JPH06168699A - Ecrプラズマ処理装置 - Google Patents

Ecrプラズマ処理装置

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JPH06168699A
JPH06168699A JP4319595A JP31959592A JPH06168699A JP H06168699 A JPH06168699 A JP H06168699A JP 4319595 A JP4319595 A JP 4319595A JP 31959592 A JP31959592 A JP 31959592A JP H06168699 A JPH06168699 A JP H06168699A
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JP
Japan
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plasma
microwave
permanent magnets
plasma processing
ecr
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JP4319595A
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Seiji Sagawa
誠二 寒川
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NEC Corp
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 高精度なECRプラズマを生成するととも
に、プラズマ源の小型化を図る。 【構成】 マイクロ波1が導入されるプラズマ発生室8
の周囲に、複数の異なる磁力をもつ永久磁石2,3,4
を設けている。この永久磁石2,3,4により、伝播さ
れるマイクロ波の電界強度分布の均一化される距離を短
くし、かつプラズマ発生室8の長さ寸法を短縮して小型
化する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マイクロ波と磁場を印
加して電子サイクロトロン共鳴を用いることにより、高
密度なプラズマを生成するECRプラズマ処理装置、特
にプラズマチャンバを小型化できるECRプラズマ処理
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のECRプラズマ処理装置
として、図6(a),(b)に示すように、マイクロ波
透過窓20a,20bの間隔部と両外側の近傍に永久磁
石21,22a,22bが設けられ、永久磁石21,2
2a,22bによってマイクロ波透過窓20a,20b
の下部に、マイクロ波透過窓20a,20bを透過した
マイクロ波の電場Eと直角に交差する磁場Bが形成され
るようになっていた(特開昭63−288022号公
報)。
【0003】また別の従来例として、図7に示すように
真空容器30の外周に少なくとも4つの永久磁石31が
設けられ、この永久磁石31によりマルチカスプ磁場が
形成されている。また、永久磁石31が真空容器3の軸
方向に、ラック32a及びピニオン32と駆動用モータ
33との組合せによりスライド可能になっていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
の装置における磁石は、マイクロ波の進行方向に対して
1個のみが設けられており、マイクロ波導入部分からの
磁場勾配が急峻であり、かつ、磁場分布がマイクロ波伝
播に対して不均一であるため、マイクロ波のプラズマへ
の吸収効率が低く、生成プラズマの密度は低い。また、
プラズマ生成が不均一であるのでエッチング均一性も十
分ではないという課題があった。
【0005】本発明の目的は、高精度なECRプラズマ
で生成とプラズマ源の小型化を実現したECRプラズマ
処理装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係るECRプラズマ処理装置は、永久磁石
の組を有し、マイクロ波と磁場を印加し電子サイクロト
ロン共鳴を用いて高密度なプラズマを生成するECRプ
ラズマ処理装置であって、永久磁石の組は、複数の異な
る磁力をもち、プラズマ発生室の周囲に配置され、マイ
クロ波のプラズマへの吸収効率を高めるものである。
【0007】また、前記組をなす永久磁石は、プラズマ
発生室へのマイクロ波導入方向に沿って順に配列された
ものである。
【0008】また、前記組をなす永久磁石は、磁力が
2:1:1.5の比率をもつものである。
【0009】
【作用】マイクロ波1が導入されるプラズマ発生室8の
周囲に、複数の異なる磁力をもつ永久磁石2,3,4を
設けている。この永久磁石2,3,4により、伝播され
るマイクロ波の電界強度分布の均一化される距離を短く
し、かつプラズマ発生室8の長さ寸法を短縮して小型化
する。
【0010】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図により説明す
る。図1は、本発明の一実施例を示す構成図である。
【0011】図において、プラズマ発生室8の下部に
は、基板ホルダー9が設置され、基板ホルダー9上に処
理対象の基板がセットされる。また、ホルダー9は、R
F電源6にコンデンサ7を介して電気的に接続されてい
る。また、プラズマ発生室8の上部には、マイクロ波導
波管10が接続され、その両者の接続箇所には、導入窓
11が設けられている。
【0012】さらに、プラズマ発生室8の外周には、異
なる磁力をもつ3個の永久磁石2,3,4が上下方向に
並べて設けられている。そして、永久磁石2,3,4に
よる磁場強度比を2:1.0:1.5に設定することに
より、マイクロ波1が完全に吸収される20G/cm以
下の磁場勾配を形成する。5はECR領域である。図2
に磁場勾配とマイクロ波吸収効率の関係を示す。
【0013】また、永久磁石2,3,4の配置によりプ
ラズマ発生室8内の磁場分布は、図3のように均一にな
る。
【0014】導入されたマイクロ波1は図4に示すよう
に導入窓11から8cm程度で電界強度分布が均一化さ
れるので、導入窓11から8cmのところに、20G/
cmの勾配をもった875GのECR領域5を形成する
ことにより、均一なプラズマが形成される。磁場配置
は、図5のように2000G,1000G,1500G
の組み合わせで達成される。
【0015】これらの磁場配置により、ECRプラズマ
源の小型化とともに十分に安定したECRプラズマが生
成される。
【0016】また、プラズマ発生室8の内径寸法は、8
インチ基板を処理するため、300mmφである。ま
た、プラズマ発生室8の長さ寸法は、10cmである。
その理由は、次の通りである。すなわち、導波管10に
より導入されたマイクロ波1の電界強度分布は、1波長
程度伝播後にはモード変換により均一化されるからであ
る。
【0017】また、プラズマ発生室8には、プラズマを
生成するためのガスを導入するガス導入系が備えられて
いる。導入窓11は、石英ガラス,セラミックス等から
なり、導入窓11を通して送られてきたマイクロ波1が
プラズマ発生室8内に導入されるようになっている。ま
た、プラズマ発生室8内には、磁場勾配が20G/cm
以下で、かつ導入窓11から8cmにECR領域5が形
成され、その均一性は±3%以下である。
【0018】さらに処理する基板を設置する基板ホルダ
9は、ECR領域5より2cm程度のところに設置され
ている。ホルダー9の位置は、可変である。
【0019】処理される基板は、図示しない搬送系によ
り外部からプラズマ発生室8内に搬入され基板ホルダー
9上に設置される。さらに基板ホルダー9には、RF
(高周波)電源6よりコンデンサ7を通して高周波電圧
が印加される。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ECRプ
ラズマ処理装置において複数の異なる磁力の磁石を組み
合わせて配置することにより、平坦で20G/cm以下
の磁場勾配をもった875Gの磁場をマイクロ波が均一
化される部分に形成でき、小型ECRプラズマ源内にお
いて均一で高密度なプラズマを生成できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係るECRプラズマ処理装
置を示す構成図である。
【図2】共鳴領域の磁場勾配と共鳴領域でのマイクロ波
吸収効率を示す図である。
【図3】磁力の組合せと磁場強度面内分布を示す図であ
る。
【図4】プラズマチャンバ内のマイクロ波伝播状態を示
す図である。
【図5】磁石強度と磁場分布を示す図である。
【図6】従来例を示す図である。
【図7】従来例を示す図である。
【符号の説明】
1 マイクロ波 2 永久磁石 3 永久磁石 4 永久磁石 5 ECR領域 6 RF電源 7 コンデンサ 8 プラズマ発生室 9 基板ホルダー 10 導波管 11 導入窓

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 永久磁石の組を有し、マイクロ波と磁場
    を印加し電子サイクロトロン共鳴を用いて高密度なプラ
    ズマを生成するECRプラズマ処理装置であって、 永久磁石の組は、複数の異なる磁力をもち、プラズマ発
    生室の周囲に配置され、マイクロ波のプラズマへの吸収
    効率を高めるものであることを特徴とするECRプラズ
    マ処理装置。
  2. 【請求項2】 前記組をなす永久磁石は、プラズマ発生
    室へのマイクロ波導入方向に沿って順に配列されたもの
    であることを特徴とする請求項1に記載のECRプラズ
    マ処理装置。
  3. 【請求項3】 前記組をなす永久磁石は、磁力が2:
    1:1.5の比率をもつものであることを特徴とする請
    求項2に記載のECRプラズマ処理装置。
JP4319595A 1992-11-30 1992-11-30 Ecrプラズマ処理装置 Expired - Lifetime JP2639292B2 (ja)

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JPH06168699A true JPH06168699A (ja) 1994-06-14
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11288799A (ja) * 1998-01-26 1999-10-19 Commiss Energ Atom 永久磁石を用いた線形マイクロ波プラズマ発生装置
KR101311468B1 (ko) * 2011-11-25 2013-09-25 한국기초과학지원연구원 전자 맴돌이 공명 이온원 장치용 자석 및 이의 제조 방법

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JPS63276853A (ja) * 1987-05-08 1988-11-15 Hitachi Ltd マイクロ波プラズマ処理装置
JPS63299338A (ja) * 1987-05-29 1988-12-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd プラズマ処理装置
JPH01184827A (ja) * 1988-01-13 1989-07-24 Hitachi Ltd マイクロ波プラズマ処理方法及び装置

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