JPH06155540A - 射出成形機の成形情報表示装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 成形品の特性に応じた良否判定基準の設定や
判定項目として適切な成形データの組合せの特定を簡単
に行える成形情報表示装置を提供すること。 【構成】 成形サイクルにおける各ショット毎の成形デ
ータをオペレータによる成形品の良否判定結果と共にデ
ータファイルに保存し（S1〜S40 ）、選択した種類の成
形データｘの検出値を関数として良品および不良品のシ
ョット数をグラフィックディスプレイ上にグラフ表示す
るか（S41 〜S59 ）、または、２種類の成形データｘ，
ｙを選択して成形データｘ，ｙの検出値の各々を横軸お
よび縦軸の値に合わせて各ショット毎の良否判定結果を
識別可能にドット表示することにより（S79 〜S85 ）、
良不良グラフの重合または分離状態や良不良ドットの交
錯または分離状態を参照して、良否判定項目として適切
な成形データの種類やその組み合せを簡単に決められる
ようにすると共に、成形品の特性や最終的に必要とされ
る歩留まり等に応じた良否判定基準を適確に選択できる
ようにする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、射出成形機の成形情報
表示装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】成形サイクルにおける各ショット毎の成
形品の品質に影響を与える成形データ、例えば、最大射
出圧力や最小クッション量等を成形品の良否判定項目と
して選択し、該成形データに対して所定の監視幅を設定
して各成形サイクル毎の成形データの値を比較すること
により成形品の良否を自動的に判定するようにした射出
成形機の製品良否判別装置が特開平２−１０６３１５
号，特開平３−１５５９１５号，特開平４−１６８０２
１号等として既に提案されている。

【０００３】特開平２−１０６３１５号，特開平３−１
５５９１５号として提案された製品良否判別装置は良品
成形時に検出された成形データの最大値と最小値を監視
幅として設定したり、成形データのばらつきが正規分布
に従うという前提に基いて標準偏差や平均値を監視幅と
して自動設定するものであり、また、特開平４−１６８
０２１号等として提案されたものにおいては、更に、良
否判定項目となる成形データを組み合わせて各々の成形
データを監視することにより成形品の良否判定が行える
ようになっている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の製品良
否判別装置においては、良否判定の基準となる監視幅が
良品成形時における成形データの最大値や最小値または
標準偏差や平均値に基いて自動的に設定されるため、成
形品の特性や最終的に必要とされる歩留まり等に応じた
良否判定基準を設定することは困難であった。また、良
否判定項目となる成形データを組み合わせて成形品の良
否判定を行うような場合には、成形品の品質に最も影響
を与える成形データを良否判定項目として選択する必要
があるが、そのためには、良否判定項目の対象となる各
種の成形データを大量に収集して解析作業を行う必要が
あり非常に面倒である。

【０００５】通常の汎用コンピュータ（パソコン等）を
利用して解析作業を行わせることも可能ではあるが、そ
のためのソフトウェアが市販されているわけではないの
でユーザー自らが解析用のプログラムを作成する必要が
生じ、必ずしも万人向けではなく、多くの場合、射出成
形作業者の経験や勘に基いて良否判定項目の選択や監視
幅の設定が行われているものと想定される。また、汎用
コンピュータを利用して解析作業を行わせるとしても、
成形データの収集から解析に至る全ての作業を自動化す
るためには、データ入出力のタイミング等を考慮して射
出成形機の成形モニタ手段と汎用コンピュータとを接続
するためのインターフェイス手段が必要となり、ハード
ウェア上の改変はユーザーの手に余る。従って、汎用コ
ンピュータを利用して解析作業を行わせる場合であって
も、成形モニタ手段からの成形データを目視確認した後
にキーボード等を介して汎用コンピュータに入力すると
いった面倒な作業を回避することはできず、また、成形
データを収集するためには射出成形作業者の作業手順自
体を改変する必要が生じるので、人事および作業コスト
の面から評価すると汎用コンピュータの使用は妥当な解
決策とならない。

【０００６】従って、少なくとも現状においては、射出
成形作業者の経験や勘に基いて良否判定項目の選択や監
視幅の設定を行うという行為が最も効率の良い方法では
あるが、経験によって得られたノウハウの蓄積または経
験によって育成された勘を言語や数式によって他者に伝
授することは事実上不可能であり、適切な良否判定基準
の設定や良否判定項目の選択を行うためには射出成形作
業者の育成を待たざるを得ないという問題が残る。

【０００７】そこで本発明の目的は、これら従来技術の
欠点を解消し、射出成形作業に関する熟練度等に関わり
なく、誰でもが簡単に、成形品の特性や最終的に必要と
される歩留まり等に応じた良否判定基準の設定や良否判
定項目の組み合わせの特定を行うことのできる射出成形
機の成形情報表示装置を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明による射出成形機
の成形情報表示装置は、成形サイクルにおける各ショッ
ト毎の成形品の品質に影響を与える成形データを検出す
る成形モニタ手段と、成形品の良否判定結果を入力する
手動データ入力手段と、成形モニタ手段で検出された成
形データと手動データ入力手段により入力された良否判
定結果とを各ショット毎に対応させて記憶するデータフ
ァイル手段と、成形データの検出値の関数として良品お
よび不良品のショット数をグラフィックディスプレイ上
にグラフ表示させる表示制御手段とを備えたことを特徴
とする構成により、成形品の特性や最終的に必要とされ
る歩留まり等に応じた良否判定基準の選択を可能とし
た。

【０００９】そして、成形モニタ手段で検出される成形
データを複数種とし、選択された種類の成形データの検
出値の関数として良品および不良品のショット数をグラ
フィックディスプレイ上にグラフ表示させる構成によ
り、良否判定項目の組み合わせの特定を容易に行えるよ
うにした。

【００１０】更に、成形データの検出値に対して良品お
よび不良品の判定基準を設定する判定基準設定手段と、
設定された判定基準に対する良品および不良品のショッ
ト数の統計データを算出する算出手段を備えた構成によ
り、成形品の特性や最終的に必要とされる歩留まり等に
応じた良否判定基準の選択を一層容易にした。

【００１１】また、本発明における射出成形機の成形情
報表示装置は、成形サイクルにおける各ショット毎に少
なくとも２種類の成形データを検出する成形モニタ手段
と、成形品の良否判定結果を入力する手動データ入力手
段と、成形モニタ手段で検出された成形データと手動デ
ータ入力手段により入力された良否判定結果とを各ショ
ット毎に対応させて記憶するデータファイル手段と、予
め決められた２種類の成形データのうち一方の成形デー
タの検出値を横軸の値に合わせると共に他方の成形デー
タの検出値を縦軸の値に合わせて、各ショット毎の良否
判定結果をグラフィックディスプレイ上にドット表示さ
せる表示制御手段とを備えたことを特徴とする構成によ
り、成形品の特性や最終的に必要とされる歩留まり等に
応じた良否判定基準の選択を可能とした。

【００１２】そして、成形データの種類を選択する選択
手段を設けて前記２種類の成形データを選択する構成に
より、良否判定項目の組み合わせの特定を容易に行える
ようにした。

【００１３】更に、前記２種類の成形データの検出値の
各々に対して良品および不良品の判定基準を設定する判
定基準設定手段と、設定された判定基準に対する良品お
よび不良品のショット数の統計データを算出する算出手
段を備えた構成により、成形品の特性や最終的に必要と
される歩留まり等に応じた良否判定基準の選択を一層容
易にした。

【００１４】

【作用】成形サイクルにおける各ショット毎の成形デー
タが成形モニタ手段により検出され、各ショットに対応
してデータファイル手段に記憶される。オペレータが各
ショット毎の成形品の良否を判定し、手動データ入力手
段を介して成形情報表示装置に良否判定結果を入力する
と、各ショット毎の良否判定結果がデータファイル手段
に記憶される。表示制御手段はデータファイル手段に記
憶されている成形データから選択手段によって選択され
ている種類の成形データを読込み、成形データの検出値
の関数として良品および不良品のショット数をグラフィ
ックディスプレイ上にグラフ表示する。オペレータはグ
ラフィックディスプレイ上に表示されたグラフから成形
データの検出値を関数とする良品および不良品のショッ
ト数のばらつきを目視確認することにより、成形品の特
性や最終的に必要とされる歩留まり等に応じて良否判定
基準を選択することができる。

【００１５】そして、現時点で選択されている成形デー
タの関数として表示した良品および不良品のショット数
のばらつき状態によりこの成形データが良否判定項目と
して不適当であると判明した場合（例えば、良品ショッ
トのグラフ表示と不良品ショットのグラフ表示との大半
が重複した場合）には、更に、選択手段により他の種類
の成形データを選択して同様の処理を行わせ、良品およ
び不良品のショット数のばらつき状態を目視確認するこ
とにより、良否判定項目として適当な成形データの種類
（例えば、良品ショットのグラフ表示と不良品ショット
のグラフ表示との大半が分離するような成形データの種
類）を求めることができる。

【００１６】更に、グラフィックディスプレイ上に表示
されたグラフを目視確認したオペレータが、良品および
不良品のショット数のばらつきを適確に確認するために
判定基準設定手段を作動させてグラフ上の成形データの
検出値に対して良品および不良品の判定基準を設定する
と、設定判定基準に対する良品および不良品のショット
数の統計データが算出手段により自動的に算出され、そ
の統計データが表示制御手段によりグラフィックディス
プレイ上に表示される。オペレータはこの統計データを
参照することにより成形品の特性や最終的に必要とされ
る歩留まり等に応じた良否判定基準の選択を一層適確に
行うことができる。

【００１７】また、成形データの種類を選択する選択手
段により２種類の成形データを選択して表示制御手段を
作動させると、該表示制御手段は、２種類の成形データ
のうち一方の成形データの検出値を横軸の値に合わせる
と共に他方の成形データの検出値を縦軸の値に合わせ、
各ショット毎の良否判定結果をグラフィックディスプレ
イ上にドット表示する。オペレータはグラフィックディ
スプレイ上に表示された良品ドットおよび不良品ドット
に基いて良否判定結果のばらつきを目視確認することに
より、成形品の特性や最終的に必要とされる歩留まり等
に応じて良否判定基準を選択することができる。

【００１８】そして、現時点で選択されている２種類の
成形データによる良品ドットおよび不良品ドットのばら
つき状態によりこの成形データが良否判定項目の組み合
わせとして不適当であると判明した場合（例えば、良品
ドットと不良品ドットの表示が錯綜した場合）には、更
に、選択手段により他の２種類（少なくとも一方が前回
のものと異なる）の成形データを選択して同様の処理を
行わせ、良品ドットおよび不良品ドットのばらつき状態
を目視確認することにより、良否判定項目として適当な
成形データの組み合わせ（例えば、良品ドットの群と不
良品ドットの群が分離するような成形データの組み合わ
せ）を求めることができる。

【００１９】更に、グラフィックディスプレイ上に表示
された良品ドットおよび不良品ドットを目視確認したオ
ペレータが、良品ドットおよび不良品ドットのばらつき
を適確に確認するために判定基準設定手段を作動させて
前記２種類の成形データの検出値の各々に対して良品お
よび不良品の判定基準を設定すると、設定判定基準に対
する良品および不良品のショット数の統計データが算出
手段により自動的に算出され、その統計データが表示制
御手段によりグラフィックディスプレイ上に表示され
る。オペレータはこの統計データを参照することにより
成形品の特性や最終的に必要とされる歩留まり等に応じ
た良否判定基準の選択を一層適確に行うことができる。

【００２０】

【実施例】以下、図面を参照して本発明の一実施例を説
明する。図１は一実施例における射出成形機の制御装置
１００の要部を示すブロック図であり、該制御装置１０
０は射出成形機の成形情報表示装置を兼ねる。実施例に
おける射出成形機は型締軸，スクリュー回転軸，エジェ
クタ軸および射出軸等の各軸をサーボモータにより駆動
する通常の電動式射出成形機であり、射出成形機自体の
ハードウェア構成およびスクリューに作用する樹脂圧力
を検出するための圧力検出器や各軸の現在位置を記憶す
る現在位置記憶レジスタ等の構成および機能に関しては
既に周知となっているので、ここでは特に説明しない。

【００２１】成形情報表示装置を兼ねる射出成形機の制
御装置１００は、数値制御用のマイクロプロセッサであ
るＣＮＣ用ＣＰＵ１５、プログラマブルマシンコントロ
ーラ用のマイクロプロセッサであるＰＭＣ用ＣＰＵ８、
サーボ制御用のマイクロプロセッサであるサーボＣＰＵ
１０、および、射出圧力等の成形データをモニタするマ
イクロプロセッサである圧力モニタ用ＣＰＵ７を有し、
バス１２を介して相互の入出力を選択することにより各
マイクロプロセッサ間での情報伝達が行えるようになっ
ている。ＰＭＣ用ＣＰＵ８には射出成形機のシーケンス
動作を制御するシーケンスプログラムや後述の成形デー
タ集計処理を実施するためのプログラム等を記憶したＲ
ＯＭ４および演算データの一時記憶等に用いられるＲＡ
Ｍ５が接続されている。一方、ＣＮＣ用ＣＰＵ１５には
射出成形機を全体的に制御するプログラム等を記憶した
ＲＯＭ１７および演算データの一時記憶等に用いられる
ＲＡＭ１８が接続されている。また、サーボＣＰＵ１０
および圧力モニタ用ＣＰＵ７の各々には、サーボ制御専
用の制御プログラムを格納したＲＯＭ１１やデータの一
時記憶に用いられるＲＡＭ９、および、成形データの一
種である樹脂圧力のモニタ処理等に関する制御プログラ
ムを格納したＲＯＭ２やデータの一時記憶に用いられる
ＲＡＭ３が接続されている。更に、サーボＣＰＵ１０に
は、該ＣＰＵ１０からの指令に基いて型締用，スクリュ
ー回転用，エジェクタ用，射出用等のサーボモータを駆
動する各軸毎のサーボ回路６が接続され、従来と同様、
射出用サーボモータ等に配備したパルスコーダからの出
力がサーボＣＰＵ１０に帰還され、該サーボＣＰＵ１０
によりパルスコーダからのフィードバックパルスに基い
て算出されたスクリューの現在位置等がＲＡＭ９の現在
位置記憶レジスタに記憶される。

【００２２】成形データ用ＲＡＭ１４は射出成形作業の
対象となる射出成形金型に対応する１組の成形条件と各
種設定値，パラメータ，マクロ変数等を記憶する設定メ
モリ部を有する不揮発性のメモリであり、また、成形デ
ータ用ＲＡＭ１４の成形データ記憶領域には、各成形サ
イクル毎のショットで検出される計量位置Ｓmax.，最小
クッション量Ｓmin.，最大射出圧力Ｐmax.，射出時間Ｓ
ｔ，射出工程から保圧工程へと移行するときの射出／保
圧切替圧力ＶＰｐまたは射出／保圧切替スクリュー位置
ＶＰｓのいずれか一方，計量開始位置Ｓｍ，計量時間Ｍ
ｔ等の成形データの各々を各ショット毎に対応させ、手
動データ入力手段としてのＣＲＴ／ＭＤＩ１９からオペ
レータによって入力された各ショット毎の成形品の良否
判定結果と共に記憶するためのデータファイルが設けら
れている。図５にデータファイル構成の概略を示す。な
お、実施例の射出成形機においては射出工程から保圧工
程への切替を決める成形条件として射出／保圧切替スク
リュー位置ＶＰｓまたは射出／保圧切替圧力ＶＰｐのい
ずれか一方を選択して成形データ用ＲＡＭ１４の設定メ
モリ部に設定することができるようになっており、射出
／保圧切替スクリュー位置ＶＰｓによって切替制御を行
う場合には射出／保圧切替圧力ＶＰｐの検出値が、ま
た、射出／保圧切替圧力ＶＰｐによって切替制御を行う
場合には射出／保圧切替スクリュー位置ＶＰｓの検出値
が前述のデータファイルに記憶される。

【００２３】圧力モニタ用ＣＰＵ７はＡ／Ｄ変換器１を
介して所定の処理周期で圧力検出器から入力される樹脂
圧力の現在値をリフレッシュメモリとしてのＲＡＭ３に
書き込むようになっており、ＲＡＭ３に書き込まれた樹
脂圧力の値はＰＭＣ用ＣＰＵ８の必要に応じ、該ＰＭＣ
用ＣＰＵ８により自在に読込まれる。

【００２４】判定基準設定手段および選択手段の一部で
あり、かつ、グラフィックディスプレイを兼ねるＣＲＴ
／ＭＤＩ（ＣＲＴ表示装置付手動データ入力装置）１９
は、インターフェイスを兼ねるＣＲＴ表示回路１６を介
してバス１２に接続されており、ファンクションキーに
よるデータ設定画面の選択や設定データの入力操作とカ
ーソル移動による判定基準設定操作やグラフ表示ならび
にドット表示等に用いられる。

【００２５】また、入出力インターフェイス１３は射出
成形機の各部に配備したリミットスイッチや操作盤から
の信号を受信したり、周辺装置と信号の送受を行うもの
である。

【００２６】そして、ＣＮＣ用ＣＰＵ１５がＲＯＭ１７
の制御プログラムに基づいて各軸のサーボモータに対し
てパルス分配を行い、サーボＣＰＵ１０は各軸に対して
パルス分配された移動指令とパルスコーダ等の検出器で
検出された位置のフィードバック信号および速度のフィ
ードバック信号に基づいて、従来と同様に位置ループ制
御，速度ループ制御さらには電流ループ制御等のサーボ
制御を行い、いわゆるディジタルサーボ処理を実行す
る。

【００２７】以上のような構成において、ＲＯＭ１７に
記憶された制御プログラムや成形データ用ＲＡＭ１４の
設定メモリ部に記憶された各種成形条件、および、ＲＯ
Ｍ４に格納されたシーケンスプログラム等により、ＰＭ
Ｃ用ＣＰＵ８がシーケンス制御を行いながら、ＣＮＣ用
ＣＰＵ１５が射出成形機各軸のサーボモータにパルス分
配し、サーボＣＰＵ１０がディジタルサーボ制御を行っ
て射出成形機を駆動制御するものである。

【００２８】図７〜図１１はＰＭＣ用ＣＰＵ８が半自動
運転モードにおける各軸のシーケンス制御と共に実施す
る成形データ検出処理の概略を示すフローチャート、ま
た、図１２〜図１８は成形データ集計処理の概略を示す
フローチャートであり、以下、これらのフローチャート
を参照して本実施例の成形情報表示装置に関わる処理動
作を説明する。なお、半自動運転モードで成形サイクル
を開始させる場合には、従来と同様、オペレータは手動
の計量操作により、成形データ用ＲＡＭ１４の設定メモ
リ部に成形条件として設定した計量位置Ｓ０よりも後方
に射出成形機のスクリューを後退させてクランプを型開
完了位置よりも後方に後退させ、射出成形機のフロント
ゲートを開いて射出成形機を運転待機状態とする。半自
動運転は、この状態でオペレータが射出成形機本体の手
動操作盤に配備された半自動スイッチを操作した後、オ
ペレータによるフロントゲートの手動閉鎖をＰＭＣ用Ｃ
ＰＵ８が近接スイッチ等により検出して型締，射出，保
圧，計量および冷却，型開，エジェクトの各工程を１サ
イクル実施し、該ＰＭＣ用ＣＰＵ８のシーケンス制御で
クランプ軸や射出軸が設定型開完了位置，設定計量位置
Ｓ０に復帰させられ、以下、前記と同様の操作（以下、
起動刺激という）がＰＭＣ用ＣＰＵ８によって検出さけ
れる毎に設定メモリ部の成形条件に従って一連の成形サ
イクルが実施されるものであって、この点は従来と同様
である。

【００２９】半自動運転モードの処理を開始したＰＭＣ
用ＣＰＵ８は、まず、成形データ数記憶レジスタＮの値
を０に初期化し（ステップＳ１）、成形データ集計処理
の実施を要求するオペレータの指令がＣＲＴ／ＭＤＩ１
９を介して入力されているか否かを判別するが（ステッ
プＳ２）、成形データ集計処理の実施要求が検出されな
ければ、更に、前述の起動刺激によるサイクルスタート
の要求が入力されているか否かを判別することとなる
（ステップＳ３）。そして、サイクルスタート要求も検
出されなければ、以下、ＰＭＣ用ＣＰＵ８は前記と同様
にしてステップＳ２，ステップＳ３の判別処理を繰り返
し実行し、成形データ集計処理の実施要求もしくはサイ
クルスタート要求が入力されるのを待機する。半自動運
転開始前の現段階では成形データ検出処理も非実行の状
態にあり、成形データ集計処理を行うべき成形データも
収集されていないので、オペレータは、まず、前述の起
動刺激によるサイクルスタート要求で半自動運転による
成形データ検出処理を必要回数だけ繰り返し実行し、成
形データの収集作業をＰＭＣ用ＣＰＵ８に行わせる必要
がある。

【００３０】オペレータによるサイクルスタート要求を
ステップＳ３の判別処理で検出したＰＭＣ用ＣＰＵ８
は、まず、成形データ用ＲＡＭ１４の設定メモリ部に設
定された型締完了位置に基いてＣＮＣ用ＣＰＵ１５に型
締のためのパルス分配処理を開始させ（ステップＳ
４）、型締軸のサーボモータで駆動されるクランプが型
締完了位置に到達するまで待機する（ステップＳ５）。
そして、ＣＮＣ用ＣＰＵ１５によるパルス分配処理が完
了するとＣＮＣ用ＣＰＵ１５はＰＭＣ用ＣＰＵ８に型締
完了信号を出力する。ステップＳ５の判別処理で型締完
了信号を検出したＰＭＣ用ＣＰＵ８は、ＲＡＭ９の現在
位置記憶レジスタからスクリュー現在位置Ｓｎ、即ち、
計量位置を示す射出動作開始直前のスクリュー現在位置
Ｓｎを読込み（ステップＳ６）、この値を計量位置記憶
レジスタＳmax.に当該成形サイクルの成形データとして
記憶する一方、同様の値を最小クッション量記憶レジス
タＳmin.に初期値としてセットし、最大射出圧力記憶レ
ジスタＰmax.の値を０に初期化する（ステップＳ７）。
次いで、ＰＭＣ用ＣＰＵ８はＣＮＣ用ＣＰＵ１５にスク
リュー前進指令を出力し、成形データ用ＲＡＭ１４の設
定メモリ部に設定された射出速度に基いてＣＮＣ用ＣＰ
Ｕ１５に射出動作のためのパルス分配処理を開始させ、
射出軸のサーボモータで駆動されるスクリューの前進を
開始させると共に（ステップＳ８）、経過時間計測タイ
マＴを作動して射出開始後の経過時間の計測を開始する
（ステップＳ９）。

【００３１】以下、ＰＭＣ用ＣＰＵ８は、射出工程から
保圧工程への切替を決める成形条件として射出／保圧切
替スクリュー位置ＶＰｓ０が成形データ用ＲＡＭ１４の
設定メモリ部に設定されている場合、即ち、ステップＳ
１５の判別結果が真となる場合であれば、ＲＡＭ９から
読込まれるスクリュー現在位置Ｓｎの検出値が射出／保
圧切替スクリュー位置ＶＰｓ０に到達するまでの間（ス
テップＳ１６）、また、射出工程から保圧工程への切替
を決める成形条件として射出／保圧切替圧力ＶＰｐ０が
成形データ用ＲＡＭ１４の設定メモリ部に設定されてい
る場合、即ち、ステップＳ１５の判別結果が偽となる場
合であれば、ＲＡＭ３から読込まれる現在射出圧力Ｐｎ
の検出値が射出／保圧切替圧力ＶＰｐ０に到達するまで
の間（ステップＳ１７）、スクリュー現在位置Ｓｎおよ
び現在射出圧力ＰｎをＲＡＭ９およびＲＡＭ３から繰り
返し読込み（ステップＳ１０）、この間に検出されるス
クリュー現在位置Ｓｎの最小値を最小クッション量記憶
レジスタＳmin.に更新記憶する一方（ステップＳ１１，
ステップＳ１２）、現在射出圧力Ｐｎの最大値を最大射
出圧力記憶レジスタＰmax.に更新記憶する（ステップＳ
１３，ステップＳ１４）。ここで、現在射出圧力Ｐｎの
代わりに金型の型内圧力をＡ／Ｄ変換器１を介してＲＡ
Ｍ３に書き込んでいれば、型内圧力の場合でも以下同様
にして処理ができる。

【００３２】そして、射出工程から保圧工程への切替を
決める成形条件として射出／保圧切替スクリュー位置Ｖ
Ｐｓ０が成形データ用ＲＡＭ１４の設定メモリ部に設定
されている場合、つまり、ステップＳ１５の判別結果が
真となる場合においてはスクリュー現在位置Ｓｎの検出
値が射出／保圧切替スクリュー位置ＶＰｓ０に到達して
ステップＳ１６の判別結果が真となった段階で該切替時
点における現在射出圧力Ｐｎの検出値を射出／保圧切替
圧力記憶レジスタＶＰｐに当該成形サイクルの成形デー
タとして記憶し（ステップＳ１８）、また、射出工程か
ら保圧工程への切替を決める成形条件として射出／保圧
切替圧力ＶＰｐ０が成形データ用ＲＡＭ１４の設定メモ
リ部に設定されている場合、つまり、ステップＳ１５の
判別結果が偽となる場合においては現在射出圧力Ｐｎの
検出値が射出／保圧切替圧力ＶＰｐ０に到達してステッ
プＳ１７の判別結果が真となった段階で該切替時点にお
けるスクリュー現在位置Ｓｎの検出値を射出／保圧切替
位置記憶レジスタＶＰｓに当該成形サイクルの成形デー
タとして記憶する（ステップＳ１９）。また、射出中は
ステップＳ１４，ステップＳ１５の間で、オペレータが
ＣＲＴ／ＭＤＩ１９を介して設定した最大射出時間と経
過時間Ｔを比較し、経過時間Ｔが最大射出時間を越えた
時点でステップＳ１８，ステップ１９を実行しステップ
Ｓ２０へ移行する。

【００３３】ステップＳ１６もしくはステップＳ１７の
判別処理により射出工程の終了を検出し、ステップＳ１
８もしくはステップＳ１９の処理で当該成形サイクルに
おける射出／保圧切替に関する成形データを記憶したＰ
ＭＣ用ＣＰＵ８は、経過時間計測タイマＴの現在値、即
ち、射出所要時間の値を当該成形サイクルの成形データ
として射出時間記憶レジスタＳｔに記憶した後、経過時
間計測タイマＴをリセットして再作動させ、保圧開始後
の経過時間の計測を開始すると共に（ステップＳ２
０）、成形データ用ＲＡＭ１４の設定メモリ部に設定さ
れた成形条件の保圧圧力に対応するトルクリミットの値
を射出軸のサーボＣＰＵ１０に出力し、保圧工程に移行
する（ステップＳ２１）。

【００３４】以下、ＰＭＣ用ＣＰＵ８は、経過時間計測
タイマＴの現在値が前記設定メモリ部に成形条件として
設定された保圧時間Ｒｔに達するまでの間（ステップＳ
２５）、スクリュー現在位置ＳｎをＲＡＭ９から繰り返
し読込み（ステップＳ２２）、この間に検出されるスク
リュー現在位置Ｓｎの最小値を最小クッション量記憶レ
ジスタＳmin.に更新記憶する（ステップＳ２３，ステッ
プＳ２４）。

【００３５】そして、ステップＳ２５の判別結果が真と
なって設定保圧時間の保圧が完了したことが検出される
と、ＰＭＣ用ＣＰＵ８は、該時点におけるスクリュー現
在位置Ｓｎの検出値、即ち、保圧完了位置Ｓｎを当該成
形サイクルの成形データとして計量開始位置記憶レジス
タＳｍに記憶し（ステップＳ２６）、スクリュー前進指
令を解除して保圧工程を終了させる（ステップＳ２
７）。

【００３６】次いで、ＰＭＣ用ＣＰＵ８は経過時間計測
タイマＴをリセットして再作動させ、計量時間の計測を
開始すると共に（ステップＳ２８）、成形データ用ＲＡ
Ｍ１４の設定メモリ部に設定された成形条件の背圧に対
応するトルクリミットの値を射出軸のサーボＣＰＵ１０
に出力し（ステップＳ２９）、設定メモリ部に設定され
た回転数でスクリュー回転軸のサーボモータの駆動を開
始させ、スクリューのエクストルードによる計量混練り
動作を開始させる（ステップＳ３０）。以下、ＰＭＣ用
ＣＰＵ８は、スクリュー現在位置Ｓｎの値をＲＡＭ９か
ら逐次読込み（ステップＳ３１）、スクリューの現在位
置Ｓｎが成形データ用ＲＡＭ１４の設定メモリ部に設定
された計量完了位置Ｓ０に到達して計量混練り動作が完
了するまで待機する（ステップＳ３２）。

【００３７】そして、ステップＳ３２の判別処理により
計量混練り動作の完了が検出されると、ＰＭＣ用ＣＰＵ
８は経過時間計測タイマＴの現在値、即ち、計量時間を
当該成形サイクルの成形データとして計量時間記憶レジ
スタＭｔに記憶し（ステップＳ３３）、成形データ用Ｒ
ＡＭ１４の設定メモリ部に設定された型開完了位置に基
いてＣＮＣ用ＣＰＵ１５に型開のためのパルス分配処理
を開始させて型開動作を開始させる（ステップＳ３
４）。型開動作を開始させたＰＭＣ用ＣＰＵ８は、ＣＮ
Ｃ用ＣＰＵ１５からの型開完了信号が入力されているか
否かを判別するが（ステップＳ３５）、型開完了信号が
入力されていなければ、ＲＡＭ９のクランプ現在位置記
憶レジスタから型締軸の現在位置を読込んで成形データ
用ＲＡＭ１４の設定メモリ部に設定されたエジェクト開
始位置に到達しているか否かを判別する（ステップＳ３
６）。そして、エジェクト開始位置に到達していなけれ
ば、ＰＭＣ用ＣＰＵ８は、以下、ステップＳ３５，ステ
ップＳ３６の判別処理を繰り返し実行し、型締軸がエジ
ェクト開始位置に到達するのを待機する。そして、型締
軸がエジェクト開始位置に到達してステップＳ３６の判
別結果が真となると、ＰＭＣ用ＣＰＵ８はその都度ＣＮ
Ｃ用ＣＰＵ１５にエジェクト実行指令を出力し、成形デ
ータ用ＲＡＭ１４の設定メモリ部に設定されたエジェク
ト条件により、エジェクタ軸のサーボモータによるエジ
ェクタロッドの突出縮退動作を行わせて成形品を離型さ
せる（ステップＳ３７）。

【００３８】最終的にステップＳ３５の判別結果が真と
なって成形品の離型操作およびクランプの型開動作が全
て完了すると、ＰＭＣ用ＣＰＵ８は成形データ数記憶レ
ジスタＮの値をインクリメントした後（ステップＳ３
８）、離型した成形品を確認してその良否を判定したオ
ペレータがＣＲＴ／ＭＤＩ１９を介して良否判定結果を
入力するまで待機する（ステップＳ３９）。そして、オ
ペレータが良否判定結果を入力すると、ＰＭＣ用ＣＰＵ
８はステップＳ３９の判別処理でこれを検出し、成形デ
ータ数記憶レジスタＮの値で示されるデータファイル
（図５参照）のアドレスに、当該成形サイクルで検出さ
れた各種成形データの値と良否判定結果とを対応させて
記憶し（ステップＳ４０）、１成形サイクルの半自動運
転および当該成形サイクルに対する成形データ検出処理
を終了して、再び、ステップＳ２の処理へと復帰し、成
形データ集計処理の実施要求もしくはサイクルスタート
要求がオペレータによって入力されるのを待機する（ス
テップＳ２，ステップＳ３）。既に説明したが、取扱わ
れる成形データは、計量位置Ｓmax.，最小クッション量
Ｓmin.，最大射出圧力または最大型内圧力Ｐmax.，射出
時間Ｓｔ，射出／保圧切替圧力または射出／保圧切替型
内圧力ＶＰｐ，射出／保圧切替スクリュー位置ＶＰｓ，
計量開始位置Ｓｍ，計量時間Ｍｔの各値である。

【００３９】以下、オペレータは前記と同様の操作手順
により各ショット毎の成形品の良否を判定しながら半自
動運転を必要回数だけ繰り返し実行し、ＰＭＣ用ＣＰＵ
８の処理により各成形サイクルの成形データと成形品の
良否判定結果とを各ショット毎に対応させてデータファ
イルに記憶させる。そして、成形データ集計処理の実施
に必要とされる数の成形データの収集を完了したなら
ば、ＣＲＴ／ＭＤＩ１９を操作してＰＭＣ用ＣＰＵ８に
成形データ集計処理の実施要求を入力し、該ＰＭＣ用Ｃ
ＰＵ８による成形データ集計処理を開始させる。

【００４０】ステップＳ２の判別処理で成形データ集計
処理の実施要求を検出したＰＭＣ用ＣＰＵ８は、まず、
良否判定項目となる成形データの種別選択の有無を記憶
するフラグＦを０に初期化し（ステップＳ４１）、ＲＡ
Ｍ５に設定された良品カウンタ１〜Ｍ，不良品カウンタ
１〜Ｍおよび統計データを記憶するレジスタＡ〜Ｄを各
々０に初期化して（ステップＳ４２）、図２に示すよう
に、ＣＲＴ／ＭＤＩ１９のグラフィックディスプレイ下
部にファンクションキーの機能割付けを示すガイダンス
を表示した後（ステップＳ４３）、機能割付けされた実
行キーＫ７の操作もしくは機能割付けされた良否判定項
目選択キーＫ０〜Ｋ６のいずれかが操作されるのを待つ
待機状態に入る（ステップＳ４４，ステップＳ４５）。

【００４１】この実施例においては、良否判定項目選択
キーＫ０〜Ｋ６の１つで選択された種類の成形データの
検出値の関数として良品および不良品のショット数をグ
ラフィックディスプレイ上にグラフ表示することにより
良品および不良品のショット数のばらつきを成形データ
の検出値に対応させて確認するための処理（請求項１〜
請求項３に対応）、および、良否判定項目となる成形デ
ータを良否判定項目選択キーＫ０〜Ｋ６によって２種類
選択して一方の成形データの検出値を横軸の値に合わせ
ると共に他方の成形データの検出値を縦軸の値に合わ
せ、各ショット毎の良否判定結果をグラフィックディス
プレイ上にドット表示して良否判定結果のばらつきを確
認するための処理（請求項４〜請求項６に対応）が共に
実施できるようになっており、どちらの方式を選択する
かはオペレータの判断に任されている。

【００４２】そこで、まず、成形データの検出値を関数
として良品および不良品のショット数をグラフィックデ
ィスプレイ上にグラフ表示することによって良品および
不良品のショット数のばらつきを確認する場合、オペレ
ータは、まず、良否判定項目選択キーＫ０〜Ｋ６のいず
れかを操作して成形データ集計処理の対象となる良否判
定項目を選択することとなる。ステップＳ４５の判別処
理で良否判定項目選択キーＫ０〜Ｋ６の操作を検出した
ＰＭＣ用ＣＰＵ８は、まず、成形データの種別選択の有
無を記憶するフラグＦがセットされているか否か、即
ち、良否判定項目選択キーＫ０〜Ｋ６の操作による良否
判定項目の選択操作が既に１回実行されているか否かを
判別するが（ステップＳ４６）、フラグＦがセットされ
ていなければ、今回の操作で選択された良否判定項目に
対応するデータファイルの配列ｘを横軸に対応する成形
データとして記憶し（ステップＳ４７）、フラグＦをセ
ットした後（ステップＳ４８）、再びステップＳ４４の
処理へと移行して実行キーＫ７の操作を待つ待機状態に
入る（ステップＳ４４，ステップＳ４５）。例えば、最
初のステップＳ４５の処理において計量位置の成形デー
タＳmax.に対応する良否判定項目選択キーＫ０が操作さ
れた場合であればｘ＝１，最小クッション量Ｓmin.に対
応する良否判定項目選択キーＫ１が操作された場合であ
ればｘ＝２，・・・等である（図２，図５参照）。な
お、ステップＳ４６の判別結果が真となった場合には今
回の操作で選択された良否判定項目が２つめのものであ
ることを意味し、この場合、ＰＭＣ用ＣＰＵ８は各ショ
ット毎の良否判定結果をグラフィックディスプレイ上に
ドット表示するための処理を実行することとなるので、
これに関する説明は後に譲る。

【００４３】そして、良否判定項目選択キーＫ０〜Ｋ６
で１種類の成形データを良否判定項目として選択したオ
ペレータがこれに引き続き実行キーＫ７を操作すると、
ＰＭＣ用ＣＰＵ８はステップＳ４４の判別処理で実行キ
ーＫ７の操作を検出し、フラグＦがセットされているか
否かを判別するが（ステップＳ４９）、フラグＦがセッ
トされていなければ実行キーＫ７の操作をミスタッチと
して無視し、良否判定項目選択キーＫ０〜Ｋ６で良否判
定項目が選択されるのを待つ。また、フラグＦがセット
されていれば、成形データの検出値を関数として良品お
よび不良品のショット数をグラフィックディスプレイ上
にグラフ表示するための実質的な処理を開始するために
ステップＳ５１へと移行する。

【００４４】ステップＳ５１の処理に移行したＰＭＣ用
ＣＰＵ８は、まず、アドレスカウンタｉの値を０に初期
化し、次に、該カウンタｉの値をインクリメントして
（ステップＳ５２）、データファイルの（ｉ，ｘ）スポ
ットの成形データ、即ち、良否判定項目選択キーＫ０〜
Ｋ６のいずれかで選択された種類ｘの成形データのうち
第ｉ回目のショットから検出された成形データと、デー
タファイルの（ｉ，８）スポットのデータ、即ち、第ｉ
回目のショットに関する成形品の良否判定結果とを読込
み（ステップＳ５３）、該成形品が良品であったか否か
を判別する（ステップＳ５４）。そして、良否判定結果
が良品であった場合には成形データ（ｉ，ｘ）の値を含
む刻みを有する良品カウンタｍを検出して該カウンタｍ
の値をインクリメントする一方（ステップＳ５５）、良
否判定結果が不良品であった場合には成形データ（ｉ，
ｘ）の値を含む刻みを有する不良品カウンタｍを検出し
て該カウンタｍの値をインクリメントする（ステップＳ
５６）。

【００４５】図６は良品カウンタｍおよび不良品カウン
タｍの機能を示す概念図であり、良品カウンタｍおよび
不良品カウンタｍの各々は、ＣＲＴ／ＭＤＩ１９のグラ
フィックディスプレイに設定される横軸の長さｍａｘ．
をＭ分割するように全体でＭ個ずつ重複して設けられて
おり、例えば、良品カウンタｍおよび不良品カウンタｍ
に共通の刻み幅ｍａｘ．／Ｍの値をΔＳとするなら、ｍ
＝１で示される良品カウンタｍおよび不良品カウンタｍ
は０〜ΔＳの刻みを有し、また、ｍ＝ｊで示される良品
カウンタｍおよび不良品カウンタｍは（ｊ−１）・ΔＳ
〜ｊ・ΔＳの刻みを有することになる。従って、例え
ば、成形データ（ｉ，ｘ）の値が（ｊ−１）・ΔＳ〜ｊ
・ΔＳの間にあり、かつ、（ｉ，８）のデータが良品で
あるとするならｍ＝ｊの良品カウンタｍがインクリメン
トされ、また、成形データ（ｉ，ｘ）の値が（ｊ−１）
・ΔＳ〜ｊ・ΔＳの間にあり、かつ、（ｉ，８）のデー
タが不良品であるとするならｍ＝ｊの不良品カウンタｍ
がインクリメントされることとなる。

【００４６】良品カウンタｍもしくは不良品カウンタｍ
をインクリメントしたＰＭＣ用ＣＰＵ８は、次いで、ア
ドレスカウンタｉの現在値が成形データ数記憶レジスタ
Ｎの値に達しているか否か、即ち、Ｎ回の半自動運転に
よって得られた（ｉ，ｘ）スポットの成形データの全て
に対してステップＳ５５もしくはステップＳ５６の処理
が実施されているか否かを判別するが（ステップＳ５
７）、アドレスカウンタｉの現在値が成形データ数記憶
レジスタＮの値に達していなければ、再びステップＳ５
２の処理へと移行し、以下、アドレスカウンタｉの現在
値が成形データ数記憶レジスタＮの値に達するまでの
間、前記と同様にしてステップＳ５２〜ステップＳ５７
（但し、ステップＳ５５およびステップＳ５６はいずれ
か一方の処理となる）で形成されるループ状の処理を繰
り返し実行し、データファイルの（ｉ，ｘ）スポットか
ら読込まれた成形データに対し各カウンタｍによって一
定の幅をもたせ、カウンタｍの刻みに対応する良品およ
び不良品の数を良品カウンタｍおよび不良品カウンタｍ
の各々に積算記憶させる。

【００４７】そして、ステップＳ５７の判別結果が真と
なって成形データの値に対応する良品数および不良品数
の積算処理が完了すると、ＰＭＣ用ＣＰＵ８は、図６に
示されるような良品カウンタｍ＝１〜Ｍの配列に応じ、
ＣＲＴ／ＭＤＩ１９のグラフィックディスプレイに各良
品カウンタ１〜Ｍの値を良品表示色により折れ線でグラ
フ表示する一方（ステップＳ５８）、各不良品カウンタ
ｍ＝１〜Ｍの値を不良品表示色により折れ線でグラフ表
示する（ステップＳ５９）。

【００４８】図２は良否判定項目として最小クッション
量Ｓmin.（良否判定項目選択キー＝Ｋ１，配列ｘ＝２）
を選択したときの折れ線グラフ表示の一例であり、太い
実線（良品表示色＝緑）が良品数の分布を示し、中太の
実線（不良品表示色＝赤）が不良品数の分布を示してい
る。前述したステップＳ５５，ステップＳ５６の処理は
折れ線グラフ表示を確実に実行するための処理であり、
ここでもし仮に、横軸を表示軸とするｉ＝１〜Ｎの各最
小クッション量Ｓmin.の厳密な値に対して縦軸を表示軸
とする良品数および不良品数の値が表示されるとするな
ら、折れ線となるべきグラフが横軸に平行な直線となっ
てしまい、良品数および不良品数の分布状態が全く識別
できないという問題が生じることになる。それは、ｉ＝
１〜Ｎにおける各最小クッション量Ｓmin.の値が僅かず
つではあるが異なるために、各最小クッション量Ｓmin.
の値に対応する良品および不良品のショット数の値が全
て１となってしまい、良品および不良品に対して共にシ
ョット数＝１の関数が生成されてしまうからである。ス
テップＳ５５，ステップＳ５６の処理があるため、本実
施例においてはこのような問題は生じない。なお、図２
では各軸のスケール（目盛り）表示を省略しているが、
実際には、選択された良否判定項目の成形データの最大
値や各カウンタでカウントされるショット数の最大値に
基き、各最大値を各軸の最大値と一致させるための自動
スケーリング処理が実施され、これに応じたスケール
（目盛り）がグラフィックディスプレイ上に表示され
る。

【００４９】良品ショット数の分布と不良品ショット数
の分布が図２に示されるような状態で分離していれば、
今回の操作で選択した良否判定項目の成形データに適切
な良否判定基準を設定することにより、従来の製品良否
判定装置により成形品の良否判定を自動処理することが
可能である。例えば、不良品が全く生産されない成形デ
ータの範囲、即ち、図２における横軸のＱ１≦成形デー
タ≦Ｑ２の範囲のもののみを良品と判定するようにすれ
ば、ほぼ間違いなく良品のみを選別することができる。
しかし、成形品の種類によっては必ずしも完全な成形品
でなくとも多少のバリやヒケがあっても構わないという
場合もあり、このような場合においては、良否判定基準
をもう少し甘く設定できる可能性がある。しかし、この
様な場合においても、実際には不良品であるものが良品
として判定されるといった不良選別の生じる確率を予め
知っておくことは重要であり、本実施例では、グラフィ
ックディスプレイにおける良品ショット数および不良品
ショット数の分布状態を確認したオペレータが、更に、
ＣＲＴ／ＭＤＩ１９のカーソル移動キーの操作により、
成形データの表示軸となる横軸に対して任意位置を指定
して該横軸と直交する２本の直線を定義し、良否判定基
準を仮設定することで、良品と判定される不良品の確率
や不良品と判定される良品の確率等の統計データを自動
的に算出して確認することができるようになっている。
一方、良品ショット数の分布状態と不良品ショット数の
分布状態が、例えば、図３に示されるように完全に重合
しているような場合においては、良否判定項目の成形デ
ータに如何ような良否判定基準を設定したとしても、良
品と不良品とを自動選別することは不可能であり、今回
の操作で選択した成形データは良否判定項目として全く
不適当であることを意味する。このような場合には、再
び良否判定項目選択キーＫ０〜Ｋ６を操作して良否判定
項目を再選択することにより、新たに選択した良否判定
項目の成形データに対する良品ショット数および不良品
ショット数の分布状態を描画させることもできるように
なっている。

【００５０】ステップＳ５９の処理を終了したＰＭＣ用
ＣＰＵ８は、次いで、ＣＲＴ／ＭＤＩ１９のカーソル移
動キー操作による良否判定基準の仮設定操作もしくはフ
ァンクションキーＫ９からなる再選択キーによる良否判
定項目の再選択操作を待つ待機状態に入る（ステップＳ
６０，ステップＳ６１）。前述したように、今回選択し
た成形データが良否判定項目として不適当であると判断
したならば、オペレータは再選択キーＫ９を操作してＰ
ＭＣ用ＣＰＵ８に再選択操作の開始を定義し、該ＰＭＣ
用ＣＰＵ８をステップＳ６１の判別処理からステップＳ
４１の処理に移行させ、前記と同様の処理操作によって
新たな良否判定項目を選択し、該良否判定項目の成形デ
ータに対する良品ショット数および不良品ショット数の
分布状態をグラフィックディスプレイに折れ線で描画さ
せ、このグラフを参照して再び良否判定項目としての適
不適を判断する。なお、１種類の成形データを選択して
前記と同様の処理を行わせる代わりに、２種類の成形デ
ータを選択することにより、後述するような、各ショッ
ト毎の良否判定結果をグラフィックディスプレイ上にド
ット表示して良否判定結果のばらつきを確認するための
処理を行わせるようにしても良い。

【００５１】一方、今回選択した良否判定項目を良しと
したオペレータがＣＲＴ／ＭＤＩ１９のカーソル移動キ
ーを操作して良否判定基準の仮設定操作を行った場合、
ＰＭＣ用ＣＰＵ８はステップＳ６０の判別処理によりこ
の操作を検出してステップＳ６２の処理へと移行し、仮
設定された良否判定基準に対する統計データ算出処理を
開始する。

【００５２】ステップＳ６２の処理に移行したＰＭＣ用
ＣＰＵ８は、まず、カーソル移動キーの操作によってグ
ラフィックディスプレイ上に表示された２本の直線によ
って示される横軸の各値、即ち、良否判定項目となる成
形データに対して設定された良否判定基準の大きな方の
値を良品判定基準の許容最大値ｘmax.として、また、小
さな方の値を良品判定基準の許容最小値ｘmin.として記
憶し（図２参照）、アドレスカウンタｉの値を０に初期
化する（ステップＳ６３）。次いで、ＰＭＣ用ＣＰＵ８
はカウンタｉの値をインクリメントし（ステップＳ６
４）、該カウンタｉの現在値で示されるデータファフイ
ルの（ｉ，ｘ）スポットの成形データ、即ち、良否判定
項目選択キーＫ０〜Ｋ６のいずれかで選択された種類ｘ
の成形データのうち第ｉ回目のショットから検出された
成形データと、データファイルの（ｉ，８）スポットの
データ、即ち、第ｉ回目のショットに関する成形品の良
否判定結果とを読込み（ステップＳ６５）、該成形品が
良品であったか否かを判別する（ステップＳ６６）。そ
して、良否判定結果が良品であった場合には成形データ
（ｉ，ｘ）の値が良品判定基準の許容最大値Ｘmax.と良
品判定基準の許容最小値ｘmin.との間に含まれているか
否か、即ち、実際に良品であった第ｉ回目のショットが
良否判定基準ｘmax.およびｘmin.の値によって良品と判
定されるか否かを判別し（ステップＳ６７）、良品と判
別される場合には、設定良否判定基準によって良品と判
定される良品の数をカウントする良品／良品レジスタＡ
の値をインクリメントする一方（ステップＳ６８）、不
良品と判別される場合には、設定良否判定基準によって
不良品と判定される良品の数をカウントする良品／不良
品レジスタＢの値をインクリメントする（ステップＳ６
９）。

【００５３】また、ステップＳ６６の判別結果が偽とな
って第ｉ回目のショットに関する成形品の良否判定結果
が不良品であると判別された場合には、ＰＭＣ用ＣＰＵ
８はステップＳ７０の処理へと移行し、成形データ
（ｉ，ｘ）の値が良品判定基準の許容最大値ｘmax.と良
品判定基準の許容最小値ｘmin.との間に含まれているか
否か、即ち、実際に不良品であった第ｉ回目のショット
が良否判定基準ｘmax.およびｘmin.の値によって良品と
判定されるか否かを判別し、良品と判別される場合に
は、設定良否判定基準によって良品と判定される不良品
の数をカウントする不良品／良品レジスタＣの値をイン
クリメントする一方（ステップＳ７１）、不良品と判別
される場合には、設定良否判定基準によって不良品と判
定される不良品の数をカウントする不良品／不良品レジ
スタＤの値をインクリメントする（ステップＳ７２）。

【００５４】このようにしてレジスタＡ〜Ｄのいずれか
をインクリメントしたＰＭＣ用ＣＰＵ８は、次いで、ア
ドレスカウンタｉの現在値が成形データ数記憶レジスタ
Ｎの値に達しているか否か、即ち、Ｎ回の半自動運転に
よって得られた（ｉ，ｘ）スポットの成形データの全て
に対してステップＳ６８，ステップＳ６９，ステップＳ
７１もしくはステップＳ７２の処理が実施されているか
否かを判別するが（ステップＳ７３）、アドレスカウン
タｉの現在値が成形データ数記憶レジスタＮの値に達し
ていなければ、再びステップＳ６４の処理へと移行し、
以下、アドレスカウンタｉの現在値が成形データ数記憶
レジスタＮの値に達するまでの間、前記と同様にしてス
テップＳ６４〜ステップＳ７３（但し、ステップＳ６
７，ステップＳ７０およびステップＳ６８，ステップＳ
６９，ステップＳ７１，ステップＳ７２はいずれか１つ
のみの処理となる）で形成されるループ状の処理を繰り
返し実行し、良品／良品レジスタＡ，良品／不良品レジ
スタＢ，不良品／良品レジスタＣ，不良品／不良品レジ
スタＤの各々に、実際に良品であって良品と判定される
ショット数，実際に良品であって不良品と判定されるシ
ョット数，実際に不良品であって良品と判定されるショ
ット数，実際に不良品であって不良品と判定されるショ
ット数の値を各々積算記憶させる。

【００５５】そして、ステップＳ７３の判別結果が真と
なって実際の良否状態と設定良否判定基準による判定結
果との関係を検出する統計処理が終了すると、ＰＭＣ用
ＣＰＵ８は、レジスタＡの値とレジスタＢの値とを加算
した値でレジスタＢの値を除して更に１００を乗じるこ
とにより、実際に良品であって不良品と判定されるショ
ット数が実際の良品に対して占める百分率Ｅを求める一
方、レジスタＣの値とレジスタＤの値とを加算した値で
レジスタＣの値を除して更に１００を乗じることによ
り、実際に不良品であって良品と判定されるショット数
が実際の不良品に対して占める百分率Ｆを求め（ステッ
プＳ７４）、実際に不良品であって不良品と判定される
ショット数の総和Ｄ，実際に良品であって良品と判定さ
れるショット数の総和Ａ，実際に良品であって不良品と
判定されるショット数の総和Ｂ，実際に不良品であって
良品と判定されるショット数の総和Ｃ、および、実際に
良品であって不良品と判定されるショット数が実際の良
品に対して占める百分率Ｅ，実際に不良品であって良品
と判定されるショット数が実際の不良品に対して占める
百分率Ｆの各値をグラフィックディスプレイ上に図２に
示されるようにして数値表示し、カウンタＡ〜Ｄの値を
リセットする（ステップＳ７５）。なお、実際に良品で
あって良品と判定されるものの百分率〔Ａ／（Ａ＋
Ｂ）〕・〔×１００％〕、実際に不良品であって不良品
と判定されるものの百分率〔Ｄ／（Ｃ＋Ｄ）〕・〔×１
００％〕、実際に不良品であって不良品と判定されるも
のが全体に対して占める百分率〔Ｃ／（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋
Ｄ）〕・〔×１００％〕、実際に良品であって不良品と
判定されるものが全体に対して占める百分率〔Ｂ／（Ａ
＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）〕・〔×１００％〕を求めて表示するよ
うにしても良い。

【００５６】このようにして統計データに関する表示処
理を終了したＰＭＣ用ＣＰＵ８は、次いで、ファンクシ
ョンキーＫ８の操作による良否判定基準の仮設定に関す
るリトライ要求，ファンクションキーＫ９の操作による
良否判定項目の再選択要求もしくはＣＲＴ／ＭＤＩ１９
の終了キー操作による成形データ集計処理の終了要求の
いずれかが入力されるまで待機することとなる（ステッ
プＳ７６〜ステップＳ７８）。

【００５７】そこで、オペレータは、この間に、グラフ
ィックディスプレイに数値表示された各種の統計データ
Ａ〜Ｆを参照し、仮設定した良否判定基準の許容最大値
ｘmax.および許容最小値ｘmin.によって得られた統計結
果、即ち、判定基準の適性度に満足がゆけば、自分が良
否判定項目として選択した成形データの種類と仮設定し
た良否判定基準の許容最大値ｘmax.および許容最小値ｘ
min.をそのまま良否判定項目および良否判定基準として
製品良否判別装置等に設定した後、ＣＲＴ／ＭＤＩ１９
の終了キーを操作して該成形データ集計処理を終了させ
る（ステップＳ７８）。また、仮設定した良否判定基準
によって得られた統計結果に満足できなければ、ファン
クションキーＫ８を操作してリトライ要求を入力し（ス
テップＳ７６）、ＰＭＣ用ＣＰＵ８をステップＳ６０の
処理へと移行させ、前記と同様の処理操作によって良否
判定基準の許容最大値ｘmax.および許容最小値ｘmin.を
新たに仮設定して該ＰＭＣ用ＣＰＵ８に再び統計処理を
実行させてその結果をグラフィックディスプレイで確認
し、以下、このような処理操作を繰り返し実行して満足
のゆく統計結果が得られる良否判定基準を求めるように
する。更に、それでも満足のゆく統計結果が得られない
場合には、現時点で選択している成形データを良否判定
項目として使用することをきっぱりと諦め、ファンクシ
ョンキーＫ９の操作により良否判定項目の再選択要求を
入力し、前記と同様にして別の種類の成形データを良否
判定項目として改めて選択した後、同様の処理操作を繰
り返し実行する。

【００５８】次に、良否判定項目となる成形データを良
否判定項目選択キーＫ０〜Ｋ６によって２種類選択して
一方の成形データの検出値を横軸の値に合わせると共に
他方の成形データの検出値を縦軸の値に合わせ、各ショ
ット毎の良否判定結果をグラフィックディスプレイ上に
ドット表示して良否判定結果のばらつきを確認するため
の操作について説明する。この場合、オペレータは、グ
ラフィックディスプレイにガイダンスが表示された段
階、即ち、ＰＭＣ用ＣＰＵ８が成形データ集計処理にお
けるステップＳ４３の処理を終了して待機状態に入った
段階で、良否判定項目選択キーＫ０〜Ｋ６から２種の成
形データを適宜選択し、良否判定項目選択キーＫ０〜Ｋ
６（この内２つ）を連続操作することになる。または、
前述したようにステップＳ６１もしくはステップＳ７７
の処理で再選択要求を入力してこの操作を行っても良
い。

【００５９】すると、ステップＳ４５の処理で第１回目
の良否判定項目選択キーの操作を検出したＰＭＣ用ＣＰ
Ｕ８は前記と同様にしてステップＳ４６〜ステップＳ４
８の処理を実行し、第１回目の操作で選択された良否判
定項目に対応するデータファイルの配列ｘを横軸に対応
する成形データとして記憶した後フラグＦをセットし
て、再びステップＳ４４，ステップＳ４５の待機処理へ
と移行する。ここで、オペレータが第２回目の良否判定
項目選択キーの操作を行うと、ＰＭＣ用ＣＰＵ８はステ
ップＳ４５の判別処理でこれを検出し、ステップＳ４６
の判別処理実行後、第２回目の操作で選択された良否判
定項目に対応するデータファイルの配列ｙを横軸に対応
する成形データとして記憶し（ステップＳ５０）、一方
の成形データの検出値を横軸の値に合わせると共に他方
の成形データの検出値を縦軸の値に合わせ、各ショット
毎の良否判定結果をグラフィックディスプレイ上にドッ
ト表示して良否判定結果のばらつきを確認するための実
質的な処理を開始するためにステップＳ７９へと移行す
る。

【００６０】ステップＳ７９の処理に移行したＰＭＣ用
ＣＰＵ８は、まず、アドレスカウンタｉの値を０に初期
化し、次に、該カウンタｉの値をインクリメントして
（ステップＳ８０）、データファイルの（ｉ，ｘ）スポ
ットの成形データ、即ち、良否判定項目選択キーＫ０〜
Ｋ６の第１回目の選択操作で選択された種類ｘの成形デ
ータのうち第ｉ回目のショットから検出された成形デー
タと、データファイルの（ｉ，ｙ）スポットの成形デー
タ、即ち、良否判定項目選択キーＫ０〜Ｋ６の第２回目
の選択操作で選択された種類ｙの成形データのうち第ｉ
回目のショットから検出された成形データ、および、デ
ータファイルの（ｉ，８）スポットのデータ、即ち、第
ｉ回目のショットに関する成形品の良否判定結果を読込
み（ステップＳ８１）、該成形品が良品であったか否か
を判別する（ステップＳ８２）。

【００６１】そして、ＰＭＣ用ＣＰＵ８は、グラフィッ
クディスプレイの横軸を成形データ（ｉ，ｘ）の表示軸
とし、縦軸を成形データ（ｉ，ｙ）の表示軸として、良
否判定結果が良品であった場合には〔（ｉ，ｘ），
（ｉ，ｙ）〕で規定されるグラフィックディスプレイ上
の位置に良品の判定結果を良品表示色によりドットで表
示する一方（ステップＳ８３）、良否判定結果が不良品
であった場合には〔（ｉ，ｘ），（ｉ，ｙ）〕で規定さ
れるグラフィックディスプレイ上の位置に不良品の判定
結果を不良品表示色によりドットで表示する（ステップ
Ｓ８４）。以下、ＰＭＣ用ＣＰＵ８は、アドレスカウン
タｉの現在値が成形データ数記憶レジスタＮの値に達す
るまでの間（ステップＳ８５）、前記と同様の処理を繰
り返し実行して、各ショットｉ＝１〜Ｎ毎の良否判定結
果をグラフィックディスプレイ上にドット表示する。そ
して、ステップＳ８５の判別結果が真となって全ショッ
トの良否判定結果を表示したなら、ＰＭＣ用ＣＰＵ８
は、ＣＲＴ／ＭＤＩ１９のカーソル移動キーを用いたラ
バーバンド（グラフィックディスプレイ上に矩形状の領
域を設定するためのソフトウェア上のツール）操作によ
る良否判定基準の仮設定操作もしくはファンクションキ
ーＫ９からなる再選択キーによる良否判定項目の再選択
操作を待つ待機状態に入る（ステップＳ８６，ステップ
Ｓ８７）。

【００６２】図４は良否判定項目として最小クッション
量Ｓmin.（良否判定項目選択キー＝Ｋ１，配列ｘ＝２）
および最大射出圧力Ｐmax.（良否判定項目選択キー＝Ｋ
２，配列ｙ＝３）を選択したときのドット表示の一例で
あり、丸印（良品表示色＝緑）のドットが良品の分布を
示し、×印（不良品表示色＝赤）のドットが不良品の分
布を示している。なお、図４では各軸のスケール（目盛
り）表示を省略しているが、先に述べた方式の場合と同
様、選択された２つの良否判定項目の成形データの各最
大値に基き、夫々の最大値を各軸の最大値と一致させる
ための自動スケーリング処理が実施され、これに応じた
スケール（目盛り）がグラフィックディスプレイ上に表
示される。

【００６３】良品ドットの分布と不良品ドットの分布が
図４に示されるような状態で分離していれば、今回の操
作で選択した２種の良否判定項目の組み合わせによる各
々の成形データに夫々適切な良否判定基準を設定するこ
とにより、従来の製品良否判定装置により成形品の良否
判定を自動処理することが可能である。しかし、良品ド
ットと不良品ドットが交錯して分布しているような状態
では横軸および縦軸の各成形データに如何ような良否判
定基準を設定したとしても、良品と不良品とを自動選別
することは不可能であり、今回の操作で選択した２種の
成形データの組み合わせが良否判定項目として全く不適
当であることを意味する。このような場合、オペレータ
は再選択キーＫ９により良否判定項目の再選択操作を定
義し（ステップＳ８７）、ＰＭＣ用ＣＰＵ８をステップ
Ｓ８７の判別処理からステップＳ４１の処理へと移行さ
せ、新たに２種類の良否判定項目を選択してＰＭＣ用Ｃ
ＰＵ８に前記と同様の処理を繰り返し実行させて良品ド
ットおよび不良品ドットの分布状態を表示させて良否判
定項目の組み合わせの可否を判断するか、または、新た
に１種の良否判定項目のみを選択して先に述べたような
処理（ステップＳ５１〜ステップＳ７４）、即ち、良否
判定項目選択キーＫ０〜Ｋ６の１つで選択された種類の
成形データの検出値を関数として良品および不良品のシ
ョット数をグラフィックディスプレイ上に折れ線でグラ
フ表示することにより単一の成形データを良否判定項目
として良否判定基準を求めるための処理を行わせる。

【００６４】また、オペレータが、現在選択している良
否判定項目の組み合わせを良しとし、ＣＲＴ／ＭＤＩ１
９のカーソル移動キーを用いたラバーバンド操作を行っ
て良否判定基準の仮設定操作を行った場合には（ステッ
プＳ８６）、ステップＳ８８以降の処理がＰＭＣ用ＣＰ
Ｕ８によって開始されることとなる。

【００６５】ステップＳ８８の処理に移行したＰＭＣ用
ＣＰＵ８は、まず、カーソル移動キーの操作によってグ
ラフィックディスプレイ上に表示されたラバーバンドの
横軸方向の最大値および最小値を配列ｘの成形データに
対する良品判定基準の許容最大値ｘmax.および許容最小
値ｘmin.として記憶すると共にラバーバンドの縦軸方向
の最大値および最小値を配列ｙの成形データに対する良
品判定基準の許容最大値ｙmax.および許容最小値ｙmin.
として記憶し（図４参照）、アドレスカウンタｉの値を
０に初期化する（ステップＳ８９）。次いで、ＰＭＣ用
ＣＰＵ８はカウンタｉの値をインクリメントし（ステッ
プＳ９０）、該カウンタｉの現在値で示されるデータフ
ァフイルの（ｉ，ｘ）スポットの成形データおよび
（ｉ，ｙ）スポットの成形データと（ｉ，８）スポット
の良否判定結果とを読込み（ステップＳ９１）、該成形
品が良品であったか否かを判別する（ステップＳ９
２）。

【００６６】そして、良否判定結果が良品であった場合
には（ｉ，ｘ）スポットの成形データおよび（ｉ，ｙ）
スポットの成形データが共に良否判定基準の許容範囲ｘ
min.〜ｘmax.，ｙmin.〜ｙmax.の範囲に含まれているか
否か、即ち、実際に良品であった第ｉ回目のショットが
良否判定基準ｘmax.，ｘmin.，ｙmax.，ｙmin.の値によ
って良品と判定されるか否かを判別し（ステップＳ９
３）、良品と判別される場合には、設定良否判定基準に
よって良品と判定される良品の数をカウントする良品／
良品レジスタＡの値をインクリメントする一方（ステッ
プＳ９４）、不良品と判別される場合には、設定良否判
定基準によって不良品と判定される良品の数をカウント
する良品／不良品レジスタＢの値をインクリメントする
（ステップＳ９５）。

【００６７】また、ステップＳ９２の判別結果が偽とな
って第ｉ回目のショットに関する成形品の良否判定結果
が不良品であると判別された場合には、ＰＭＣ用ＣＰＵ
８はステップＳ９６の処理へと移行し、（ｉ，ｘ）スポ
ットの成形データおよび（ｉ，ｙ）スポットの成形デー
タが共に良否判定基準の許容範囲ｘmin.〜ｘmax.，ｙmi
n.〜ｙmax.の範囲に含まれているか否か、即ち、実際に
不良品であった第ｉ回目のショットが良否判定基準ｘma
x.，ｘmin.，ｙmax.，ｙmin.の値によって良品と判定さ
れるか否かを判別し、良品と判別される場合には、設定
良否判定基準によって良品と判定される不良品の数をカ
ウントする不良品／良品レジスタＣの値をインクリメン
トする一方（ステップＳ９７）、不良品と判別される場
合には、設定良否判定基準によって不良品と判定される
不良品の数をカウントする不良品／不良品レジスタＤの
値をインクリメントする（ステップＳ９８）。

【００６８】このようにしてレジスタＡ〜Ｄのいずれか
をインクリメントしたＰＭＣ用ＣＰＵ８は、次いで、ア
ドレスカウンタｉの現在値が成形データ数記憶レジスタ
Ｎの値に達しているか否か、即ち、Ｎ回の半自動運転に
よって得られた（ｉ，ｘ）スポットおよび（ｉ，ｙ）ス
ポットの成形データの全てに対してステップＳ９４，ス
テップＳ９５，ステップＳ９７もしくはステップＳ９８
の処理が実施されているか否かを判別するが（ステップ
Ｓ９９）、アドレスカウンタｉの現在値が成形データ数
記憶レジスタＮの値に達していなければ、再びステップ
Ｓ９０の処理へと移行し、以下、アドレスカウンタｉの
現在値が成形データ数記憶レジスタＮの値に達するまで
の間、前記と同様にしてステップＳ９０〜ステップＳ９
９（但し、ステップＳ９３，ステップＳ９６およびステ
ップＳ９４，ステップＳ９５，ステップＳ９７，ステッ
プＳ９８はいずれか１つのみの処理となる）で形成され
るループ状の処理を繰り返し実行し、良品／良品レジス
タＡ，良品／不良品レジスタＢ，不良品／良品レジスタ
Ｃ，不良品／不良品レジスタＤの各々に、実際に良品で
あって良品と判定されるショット数，実際に良品であっ
て不良品と判定されるショット数，実際に不良品であっ
て良品と判定されるショット数，実際に不良品であって
不良品と判定されるショット数の値を各々積算記憶させ
る。

【００６９】そして、ステップＳ９９の判別結果が真と
なって実際の良否状態と設定良否判定基準による判定結
果との関係を検出する統計処理が終了すると、ＰＭＣ用
ＣＰＵ８は、レジスタＡの値とレジスタＢの値とを加算
した値でレジスタＢの値を除して更に１００を乗じるこ
とにより、実際に良品であって不良品と判定されるショ
ット数が実際の良品に対して占める百分率Ｅを求める一
方、レジスタＣの値とレジスタＤの値とを加算した値で
レジスタＣの値を除して更に１００を乗じることによ
り、実際に不良品であって良品と判定されるショット数
が実際の不良品に対して占める百分率Ｆを求め（ステッ
プＳ１００）、実際に不良品であって不良品と判定され
るショット数の総和Ｄ，実際に良品であって良品と判定
されるショット数の総和Ａ，実際に良品であって不良品
と判定されるショット数の総和Ｂ，実際に不良品であっ
て良品と判定されるショット数の総和Ｃ、および、実際
に良品であって不良品と判定されるショット数が実際の
良品に対して占める百分率Ｅ，実際に不良品であって良
品と判定されるショット数が実際の不良品に対して占め
る百分率Ｆの各値をグラフィックディスプレイ上に図４
に示されるようにして数値表示し、カウンタＡ〜Ｄの値
をリセットする（ステップＳ１０１）。

【００７０】このようにして統計データに関する表示処
理を終了したＰＭＣ用ＣＰＵ８は、次いで、ファンクシ
ョンキーＫ８の操作による良否判定基準の仮設定に関す
るリトライ要求，ファンクションキーＫ９の操作による
良否判定項目の再選択要求もしくはＣＲＴ／ＭＤＩ１９
の終了キー操作による成形データ集計処理の終了要求の
いずれかが入力されるまで待機することとなる（ステッ
プＳ１０２〜ステップＳ１０４）。

【００７１】そこで、オペレータは、この間に、グラフ
ィックディスプレイに数値表示された各種の統計データ
Ａ〜Ｆを参照し、仮設定した良否判定基準の許容値ｘma
x.，ｘmin.，ｙmax.，ｙmin.によって得られた統計結
果、即ち、判定基準の適性度に満足がゆけば、自分が良
否判定項目として選択した成形データの組み合わせの種
類と仮設定した良否判定基準の値ｘmax.，ｘmin.，ｙma
x.，ｙmin.をそのまま良否判定項目および良否判定基準
として製品良否判別装置等に設定した後、ＣＲＴ／ＭＤ
Ｉ１９の終了キーを操作して該成形データ集計処理を終
了させる（ステップＳ１０４）。また、仮設定した良否
判定基準によって得られた統計結果に満足できなけれ
ば、ファンクションキーＫ８を操作してリトライ要求を
入力し（ステップＳ１０２）、ＰＭＣ用ＣＰＵ８をステ
ップＳ８６の処理へと移行させ、前記と同様の処理操作
によって良否判定基準の許容値ｘmax.，ｘmin.，ｙma
x.，ｙmin.を新たに仮設定して該ＰＭＣ用ＣＰＵ８に再
び統計処理を実行させてその結果をグラフィックディス
プレイで確認し、以下、このような処理操作を繰り返し
実行して満足のゆく統計結果が得られる良否判定基準を
求めるようにする。それでも満足のゆく統計結果が得ら
れない場合には、現時点で選択している成形データの種
類の組み合わせを良否判定項目として使用することをや
め、ファンクションキーＫ９の操作により良否判定項目
の再選択要求を入力し（ステップＳ１０３）、ＰＭＣ用
ＣＰＵ８をステップＳ１０３の判別処理からステップＳ
４１の処理へと移行させ、新たに２種類の良否判定項目
を選択してＰＭＣ用ＣＰＵ８に前記と同様の処理を繰り
返し実行させて良品ドットおよび不良品ドットの分布状
態を表示させて良否判定項目の組み合わせの可否を判断
するか、または、新たに１種の良否判定項目のみを選択
して先に述べたような処理（ステップＳ５１〜ステップ
Ｓ７４）、即ち、良否判定項目選択キーＫ０〜Ｋ６の１
つで選択された種類の成形データの検出値を関数として
良品および不良品のショット数をグラフィックディスプ
レイ上に折れ線でグラフ表示することにより単一の成形
データを良否判定項目として良否判定基準を求めるため
の処理を行わせる。

【００７２】以上、一実施例として半自動運転を繰り返
し実行して各成形サイクル毎のショットから成形データ
を収集してから成形デー集計処理を実行させる例につい
て説明したが、オペレータによる成形品の良否判定に要
する時間と成形サイクルの兼ね合いから見て自動運転中
の良否判定が可能であるならば、自動運転中に各成形サ
イクル毎の成形データおよび良否判定結果を収集するよ
うにしても良いし、また、自動運転中にオペレータが良
否判定を行うことが不可能であったとしても、各種パレ
ットコンベア等を組み合わせて成形品の回収作業を行わ
せることにより、各成形サイクルで生産された成形品を
時系列的に保存しておいて（成形データは自動運転中に
検出し保存する）、その後に良否判定結果のみを一括入
力するようにすることは技術的に可能である。更に、必
要数の成形データが収集されるまで半自動運転や自動運
転を繰り返し行わせてから成形デー集計処理を行わせる
代わりに、半自動運転や自動運転の開始段階で予め良否
判定項目を選択して図２や図４に示されるような表示画
面を表示させておき、各成形サイクル毎の成形データや
良否判定結果が入力される毎にグラフの書替え表示を行
わせたり、適宜の割り込み処理によって良否判定基準の
仮設定操作や統計データの数値表示処理を行わせたりす
るようにすることも可能である。

【００７３】

【発明の効果】本発明による射出成形機の成形情報表示
装置は、成形サイクルにおける各ショット毎の成形デー
タをオペレータによる成形品の良否判定結果と共にデー
タファイルに保存し、成形データの検出値を関数として
良品および不良品のショット数をグラフィックディスプ
レイ上にグラフ表示することにより、成形データの検出
値を関数とする良品および不良品のショット数のばらつ
きを目視確認できるようにしたから、オペレターは、グ
ラフィックディスプレイ上のグラフ表示を参照すること
により、成形品の特性や最終的に必要とされる歩留まり
等に応じた適切な良否判定基準を簡単に選択することが
できる。そして、成形データが複数種ある場合には、表
示の対象となる成形データの種別を適宜に選択して良品
および不良品のショット数のばらつき状態をグラフ表示
させることができるので、各成形データ種別毎の良品お
よび不良品のばらつき状態を比較することにより、良否
判定項目として適切な成形データの種別を容易に知るこ
とができる。更に、判定基準設定手段を作動させてグラ
フ上の成形データの検出値に対し良品および不良品の判
定基準を仮設定することにより、仮設定された判定基準
に対する良品および不良品のショット数の統計データが
自動的に算出されてグラフィックディスプレイ上に表示
されるので、オペレータは、この統計データを参照する
ことにより、成形品の特性や最終的に必要とされる歩留
まり等に応じた良否判定基準の値を一層適確に選択する
ことができる。

【００７４】また、選択手段により２種類の成形データ
を選択し、各種別の成形データの検出値をグラフィック
ディスプレイの横軸および縦軸の値に合わせて各ショッ
ト毎の良否判定結果をドット表示するようにしているの
で、オペレータは、グラフィックディスプレイ上に表示
された良品ドットおよび不良品ドットの分布状態に基い
て良否判定結果のばらつきを容易に確認することがで
き、成形品の特性や最終的に必要とされる歩留まり等に
応じた良否判定基準を適確に選択することができる。更
に、種々の成形データを２種類ずつ選択して良品ドット
および不良品ドットの交錯状態を比較することにより、
良否判定項目の組み合わせとして適切な成形データの組
を容易に知ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用した一実施例の射出成形機の制御
装置の要部を示すブロック図である。

【図２】成形データを１種のみ選択したときに同実施例
の制御装置に配備したグラフィックディスプレイに表示
されるグラフ表示の一例である。

【図３】成形データを１種のみ選択したときに同実施例
の制御装置に配備したグラフィックディスプレイに表示
されるグラフ表示の他の一例である。

【図４】成形データを２種選択したときに同実施例の制
御装置に配備したグラフィックディスプレイに表示され
るグラフ表示の一例である。

【図５】同実施例の制御装置が備えるデータファイルの
構成を示す概念図である。

【図６】同実施例の制御装置が備える良品カウンタおよ
び不良品カウンタの機能を示す概念図である。

【図７】同実施例の数値制御装置による成形データ検出
処理の概略を示すフローチャートである。

【図８】成形データ検出処理の概略を示すフローチャー
トの続きである。

【図９】成形データ検出処理の概略を示すフローチャー
トの続きである。

【図１０】成形データ検出処理の概略を示すフローチャ
ートの続きである。

【図１１】成形データ検出処理の概略を示すフローチャ
ートの続きである。

【図１２】同実施例の数値制御装置による成形データ集
計処理の概略を示すフローチャートである。

【図１３】成形データ集計処理の概略を示すフローチャ
ートの続きである。

【図１４】成形データ集計処理の概略を示すフローチャ
ートの続きである。

【図１５】成形データ集計処理の概略を示すフローチャ
ートの続きである。

【図１６】成形データ集計処理の概略を示すフローチャ
ートの続きである。

【図１７】成形データ集計処理の概略を示すフローチャ
ートの続きである。

【図１８】成形データ集計処理の概略を示すフローチャ
ートの続きである。

【符号の説明】

４ ＲＯＭ ５ ＲＡＭ ７ 圧力モニタ用ＣＰＵ（成形モニタ手段の一部） ８ ＰＭＣ用ＣＰＵ（算出手段，表示制御手段の一部） １０ サーボＣＰＵ（成形モニタ手段の一部） １２ バス １４ 成形データ用ＲＡＭ（データファイル手段） １５ ＣＮＣ用ＣＰＵ １６ ＣＲＴ表示回路（表示制御手段の一部） １９ ＣＲＴ／ＭＤＩ（グラフィックディスプレイ，手
動データ入力手段，選択手段，判定基準設定手段の一
部）

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 成形サイクルにおける各ショット毎の成
   形品の品質に影響を与える成形データを検出する成形モ
   ニタ手段と、成形品の良否判定結果を入力する手動デー
   タ入力手段と、前記成形モニタ手段で検出された成形デ
   ータと前記手動データ入力手段により入力された良否判
   定結果とを各ショット毎に対応させて記憶するデータフ
   ァイル手段と、成形データの検出値の関数として良品お
   よび不良品のショット数をグラフィックディスプレイ上
   にグラフ表示させる表示制御手段とを備えたことを特徴
   とする射出成形機の成形情報表示装置。
2. 【請求項２】 前記成形モニタ手段で検出される成形デ
   ータは複数種であり、該成形データの種類を選択する選
   択手段を備え、前記表示制御手段は、選択された種類の
   成形データの検出値の関数として良品および不良品のシ
   ョット数をグラフィックディスプレイ上にグラフ表示さ
   せる請求項１記載の射出成形機の成形情報表示装置。
3. 【請求項３】 前記成形データの検出値に対して良品お
   よび不良品の判定基準を設定する判定基準設定手段と、
   設定された判定基準に対する良品および不良品のショッ
   ト数の統計データを算出する算出手段を備え、前記表示
   制御手段は、算出された統計データを前記グラフィック
   ディスプレイ上に表示させる請求項１または請求項２記
   載の射出成形機の成形情報表示装置。
4. 【請求項４】 成形サイクルにおける各ショット毎に少
   なくとも２種類の成形データを検出する成形モニタ手段
   と、成形品の良否判定結果を入力する手動データ入力手
   段と、前記成形モニタ手段で検出された成形データと前
   記手動データ入力手段により入力された良否判定結果と
   を各ショット毎に対応させて記憶するデータファイル手
   段と、予め決められた２種類の成形データのうち一方の
   成形データの検出値を横軸の値に合わせると共に他方の
   成形データの検出値を縦軸の値に合わせて、各ショット
   毎の良否判定結果をグラフィックディスプレイ上にドッ
   ト表示させる表示制御手段とを備えたことを特徴とする
   射出成形機の成形情報表示装置。
5. 【請求項５】 成形データの種類を選択する選択手段を
   備え、前記２種類の成形データを選択するようにした請
   求項４記載の射出成形機の成形情報表示装置。
6. 【請求項６】 前記２種類の成形データの検出値の各々
   に対して良品および不良品の判定基準を設定する判定基
   準設定手段と、設定された判定基準に対する良品および
   不良品のショット数の統計データを算出する算出手段を
   備え、前記表示制御手段は、算出された統計データを前
   記グラフィックディスプレイ上に表示させる請求項４ま
   たは請求項５記載の射出成形機の成形情報表示装置。