JPH0619408B2 - Ｉｃハンドラの分類装置 - Google Patents
Ｉｃハンドラの分類装置Info
- Publication number
- JPH0619408B2 JPH0619408B2 JP60002138A JP213885A JPH0619408B2 JP H0619408 B2 JPH0619408 B2 JP H0619408B2 JP 60002138 A JP60002138 A JP 60002138A JP 213885 A JP213885 A JP 213885A JP H0619408 B2 JPH0619408 B2 JP H0619408B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unloader
- product
- ics
- unloaders
- acceptable
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はＩＣハンドラ用の分類装置に関するものであ
る。
る。
ＩＣハンドラは、多数のＩＣを順次に搬送してＩＣ測定
用ソケットに供給，装着し、測定済みのＩＣを測定結果
に基づいて分類，搬出する自動機器であつて、ＩＣテス
タとペアで設置してＩＣの自動検査に用いられる。
用ソケットに供給，装着し、測定済みのＩＣを測定結果
に基づいて分類，搬出する自動機器であつて、ＩＣテス
タとペアで設置してＩＣの自動検査に用いられる。
ＩＣハンドラは上述の機能を備えた自動機器であるた
め、ＩＣ測定用ソケットからＩＣを受け取つて、これを
検査合格品アンローダ，不合格品アンローダ，２級品ア
ンローダ，再検査品アンローダ等に分類搬送する手段
（分類装置）を設けなければならない。
め、ＩＣ測定用ソケットからＩＣを受け取つて、これを
検査合格品アンローダ，不合格品アンローダ，２級品ア
ンローダ，再検査品アンローダ等に分類搬送する手段
（分類装置）を設けなければならない。
第２図は従来一般に用いられているＩＣハンドラ用分類
装置の１例を模式的に描いた平面図である。
装置の１例を模式的に描いた平面図である。
被検物であるＩＣ１は矢印Ａの如くＩＣ測定用ソケット
２に供給され、矢印Ｂの如く分類搬送器３に搭載され
る。
２に供給され、矢印Ｂの如く分類搬送器３に搭載され
る。
上記の分類搬送器は案内レール（又は案内シヤフト）４
によつて矢印Ａ，Ｂと直角に水平方向に案内され、自動
制御装置により駆動手段を介して（いずれも図示せず）
矢印Ｃ，Ｄの如く往復駆動される。前記の搬送方向矢印
Ｂの延長線上に合格品アンローダ５が設置され、これと
並列に２級品アンローダ６，再検査品アンローダ７，不
合格品アンローダ８が設置されている。
によつて矢印Ａ，Ｂと直角に水平方向に案内され、自動
制御装置により駆動手段を介して（いずれも図示せず）
矢印Ｃ，Ｄの如く往復駆動される。前記の搬送方向矢印
Ｂの延長線上に合格品アンローダ５が設置され、これと
並列に２級品アンローダ６，再検査品アンローダ７，不
合格品アンローダ８が設置されている。
測定済みのＩＣが分類搬送器３に搭載されると、測定結
果に従つて該分類搬送品３が矢印Ｃ，Ｄ方向に駆動さ
れ、合格品アンローダ５，２級品アンローダ６，再検査
品アンローダ７，若しくは不合格品アンローダ８の内の
何れか一つに正対せしめられ、搭載していたＩＣを何れ
かのアンローダに搬出する。
果に従つて該分類搬送品３が矢印Ｃ，Ｄ方向に駆動さ
れ、合格品アンローダ５，２級品アンローダ６，再検査
品アンローダ７，若しくは不合格品アンローダ８の内の
何れか一つに正対せしめられ、搭載していたＩＣを何れ
かのアンローダに搬出する。
以上のように構成された分類装置を備えたＩＣハンドラ
において、ＩＣテスタの機能向上と相俟つて検査能率を
倍増するため、ＩＣ測定用ソケット２の設置個数を２個
とすると、従来技術においては第３図に示すように前述
の分類装置（第２図）を２基並列に設置することになる
（以下、試案と言う）。
において、ＩＣテスタの機能向上と相俟つて検査能率を
倍増するため、ＩＣ測定用ソケット２の設置個数を２個
とすると、従来技術においては第３図に示すように前述
の分類装置（第２図）を２基並列に設置することになる
（以下、試案と言う）。
ところが一方、ＩＣ製造技術の向上によつて検査不良率
が激減し、測定済みＩＣの殆ど全部が合格品アンローダ
５に搬出されるようになつた。即ち、不合格品，２級
品，再検査品の発生率が極めて小さくなつた。
が激減し、測定済みＩＣの殆ど全部が合格品アンローダ
５に搬出されるようになつた。即ち、不合格品，２級
品，再検査品の発生率が極めて小さくなつた。
このため、試案の分類装置（第３図）のように不合格品
アンローダ８，再検査品アンローダ７，２級品アンロー
ダ６をそれぞれ２基ずつ設けることは無駄であり、徒ら
に設置スペースを大きくし、製造コストを上昇せしめ
る。その上、これらの不良品，２級品，再検査品のアン
ローダは稼働率が低く、しかも、各２基ずつ設けてある
ため次工程への搬送ルートが複雑になる。
アンローダ８，再検査品アンローダ７，２級品アンロー
ダ６をそれぞれ２基ずつ設けることは無駄であり、徒ら
に設置スペースを大きくし、製造コストを上昇せしめ
る。その上、これらの不良品，２級品，再検査品のアン
ローダは稼働率が低く、しかも、各２基ずつ設けてある
ため次工程への搬送ルートが複雑になる。
本発明は上述の事情に鑑みて為されたもので、複数個の
測定用ソケットを設けたＩＣハンドラにおいて、測定済
みのＩＣを合理的に分類，搬出することができ、設置所
要面積が小さく製造コストの低い分類装置を提供しよう
とするものである。
測定用ソケットを設けたＩＣハンドラにおいて、測定済
みのＩＣを合理的に分類，搬出することができ、設置所
要面積が小さく製造コストの低い分類装置を提供しよう
とするものである。
［目的を達成するための手段］ 上記の目的を達成するために、本発明は、測定後のＩＣ
を搬送するＩＣ搬送レーンを複数列設け、該各ＩＣ搬送
レーンに対向する位置に、それと同数の合格品アンロー
ダを配設すると共に、該各合格品アンローダと平行に非
合格品の種類に応じた数の非合格品アンローダを配設し
て、これら各ＩＣ搬送レーンとアンローダとの間の位置
には、ＩＣ搬送レーンと同数のＩＣを搭載する分類搬送
器を、そのＩＣ搬送方向と直交する方向に変位可能に設
置して、該分類搬送器に搭載したＩＣを各アンローダに
送り込むことができる構成としたことをその特徴とする
ものである。
を搬送するＩＣ搬送レーンを複数列設け、該各ＩＣ搬送
レーンに対向する位置に、それと同数の合格品アンロー
ダを配設すると共に、該各合格品アンローダと平行に非
合格品の種類に応じた数の非合格品アンローダを配設し
て、これら各ＩＣ搬送レーンとアンローダとの間の位置
には、ＩＣ搬送レーンと同数のＩＣを搭載する分類搬送
器を、そのＩＣ搬送方向と直交する方向に変位可能に設
置して、該分類搬送器に搭載したＩＣを各アンローダに
送り込むことができる構成としたことをその特徴とする
ものである。
［作 用］ ここで、ＩＣの製造時における品質保持が良好となって
きたために、ＩＣの測定の結果は、その大半が合格品で
あり、合格品以外の、不合格品，不合格ではないが、品
質的に劣るＩＣ，再測定を必要とするもの等からなる非
合格品ＩＣは極めて稀である。このために、大半のＩＣ
はＩＣ搬送レーンから分類搬送器を単に通過して、合格
品アンローダに送り込まれる。また、非合格品ＩＣが分
類搬送器に搬送されたときには、該分類搬送器が、この
ＩＣを当該の非合格品アンローダに対面する位置にまで
移行して、この非合格品アンローダに非合格品ＩＣを送
り込む。ただし、このように分類搬送器を移動させる必
要がある場合は極めて少ない。また、極く稀ではある
が、分類搬送器に複数の非合格品ＩＣが搬送されること
があるが、このような場合には、この非合格品ＩＣをそ
れぞれの種類の応じたアンローダに順次対面させて、こ
れら非合格品ＩＣをそれぞれの種類の応じた非合格品ア
ンローダに送り込めばよい。
きたために、ＩＣの測定の結果は、その大半が合格品で
あり、合格品以外の、不合格品，不合格ではないが、品
質的に劣るＩＣ，再測定を必要とするもの等からなる非
合格品ＩＣは極めて稀である。このために、大半のＩＣ
はＩＣ搬送レーンから分類搬送器を単に通過して、合格
品アンローダに送り込まれる。また、非合格品ＩＣが分
類搬送器に搬送されたときには、該分類搬送器が、この
ＩＣを当該の非合格品アンローダに対面する位置にまで
移行して、この非合格品アンローダに非合格品ＩＣを送
り込む。ただし、このように分類搬送器を移動させる必
要がある場合は極めて少ない。また、極く稀ではある
が、分類搬送器に複数の非合格品ＩＣが搬送されること
があるが、このような場合には、この非合格品ＩＣをそ
れぞれの種類の応じたアンローダに順次対面させて、こ
れら非合格品ＩＣをそれぞれの種類の応じた非合格品ア
ンローダに送り込めばよい。
而して、このような複数の非合格品が分類搬送器に同時
に搬送されることは、稀有であるから、たとえこれら各
非合格品ＩＣを１個ずつ順次それに対応する非合格品ア
ンローダに送り込むようにしても、これによる分類化ア
ンローダ作業の効率低下は殆ど無視し得る程度である。
に搬送されることは、稀有であるから、たとえこれら各
非合格品ＩＣを１個ずつ順次それに対応する非合格品ア
ンローダに送り込むようにしても、これによる分類化ア
ンローダ作業の効率低下は殆ど無視し得る程度である。
従って、ＩＣ搬送レーンの数に対応する数の非合格品ア
ンローダを配設する必要がなくなるので、装置全体の構
成が著しく簡略化され、そのコンパクト化が図れる。
ンローダを配設する必要がなくなるので、装置全体の構
成が著しく簡略化され、そのコンパクト化が図れる。
第１図は本発明の１実施例を模式的に描いた平面図で、
この実施例は前記２以上の整数Ｎを３とした例である。
この実施例は前記２以上の整数Ｎを３とした例である。
ＩＣ測定用ソケット２を３個並列に設置する。上記３個
のＩＣ測定用ソケット２に対向せしめて３本の搬送レー
ン（鎖線矢印で示す）Ｂ′を設定し、これら３本の搬送
レーンＢ′に対向せしめて３個のＩＣ１ａ，１ｂ，１ｃ
を搭載する分類搬送器３′を設ける。４′はその案内レ
ール（シヤフトでもよい）で、上記の分類搬送器３′は
自動制御装置により駆動手段を介して（いずれも図示せ
ず）矢印Ｃ，Ｄ方向に往復駆動される。
のＩＣ測定用ソケット２に対向せしめて３本の搬送レー
ン（鎖線矢印で示す）Ｂ′を設定し、これら３本の搬送
レーンＢ′に対向せしめて３個のＩＣ１ａ，１ｂ，１ｃ
を搭載する分類搬送器３′を設ける。４′はその案内レ
ール（シヤフトでもよい）で、上記の分類搬送器３′は
自動制御装置により駆動手段を介して（いずれも図示せ
ず）矢印Ｃ，Ｄ方向に往復駆動される。
前記３本の搬送レーンＢ′，Ｂ′，Ｂ′それぞれの延長
線上に各１基の合格品アンローダ５を計３基を設けると
ともに、上記の合格品アンローダ５と並列に、２級品ア
ンローダ６，再検査品アンローダ７，不合格品アンロー
ダ８を各１基ずつ設ける。
線上に各１基の合格品アンローダ５を計３基を設けると
ともに、上記の合格品アンローダ５と並列に、２級品ア
ンローダ６，再検査品アンローダ７，不合格品アンロー
ダ８を各１基ずつ設ける。
以上のように構成した分類装置（第１図）においては、
３本の搬送レーンＢ′それぞれの延長線上に各１基のＩ
Ｃ測定用ソケット２と、各１基の合格品アンローダ５と
が設置され、それぞれの搬送路は分類搬送器３′を介し
て一直線状に連続している。このため、被検物であるＩ
Ｃの測定結果が“合格”である限り、分類搬送器３′を
図示の定位置に停止させたまま、ＩＣを３個ずつ同時に
測定し、同時に搬出して高能率で稼働することができ
る。
３本の搬送レーンＢ′それぞれの延長線上に各１基のＩ
Ｃ測定用ソケット２と、各１基の合格品アンローダ５と
が設置され、それぞれの搬送路は分類搬送器３′を介し
て一直線状に連続している。このため、被検物であるＩ
Ｃの測定結果が“合格”である限り、分類搬送器３′を
図示の定位置に停止させたまま、ＩＣを３個ずつ同時に
測定し、同時に搬出して高能率で稼働することができ
る。
既述の如く、２級品，再検査品，不合格品の発生は稀で
あるが、３個のＩＣ１ａ，１ｂ，１ｃの内の何れか１個
（もしくは２，３個）が合格品級以外のものであつたと
きは、これら３個のＩＣが分類搬送器３′に搭載された
とき、その搬出を１時的に停止させて該分類搬送器３′
を矢印Ｃ，Ｄ方向に往復移動せしめ、前記合格品級以外
のＩＣが適合するアンローダ（２級品アンローダ６，再
検査品アンローダ７，又は不合格品アンローダ８）に正
対する位置で分類搬送器３′を停止させ、該合格品以外
のＩＣを搬出する（合格品以外のＩＣが２個，若しくは
３個であるときは、それぞれのＩＣに適合するアンロー
ダに配給する）。その後、分類搬送器３′を図示の定位
置に復元させて正常作動を再開する。
あるが、３個のＩＣ１ａ，１ｂ，１ｃの内の何れか１個
（もしくは２，３個）が合格品級以外のものであつたと
きは、これら３個のＩＣが分類搬送器３′に搭載された
とき、その搬出を１時的に停止させて該分類搬送器３′
を矢印Ｃ，Ｄ方向に往復移動せしめ、前記合格品級以外
のＩＣが適合するアンローダ（２級品アンローダ６，再
検査品アンローダ７，又は不合格品アンローダ８）に正
対する位置で分類搬送器３′を停止させ、該合格品以外
のＩＣを搬出する（合格品以外のＩＣが２個，若しくは
３個であるときは、それぞれのＩＣに適合するアンロー
ダに配給する）。その後、分類搬送器３′を図示の定位
置に復元させて正常作動を再開する。
上記の作動から明らかなように、同じサイクルで搬送，
測定される３個のＩＣ１ａ，１ｂ，１ｃの内に１個でも
合格でないものが有ると、該非合格別を分類搬出する
間、合格品の搬出が一時停止されるが、既述の如く非合
格品の発生は稀であるから、ロングランで見たときに効
率に及ぼす悪影響は実用上無視し得る。
測定される３個のＩＣ１ａ，１ｂ，１ｃの内に１個でも
合格でないものが有ると、該非合格別を分類搬出する
間、合格品の搬出が一時停止されるが、既述の如く非合
格品の発生は稀であるから、ロングランで見たときに効
率に及ぼす悪影響は実用上無視し得る。
第１図の実施例を第２図の試案と対比してみると、ＩＣ
測定用テスタ２の設置個数は３／２倍に増加しているの
に反して、各種アンローダの設置基数は６／８倍に減少
し、設置所要面積や製造コストも小さくなつている。
測定用テスタ２の設置個数は３／２倍に増加しているの
に反して、各種アンローダの設置基数は６／８倍に減少
し、設置所要面積や製造コストも小さくなつている。
以上詳述したように、本発明の分類装置によれば、複数
個の測定用ソケットを設けたＩＣハンドラにおいて、測
定済みのＩＣを合理的に分類，搬出することができ、設
置所要面積が小さく製造コストが安いという優れた実用
的効果を奏する。
個の測定用ソケットを設けたＩＣハンドラにおいて、測
定済みのＩＣを合理的に分類，搬出することができ、設
置所要面積が小さく製造コストが安いという優れた実用
的効果を奏する。
第１図は本発明の分類装置の１実施例を模式的に描いた
平面図、第２図は従来の分類装置の１例を模式的に描い
た平面図、第３図は従来技術を適用して構成した試案の
分類装置の模式的な平面図である。 １……ＩＣ、１ａ，１ｂ，１ｃ……ＩＣ、２……ＩＣ測
定用ソケツト、３，３′……分類搬送器、４，４′……
案内レール。
平面図、第２図は従来の分類装置の１例を模式的に描い
た平面図、第３図は従来技術を適用して構成した試案の
分類装置の模式的な平面図である。 １……ＩＣ、１ａ，１ｂ，１ｃ……ＩＣ、２……ＩＣ測
定用ソケツト、３，３′……分類搬送器、４，４′……
案内レール。
Claims (1)
- 【請求項１】ＩＣ測定ソケットで測定されたＩＣを合格
品アンローダと、１乃至複数種類の非合格品アンローダ
とに分類分けして送り込むための装置において、測定後
のＩＣを搬送するＩＣ搬送レーンを複数列設け、該各Ｉ
Ｃ搬送レーンに対向する位置に、それと同数の合格品ア
ンローダを配設すると共に、該各合格品アンローダと平
行に非合格品の種類に応じた数の非合格品アンローダを
１組配設し、これら各ＩＣ搬送レーンとアンローダとの
間の位置には、前記ＩＣ搬送レーンと同数のＩＣを搭載
する分類搬送器を、そのＩＣ搬送方向と直交する方向に
変位可能に設置して、該分類搬送器に搭載したＩＣを前
記各アンローダに送り込むことができる構成としたこと
を特徴とするＩＣハンドラの分類装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60002138A JPH0619408B2 (ja) | 1985-01-11 | 1985-01-11 | Ｉｃハンドラの分類装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60002138A JPH0619408B2 (ja) | 1985-01-11 | 1985-01-11 | Ｉｃハンドラの分類装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61161465A JPS61161465A (ja) | 1986-07-22 |
| JPH0619408B2 true JPH0619408B2 (ja) | 1994-03-16 |
Family
ID=11520975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60002138A Expired - Lifetime JPH0619408B2 (ja) | 1985-01-11 | 1985-01-11 | Ｉｃハンドラの分類装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0619408B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3638430A1 (de) * | 1986-11-11 | 1988-05-19 | Multitest Elektronische Syst | Vorrichtung zum testen und sortieren von elektronischen bauelementen, insbesondere ic's |
-
1985
- 1985-01-11 JP JP60002138A patent/JPH0619408B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61161465A (ja) | 1986-07-22 |
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