JPH06151500A - ボンディング装置 - Google Patents

ボンディング装置

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Publication number
JPH06151500A
JPH06151500A JP4323571A JP32357192A JPH06151500A JP H06151500 A JPH06151500 A JP H06151500A JP 4323571 A JP4323571 A JP 4323571A JP 32357192 A JP32357192 A JP 32357192A JP H06151500 A JPH06151500 A JP H06151500A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bonding
bonded
image
scale pattern
pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP4323571A
Other languages
English (en)
Inventor
Naoki Nomichi
直樹 野路
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Mechatronics Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Seiki Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Seiki Co Ltd filed Critical Toshiba Seiki Co Ltd
Priority to JP4323571A priority Critical patent/JPH06151500A/ja
Publication of JPH06151500A publication Critical patent/JPH06151500A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/0711Apparatus therefor

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 容易かつ迅速にボンディング状態を検査する
こと。 【構成】 ボンディング後のアイランド部2aと半導体
ペレット3との位置関係をカメラ35にて撮像し、モニ
タ39に写し出す。そして選択表示部40は、記憶部4
1に予め記憶されているX方向スケールパターンS1、
Y方向スケールパターンS2から必要なパターンを選択
して、カメラ35の取り込み画像が表示されているモニ
タ39に写し出す。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体ペレットボンデ
ィング装置などのボンディング装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば半導体ペレットボンディング装置
においては、ボンディング動作を開始する前に、ボンデ
ィング装置に対して、リードフレームのアイランド部に
対する半導体ペレットのボンディング位置を教示(ティ
ーチングと呼ぶ)する必要がある。
【0003】このティーチング作業は、次の手順で行な
われる。まずボンディングステーションにリードフレー
ムを搬送し、先頭位置のアイランド部をヒートブロック
上のボンディング位置に位置決めする。次に、手動操作
にてX−Yテーブルを移動させ、このX−Yテーブル上
に載置されたボンディンクヘッドが有する吸着ノズルを
用いて、半導体ペレットをアイランド部の上方に搬送す
る。そして吸着ノズルを下降させながら、X−Yテーブ
ルを手動で微動させ、半導体ペレットが正規のボンディ
ング位置にボンディングされるように調整する。そして
この調整後の位置をボンディング装置に覚え込ませ、テ
ィーチング作業は終了する。
【0004】ところで、このようなティーチング作業に
おいては、半導体ペレットの正規のボンディング位置が
作業者の目視確認によって決定されるため、作業者の個
人差によりティーチング位置に誤差が発生する。
【0005】そこで通常は、ティーチング作業後に、半
導体ペレットの実際のボンディング位置と正規のボンデ
ィング位置とのずれ状態を測定装置を用いて測定し、こ
のずれ状態に基づき、1度ティーチングされたボンディ
ング位置の修正を行なっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところが、測定装置は
ペレットボンディング装置とは別体のため、ずれ状態を
測定しようとする場合、当然ながらティーチング時にボ
ンディングしたリードフレームをペレットボンディング
装置から測定装置上に移し変えるという作業が必要とな
る。このため、測定には多大な時間を必要とし、それに
伴ってティーチング作業の修正にも多大な時間を要する
という問題が生じていた。
【0007】また、測定装置へのボンディング済みリー
ドフレームの移し変えは作業者による手作業にて行なわ
れるため、移送途中に生じる振動、あるいは衝撃により
リードが変形したり、またそれを防止するために移送に
は慎重をきたさなければならず、作業者に多大な疲労を
与えていた。
【0008】本発明は、容易かつ迅速にボンディング状
態を検査することができるボンディング装置を提供する
ことを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、被ボンディン
グ物をボンディング位置に搬送する搬送手段と、この搬
送手段により搬送される前記被ボンディング物に対して
所定のボンディングを施すボンディング手段と、このボ
ンディング手段にてボンディングが施された前記被ボン
ディング物を収納する収納手段とを有するボンディング
装置において、前記ボンディング手段によるボンディン
グ済みの前記被ボンディング物を撮像する撮像手段と、
この撮像手段によって撮像された画像を処理する画像処
理手段と、この画像処理手段による処理画像を映し出す
表示手段と、目盛りパターンを登録可能な記憶手段と、
この記憶手段に登録されている前記目盛りパターンを必
要に応じて前記画像処理手段による処理画像が映し出さ
れている前記表示手段に映し出す選択表示手段とを有す
ることを特徴とする。
【0010】
【作用】本発明によれば、ボンディング手段にてボンデ
ィングが施された被ボンディング物は撮像手段にて撮像
され、その画像は画像処理手段にて処理されて表示手段
に映し出される。そしてこの表示手段には、必要に応じ
て、記憶手段に登録されている目盛りパターンがボンデ
ィング済み被ボンディング物の画像とともに映し出され
る。
【0011】
【実施例】本発明の実施例を図面を用いて説明する。図
1は本発明が適用されてなるペレットボンディング装置
の構成図、図2はX方向スケールパターンの表示状態を
示す図、図3はY方向スケールパターンの表示状態を示
す図、図4はカメラにより取り込まれたボンディング部
位のモニタ画像である。
【0012】まず図1において、ペレットボンディング
装置1は、リードフレーム2上に所定間隔で形成された
アイランド部2a上に半導体ペレット3を順次ボンディ
ングする装置であり、リードフレーム搬送部10、半導
体ペレット供給部20、ボンディング部30を有してい
る。
【0013】リードフレーム搬送部10は、リードフレ
ーム2を1対の搬送レール11に沿って間欠搬送し、リ
ードフレーム2のアイランド部2aを順次ボンディング
部30によるボンディング位置に位置付ける。
【0014】なお、このリードフレーム2は、不図示の
供給マガジンから順次供給されるとともに、ボンディン
グ終了後は収納マガジンに収納されるようになってい
る。
【0015】半導体ペレット供給部20は搬送レール1
1の側部に配設され、ウエハ状の半導体ペレット3がX
Yテーブル21に保持され、これによりウェハステージ
22を構成する。
【0016】また、ウェハステージ22と搬送レール1
1との間には、不図示の位置決め爪を備える位置決め台
23が配設され、移送アーム24によりウェハステージ
22から移送された半導体ペレット3の位置修正を行な
う。
【0017】ボンディング部30は、XYテーブル31
上に載置されたボンディングヘッド32を有する。そし
てボンディングヘッド32には、吸着ノズル33を先端
に有し上下動させられるボンディングアーム34が保持
されるとともに、カメラ35が支持される。カメラ35
は、アイランド部2aにボンディングされた半導体ペレ
ット3のボンディング状態を撮像する。
【0018】また、ボンディング部30に対向する1対
の搬送レール11間の下方には加熱台36が設けられ
る。
【0019】カメラ35は、画像処理装置37に接続さ
れ、ここでカメラ35が取り込んだ画像の処理が施され
る。また、画像処理装置37は、制御装置38とモニタ
39とに接続されていて、制御装置38からの指令によ
り、画像処理装置37にて処理された処理画像がモニタ
39に表示される。なおこの制御装置38は、リードフ
レーム搬送部10、半導体ペレット供給部20、ボンデ
ィング部30の駆動制御も行なうものである。なお、X
Yテーブル31は、制御装置38に備えられた入力部5
0により手動操作での移動も可能とされる。
【0020】ここで、制御装置38とモニタ39との間
には、選択表示部40が介在される。この選択表示部4
0はさらに記憶部41を有しており、この記憶部41に
は2種類の目盛りパターンSが記憶されている。本実施
例における2種類の目盛りパターンとは、定ピッチで目
盛りが設けられた、図2に示すようなX方向スケールパ
ターンS1と、図3に示すようなY方向スケールパター
ンS2である。そして、入力部50に設けられる選択ス
イッチなどの押圧信号により、選択表示部40は、記憶
部41に登録された2種類の目盛りパターンS(S1、
S2)の中から、選択された目盛りパターンSをモニタ
39に映し出すようになっている。
【0021】次に作動について説明する。なお以下の説
明では、すでに1度目のティーチング作業が終了してい
て、そのティーチングされたボンディング位置の修正の
仕方について説明する。
【0022】まず不図示の供給マガジンからリードフレ
ーム2が搬送レール11上に供給されると、このリード
フレーム2はリードフレーム搬送部10により搬送レー
ル11上を間歇送りされ、先頭位置のアイランド部2a
がボンディング位置に位置付けられる。
【0023】一方、半導体ペレット供給部20において
は、XYステージ21の移動によりピックアップ位置に
位置決めされた半導体ペレット3が、移送アーム24に
よりピックアップされる。そしてこの半導体ペレット3
は、位置決め台23上に移送され、ここで不図示の位置
決め爪により位置修正される。
【0024】位置決め台23上において位置修正された
半導体ペレット3は、ボンディングアーム34の吸着ノ
ズル33にて吸着され、既にティーチングされているボ
ンディング位置に従って、リードフレーム2のアイラン
ド部2a上にボンディングされる。
【0025】さて、アイランド部2a上にボンディング
された半導体ペレット3の実際のボンディング位置と正
規のボンディング位置とのずれ状態は、モニタ39を用
いて次のようにして測定される。
【0026】最初に、カメラ35により、アイランド部
2aにボンディングされた半導体ペレット3のボンディ
ング状態を撮像する。なおこの撮像にあたっては、必要
に応じてXYテーブル31を移動させる。
【0027】さて撮像された画像は、画像処理装置37
にて処理され、処理画像が図4のようにモニタ39に写
し出される。次に選択表示部40においては、制御装置
38が備える入力部50からの入力信号に基づき、まず
図2に示したX方向スケールパターンS1を、カメラ3
5が取り込んだ画像が写し出されているモニタ39に写
し出す。次に、作業者はXYテーブル31を手動操作す
ることにてカメラ35を移動させ、これにより例えばア
イランド部2a上の測定位置にパターンS1を合わせ
る。そして作業者は、モニタ39上にてパターンS1の
目盛りを読み取ることにより、実際のボンディング位置
と正規のボンディング位置とのX方向のずれ状態(ずれ
方向やずれ量)を読み取る。
【0028】その後、Y方向のずれ状態の読み取りも同
様に行なわれる。すなわち、入力部50からの入力信号
に基づき、選択表示部40は図3に示したY方向スケー
ルパターンS2を、カメラ35が取り込んだ画像が写し
出されているモニタ39に写し出す。そしてXYテーブ
ル31を手動操作することにてカメラ35を移動させ、
これにより例えばアイランド部2a上の測定位置にパタ
ーンS2を合わせる。そして作業者は、モニタ39上に
てパターンS2の目盛りを読み取ることにより、実際の
ボンディング位置と正規のボンディング位置とのY方向
のずれ状態を読み取る。
【0029】このようにしてX方向とY方向とにおける
それぞれのずれ状態が得られると、作業者は制御装置3
8に入力部50を介してずれ情報を入力する。そして、
この情報に基づき制御装置38においては、所定の演算
処理にて1度ティーチングされたボンディング位置の修
正を行なう。
【0030】なお本実施例の場合、確認のため、制御装
置38による修正後にこの修正されたティーチング情報
に基づいて再度アイランド部2aに半導体ペレット3を
ボンディングするとともに、上記と同様にしてずれ状態
を読み取り、その結果、ずれ状態が許容値内であれば実
際のボンディング作業を開始し、許容値外であれば、再
びティーチング情報の修正を行なうようになっている。
【0031】上記実施例によれば、モニタ39には、カ
メラ35が取り込んだボンディング状態の画像に加え、
記憶部41に設定されている目盛りパターンSが同時に
映し出されるので、実際のボンディング位置と正規のボ
ンディング位置とのずれ状態が、ペレットボンディング
装置1上において、即座に読み取ることが可能となる。
従って、ティーチング作業の修正を短時間にて行なうこ
とができる。
【0032】また、位置ずれ状態の読み取りがペレット
ボンディング装置1上において行なえるので、従来のよ
うなリードフレームの移送を必要としない。従って、移
送時に生じていたリードフレームの変形が防止されると
ともに、作業者への疲労も大幅に軽減されることにな
る。
【0033】つまり本実施例によれば、容易かつ迅速に
ボンディング状態を検査することができる。
【0034】なお上記実施例においては、目盛りパター
ンSとして、X方向スケールパターンS1、Y方向スケ
ールパターンS2の2種類を設定したが、1種類だけで
もよい。
【0035】また目盛りパターンSとしては、先に示し
たもの以外に、例えば図5に示すような分度器パターン
S3、図6に示すような格子状スケールパターンS4、
図7に示すような十字型スケールパターンS5など、目
的に応じたパターンSを設定し、使い分ければよいもの
である。
【0036】また上記実施例においては、モニタ39に
写し出された目盛りパターンSを用いて位置ずれ状態を
読み取るにあたり、リードフレーム2に対してカメラ3
5を移動させるようにしたが、カメラ35を固定位置と
し、リードフレーム2側を移動させるようにしてもよ
い。
【0037】また上記実施例においては、本発明をペレ
ットボンディング装置に適用した例で説明したが、ワイ
ヤボンディング装置やインナーリードボンディング装置
など、他のボンディング装置においても適用できる。
【0038】
【発明の効果】本発明によれば、容易かつ迅速にボンデ
ィング状態を検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明が適用されてなるペレットボンディング
装置の構成図である。
【図2】X方向スケールパターンの表示状態を示す図で
ある。
【図3】Y方向スケールパターンの表示状態を示す図で
ある。
【図4】カメラにより取り込まれたボンディング部位の
モニタ画像である。
【図5】分度器パターンの表示状態を示す図である。
【図6】格子状スケールパターンの表示状態を示す図で
ある。
【図7】十字型スケールパターンの表示状態を示す図で
ある。
【符号の説明】
1 ペレットボンディング装置 2 リードフレーム 2a アイランド部 3 半導体ペレット 10 リードフレーム搬送部 20 半導体ペレット供給部 30 ボンディング部 35 カメラ 37 画像処理装置 38 制御装置 39 モニタ 40 選択表示部 41 記憶部 50 入力部 S 目盛りパターン

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被ボンディング物をボンディング位置に
    搬送する搬送手段と、この搬送手段により搬送される前
    記被ボンディング物に対して所定のボンディングを施す
    ボンディング手段と、このボンディング手段にてボンデ
    ィングが施された前記被ボンディング物を収納する収納
    手段とを有するボンディング装置において、前記ボンデ
    ィング手段によるボンディング済みの前記被ボンディン
    グ物を撮像する撮像手段と、この撮像手段によって撮像
    された画像を処理する画像処理手段と、この画像処理手
    段による処理画像を映し出す表示手段と、目盛りパター
    ンを登録可能な記憶手段と、この記憶手段に登録されて
    いる前記目盛りパターンを必要に応じて前記画像処理手
    段による処理画像が映し出されている前記表示手段に映
    し出す選択表示手段とを有することを特徴とするボンデ
    ィング装置。
  2. 【請求項2】 前記記憶手段には、複数種類の目盛りパ
    ターンが登録されており、前記選択表示手段は、前記記
    憶手段に記憶されている前記複数種類の目盛りパターン
    の中から所定の目盛りパターンを選択し、前記表示手段
    に映し出すことを特徴とする請求項1記載のボンディン
    グ装置。
JP4323571A 1992-11-09 1992-11-09 ボンディング装置 Pending JPH06151500A (ja)

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JP4323571A JPH06151500A (ja) 1992-11-09 1992-11-09 ボンディング装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100260732B1 (ko) * 1997-08-12 2000-07-01 윤종용 펠릿의본딩상태검사장치및그검사방법
US7490652B2 (en) 1997-11-20 2009-02-17 Panasonic Corporation Heating and pressurizing apparatus for use in mounting electronic components, and apparatus and method for mounting electronic components

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100260732B1 (ko) * 1997-08-12 2000-07-01 윤종용 펠릿의본딩상태검사장치및그검사방법
US7490652B2 (en) 1997-11-20 2009-02-17 Panasonic Corporation Heating and pressurizing apparatus for use in mounting electronic components, and apparatus and method for mounting electronic components
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