JPH06181383A - リフロー装置 - Google Patents
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- JPH06181383A JPH06181383A JP43A JP33151892A JPH06181383A JP H06181383 A JPH06181383 A JP H06181383A JP 43 A JP43 A JP 43A JP 33151892 A JP33151892 A JP 33151892A JP H06181383 A JPH06181383 A JP H06181383A
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- temperature
- zone
- conveyor
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 基板の温度が理想の温度プロファイルになる
ように加熱してチップを基板に半田付けできるリフロー
装置を提供すること。 【構成】 加熱室1の予熱ゾーンT1と均熱ゾーンT2
に配設されてコンベア7により搬送される基板4を停止
させるストッパ21a、22aと、均熱ゾーンT2に配
設されて基板4の温度を測定する温度センサ28と、こ
の温度センサ28の信号に従ってストッパ21a、22
aによる基板4の停止及び停止解除を制御する制御部5
2を設けた。 【効果】 基板4が所定温度になるまでストッパ21
a、22aで基板4の搬送を停止して基板4を予熱ゾー
ンT1や均熱ゾーンT2に滞留させることにより、理想
の温度プロファイルAが得られる。
ように加熱してチップを基板に半田付けできるリフロー
装置を提供すること。 【構成】 加熱室1の予熱ゾーンT1と均熱ゾーンT2
に配設されてコンベア7により搬送される基板4を停止
させるストッパ21a、22aと、均熱ゾーンT2に配
設されて基板4の温度を測定する温度センサ28と、こ
の温度センサ28の信号に従ってストッパ21a、22
aによる基板4の停止及び停止解除を制御する制御部5
2を設けた。 【効果】 基板4が所定温度になるまでストッパ21
a、22aで基板4の搬送を停止して基板4を予熱ゾー
ンT1や均熱ゾーンT2に滞留させることにより、理想
の温度プロファイルAが得られる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、基板に搭載されたチッ
プを半田付けするための加熱時間の制御を、加熱室内で
の基板の滞留時間を制御することによって行うようにし
たリフロー装置に関するものである。
プを半田付けするための加熱時間の制御を、加熱室内で
の基板の滞留時間を制御することによって行うようにし
たリフロー装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】チップマウンタ等により基板にチップを
搭載した後、基板はリフロー装置の加熱室へ送られ、半
田を加熱して溶融させた後、冷却して固化させることに
より、チップの電極は基板の電極に半田付けされる。
搭載した後、基板はリフロー装置の加熱室へ送られ、半
田を加熱して溶融させた後、冷却して固化させることに
より、チップの電極は基板の電極に半田付けされる。
【0003】ところで、近年、基板の高品質化が益々要
求されるようになってきているが、リフロー装置の加熱
室内で半田を加熱して溶融させた後、冷却して固化させ
ることによりチップの電極を基板の電極に半田付けさせ
る工程において、加熱室内の加熱時間の適否は半田付け
状態の良否に大きな影響を及ぼす。
求されるようになってきているが、リフロー装置の加熱
室内で半田を加熱して溶融させた後、冷却して固化させ
ることによりチップの電極を基板の電極に半田付けさせ
る工程において、加熱室内の加熱時間の適否は半田付け
状態の良否に大きな影響を及ぼす。
【0004】次に、従来のリフロー装置を説明する。図
5はリフロー装置の内部構造を示す側面図である。加熱
室1の内部にはチップ2がクリーム半田3で仮接着され
た基板4を入口5から出口6へ搬送するコンベア7が設
けられており、このコンベア7の上方にはヒータ8、
9、10とファン11、12、13が設けられている。
14はコンベア7の駆動用モータ、15はファン11、
12、13の駆動用モータである。
5はリフロー装置の内部構造を示す側面図である。加熱
室1の内部にはチップ2がクリーム半田3で仮接着され
た基板4を入口5から出口6へ搬送するコンベア7が設
けられており、このコンベア7の上方にはヒータ8、
9、10とファン11、12、13が設けられている。
14はコンベア7の駆動用モータ、15はファン11、
12、13の駆動用モータである。
【0005】加熱室1の内部は、入口5側の予熱ゾーン
T1と中央部の均熱ゾーンT2と出口6側のリフローゾ
ーンT3に仕切壁16、17によってそれぞれ分割され
ており、また各ゾーンT1、T2、T3には各ゾーンT
1、T2、T3の雰囲気温度を測定するための温度セン
サS1、S2、S3が設置されている。また加熱室1の
後部には冷却室18が設けられており、モータ19に駆
動されるファン20を回転させて基板4に冷風を吹き当
てることにより、溶融したクリーム半田3を固化させ
る。
T1と中央部の均熱ゾーンT2と出口6側のリフローゾ
ーンT3に仕切壁16、17によってそれぞれ分割され
ており、また各ゾーンT1、T2、T3には各ゾーンT
1、T2、T3の雰囲気温度を測定するための温度セン
サS1、S2、S3が設置されている。また加熱室1の
後部には冷却室18が設けられており、モータ19に駆
動されるファン20を回転させて基板4に冷風を吹き当
てることにより、溶融したクリーム半田3を固化させ
る。
【0006】次に、このリフロー装置の動作を説明す
る。チップ2が搭載された基板4は、コンベア7によっ
て加熱室1内を右方向へ一定速度で搬送される。その
間、基板4にはヒータ8、9、10で加熱された高温の
空気がファン11、12、13によって吹きつけられ、
基板4は加熱される。図6に実線で示す曲線は予熱ゾー
ンT1、均熱ゾーンT2及びリフローゾーンT3の理想
の基板4の温度プロファイルAを示している。コンベア
7は一定の速度で走行しており、基板4が予熱ゾーンT
1、均熱ゾーンT2及びリフローゾーンT3の各ゾーン
で加熱される時間t1、t2、及びt3は、コンベア7
の速度と各ゾーンT1、T2、T3のコンベア7の走行
方向の長さL1、 L2、L3(図5参照)で決定され
る。
る。チップ2が搭載された基板4は、コンベア7によっ
て加熱室1内を右方向へ一定速度で搬送される。その
間、基板4にはヒータ8、9、10で加熱された高温の
空気がファン11、12、13によって吹きつけられ、
基板4は加熱される。図6に実線で示す曲線は予熱ゾー
ンT1、均熱ゾーンT2及びリフローゾーンT3の理想
の基板4の温度プロファイルAを示している。コンベア
7は一定の速度で走行しており、基板4が予熱ゾーンT
1、均熱ゾーンT2及びリフローゾーンT3の各ゾーン
で加熱される時間t1、t2、及びt3は、コンベア7
の速度と各ゾーンT1、T2、T3のコンベア7の走行
方向の長さL1、 L2、L3(図5参照)で決定され
る。
【0007】一般に、リフロー装置は、均熱時間t2が
例えば60秒以上70秒以内というように、各々の時間
t1、t2、t3が所定時間確保されるように制御され
る。なお、この例では、予熱ゾーンT1においては、基
板4は常温から150℃程度まで加熱され、次に均熱ゾ
ーンT2においては150℃から170℃程度まで加熱
され、次にリフローゾーンT3においては220℃以上
まで急激に加熱されることにより、クリーム半田3は溶
融する。そして、基板4は冷却室18で冷却され、クリ
ーム半田3は固化してチップ2の電極は基板4の電極に
半田付けされる。
例えば60秒以上70秒以内というように、各々の時間
t1、t2、t3が所定時間確保されるように制御され
る。なお、この例では、予熱ゾーンT1においては、基
板4は常温から150℃程度まで加熱され、次に均熱ゾ
ーンT2においては150℃から170℃程度まで加熱
され、次にリフローゾーンT3においては220℃以上
まで急激に加熱されることにより、クリーム半田3は溶
融する。そして、基板4は冷却室18で冷却され、クリ
ーム半田3は固化してチップ2の電極は基板4の電極に
半田付けされる。
【0008】従来のリフロー装置においては、一定速度
で走行するコンベア7の速度と、加熱室1の各ゾーンT
1、T2、T3のコンベア7の走行方向の長さL1、 L
2、L3の比で所要温度と所要加熱時間が得られる。ま
た各ゾーンT1、T2、T3の雰囲気温度を温度センサ
ーS1、S2、S3で検出しこの検出温度に基づいてヒ
ータ8、9、10やファン11、12、13などの運転
を制御して温度調整し、加熱室1内の各ゾーンT1、T
2、T3における理想の温度プロファイルAに近似した
基板4の温度プロファイルが得られるようにしている。
で走行するコンベア7の速度と、加熱室1の各ゾーンT
1、T2、T3のコンベア7の走行方向の長さL1、 L
2、L3の比で所要温度と所要加熱時間が得られる。ま
た各ゾーンT1、T2、T3の雰囲気温度を温度センサ
ーS1、S2、S3で検出しこの検出温度に基づいてヒ
ータ8、9、10やファン11、12、13などの運転
を制御して温度調整し、加熱室1内の各ゾーンT1、T
2、T3における理想の温度プロファイルAに近似した
基板4の温度プロファイルが得られるようにしている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の構成では、基板4はコンベア7によって加熱室1内
を一定速度で搬送されながらヒータ8、9、10で加熱
されるので、基板4の実際の温度プロファイルBは図6
の破線で示すようになる。すなわち、基板4の温度は常
温から加熱時間にほぼ比例して直線的に上昇するため
に、実際の温度プロファイルBは実線で示す理想の温度
プロファイルAから大きくずれ、クリーム半田3の溶融
状態が悪く基板4とチップ2の溶着が良好に行われない
という問題点があった。殊にこのような問題点は、図6
においてWで示す均熱ゾーンT2とリフローゾーンT3
の境界部において、基板4の温度が上りすることに由来
する。
来の構成では、基板4はコンベア7によって加熱室1内
を一定速度で搬送されながらヒータ8、9、10で加熱
されるので、基板4の実際の温度プロファイルBは図6
の破線で示すようになる。すなわち、基板4の温度は常
温から加熱時間にほぼ比例して直線的に上昇するため
に、実際の温度プロファイルBは実線で示す理想の温度
プロファイルAから大きくずれ、クリーム半田3の溶融
状態が悪く基板4とチップ2の溶着が良好に行われない
という問題点があった。殊にこのような問題点は、図6
においてWで示す均熱ゾーンT2とリフローゾーンT3
の境界部において、基板4の温度が上りすることに由来
する。
【0010】そこで本発明は、理想の温度プロファイル
を得やすいリフロー装置を提供することを目的とする。
を得やすいリフロー装置を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】このために本発明のリフ
ロー装置は、予熱ゾーンと均熱ゾーンに配設されてコン
ベアにより搬送される基板を停止させるストッパと、均
熱ゾーンに配設された温度センサと、この温度センサの
信号に従ってストッパによる基板の停止及び停止解除を
制御する制御部とを設けたものである。
ロー装置は、予熱ゾーンと均熱ゾーンに配設されてコン
ベアにより搬送される基板を停止させるストッパと、均
熱ゾーンに配設された温度センサと、この温度センサの
信号に従ってストッパによる基板の停止及び停止解除を
制御する制御部とを設けたものである。
【0012】
【作用】上記構成によれば、チップが搭載された基板
は、予熱ゾ−ン、均熱ゾーン、リフローゾーンにそれぞ
れ配設されたヒータ及びファンで加熱されながら、コン
ベアで加熱室の入口側から出口側へ搬送される。そし
て、均熱ゾーンに配設された温度センサの信号に従って
予熱ゾーンと均熱ゾーンに配設されたストッパによる基
板の停止及び停止解除を制御部で制御することにより、
予熱ゾーンや均熱ゾーンにおける基板の滞留時間を調整
して、基板が理想の温度プロファイルとなるように加熱
する。
は、予熱ゾ−ン、均熱ゾーン、リフローゾーンにそれぞ
れ配設されたヒータ及びファンで加熱されながら、コン
ベアで加熱室の入口側から出口側へ搬送される。そし
て、均熱ゾーンに配設された温度センサの信号に従って
予熱ゾーンと均熱ゾーンに配設されたストッパによる基
板の停止及び停止解除を制御部で制御することにより、
予熱ゾーンや均熱ゾーンにおける基板の滞留時間を調整
して、基板が理想の温度プロファイルとなるように加熱
する。
【0013】
【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。
説明する。
【0014】図1は、本発明の一実施例を示すリフロー
装置の内部構造の側面図である。なお、図5に示す従来
例と同一構成部品は同一符号を付して説明を省略する。
加熱室1の内部は、入口5から出口6へ向って予熱ゾー
ンT1,均熱ゾーンT2,リフローゾーンT3の3つの
ゾーンに分割されており、チップ2がクリーム半田3に
より仮接着された基板4は、入口5から出口6へ向って
コンベア7により搬送される。加熱室1の予熱ゾーンT
1と均熱ゾーンT2とリフローゾーンT3にはそれぞれ
第1のシリンダ21、第2のシリンダ22、第3のシリ
ンダ23が設けられ、コンベア7で搬送されてくる基板
4を停止できるようになっている。各々のシリンダ2
1、22、23の上流側には基板4を検出するための第
1の光電センサ24、第2の光電センサ25、第3の光
電センサ26と、基板4の温度を測定するための接触式
の第1の温度センサ27、第2の温度センサ28、第3
の温度センサ29が設けられている。
装置の内部構造の側面図である。なお、図5に示す従来
例と同一構成部品は同一符号を付して説明を省略する。
加熱室1の内部は、入口5から出口6へ向って予熱ゾー
ンT1,均熱ゾーンT2,リフローゾーンT3の3つの
ゾーンに分割されており、チップ2がクリーム半田3に
より仮接着された基板4は、入口5から出口6へ向って
コンベア7により搬送される。加熱室1の予熱ゾーンT
1と均熱ゾーンT2とリフローゾーンT3にはそれぞれ
第1のシリンダ21、第2のシリンダ22、第3のシリ
ンダ23が設けられ、コンベア7で搬送されてくる基板
4を停止できるようになっている。各々のシリンダ2
1、22、23の上流側には基板4を検出するための第
1の光電センサ24、第2の光電センサ25、第3の光
電センサ26と、基板4の温度を測定するための接触式
の第1の温度センサ27、第2の温度センサ28、第3
の温度センサ29が設けられている。
【0015】図2に、コンベア搬送装置の正面断面図を
示す。コンベア7は、チェーン30にプレートアタッチ
メント31の付いたプレートアタッチメント付チェーン
コンベアである。ベース32に支持プレート33を立設
し、この支持プレート33の上端部にフレーム34をコ
ンベア7の走行方向に設け、このフレーム34の両端部
にスプロケット35を軸着して、このスプロケット35
に前記チェーン30を調帯して構成されている。基板4
はその両側端部をプレートアタッチメント31に支持さ
れて搬送される。
示す。コンベア7は、チェーン30にプレートアタッチ
メント31の付いたプレートアタッチメント付チェーン
コンベアである。ベース32に支持プレート33を立設
し、この支持プレート33の上端部にフレーム34をコ
ンベア7の走行方向に設け、このフレーム34の両端部
にスプロケット35を軸着して、このスプロケット35
に前記チェーン30を調帯して構成されている。基板4
はその両側端部をプレートアタッチメント31に支持さ
れて搬送される。
【0016】第1のシリンダ21は、右側の支持プレー
ト33の内面に取り付けたブラケット38にフランジ3
9を介して上向きに設けられている。この第1のシリン
ダ21は加熱室1内の高温から保護するために断熱材か
ら成るカバー37内に収納されている。第1のシリンダ
21のロッド21aは常時は下方へ引き込んでいるが、
上方へ突出すると基板4の搬送面に突出し、基板4の搬
送を停止させる(図1鎖線参照)。すなわち第1のシリ
ンダ21のロッド21aは基板4のストッパとなってい
る。なお第2のシリンダ22、第3のシリンダ23の配
設構造も第1のシリンダ21の配設構造と同様である。
ト33の内面に取り付けたブラケット38にフランジ3
9を介して上向きに設けられている。この第1のシリン
ダ21は加熱室1内の高温から保護するために断熱材か
ら成るカバー37内に収納されている。第1のシリンダ
21のロッド21aは常時は下方へ引き込んでいるが、
上方へ突出すると基板4の搬送面に突出し、基板4の搬
送を停止させる(図1鎖線参照)。すなわち第1のシリ
ンダ21のロッド21aは基板4のストッパとなってい
る。なお第2のシリンダ22、第3のシリンダ23の配
設構造も第1のシリンダ21の配設構造と同様である。
【0017】次に、第1の温度センサ27の取り付け構
造を説明する。フレーム34にL形ブラケット41を取
り付け、このL形ブラケット41にフランジ42を介し
てシリンダ43を上向きに設けている。シリンダ43は
断熱材から成るカバー44で保護されている。また、シ
リンダ43のロッド45の上端部にはアーム46が取り
付けられており、このアーム46の先端部にはフランジ
47を介してシリンダ48が下向きに設けられている。
このシリンダ48は断熱材から成るカバー49内に収納
されて加熱室1の高温の雰囲気温度から保護されてい
る。このシリンダ48のロッド50の下端部には第1の
温度センサ27が取り付けられている。この第1の温度
センサ27も、断熱材から成るカバー53内に収納され
ている。前記アーム46には、このアーム46が上下動
するときの廻り止め用ロッド51が前記L形ブラケット
41を貫通して設けられている。
造を説明する。フレーム34にL形ブラケット41を取
り付け、このL形ブラケット41にフランジ42を介し
てシリンダ43を上向きに設けている。シリンダ43は
断熱材から成るカバー44で保護されている。また、シ
リンダ43のロッド45の上端部にはアーム46が取り
付けられており、このアーム46の先端部にはフランジ
47を介してシリンダ48が下向きに設けられている。
このシリンダ48は断熱材から成るカバー49内に収納
されて加熱室1の高温の雰囲気温度から保護されてい
る。このシリンダ48のロッド50の下端部には第1の
温度センサ27が取り付けられている。この第1の温度
センサ27も、断熱材から成るカバー53内に収納され
ている。前記アーム46には、このアーム46が上下動
するときの廻り止め用ロッド51が前記L形ブラケット
41を貫通して設けられている。
【0018】上記の構造によって、シリンダ43のロッ
ド45が上下動することによりアーム46を介しシリン
ダ48が上下動し、またシリンダ48のロッド50が上
下動することにより第1の温度センサ27が上下動して
基板4に接触し、基板4の温度を検出するようになって
いる。第2の温度センサ28、第3の温度センサ29の
配設構造は、第1の温度センサ27の配設構造と同様で
ある。
ド45が上下動することによりアーム46を介しシリン
ダ48が上下動し、またシリンダ48のロッド50が上
下動することにより第1の温度センサ27が上下動して
基板4に接触し、基板4の温度を検出するようになって
いる。第2の温度センサ28、第3の温度センサ29の
配設構造は、第1の温度センサ27の配設構造と同様で
ある。
【0019】図3は電気回路のブロック図であって、光
電センサ24、25、26や温度センサ27、28、2
9の信号はCPUのような制御部52に入力され、検出
された温度によって制御部52はシリンダ21、22、
23を制御する。
電センサ24、25、26や温度センサ27、28、2
9の信号はCPUのような制御部52に入力され、検出
された温度によって制御部52はシリンダ21、22、
23を制御する。
【0020】次に、このリフロー装置は上記のような構
成より成り、次に図4の温度プロファイルを参照しなが
ら動作を説明する。図1において、コンベア7は一定速
度で走行しており、このコンベア7に搭載された基板4
は入口5から加熱室1内に入り、ヒータ8により加熱さ
れながら出口6へ向って搬送される。そして、第1の光
電センサ24によって基板4が検出されると、その電気
信号で第1のシリンダ21が駆動しロッド21aがコン
ベア7の搬送路まで上昇し基板4を停止させ、さらにシ
リンダ43とシリンダ48が駆動して第1の温度センサ
27が基板4に接触して基板4の温度を検出する。この
ようにして基板4は予熱ゾーンT1で滞留して加熱され
る。基板4の温度が150℃に達したことを第1の温度
センサ27で検出したならば、制御部52から第1のシ
リンダ21に動作の指令信号が送信され、ロッド21a
が下方へ引き込んで基板4の停止状態を解除する。する
と基板4はコンベア7によって次の均熱ゾーンT2へ搬
送される。
成より成り、次に図4の温度プロファイルを参照しなが
ら動作を説明する。図1において、コンベア7は一定速
度で走行しており、このコンベア7に搭載された基板4
は入口5から加熱室1内に入り、ヒータ8により加熱さ
れながら出口6へ向って搬送される。そして、第1の光
電センサ24によって基板4が検出されると、その電気
信号で第1のシリンダ21が駆動しロッド21aがコン
ベア7の搬送路まで上昇し基板4を停止させ、さらにシ
リンダ43とシリンダ48が駆動して第1の温度センサ
27が基板4に接触して基板4の温度を検出する。この
ようにして基板4は予熱ゾーンT1で滞留して加熱され
る。基板4の温度が150℃に達したことを第1の温度
センサ27で検出したならば、制御部52から第1のシ
リンダ21に動作の指令信号が送信され、ロッド21a
が下方へ引き込んで基板4の停止状態を解除する。する
と基板4はコンベア7によって次の均熱ゾーンT2へ搬
送される。
【0021】均熱ゾーンT2での理想的な温度プロファ
イルAは、図4に示すように150℃から170℃まで
徐々に加熱するようになっている。そこで第2の光電セ
ンサ25が基板4を検出したならば、上述と同様にして
第2の温度センサ28により基板4の温度を測定し、基
板4の温度が170℃に達していないならば、シリンダ
22のロッド22aを突出させて基板4を停止させ、基
板4の温度が170℃になるまでそのまま滞留させる。
そして基板4の温度がt2時間後に170℃に達したこ
とが第2の温度センサ28で検出されたならば、ロッド
22aを引き込ませて基板4を次のリフローゾーンT3
へ送る。また光電センサ25が基板4を検出して温度セ
ンサ28が基板4の温度を測定したときに、基板4の温
度が170℃を越えていれば、ヒータ9による過剰加熱
であるから、ヒータ9の駆動を停止させるか、あるいは
ヒータ9の発熱を減少させて、均熱ゾーンT2の温度を
若干低下させる。
イルAは、図4に示すように150℃から170℃まで
徐々に加熱するようになっている。そこで第2の光電セ
ンサ25が基板4を検出したならば、上述と同様にして
第2の温度センサ28により基板4の温度を測定し、基
板4の温度が170℃に達していないならば、シリンダ
22のロッド22aを突出させて基板4を停止させ、基
板4の温度が170℃になるまでそのまま滞留させる。
そして基板4の温度がt2時間後に170℃に達したこ
とが第2の温度センサ28で検出されたならば、ロッド
22aを引き込ませて基板4を次のリフローゾーンT3
へ送る。また光電センサ25が基板4を検出して温度セ
ンサ28が基板4の温度を測定したときに、基板4の温
度が170℃を越えていれば、ヒータ9による過剰加熱
であるから、ヒータ9の駆動を停止させるか、あるいは
ヒータ9の発熱を減少させて、均熱ゾーンT2の温度を
若干低下させる。
【0022】次いで基板4はリフローゾーンT3へ送ら
れ、220℃以上まで一気に加熱されてクリーム半田3
は溶融する。この場合も、基板4が第3の光電センサ2
6で検出されたならば、第3の温度センサ29により基
板4の温度を測定し、220℃以下であれば、220℃
以上になるまで第3のシリンダ23のロッド23aで停
止させる。このようにしてクリーム半田3が溶融したな
らば、続いて基板4は冷却室18へ送られて冷却され、
溶融したクリーム半田3は固化し、半田付けは終了す
る。
れ、220℃以上まで一気に加熱されてクリーム半田3
は溶融する。この場合も、基板4が第3の光電センサ2
6で検出されたならば、第3の温度センサ29により基
板4の温度を測定し、220℃以下であれば、220℃
以上になるまで第3のシリンダ23のロッド23aで停
止させる。このようにしてクリーム半田3が溶融したな
らば、続いて基板4は冷却室18へ送られて冷却され、
溶融したクリーム半田3は固化し、半田付けは終了す
る。
【0023】本発明は上記実施例に限定されないのであ
って、例えば各ゾーンT1、T2、T3のうち、温度管
理が最も重要なのは均熱ゾーンT2であり、したがって
均熱ゾーンT2にのみ温度センサやストッパを設けて基
板4を滞留させるようにしてもよい。また加熱室内のゾ
ーンの数は任意に設計できる。また温度センサは放射温
度計のような非接触形の温度センサでもよい。また上記
実施例は加熱室の空気を加熱するリフロー装置を例にと
って説明したが、基板の回路パターンやクリーム半田な
どの金属の酸化を防止するために、加熱室にチッソガス
を送るチッソリフロー装置にも適用できるものであり、
本発明は種々の設計変更が考えられる。
って、例えば各ゾーンT1、T2、T3のうち、温度管
理が最も重要なのは均熱ゾーンT2であり、したがって
均熱ゾーンT2にのみ温度センサやストッパを設けて基
板4を滞留させるようにしてもよい。また加熱室内のゾ
ーンの数は任意に設計できる。また温度センサは放射温
度計のような非接触形の温度センサでもよい。また上記
実施例は加熱室の空気を加熱するリフロー装置を例にと
って説明したが、基板の回路パターンやクリーム半田な
どの金属の酸化を防止するために、加熱室にチッソガス
を送るチッソリフロー装置にも適用できるものであり、
本発明は種々の設計変更が考えられる。
【0024】
【発明の効果】本発明は、温度センサによってコンベア
により搬送される基板の温度を検出し、その検出結果に
したがってストッパを動作させて均熱ゾーンなどにおけ
る基板の滞留時間を調整できるので、基板の温度を理想
の温度プロファイルに近づけて、基板に搭載された、チ
ップを良好に半田付けできる。
により搬送される基板の温度を検出し、その検出結果に
したがってストッパを動作させて均熱ゾーンなどにおけ
る基板の滞留時間を調整できるので、基板の温度を理想
の温度プロファイルに近づけて、基板に搭載された、チ
ップを良好に半田付けできる。
【図1】本発明の一実施例のリフロー装置の側面図
【図2】本発明の一実施例のコンベア装置の断面図
【図3】本発明の一実施例の電気回路のブロック図
【図4】本発明の一実施例のリフロー装置の温度プロフ
ァイル図
ァイル図
【図5】従来のリフロー装置の側面図
【図6】従来のリフロー装置の温度プロファイル図
1 加熱室 2 チップ 3 クリーム半田 4 基板 5 入口 6 出口 7 コンベア 8 ヒータ 9 ヒータ 10 ヒータ 11 ファン 12 ファン 13 ファン 21 第1のシリンダ 22 第2のシリンダ 23 第3のシリンダ 27 第1の温度センサ 28 第2の温度センサ 29 第3の温度センサ 52 制御部 T1 予熱ゾーン T2 均熱ゾーン T3 リフローゾーン
Claims (1)
- 【請求項1】加熱室と、この加熱室の入口から出口へ向
かってチップが搭載された基板を搬送するコンベアと、
この加熱室の入口側から出口側へ区画された予熱ゾ−
ン、均熱ゾーン、リフローゾーンにそれぞれ配設された
ヒータ及びファンと、前記予熱ゾーンと前記均熱ゾーン
に配設されて前記コンベアにより搬送される前記基板の
搬送を停止させるストッパと、少なくとも前記均熱ゾー
ンにおける基板の温度を測定する温度センサと、この温
度センサの信号に従って前記ストッパによる前記基板の
搬送の停止及び停止解除を制御する制御部とを備えたこ
とを特徴とするリフロー装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP43A JPH06181383A (ja) | 1992-12-11 | 1992-12-11 | リフロー装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP43A JPH06181383A (ja) | 1992-12-11 | 1992-12-11 | リフロー装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06181383A true JPH06181383A (ja) | 1994-06-28 |
Family
ID=18244547
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP43A Pending JPH06181383A (ja) | 1992-12-11 | 1992-12-11 | リフロー装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06181383A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008226980A (ja) * | 2007-03-09 | 2008-09-25 | Hiroshi Takakura | リフロー装置 |
-
1992
- 1992-12-11 JP JP43A patent/JPH06181383A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008226980A (ja) * | 2007-03-09 | 2008-09-25 | Hiroshi Takakura | リフロー装置 |
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