JPH06186131A

JPH06186131A - 光導体の測定法およびこの測定を実施する装置

Info

Publication number: JPH06186131A
Application number: JP5189856A
Authority: JP
Inventors: Rainer Kossat; コサートライナー; Winfried Lieber; リーバーヴィンフリート; Manfred Loch; ロッホマンフレート; Gervin Ruegenberg; リューゲンベルクゲルヴィン
Original assignee: Siemens Corp
Current assignee: Siemens Corp
Priority date: 1992-07-30
Filing date: 1993-07-30
Publication date: 1994-07-08
Also published as: DE59308272D1; US5424831A; EP0582831A1; ATE164225T1; EP0582831B1

Abstract

(57)【要約】（修正有）【目的】複数個の光導体の光学的伝送特性量を選択的
に簡単に確実に検出できる測定装置を提供する。【構成】光送信器ＯＴ１の少なくとも１つの送信エレ
メントから送信ビーム電磁界が異なるように、測定され
るべき光導体ＬＷ１〜ＬＷｎの中へわん曲結合器を介し
て入力結合される。受信側で測定信号ＤＳ２が、光受信
器ＯＲ１における少なくとも１つの受信エレメントを用
いて検出されて、評価装置ＡＥ１において個別に評価さ
れる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光送信器を有し、該光
送信器は結合装置を介してそれぞれ測定されるべき光導
体へ結合されており、ならびに光受信器を有し、該光受
信器は少なくとも１つの受信エレメントを有し、該受信
エレメントに評価装置が配属されている形式の、複数個
の光導体における測定装置および測定法に関する。

【０００２】

【従来技術】この種の測定装置はヨーロッパ特許第０４
１１９５６Ａ２号に示されている。この測定装置は光学
的スイッチを有し、このスイッチの伝送路を介してそれ
ぞれ、異なる波長の２つの光源の１つが複数個の光導体
に端面側で個々に時間的に相次いで結合される。この場
合、光導体はそれぞれ、光学的スイッチの伝送路と固定
的にスプライスされている。この光導体の区間経過にお
ける多ファイバー接続個所の判定の目的で、受信側で光
受信器が受信エレメントと、例えば測定されるべき全部
の光導体のための広い面積の検出器を有する。送信側で
測定信号がそれぞれ個々に、光学的スイッチの伝送路と
接続されている光導体の中へシーケンシャルに供給さ
れ、さらに受信側で受信エレメントにより検出されて個
別に評価される。測定されるべき光導体は、光学的スイ
ッチの伝送路によりスプライスされているため、即ち固
定的に結合されているため、光導体の可変の解除可能な
接続および遮断は著しい困難を伴ってしか可能でない。

【０００３】新たに測定されるべき光導体の結合に対し
ては、その都度にまず最初に、既に形成されたスプライ
ス結合の切り離しが必要とされてしまう。次に光導体を
それぞれそれらの端部側の開放端面において、光学的ス
イッチの出力側とスプライスしなければならなくなる。
そのため、それぞれの光源のフレキシブルな破損されな
い接続ないし遮断のためには−例えば多重スプライス結
合の検査のための光導体帯状体を有する光学的伝送区間
の場合に所望されている場合のように−この公知の測定
装置はほとんど使用できない。

【０００４】ドイツ連邦特許第３４２９９４７Ｃ２号
に、個々の光導体のスプライス個所を判定する測定装置
が示されている。スプライス個所の入力側で送信信号が
わん曲結合器を用いて光導体の中へ供給され、さらにス
プライスの出力側で受信側で、第２のわん曲結合器を用
いて出力結合される。この出力結合された送信信号の送
出電磁界はフォトダイオードにより受信され続いて表示
される。もし複数個の光導体をこの公知の測定装置の中
に装着するならば、あらゆる場合に、光導体の個々の入
力結合されるビーム電磁界の簡単な和が測定できること
になる。この重畳の和から、公知の測定装置の内部の個
々の光導体の個々の光学的伝送特性量に関する情報およ
び推定はできない。何故ならばこの和から、個々の光学
的測定値の間の作用依存性が導出できないからである。

【０００５】

【発明の解決すべき課題】本発明の課題は、複数個の光
導体の光学的伝送特性量を選択的に簡単に確実に検出で
きる測定装置を提供することである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この課題は本発明によ
り、次のように解決されている。即ち、光送信器が光導
体に関して結合装置の結合領域において次のように配置
されて構成されており、即ちそれぞれ送信ビーム領域が
その光スポットにより、光導体の入力結合区間にそれぞ
れ沿って、この光導体の中へ区別可能に入力結合され、
さらに光受信器の中に受信エレメントが次のように配向
されて構成されており、即ち受信エレメントが、測定さ
れるべき光導体の受信ビーム領域を検出し、さらにこの
検出から、区別可能な測定信号を発生し、さらにこれら
の測定信号が、受信エレメントに配属されている評価装
置において個別に評価される。

【０００７】

【発明の効果】本発明は、複数個の光導体の光学的伝送
特性量の選択的測定および評価の機能を著しく向上する
ように改善する。ｎ個の光導体に対して唯１つの送信エ
レメントおよび唯１つの受信エレメントしか有していな
い公知の測定装置の場合は、ｎ個の個別測定を相次いで
連続的に実施する必要がある。これに対して、本発明に
おいては、唯１つの共通の接続過程だけが必要とされ
る。そのため光導体毎の光学的伝送特性量の選択的測定
の場合に、作業の手間の低減化と作業時間の節約化が達
成される。

【０００８】光学的伝送特性量の選択的測定はさらに例
えば次のようにして達成される。即ち異なる送信ビーム
電磁界の、測定されるべき光導体への入力結合を、全部
に対して共通にたわみ結合器原理により実施する。これ
により、光学的スイッチを有する公知の測定装置とは反
対に、次のことが回避されている。即ち測定されるべき
光導体が例えば光導体帯状体を例えば、検査されるべき
多重スプライス個所の入力側で、それらの開放端面に送
信ビーム電磁界を選択的に供給可能にする目的で切断す
る必要がある。結合装置としてのたわみ結合器により、
次のことが著しく有利に可能になる、即ち送信ビーム電
磁界が任意に選択可能な入力結合個所で光導体に沿っ
て、破損されずに簡単に選択的に、測定されるべき光導
体へ入力結合可能となる。これにより光送信器の接続な
いし遮断が迅速に繰り返し実施可能となる。

【０００９】本発明による方法により、測定されるべき
光導体の開放端面を自由に手入れできるため、たわみ結
合器を用いずに送信信号を直接送信側で給電可能とな
る。そのため受信側で、たわみ結合器原理による送信側
入力結合の場合と同一の測定情報が得られる。

【００１０】本発明の第１の好適な構成によれば、少な
くとも１つの送信エレメントからの異なる送信ビーム電
磁界が、測定されるべき光導体の中への選択的入力結合
が次のように行なわれる。即ちその光スポットが時間的
に相次いで、結合領域における測定されるべき光導体の
入力結合区間ないし領域を照射する。送信エレメントの
数が、測定されるべき光導体の数よりも小さい場合は、
好適に、それぞれ少なくとも１つの送信エレメントの送
信ビーム電磁界が、時間的に相次いで光導体の入力結合
領域を介して、可変のビーム偏向装置を用いて照射され
る。送信ビーム電磁界の運動は例えば機械的経路で回転
ミラーを用いて実施できる。そのため光が時間的に相次
いでしたがって異なるように、測定されるべき光導体の
方向へ偏向してこの中へ入力結合される。有利にビーム
偏向も電子的／音響的−光学的手段により例えば音響的
光学的変調器により可能となる。同様に有利に、機械的
に可動のスリット絞りを有する、または例えばＬＣＳ
（液晶シャッタ）を有する絞り装置を送信ビーム電磁界
のシーケンシャルな入力結合のために設けることができ
る。光送信器における送信エレメントの数が、結合領域
における測定されるべき光導体の数に等しい時は、送信
エレメントは有利に、わん曲されて走行する光導体の入
力結合区間に一義的に配属されて光導体へ著しく正確に
配向される。例えば送信エレメントを時分割多重作動形
式で時間的に相次いで制御することにより、その送信ビ
ーム電磁界がないしその光スポットがシーケンシャル
に、導通接続される“光チェーン”のように、測定され
るべき光導体の中へ入力結合できる。そのため光学的伝
送特性量は各々の光導体に対して著しく正確に選択的に
測定できる。

【００１１】結合装置の結合領域における測定されるべ
き光導波体に好適に一層多くの数の送信エレメントを光
送信器の中に配属することもできる。送信エレメントの
時分割多重作動形式で、有利に次のように保証される。
即ち測定されるべき光導体の入力結合区間が高い局所解
像度で即ちより細かく照射され、これにより例えば光導
体の局所的出力分布が正確に検出されて、以後の評価の
ために準備処理できる。この場合、光伝送特性量が選択
的に正確に、前述の別の両方の場合よりもさらに改善さ
れた分解能で測定できる。この場合、送信エレメントの
数が光導体の数に等しい前述の場合よりも、入力結合区
間への送信ビーム電磁界の、測定されるべき光導体の入
力結合区間ないし領域への正確な一義的な配向化ないし
配属化がもはや必要とされない。

【００１２】本発明のもう１つの好適な構成によれば、
異なる送信ビーム電磁界の形成の目的で変調装置を設け
ることができる、または異なる送信周波数で動作させる
ことができる。この構成による利点は、異なる送信ビー
ム電磁界を、測定されるべき光導体の入力結合区間へ同
時に入力結合できることである。

【００１３】さらに本発明は、光導体における測定法を
対象とする。この測定法は、光送信器が測定信号を、測
定されるべき光導体へ入力結合するために接続され、入
力結合された測定信号が光受信器において少なくとも１
つの受信エレメントを用いて出力結合して取り出し、該
出力結合された測定信号が所定の評価装置において評価
される構成を前提とする。この方法において本発明によ
り、光送信器においてそれぞれ送信ビーム電磁界をその
光スポットにより、光導体のそれぞれ入力結合区間に沿
ってこれらの光導体の中へ異なるように入力結合し、さ
らに光受信器において、測定されるべき光導体の受信ビ
ーム電磁界を受信エレメントを用いて検出し、さらにこ
れから、異なる測定信号を発生し、この測定信号を、受
信エレメントに所属する評価装置において個別に評価す
る構成を有する。

【００１４】本発明のその他の構成は従属形式の請求項
に示されている。

【００１５】

【実施例】次に本発明の実施例を図面を用いて説明す
る。

【００１６】図１に本発明の測定装置ＭＥが示されてい
る。この測定装置は、コンポーネントとして、光送信器
ＯＴ１を有する送信・結合装置−入力結合手段としての
所属の結合装置ＫＶ１も共に−、多重スプライス装置Ｍ
Ｓ１、光受信器ＯＲ１および評価装置ＡＥ１を有する。
これらのコンポーネントは有利に１つの測定装置へ例え
ば測定トランクへまとめることができる。しかしこれら
のコンポーネントを有利に、光導体スプライス装置のま
たは光導体・スプライス装置の構成部材とすることもで
きる。本発明のこの特別に有利な適用領域のほかに、本
発明は、別の光学的伝送特性量の、例えば位相遅延時
間、パルス応答、区間減衰等の選択的測定も可能であ
る。以下の実施例においてはそれぞれ、光導体のスプラ
イス減衰に関連づける。

【００１７】図１において多重・スプライス装置ＭＳ１
の中に、光導体ＬＷ１〜ＬＷｎを有する帯線ＢＬ１およ
び、このＢＬ１とスプライスされるべき第２の帯線−光
導体ＬＷ１＊〜ＬＷｎ＊を有する−が、対向している。
光導体ＬＷ１〜ＬＷｎは近傍に平行に、平らな実質的に
長方形の、帯線ＢＬ１の外側スリーブＡＨ１（プラスチ
ック材料から成る）の中に埋め込まれている。この外側
スリーブＡＨ１は図１の左の部分にだけ示されており、
その他の図面部分においては、見やすくするために省略
されている。同様に帯線ＢＬ２の光導体ＬＷ１＊〜ＬＷ
ｎ＊が、同じく実質的に長方形の、外側スリーブＡＨ２
の中に実質的に互いに平行に設けられていて、機械的に
互いに結合されている。帯線ＢＬ２の外側スリーブＡＨ
２は、見やすくするために図１の右側部分にだけ示され
ており、それ以外の部分は省略されている。

【００１８】光送信器ＯＴ１を結合装置ＫＶ１を用い
て、図１の左の部分において、帯線ＢＬ１の光導体ＬＷ
１〜ＬＷｎへ結合する目的で、図２に示されている様
に、光導体ＬＷ１〜ＬＷｎを、わん曲結合器ＢＫ１のシ
リンダ（わん曲軸）のまわりに、わん曲状に巻回され
る。わん曲結合器ＢＫ１は、横方向の位置保護のために
およびそのシリンダＺＴ１の周における帯線ＢＬ１の案
内の目的で、案内溝ＦＮ１を有する。案内溝の幅は、こ
の溝の中に入れられる帯線ＢＬ１の幅に相応する。

【００１９】光導体ＬＷ１〜ＬＷｎの中に選択的に、異
なる測定信号Ｉ０〜Ｉｍ（図１）を入力結合可能にする
目的で、光送信器ＯＴ１は送信エレメントＴＥ０〜ＴＥ
ｍを有する。これらは、送信ビーム電磁界ＴＦ０〜ＴＦ
ｍを、わん曲されて導びかれる光導体ＬＷ１〜ＬＷｎ
へ、わん曲結合器ＢＫ１の結合領域において、送出でき
る。送信エレメントＴＥ１〜ＴＥｍは光送信器ＯＴ１に
おいて、破線で囲まれている送信行ＳＺの中に設けられ
ている。このＳＺはわん曲結合器ＢＫ１の左側に、ＢＫ
１の結合領域（＝光導体ＬＷ１〜ＬＷｎがわん曲されて
走行する）の近傍に、帯線ＢＬ１の長手軸を横切るよう
に延在する。そのため送信エレメントＴＥ０〜ＴＥｍの
配置は特別に、測定されるべき光導体ＬＷ１〜ＬＷｎの
構造化された配置に、適合化されている。さらに好適
に、送信エレメントＴＥ０〜ＴＥｍを配列体（送信電磁
界）においてまとめることもできる。送信エレメントＴ
Ｅ０〜ＴＥｍとして有利にレーザダイオードが適する。
レーザダイオードは例えば行のないし配列体の形式でま
とめられている（例えばＥｐｉｔａｘｘ社）。好適に送
信エレメントＴＥ１〜ＴＥｍとして個々のレーザダイオ
ードまたはＬＥＤも使用できる。

【００２０】送信ラインＳＺにおける送信エレメントＴ
Ｅ０〜ＴＥｍは時間的に相次いで例えばシーケンシャル
に、制御装置ＡＳＶ１により、制御信号ＡＳ０〜ＡＳｍ
を用いて制御線路ＡＬ０〜ＡＬｍを介して、作動され
る。そのため送信エレメントＴＥ０〜ＴＥｍは時分割多
重作動の形式で制御される。この場合、送信エレメント
は時間的に、異なる送信ビーム電磁界ＴＴＦ０〜ＴＦｍ
を発生する。ここでわん曲状に走行する光導体ＬＷ１〜
ＬＷｎの入力結合区間のないし入力結合領域ＴＣ１〜Ｔ
Ｃｎに沿っての、ＴＦ０〜ＴＦｍの選択的入力結合は、
送信行ＳＺの送信エレメントＴＥ０〜ＴＥｍの相応の配
置および配向により、達せられる。この場合、送信ビー
ム電磁界ＴＦ０は近似的に入力結合区間ＴＣ１〜ＴＣｎ
へ接線方向に進入する。ビーム電磁界ＴＦ０〜ＴＦｍに
よる測定信号Ｉ０〜Ｉｍは、例えば第１の送信エレメン
トＴＥ０の作動化によりスタートされる。次に制御装置
ＡＳＶＩは時間的に相次いで、送信行ＳＺにおける全部
の別の送信エレメントＴＥ１〜ＴＥｍを作動する。この
ようにしてビーム電磁界ＴＦ０〜ＴＦｍが、わん曲され
た光導体ＬＷ１〜ＬＷｎの入力結合区間ＴＣ１〜ＴＣｎ
を、その都度に、それらの破線で示されただ円で示され
ている光スポットＬＦ０〜ＬＦｍにより歩進的に相次い
で照射する。この場合、全部の送信ビーム電磁界例えば
平行に配向されている。そのため例えばそれらの時間的
に相次いで行なわれる等しい時間間隔での“点火”の際
に、その結果生ずる光スポットが線に沿って例えば下か
ら（入力結合区間ＴＣ１から始まって）上へ（入力結合
区間ＴＣｎ）進行する。

【００２１】光スポットＬＦ０〜ＬＦｍはその都度の入
力結合区間ＴＣ１〜ＴＣｎに沿って、その都度に例えば
光導体ＬＷ１〜ＬＷｎの長手軸の方向への軸方向の伸び
を有する。これは光導体帯状体の厚さの少なくとも半分
に等しく選定される（即ち通常は少なくとも２００μ
ｍ）。測定されるべき光導体ＬＷ１〜ＬＷｎの長手方向
を横切る方向の幅は、２つの隣り合う光導体の長手軸の
間隔よりも小さく選定されている。これにより保証され
ることは、各々の光スポットＬＦ０〜ＬＦｍが、その都
度に、光導体ＬＷ１〜ＬＷｎの１つの中へだけ光を入力
結合し、複数個の光導体の中へはそうしないことであ
る。そのため各々の送信エレメントＴＥ０〜ＴＥｍは光
スポットＬＦ０〜ＬＦｍを発生する。これは光導体ＬＷ
１〜ＬＷｎのうちの所定の光導体へ一義的に配属されて
いる。光導体ＬＷ１〜ＬＷｎの光学的伝送特性量を選択
的に測定するためには、制御装置ＡＡＳＶ１が送信エレ
メントＴＥ０〜ＴＥｍのチェーンを１回作動するだけで
十分である。広い範囲の一層正確な測定のために、制御
装置ＡＳＶ１が、複数回じゅん回する“光チェーン”を
トリガすると好適である。好適に、制御装置ＡＳＶ１が
各々のじゅん回を、例えば相応の大きさの休止によりま
たは特別な信号により、識別できる。

【００２２】帯状体ＢＬ１の内部の光導体ＬＷ１〜ＬＷ
ｎの数および、送信エレメントＴＥ０〜ＴＥｍの数に関
して、次の関係があり得る：ａ）ｍ＞ｎｂ）ｍ＝ｎｃ）ｍ＜ｎ図２の実施例の場合はａ）が示されている、即ち光導体
ＬＷ１〜ＬＷｎよりも多くの送信エレメントＴＥ０〜Ｔ
Ｅｍが設けられている（ｍ＞ｎ）。この適用例に対して
前提されているのは、それぞれ３つの相続く送信エレメ
ントが１つの光導体に配属されていることである。例え
ば送信エレメントＴＥ０，ＴＥ１およびＴＥ２が光導体
ＬＷ１へ配属されている。即ち送信エレメントＴＥ０〜
ＴＥ２から発生されるビームＴＦ０〜ＴＦ２が、光スポ
ットＬＦ０〜ＬＦ２−これらにより光導体ＬＷ１の中に
唯１つの入力結合が行なわれるように、空間的に設けら
れている−を発生する。他方、次に隣り合う光導体ＬＷ
２は送信エレメントＴＥ１およびＴＥ２のビーム電磁界
により照射されない。送信エレメントＴＥ０〜ＴＥ２の
多少異なる空間的配置にもとづき、所属の光スポットＬ
Ｆ０〜ＬＦ２（ビーム電磁界ＴＦ０〜ＴＦ２により発生
された）は実際に当然多少は事なる；しかしこれらは互
いに大部分で重なり合う。そのため光導体ＬＷ１の結合
区間の領域において、これらの３つのビーム電磁界ＴＦ
０〜ＴＦ２に実質的に共通である唯１つの光スポットＬ
Ｆ０が形成されている。実際に存在する異なる個別の光
スポットの空間のずれは、入力結合がビーム電磁界ＴＦ
０〜ＴＦ２にもとづいて隣り合う次の光導体ＬＷ２へ行
なわれない限り、ますます大きくなる。送信エレメン
トｍの数を式ｍ＝ｋｎにより選定すると好適である。た
だしｋは整数である。この実施例の場合はｋ＝３に選定
されている。即ちその都度に３つの送信エレメント（例
えばＴＦ０〜ＴＦ２）が１つの光導体（例えばＬＷ１）
を照射する。

【００２３】送信エレメントの数を大きく選定するほ
ど、達せられる解像度がそれだけ大きくなる。他方、送
信エレメントの数が増加すると、送信側での費用も増加
し、そのためその数を不必要に大きく選定してはならな
い。

【００２４】本発明の範囲内で、個々の光導体にそれぞ
れ異なる個数の送信エレメントを、ないしこれから導出
されるビーム電磁界を配属することも可能である。例え
ば次の構成も可能である。即ち光導体ＬＷ１に送信エレ
メントＴＥ０〜ＴＥ２（したがってビーム電磁界ＴＦ０
〜ＴＦ２）を配属し、他方、次の光導体ＬＷ２が例えば
後続の４つの送信エレメントのビーム電磁界により、照
射される。そのため“じゅん回”の際に第１の光導体に
おいて３つの受信信号が受信され、第２の光導体ＬＷ２
において４つの受信信号が受信されて、評価のために準
備処理されることになる。しかしいずれの場合も注目す
べきことは、個々の光導体への送信エレメントの配属は
一義的にかつ再生産可能で持続するということである。

【００２５】相応に高い送信側での局所解像度の場合、
即ち例えばｍ＞＞ｎの場合、最終的に正確な一義的な、
送信ビーム電磁界ＴＦ０〜ＴＦｍの、わん曲して走行す
る光導体ＬＷ１〜ＬＷｎの入力結合区間ＴＣ１〜ＴＣｎ
への配属は、もはや必要とされない。

【００２６】ｂ）の場合は即ちｍ＝ｎでは、本発明の実
施例においてそれぞれ１つの送信エレメントだけが正確
に１つの光導体導体へ配属されることになる。即ちそれ
ぞれ破線で示された送信ビーム電磁界が省略できること
になる。光導体ＬＷ１に対してこのことが意味すること
は、送信エレメントＴＥ０と送信エレメントＴＥ２が省
略され、それに応じて破線で示されたビーム電磁界ＴＦ
０とＴＦ２も省略される。その都度に送信エレメントの
ビーム電磁界（例えばＴＥ１）が正確に１つの光導体
（例えばＬＷ１）を照射する。この場合に−光導体に関
してビーム電磁界による“照射”に関してもはや冗長が
生じないため−一義的な確実な測定を実施可能にする目
的で、送信エレメントの配属および配向はできるだけ正
確に実施する必要がある。

【００２７】ｃ）の場合は、即ち送信エレメントの数が
光導体の数よりも多く（ｍ＜ｎ）選定されている場合
は、その作用および所属の背景を用いて図３と図５を用
いて説明する。送信側における測定信号のこの種の入力
結合は図２に関連づけて次のようにも行なえる。即ち送
信エレメント（例えばＴＥ２）を、これにより発生され
るビーム電磁界が、光導体ＬＷ１へも光導体ＬＷ２へも
入射するように、設計されている。次に測定信号の評価
は選択的に受信器で行なわれる、即ち例えば相続く１０
個の送信パルスの場合は、相次いで次に隣り合う、光導
体ＬＷ１からの５つの受信信号が評価され、続いて光導
体ＬＷ２からの次の５つの受信信号が評価される。

【００２８】送信側の結合状態を有利に次のように改善
できる。即ち光送信器ＯＴ１における送信エレメントＴ
Ｅ０〜ＴＥｍと光導体ＬＷ１〜ＬＷｎとの間に、補助手
段を例えばレンズまたは光導体を介在接続する。図１に
おいて例えば光学レンズＡＯが破線で示されている。こ
の構成により有利に、送信エレメントＴＥ０〜ＴＥｍと
光導体ＬＷ１〜ＬＷｎの入力結合区間ＴＣ１〜ＴＣｎが
監視できる。この距離は、送信エレメントＴＥ０〜ＴＥ
ｍを囲むケーシングにより設けられる。光学的補助手段
が直接“点火”された送信ビーム電磁界ＴＦ０−ＴＦｍ
を入力結合区間ＴＣ１−ＴＣｎへ結像する。

【００２９】隣り合うビーム電磁界ＴＦ０〜ＴＦｍの不
所望の過結合を阻止する目的で、送信エレメントＴＥ０
〜ＴＥｍとそれらの送信ビーム電磁界ＴＦ０〜ＴＦｍと
の間に好適に側面絞りを挿入できる。

【００３０】図１において、測定されるべき光導体ＬＷ
１〜ＬＷｎにより、入力結合される測定信号Ｉ０〜Ｉｍ
が、多重スプライス装置ＭＳ１を介して受信側へ走行す
る。それらの一部が第２の結合装置ＫＶ２（ＫＶ１と同
様に構成されている）において、光受信器ＯＲ１から、
第２のわん曲結合器ＢＫ２を用いて、例えば接線方向へ
出力結合される。この目的で、案内溝ＦＮ２における第
２の帯線ＢＬ２の光導体ＬＷ１＊〜ＬＷｎ＊が、シリン
ダＺＴ２を中心として送信側と同様にわん曲して巻回さ
れる。これにより受信ビーム電磁界ＲＦ０〜ＲＦｍがそ
れぞれ、わん曲して案内された光導体ＬＷ１〜ＬＷｎに
沿ってわん曲結合器ＢＫ２の結合領域から現われる。送
信エレメントＴＥ０〜ＴＥｍはこの実施例において時間
的に相次いで作動される。そのためビーム領域ＲＦ０〜
ＲＦｍが相応の時間順序で現われる。そのためこれらの
ビーム領域は時間的に相次いで即ちシーケンシャルに、
１つの共通の光感エレメントＧＬＥにより完全に検出さ
れ、これによりそれぞれ電気測定信号ＤＳ２へ変換さ
れ、さらに信号線路ＤＬ２を介して、評価装置ＡＥ１の
ディジタル化素子ＳＵＨへ伝送される。ＳＵＨは、時間
的に相次いで到来する電気測定信号ＤＳ２の検出走査と
ディジタル化を短かい時間間隔で実施して、さらにこの
ディジタル化された測定信号ＤＳ３を、線路ＤＬ３を介
して、評価装置ＡＥ１の測定値メモリＭＥＭへ伝送す
る。この測定値メモリＭＥＭから、ディジタル化された
測定データが線路ＤＬ５を介して、信号ＤＳ５として、
評価装置ＡＥ１の表示装置ＤＳＰ１へ例えばディスプレ
ーへ転送されここで必要に応じて表示される。

【００３１】測定されるべき光導体ＬＷ１〜ＬＷｎの、
出力側で手入れのできる開いた端面を介しての受信ビー
ム電磁界からの出力結合は、測定信号Ｉ１〜Ｉｍの評価
のために可能でもある。わん曲結合器ＢＫ２は、光学的
受信器ＯＲ１のその他のコンポーネントが上述のように
動作する時は、省略される。

【００３２】受信ビーム電磁界の選択的な異なる検出の
ために、唯１つの大きい面積の受信エレメントＧＬＥ
を、測定されるべき全部の光導体に対して共通に設ける
ことで完全に十分である。しかし共通のエレメントＧＬ
Ｅではなく、複数個の受信エレメントを例えば線状にま
たは配列体の形式で取り付けることも有利である。受信
エレメントとして例えば従来のフォトダイオード、ＣＣ
Ｄエレメント、ダイオード配列体、ＣＩＤエレメント、
ダイオード線状体等も適している。

【００３３】表示装置ＤＳＰ１における瞬時の検出が時
間軸ｔにわたり、強度−ないし出力分布Ｉを示す。これ
は、送信エレメントＴＥ０〜ＴＥｍの図２からの、ビー
ム電磁界ＴＦ０のシーケンシャルな入力結合の場合のよ
うに生ずる。光入力結合は光導体ＬＷ１で始まり光導体
ＬＷｎで終る。ただしｎ＝７である。

【００３４】図２に示されているｍ＝ｋ・ｎ（ｋ＝３に
選定されている）の場合は、可能な出力分布Ｉが時間ｔ
に依存して表示装置ＤＳＰ１に表示されている。図２に
おいてそれぞれ３つの送信エレメントが１つの光導体へ
配属されているため、図１の送信エレメントＳＺのチェ
ーンが１回“光チェーン”のように走行される時は、全
部で７つの光導体の各々に対して全部で３つの受信信号
が生ずる。この場合、これらの受信信号に対して、送信
信号に対するのと同じ指標が用いられる。即ち離散的な
受信値ＣＩ０が送信エレメントＴＥ０の送信信号に相応
し、受信信号ＣＩ１が送信エレメントＴＥ１に相応し、
さらに受信信号ＣＩ２が送信エレメントＴＥ２の送信信
号に相応する。設けられている全部で７つの光導体に応
じて、それぞれ３つの離散的な測定値を有する７つのス
リーブ端部ＥＨ１〜ＥＨ７が形成される。この場合、こ
れらの入力スリーブ端部はＭ１〜Ｍ７で示されている。
所定の時間休止の後に、再び第１の光導体ＬＷ１から始
まる次の測定が後続する。所属の入力スリーブ端部はＥ
Ｈ１＊でおよび所属の最大値はＭ１＊で示されている。

【００３５】以下で前提とされていることは、図２にお
ける全部の送信エレメントＴＥ０〜ＴＥｍが同じ送信レ
ベルを送出することである。それぞれ１つの光導体に配
属されている個々の光スポットが空間的に正確に等しく
配向されているならば（即ち正確に重なるならば）、光
導体に対して、それぞれ相続いて３つの互いに等しい大
きさの受信信号が与えられる。しかしこの配向は、個々
の送信エレメントの異なる空間的配置のために実際には
実現されない。そのため受信側で、それぞれ１つの光導
体に配属されている３つの送信エレメントに対して、異
なる受信レベルが得られる。そのため、光導体ＬＷ１に
配属されているスリーブＥＨ１の内部で、受信信号ＣＩ
０〜ＣＩ２のうち受信信号ＣＩ０（ＴＥ０から到来す
る）が著しく小さく、他方、受信信号ＣＩ１（ＴＥ１か
ら到来する）は著しく大きく、受信信号ＣＩ２（ＴＥ２
から到来する）は最も大きい。そのため３つの前述の送
信エレメントＴＥ０〜ＴＥ２の光スポットの配属に関し
て、送信エレメントＴＥ２の光スポットは最も高い結合
係数で入力結合される。この場合、２つの方法が存在す
る。即ち１つは（光導体帯状体ＢＬ１の内部で光導体の
理想的な配向の場合）送信エレメントＴＥ０〜ＴＥ２の
配向が光導体ＬＷ１に関して理想的でない。帯状体ＢＬ
１における光導体の理想的でない配置の場合、スリーブ
端ＥＨ１により与えられる、測定信号ＣＩ０〜ＣＩ２の
経過から推定されることは、光導体ＬＷ１が図１に示さ
れているその理想的な位置から、帯状体ＢＬ１において
多少上方へずらされて存在する。このことは次のことを
意味する。即ち送信線状体ＳＺの内部での著しく正確に
（即ち等しい間隔で）行なわれた送信エレメントＴＥ０
〜ＴＥｍの配置の場合、測定された個々の受信信号にも
とづいて、各々の光導体毎に、帯状体ＢＬ１の内部のそ
の光導体の正確なまたは正確でない位置定めに関する情
報が形成できることである。このことは当然、光導体よ
りも多くの送信エレメントが設けられていることを、即
ちｍ＝ｋｎ，ｋ＞１の整数であることを、前提とする。
そのため形成された時間的分解能（“光チェーン”の形
式で送信エレメントＴＥ０〜ＴＥｍの相次いでの作動
化）により、実際に、送信側の局所非依性がビーム電磁
界ＴＦ０〜ＴＦｍに関して、光導体に関連づけて得られ
る。即ちビーム電磁界は実質的に任意に選定可能であ
り、特別な光導体ファイバの心への特別な空間的配属の
中に存在させる必要がない。後者は実際の作動におい
て、光導体ファイバの心の位置に関しての回避されない
許容誤差のため、ほとんど可能でない。この場合に重要
なことは、前述のように常にｋが１よりも著しく大きく
例えば３と６の間に選定されていることである。受信側
の時間的分解能は、送信側の、“光チェーン”の走行に
もとづいて、光導体ファイバの心の空間位置に関する局
所分解能に相応する。わん曲して走行する光導体の入力
結合区間への、送信ビーム電磁界の送信側の正確な一義
的な配向ないし配属は、そのため、もはや必要とされな
い。何故ならば局所的な出力分布Ｉから、送信側の入力
結合状態に関して前もって知らなくても、後から多数の
情報が得られる。そのため各々の個々の光導体へ多くの
情報が例えばその局所位置、その伝送特性量等が一義的
に選択的に得られる。例えば導体分布Ｉの局所的最大値
（Ｍ１−Ｍ７）が、ｎ＝７の場合が光導体ＬＷ１−ＬＷ
ｎの心の位置を実質的に識別する。これにより個々のフ
ァイバ心の数と正確な位置の自動的な識別も可能であ
る。このことは、それぞれの帯状体の多ファイバ構成体
の内部でのファイバの任意の配置に対しても、当てはま
る。光導体ファイバの心の位置の“微細な分解能”のほ
かに、本発明によりさらに、多重スプライス装置ＭＳ１
の領域におけるファイバ端部の配向の品質も判定でき
る。例えば同一の送信レベルのかつ理想的な入力結合と
いう簡単な前提の場合、スリーブ端部ＥＨ１，ＥＨ２お
よびＥＨ３の経過が、所属の光導体対ＬＷ１／ＬＷ１
＊、ＬＷ２／ＬＷ２＊およびＬＷ３／ＬＷ３＊が著しく
良好に互いに配向されていることを示す。同様のこと
が、光導体組み合わせＬＷ５／ＬＷ５＊を有するスリー
ブ端部ＥＨ５に対して、および光導体組み合わせＬＷ７
／ＬＷ７を有するスリーブ端部ＥＨ７に関しても当ては
まる。そのためスリーブ端部ＥＨ１，ＥＨ２，ＥＨ３，
ＥＨ５およびＥＨ７の最大値Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３，Ｍ５お
よびＭ７は、受け入れられるスプライス結果に対する基
準として設定できる許容値ないし限界値を上回わる。

【００３６】他方、光導体組み合わせＬＷ４／ＬＷ４＊
（スリーブ端部ＥＨ４により表わされる）およびＬＷ６
／ＬＷ６＊（スリーブ端部ＥＨ６により表わされる）
が、多重スプライス装置ＭＳ１の内部の著しく欠かんの
ある配向を示す。そのため操作者に対して表示装置ＤＳ
Ｐ１の観察にもとづいて、そのまま、次のことを判定可
能になる。即ちスプライス装置ＭＳ１の内部での追従調
整を実施すべきか否か、既に行なわれたスプライス（例
えば溶接により）が不良品質のために新たに実施すべき
か否か−何故ならば例えば最大値Ｍ４およびＭ６を有す
るスリーブ端部が所定の許容値を下回わるから−を判定
可能となる。送信側の光入力結合の、および受信側の出
力結合の効率が、通常は、個々の光導体に対して異なり
さらに既知ではない。そのため互いに対向する光導体の
配向に関する通報は、通常は直接は著しく困難である
か、または全く不可能である。受信された強さレベル
（送信側の入力結合）の同等の観察の下に、光導体の端
部を変位させることにより、当然、光導体端部の配向に
関する情報を得ることができる。このことは相対測定に
相応する。

【００３７】この理由にもとづいて、図１の送信器と受
信器をおよび図２、図５の相応の実施例において、次の
ように構成すると好適である。即ちその送信出力とその
受信感度を、測定装置ＭＥが、ファイバ帯状体中の、異
なるように着色された個々のファイバに対して即ち異な
る結合係数に対して動作するように設計する。

【００３８】これに伴なう、異なる光導体に対する異な
る入力結合効率および出力結合効率が、異なる入力レベ
ルを生ぜさせる。

【００３９】再度強調すると、ｍ＞ｎの時に特にｍ＞＞
ｎの時に装置は、帯状体構造体の中の個々のファイバの
正確な位置に依存することなく、および個々のファイバ
の数に依存することなく（このことはｍ＝ｎに対しては
即ち光導体の数＝送信エレメントの数の場合は当てはま
らない）動作する。

【００４０】このようにして装置は、個々の光導体の正
確な位置と数を自動的に識別可能になる。このことは例
えば図２の実施例のｍ＞＞ｎに対して、および図３、図
５の以下の実施例に対して当てはまる。

【００４１】他方、送信エレメントＴＥ０〜ＴＥｍの数
が光導体ＬＷ１〜ＬＷｎの数と等しく選定されている時
は、即ちｍ＝ｎの時は、各々の光導体毎にただ１つの測
定値が得られる。図２で説明された実施例と同様に、光
導体ＬＷ１に対して送信エレメントＴＥ０および送信エ
レメントＴＥ２を省略すると、送信エレメントＴＥ１だ
けが存在することによる。それに応じてこの送信エレメ
ントＴＥ１は光導体ＬＷ１＊に１つの受信信号だけもま
たは受信信号値ＣＩ１だけも発生できることになる。こ
の受信値ＣＩ１はこの実施例の場合、引き伸ばされた線
で示されていてＣＩ１が付されている。その他の光導体
に対してもこのことが同様に当てはまる。この場合それ
ぞれ、引き伸ばされた線で示された信号レベルが、この
１つのこの時に得られる測定値を表わす。この種の測定
に基づいて、多重スプライス装置ＭＳ１におけるスプラ
イス過程の品質の判定が可能である（即ち光導体ＬＷ４
／ＬＷ４＊およびＬＷ６／ＬＷ６＊は最適には配向され
ていないことがわかるであろう）。しかし帯状体中での
個々の光導体の、例えばその心の位置の判定は、例えば
対称性のまたは一層大きい許容偏差に関する判定は可能
でないかないし通報力がない。

【００４２】両方の帯線ＢＬ１およびＢＬ２は図１にお
ける多重スプライス装置ＭＳ１において、操作手段とし
ての２つの操作素子ＳＧ１およびＳＧ２を用いて互いに
相対的に変位されさらに互いに配向できる。このことを
操作者は、例えば図１に破線で示されている手動制御装
置を用いて手動で実施できる。手動制御装置Ｈ１を用い
て操作者は操作素子ＳＧ１を、制御信号ＳＳ１を制御線
路ＳＬ１を介して操作する。それと同様に手動制御装置
Ｈ２を用いて操作素子ＳＧ２が制御信号ＳＳ２を用いて
制御線路ＳＬ２を介して走行される。有利に計算ユニッ
トＣＰＵもこの配向過程を、次のようにして引き受ける
ことができる。即ち計算ユニットが、測定メモリＭＥＭ
の中に時間的に相次いでで走行する、強度分布全体Ｉに
対するデータ組ＤＳ３をサーチして、全部の最大値Ｍ１
〜Ｍ７が許容値を上回わるか否かを検出することにより
引き受ける。次に計算ユニットＣＰＵが変位過程をなら
びに入力結合サイクルを、次のようにして遮断する。即
ち計算ユニットが制御信号ＳＳ３を制御線路ＳＬ３を介
して制御装置ＡＳＶ１へ伝送し、このＡＳＶ１に、送信
エレメントＴＥ１〜ＴＥｍに対する多重作動を終了させ
ることを指令する。

【００４３】時分割多重法における測定装置ＭＥの作動
は既に説明された。しかし図１の測定装置ＭＥは付加的
にもまたは例えばこれに依存することなく別の方法で作
動できる。区別可能な送信信号を発生する目的で測定装
置ＭＥは光送信器ＯＴ１の中に変調装置ＭＯを付加され
る。この変調装置ＭＯは図１に破線で示されており、制
御装置ＡＳＶ１とは線路ＭＬを介して接続されている。
変調装置ＭＯは制御装置ＡＳＶ１を制御信号ＭＳにより
線路ＭＬを介して次のように制御する。即ちＭＬが同時
に複数個のまたは全部の送信エレメントＴＥ０〜ＴＥｍ
を制御信号ＡＳ０〜ＡＳｍを用いて作動する。この場
合、送信エレメントの送信ビーム電磁界は種々異なる変
調度ないし送信周波数により同時に（かつ時分割多重作
動においてではなく）、測定されるべき光導体ＬＷ１〜
ＬＷｎの中へ入力結合される。例えば各々の送信エレメ
ントＴＥ０〜ＴＥｍに固有の周波数または変調度を配属
できる、即ち図２の実施例の場合は２１の異なる周波数
または変調度が必要とされる。そのため全部の光導体の
受信エレメントＧＬＥにより同時に検出される信号は、
出力結合された光出力に応じて、異なる大きさの、送信
ダイオードの種々の周波数または変調度の成分を含む。
破線で示されたフィルタユニットまたは変調器ＦＵを用
いて、これらの成分から個々のレベルが得られる。次に
これらの個個々のレベルは個別に（選択的に）ディジタ
ル化ユニットＳＵＨへ導びかれ、前述の評価のように以
後の処理を受ける。異なる送信周波数の場合、ＦＵは例
えば相応の個数の異なるフィルタを含むことができる。
あるいは異なる変調度の場合は相応の変調度を含むこと
ができる。この方法は時分割だけの場合に比較して、全
部のファイバの測定値が同時に並列に利用できる利点を
有する。

【００４４】図３〜図５において、図１と図２からその
まま用いられたエレメントは、それぞれ同じ参照記号を
有する。図３〜図５は３つの別の構成を示す。例えば異
なる送信ビーム電磁界はそれぞれ、入力結合手段として
送信結合装置ＳＫ２〜ＳＫ４を用いて、測定されるべき
光導体の中へ入力結合される。

【００４５】図３において送信結合装置ＳＫ２の光送信
器ＯＴ３の中に唯１つの光源ＬＡ１が例えば１つのレー
ザが設けられている。このレーザは光ビームＬＩを、回
転軸線ＲＡを中心として回転するミラーＲＳへ導びかれ
る。ミラーの回転方向は図４において矢印ＲＶで示され
ている。回転するミラーＲＳは複数個の例えば１０〜６
０個の反射面ＲＦ１〜ＲＦｋを有する、即ち反射面の数
は、光導体の数よりも大きい。光ビームＬＩは図３にお
いて例えば反射面ＲＦｋへ入射し、さらにＲＦｋにより
その偏向されたビームＬＳ０により、光導体ＬＷ１の入
力結合区間ＴＣ１へ導びかれる。反射面ＲＦｋの回転運
動により、ＲＦｋの偏向角度ＡＳは、固定の光源ＬＡ１
に対して変化する。その結果、持続的に相次いで光導体
ＬＷ１〜ＬＷｎが光ビームＬＳ０〜ＬＳｍにより照射さ
れる。光ビームＬＩのビーム偏向により、旋回されたビ
ームＬＳ０〜ＬＳｍが面ＳＡを照射する。反射された光
ビームＬＳ０〜ＬＳｍの旋回運動が図３に矢印ＳＶによ
り示されている。

【００４６】ミラーＲＳの回転運動は好適に作動装置Ｂ
Ｖ１により制御される。回転運動に対する監視は作用矢
印ＷＰ１により示されている。作動装置ＢＶ１は制御装
置ＡＳＶ２を介して操作される。ＡＳＶ２は作動装置Ｂ
Ｖ１を信号ＤＳ７を用いて線路ＤＬ７を介して指示す
る。

【００４７】ビーム偏向装置として回転するミラーＲＳ
ではなく、可動のミラーも使用できる。この場合、好適
に周期的なリニヤな運動または回転運動が用いられる。
この目的で駆動エレメントとして例えば、固有振動スキ
ャナ（ねじれロッドスキャナ、ねじれ帯状体スキャ
ナ）、ガルバノメータスキャナおよび圧電スキャナが用
いられる。これらのエレメントは異なる作動周波数範囲
を有する。固有共振スキャナは固定の周波数を有する。
ガルバノメータスキャナの場合は、周波数は変化可能で
ある。これらのエレメントは、走査検出を可能とするオ
ッシログラムの構成が互いに異なる。障害を受けやすい
機械的なミラー運動は、有利に、偏向エレメントとして
の音響的／電子的光学的変調器の使用により、回避でき
る。

【００４８】図４は別の送信器ＯＴ４を示す。これによ
り時間的に相続く測定信号が、帯線ＢＬ１の光導体ＬＷ
１〜ＬＷｎの入力結合区間ＴＣ１〜ＴＣｎへ入力結合で
きる。この目的で操作装置ＢＶ２を用いて光源ＬＡ２が
矢印ＢＲ１の方向へ、位置固定の帯線ＢＬ１の、ないし
その光導体ＬＷ１〜ＬＷｎの長手軸を横切るように変位
される。操作装置ＢＶ２による光源ＬＡ２の変位が、図
４に作用矢印ＷＰ２により示されている。操作装置ＢＶ
２の制御を制御装置ＡＳＶ３が、制御信号ＤＳ８を用い
て制御線路ＤＬ８を介して引き受ける。光源ＬＡ２は例
えばレーザダイオードまたはＬＥＤエレメントが、矢印
ＢＲ１に沿う連続的な変位運動中に、継続的な時間的に
相続く光ビームＰＬＳ０〜ＰＬＳｍを、測定されるべき
光導体ＬＷ１〜ＬＷｎの入力結合区間ＴＣ１〜ＴＣｎの
中へ入力結合する。変位運動の終りにおける光源の位置
は図３に破線ＬＡ２＊で示されている。たわみ結合器Ｂ
Ｋ１における固定の帯線ＢＬ１に対する光源ＬＡ２の変
位運動ではなく、有利に、帯線ＢＬ１と光源ＬＡ２との
間の任意の相対運動も可能である。

【００４９】図５は、光送信器ＯＴ５を有する別の送信
結合装置ＳＫ４を示す。この光送信器に、光源ＬＡ３と
付加的な絞り装置ＢＬＶが配属されている。絞り装置Ｂ
ＬＶは絞りとしてないし開口として貫通スリット（スリ
ット絞り）ＳＨを有する。このＳＨはＢＲ２の方向へ帯
線ＢＬ１の（即ちその光導体ＬＷ１〜ＬＷｎの）長手軸
線を横切る方向へ変位される。この貫通スリットＳＨに
よりその都度に、光源ＬＡ３の大きい面積のビーム電磁
界ＢＡからの狭い光ビームＬＢだけが通過できる。図５
は例えば次の瞬間を示す、即ち光ビームＬＢが光導体Ｌ
Ｗ１の入力結合区間ＴＣ１を照射してこれに光を供給
し、他方、全部のその他の光導体ＬＷ２〜ＬＷｎは絞り
装置ＢＬＶにより遮光されている瞬間を示す。これにも
とづいてスリット絞りＳＨはその都度に時間的に相次い
で矢印ＢＲ２に沿って次のように変位されて位置定めさ
れる。即ち光ビームＬＢが連続的にその他の、検査され
るべき光導体ＬＷ２〜ＬＷｎの中へ選択的に入力結合さ
れるように、位置定めされる。絞り装置ＢＬＶは操作装
置ＢＶ３により制御信号ＤＳ１０を用いて制御線路ＤＬ
１０を介して操作される。操作装置ＢＶ３の制御は制御
装置ＡＳＶ４を用いて行なわれる。ＡＳＶ４は信号ＤＳ
９を線路ＤＬ９を介して操作装置ＢＶ３へ伝送する。

【００５０】絞り装置ＢＬＶは有利に可動のディスクと
して構成することもできる。このディスクは貫通スリッ
トを有し、適切な入力結合位置において回転される（チ
ョッパディスク）。絞り装置ＢＬＶにおける機械的絞り
ないし開口ではなく、電子的光学的絞りを絞けることも
できる。それに代えて例えばＤｉｓｐｌａｙｔｅｃｈ
社、ＢｏｕｌｄｅｒＣｏｌｏｒａｄｏ社のいわゆるＬ
ＣＳエレメント（液晶シャッタ）も適している。

【００５１】図１および図２に示された本発明による測
定装置により、および図３〜図５に示されたそれらの変
形された光送信器により、複数個の光導の光学的伝送特
性量を選択的に簡単にかつ同時に光導体毎の測定時間の
低減の下に、高い精度と感度で測定可能となる。図１お
よび図２に示された正確な選択のために送信エレメント
の数ｍは、測定されるべき光導体の数ｎの少なくとも１
倍に例えば２〜５倍にすると好適である。測定されるべ
き光導体への選択的光入力結合に対する最も有利な場合
は、図３〜図５の光送信結合装置ないし送信器に対して
得られる。ここではその都度に光ビームが、測定される
べき光導体を連続的に照射する。その結果、測定される
べき光導体の中での強度分布も連続的に検出され、その
ため特別に正確に測定できる。

【００５２】図１〜図５の場合、帯線へ入射する光スポ
ットの幅が、必ずしも各位置において光導体ファイバの
心の中へ入力結合はされないように選定することもでき
る。

【００５３】図１〜図５の実施例は例えば本発明を光導
体帯状体へ用いることを対象とする。もちろん本発明の
装置により、疎にまたはその他の方法で集束されて設け
られる複数個の光導体の光学的伝送量を測定することも
できる。この場合、測定されるべき光導体が任意にまた
は配置された構成で設けられているか否かは、これらの
光導体が互いにかげにされていない限り、問題とならな
い。

【００５４】図１〜図５に示された本発明による測定装
置を、ないし所属の測定方法を、測定されるべき光導体
へ自由に手入れのできる開いた端面へ送信側で入力結合
することもできる。この場合は図１〜図５に示された光
送信器ＯＴ１〜ＯＴ５におけるたわみ結合器ＢＫ１は省
略できる。そのため例えば図２に示された送信ビーム電
磁界ＴＦ０〜ＴＦｎは直接、図１に示された光導体ＬＷ
１〜ＬＷｎの開口端へ入力される。そのためこれらの開
口端面は、例えば図１のように、破線で示されたブロッ
クＯＴ１の右はじが光導体ＬＷ１〜ＬＷｎの接続線が横
幅の帯条体ＢＬ１と交差する個所に、設けられる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による測定装置の全体構成の部分斜視図
である。

【図２】図１の測定装置の送信側の詳細な構成図であ
る。

【図３】図１の光送信器の第１の変形実施例の拡大図で
ある。

【図４】図１の光送信器の第２の変形実施例の詳細図で
ある。

【図５】図１の光送信器の第３の実施例における送信状
態の説明図である。

【符号の説明】

ＳＫ送信結合装置ＯＴ１光送信器ＫＶ１結合装置ＭＳ１多重スプライス装置ＯＲ１光受信器ＡＥ１評価装置ＢＬ１〜ＢＬｎ帯線ＬＷ１〜ＬＷｎ光導体ＢＫ１たわみ結合器ＡＳＶ１制御装置ＡＳ０〜ＡＳｍ制御信号ＴＥ０〜ＴＥｍ送信エレメントＴＦ０〜ＴＦｍ送信ビーム電磁界ＴＣ１〜ＴＣｎ入力結合区間ＲＣ１〜ＲＣｎ出力結合区間ＭＥＭ測定値メモリＤＳＰ１表示装置ＡＥ１評価装置Ｉ１〜Ｉｍ測定信号

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者マンフレートロッホドイツ連邦共和国ミュンヘン 71 クノーテシュトラーセ 16 (72)発明者ゲルヴィンリューゲンベルクドイツ連邦共和国ミュンヘン 70 クリューナーシュトラーセ 100 ベー

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光送信器（ＯＴ１）を有し、該光送信器
は結合装置（ＫＶ１）を介してそれぞれ測定されるべき
光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）へ結合されており、ならびに
光受信器（ＯＲ１）を有し、該光受信器は少なくとも１
つの受信エレメント（ＧＬＥ）を有し、該受信エレメン
トに評価装置（ＡＥ１）が配属されている形式の、複数
個の光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）における測定装置（Ｍ
Ｅ）において、光送信器（ＯＴ１）が光導体（ＬＷ１〜
ＬＷｎ）に関して結合装置（ＫＶ１）の結合領域におい
て次のように配置されて構成されており、即ちそれぞれ
送信ビーム領域（ＴＦ０〜ＴＦｍ）がその光スポット
（ＬＦ０〜ＬＦｍ）により、光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）
の入力結合区間（ＴＣ１〜ＴＣｎ）にそれぞれ沿って、
この光導体の中へ区別可能に入力結合され、さらに光受
信器（ＯＲ１）の中に受信エレメント（ＧＬＥ）が次の
ように配向されて構成されており、即ち受信エレメント
が、測定されるべき光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）の受信ビ
ーム領域（ＲＦ０〜ＲＦｍ）を検出し、さらにこの検出
から、区別可能な測定信号（ＣＩ０〜ＣＩｍ）を発生
し、さらにこれらの測定信号が、受信エレメント（ＧＬ
Ｅ）に配属されている評価装置（ＡＥ１）において個別
に評価されることを特徴とする、光導体の測定装置。
【請求項２】結合装置（ＫＶ１）としてたわみ結合器
（ＢＫ１）が設けられており、該たわみ結合器におい
て、測定されるべき光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）がわん曲
されて案内されている、請求項１記載の装置。
【請求項３】光送信器（ＯＴ１）が光導体（ＬＷ１〜
ＬＷｎ）の開かれた端面へ結合されている、請求項１記
載の装置。
【請求項４】測定されるべき光導体（ＬＷ１〜ＬＷ
ｎ）が機械的に、例えば帯線（ＢＬ１，ＢＬ２）の形式
で互いに結合されている、請求項１から３までのいずれ
か１項記載の装置。
【請求項５】光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）が結合領域に
おいて任意に配置されている、請求項１から４までのい
ずれか１項記載の装置。
【請求項６】光送信器（ＯＴ１）が、測定されるべき
光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）の数よりも少ない数の送信エ
レメント（ＴＥ０〜ＴＥｍ）を有している、請求項１か
ら５までのいずれか１項記載の装置。
【請求項７】結合領域において、測定されるべき各々
の光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）に、固有の送信エレメント
（ＴＥ０〜ＴＥｍ）が正確に一義的に配属されている、
請求項１から５までのいずれか１項記載の装置。
【請求項８】結合領域において、測定されるべき光導
体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）に、測定されるべき光導体（ＬＷ
１〜ＬＷｎ）の数よりも多くの数の送信エレメント（Ｔ
Ｅ０〜ＴＥｍ）が配属されている、請求項１から５まで
のいずれか１項記載の装置。
【請求項９】送信エレメント（ＴＥ０〜ＴＥｍ）がラ
イン状構成体としてまたはアレイ構成体として配属され
ている、請求項１から８までのいずれか１項記載の装
置。
【請求項１０】光送信器（ＯＴ１）が次のように構成
されており、即ちその送信エレメント（ＴＥ０〜ＴＥ
ｍ）の少なくとも１つから、それぞれ送信ビーム電磁界
（ＴＦ０〜ＴＦｍ）がその光スポット（ＬＦ０〜ＬＦ
ｍ）により、測定されるべき光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）
のそれぞれの入力結合区間（ＴＣ１〜ＴＣｎ）に沿っ
て、これらの光導体の中に時間的に相次いで入力結合さ
れる、請求項１から９までのいずれか１項記載の装置。
【請求項１１】光送信器（ＯＴ１）の中に、送信エレ
メント（ＴＥ０〜ＴＥｍ）を時分割多重作動形式で制御
する制御装置が設けられている、請求項１０記載の装
置。
【請求項１２】入力結合手段が次のように設けられて
おり、即ち少なくとも１つの送信エレメント（例えばＴ
Ｅ０〜ＴＥｍ）の送信ビーム電磁界（例えばＴＦ０〜Ｔ
Ｆｍ）が、結合領域（ＢＫ１）において光導体（ＬＷ１
〜ＬＷｎ）の入力結合区間（ＴＣ０〜ＴＣｎ）をその光
スポットで時間的に相次いで照射する、請求項１０又は
１１記載の装置。
【請求項１３】送信ビーム電磁界（例えばＬＳ０）を
運動させるためのビーム偏向装置が設けられている、請
求項１０又は１２記載の装置。
【請求項１４】ビーム偏向装置として可動のミラー
（ＲＳ）が設けられている、請求項１３記載の装置。
【請求項１５】ビーム偏向装置として音響的／電気的
−光学的手段が、例えば音響的光学的変調器が設けられ
ている、請求項１３記載の装置。
【請求項１６】光送信器（ＯＴ１）の中に、測定され
るべき光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）に対して相対的に少な
くとも１つの送信エレメント（例えばＬＡ２）を運動さ
せるための操作装置（ＢＶ２）が次のように設けられて
おり、即ち光送信器の送信ビーム電磁界（例えばＰＬＳ
１）が、結合領域において、測定されるべき光導体（Ｌ
Ｗ１〜ＬＷｎ）の入力結合区間（ＴＣ１〜ＴＣｎ）を、
その光スポット（ＬＦ０〜ＬＦｍ）により時間的に相次
いでそれぞれ照射するように、設けられている、請求項
１から１２までのいずれか１項記載の装置。
【請求項１７】光送信器（ＯＴ１）において少なくと
も１つの送信エレメント（ＬＡ３）の送信ビーム電磁界
（ＢＬＶ）の中に絞り装置（ＢＬＶ）が設けられてお
り、さらに該絞り装置（ＢＬＶ）が開口を次のように有
し、即ち該開口をその都度に通過する、送信ビーム電磁
界（ＢＬＶ）の成分が、時間的に相次いで、測定される
べき光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）のそれぞれ一部分の中へ
だけ入力結合される、請求項１から１２までのいずれか
１項記載の装置。
【請求項１８】絞り装置（ＢＬＶ）において開口とし
て機械的に可動の貫通スリット（ＳＨ）が設けられてい
る、請求項１７記載の装置。
【請求項１９】絞り装置（ＢＬＶ）の中に電気的光学
的開口が設けられている、請求項１８記載の装置。
【請求項２０】光送信器（ＯＴ１）が次のように構成
されており、即ちその送信エレメント（ＴＥ０〜ＴＥ
ｍ）から種々異なる送信ビーム電磁界（ＴＦ０〜ＴＦ
ｍ）が、測定されるべき光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）の入
力結合区間（ＴＣ１〜ＴＣｎ）の中へ同時に入力結合さ
れる、請求項１から９までのいずれか１項記載の装置。
【請求項２１】光送信器（ＯＴ１）が、種々異なる送
信ビーム電磁界（ＴＦ０〜ＴＦｍ）を形成するために、
変調装置（ＭＯ）を有する、請求項１から２０までのい
ずれか１項記載の装置。
【請求項２２】光送信器（ＯＴ１）の送信エレメント
（ＴＥ１〜ＴＥｍ）と、結合領域における測定されるべ
き光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）との間に、結像用光学装置
（ＡＯ）が設けられている、請求項１から２１までのい
ずれか１項記載の装置。
【請求項２３】光スポットが、測定されるべき光導体
（例えばＬＷ１）のそれぞれの入力結合区間（ＴＣ１〜
ＴＣｎ）に沿って、光導体帯状体（ＢＬ１）の厚さの少
なくとも半分の長さを有する、請求項１から２２までの
いずれか１項記載の装置。
【請求項２４】結合領域における光スポット（ＬＦ０
〜ＬＦｍ）が、測定されるべき光導体（ＬＷ１〜ＬＷ
ｎ）の入力結合区間に沿って、２つの隣り合う光導体の
軸の間隔に相応する横幅を、最長の寸法として有する、
請求項１から２３までのいずれか１項記載の装置。
【請求項２５】光送信器（ＯＴ１）の中に送信エレメ
ント（ＴＥ０〜ＴＥｍ）として発光ダイオードが設けら
れている、請求項１から２４までのいずれか１項記載の
装置。
【請求項２６】光送信器（ＯＴ１）の中に送信エレメ
ント（ＬＡ１）としてレーザが設けられている、請求項
１から２４までのいずれか１項記載の装置。
【請求項２７】側面絞り（ＢＤ１〜ＢＤｎ）が設けら
れており、これらが、隣り合う送信ビーム電磁界（ＴＦ
０〜ＴＦｍ）を減結合させるように設けられている、請
求項１から２６までのいずれか１項記載の装置。
【請求項２８】測定されるべき光導体（ＬＷ１〜ＬＷ
ｎ／ＬＷ１＊〜ＬＷｎ＊）を配向するための操作素子
（ＳＧ１，ＳＧ２）が多重スプライス装置（ＭＳ１）の
中に設けられている、請求項１から２７までのいずれか
１項記載の装置。
【請求項２９】評価装置（ＡＥ１）の中に計算ユニッ
ト（ＣＰＵ）ならびに測定値メモリ（ＭＥＭ）が設けら
れており、該計算ユニット（ＣＰＵ）は、これらが、少
なくとも１つの受信エレメント（ＧＬＥ）から検出され
る測定信号（ＤＳ２）を次のように互いに作用結合する
ように構成されている、即ち測定されるべき光導体（Ｌ
Ｗ１〜ＬＷｎ）に所属する光学的伝送特性量が選択的に
評価されるように構成されている、請求項１から２８ま
でのいずれか１項記載の装置。
【請求項３０】評価装置（ＡＥ１）の中に、発生され
た測定信号（ＣＩ０〜ＣＩｍ）のための表示装置（ＤＳ
Ｐ１）が設けられている、請求項１から２９までのいず
れか１項記載の装置。
【請求項３１】装置（ＭＥ）が、光導体スプライス装
置の構成部材である、請求項１から３０までのいずれか
１項記載の装置。
【請求項３２】装置（ＭＥ）が、光導体減衰測定装置
の構成部材である、請求項１から３０までのいずれか１
項記載の装置。
【請求項３３】光送信器（ＯＴ１）が測定信号を、測
定されるべき光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）へ入力結合する
ために接続され、入力結合された測定信号が光受信器
（ＯＲ１）において少なくとも１つの受信エレメント
（ＧＬＥ）を用いて出力結合して取り出し、該出力結合
された測定信号（ＤＳ２）が所定の評価装置（ＡＥ１）
において評価される形式の、光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）
の光学的伝送特性量の測定法において、光送信器（ＯＴ
１）においてそれぞれ送信ビーム電磁界（ＴＦ０〜ＴＦ
ｍ）をその光スポット（ＬＦ０〜ＬＦｍ）により、光導
体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）のそれぞれ入力結合区間（ＴＣ１
〜ＴＣｎ）に沿ってこれらの光導体の中へ異なるように
入力結合し、さらに光受信器（ＯＲ１）において、測定
されるべき光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）の受信ビーム電磁
界（ＲＦ０〜ＲＦｍ）を受信エレメント（ＧＬＥ）を用
いて検出し、さらにこれから、異なる測定信号（ＣＩ０
〜ＣＩｍ）を発生し、該測定信号を、受信エレメント
（ＧＬＥ）に所属する評価装置（ＡＥ１）において個別
に評価することを特徴とする、光導体の光学的伝送特性
量の測定法。
【請求項３４】結合装置（ＫＶ１）として設けられて
いるたわみ結合器（ＢＫ１）において、測定されるべき
光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）がわん曲されて導びかれてい
る、請求項３３記載の方法。
【請求項３５】光送信器（ＯＴ１）を光導体（ＬＷ１
〜ＬＷｎ）の開放端面へ結合する、請求項３３記載の方
法。
【請求項３６】送信ビーム電磁界（ＴＦ０〜ＴＦｍ）
を、測定されるべき光導体（ＬＷ１〜ＬＷｎ）の入力結
合区間の中へ、時間的に相次いで入力結合する、請求項
３３から３５までのいずれか１項記載の方法。
【請求項３７】送信ビーム電磁界（ＴＦ０〜ＴＦｎ）
を異なる信号により変調する、請求項３３から３６まで
のいずれか１項記載の方法。
【請求項３８】送信ビーム電磁界(ＴＦ０〜ＴＦｎ)
を、測定されるべき光導体(ＬＷ１〜ＬＷｎ)の中へ同時
に入力結合する、請求項３７記載の方法。
【請求項３９】送信ビーム電磁界（ＴＦ０〜ＴＦｍ）
として、異なる周波数を有する送信ビーム電磁界を用い
る、請求項３３から３７までのいずれか１項記載の方
法。