JPH0618622A - Ｉｃの試験装置 - Google Patents
Ｉｃの試験装置Info
- Publication number
- JPH0618622A JPH0618622A JP17406292A JP17406292A JPH0618622A JP H0618622 A JPH0618622 A JP H0618622A JP 17406292 A JP17406292 A JP 17406292A JP 17406292 A JP17406292 A JP 17406292A JP H0618622 A JPH0618622 A JP H0618622A
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- Japan
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- contactor
- pusher
- slider
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＩＣリ−ドなどの表面に付着した金属酸化膜
などの付着物の層を簡単に突き破って、ＩＣリ−ドとコ
ンタクタとの良好な電気的接触を可能にするとともに、
ＩＣソケットのコンタクタの寿命を可能な限り延ばすこ
とを可能にしたＩＣの試験装置を提供する。 【構成】 プッシャー５に取り付けられたスライダー７
に、ＩＣリード２若しくはＩＣソケット３に付着した金
属酸化膜などの付着物の層を突き破るための衝撃を与え
る加速手段を設ける。この加速手段は板カム部８と、内
部に鋼球１０ａと、この鋼球１０ａをスライダー７の側
面部に押し付けている圧縮コイルばね１０ｂとを備え、
動かないように固定されたブロック１０とから構成す
る。
などの付着物の層を簡単に突き破って、ＩＣリ−ドとコ
ンタクタとの良好な電気的接触を可能にするとともに、
ＩＣソケットのコンタクタの寿命を可能な限り延ばすこ
とを可能にしたＩＣの試験装置を提供する。 【構成】 プッシャー５に取り付けられたスライダー７
に、ＩＣリード２若しくはＩＣソケット３に付着した金
属酸化膜などの付着物の層を突き破るための衝撃を与え
る加速手段を設ける。この加速手段は板カム部８と、内
部に鋼球１０ａと、この鋼球１０ａをスライダー７の側
面部に押し付けている圧縮コイルばね１０ｂとを備え、
動かないように固定されたブロック１０とから構成す
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ＩＣの電気的特性を
試験するためのＩＣの試験装置に関する。
試験するためのＩＣの試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４〜図７は、従来のＩＣの試験装置の
一例を示したものであり、図において、符号１はＩＣ、
２はこのＩＣ１の縁端部に突設されたリ−ド（以下、Ｉ
Ｃリードという）、３は絶縁材からなるＩＣソケット、
４はこのＩＣソケット３の中にＩＣリード２の配列ピッ
チに合わせて突設された接触子（以下、コンタクタとい
う）、５はＩＣリ−ド２を上から押し付けてコンタクタ
４に電気的に接触させるプッシャー、６はプッシャ−５
を上下方向に駆動させるアクチュエーターである。
一例を示したものであり、図において、符号１はＩＣ、
２はこのＩＣ１の縁端部に突設されたリ−ド（以下、Ｉ
Ｃリードという）、３は絶縁材からなるＩＣソケット、
４はこのＩＣソケット３の中にＩＣリード２の配列ピッ
チに合わせて突設された接触子（以下、コンタクタとい
う）、５はＩＣリ−ド２を上から押し付けてコンタクタ
４に電気的に接触させるプッシャー、６はプッシャ−５
を上下方向に駆動させるアクチュエーターである。
【０００３】このような構成において、搬送手段（図示
せず）によってＩＣソケット３の上に搬送され、位置決
めされたＩＣ１は、プッシャー５によってＩＣリ−ド２
が下方に押し付けられることによってＩＣソケット３の
中に収納され、かつ、ＩＣリ−ド２がコンタクタ４に電
気的に接触させられる。
せず）によってＩＣソケット３の上に搬送され、位置決
めされたＩＣ１は、プッシャー５によってＩＣリ−ド２
が下方に押し付けられることによってＩＣソケット３の
中に収納され、かつ、ＩＣリ−ド２がコンタクタ４に電
気的に接触させられる。
【０００４】この一連の動作は、ＩＣリード２がコンタ
クタ４に接触した状態を経て（図５参照）コンタクタ４
が押し付けられるに至るまで（図６参照）、ＩＣリ−ド
２とコンタクタ４とが位置ずれを起こさないように、し
かも、ＩＣリード２が変形したりしないようにきわめて
ゆっくりとした速度で行われる。
クタ４に接触した状態を経て（図５参照）コンタクタ４
が押し付けられるに至るまで（図６参照）、ＩＣリ−ド
２とコンタクタ４とが位置ずれを起こさないように、し
かも、ＩＣリード２が変形したりしないようにきわめて
ゆっくりとした速度で行われる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来のＩＣの試験装置
は以上のように構成されているので、図７に示すように
ＩＣリ−ド２の表面に金属酸化膜などの付着物が付着し
ていたりすると、コンタクタ４がこれらの付着物の層６
を突き破ることができず、このため、ＩＣリ−ド２とコ
ンタクタ４との正常な電気的接触が妨げられ、ＩＣの電
気的特性に関する種々の試験を正確に行うことができな
いという課題があった。
は以上のように構成されているので、図７に示すように
ＩＣリ−ド２の表面に金属酸化膜などの付着物が付着し
ていたりすると、コンタクタ４がこれらの付着物の層６
を突き破ることができず、このため、ＩＣリ−ド２とコ
ンタクタ４との正常な電気的接触が妨げられ、ＩＣの電
気的特性に関する種々の試験を正確に行うことができな
いという課題があった。
【０００６】また、同じコンタクタ４を繰り返し使用す
ると、ＩＣリ−ド２の表面に付着した付着物がコンタク
タ４の表面に付着し、さらに、この付着物が表面状態の
よいＩＣリード２にも付着してしまい、良好な電気的接
触を妨げるという課題があった。この発明は、上記の課
題を解決するためになされたもので、ＩＣリ−ドなどの
表面に金属酸化膜などの付着物が付着して表面状態が悪
くても、この付着物の層を簡単に突き破って、ＩＣリ−
ドとコンタクタとの良好な電気的接触を可能にするとと
もに、ＩＣソケットのコンタクタの寿命を可能な限り延
ばすことを可能にしたＩＣの試験装置を提供することを
目的とする。
ると、ＩＣリ−ド２の表面に付着した付着物がコンタク
タ４の表面に付着し、さらに、この付着物が表面状態の
よいＩＣリード２にも付着してしまい、良好な電気的接
触を妨げるという課題があった。この発明は、上記の課
題を解決するためになされたもので、ＩＣリ−ドなどの
表面に金属酸化膜などの付着物が付着して表面状態が悪
くても、この付着物の層を簡単に突き破って、ＩＣリ−
ドとコンタクタとの良好な電気的接触を可能にするとと
もに、ＩＣソケットのコンタクタの寿命を可能な限り延
ばすことを可能にしたＩＣの試験装置を提供することを
目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明に係る請求項第
１項記載のＩＣの試験装置は、プッシャーに取り付けら
れたスライダーに、ＩＣのリード若しくはＩＣソケット
の接触子に付着した付着物の層を突き破るための衝撃を
与える加速手段を設けることにより構成されている。
１項記載のＩＣの試験装置は、プッシャーに取り付けら
れたスライダーに、ＩＣのリード若しくはＩＣソケット
の接触子に付着した付着物の層を突き破るための衝撃を
与える加速手段を設けることにより構成されている。
【０００８】この発明に係る請求項第２項記載のＩＣの
試験装置は、プッシャーに取り付けられたスライダー
に、ＩＣのリード若しくはＩＣソケットの接触子に付着
した付着物の層を突き破るための衝撃を与える振動手段
を設けることにより構成されている。
試験装置は、プッシャーに取り付けられたスライダー
に、ＩＣのリード若しくはＩＣソケットの接触子に付着
した付着物の層を突き破るための衝撃を与える振動手段
を設けることにより構成されている。
【０００９】
【作用】この発明に係る請求項第１項記載のＩＣの試験
装置においては、プッシャーの押し付け方向の最終動作
が急激に加速されることにより、ＩＣリ−ドとコンタク
タ４間に衝撃が加えられ、この衝撃によってＩＣリード
などの表面に付着した付着物の層が簡単に破られ、ＩＣ
リードとコンタクタとの良好な電気的接触が可能にな
る。
装置においては、プッシャーの押し付け方向の最終動作
が急激に加速されることにより、ＩＣリ−ドとコンタク
タ４間に衝撃が加えられ、この衝撃によってＩＣリード
などの表面に付着した付着物の層が簡単に破られ、ＩＣ
リードとコンタクタとの良好な電気的接触が可能にな
る。
【００１０】この発明に係る請求項第２項記載のＩＣの
試験装置においては、プッシャーの押し付け方向の最終
動作に振動が加えられることにより、ＩＣリ−ドとコン
タクタ間に衝撃が加えられ、この衝撃によってＩＣリー
ドなどの表面に付着した付着物の層が簡単に破られ、Ｉ
Ｃリードとコンタクタとの良好な電気的接触が可能にな
る。
試験装置においては、プッシャーの押し付け方向の最終
動作に振動が加えられることにより、ＩＣリ−ドとコン
タクタ間に衝撃が加えられ、この衝撃によってＩＣリー
ドなどの表面に付着した付着物の層が簡単に破られ、Ｉ
Ｃリードとコンタクタとの良好な電気的接触が可能にな
る。
【００１１】
実施例１．図１〜図３は、この発明に係る請求項第１項
記載のＩＣの試験装置の一実施例を示したものであり、
図において、上記従来例と同一部分および相当する部分
には同一符号を付しその説明を省略する。
記載のＩＣの試験装置の一実施例を示したものであり、
図において、上記従来例と同一部分および相当する部分
には同一符号を付しその説明を省略する。
【００１２】符号７はアクチュエーター６の駆動力をプ
ッシャー５に伝えるスライダー、８はスライダー７の側
部に設けられた板カム部、９はスライダー７の動作を上
下方向にのみ規制する直動ガイド、１０は内部に鋼球１
０ａと、この鋼球１０ａをスライダ−７の側面部に押し
付けている圧縮コイルばね１０ｂとを備え、動かないよ
うに固定されたブロックである。
ッシャー５に伝えるスライダー、８はスライダー７の側
部に設けられた板カム部、９はスライダー７の動作を上
下方向にのみ規制する直動ガイド、１０は内部に鋼球１
０ａと、この鋼球１０ａをスライダ−７の側面部に押し
付けている圧縮コイルばね１０ｂとを備え、動かないよ
うに固定されたブロックである。
【００１３】なお、図２はＩＣ１がプッシャー５によっ
て下方に押し付けられ、ＩＣリ−ド２がコンタクタ４に
接触した状態を示し、図３は、さらに、プッシャー５が
下降し、押し付け方向の最終動作の状態を示す。このよ
うな構成において、ＩＣ１はプッシャー５の押し付け力
によって下方向に移動する過程で、図２の状態に至るま
では、鋼球１０ａはスライダー７の平坦部を転動するの
で、アクチュエター６による速度を保持するが、図２に
示す状態から図３に示す最終動作までの間は、鋼球１０
ａがスライダー７の側面に形成された板カム部８を転動
することにより下方向への移動速度が加速される。
て下方に押し付けられ、ＩＣリ−ド２がコンタクタ４に
接触した状態を示し、図３は、さらに、プッシャー５が
下降し、押し付け方向の最終動作の状態を示す。このよ
うな構成において、ＩＣ１はプッシャー５の押し付け力
によって下方向に移動する過程で、図２の状態に至るま
では、鋼球１０ａはスライダー７の平坦部を転動するの
で、アクチュエター６による速度を保持するが、図２に
示す状態から図３に示す最終動作までの間は、鋼球１０
ａがスライダー７の側面に形成された板カム部８を転動
することにより下方向への移動速度が加速される。
【００１４】この加速されたスライダー７の動きのため
に、プッシャー５は加速度によって決まる衝撃力力を受
け、この衝撃力を伴ってＩＣリード２をＩＣソケット３
のコンタクタ４に押し付ける。この動的荷重により、従
来の静的荷重では突き破れなかったＩＣリード２やコン
タクタ４の表面に付着した付着物の層６を突き破ること
ができ、ＩＣリード２とコンタクタ４との良好な電気的
接触が可能になる。
に、プッシャー５は加速度によって決まる衝撃力力を受
け、この衝撃力を伴ってＩＣリード２をＩＣソケット３
のコンタクタ４に押し付ける。この動的荷重により、従
来の静的荷重では突き破れなかったＩＣリード２やコン
タクタ４の表面に付着した付着物の層６を突き破ること
ができ、ＩＣリード２とコンタクタ４との良好な電気的
接触が可能になる。
【００１５】また、図２の状態、すなわち、ＩＣリード
２がコンタクタ４に接触して完全に位置決めされるまで
は、スライダー７を低速度で下降させることもできるの
で、ＩＣリード２とコンタクタ４との間の位置ずれも防
止することができる。また、スライダー７の下降方向の
最終動作の位置を決めるストッパー（図示せず）を設け
ることにより、ＩＣリード２のコンタクタ４への押し付
け量を一定に保持することができるので、プッシャー５
によってＩＣリード２の押し付けを繰り返しおこなって
も、ＩＣリード２やコンタクタ４の変形や位置ずれなど
を起こすおそれもない。
２がコンタクタ４に接触して完全に位置決めされるまで
は、スライダー７を低速度で下降させることもできるの
で、ＩＣリード２とコンタクタ４との間の位置ずれも防
止することができる。また、スライダー７の下降方向の
最終動作の位置を決めるストッパー（図示せず）を設け
ることにより、ＩＣリード２のコンタクタ４への押し付
け量を一定に保持することができるので、プッシャー５
によってＩＣリード２の押し付けを繰り返しおこなって
も、ＩＣリード２やコンタクタ４の変形や位置ずれなど
を起こすおそれもない。
【００１６】実施例２．なお、実施例１では、板カム部
８などからなる機械的構成によってプッシャー５を加速
させるようにしたが、ＩＣリード２がコンタクタ４に接
触する際に、ＩＣリード２およびコンタクタ４の表面に
付着した付着物の層６を突き破るような衝撃力を起こさ
せる構成であれば、エアや電力によってプッシャー５を
加速させる構成としてもい。
８などからなる機械的構成によってプッシャー５を加速
させるようにしたが、ＩＣリード２がコンタクタ４に接
触する際に、ＩＣリード２およびコンタクタ４の表面に
付着した付着物の層６を突き破るような衝撃力を起こさ
せる構成であれば、エアや電力によってプッシャー５を
加速させる構成としてもい。
【００１７】実施例３．また、スライダー７にバイブレ
ーター（図示せず）を取り付け、このバイブレーターの
振動によって、プッシャー５に、ＩＣリード２などの表
面に付着した付着物の層６を突き破るような衝撃力を起
こさせる構成としてもよい。
ーター（図示せず）を取り付け、このバイブレーターの
振動によって、プッシャー５に、ＩＣリード２などの表
面に付着した付着物の層６を突き破るような衝撃力を起
こさせる構成としてもよい。
【００１８】また、この場合、プッシャー５は上下方向
若しくは水平方向、または上下・水平の両方向に振動さ
せる構成としても良く、少なくとも、水平方向に振動す
る構成であれば、ＩＣリ−ド２とコンタクタ４との接触
面に微小変位による摩擦が繰り返し働くので、付着物の
層６は破れ易くなる。
若しくは水平方向、または上下・水平の両方向に振動さ
せる構成としても良く、少なくとも、水平方向に振動す
る構成であれば、ＩＣリ−ド２とコンタクタ４との接触
面に微小変位による摩擦が繰り返し働くので、付着物の
層６は破れ易くなる。
【００１９】
【発明の効果】以上説明した通り、この発明に係る請求
項第１項記載のＩＣの試験装置によれば、スライダー
に、ＩＣリード若しくはＩＣソケットの接触子に付着し
た付着物の層を突き破るための衝撃を与える加速手段を
設けることにより、また、この発明に係る請求項第２項
記載のＩＣの試験装置によれば、スライダーに、ＩＣリ
ード若しくはＩＣソケットの接触子に付着した付着物の
層を突き破るための衝撃を与える振動手段を設けること
により、ＩＣリードなどの表面に付着した付着物の層を
確実に突き破ることができるので、ＩＣリ−ドとコンタ
クタとのきわめて良好な電気的接触が可能となり、した
がって、ＩＣの電気的動作に関する、きわめて精度の高
い様々な試験を行うことができるとともに、ＩＣソケッ
トのコンタクタの寿命を可能な限り延命させることがで
きるという効果を有する。
項第１項記載のＩＣの試験装置によれば、スライダー
に、ＩＣリード若しくはＩＣソケットの接触子に付着し
た付着物の層を突き破るための衝撃を与える加速手段を
設けることにより、また、この発明に係る請求項第２項
記載のＩＣの試験装置によれば、スライダーに、ＩＣリ
ード若しくはＩＣソケットの接触子に付着した付着物の
層を突き破るための衝撃を与える振動手段を設けること
により、ＩＣリードなどの表面に付着した付着物の層を
確実に突き破ることができるので、ＩＣリ−ドとコンタ
クタとのきわめて良好な電気的接触が可能となり、した
がって、ＩＣの電気的動作に関する、きわめて精度の高
い様々な試験を行うことができるとともに、ＩＣソケッ
トのコンタクタの寿命を可能な限り延命させることがで
きるという効果を有する。
【図１】この発明に係る請求項第１項記載のＩＣの試験
装置の一実施例を示す縦断面図である。
装置の一実施例を示す縦断面図である。
【図２】図１に示すＩＣの試験装置の動作を示す一部縦
断面図である。
断面図である。
【図３】図１に示すＩＣの試験装置の動作を示す一部縦
断面図である。
断面図である。
【図４】従来のＩＣの試験装置の一例を示す縦断面図で
ある。
ある。
【図５】図４に示すＩＣの試験装置の動作を示す一部縦
断面図である。
断面図である。
【図６】図４に示すＩＣの試験装置の動作を示す一部縦
断面図である。
断面図である。
【図７】図４に示すＩＣの試験装置の動作を示す一部縦
断面図である。
断面図である。
１ ＩＣ（集積回路） ２ ＩＣリード ３ ＩＣソケット ４ コンタクタ（接触子） ５ プッシャー ６ アクチュエーター ７ スライダー
Claims (2)
- 【請求項１】 ＩＣのリードをＩＣソケットの接触子に
電気的に接触させるために、前記ＩＣのリードを前記Ｉ
Ｃソケットの接触子に押し付けるプッシャーと、このプ
ッシャーに取り付けられたスライダーと、このスライダ
ーを介して前記プッシャーを駆動させるアクチュエータ
ーとを備えてなるＩＣの試験装置において、前記スライ
ダーに、前記ＩＣのリード若しくは前記ＩＣソケットの
接触子に付着した付着物の層を突き破るための衝撃を与
える加速手段を設けたことを特徴とするＩＣの試験装
置。 - 【請求項２】 ＩＣのリードをＩＣソケットの接触子に
電気的に接触させるために、前記ＩＣのリードを前記Ｉ
Ｃソケットの接触子に押し付けるプッシャーと、このプ
ッシャーに取り付けられたスライダーと、このスライダ
ーを介して前記プッシャーを駆動させるアクチュエータ
ーとを備えてなるＩＣの試験装置において、前記スライ
ダーに、前記ＩＣのリード若しくは前記ＩＣソケットの
接触子に付着した付着物の層を突き破るための衝撃を与
える振動手段を設けたことを特徴とするＩＣの試験装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17406292A JPH0618622A (ja) | 1992-07-01 | 1992-07-01 | Ｉｃの試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17406292A JPH0618622A (ja) | 1992-07-01 | 1992-07-01 | Ｉｃの試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0618622A true JPH0618622A (ja) | 1994-01-28 |
Family
ID=15971960
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17406292A Pending JPH0618622A (ja) | 1992-07-01 | 1992-07-01 | Ｉｃの試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0618622A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100395747B1 (ko) * | 2000-12-09 | 2003-08-27 | 내일시스템주식회사 | 수직식 핸들러의 디바이스 콘택장치 |
| JP2004028596A (ja) * | 2002-06-21 | 2004-01-29 | New Japan Radio Co Ltd | 半導体装置のテスト用電極装置 |
| US8800505B2 (en) | 2012-03-15 | 2014-08-12 | Hitachi Koki Co., Ltd. | Engine power tool |
| WO2020129646A1 (ja) * | 2018-12-21 | 2020-06-25 | 株式会社ヨコオ | 検査用治具支持具、支持具および検査用治具 |
-
1992
- 1992-07-01 JP JP17406292A patent/JPH0618622A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100395747B1 (ko) * | 2000-12-09 | 2003-08-27 | 내일시스템주식회사 | 수직식 핸들러의 디바이스 콘택장치 |
| JP2004028596A (ja) * | 2002-06-21 | 2004-01-29 | New Japan Radio Co Ltd | 半導体装置のテスト用電極装置 |
| US8800505B2 (en) | 2012-03-15 | 2014-08-12 | Hitachi Koki Co., Ltd. | Engine power tool |
| WO2020129646A1 (ja) * | 2018-12-21 | 2020-06-25 | 株式会社ヨコオ | 検査用治具支持具、支持具および検査用治具 |
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