JPH06162514A - 信号再生装置 - Google Patents
信号再生装置Info
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- JPH06162514A JPH06162514A JP4331086A JP33108692A JPH06162514A JP H06162514 A JPH06162514 A JP H06162514A JP 4331086 A JP4331086 A JP 4331086A JP 33108692 A JP33108692 A JP 33108692A JP H06162514 A JPH06162514 A JP H06162514A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 マークエッジ法で記録された変調符号を差分
電圧検出により復調する際に、マークエッジを正確に検
出できるようにしてエラーレートを低下させる。 【構成】 情報記録媒体から読出された最大周波数信号
の最大振幅電圧値をVpp、制限する振幅電圧値をVL
としたときに、VL/Vppの値がほぼ1.1となるよ
うに振幅電圧を制限するリミッタ回路20を設け、この
リミッタ回路20を経て上限と下限が制限された信号か
ら差分電圧を得ることにより、マークエッジを高精度に
検出できるようにする。
電圧検出により復調する際に、マークエッジを正確に検
出できるようにしてエラーレートを低下させる。 【構成】 情報記録媒体から読出された最大周波数信号
の最大振幅電圧値をVpp、制限する振幅電圧値をVL
としたときに、VL/Vppの値がほぼ1.1となるよ
うに振幅電圧を制限するリミッタ回路20を設け、この
リミッタ回路20を経て上限と下限が制限された信号か
ら差分電圧を得ることにより、マークエッジを高精度に
検出できるようにする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、たとえば光ディスクや
光磁気ディスク等に記録されたデジタルデータを読出し
て再生する信号再生装置に関する。
光磁気ディスク等に記録されたデジタルデータを読出し
て再生する信号再生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光ディスクに記録されたデジタルデータ
を復調する方法としては、図8に示すような振幅検出方
法がある。この方法は、ディスクの記録面に検知光を照
射し、その戻り光からピット検出や光磁気記録膜中の磁
化方向などによる読出しデータを得る。図8では電流/
電圧変換後の読出しデータaを示している。振幅検出方
法では、コンパレータによりしきい値bが設定され、こ
のしきい値bを基準として読出しデータの振幅の変化が
検出され、例えばしきい値bよりも高いレベルを「1」
とし低いレベルを「0」として、デジタルデータcを復
調している。
を復調する方法としては、図8に示すような振幅検出方
法がある。この方法は、ディスクの記録面に検知光を照
射し、その戻り光からピット検出や光磁気記録膜中の磁
化方向などによる読出しデータを得る。図8では電流/
電圧変換後の読出しデータaを示している。振幅検出方
法では、コンパレータによりしきい値bが設定され、こ
のしきい値bを基準として読出しデータの振幅の変化が
検出され、例えばしきい値bよりも高いレベルを「1」
とし低いレベルを「0」として、デジタルデータcを復
調している。
【0003】しかしながらこの振幅検出方法では、読出
しデータaの信号波形の全体のレベルが変動した場合に
は、信号振幅の変化点としきい値bとの相対レベルが変
動して、しきい値bを基準とした正確な復調ができなく
なる。特に光磁気ディスクなどを使用した光メモリ装置
では、レーザスポットの熱を利用してデータを書き込む
ため、ディスク記録面での光拡散によるデューティー比
のばらつきや、ピット形状の歪みにより、読出しデータ
の信号波形のレベルが変動しやすく、よって再生データ
のエラーが発生しやすくなる。
しデータaの信号波形の全体のレベルが変動した場合に
は、信号振幅の変化点としきい値bとの相対レベルが変
動して、しきい値bを基準とした正確な復調ができなく
なる。特に光磁気ディスクなどを使用した光メモリ装置
では、レーザスポットの熱を利用してデータを書き込む
ため、ディスク記録面での光拡散によるデューティー比
のばらつきや、ピット形状の歪みにより、読出しデータ
の信号波形のレベルが変動しやすく、よって再生データ
のエラーが発生しやすくなる。
【0004】また、読出しデータの他の復調方法とし
て、差分検出法がある。図9はこの差分検出法を示す線
図である。この差分検出法では、セルフクロック性のあ
る変調符号からのクロック信号を用いて、読出しデータ
aの電圧をクロック信号毎にサンプリングし、サンプリ
ング電圧から(Vn−Vn-1)の絶対値を得る(n=1,
2,3…)。この絶対値が所定のしきい値よりも大きい
ときにピットや磁化方向の変換点があると判断する。こ
の方法では、読出しデータの電圧レベルの変動があった
としても、前記振幅検出法よりも復調精度が高くなる。
て、差分検出法がある。図9はこの差分検出法を示す線
図である。この差分検出法では、セルフクロック性のあ
る変調符号からのクロック信号を用いて、読出しデータ
aの電圧をクロック信号毎にサンプリングし、サンプリ
ング電圧から(Vn−Vn-1)の絶対値を得る(n=1,
2,3…)。この絶対値が所定のしきい値よりも大きい
ときにピットや磁化方向の変換点があると判断する。こ
の方法では、読出しデータの電圧レベルの変動があった
としても、前記振幅検出法よりも復調精度が高くなる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】一方、光メモリー装置
などにおいては、RLL(1,7)やRLL(2,7)
といった最小ランレングスが1以上(「1」と「1」の
間に存在する「0」が1つ以上)の変調符号を使用し、
ピットの有無または光磁気記録膜中の磁化方向を符号
「1」がある毎に反転させていくマークエッジ記録方法
が採用されている。このマークエッジ記録方法により記
録されたデータを、前述の差分検出方法により復調する
場合、ピットの有無の反転位置または磁化方向の反転位
置すなわちマークエッジ部分を正確に検出できない場合
が生じる。すなわち、記録媒体からの読出しデータの電
圧変動になまりがあったりすると、本来のピットや磁化
方向の変換点を精度よく再現できない場合が生じる。
などにおいては、RLL(1,7)やRLL(2,7)
といった最小ランレングスが1以上(「1」と「1」の
間に存在する「0」が1つ以上)の変調符号を使用し、
ピットの有無または光磁気記録膜中の磁化方向を符号
「1」がある毎に反転させていくマークエッジ記録方法
が採用されている。このマークエッジ記録方法により記
録されたデータを、前述の差分検出方法により復調する
場合、ピットの有無の反転位置または磁化方向の反転位
置すなわちマークエッジ部分を正確に検出できない場合
が生じる。すなわち、記録媒体からの読出しデータの電
圧変動になまりがあったりすると、本来のピットや磁化
方向の変換点を精度よく再現できない場合が生じる。
【0006】図7(A)ないし(C)は前記マークエッ
ジ記録された読出しデータを差分検出法により復調する
場合の波形を示している。図7(A)は記録媒体からの
読出しデータの電圧の変化を示している。これは例えば
光磁気ディスクからの読出しデータであり、符号「1」
のときを光磁気記録膜中の磁化方向の変化点としたもの
である。この記録内容は、本来「1000001000001010」の
RLL(1,7)変調符号である。図7(A)の波形の
電圧をセルフクロックにてサンプリングし、図9に示し
たのと同様に、サンプリングされた差分電圧(Vn−Vn
-1)の絶対値をとると図7(B)に示す波形となる。図
7(A)に示す読出しデータでは、記録状態の反転点
(イ)(ロ)(ハ)の部分にて波形に大きななまりが生
じており、しかも(イ)(ロ)(ハ)のそれぞれの部分
での信号強度の変動幅が相違している。この相違は記録
面でのピット寸法の長短などに起因している。
ジ記録された読出しデータを差分検出法により復調する
場合の波形を示している。図7(A)は記録媒体からの
読出しデータの電圧の変化を示している。これは例えば
光磁気ディスクからの読出しデータであり、符号「1」
のときを光磁気記録膜中の磁化方向の変化点としたもの
である。この記録内容は、本来「1000001000001010」の
RLL(1,7)変調符号である。図7(A)の波形の
電圧をセルフクロックにてサンプリングし、図9に示し
たのと同様に、サンプリングされた差分電圧(Vn−Vn
-1)の絶対値をとると図7(B)に示す波形となる。図
7(A)に示す読出しデータでは、記録状態の反転点
(イ)(ロ)(ハ)の部分にて波形に大きななまりが生
じており、しかも(イ)(ロ)(ハ)のそれぞれの部分
での信号強度の変動幅が相違している。この相違は記録
面でのピット寸法の長短などに起因している。
【0007】よって図7(B)に示す差分電圧の絶対値
の変化を見ると例えば(ニ)と(ホ)で示す部分にて、
長時間に渡って差分電圧が変化している。これは同図
(A)の(イ)と(ロ)の位置にて波形が大きなカーブ
となるようになまっており、電圧の変動が長時間にわた
っているためである。図7(C)は同図(B)に示した
差分電圧を、コンパレータにより波形整形したものであ
り、これが復調データとなる。ところが同図(B)にお
いて例えば(ニ)と(ホ)の部分で差分電圧が長時間変
化し続けているため、同図(C)に示す(ヘ)と(ト)
の部分において本来よりも長い時間「1」の信号が現れ
ることになって、光磁気膜中の磁化方向の変化点を正確
に検出できない。よって同図(C)では「110001110001
10」という本来のデータとは全く違った復調データが得
られてしまう。
の変化を見ると例えば(ニ)と(ホ)で示す部分にて、
長時間に渡って差分電圧が変化している。これは同図
(A)の(イ)と(ロ)の位置にて波形が大きなカーブ
となるようになまっており、電圧の変動が長時間にわた
っているためである。図7(C)は同図(B)に示した
差分電圧を、コンパレータにより波形整形したものであ
り、これが復調データとなる。ところが同図(B)にお
いて例えば(ニ)と(ホ)の部分で差分電圧が長時間変
化し続けているため、同図(C)に示す(ヘ)と(ト)
の部分において本来よりも長い時間「1」の信号が現れ
ることになって、光磁気膜中の磁化方向の変化点を正確
に検出できない。よって同図(C)では「110001110001
10」という本来のデータとは全く違った復調データが得
られてしまう。
【0008】本発明は上記従来の課題を解決するもので
あり、マークエッジ記録などされたデータを差分検出法
により復調する場合に、データを正確に再現できるよう
にした信号再生装置を提供することを目的としている。
あり、マークエッジ記録などされたデータを差分検出法
により復調する場合に、データを正確に再現できるよう
にした信号再生装置を提供することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、デジタルデー
タが記録された情報記録媒体に照射された光の戻り光を
検出して得られた読出しデータの信号強度の差を検出す
る差分検出部が設けられ、この差分検出部からの出力に
よりデータの記録状態の変換点が検出される信号再生装
置において、前記読出しデータの信号強度を制限する信
号制限部が設けられ、この信号制限部を経たデータに対
し前記差分検出部により信号強度の差が検出されること
を特徴とするものである。
タが記録された情報記録媒体に照射された光の戻り光を
検出して得られた読出しデータの信号強度の差を検出す
る差分検出部が設けられ、この差分検出部からの出力に
よりデータの記録状態の変換点が検出される信号再生装
置において、前記読出しデータの信号強度を制限する信
号制限部が設けられ、この信号制限部を経たデータに対
し前記差分検出部により信号強度の差が検出されること
を特徴とするものである。
【0010】また上記において、信号制限部により制限
される読出しデータの強度の上限と下限と間の制限幅
は、読出しデータのうちの最高周波数信号の変換点にお
ける信号強度の変化幅の最大値以下とすることが好まし
い。
される読出しデータの強度の上限と下限と間の制限幅
は、読出しデータのうちの最高周波数信号の変換点にお
ける信号強度の変化幅の最大値以下とすることが好まし
い。
【0011】
【作用】上記手段では、記録媒体からの戻り光に基づい
て得られた読出しデータの信号強度を信号制限部により
所定の制限幅に規制し、この制限後の信号に対し差分検
出部により信号強度の差分を検出する。信号制限部によ
り信号強度の上限と下限を制限することにより、読出し
データの信号強度になまりが有ってもこのなまり部分の
変化上限がカットされ、データの変換点を高精度に検出
できるようになる。
て得られた読出しデータの信号強度を信号制限部により
所定の制限幅に規制し、この制限後の信号に対し差分検
出部により信号強度の差分を検出する。信号制限部によ
り信号強度の上限と下限を制限することにより、読出し
データの信号強度になまりが有ってもこのなまり部分の
変化上限がカットされ、データの変換点を高精度に検出
できるようになる。
【0012】また上記信号強度の制限幅を最高周波数信
号に基づいて決定することにより、データの変換点の検
出精度を非常に高くすることができる。
号に基づいて決定することにより、データの変換点の検
出精度を非常に高くすることができる。
【0013】
【実施例】以下、本発明について図面を参照して説明す
る。図1,図2は本発明の一実施例としての回路構成を
示すブロック図であり、図1は、回路の前段部分を示す
回路図、図2は回路の後段部分を示す回路図である。図
1に示す前段側の回路は、たとえば光磁気ディスク(図
示しない)から読出された読出しデータが電流/電圧変
換されて入力される直流除去用のコンデンサ11と、入
力された信号を増幅するRFアンプ12と、この増幅さ
れた信号に含まれるノイズ成分を除去するノイズフィル
タ13と、入力信号の波形を振幅方向に強調する波形等
化器14と、この波形等化器14からの出力が入力され
る差動アンプ15とを備えている。
る。図1,図2は本発明の一実施例としての回路構成を
示すブロック図であり、図1は、回路の前段部分を示す
回路図、図2は回路の後段部分を示す回路図である。図
1に示す前段側の回路は、たとえば光磁気ディスク(図
示しない)から読出された読出しデータが電流/電圧変
換されて入力される直流除去用のコンデンサ11と、入
力された信号を増幅するRFアンプ12と、この増幅さ
れた信号に含まれるノイズ成分を除去するノイズフィル
タ13と、入力信号の波形を振幅方向に強調する波形等
化器14と、この波形等化器14からの出力が入力され
る差動アンプ15とを備えている。
【0014】上記差動アンプ15には、前記波形等化器
14からの信号がプラス入力される。また差動アンプ1
5からの出力がスイッチS1を経て迂回しローパスフィ
ルタ回路(図中L.P.Fで示す)16を経てマイナス
入力される。この差動アンプ15では、セルフクロック
信号を発生させるために、波形等化器14を経た入力信
号のオフセット成分が除去され、入力波形に対してゼロ
点が設定される。すなわちこの回路では、光磁気ディス
クの記録面に間欠的に記録されているプリピット部が読
出されるときにのみスイッチS1がONになり、ローパ
スフィルタ回路16を経た負帰還経路が形成される。そ
して(低周波数成分)が除去されて、プリピット部から
の読出し信号に含まれる最高周波数信号の0点設定が行
なわれる。
14からの信号がプラス入力される。また差動アンプ1
5からの出力がスイッチS1を経て迂回しローパスフィ
ルタ回路(図中L.P.Fで示す)16を経てマイナス
入力される。この差動アンプ15では、セルフクロック
信号を発生させるために、波形等化器14を経た入力信
号のオフセット成分が除去され、入力波形に対してゼロ
点が設定される。すなわちこの回路では、光磁気ディス
クの記録面に間欠的に記録されているプリピット部が読
出されるときにのみスイッチS1がONになり、ローパ
スフィルタ回路16を経た負帰還経路が形成される。そ
して(低周波数成分)が除去されて、プリピット部から
の読出し信号に含まれる最高周波数信号の0点設定が行
なわれる。
【0015】上記差動アンプ15の後段は、セルフクロ
ック信号の生成経路(A)と、再生信号の差分検出経路
(B)とに分岐される。セルフクロック信号の生成経路
(A)には、コンパレータ17と、これにより波形整形
されたパルス信号の立ち上げ及び立ち下げ部分を検出す
るエッジ検出回路18とが設けられている。上記コンパ
レータ17は、差動アンプ15かの出力がプラス入力さ
れ、マイナス入力部は接地されている。この構成では、
前記スイッチS1がONとなりローパスフィルタ16を
経たオフセット成分が差動アンプ15にて除去されてゼ
ロ点が設定された信号がコンパレータ17に入力し、こ
のコンパレータ17において0Vよりも上側の入力波形
が検出されて波形整形され矩形波が生成される。そし
て、後段に接続されたエッジ検出回路18でこの矩形波
の立ち上り部分が検出され所定ピッチのパルス信号が生
成される。
ック信号の生成経路(A)と、再生信号の差分検出経路
(B)とに分岐される。セルフクロック信号の生成経路
(A)には、コンパレータ17と、これにより波形整形
されたパルス信号の立ち上げ及び立ち下げ部分を検出す
るエッジ検出回路18とが設けられている。上記コンパ
レータ17は、差動アンプ15かの出力がプラス入力さ
れ、マイナス入力部は接地されている。この構成では、
前記スイッチS1がONとなりローパスフィルタ16を
経たオフセット成分が差動アンプ15にて除去されてゼ
ロ点が設定された信号がコンパレータ17に入力し、こ
のコンパレータ17において0Vよりも上側の入力波形
が検出されて波形整形され矩形波が生成される。そし
て、後段に接続されたエッジ検出回路18でこの矩形波
の立ち上り部分が検出され所定ピッチのパルス信号が生
成される。
【0016】上記エッジ検出回路18の後段には、PL
L(Phase Lock Loop)回路19が接続されている。この
PLL回路19は、上記エッジ検出回路18の出力信号
と分周器23から出力される出力信号の波形の位相を比
較し、この位相差に応じた電圧値を出力する位相比較部
21と、この位相比較部21からの出力信号に含まれる
直流成分を除去するローパスフィルタ回路(L.P.
F)22と、電圧制御発振器(VCO:Voltage Contro
lled Oscillator)24と、所定の分周比からなる分周
器23とから構成されている。このPLL回路19で
は、エッジ検出回路18からのパルス信号が入力したと
きに、この入力信号の周波数に応じてロック状態にな
り、これによりセルフクロック信号が生成され、後段の
復調器29に与えられる。
L(Phase Lock Loop)回路19が接続されている。この
PLL回路19は、上記エッジ検出回路18の出力信号
と分周器23から出力される出力信号の波形の位相を比
較し、この位相差に応じた電圧値を出力する位相比較部
21と、この位相比較部21からの出力信号に含まれる
直流成分を除去するローパスフィルタ回路(L.P.
F)22と、電圧制御発振器(VCO:Voltage Contro
lled Oscillator)24と、所定の分周比からなる分周
器23とから構成されている。このPLL回路19で
は、エッジ検出回路18からのパルス信号が入力したと
きに、この入力信号の周波数に応じてロック状態にな
り、これによりセルフクロック信号が生成され、後段の
復調器29に与えられる。
【0017】一方、差分検出経路(B)には、図2に示
すように、詳細を後述するリミッタ回路20と、このリ
ミッタ回路20の一方の出力側に接続された遅延回路2
5と、リミッタ回路20からの出力がプラス入力され且
つ遅延回路25からの出力がマイナス入力される差動ア
ンプ26と、この差動アンプ26から出力された信号の
絶対値を得る絶対値回路27と、絶対値回路27からの
出力がプラス入力され且つ可変電圧VXがマイナス入力
されたコンパレータ28とが設けられており、このコン
パレータ28からの出力が復調器29に与えられる。
すように、詳細を後述するリミッタ回路20と、このリ
ミッタ回路20の一方の出力側に接続された遅延回路2
5と、リミッタ回路20からの出力がプラス入力され且
つ遅延回路25からの出力がマイナス入力される差動ア
ンプ26と、この差動アンプ26から出力された信号の
絶対値を得る絶対値回路27と、絶対値回路27からの
出力がプラス入力され且つ可変電圧VXがマイナス入力
されたコンパレータ28とが設けられており、このコン
パレータ28からの出力が復調器29に与えられる。
【0018】図3は、上記リミッタ回路の詳細構成を示
す説明図、図4は、最高周波数信号の信号強度の変化幅
の最大値Vpと、復調器29に与えられるセルフクロッ
ク信号に基づいて最高周波数信号をサンプルしたときの
差分電圧Vppと、リミッタ回路20における電圧の制
限値VLとの関係を示す説明図、図5は、最小ピット長
0.64μmのRLL(1,7)変調において、電圧制
限の変数αとS/N比との関係を示す特性図である。な
お、図4中Fi(鎖線)はリミッタ回路20の前段にお
ける信号波形、Fo(実線)はリミッタ回路20を経た
信号を示し、縦軸が振幅電圧、横軸が時間を示す。ま
た、図5では、横軸が電圧制限の変数α、縦軸がS/N
比を示す。
す説明図、図4は、最高周波数信号の信号強度の変化幅
の最大値Vpと、復調器29に与えられるセルフクロッ
ク信号に基づいて最高周波数信号をサンプルしたときの
差分電圧Vppと、リミッタ回路20における電圧の制
限値VLとの関係を示す説明図、図5は、最小ピット長
0.64μmのRLL(1,7)変調において、電圧制
限の変数αとS/N比との関係を示す特性図である。な
お、図4中Fi(鎖線)はリミッタ回路20の前段にお
ける信号波形、Fo(実線)はリミッタ回路20を経た
信号を示し、縦軸が振幅電圧、横軸が時間を示す。ま
た、図5では、横軸が電圧制限の変数α、縦軸がS/N
比を示す。
【0019】図3に示すリミッタ回路20は、入力側に
抵抗Rが接続され、また上限リミット用として、カソー
ドが上限電源電圧V1に接続されたダイオードD1と、
下限リミット用としてアノードが下限電源電圧V2に接
続されたダイオードD2とが設けられた、いわゆるダイ
オードリミッタ回路である。このリミッタ回路20に入
力された信号は、上限電圧が前記上限電源電圧V1とダ
イオードD1の電圧降下により制限され、下限電圧が下
限電源電圧V2とダイオードD2の電圧降下とにより制
限される。ここで、図4に示す最大周波数信号の変換点
においてセルフクロック信号によりサンプリングされた
差分電圧値をVppと、リミットする電圧の上限と下限
との間の制限幅となる制限値VLとの関係を示す。両電
圧値の比を数1で示すように電圧制限の変数αで表わ
す。
抵抗Rが接続され、また上限リミット用として、カソー
ドが上限電源電圧V1に接続されたダイオードD1と、
下限リミット用としてアノードが下限電源電圧V2に接
続されたダイオードD2とが設けられた、いわゆるダイ
オードリミッタ回路である。このリミッタ回路20に入
力された信号は、上限電圧が前記上限電源電圧V1とダ
イオードD1の電圧降下により制限され、下限電圧が下
限電源電圧V2とダイオードD2の電圧降下とにより制
限される。ここで、図4に示す最大周波数信号の変換点
においてセルフクロック信号によりサンプリングされた
差分電圧値をVppと、リミットする電圧の上限と下限
との間の制限幅となる制限値VLとの関係を示す。両電
圧値の比を数1で示すように電圧制限の変数αで表わ
す。
【0020】
【数1】α=VL/Vpp
【0021】なお、上記リミットする電圧の制限値VL
の上限リミット電圧値VL1は、上記ダイオードD1に
おける降下電圧をVf1としたとき、
の上限リミット電圧値VL1は、上記ダイオードD1に
おける降下電圧をVf1としたとき、
【0022】
【数2】VL1=V1−Vf1
【0023】で表され、同様にリミットする電圧の制限
値VLの下限リミット電圧値VL2は、上記ダイオード
D2における降下電圧値をVf2としたとき、
値VLの下限リミット電圧値VL2は、上記ダイオード
D2における降下電圧値をVf2としたとき、
【0024】
【数3】VL2=V2−Vf2 で表される。
【0025】従って、差動アンプ26を経て絶対値回路
27により得られる制限電圧値VLの絶対値は、
27により得られる制限電圧値VLの絶対値は、
【0026】
【数4】VL=|VL1+VL2| で表される。
【0027】本実施例に示すリミッタ回路20では、上
記αの値をほぼ1以下、好ましくは1.1以下となるよ
うに設定することが好ましい。すなわち、上記光磁気デ
ィスク等に記録された最小ピット長0.64μmのRL
L(1,7)変調符号を復調したときのエラーレートは
ほぼ10- 6以下であることが望ましいが、このエラーレ
ートを確保するために必要なS/N比の上限は図5に示
すようにほぼ20dBである。従って、図5の線図か
ら、最小ピット長0.64μmのRLL(1,7)変調
符号の復調において、エラーレートを前記の値以下に抑
えるために必要な電圧制限の変数αは1.1以下である
ことが判る。よって前記αはほぼ1以下、好ましくは
1.1以下であることがエラーレートを適正値以下にす
るための条件となる。
記αの値をほぼ1以下、好ましくは1.1以下となるよ
うに設定することが好ましい。すなわち、上記光磁気デ
ィスク等に記録された最小ピット長0.64μmのRL
L(1,7)変調符号を復調したときのエラーレートは
ほぼ10- 6以下であることが望ましいが、このエラーレ
ートを確保するために必要なS/N比の上限は図5に示
すようにほぼ20dBである。従って、図5の線図か
ら、最小ピット長0.64μmのRLL(1,7)変調
符号の復調において、エラーレートを前記の値以下に抑
えるために必要な電圧制限の変数αは1.1以下である
ことが判る。よって前記αはほぼ1以下、好ましくは
1.1以下であることがエラーレートを適正値以下にす
るための条件となる。
【0028】このように、電圧制限の変数αが小さくな
ればなるほどS/N比が良好となるのは、以下の理由に
よる。差分電圧によりカー回転角(光磁気記録膜中の磁
化方向)などの変換点を検出する場合、差分電圧と判定
する電圧との差をノイズ電圧に対してどれだけ大きくと
れるかにより、エラーレートが決定される。したがっ
て、カー回転角などが無変換の時点では差分電圧がゼロ
に近いほどエラーレートは低くなり、逆にカー回転角な
どの変換点では、差分電圧が大きくなるほどエラーレー
トが低くなる。前記のように変数αを小さくすると、無
変換の時点での差分電圧を小さくできる。同時に変換点
での差分電圧も小さくなってしまうが、同時にノイズに
よる影響も小さくなり、結果的にS/N比を向上できる
ことになる。
ればなるほどS/N比が良好となるのは、以下の理由に
よる。差分電圧によりカー回転角(光磁気記録膜中の磁
化方向)などの変換点を検出する場合、差分電圧と判定
する電圧との差をノイズ電圧に対してどれだけ大きくと
れるかにより、エラーレートが決定される。したがっ
て、カー回転角などが無変換の時点では差分電圧がゼロ
に近いほどエラーレートは低くなり、逆にカー回転角な
どの変換点では、差分電圧が大きくなるほどエラーレー
トが低くなる。前記のように変数αを小さくすると、無
変換の時点での差分電圧を小さくできる。同時に変換点
での差分電圧も小さくなってしまうが、同時にノイズに
よる影響も小さくなり、結果的にS/N比を向上できる
ことになる。
【0029】最小ピット長0.64μmのRLL(1,
7)変調符号を復調したときにエラーレートがほぼ10
- 6以下となる条件は、図5に示すようにα=(Vpp/
VL)が1以下、好ましくは1.1以下であるが、前述
のように無変換の時点での差分電圧をゼロに近くし、ま
た変換点での差分電圧をなるべく大きくすることを考慮
すると、図4において最高周波数信号のレベル変化幅の
最大値Vpとした場合に、電圧制限値VLがVp以下で
あれば、かなり良いエラーレートを得ることができる。
7)変調符号を復調したときにエラーレートがほぼ10
- 6以下となる条件は、図5に示すようにα=(Vpp/
VL)が1以下、好ましくは1.1以下であるが、前述
のように無変換の時点での差分電圧をゼロに近くし、ま
た変換点での差分電圧をなるべく大きくすることを考慮
すると、図4において最高周波数信号のレベル変化幅の
最大値Vpとした場合に、電圧制限値VLがVp以下で
あれば、かなり良いエラーレートを得ることができる。
【0030】以上の構成を備えた信号再生装置の動作に
ついて、図6(A)乃至(C)をも参照して説明する。
図6(A)乃至(C)は、それぞれ図2に(a)乃至
(c)で示す部分で得られる信号波形である。この実施
例において図1に示すRFアンプ12に入力される読出
しデータは図7(A)に示すものと同じであり、最小ピ
ット長0.64μmのRLL(1,7)変調符号により
記録された「10000010000010101」のデータを再生した
ものである。
ついて、図6(A)乃至(C)をも参照して説明する。
図6(A)乃至(C)は、それぞれ図2に(a)乃至
(c)で示す部分で得られる信号波形である。この実施
例において図1に示すRFアンプ12に入力される読出
しデータは図7(A)に示すものと同じであり、最小ピ
ット長0.64μmのRLL(1,7)変調符号により
記録された「10000010000010101」のデータを再生した
ものである。
【0031】まず、セルフクロック信号の生成経路
(A)の動作について説明する。光磁気ディスクのプリ
ピット領域に記録されている最小ピッチ長のピット情報
が読みだされると、コンデンサ11を経てRFアンプ1
2に入力されて増幅され、この増幅された信号からノイ
ズフィルタ13によってノイズ成分が除去され、波形等
化器14によってイコライジングされる。この波形等化
器14からの信号は差動アンプ15に入力される。前記
ピット情報の読出しのときにはスイッチS1が閉じら
れ、差動アンプ15の出力がローパスフイルター回路1
6を経て差動アンプ15にマイナス入力される。これに
より信号のオフセット成分が除去され、ゼロ点設定され
て信号が0V基準として出力される。
(A)の動作について説明する。光磁気ディスクのプリ
ピット領域に記録されている最小ピッチ長のピット情報
が読みだされると、コンデンサ11を経てRFアンプ1
2に入力されて増幅され、この増幅された信号からノイ
ズフィルタ13によってノイズ成分が除去され、波形等
化器14によってイコライジングされる。この波形等化
器14からの信号は差動アンプ15に入力される。前記
ピット情報の読出しのときにはスイッチS1が閉じら
れ、差動アンプ15の出力がローパスフイルター回路1
6を経て差動アンプ15にマイナス入力される。これに
より信号のオフセット成分が除去され、ゼロ点設定され
て信号が0V基準として出力される。
【0032】上記差動アンプ15から出力された信号
は、コンパレータ17において0Vに対して比較され波
形整形されて、矩形波が得られる。矩形波がエッジ検出
回路18に入力し、各矩形波の立ち上げ部分に同期した
パルス信号が生成される。このパルス信号がPLL回路
19に出力される。PLL回路19では、VCO24か
らの出力信号が分周器23により所定の分周比にて分周
され、位相比較部21にて上記エッジ検出回路18から
出力された信号波形と分周器13から出力された波形と
の位相が比較され、両者の位相差に応じた電圧がVCO
24に入力されて、この入力電圧に応じた発振出力が得
られる。これがセルフクロック信号となって、復調器2
9に与えられる。復調器29では、差分検出経路(B)
から与えられた差分電圧がこのセルフクロックによって
サンプリングされる。
は、コンパレータ17において0Vに対して比較され波
形整形されて、矩形波が得られる。矩形波がエッジ検出
回路18に入力し、各矩形波の立ち上げ部分に同期した
パルス信号が生成される。このパルス信号がPLL回路
19に出力される。PLL回路19では、VCO24か
らの出力信号が分周器23により所定の分周比にて分周
され、位相比較部21にて上記エッジ検出回路18から
出力された信号波形と分周器13から出力された波形と
の位相が比較され、両者の位相差に応じた電圧がVCO
24に入力されて、この入力電圧に応じた発振出力が得
られる。これがセルフクロック信号となって、復調器2
9に与えられる。復調器29では、差分検出経路(B)
から与えられた差分電圧がこのセルフクロックによって
サンプリングされる。
【0033】次に差分検出経路(B)の動作について説
明する。光磁気ディスクから読出された図7(A)に示
す読出し信号は、リミッタ回路20に入力される。本実
施例ではリミッタ回路20によって前記変数αが1以
下、好ましくは1.1以下となるように制限幅により入
力信号の上限値と下限値がリミットされる。このリミッ
トされた後の信号波形(a)を図6(A)に示す。上記
リミット回路20から出力された信号は遅延回路25に
入力され、ここで所定時間の遅延を与えられてから差動
アンプ26にマイナス流力される。差動アンプ26で
は、リミッタ回路20から直接与えられた信号と遅延を
かけられた信号との差となる差分電圧が出力される。絶
対値回路27では前記差分電圧の絶対値がとられる。絶
対値回路27からの出力信号(b)の波形形状を図6
(B)に示す。
明する。光磁気ディスクから読出された図7(A)に示
す読出し信号は、リミッタ回路20に入力される。本実
施例ではリミッタ回路20によって前記変数αが1以
下、好ましくは1.1以下となるように制限幅により入
力信号の上限値と下限値がリミットされる。このリミッ
トされた後の信号波形(a)を図6(A)に示す。上記
リミット回路20から出力された信号は遅延回路25に
入力され、ここで所定時間の遅延を与えられてから差動
アンプ26にマイナス流力される。差動アンプ26で
は、リミッタ回路20から直接与えられた信号と遅延を
かけられた信号との差となる差分電圧が出力される。絶
対値回路27では前記差分電圧の絶対値がとられる。絶
対値回路27からの出力信号(b)の波形形状を図6
(B)に示す。
【0034】図6(B)に示す出力信号(b)がコンパ
レータ28によって波形整形された信号(c)を図6
(C)に示す。同図からも明らかなように信号(c)
は、上記光磁気ディスクに記録されていたデータと同一
の符号の「10000010000010101」である。すなわち、こ
の実施例では読出し信号がリミッタ回路20により振幅
制限されて図6(A)に示す波形(a)となるが、この
波形では、信号の変換点での変化になまりが生じなくな
る。よって図6(B)(C)に示すように、マークエッ
ジが精度よく検出されることになる。このデータ信号が
復調器29において前記セルフクロック信号に基づいて
サンプリングされ上記のRLL(1,7)変調符号が復
調される。
レータ28によって波形整形された信号(c)を図6
(C)に示す。同図からも明らかなように信号(c)
は、上記光磁気ディスクに記録されていたデータと同一
の符号の「10000010000010101」である。すなわち、こ
の実施例では読出し信号がリミッタ回路20により振幅
制限されて図6(A)に示す波形(a)となるが、この
波形では、信号の変換点での変化になまりが生じなくな
る。よって図6(B)(C)に示すように、マークエッ
ジが精度よく検出されることになる。このデータ信号が
復調器29において前記セルフクロック信号に基づいて
サンプリングされ上記のRLL(1,7)変調符号が復
調される。
【0035】以上詳述したように、本実施例ではリミッ
タ回路20によってαはほぼ1以下、好ましくは1.1
となるように入力信号をリミットし、これにより光磁気
ディスク等から読出された時に存在する信号波形のなま
りによる影響を防止している。従って、マークエッジ記
録方法で書き込まれたデータを再現する場合であって
も、熱拡散等の悪影響を受けずに、正確なデータの再生
を行うことができる。
タ回路20によってαはほぼ1以下、好ましくは1.1
となるように入力信号をリミットし、これにより光磁気
ディスク等から読出された時に存在する信号波形のなま
りによる影響を防止している。従って、マークエッジ記
録方法で書き込まれたデータを再現する場合であって
も、熱拡散等の悪影響を受けずに、正確なデータの再生
を行うことができる。
【0036】
【発明の効果】以上のように本発明では、マークエッジ
法により記録された変調符号を差分電圧法により再生す
る際に、カー回転角などの変換点を正確に検出すること
ができ、エラーレートの低い高精度な再生が可能にな
る。
法により記録された変調符号を差分電圧法により再生す
る際に、カー回転角などの変換点を正確に検出すること
ができ、エラーレートの低い高精度な再生が可能にな
る。
【図1】本発明の一実施例としての回路構成の後段部分
を示すブロック図。
を示すブロック図。
【図2】図1に示す回路構成の前段部分を示すブロック
図。
図。
【図3】リミッタ回路の詳細構成を示す説明図。
【図4】最大周波数信号における変換点での差分電圧値
とリミットする電圧の制限値との関係を示す説明図。
とリミットする電圧の制限値との関係を示す説明図。
【図5】最小ピット長0.64μmのRLL(1,7)
変調符号を再生する場合の電圧制限の変数αとS/Nと
の関係を示す特性図。
変調符号を再生する場合の電圧制限の変数αとS/Nと
の関係を示す特性図。
【図6】(A)乃至(C)は、それぞれ図2に(a)乃
至(c)で示す部分で得られる信号波形を示す波形図。
至(c)で示す部分で得られる信号波形を示す波形図。
【図7】(A)乃至(C)は、従来装置において光磁気
ディスク等から差分検出法により読出された信号波形を
示す説明図。
ディスク等から差分検出法により読出された信号波形を
示す説明図。
【図8】振幅検出による読出し方法の説明図。
【図9】差分電圧検出による読出し方法の説明図。
11 コンデンサ 12 RFアンプ 13 ノイズフィルタ 14 波形等化器 15,26 差動アンプ 16 ローパスフィルタ回路 17,28 コンパレータ 18 エッジ検出回路 19 PLL回路 20 リミッタ回路 25 遅延回路 27 絶対値回路 29 復調器 D1,D2 ダイオード R 抵抗 (A) セルフクロック生成経路 (B)差分電圧検出経路
Claims (2)
- 【請求項1】 デジタルデータが記録された情報記録媒
体に照射された光の戻り光を検出して得られた読出しデ
ータの信号強度の差を検出する差分検出部が設けられ、
この差分検出部からの出力によりデータの記録状態の変
換点が検出される信号再生装置において、前記読出しデ
ータの信号強度を制限する信号制限部が設けられ、この
信号制限部を経たデータに対し前記差分検出部により信
号強度の差が検出されることを特徴とする信号再生装
置。 - 【請求項2】 信号制限部により制限される読出しデー
タの強度の上限と下限と間の制限幅は、読出しデータの
うちの最高周波数信号の変換点における信号強度の変化
幅の最大値以下である請求項1記載の信号再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4331086A JPH06162514A (ja) | 1992-11-16 | 1992-11-16 | 信号再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4331086A JPH06162514A (ja) | 1992-11-16 | 1992-11-16 | 信号再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06162514A true JPH06162514A (ja) | 1994-06-10 |
Family
ID=18239699
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4331086A Withdrawn JPH06162514A (ja) | 1992-11-16 | 1992-11-16 | 信号再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06162514A (ja) |
-
1992
- 1992-11-16 JP JP4331086A patent/JPH06162514A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000201 |