導体を形成する細
銅線が徐々に破断して内部導体の抵抗が変化し電流の分
流比率が変化するから、これを磁界強度の変化として捉
え、内部導体の断線を検出することができる。
流すと、各導体の周りには磁力線の方向が逆方向の磁界
が発生し、2本の導体の中間位置の磁界強度は両者を重
ね合わせた強度を示す。この中間位置に磁気センサを配
置すると2本の導体に流れる電気量の変化を、磁界強度
の変化として捉えることができる。さらにこれをケーブ
ル1を構成する3組の内部導体束に適用すると、3個の
磁気センサにより、各3組の導体束に流れる電流量の変
化を捉えることが可能となり、各内部導体を形成する細
銅線が徐々に破断して内部導体の抵抗が変化し電流の分
流比率が変化するから、これを磁界強度の変化として捉
え、内部導体の断線を検出することができる。
第3図(イ),(ロ)は、前記計測方法及び計測原理に従
い、ケーブルを構成する内部導体の断線モード及びその
近傍磁界の磁界強度の分布をケーブルの円周状に沿って
計測した結果を示す。
い、ケーブルを構成する内部導体の断線モード及びその
近傍磁界の磁界強度の分布をケーブルの円周状に沿って
計測した結果を示す。
第3図(イ)において、縦軸に磁界強さを、横軸に内部導
体を配列順に並べて表す。横軸の導体に付した番号は、
同図(ロ)のAに示すように第1図に示した各内部導体に
ついて時計廻り順に付した番号であり、B,C,Dにお
いて番号を付していないものは、断線した内部導体を示
す。第3図(イ),(ロ)によれば、内部導体に断線のない
正常なケーブルでは、各内部導体の中間において、磁界
の強さが等しくかつ最大となる周期的パターンを示し、
内部導体に断線のあるケーブルでは、磁界の強さが変化
し周期的パターンを呈することもなく両者に大きな相違
がある。
体を配列順に並べて表す。横軸の導体に付した番号は、
同図(ロ)のAに示すように第1図に示した各内部導体に
ついて時計廻り順に付した番号であり、B,C,Dにお
いて番号を付していないものは、断線した内部導体を示
す。第3図(イ),(ロ)によれば、内部導体に断線のない
正常なケーブルでは、各内部導体の中間において、磁界
の強さが等しくかつ最大となる周期的パターンを示し、
内部導体に断線のあるケーブルでは、磁界の強さが変化
し周期的パターンを呈することもなく両者に大きな相違
がある。
尚、ケーブルの断線パターンとして内部導体の全てが同
時に断線することなく、1〜2本の内部導体が徐々に断
線していくのが普通である。従って、磁界強度の乱れを
定量的に捉えることによりケーブルの内部導体の断線を
検出できる。
時に断線することなく、1〜2本の内部導体が徐々に断
線していくのが普通である。従って、磁界強度の乱れを
定量的に捉えることによりケーブルの内部導体の断線を
検出できる。
第4図(A),(B)は、第1図に示す構造のケーブル1に配
置する磁気センサの配置位置を示したもので、正側内部
導体と負側内部導体例えば2aと3a,2bと3b,2
cと3cの三組の内部導体の各ペアの中間に磁気センサ
を配置するもので、同図(A)の場合はケーブル1の外装
チューブ5の同一円周上に120゜角間隔に3個の磁気
センサSa,Sb,Scを配置し、各内部導体の通電時
に発生する放射方向の最大磁束を捉えるようにし、また
同図(B)の場合は、ケーブル1を構成する各内部導体に
は前記のように長手方向に沿って撚りがかけられている
ため、円周上の一点で長手方向の断面を考えると、図に
示す如く各内部導体が一列に並ぶことから、3個の磁気
センサSa,Sb,Scを外装チューブ5の外側で長手
方向の一直線上に配置して、各内部導体の通電時に発生
する垂直方向の最大磁束を捉えるようにする。
置する磁気センサの配置位置を示したもので、正側内部
導体と負側内部導体例えば2aと3a,2bと3b,2
cと3cの三組の内部導体の各ペアの中間に磁気センサ
を配置するもので、同図(A)の場合はケーブル1の外装
チューブ5の同一円周上に120゜角間隔に3個の磁気
センサSa,Sb,Scを配置し、各内部導体の通電時
に発生する放射方向の最大磁束を捉えるようにし、また
同図(B)の場合は、ケーブル1を構成する各内部導体に
は前記のように長手方向に沿って撚りがかけられている
ため、円周上の一点で長手方向の断面を考えると、図に
示す如く各内部導体が一列に並ぶことから、3個の磁気
センサSa,Sb,Scを外装チューブ5の外側で長手
方向の一直線上に配置して、各内部導体の通電時に発生
する垂直方向の最大磁束を捉えるようにする。
尚、磁気センサとして、本実施例においてはホール素子
を用いているが、磁気抵抗素子、コイル等の磁電変換素
子を使用することもできる。
を用いているが、磁気抵抗素子、コイル等の磁電変換素
子を使用することもできる。
第5図は本発明方法を適用する装置のブロックダイヤグ
ラムを示す。
ラムを示す。
10は前置増幅器であって、ケーブル1に嵌めたセンサ
リング7内に前記第4図(A)に示すように配置した3個
の磁気センサSa,Sb,Scからの磁界強度信号を、
信号処理可能レベルまで増幅するもので、各磁気センサ
に対応して3個の増幅器10a,10b,10cを有す
る。11は特定の溶接電流サイクルの信号のみを通過さ
せるサンプルスイッチで3個のスイッチ11a,11
b,11cからなる。12はサンプルスイッニ11を通
過した磁界強度信号の最大値を記憶するピークホールド
回路で3個の回路12a,12b,12cからなる。1
3はピークホールド回路に記憶されたアナログ電圧をマ
イクロコンピュータ14の処理しやすいデジタル信号に
変換するA/D変換回路、14はA/D変換器13から
のデジタル信号を用いて、統計量(標準偏差、偏差平方
和、分散、範囲等)の演算や、その演算結果に基づきケ
ーブル1を構成する内部導体の断線の有無の判定を行う
マイクロコンピュータであって、CPU,RAM,RO
M,アドレスデコーダ回路15及び入出力インターフェ
イス16からなる。17はパルス化回路であって、溶接
電流サイクルを積算する積算回路21を作動させるため
の信号を前置増幅器10の増幅信号により作るため、最
大値セレクタ回路18、比較回路19及びしきい値電圧
設定回路20とからなる。また積算回路21は1位の積
算回路21aと10位の積算回路21bとからなる。2
2はサンプルサイクル数設定回路、23は該回路22か
らの信号と1位の積算回路21aの信号とから、設定し
たサイクル数に達したことを判別する比較回路である。
24はサンプルスイッチ駆動信号発生回路で比較回路2
3の信号を受けて出力信号を発し、前記サンプルスイッ
チ11をON/OFFさせて、特定の溶接電流サイクル
の1サイクル分の電流によって発生する磁界強度を示す
信号を通過せしめる。25は加圧バルブ信号入力回路で
あって、溶接機からの溶接プロセスの始動、完了の情報
を加圧バルブ信号として入力し、溶接終了信号発生回路
26、リセット信号発生回路27に信号を送る。溶接終
了信号発生回路26は無通電判別を行う無通電判別フリ
ップフロップ回路29にリセット信号を送る。リセット
信号発生回路27は溶接開始時に、ピークホールド回路
12、積算回路21等をリセットするリセット信号を送
る。28は判定開始判別フリップフロップ回路であっ
て、前記マイクロコンピュータ14に、演算処理、断線
判定処理を開始するタイミング情報を送る。その他30
は断線判定結果を表示するランプ31,32を点灯する
ランプ点灯回路、33は電源回路であって、前記各回路
に所定電圧を供給する。
リング7内に前記第4図(A)に示すように配置した3個
の磁気センサSa,Sb,Scからの磁界強度信号を、
信号処理可能レベルまで増幅するもので、各磁気センサ
に対応して3個の増幅器10a,10b,10cを有す
る。11は特定の溶接電流サイクルの信号のみを通過さ
せるサンプルスイッチで3個のスイッチ11a,11
b,11cからなる。12はサンプルスイッニ11を通
過した磁界強度信号の最大値を記憶するピークホールド
回路で3個の回路12a,12b,12cからなる。1
3はピークホールド回路に記憶されたアナログ電圧をマ
イクロコンピュータ14の処理しやすいデジタル信号に
変換するA/D変換回路、14はA/D変換器13から
のデジタル信号を用いて、統計量(標準偏差、偏差平方
和、分散、範囲等)の演算や、その演算結果に基づきケ
ーブル1を構成する内部導体の断線の有無の判定を行う
マイクロコンピュータであって、CPU,RAM,RO
M,アドレスデコーダ回路15及び入出力インターフェ
イス16からなる。17はパルス化回路であって、溶接
電流サイクルを積算する積算回路21を作動させるため
の信号を前置増幅器10の増幅信号により作るため、最
大値セレクタ回路18、比較回路19及びしきい値電圧
設定回路20とからなる。また積算回路21は1位の積
算回路21aと10位の積算回路21bとからなる。2
2はサンプルサイクル数設定回路、23は該回路22か
らの信号と1位の積算回路21aの信号とから、設定し
たサイクル数に達したことを判別する比較回路である。
24はサンプルスイッチ駆動信号発生回路で比較回路2
3の信号を受けて出力信号を発し、前記サンプルスイッ
チ11をON/OFFさせて、特定の溶接電流サイクル
の1サイクル分の電流によって発生する磁界強度を示す
信号を通過せしめる。25は加圧バルブ信号入力回路で
あって、溶接機からの溶接プロセスの始動、完了の情報
を加圧バルブ信号として入力し、溶接終了信号発生回路
26、リセット信号発生回路27に信号を送る。溶接終
了信号発生回路26は無通電判別を行う無通電判別フリ
ップフロップ回路29にリセット信号を送る。リセット
信号発生回路27は溶接開始時に、ピークホールド回路
12、積算回路21等をリセットするリセット信号を送
る。28は判定開始判別フリップフロップ回路であっ
て、前記マイクロコンピュータ14に、演算処理、断線
判定処理を開始するタイミング情報を送る。その他30
は断線判定結果を表示するランプ31,32を点灯する
ランプ点灯回路、33は電源回路であって、前記各回路
に所定電圧を供給する。
以下に本発明装置の作動を第5図のブロックダイヤグラ
ム及び第6図の本発明装置のタイミングチャートに従い
説明する。
ム及び第6図の本発明装置のタイミングチャートに従い
説明する。
溶接用自動機(ロボット、専用機等)や溶接作業者か
ら、溶接制御装置40に溶接指令信号が加えられると、
溶接動作が開始され第6図Aで示す加圧バルブ信号が、
溶接電極による被溶接部材圧接のためのシリンダを制御
する制御バルブに発せられる。また本発明装置の断線検
出装置(以下単に装置という)に加えられた前記加圧バ
ルブ信号は、加圧バルブ信号入力回路25でスクイズ動
作による誤動作を防止するため若干の遅延を加えた後
(第6図B)、リセット信号発生回路27によりリセッ
ト信号を発する(同図D)。このリセット信号は装置の
ピークホールド回路12,積算回路21,判定開始判別
フリップフロップ回路28,ゲート制御フリップフロッ
プ回路34等に供給され、それらの回路の初期化を行
う。続いて初期加圧時間終了後通電時間に入ると、ケー
ブル1には溶接電流が流れケーブル1の近傍に磁界が発
生し、これをセンサリング7に配置した磁気センサS
a,Sb,Scが検出して、センサ出力信号として第6
図Fに示す信号と同様の信号が前置増幅器10a,10
b,10cに入力される。ケーブル1の断線モードによ
っては、いずれかの磁気センサにおいて殆ど出力信号が
得られないこともあるので、前記3個の前置増幅器10
a,10b,10cの増幅信号のうち最大値を最大値セ
レクタ回路18により選出し、その信号と予めしきい値
電圧設定回路20により設定したしきい値電圧とを比較
回路19で比較して、センサ出力パルス信号とする(第
6図G)。このパルス信号は積算回路21で積算される
とともに、サンプルサイクル数設定回路22で設定され
たサンプルサイクル数と比較回路23で比較し、一致し
た場合にはサンプルスイッチ駆動信号発生回路24へ一
致信号を送る。
ら、溶接制御装置40に溶接指令信号が加えられると、
溶接動作が開始され第6図Aで示す加圧バルブ信号が、
溶接電極による被溶接部材圧接のためのシリンダを制御
する制御バルブに発せられる。また本発明装置の断線検
出装置(以下単に装置という)に加えられた前記加圧バ
ルブ信号は、加圧バルブ信号入力回路25でスクイズ動
作による誤動作を防止するため若干の遅延を加えた後
(第6図B)、リセット信号発生回路27によりリセッ
ト信号を発する(同図D)。このリセット信号は装置の
ピークホールド回路12,積算回路21,判定開始判別
フリップフロップ回路28,ゲート制御フリップフロッ
プ回路34等に供給され、それらの回路の初期化を行
う。続いて初期加圧時間終了後通電時間に入ると、ケー
ブル1には溶接電流が流れケーブル1の近傍に磁界が発
生し、これをセンサリング7に配置した磁気センサS
a,Sb,Scが検出して、センサ出力信号として第6
図Fに示す信号と同様の信号が前置増幅器10a,10
b,10cに入力される。ケーブル1の断線モードによ
っては、いずれかの磁気センサにおいて殆ど出力信号が
得られないこともあるので、前記3個の前置増幅器10
a,10b,10cの増幅信号のうち最大値を最大値セ
レクタ回路18により選出し、その信号と予めしきい値
電圧設定回路20により設定したしきい値電圧とを比較
回路19で比較して、センサ出力パルス信号とする(第
6図G)。このパルス信号は積算回路21で積算される
とともに、サンプルサイクル数設定回路22で設定され
たサンプルサイクル数と比較回路23で比較し、一致し
た場合にはサンプルスイッチ駆動信号発生回路24へ一
致信号を送る。
比較回路23において用いるサンプルサイクルは10進
1桁の数値のため積算回路には、11サイクル以上のパ
ルス信号が加わらないように、10位の積算回路21b
の最下位ビットがONになった時(10サイクル目のパ
ルスを数えた時)以降ゲート回路35を閉じる。
1桁の数値のため積算回路には、11サイクル以上のパ
ルス信号が加わらないように、10位の積算回路21b
の最下位ビットがONになった時(10サイクル目のパ
ルスを数えた時)以降ゲート回路35を閉じる。
前記一致信号を受けたサンプルスイッチ駆動信号発生回
路24は、溶接電源周波数に同期した1サイクル分の時
間幅を持つサンプルスイッチ駆動信号をサンプルスイッ
チ11に供給する(第6図H)。その信号を受けた各サ
ンプルスイッチ11a,11b,11cは前記1サイク
ル分の時間幅の間だけ閉じ前記前置増幅器10の各増幅
出力信号をピークホールド回路12の各回路12a,1
2b,12cに送る。ピークホールド回路12は第6図
Iに示すように、前記の時間幅内に受けた増幅出力信号
の最大値を、サンプルスイッチ11が作動しなくなった
後も保持する。
路24は、溶接電源周波数に同期した1サイクル分の時
間幅を持つサンプルスイッチ駆動信号をサンプルスイッ
チ11に供給する(第6図H)。その信号を受けた各サ
ンプルスイッチ11a,11b,11cは前記1サイク
ル分の時間幅の間だけ閉じ前記前置増幅器10の各増幅
出力信号をピークホールド回路12の各回路12a,1
2b,12cに送る。ピークホールド回路12は第6図
Iに示すように、前記の時間幅内に受けた増幅出力信号
の最大値を、サンプルスイッチ11が作動しなくなった
後も保持する。
前記サンプルスイッチ駆動信号は同時に、判定開始判別
フリップフロップ回路28をセットし、マイクロプロセ
ッサCPUに信号処理、判定処理の開始を知らせる(第
6図J)とともに、無通電判別フリップフロップ回路2
9をセットし、前記加圧バルブ信号入力中に、溶接電流
が通電されたことを記憶させる。前記判定開始を通知さ
れたマイクロプロセッサCPUは、アドレスデコーダ回
路15を介してアナログデジタル変換回路13を駆動
し、前記ピークホールド回路12に保持されたセンサ出
力電圧をデジタル値として取り込み、その各デジタル出
力信号x1,x2,x3を次式(i,ii,iii)に基づき算
術演算を行い標準偏差sを算出するとともに、断線検出
のパラメータとしての特性値としてその標準偏差sを各
出力信号x1,x2,x3の和で除して算出する。
フリップフロップ回路28をセットし、マイクロプロセ
ッサCPUに信号処理、判定処理の開始を知らせる(第
6図J)とともに、無通電判別フリップフロップ回路2
9をセットし、前記加圧バルブ信号入力中に、溶接電流
が通電されたことを記憶させる。前記判定開始を通知さ
れたマイクロプロセッサCPUは、アドレスデコーダ回
路15を介してアナログデジタル変換回路13を駆動
し、前記ピークホールド回路12に保持されたセンサ出
力電圧をデジタル値として取り込み、その各デジタル出
力信号x1,x2,x3を次式(i,ii,iii)に基づき算
術演算を行い標準偏差sを算出するとともに、断線検出
のパラメータとしての特性値としてその標準偏差sを各
出力信号x1,x2,x3の和で除して算出する。
式(i),(iii),(iv)には前記の関係があるため特性値の
分子は標準偏差に限ることなく、分散、偏差平方和であ
ってもよい。
分子は標準偏差に限ることなく、分散、偏差平方和であ
ってもよい。
尚、ここで示す分散は正確には不偏分散といわれるもの
であるが、データ数3で除した分散、標準偏差でも同様
である。
であるが、データ数3で除した分散、標準偏差でも同様
である。
さらに統計学上データ中の最大値Smaxと最小値Sminの
差で決定される範囲Rと標準偏差sとの間には、 s=R/k(但しkはデータ数により規定される定数) 関係があるため、範囲Rを前記特性値の分子として用い
てもよい。また特性値の分母は式(i)の平均値を用いて
もよい。
差で決定される範囲Rと標準偏差sとの間には、 s=R/k(但しkはデータ数により規定される定数) 関係があるため、範囲Rを前記特性値の分子として用い
てもよい。また特性値の分母は式(i)の平均値を用いて
もよい。
上記により特性値を算出したマイクロプロセッサCPU
は、遂次次内部メモリーにその特性値を記憶するととも
に、過去N回の特性値の平均値を算出して、この平均値
を予め定めた判定しきい値と比較し、上まわっていれば
ケーブル交換の警告(NG信号)を、ランプ駆動回路3
0によりNGランプ32を点灯して告知する。また下ま
わっていれば正常の表示(GOOD信号)を同様にGO
ODランプ31を点灯して告知する。
は、遂次次内部メモリーにその特性値を記憶するととも
に、過去N回の特性値の平均値を算出して、この平均値
を予め定めた判定しきい値と比較し、上まわっていれば
ケーブル交換の警告(NG信号)を、ランプ駆動回路3
0によりNGランプ32を点灯して告知する。また下ま
わっていれば正常の表示(GOOD信号)を同様にGO
ODランプ31を点灯して告知する。
上記判定後マイクロプロセッサCPUは、判定終了信号
(第6図K)を無通電判別フリップフロップ回路29に
送り該回路29をリセットするとともに、判定開始判別
フリップフロップ回路28へのセット信号が通過するセ
ット信号ゲート36を閉じる。
(第6図K)を無通電判別フリップフロップ回路29に
送り該回路29をリセットするとともに、判定開始判別
フリップフロップ回路28へのセット信号が通過するセ
ット信号ゲート36を閉じる。
通電時間、保持時間が終了すると前記加圧バルブ信号の
オフエッジで、溶接終了信号発生回路26により溶接終
了信号が発生する。
オフエッジで、溶接終了信号発生回路26により溶接終
了信号が発生する。
正常に溶接電流が通電されていれば、前記の様に判定開
始判別フリップフロップ回路28へのセット信号ゲート
36が閉じられているので、マイクプロセッサCPUは
起動せず、無通電判別フリップフロップ回路29のリセ
ットを行うのみである。しかし、溶接電流が通電されな
かった場合には、前記ゲート36は開いており、第6図
J′に示すように判定開始判別フリップフロップ回路2
8がセットされ、マイクロプロセッサCPUが信号処理
を開始して、無通電判別フリップフロップ回路がセット
されていないことを、入出力インターフェイス16の入
力回路を介して読み取る。その結果無通電判定を行いケ
ーブル断線検出同様NGランプ32にて警告する。
始判別フリップフロップ回路28へのセット信号ゲート
36が閉じられているので、マイクプロセッサCPUは
起動せず、無通電判別フリップフロップ回路29のリセ
ットを行うのみである。しかし、溶接電流が通電されな
かった場合には、前記ゲート36は開いており、第6図
J′に示すように判定開始判別フリップフロップ回路2
8がセットされ、マイクロプロセッサCPUが信号処理
を開始して、無通電判別フリップフロップ回路がセット
されていないことを、入出力インターフェイス16の入
力回路を介して読み取る。その結果無通電判定を行いケ
ーブル断線検出同様NGランプ32にて警告する。
本発明装置の作動は上記の通りであって、通電中に発生
するケーブル1を構成する各内部導体間の反発力で内部
導体が振動し、その結果外部の磁界強度が変動して、磁
気センサのセンサ出力信号に誤差を生じる場合であって
も、予め設定した溶接電流1サイクル分の電流によって
発生する磁界の強度信号を取り込むため、前記振動によ
って生じる誤差を除去できるばかりでなく、無通電判別
フリップフロップ回路29を設け、その出力を入出力イ
ンターフェイス16の入力回路と接続し、マイクロプロ
セッサで読み取ることにより、溶接電流の無通電検出も
行うことができる。さらに溶接2次ケーブルの構造的特
徴により、磁気センサの取付けは、ケーブルの周りに等
角度間隔で配置する場合に限定させることなく、ケーブ
ルの長手方向に直線状に配置することもできる。
するケーブル1を構成する各内部導体間の反発力で内部
導体が振動し、その結果外部の磁界強度が変動して、磁
気センサのセンサ出力信号に誤差を生じる場合であって
も、予め設定した溶接電流1サイクル分の電流によって
発生する磁界の強度信号を取り込むため、前記振動によ
って生じる誤差を除去できるばかりでなく、無通電判別
フリップフロップ回路29を設け、その出力を入出力イ
ンターフェイス16の入力回路と接続し、マイクロプロ
セッサで読み取ることにより、溶接電流の無通電検出も
行うことができる。さらに溶接2次ケーブルの構造的特
徴により、磁気センサの取付けは、ケーブルの周りに等
角度間隔で配置する場合に限定させることなく、ケーブ
ルの長手方向に直線状に配置することもできる。
第7図(I)は、3個の磁気センサSa,Sb,Scの出
力をデジタル化した各デジタル出力信号x1,x2,x3
の和xsと通電電流の関係を示したもので、両者が略比
例関係を呈していることが分かる。
力をデジタル化した各デジタル出力信号x1,x2,x3
の和xsと通電電流の関係を示したもので、両者が略比
例関係を呈していることが分かる。
また第7図(II)は、前記各デジタル出力信号x1,x2,
x3の標準偏差sと通電電流の関係を示したもので、両
者が略比例関係を呈していることが分かる。この結果
は、標準偏差sをxsで除することで、各通電電流値に
対応して磁気センサから出力される磁界強度信号をもと
に算出した標準偏差を平均化して誤差をなくすことがで
きる可能性を示す。第7図(III)は、s/xsと通電電流
との関係を示したもので、各通電電流値に対して、s/
xsが略一定であることが分かる。
x3の標準偏差sと通電電流の関係を示したもので、両
者が略比例関係を呈していることが分かる。この結果
は、標準偏差sをxsで除することで、各通電電流値に
対応して磁気センサから出力される磁界強度信号をもと
に算出した標準偏差を平均化して誤差をなくすことがで
きる可能性を示す。第7図(III)は、s/xsと通電電流
との関係を示したもので、各通電電流値に対して、s/
xsが略一定であることが分かる。
第8図(I),(II)は、各々正規化した標準偏差s及び特
性値s/xsと通電電流の関係を示したもので、両者の
比較の為、s及びs/xsの平均値 を100として正規化して表す。これらの結果により、
各通電電流値によるsとs/xsの値の変化がs/xsは
sに比較して約1/8程度であって、通電電流の変化の
影響を非常に小さくすることができる。
性値s/xsと通電電流の関係を示したもので、両者の
比較の為、s及びs/xsの平均値 を100として正規化して表す。これらの結果により、
各通電電流値によるsとs/xsの値の変化がs/xsは
sに比較して約1/8程度であって、通電電流の変化の
影響を非常に小さくすることができる。
また、第9図(I),(II)は、前記s及びs/xsと断線
率との関係を示したもので、同図(I)により明らかなよ
うに、通電電流値によって標準偏差sと断線率との関係
が明確に異なり判定しきい値を越える断線率の範囲、即
ち、通電電流による判定誤差を生ずる範囲が広く、s/
xsの場合は、同図(II)に示すようにs/xsの値が通電
電流値によって影響されることなく、従って判定誤差を
生じる範囲が殆どない。
率との関係を示したもので、同図(I)により明らかなよ
うに、通電電流値によって標準偏差sと断線率との関係
が明確に異なり判定しきい値を越える断線率の範囲、即
ち、通電電流による判定誤差を生ずる範囲が広く、s/
xsの場合は、同図(II)に示すようにs/xsの値が通電
電流値によって影響されることなく、従って判定誤差を
生じる範囲が殆どない。
以上により、磁気センサSa,Sb,Scのセンサ出力
の標準偏差sをセンサ出力信号x1,x2,x3の和xsで
除して算出した値を、ケーブルの断線検出の特性値とし
てとらえることにより、通電電流による影響を殆ど無く
することができ、溶接通電電流変化の大きい溶接工程に
おいても精度よくケーブルを構成する内部導体の断線を
検出することができる。
の標準偏差sをセンサ出力信号x1,x2,x3の和xsで
除して算出した値を、ケーブルの断線検出の特性値とし
てとらえることにより、通電電流による影響を殆ど無く
することができ、溶接通電電流変化の大きい溶接工程に
おいても精度よくケーブルを構成する内部導体の断線を
検出することができる。
第10図は、1台の溶接スポットガンの車両1台分のス
ポット溶接位置と断線検出の特性値s/xsの実測値例
である。同図に示すように、前記特性値はスポット溶接
位置によって、かなり大きなバラツキを持つが、車両1
台当たりの溶接態様(ケーブルの捩れ、曲がり等)が変
化しなければ、高い再現性を有することが分かる。前記
特性値のバラツキの原因は、スポット位置によりケーブ
ル1が捩れ、内部導体とそれを覆う外装チューブ5の外
周上に固定した磁気センサの位置関係がずれるためであ
ると考えられる。このように特性値がバラツクことか
ら、1回の溶接工程により採取され算出される特性値か
ら、直ちにケーブルの断線を判定することは、誤判定の
危険性が高い。
ポット溶接位置と断線検出の特性値s/xsの実測値例
である。同図に示すように、前記特性値はスポット溶接
位置によって、かなり大きなバラツキを持つが、車両1
台当たりの溶接態様(ケーブルの捩れ、曲がり等)が変
化しなければ、高い再現性を有することが分かる。前記
特性値のバラツキの原因は、スポット位置によりケーブ
ル1が捩れ、内部導体とそれを覆う外装チューブ5の外
周上に固定した磁気センサの位置関係がずれるためであ
ると考えられる。このように特性値がバラツクことか
ら、1回の溶接工程により採取され算出される特性値か
ら、直ちにケーブルの断線を判定することは、誤判定の
危険性が高い。
このためマイクロコンピュータ14のCPUの内部処理
により、そのメモリー内に過去N回の特性値を記憶し、
常時過去N回まで遡って得られる特性値の平均を算出し
て特性値のバラツキを低減し、この平均値と予め設定し
たしきい値との比較により断線を判定する。
により、そのメモリー内に過去N回の特性値を記憶し、
常時過去N回まで遡って得られる特性値の平均を算出し
て特性値のバラツキを低減し、この平均値と予め設定し
たしきい値との比較により断線を判定する。
第11図は、前記した過去N回の特性値の平均値の求め
方を表した説明図であってN=8の場合を示す。同図
(A)はスポット溶接時にケーブル1に通電される溶接電
流を示し、これを磁気センサSa,Sb,Scにより検
出して処理したデジタル出力信号(x1,n+1,x2,n+1,
x3,n+1),(x1,n+2,x2,n+2,x3,n+2)・・・(x
1,n+i,x2,n+i,x3,n+i)から前記(i),(ii),(ii
i),(iv),(v)から特性値s/xsをQn+1,Qn+2,…
Qn+iとして求め、さらに過去8回の特性値の平均値を
以下の通り順次求める。
方を表した説明図であってN=8の場合を示す。同図
(A)はスポット溶接時にケーブル1に通電される溶接電
流を示し、これを磁気センサSa,Sb,Scにより検
出して処理したデジタル出力信号(x1,n+1,x2,n+1,
x3,n+1),(x1,n+2,x2,n+2,x3,n+2)・・・(x
1,n+i,x2,n+i,x3,n+i)から前記(i),(ii),(ii
i),(iv),(v)から特性値s/xsをQn+1,Qn+2,…
Qn+iとして求め、さらに過去8回の特性値の平均値を
以下の通り順次求める。
平均値 ここでNの適切な決定方法は以下の二通りが考えられ、
一の方法は固定値として予めマイクロコンピュータ内部
にセットしておきし(但しN≧2)、他の方法は車両1
台に対してスポット溶接機が打つ打点数をNとし、外部
スイッチによりセットするものであり、前者によれば、
CPUの内部処理により行うことができ、後者によれば
車両1台毎に前記した特性値のバラツキが周期性をもつ
ため、バラツキの影響を無くすることができる。
一の方法は固定値として予めマイクロコンピュータ内部
にセットしておきし(但しN≧2)、他の方法は車両1
台に対してスポット溶接機が打つ打点数をNとし、外部
スイッチによりセットするものであり、前者によれば、
CPUの内部処理により行うことができ、後者によれば
車両1台毎に前記した特性値のバラツキが周期性をもつ
ため、バラツキの影響を無くすることができる。
本実施例は、可搬式のスポット溶接機や自動スポット溶
接機に適用する場合であって、各磁気センサから出力さ
れる磁界強度信号を統計的手法により処理して磁界強度
のバラツキ量を求めるとともに、このバラツキ量を複数
の磁気センサ出力の総和、若しくはその平均値で除して
算出した特性値を毎回記憶し、過去N回の特性値の平均
値と予め設定したしきい値との比較により、溶接2次ケ
ーブルの断線を検出するようにしたが、溶接位置(姿
勢)の変化しない定置式のスポット溶接機にあっては、
必ずしも前記過去N回の特性値の平均値を用いる必要は
なく、この場合には前記特性値と予め設定したしきい値
との比較により、断線を検出するようにすれば良い。
接機に適用する場合であって、各磁気センサから出力さ
れる磁界強度信号を統計的手法により処理して磁界強度
のバラツキ量を求めるとともに、このバラツキ量を複数
の磁気センサ出力の総和、若しくはその平均値で除して
算出した特性値を毎回記憶し、過去N回の特性値の平均
値と予め設定したしきい値との比較により、溶接2次ケ
ーブルの断線を検出するようにしたが、溶接位置(姿
勢)の変化しない定置式のスポット溶接機にあっては、
必ずしも前記過去N回の特性値の平均値を用いる必要は
なく、この場合には前記特性値と予め設定したしきい値
との比較により、断線を検出するようにすれば良い。
もちろん、可搬式のスポット溶接機や自動スポット溶接
機であっても、溶接位置(姿勢)の変化が少ない場合に
は、前記定置式のスポット溶接機の場合と同様の方法を
採用し得る。
機であっても、溶接位置(姿勢)の変化が少ない場合に
は、前記定置式のスポット溶接機の場合と同様の方法を
採用し得る。
「効果」 本発明方法は、前記した具体的構成及び作用の説明で明
らかにしたように、各内部導体に対応させて複数の磁気
センサを配置し、その各磁気センサから出力される磁気
強度信号を統計的手法により処理して磁界強度のバラツ
キ量を求めるとともに、このバラツキ量を前記複数の磁
気センサ出力の総和、若しくはその平均値で除して算出
した特性値と予め設定したしいき値との比較により、前
記溶接2次ケーブルを構成する各内部導体の断線を検出
するもので、前記特性値が溶接通電電流の変化の影響を
殆ど受けることが無いから、溶接通電電流変化の大きい
溶接工程においても、確実かつ高精度で内部導体の断線
検出を行うことができるばかりでなく、常時監視態勢を
採って、断線による溶接品質の低下を招いたり、突発的
な作業中断を未然に防止し、さらに点検工数ををも削減
できる。
らかにしたように、各内部導体に対応させて複数の磁気
センサを配置し、その各磁気センサから出力される磁気
強度信号を統計的手法により処理して磁界強度のバラツ
キ量を求めるとともに、このバラツキ量を前記複数の磁
気センサ出力の総和、若しくはその平均値で除して算出
した特性値と予め設定したしいき値との比較により、前
記溶接2次ケーブルを構成する各内部導体の断線を検出
するもので、前記特性値が溶接通電電流の変化の影響を
殆ど受けることが無いから、溶接通電電流変化の大きい
溶接工程においても、確実かつ高精度で内部導体の断線
検出を行うことができるばかりでなく、常時監視態勢を
採って、断線による溶接品質の低下を招いたり、突発的
な作業中断を未然に防止し、さらに点検工数ををも削減
できる。
また、前記特性値を毎回記憶し、過去N回の特性値の平
均値によって断線を判定することにより、前記特性値の
溶接位置にるバラツキを低減することができ、より一層
精度の高い断線検出が可能である。
均値によって断線を判定することにより、前記特性値の
溶接位置にるバラツキを低減することができ、より一層
精度の高い断線検出が可能である。
添付図面第1図は溶接2次ケーブル1の断面構造図、第
2図は溶接2次ケーブル1の近傍磁界の計測方法を示す
斜視図、第3図(イ),(ロ)は溶接2次ケーブル1の断線
モード及びその近傍磁界の計測結果を示した図、第4図
(A),(B)は磁気センサの配置を示した断面図であっ
て、同図(A)は円周配置を同図(B)はケーブルの長手方
向配置を示す、第5図は本発明装置のブロックダイヤグ
ラム、第6図は本発明装置作動タイミングチャート、第
7図(I)は各デジタル出力信号の和Xsと通電電流の関
係を示し、第7図(II)は標準偏差sと通電電流との関係
を示し、第7図(III)は特性値s/xsと通電電流との関
係を示した図、第8図(I)は正規化した標準偏差sと通
電電流との関係を示し、第8図(II)は正規化した特性値
s/xsと通電電流との関係を示した図、第9図(I)は
標準偏差sと断線率との関係を示し、第9図(II)は特性
値s/xsと断線率との関係を示した図、第10図はス
ポット溶接位置と特性値s/xsの実測値の関係を示し
た図、第11図は平均値の求め方を表した説明図であ
る。 1……溶接2次ケーブル、2a〜2c,3a〜3c……
内部導体、Sa,Sb,Sc……磁気センサ、7……セ
ンサリング、10……前置増幅器、11……サンプルス
イッチ、12……ピークホールド回路、13……アナロ
グデジタル回路、14……マイクロコンピュータ、17
……パルス化回路、21……積算回路、CPU……マイ
クロプロセッサ、30……ランプ駆動回路。
2図は溶接2次ケーブル1の近傍磁界の計測方法を示す
斜視図、第3図(イ),(ロ)は溶接2次ケーブル1の断線
モード及びその近傍磁界の計測結果を示した図、第4図
(A),(B)は磁気センサの配置を示した断面図であっ
て、同図(A)は円周配置を同図(B)はケーブルの長手方
向配置を示す、第5図は本発明装置のブロックダイヤグ
ラム、第6図は本発明装置作動タイミングチャート、第
7図(I)は各デジタル出力信号の和Xsと通電電流の関
係を示し、第7図(II)は標準偏差sと通電電流との関係
を示し、第7図(III)は特性値s/xsと通電電流との関
係を示した図、第8図(I)は正規化した標準偏差sと通
電電流との関係を示し、第8図(II)は正規化した特性値
s/xsと通電電流との関係を示した図、第9図(I)は
標準偏差sと断線率との関係を示し、第9図(II)は特性
値s/xsと断線率との関係を示した図、第10図はス
ポット溶接位置と特性値s/xsの実測値の関係を示し
た図、第11図は平均値の求め方を表した説明図であ
る。 1……溶接2次ケーブル、2a〜2c,3a〜3c……
内部導体、Sa,Sb,Sc……磁気センサ、7……セ
ンサリング、10……前置増幅器、11……サンプルス
イッチ、12……ピークホールド回路、13……アナロ
グデジタル回路、14……マイクロコンピュータ、17
……パルス化回路、21……積算回路、CPU……マイ
クロプロセッサ、30……ランプ駆動回路。
Claims (2)
- 【請求項1】溶接ガンと変圧器とを接続する複数の正側
内部導体と、複数の負側内部導体とをケーブル断面に対
して交互にリング状に配列して構成した溶接2次ケーブ
ルの外周に、前記各内部導体に対応させて複数の磁気セ
ンサを配置し、その各磁気センサから出力される磁界強
度信号を統計的手法により処理して磁界強度のバラツキ
量を求めるとともに、このバラツキ量を前記複数の磁気
センサ出力の総和、若しくはその平均値で除して算出し
た特性値と予め設定したしきい値との比較により、前記
溶接2次ケーブルを構成する各内部導体の断線を検出す
ることを特徴とする溶接2次ケーブルの断線検出方法。 - 【請求項2】溶接ガンと変圧器とを接続する複数の正側
内部導体と、複数の負側内部導体とをケーブル断面に対
して交互にリング状に配列して構成した溶接2次ケーブ
ルの外周に、前記各内部導体に対応させて複数の磁気セ
ンサを配置し、その各磁気センサから出力される磁界強
度信号を統計的手法により処理して磁界強度のバラツキ
量を求めるとともに、このバラツキ量を前記複数の磁気
センサ出力の総和、若しくはその平均値で除して算出し
た特性値を毎回記憶し、過去N回の特性値の平均値と予
め設定したしきい値との比較により、前記溶接2次ケー
ブルを構成する各内部導体の断線を検出することを特徴
とする溶接2次ケーブルの断線検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62246920A JPH0615112B2 (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 溶接2次ケーブルの断線検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62246920A JPH0615112B2 (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 溶接2次ケーブルの断線検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0191977A JPH0191977A (ja) | 1989-04-11 |
| JPH0615112B2 true JPH0615112B2 (ja) | 1994-03-02 |
Family
ID=17155721
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62246920A Expired - Lifetime JPH0615112B2 (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 溶接2次ケーブルの断線検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0615112B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP4745820B2 (ja) * | 2005-12-27 | 2011-08-10 | 日置電機株式会社 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
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-
1987
- 1987-09-30 JP JP62246920A patent/JPH0615112B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0191977A (ja) | 1989-04-11 |
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