JPH06180367A - 放射線測定装置 - Google Patents
放射線測定装置Info
- Publication number
- JPH06180367A JPH06180367A JP4353364A JP35336492A JPH06180367A JP H06180367 A JPH06180367 A JP H06180367A JP 4353364 A JP4353364 A JP 4353364A JP 35336492 A JP35336492 A JP 35336492A JP H06180367 A JPH06180367 A JP H06180367A
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- JP
- Japan
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- output
- radiation
- circuit
- radiation intensity
- pulse
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】放射線検出において、広い強度範囲に対し、正
確な測定結果を得る。 【構成】放射線検出パルス計数手段と線量積分手段を備
え、上記パルス計数手段により得られる計数率が所定の
上限レベル以下で、上記積分手段が或る下限レベル以上
の範囲では上記両手段の出力を合成して、測定出力とす
る。 【作用】 【効果】パルス計数法は低強度のときに適し、線量積分
手段は高強度領域に適し、中間領域は両方の出力から測
定値を求めるので、全領域で正確な測定結果が得られ
る。
確な測定結果を得る。 【構成】放射線検出パルス計数手段と線量積分手段を備
え、上記パルス計数手段により得られる計数率が所定の
上限レベル以下で、上記積分手段が或る下限レベル以上
の範囲では上記両手段の出力を合成して、測定出力とす
る。 【作用】 【効果】パルス計数法は低強度のときに適し、線量積分
手段は高強度領域に適し、中間領域は両方の出力から測
定値を求めるので、全領域で正確な測定結果が得られ
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は３連衝突開裂型質量分析
装置のように検出されるイオンビーム強度が広範囲に変
化する場合における放射線測定装置に関する。
装置のように検出されるイオンビーム強度が広範囲に変
化する場合における放射線測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】イオン線，電子線，Ｘ線等の放射線を測
定する場合、イオンや電子はもちろんＸ線も光子である
から、基本的にはそれらの粒子の一定時間内の検出パル
スを計数して放射線の強度とするのであるが、放射線が
強くなって、検出器に入射する粒子を一個一個区別でき
なくなると、粒子を計数すると云う測定装置は不適とな
り、単位時間当たりの粒子数が直接放射線強度の信号と
して出力されるような測定装置が適したものとなる。こ
のように放射線測定装置には基本的に二つの型があり、
夫々適当した放射線強度の範囲がある。従来はこれら二
種の測定装置は、放射線を扱う分析装置の目的に応じ
て、何れかの測定装置が用いられていた。
定する場合、イオンや電子はもちろんＸ線も光子である
から、基本的にはそれらの粒子の一定時間内の検出パル
スを計数して放射線の強度とするのであるが、放射線が
強くなって、検出器に入射する粒子を一個一個区別でき
なくなると、粒子を計数すると云う測定装置は不適とな
り、単位時間当たりの粒子数が直接放射線強度の信号と
して出力されるような測定装置が適したものとなる。こ
のように放射線測定装置には基本的に二つの型があり、
夫々適当した放射線強度の範囲がある。従来はこれら二
種の測定装置は、放射線を扱う分析装置の目的に応じ
て、何れかの測定装置が用いられていた。
【０００３】従来は一つの分析装置では扱われる放射線
強度の範囲が比較的せまくて、上記した何れかの型の測
定装置を用いれば目的が達成できたのであるが、種々の
新しい分析手法が開発され、それを実施する分析装置で
は、放射線強度のダイナミックレンジが従来の分析装置
より大きくなり、何れか一つの型の測定装置だけで、そ
のダイナミックレンジをカバーし切れなくなって来た。
特に放射線強度が或る程度より弱いときは計数方式の測
定装置が良い結果を与え、別の或る程度より強いときは
直接強度信号を出力する型の測定装置によって良い結果
を得られても、中間強度の領域は何れの型の測定装置に
よっても良い結果が得られないと云う問題があった。
強度の範囲が比較的せまくて、上記した何れかの型の測
定装置を用いれば目的が達成できたのであるが、種々の
新しい分析手法が開発され、それを実施する分析装置で
は、放射線強度のダイナミックレンジが従来の分析装置
より大きくなり、何れか一つの型の測定装置だけで、そ
のダイナミックレンジをカバーし切れなくなって来た。
特に放射線強度が或る程度より弱いときは計数方式の測
定装置が良い結果を与え、別の或る程度より強いときは
直接強度信号を出力する型の測定装置によって良い結果
を得られても、中間強度の領域は何れの型の測定装置に
よっても良い結果が得られないと云う問題があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】測定しょうとする放射
線強度が広い範囲で変わる場合に、その全範囲で良好な
測定結果を得るような放射線測定装置を提供する。
線強度が広い範囲で変わる場合に、その全範囲で良好な
測定結果を得るような放射線測定装置を提供する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】入射放射線粒子をパルス
信号に変換する放射線検出器と、その検出パルスを一定
時間計数して計数値を出力するパルス計数手段と、放射
線強度に応じた信号を出力する手段例えば単位時間内の
上記検出パルスの入力数に応じた信号に変換するパルス
積分手段と、上記パルス計数手段の出力が第１の設定値
ａ以上のときは、上記積分手段の出力を放射線強度と
し、上記積分手段の出力が他の第２の設定値ｂ以下のと
きは上記計数手段の出力を放射線強度とし、パルス計数
手段の出力が上記第１の設定値ａ以下で、上記積分手段
の出力が上記第２の設定値ｂ以上のとき、即ち放射線強
度が中間領域であるときは、上記パルス計数手段の出力
と積分手段の出力の夫々に演算を施して総合した値を放
射線強度として出力するデータ処理装置とで放射線測定
装置を構成した。
信号に変換する放射線検出器と、その検出パルスを一定
時間計数して計数値を出力するパルス計数手段と、放射
線強度に応じた信号を出力する手段例えば単位時間内の
上記検出パルスの入力数に応じた信号に変換するパルス
積分手段と、上記パルス計数手段の出力が第１の設定値
ａ以上のときは、上記積分手段の出力を放射線強度と
し、上記積分手段の出力が他の第２の設定値ｂ以下のと
きは上記計数手段の出力を放射線強度とし、パルス計数
手段の出力が上記第１の設定値ａ以下で、上記積分手段
の出力が上記第２の設定値ｂ以上のとき、即ち放射線強
度が中間領域であるときは、上記パルス計数手段の出力
と積分手段の出力の夫々に演算を施して総合した値を放
射線強度として出力するデータ処理装置とで放射線測定
装置を構成した。
【０００６】
【作用】放射線強度が低いときは放射線は粒子として一
個一個の粒子を検出器でパルス信号に変換して計数する
ことが可能であり、その一定時間内の計数値即ち計数率
が放射線強度となる。放射線強度がまして放射線検出パ
ルス同士が重なるようになってくると、放射線粒子の数
え落としが起こり、見掛け上の計数率は放射線強度と比
例しなくなる。本発明においては、データ処理装置にお
いて、上記計数率が或る値以下のときは、放射線粒子の
数え落としがないとして、その計数率を放射線強度とし
て出力する。他方単位時間内の検出パルス数に応じた信
号を出力する積分手段の出力が或るレベル以上のときは
放射線強度が強い場合の放射線強度を表す。データ処理
装置は二つの測定手段の出力によって放射線の強度を判
別し、何れの手段の出力を放射線強度とするかの切換え
を行っているのである。そして放射線強度が中間領域で
あるときは、両方の測定手段の出力を総合して、放射線
強度とすることで、全測定範囲をカバーするのである。
個一個の粒子を検出器でパルス信号に変換して計数する
ことが可能であり、その一定時間内の計数値即ち計数率
が放射線強度となる。放射線強度がまして放射線検出パ
ルス同士が重なるようになってくると、放射線粒子の数
え落としが起こり、見掛け上の計数率は放射線強度と比
例しなくなる。本発明においては、データ処理装置にお
いて、上記計数率が或る値以下のときは、放射線粒子の
数え落としがないとして、その計数率を放射線強度とし
て出力する。他方単位時間内の検出パルス数に応じた信
号を出力する積分手段の出力が或るレベル以上のときは
放射線強度が強い場合の放射線強度を表す。データ処理
装置は二つの測定手段の出力によって放射線の強度を判
別し、何れの手段の出力を放射線強度とするかの切換え
を行っているのである。そして放射線強度が中間領域で
あるときは、両方の測定手段の出力を総合して、放射線
強度とすることで、全測定範囲をカバーするのである。
【０００７】
【実施例】図１に本発明の一実施例装置の回路を示す。
１は粒子検出器で、この実施例では２次電子増倍管を用
いている。２は高速でプリアンプで、粒子検出器１の出
力パルスを増幅する。高速プリアンプ２の出力は二つの
回路ＡとＢとに同時に入力される。回路Ａは減衰特性を
持った積分回路で、積分出力は一定の時定数で減衰する
ようになっている。即ちオペアンプ３と積分用コンデン
サ４とよりなり、コンデンサ４と並列に抵抗５が接続さ
れているので、一定の直流入力に対して、その入力に比
例した出力が得られ、パルス入力に対しては単位時間当
たりのパルス入射数に応じた信号を出力する。減衰特性
を持たない積分回路ではパルス入力に対し、出力は単調
増加の出力を与えるが、この実施例の積分回路では単位
時間当たりの入射パルス数に応じた値に落ち付くように
なっており、その出力がＡ／Ｄ変換器１０でディジタル
データに変換されて出力される。回路Ｂは計数回路で、
高速オペアンプ６とコンパレータ７と高速カウンタ８よ
りなっている。コンパレータ７には一定基準レベルが設
定されて、入力のうちこのレベル以上のパルスだけをカ
ウンタに送るようにして、粒子検出器１からオペアンプ
６までに生じるノイズを除去するようになっている。こ
れら二つの回路Ａ，Ｂの出力が高速データ処理装置９に
入力される。
１は粒子検出器で、この実施例では２次電子増倍管を用
いている。２は高速でプリアンプで、粒子検出器１の出
力パルスを増幅する。高速プリアンプ２の出力は二つの
回路ＡとＢとに同時に入力される。回路Ａは減衰特性を
持った積分回路で、積分出力は一定の時定数で減衰する
ようになっている。即ちオペアンプ３と積分用コンデン
サ４とよりなり、コンデンサ４と並列に抵抗５が接続さ
れているので、一定の直流入力に対して、その入力に比
例した出力が得られ、パルス入力に対しては単位時間当
たりのパルス入射数に応じた信号を出力する。減衰特性
を持たない積分回路ではパルス入力に対し、出力は単調
増加の出力を与えるが、この実施例の積分回路では単位
時間当たりの入射パルス数に応じた値に落ち付くように
なっており、その出力がＡ／Ｄ変換器１０でディジタル
データに変換されて出力される。回路Ｂは計数回路で、
高速オペアンプ６とコンパレータ７と高速カウンタ８よ
りなっている。コンパレータ７には一定基準レベルが設
定されて、入力のうちこのレベル以上のパルスだけをカ
ウンタに送るようにして、粒子検出器１からオペアンプ
６までに生じるノイズを除去するようになっている。こ
れら二つの回路Ａ，Ｂの出力が高速データ処理装置９に
入力される。
【０００８】図２Ａは粒子線検出器１に放射線粒子が１
個に入射したときの出力パルスを示す。高速アンプ２，
６はこのパルス波形をそのまゝの形で増幅している。図
２Ｂはこのパルス信号が回路Ａに印加されたときの出力
波形で、入力パルス信号の終端近くで最大値に達した後
減衰して再び０に戻る。パルス幅は２〜３μｓｅｃであ
り、出力波形の幅は約６μｓｅｃになる。回路Ａはこの
ような特性を持っているので、一つの入力パルスの出力
信号が０になる前に次のパルスが入力される状態が続く
と、出力は次第に上昇し飽和してパルスの時間当たりの
入力数に比例した値に達する。図２Ｃは図Ａの入力パル
ス信号に対するコンパレータ７の出力波形で矩形波パル
スに変換されており、この出力パルスがカウンタ８で計
数されるのである。粒子検出パルスは時間幅を持ってい
るから、放射線強度が強くなって、粒子検出パルスが重
なる場合が起こるようになって来ると、パルスの数え落
としが起る。
個に入射したときの出力パルスを示す。高速アンプ２，
６はこのパルス波形をそのまゝの形で増幅している。図
２Ｂはこのパルス信号が回路Ａに印加されたときの出力
波形で、入力パルス信号の終端近くで最大値に達した後
減衰して再び０に戻る。パルス幅は２〜３μｓｅｃであ
り、出力波形の幅は約６μｓｅｃになる。回路Ａはこの
ような特性を持っているので、一つの入力パルスの出力
信号が０になる前に次のパルスが入力される状態が続く
と、出力は次第に上昇し飽和してパルスの時間当たりの
入力数に比例した値に達する。図２Ｃは図Ａの入力パル
ス信号に対するコンパレータ７の出力波形で矩形波パル
スに変換されており、この出力パルスがカウンタ８で計
数されるのである。粒子検出パルスは時間幅を持ってい
るから、放射線強度が強くなって、粒子検出パルスが重
なる場合が起こるようになって来ると、パルスの数え落
としが起る。
【０００９】図３は高速データ処理装置９のデータ処理
装置動作のフローチャートである。まず回路Ａ，Ｂ各々
からの出力を正規化する（イ）これは同じ放射線強度に
対するパルス計数方式と、積分方式での表示数値が異っ
ているので、これを合わせるための操作で、回路Ｂの出
力データは単位時間内の検出粒子数であるので、単位時
間当たりの粒子検出数が或る値のときの回路Ａの出力数
値を予め計算で求めておき、回路Ａの出力数値に或る係
数を掛けてそのときの単位時間当たりの粒子検出数にな
るように係数を決め、回路Ａの出力数値にこの係数を掛
算する動作である。次に回路Ａの正規化された出力が第
２の基準値ｂ以下か否か調べる（ロ）。基準値以下（Ｙ
ＥＳ）のときは回路Ｂの出力である放射線粒子検出パル
スの一定時間内の計数値即ち計数率を放射線強度として
ホストコンピュータに送出（ハ）し、第２の基準値ｂ以
上のとき（ＮＯ）は、ステップ（ニ）で回路Ｂの計数出
力が第１の基準値ａ以上か否か調べ、第１の基準ａ以上
のとき（ＹＥＳ）は、回路Ａの出力の正規化された値を
放射線強度としてホストコンピュータに送出（ホ）し、
第１の基準ａ以下のとき（ＮＯ）は、回路ＡとＢの出力
データに総合演算を施してホストコンピュータに送出
（ヘ）する。この構成によって放射線強度が１Ｍｃｐｓ
のときは回路Ａの出力、１０Ｋｃｐｓ以下のときは回路
Ｂの出力、１０Ｋｃｐｓ〜１Ｍｐｃｓの間は両回路の出
力を演算処理して出力する。
装置動作のフローチャートである。まず回路Ａ，Ｂ各々
からの出力を正規化する（イ）これは同じ放射線強度に
対するパルス計数方式と、積分方式での表示数値が異っ
ているので、これを合わせるための操作で、回路Ｂの出
力データは単位時間内の検出粒子数であるので、単位時
間当たりの粒子検出数が或る値のときの回路Ａの出力数
値を予め計算で求めておき、回路Ａの出力数値に或る係
数を掛けてそのときの単位時間当たりの粒子検出数にな
るように係数を決め、回路Ａの出力数値にこの係数を掛
算する動作である。次に回路Ａの正規化された出力が第
２の基準値ｂ以下か否か調べる（ロ）。基準値以下（Ｙ
ＥＳ）のときは回路Ｂの出力である放射線粒子検出パル
スの一定時間内の計数値即ち計数率を放射線強度として
ホストコンピュータに送出（ハ）し、第２の基準値ｂ以
上のとき（ＮＯ）は、ステップ（ニ）で回路Ｂの計数出
力が第１の基準値ａ以上か否か調べ、第１の基準ａ以上
のとき（ＹＥＳ）は、回路Ａの出力の正規化された値を
放射線強度としてホストコンピュータに送出（ホ）し、
第１の基準ａ以下のとき（ＮＯ）は、回路ＡとＢの出力
データに総合演算を施してホストコンピュータに送出
（ヘ）する。この構成によって放射線強度が１Ｍｃｐｓ
のときは回路Ａの出力、１０Ｋｃｐｓ以下のときは回路
Ｂの出力、１０Ｋｃｐｓ〜１Ｍｐｃｓの間は両回路の出
力を演算処理して出力する。
【００１０】上記した総合演算の内容は以下のようなも
のである。図４はこの演算内容の説明図で横軸は放射線
強度、縦軸はその測定出力で、斜め４５°の直線は理想
的な測定出力を示す。回路Ｂの検出パルス計数方式では
放射線強度０からＢ１即ち回路Ａの出力が第２の基準値
ｂまでは理想的であり、それ以上の所で出力が理想より
低下して来る。他方回路Ａの出力はＡ１以上即ち回路Ｂ
の出力が第１の基準ａ以上では理想的であるが、ｂ以下
の所で理想より低下して来る。この（Ａ１，Ｂ１）では
さまれた領域がこゝでの演算対象領域で、演算の目標は
回路Ａ，Ｂの出力データを用いて、この図の点ＰＱ間を
４５°の直線で結ぶことである。Ａ回路の出力Ａに対す
る補正値はＱ点ではＯ、Ｐ点では＋（Ｂ１−ｂ）であ
り、任意のＡに対して＋（Ｂ１−ｂ）×（Ａ１−Ａ）／
（Ａ１−ｂ）である。同様にして、Ｂ回路の出力Ｂに対
する補正値を考えると、Ｐ点でＯ、Ｑ点で＋（Ａ１−
ａ）で、任意のＢ回路出力Ｂに対しては＋（Ａ１−ａ）
×（Ｂ−Ｂ１）／（ａ−Ｂ１）である。従ってＡ，Ｂ両
回路の出力を用いＰＱ間の正しい測定値を与える式は （Ａ＋Ｂ）／２＋（Ｂ１−ｂ）（Ａ１−Ａ）／２（Ａ１
−ｂ）＋（Ａ１−ａ）（Ｂ−Ｂ１）／２（ａ−Ｂ１） 上式で第２項，第３項の （Ｂ１−ｂ）／２（Ａ１−ｂ），（Ａ１−ａ）／２（ａ
−Ｂ１） は定数なので、これをα，βとすると上式は （Ａ＋Ｂ）／２＋α（Ａ１−Ａ）＋β（Ｂ−Ｂ１）…………（１） （ヘ）のステップでは上記（１）式の演算を行う。
のである。図４はこの演算内容の説明図で横軸は放射線
強度、縦軸はその測定出力で、斜め４５°の直線は理想
的な測定出力を示す。回路Ｂの検出パルス計数方式では
放射線強度０からＢ１即ち回路Ａの出力が第２の基準値
ｂまでは理想的であり、それ以上の所で出力が理想より
低下して来る。他方回路Ａの出力はＡ１以上即ち回路Ｂ
の出力が第１の基準ａ以上では理想的であるが、ｂ以下
の所で理想より低下して来る。この（Ａ１，Ｂ１）では
さまれた領域がこゝでの演算対象領域で、演算の目標は
回路Ａ，Ｂの出力データを用いて、この図の点ＰＱ間を
４５°の直線で結ぶことである。Ａ回路の出力Ａに対す
る補正値はＱ点ではＯ、Ｐ点では＋（Ｂ１−ｂ）であ
り、任意のＡに対して＋（Ｂ１−ｂ）×（Ａ１−Ａ）／
（Ａ１−ｂ）である。同様にして、Ｂ回路の出力Ｂに対
する補正値を考えると、Ｐ点でＯ、Ｑ点で＋（Ａ１−
ａ）で、任意のＢ回路出力Ｂに対しては＋（Ａ１−ａ）
×（Ｂ−Ｂ１）／（ａ−Ｂ１）である。従ってＡ，Ｂ両
回路の出力を用いＰＱ間の正しい測定値を与える式は （Ａ＋Ｂ）／２＋（Ｂ１−ｂ）（Ａ１−Ａ）／２（Ａ１
−ｂ）＋（Ａ１−ａ）（Ｂ−Ｂ１）／２（ａ−Ｂ１） 上式で第２項，第３項の （Ｂ１−ｂ）／２（Ａ１−ｂ），（Ａ１−ａ）／２（ａ
−Ｂ１） は定数なので、これをα，βとすると上式は （Ａ＋Ｂ）／２＋α（Ａ１−Ａ）＋β（Ｂ−Ｂ１）…………（１） （ヘ）のステップでは上記（１）式の演算を行う。
【００１１】上述した所は中間強度領域のデータ処理の
仕方の一例であって、他の考え方によるデータ処理の仕
方もある。上例は中間領域でも回路Ａ，Ｂの出力データ
は放射線強度とリニヤな関係を持っているものと仮定し
ているので、一つの近似的な方法である。より正確な方
法としては中間領域で回路Ａ，Ｂの出力を夫々Ａ，Ｂと
するとき、補正された値を ｆ（Ａ）Ａ＋ｇ（Ｂ）Ｂ として、関数ｆ（Ａ），ｆ（Ｂ）を適当に決める方法が
ある。こゝで関数ｆ（Ａ）はＡがＡ１において１、Ａ１
より小さくなると共に減少して或る所で０になる関数、
ｇ（Ｂ）はＢが第１の基準値Ｂ１において１で、ＢがＢ
１より大きくなるに従って減少し、或る所で０になる関
数で、これらの関数は予め実験的或は中間領域における
回路Ａ，Ｂの入力対出力の関数形を適当に近似仮定して
計算によって決める、と云うような方法も可能である。
仕方の一例であって、他の考え方によるデータ処理の仕
方もある。上例は中間領域でも回路Ａ，Ｂの出力データ
は放射線強度とリニヤな関係を持っているものと仮定し
ているので、一つの近似的な方法である。より正確な方
法としては中間領域で回路Ａ，Ｂの出力を夫々Ａ，Ｂと
するとき、補正された値を ｆ（Ａ）Ａ＋ｇ（Ｂ）Ｂ として、関数ｆ（Ａ），ｆ（Ｂ）を適当に決める方法が
ある。こゝで関数ｆ（Ａ）はＡがＡ１において１、Ａ１
より小さくなると共に減少して或る所で０になる関数、
ｇ（Ｂ）はＢが第１の基準値Ｂ１において１で、ＢがＢ
１より大きくなるに従って減少し、或る所で０になる関
数で、これらの関数は予め実験的或は中間領域における
回路Ａ，Ｂの入力対出力の関数形を適当に近似仮定して
計算によって決める、と云うような方法も可能である。
【００１２】また上述実施例では粒子検出パルス計数手
段Ｂの出力の上限以下、単位時間当たりの粒子数に応じ
た信号を出力する回路Ａの出力の下限以上の範囲を中間
領域としているが、別の上下限レベルを設定して検出パ
ルス計数手段の出力の上限以上、回路Ａの出力の下限以
下を中間領域とするようにしてもよい。
段Ｂの出力の上限以下、単位時間当たりの粒子数に応じ
た信号を出力する回路Ａの出力の下限以上の範囲を中間
領域としているが、別の上下限レベルを設定して検出パ
ルス計数手段の出力の上限以上、回路Ａの出力の下限以
下を中間領域とするようにしてもよい。
【００１３】
【発明の効果】本発明によれば、放射線に対して二つの
測定手段を設け、一方の測定手段が適合する微弱領域
と、他方の測定手段が適合する強い領域と、何れの測定
手段も放射線強度に対し比例性を失う中間領域に分け、
その中間領域では上記二つの測定手段の出力を総合して
正しい結果を得るようにしたので、３連衝突開裂型質量
分析装置のようにイオン強度のダイナミックレンジの著
しく広い分析装置でも、その全測定範囲にわたって正し
い測定結果を得ることができる。
測定手段を設け、一方の測定手段が適合する微弱領域
と、他方の測定手段が適合する強い領域と、何れの測定
手段も放射線強度に対し比例性を失う中間領域に分け、
その中間領域では上記二つの測定手段の出力を総合して
正しい結果を得るようにしたので、３連衝突開裂型質量
分析装置のようにイオン強度のダイナミックレンジの著
しく広い分析装置でも、その全測定範囲にわたって正し
い測定結果を得ることができる。
【図１】本発明の一実施例装置の回路図
【図２】上記回路の一部動作説明グラフ
【図３】上記回路におけるデータ処理動作のフローチャ
ート
ート
【図４】上記データ処理動作における演算内容の説明図
【符号の説明】 １ 粒子検出器 ２ 高速プリアンプ ３ オペアンプ ４ コンデンサ ５ 抵抗 ６ 高速オペアンプ ７ コンパレータ ８ コウソクカウンタ ９ コウソクデータ処理装置 １０ Ａ／Ｄ変換器
Claims (1)
- 【請求項１】 放射線粒子計数手段と、放射線強度に応
じた信号を出力する手段と、放射線強度が所定の範囲以
上か、その範囲内か範囲以下かを弁別し、上記範囲内で
あるときは上記両手段の出力に総合演算を行い、上記範
囲以上の領域では放射線強度に応じた信号を送出し、上
記範囲以下の領域では上記計数手段の計数出力を送出
し、中間領域では上記総合演算結果を送出するデータ処
理装置とよりなる放射線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35336492A JP3490730B2 (ja) | 1992-12-11 | 1992-12-11 | 放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35336492A JP3490730B2 (ja) | 1992-12-11 | 1992-12-11 | 放射線測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06180367A true JPH06180367A (ja) | 1994-06-28 |
| JP3490730B2 JP3490730B2 (ja) | 2004-01-26 |
Family
ID=18430340
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35336492A Expired - Fee Related JP3490730B2 (ja) | 1992-12-11 | 1992-12-11 | 放射線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3490730B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004528568A (ja) * | 2001-05-14 | 2004-09-16 | デパートメント オブ アトミックエナジー、ガヴァメント オブ インディア | 低コストデジタルポケット線量計 |
| KR100478632B1 (ko) * | 2002-01-12 | 2005-03-24 | 한국수력원자력 주식회사 | 방사선량 측정을 위한 고속 펄스 카운트 장치 |
| CN110456402A (zh) * | 2019-07-22 | 2019-11-15 | 北京云端光科技术有限公司 | 辐射剂量检测方法和装置 |
| WO2023284606A1 (zh) * | 2021-07-12 | 2023-01-19 | 同方威视技术股份有限公司 | 辐射成像系统和方法 |
-
1992
- 1992-12-11 JP JP35336492A patent/JP3490730B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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