JPH0620032A - パターン検査装置及びパターン検査方法 - Google Patents
パターン検査装置及びパターン検査方法Info
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- JPH0620032A JPH0620032A JP4176864A JP17686492A JPH0620032A JP H0620032 A JPH0620032 A JP H0620032A JP 4176864 A JP4176864 A JP 4176864A JP 17686492 A JP17686492 A JP 17686492A JP H0620032 A JPH0620032 A JP H0620032A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明はパターン検査装置の改善に関し、重
み辞書パターンに係わり重み係数を一律に固定すること
なく、選択された類似辞書パターン毎にその重み係数を
算出して、それを総不一致量に反映させることにより、
高精度かつ高信頼度のパターン検査をすることを目的と
する。 【構成】 被検査対象14の画像を取得して画像取得デ
ータDINを出力する画像取得手段11と、被検査対象1
4の判定基準となる辞書データDr,重み辞書データD
Pt及び重み係数Kを出力する辞書情報供給手段12と、
辞書データDr,重み辞書データDPtと被検査対象14
の被検査領域に係る画像取得データDINとの比較判定を
する比較判定手段13とを具備し、辞書情報供給手段1
2に重み係数演算手段12Aが設けられ、該演算手段12A
が類似した辞書パターンPR1,PR2間に係る重みパター
ン数Nと、その一致,不一致を判定する判定基準値Sと
に基づいて重み係数K=S/Nを演算することを含み構
成する。
み辞書パターンに係わり重み係数を一律に固定すること
なく、選択された類似辞書パターン毎にその重み係数を
算出して、それを総不一致量に反映させることにより、
高精度かつ高信頼度のパターン検査をすることを目的と
する。 【構成】 被検査対象14の画像を取得して画像取得デ
ータDINを出力する画像取得手段11と、被検査対象1
4の判定基準となる辞書データDr,重み辞書データD
Pt及び重み係数Kを出力する辞書情報供給手段12と、
辞書データDr,重み辞書データDPtと被検査対象14
の被検査領域に係る画像取得データDINとの比較判定を
する比較判定手段13とを具備し、辞書情報供給手段1
2に重み係数演算手段12Aが設けられ、該演算手段12A
が類似した辞書パターンPR1,PR2間に係る重みパター
ン数Nと、その一致,不一致を判定する判定基準値Sと
に基づいて重み係数K=S/Nを演算することを含み構
成する。
Description
【0001】〔目次〕 産業上の利用分野 従来の技術(図7) 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段(図1,2) 作用 実施例(図3〜6) 発明の効果
【0002】
【産業上の利用分野】本発明は、パターン検査装置及び
パターン検査方法に関するものであり、更に詳しく言え
ば、辞書パターンに基づいて被検査対象のパターンマッ
チング処理をする装置及び方法に関するものである。
パターン検査方法に関するものであり、更に詳しく言え
ば、辞書パターンに基づいて被検査対象のパターンマッ
チング処理をする装置及び方法に関するものである。
【0003】近年、半導体集積回路装置やキーボード等
の実装検査時に、被検査パターンと辞書パターンとを比
較して双方の相違点を認識するパターン検査装置が使用
されている。
の実装検査時に、被検査パターンと辞書パターンとを比
較して双方の相違点を認識するパターン検査装置が使用
されている。
【0004】これによれば、太辞書パターン,細辞書パ
ターンの他に、重み係数を一定値に固定した重み辞書パ
ターンが用いられ、また、そのパターンマッチング処理
の際に、重み係数を一定に固定した重み辞書パターンと
被検査パターンとが比較される。
ターンの他に、重み係数を一定値に固定した重み辞書パ
ターンが用いられ、また、そのパターンマッチング処理
の際に、重み係数を一定に固定した重み辞書パターンと
被検査パターンとが比較される。
【0005】このため、被検査パターンの中に互いに類
似する被認識対象を含むパターンを識別する場合であっ
て、その辞書パターンが類似する場合に、そのパターン
マッチング処理の際に誤判定を招くことがある。
似する被認識対象を含むパターンを識別する場合であっ
て、その辞書パターンが類似する場合に、そのパターン
マッチング処理の際に誤判定を招くことがある。
【0006】そこで、重み辞書パターンに係わり重み係
数を一律に固定することなく、選択された類似辞書パタ
ーン毎にその重み係数を算出して、それを総不一致量に
反映させることにより、高精度かつ高信頼度のパターン
検査をすることができる装置及び方法が望まれている。
数を一律に固定することなく、選択された類似辞書パタ
ーン毎にその重み係数を算出して、それを総不一致量に
反映させることにより、高精度かつ高信頼度のパターン
検査をすることができる装置及び方法が望まれている。
【0007】
【従来の技術】図7は、従来例に係るパターン検査装置
の構成図を示している。例えば、被検査対象14のパタ
ーン検査をする装置は、図7において、画像処理システ
ム1,辞書パターン供給システム2及びパターン比較判
定回路3から成る。なお、辞書パターン供給システム2
は、辞書メモリ回路2A,類似辞書選択回路2B,第
1,第2の選択辞書メモリ回路2C,2D,辞書パター
ンマッチング回路2E及び辞書変換回路2Fから成る。
の構成図を示している。例えば、被検査対象14のパタ
ーン検査をする装置は、図7において、画像処理システ
ム1,辞書パターン供給システム2及びパターン比較判
定回路3から成る。なお、辞書パターン供給システム2
は、辞書メモリ回路2A,類似辞書選択回路2B,第
1,第2の選択辞書メモリ回路2C,2D,辞書パター
ンマッチング回路2E及び辞書変換回路2Fから成る。
【0008】当該装置の機能は、画像処理システム1に
より被検査対象14の画像が取得されると、その検査領
域に係る画像データDINがパターン比較判定回路3に出
力される。また、辞書データDrやその重み辞書データ
Dtが辞書パターン供給システム2からパターン比較判
定回路3に出力される。これにより、パターン比較判定
回路3では、被検査対象14の検査領域に係る画像デー
タDINと、辞書データDrや重み辞書データDtとが比
較され、その比較結果データDOUT が出力される。
より被検査対象14の画像が取得されると、その検査領
域に係る画像データDINがパターン比較判定回路3に出
力される。また、辞書データDrやその重み辞書データ
Dtが辞書パターン供給システム2からパターン比較判
定回路3に出力される。これにより、パターン比較判定
回路3では、被検査対象14の検査領域に係る画像デー
タDINと、辞書データDrや重み辞書データDtとが比
較され、その比較結果データDOUT が出力される。
【0009】なお、辞書パターンに係る辞書データDr
は辞書メモリ回路2Aから読み出され、その重み辞書パ
ターンに係る重み辞書データDtが辞書変換回路2Fか
ら辞書メモリ回路2Aに転送される。
は辞書メモリ回路2Aから読み出され、その重み辞書パ
ターンに係る重み辞書データDtが辞書変換回路2Fか
ら辞書メモリ回路2Aに転送される。
【0010】すなわち、辞書メモリ回路2Aから類似辞
書選択回路2Bを介して類似した辞書データDr1やDr2
が選択されると、その一方の辞書データDr1が第1の選
択辞書メモリ回路2Cに一時記憶され、その他方の辞書
データDr2が第2の選択辞書メモリ回路2Dに一時記憶
される。
書選択回路2Bを介して類似した辞書データDr1やDr2
が選択されると、その一方の辞書データDr1が第1の選
択辞書メモリ回路2Cに一時記憶され、その他方の辞書
データDr2が第2の選択辞書メモリ回路2Dに一時記憶
される。
【0011】また、辞書パターンマッチング回路2Eで
は類似する辞書データDr1,Dr2に基づいて両辞書パタ
ーン間の不一致数Nが検出され、それが辞書変換回路2
Fに出力される。これにより、辞書変換回路2Fでは不
一致数Nが重み辞書パターンに係る重みデータDtに変
換され、該データDtが辞書メモリ回路2Aに出力され
る。
は類似する辞書データDr1,Dr2に基づいて両辞書パタ
ーン間の不一致数Nが検出され、それが辞書変換回路2
Fに出力される。これにより、辞書変換回路2Fでは不
一致数Nが重み辞書パターンに係る重みデータDtに変
換され、該データDtが辞書メモリ回路2Aに出力され
る。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来例によ
れば類似した辞書データDr1やDr2に基づいて抽出され
た重み辞書パターンの重み係数Kが一定値に固定され、
また、パターン比較判定回路3では、被検査対象14の
検査領域に係る画像データDINと、辞書データDrや重
み係数Kを一定に固定した重み辞書データDtとが比較
される。
れば類似した辞書データDr1やDr2に基づいて抽出され
た重み辞書パターンの重み係数Kが一定値に固定され、
また、パターン比較判定回路3では、被検査対象14の
検査領域に係る画像データDINと、辞書データDrや重
み係数Kを一定に固定した重み辞書データDtとが比較
される。
【0013】このため、被検査パターンの中に互いに類
似する被認識対象を含むパターンを識別する場合であっ
て、その辞書パターンが類似する場合に、パターン比較
判定回路3において誤判定を招く恐れがある。
似する被認識対象を含むパターンを識別する場合であっ
て、その辞書パターンが類似する場合に、パターン比較
判定回路3において誤判定を招く恐れがある。
【0014】すなわち、被検査パターンの中に、互いに
類似する被認識対象,例えば、ローマ字の「O」と
「C」,「E」と「F」,「I」と「L」等を含むパタ
ーンを識別する場合であって、辞書パターンと被検査パ
ターンとをマッチング処理した場合には、その太辞書パ
ターンや細辞書パターン等との不一致量が小さくても、
重み辞書パターンの不一致量が大きくなることから、総
不一致量uが大きくなる。
類似する被認識対象,例えば、ローマ字の「O」と
「C」,「E」と「F」,「I」と「L」等を含むパタ
ーンを識別する場合であって、辞書パターンと被検査パ
ターンとをマッチング処理した場合には、その太辞書パ
ターンや細辞書パターン等との不一致量が小さくても、
重み辞書パターンの不一致量が大きくなることから、総
不一致量uが大きくなる。
【0015】これにより、パターン比較判定回路3によ
り、判定レベルSと総不一致量uが比較され、その結
果,u>Sとなり、当該被検査パターンの「O」と
「C」,「E」と「F」,「I」と「L」等の「不一
致」を正確に判定することができる。
り、判定レベルSと総不一致量uが比較され、その結
果,u>Sとなり、当該被検査パターンの「O」と
「C」,「E」と「F」,「I」と「L」等の「不一
致」を正確に判定することができる。
【0016】しかし、被検査パターンの中に、互いに類
似する被認識対象,例えば、単位記号「Å」やローマ字
の「A」を含む相違点の識別が困難なパターン検査をす
る場合には、そのマッチング処理に基づく太辞書パター
ン,細辞書パターンや重み辞書パターンの不一致量が共
に小さくなることから、総不一致量uが小さくなり、誤
判定の原因となる。
似する被認識対象,例えば、単位記号「Å」やローマ字
の「A」を含む相違点の識別が困難なパターン検査をす
る場合には、そのマッチング処理に基づく太辞書パター
ン,細辞書パターンや重み辞書パターンの不一致量が共
に小さくなることから、総不一致量uが小さくなり、誤
判定の原因となる。
【0017】例えば、パターン比較判定回路3におい
て、判定レベルSと総不一致量uとを比較した結果,u
≦Sとなることから、本来,被検査パターンに係る単位
記号「Å」がローマ字の「A」と異なるにも係わらず、
当該被検査パターンの単位記号「Å」やローマ字の
「A」を「一致」と誤って判定をすることがある。
て、判定レベルSと総不一致量uとを比較した結果,u
≦Sとなることから、本来,被検査パターンに係る単位
記号「Å」がローマ字の「A」と異なるにも係わらず、
当該被検査パターンの単位記号「Å」やローマ字の
「A」を「一致」と誤って判定をすることがある。
【0018】これにより、精度良いパターン検査の妨げ
となったり、パターン検査の信頼性の低下を招くという
問題がある。本発明は、かかる従来例の問題点に鑑み創
作されたものであり、重み辞書パターンに係わり重み係
数を一律に固定することなく、選択された類似辞書パタ
ーン毎にその重み係数を算出して、それを総不一致量に
反映させることにより、高精度かつ高信頼度のパターン
検査をすることが可能となるパターン検査装置及びパタ
ーン検査方法の提供を目的とする。
となったり、パターン検査の信頼性の低下を招くという
問題がある。本発明は、かかる従来例の問題点に鑑み創
作されたものであり、重み辞書パターンに係わり重み係
数を一律に固定することなく、選択された類似辞書パタ
ーン毎にその重み係数を算出して、それを総不一致量に
反映させることにより、高精度かつ高信頼度のパターン
検査をすることが可能となるパターン検査装置及びパタ
ーン検査方法の提供を目的とする。
【0019】
【課題を解決するための手段】図1は、本発明に係るパ
ターン検査装置の原理図であり、図2は本発明に係るパ
ターン検査方法の原理図をそれぞれ示している。
ターン検査装置の原理図であり、図2は本発明に係るパ
ターン検査方法の原理図をそれぞれ示している。
【0020】本発明のパターン検査装置は、図1に示す
ように、被検査対象14の画像を取得して画像取得デー
タDINを出力する画像取得手段11と、前記被検査対象
14の判定基準となる辞書データDr,重み辞書データ
DPt及び重み係数Kを出力する辞書情報供給手段12
と、前記辞書データDr,重み辞書データDPtと被検査
対象14の被検査領域に係る画像取得データDINとの比
較判定をする比較判定手段13とを具備し、前記辞書情
報供給手段12に重み係数Kを算出する重み係数演算手
段12Aが設けられることを特徴とする。
ように、被検査対象14の画像を取得して画像取得デー
タDINを出力する画像取得手段11と、前記被検査対象
14の判定基準となる辞書データDr,重み辞書データ
DPt及び重み係数Kを出力する辞書情報供給手段12
と、前記辞書データDr,重み辞書データDPtと被検査
対象14の被検査領域に係る画像取得データDINとの比
較判定をする比較判定手段13とを具備し、前記辞書情
報供給手段12に重み係数Kを算出する重み係数演算手
段12Aが設けられることを特徴とする。
【0021】なお、本発明のパターン検査装置におい
て、前記重み係数演算手段12Aが類似した辞書パターン
PR1,PR2間の不一致を示す重みパターン数Nと、前記
類似した辞書パターンPR1,PR2の一致,不一致を判定
する判定基準値Sとに基づいて重み係数K=S/Nを演
算することを特徴とする。
て、前記重み係数演算手段12Aが類似した辞書パターン
PR1,PR2間の不一致を示す重みパターン数Nと、前記
類似した辞書パターンPR1,PR2の一致,不一致を判定
する判定基準値Sとに基づいて重み係数K=S/Nを演
算することを特徴とする。
【0022】また、本発明のパターン検査方法は、図2
の処理フローチャートに示すように、まず、ステップP
1で被検査対象14の判定基準となる類似した辞書パタ
ーンPR1,PR2の選択処理をし、次いで、ステップP2
で前記類似した辞書パターンPR1,PR2から重み辞書パ
ターンPtの抽出処理をし、さらに、ステップP3で前
記重み辞書パターンPt毎に重み係数Kの算出処理を
し、その後、ステップP4で前記類似した辞書パターン
PR1,PR2,重み辞書パターンPt及び重み係数Kに基
づいて前記被検査対象14のパターンマッチング処理を
することを特徴とし、上記目的を達成する。
の処理フローチャートに示すように、まず、ステップP
1で被検査対象14の判定基準となる類似した辞書パタ
ーンPR1,PR2の選択処理をし、次いで、ステップP2
で前記類似した辞書パターンPR1,PR2から重み辞書パ
ターンPtの抽出処理をし、さらに、ステップP3で前
記重み辞書パターンPt毎に重み係数Kの算出処理を
し、その後、ステップP4で前記類似した辞書パターン
PR1,PR2,重み辞書パターンPt及び重み係数Kに基
づいて前記被検査対象14のパターンマッチング処理を
することを特徴とし、上記目的を達成する。
【0023】
【作 用】本発明のパターン検査装置によれば、図1に
示すように画像取得手段11,辞書情報供給手段12及
び比較判定手段13が具備され、該辞書情報供給手段1
2に重み係数Kを算出する重み係数演算手段12Aが設け
られる。
示すように画像取得手段11,辞書情報供給手段12及
び比較判定手段13が具備され、該辞書情報供給手段1
2に重み係数Kを算出する重み係数演算手段12Aが設け
られる。
【0024】例えば、被検査対象14のパターン検査に
係わり、重み係数演算手段12Aにより、類似した辞書パ
ターンPR1,PR2間の不一致を示す重みパターン数N
と、両辞書パターンPR1,PR2の一致,不一致を判定す
る判定基準値Sとに基づいて重み係数K=S/Nが演算
される。
係わり、重み係数演算手段12Aにより、類似した辞書パ
ターンPR1,PR2間の不一致を示す重みパターン数N
と、両辞書パターンPR1,PR2の一致,不一致を判定す
る判定基準値Sとに基づいて重み係数K=S/Nが演算
される。
【0025】このため、被検査対象14の画像が画像取
得手段11により取得され、その検査領域に係る画像取
得データDINが比較判定手段13に出力されると、その
判定基準となる辞書データDr,重み辞書データDPt及
び重み係数Kが辞書情報供給手段12から当該判定手段
13に出力される。
得手段11により取得され、その検査領域に係る画像取
得データDINが比較判定手段13に出力されると、その
判定基準となる辞書データDr,重み辞書データDPt及
び重み係数Kが辞書情報供給手段12から当該判定手段
13に出力される。
【0026】また、比較判定手段13では辞書データD
r,重み辞書データDPtと被検査対象14の被検査領域
に係る画像取得データDINとが比較判定される。この際
に、重み辞書パターンPtに係る不一致量tを重み係数
Kにより補正することが可能となる。
r,重み辞書データDPtと被検査対象14の被検査領域
に係る画像取得データDINとが比較判定される。この際
に、重み辞書パターンPtに係る不一致量tを重み係数
Kにより補正することが可能となる。
【0027】これにより、重み辞書パターンに係わり重
み係数Kを従来例のように一律に固定することなく、類
似辞書パターン毎に算出された重み係数Kを総不一致量
uに反映させることにより、当該被検査パターンに合致
した高精度かつ高信頼度のパターン検査をすることが可
能となる。
み係数Kを従来例のように一律に固定することなく、類
似辞書パターン毎に算出された重み係数Kを総不一致量
uに反映させることにより、当該被検査パターンに合致
した高精度かつ高信頼度のパターン検査をすることが可
能となる。
【0028】また、本発明のパターン検査方法によれ
ば、図2の処理フローチャートに示すように、ステップ
P1で被検査対象14の判定基準となる類似した辞書パ
ターンPR1,PR2が選択されると、ステップP2で両辞
書パターンPR1,PR2から重み辞書パターンPtが抽出
され、その後、ステップP3で重み辞書パターンPt毎
に重み係数Kの算出処理をしている。
ば、図2の処理フローチャートに示すように、ステップ
P1で被検査対象14の判定基準となる類似した辞書パ
ターンPR1,PR2が選択されると、ステップP2で両辞
書パターンPR1,PR2から重み辞書パターンPtが抽出
され、その後、ステップP3で重み辞書パターンPt毎
に重み係数Kの算出処理をしている。
【0029】このため、被検査パターンの中に互いに類
似する被認識対象を含むパターンを識別する場合であっ
て、その辞書パターンが類似する場合にも、ステップP
4で類似した辞書パターンPR1,PR2,重み辞書パター
ンPt及び重み係数Kに基づいて被検査対象14を精度
良く比較判定処理を行うことが可能となる。
似する被認識対象を含むパターンを識別する場合であっ
て、その辞書パターンが類似する場合にも、ステップP
4で類似した辞書パターンPR1,PR2,重み辞書パター
ンPt及び重み係数Kに基づいて被検査対象14を精度
良く比較判定処理を行うことが可能となる。
【0030】これにより、比較判定手段13において従
来例のような誤判定を極力低減することが可能となる。
このことで、パターンマッチング処理をするパターン検
査装置の信頼性の向上を図ることが可能となる。
来例のような誤判定を極力低減することが可能となる。
このことで、パターンマッチング処理をするパターン検
査装置の信頼性の向上を図ることが可能となる。
【0031】
【実施例】次に、図を参照しながら本発明の実施例につ
いて説明をする。図3〜6は、本発明の実施例に係るパ
ターン検査装置及びパターン検査方法を説明する図であ
り、図3は、本発明の実施例に係るパターン検査装置の
構成図を示している。
いて説明をする。図3〜6は、本発明の実施例に係るパ
ターン検査装置及びパターン検査方法を説明する図であ
り、図3は、本発明の実施例に係るパターン検査装置の
構成図を示している。
【0032】例えば、半導体集積回路装置やキーボード
の実装検査等に適用可能なパターン検査装置は、図3に
おいて、画像取得システム21,辞書情報供給システム
22及びパターン比較判定回路23から成る。
の実装検査等に適用可能なパターン検査装置は、図3に
おいて、画像取得システム21,辞書情報供給システム
22及びパターン比較判定回路23から成る。
【0033】すなわち、画像取得システム21は画像取
得手段11の一実施例であり、被検査対象14の画像を
取得して画像取得データDINを出力するものである。例
えば、画像取得システム21は撮像系21A,A/D変換
回路21B,フレーメモリ回路21C及び2値化変換回路21
Dから成る。
得手段11の一実施例であり、被検査対象14の画像を
取得して画像取得データDINを出力するものである。例
えば、画像取得システム21は撮像系21A,A/D変換
回路21B,フレーメモリ回路21C及び2値化変換回路21
Dから成る。
【0034】撮像系21Aは被検査対象14の一例となる
半導体集積回路装置やキーボード等の画像を取得して画
像取得信号SgをA/D変換回路21Bに出力するもので
ある。A/D変換回路21Bはその画像取得信号Sgをア
ナログ/デジタル変換をした画像データDINをフレーム
メモリ回路21Cに出力するものである。フレーメモリ回
路21Cはそれを一時格納するものであり、2値化変換回
路21Dは画像データDINの中の被検査領域に係る画素デ
ータ(以下被検査データdinともいう)aを閾値レベル
Lに基づいて「0」又は「1」の二値化データbに変換
をするものである。例えば、a<Lであればb=0とな
り、またa≧Lであれば、b=1となる。
半導体集積回路装置やキーボード等の画像を取得して画
像取得信号SgをA/D変換回路21Bに出力するもので
ある。A/D変換回路21Bはその画像取得信号Sgをア
ナログ/デジタル変換をした画像データDINをフレーム
メモリ回路21Cに出力するものである。フレーメモリ回
路21Cはそれを一時格納するものであり、2値化変換回
路21Dは画像データDINの中の被検査領域に係る画素デ
ータ(以下被検査データdinともいう)aを閾値レベル
Lに基づいて「0」又は「1」の二値化データbに変換
をするものである。例えば、a<Lであればb=0とな
り、またa≧Lであれば、b=1となる。
【0035】辞書情報供給システム22は辞書情報供給
手段12の一実施例であり、被検査対象14の判定基準
となる辞書データDr,重み辞書データDPt及び重み係
数Kを出力するものである。例えば、辞書情報供給シス
テム22は辞書メモリ回路22A,類似辞書選択回路22
B,第1,第2の選択辞書メモリ回路22C,22D,辞書
パターンマッチング回路22E,辞書変換回路22F及び重
み係数計算回路22Gから成る。
手段12の一実施例であり、被検査対象14の判定基準
となる辞書データDr,重み辞書データDPt及び重み係
数Kを出力するものである。例えば、辞書情報供給シス
テム22は辞書メモリ回路22A,類似辞書選択回路22
B,第1,第2の選択辞書メモリ回路22C,22D,辞書
パターンマッチング回路22E,辞書変換回路22F及び重
み係数計算回路22Gから成る。
【0036】辞書メモリ回路22Aは被検査対象14の判
定基準となる太辞書パターン,細辞書パターン等の辞書
データDrや、その一致・不一致を判定する判定レベル
S,辞書のサイズ/面積等のデータを格納するものであ
る。
定基準となる太辞書パターン,細辞書パターン等の辞書
データDrや、その一致・不一致を判定する判定レベル
S,辞書のサイズ/面積等のデータを格納するものであ
る。
【0037】類似辞書選択回路22Bは、辞書パターンの
中から互いに類似する辞書パターンPR1,PR2に係る類
似辞書データDr1,Dr2を選択して、それを第1,第2
の選択辞書メモリ回路22C,22Dに転送するものであ
る。第1,第2の選択辞書メモリ回路22C,22は類似辞
書データDr1,Dr2をそれぞれ個別に記憶するものであ
る。
中から互いに類似する辞書パターンPR1,PR2に係る類
似辞書データDr1,Dr2を選択して、それを第1,第2
の選択辞書メモリ回路22C,22Dに転送するものであ
る。第1,第2の選択辞書メモリ回路22C,22は類似辞
書データDr1,Dr2をそれぞれ個別に記憶するものであ
る。
【0038】辞書パターンマッチング回路22Eは類似辞
書データDr1,Dr2を比較して、その辞書パターンPR
1,PR2間の不一致を示す重みパターン数Nを抽出し、
それを辞書変換回路22Fに出力するものである。また、
辞書変換回路22Fは重みパターン数Nを重み辞書パター
ンPtに係る重み辞書データDPtに変換をして、それを
辞書メモリ回路22Aに出力するものである。これまで
は、従来例と同様な構成であるが次の点で異なる。
書データDr1,Dr2を比較して、その辞書パターンPR
1,PR2間の不一致を示す重みパターン数Nを抽出し、
それを辞書変換回路22Fに出力するものである。また、
辞書変換回路22Fは重みパターン数Nを重み辞書パター
ンPtに係る重み辞書データDPtに変換をして、それを
辞書メモリ回路22Aに出力するものである。これまで
は、従来例と同様な構成であるが次の点で異なる。
【0039】すなわち、重み係数計算回路22Gは重み係
数演算手段12Aの一実施例であり、重み係数Kを算出す
るものである。例えば、重み係数計算回路22Aは類似し
た辞書パターンPR1,PR2間の不一致を示す重みパター
ン数Nと類似した辞書パターンPR1,PR2の一致,不一
致を判定する判定基準値Sとに基づいて重み係数K=S
/Nを演算する。
数演算手段12Aの一実施例であり、重み係数Kを算出す
るものである。例えば、重み係数計算回路22Aは類似し
た辞書パターンPR1,PR2間の不一致を示す重みパター
ン数Nと類似した辞書パターンPR1,PR2の一致,不一
致を判定する判定基準値Sとに基づいて重み係数K=S
/Nを演算する。
【0040】なお、パターン比較判定回路23は比較判
定手段13の一実施例であり、辞書データDr,重み辞
書データDPtと被検査対象14に係る被検査データdin
との比較判定をするものである。例えば、パターン比較
判定回路23はパターンマッチング回路23A,判定回路
23B及び結果出力回路23Cから成る。
定手段13の一実施例であり、辞書データDr,重み辞
書データDPtと被検査対象14に係る被検査データdin
との比較判定をするものである。例えば、パターン比較
判定回路23はパターンマッチング回路23A,判定回路
23B及び結果出力回路23Cから成る。
【0041】パターンマッチング回路23Aは被検査デー
タdinと太辞書パターンに係る辞書データd1とを比較
した太辞書パターン不一致量W,該データdinと細辞書
パターンに係る辞書データd2とを比較した細辞書パタ
ーン不一致量hや該データdinと重み辞書パターンPt
に係る重み辞書データDPtとを比較した重みパターン不
一致量tと抽出し、その総不一致量uとして、u=(W
+h+t×K)を判定回路23Bに出力するものである。
ここで、Kは重み係数であり、重み係数計算回路22Gに
より算出された重み係数K=S/Nである。
タdinと太辞書パターンに係る辞書データd1とを比較
した太辞書パターン不一致量W,該データdinと細辞書
パターンに係る辞書データd2とを比較した細辞書パタ
ーン不一致量hや該データdinと重み辞書パターンPt
に係る重み辞書データDPtとを比較した重みパターン不
一致量tと抽出し、その総不一致量uとして、u=(W
+h+t×K)を判定回路23Bに出力するものである。
ここで、Kは重み係数であり、重み係数計算回路22Gに
より算出された重み係数K=S/Nである。
【0042】判定回路23Bは判定レベルSに基づいて一
致・不一致を判定するものである。例えば、総不一致量
uと判定レベルSとが比較され、それが評価される。ま
た、結果出力回路23Cは、その評価結果を出力するもの
である。すなわち、総不一致量uと判定レベルSとの関
係がu≦Sであれば、一致を出力し、反対に、総不一致
量uと判定レベルSとの関係がu>Sであれば、不一致
を出力する。
致・不一致を判定するものである。例えば、総不一致量
uと判定レベルSとが比較され、それが評価される。ま
た、結果出力回路23Cは、その評価結果を出力するもの
である。すなわち、総不一致量uと判定レベルSとの関
係がu≦Sであれば、一致を出力し、反対に、総不一致
量uと判定レベルSとの関係がu>Sであれば、不一致
を出力する。
【0043】このようにして、本発明の実施例に係るパ
ターン検査装置によれば、図3に示すように画像取得シ
ステム21,辞書情報供給システム22,パターン比較
判定回路23が具備され、該辞書情報供給システム22
に重み係数Kを算出する重み係数計算回路22Aが設けら
れる。
ターン検査装置によれば、図3に示すように画像取得シ
ステム21,辞書情報供給システム22,パターン比較
判定回路23が具備され、該辞書情報供給システム22
に重み係数Kを算出する重み係数計算回路22Aが設けら
れる。
【0044】例えば、被検査対象14のパターン検査に
係わり、重み係数計算回路12Aにより、類似した辞書パ
ターンPR1,PR2間の不一致を示す重みパターン数N
と、両辞書パターンPR1,PR2の一致,不一致を判定す
る判定基準値Sとに基づいて重み係数K=S/Nが演算
される。
係わり、重み係数計算回路12Aにより、類似した辞書パ
ターンPR1,PR2間の不一致を示す重みパターン数N
と、両辞書パターンPR1,PR2の一致,不一致を判定す
る判定基準値Sとに基づいて重み係数K=S/Nが演算
される。
【0045】このため、被検査対象14の画像が画像取
得システム21により取得され、その被検査データdin
がパターン比較判定回路23に出力されると、その判定
基準となる辞書データDr,重み辞書データDPt及び重
み係数Kが辞書情報供給システム22から当該比較判定
回路23に出力される。
得システム21により取得され、その被検査データdin
がパターン比較判定回路23に出力されると、その判定
基準となる辞書データDr,重み辞書データDPt及び重
み係数Kが辞書情報供給システム22から当該比較判定
回路23に出力される。
【0046】また、パターン比較判定回路23では辞書
データDr,重み辞書データDPtと被検査対象14の被
検査データdinとが比較判定される。この際に、重み辞
書パターンPtに係る不一致量tを重み係数Kにより補
正することが可能となる。例えば、被検査データdinと
重み辞書パターンPtに係る重み辞書データDPtとを比
較した重みパターン不一致量tに重み係数Kを積算す
る。
データDr,重み辞書データDPtと被検査対象14の被
検査データdinとが比較判定される。この際に、重み辞
書パターンPtに係る不一致量tを重み係数Kにより補
正することが可能となる。例えば、被検査データdinと
重み辞書パターンPtに係る重み辞書データDPtとを比
較した重みパターン不一致量tに重み係数Kを積算す
る。
【0047】これにより、重み辞書パターンPtに係わ
り重み係数Kを従来例のように一律に固定することな
く、類似辞書パターン毎に算出された重み係数Kを総不
一致量uに反映させることにより、当該被検査パターン
に合致した高精度かつ高信頼度のパターン検査をするこ
とが可能となる。
り重み係数Kを従来例のように一律に固定することな
く、類似辞書パターン毎に算出された重み係数Kを総不
一致量uに反映させることにより、当該被検査パターン
に合致した高精度かつ高信頼度のパターン検査をするこ
とが可能となる。
【0048】次に、本発明の実施例に係るパターン検査
方法について当該装置の動作を補足しながら説明をす
る。図4は本発明の第2の実施例に係るパターン検査処
理のフローチャートであり、図5,6はその補足説明図
を示している。例えば、図5に示すようにローマ字
「C」なる被試験物パターンPG1や図6に示すような単
位記号「Å」なる被試験物パターンPG2を辞書パターン
Pr1, Pr2に基づいて検査をする場合、図4において、
まず、ステップP1で被試験物パターンPG1,PG2に係
る画像の取得処理をする。
方法について当該装置の動作を補足しながら説明をす
る。図4は本発明の第2の実施例に係るパターン検査処
理のフローチャートであり、図5,6はその補足説明図
を示している。例えば、図5に示すようにローマ字
「C」なる被試験物パターンPG1や図6に示すような単
位記号「Å」なる被試験物パターンPG2を辞書パターン
Pr1, Pr2に基づいて検査をする場合、図4において、
まず、ステップP1で被試験物パターンPG1,PG2に係
る画像の取得処理をする。
【0049】この際に、ローマ字「C」や単位記号
「Å」等の被試験物パターンPG1の画像が撮像系21Aに
より取得されて、その画像取得信号SgがA/D変換回
路21Bによりアナログ/デジタル変換される。また、そ
の画像データDINがフレームメモリ回路21Cに一時格納
され、その被検査データdinが2値化変換回路21Dによ
り二値化される。例えば、被検査領域に係る画素データ
aが閾値レベルLに基づいて「0」又は「1」の二値化
データbに変換される。
「Å」等の被試験物パターンPG1の画像が撮像系21Aに
より取得されて、その画像取得信号SgがA/D変換回
路21Bによりアナログ/デジタル変換される。また、そ
の画像データDINがフレームメモリ回路21Cに一時格納
され、その被検査データdinが2値化変換回路21Dによ
り二値化される。例えば、被検査領域に係る画素データ
aが閾値レベルLに基づいて「0」又は「1」の二値化
データbに変換される。
【0050】ここで、被試験物パターンPG1のパターン
マッチング処理を先にするものとすれば、ステップP2
で被試験物パターンPG1に係る判定基準となる類似した
辞書パターンPR1,PR2の選択処理をする。この際に、
辞書情報供給システム22の辞書メモリ回路22Aから類
似辞書選択回路22Bにより、辞書パターンPRの中から
互いに類似する辞書パターンPR1,PR2に係る類似辞書
データDr1,Dr2が選択される。
マッチング処理を先にするものとすれば、ステップP2
で被試験物パターンPG1に係る判定基準となる類似した
辞書パターンPR1,PR2の選択処理をする。この際に、
辞書情報供給システム22の辞書メモリ回路22Aから類
似辞書選択回路22Bにより、辞書パターンPRの中から
互いに類似する辞書パターンPR1,PR2に係る類似辞書
データDr1,Dr2が選択される。
【0051】例えば、図5(a)に示すような被試験物
パターンPG1の判定基準となるローマ字「C」や「O」
の太辞書パターンPd11 ,細辞書パターンPd21 等の辞
書データDrや、その一致・不一致を判定する判定レベ
ルS,辞書のサイズ/面積等のデータが読み出され、そ
れが第1,第2の選択辞書メモリ回路22C,22Dにそれ
ぞれ個別に記憶される。
パターンPG1の判定基準となるローマ字「C」や「O」
の太辞書パターンPd11 ,細辞書パターンPd21 等の辞
書データDrや、その一致・不一致を判定する判定レベ
ルS,辞書のサイズ/面積等のデータが読み出され、そ
れが第1,第2の選択辞書メモリ回路22C,22Dにそれ
ぞれ個別に記憶される。
【0052】次いで、ステップP3でローマ字「C」や
「O」等の類似した辞書パターンPR1,PR2から重み辞
書パターンPtの抽出処理をする。ここで、辞書パター
ンマッチング回路22Eにより、類似辞書データDr1,D
r2が比較され、その辞書パターンPR1,PR2間の不一致
を示す重みパターン数Nが抽出され、それが辞書変換回
路22Fに出力される。
「O」等の類似した辞書パターンPR1,PR2から重み辞
書パターンPtの抽出処理をする。ここで、辞書パター
ンマッチング回路22Eにより、類似辞書データDr1,D
r2が比較され、その辞書パターンPR1,PR2間の不一致
を示す重みパターン数Nが抽出され、それが辞書変換回
路22Fに出力される。
【0053】また、辞書変換回路22Fでは重みパターン
数Nが重み辞書パターンPtに係る重み辞書データDPt
に変換されて、それが辞書メモリ回路22Aに出力され
る。さらに、ステップP4で重み辞書パターンPt毎に
重み係数Kの算出処理をする。この際に、重み係数計算
回路22Gにより重み係数Kが算出される。例えば、重み
係数計算回路22Aでは類似した辞書パターンPR1,PR2
間の不一致を示す重みパターン数Nと類似した辞書パタ
ーンPR1,PR2の一致,不一致を判定する判定基準値S
とに基づいて重み係数K1=S/Nが演算される。
数Nが重み辞書パターンPtに係る重み辞書データDPt
に変換されて、それが辞書メモリ回路22Aに出力され
る。さらに、ステップP4で重み辞書パターンPt毎に
重み係数Kの算出処理をする。この際に、重み係数計算
回路22Gにより重み係数Kが算出される。例えば、重み
係数計算回路22Aでは類似した辞書パターンPR1,PR2
間の不一致を示す重みパターン数Nと類似した辞書パタ
ーンPR1,PR2の一致,不一致を判定する判定基準値S
とに基づいて重み係数K1=S/Nが演算される。
【0054】その後、ステップP5で類似した辞書パタ
ーンPR1,PR2,重み辞書パターンPt及び重み係数K
に基づいて被検査対象14のパターンマッチング処理を
する。ここで、パターン比較判定回路23のパターンマ
ッチング回路23Aにより、被検査データdinと太辞書パ
ターンに係る辞書データd1とが比較され、図5(b9
に示すように、太辞書パターン不一致量W1が抽出され
る。また、該データdinと細辞書パターンに係る辞書デ
ータd2とが比較され、細辞書パターン不一致量hが抽
出される。さらに、該データdinと重み辞書パターンP
tに係る重み辞書データDPtとが比較され、重みパター
ン不一致量t1が抽出され、その総不一致量uとして、
u=(W1+h+t1×K1)が判定回路23Bに出力さ
れる。
ーンPR1,PR2,重み辞書パターンPt及び重み係数K
に基づいて被検査対象14のパターンマッチング処理を
する。ここで、パターン比較判定回路23のパターンマ
ッチング回路23Aにより、被検査データdinと太辞書パ
ターンに係る辞書データd1とが比較され、図5(b9
に示すように、太辞書パターン不一致量W1が抽出され
る。また、該データdinと細辞書パターンに係る辞書デ
ータd2とが比較され、細辞書パターン不一致量hが抽
出される。さらに、該データdinと重み辞書パターンP
tに係る重み辞書データDPtとが比較され、重みパター
ン不一致量t1が抽出され、その総不一致量uとして、
u=(W1+h+t1×K1)が判定回路23Bに出力さ
れる。
【0055】また、判定回路23Bでは判定レベルSに基
づいて一致・不一致が判定される。例えば、総不一致量
uと判定レベルSとが比較され、結果出力回路23Cから
その評価結果が出力される。ここで、総不一致量uと判
定レベルSとの関係がu≦Sであれば、被試験物パター
ンPG1に係るローマ字「C」とその辞書パターンPrに
係るローマ字「C」との一致が検出され、反対に、総不
一致量uと判定レベルSとの関係がu>Sであれば、被
試験物パターンPG1に係るローマ字「C」とその辞書パ
ターンPrに係るローマ字「O」との不一致が検出され
る。
づいて一致・不一致が判定される。例えば、総不一致量
uと判定レベルSとが比較され、結果出力回路23Cから
その評価結果が出力される。ここで、総不一致量uと判
定レベルSとの関係がu≦Sであれば、被試験物パター
ンPG1に係るローマ字「C」とその辞書パターンPrに
係るローマ字「C」との一致が検出され、反対に、総不
一致量uと判定レベルSとの関係がu>Sであれば、被
試験物パターンPG1に係るローマ字「C」とその辞書パ
ターンPrに係るローマ字「O」との不一致が検出され
る。
【0056】そして、ステップP6で当該被検査対象1
4のパターンマッチング処理が全部終了したか否かの判
断をする。この際に、それが全部終了した場合(YES)
には、パターン検査に係る制御を終了する。また、それ
が全部終了しない場合(NO)には、ステップP2に戻
って被試験物パターンPG2に係る判定基準となる類似し
た辞書パターンPR1,PR2の選択処理をする。
4のパターンマッチング処理が全部終了したか否かの判
断をする。この際に、それが全部終了した場合(YES)
には、パターン検査に係る制御を終了する。また、それ
が全部終了しない場合(NO)には、ステップP2に戻
って被試験物パターンPG2に係る判定基準となる類似し
た辞書パターンPR1,PR2の選択処理をする。
【0057】なお、本発明の実施例では、単位記号
「Å」なる被試験物パターンPG2のパターン検査をすべ
く、辞書情報供給システム22の辞書メモリ回路22Aか
ら類似辞書選択回路22Bにより、辞書パターンPRの中
から互いに類似する辞書パターンPR1,PR2に係る類似
辞書データDr1,Dr2が選択される。
「Å」なる被試験物パターンPG2のパターン検査をすべ
く、辞書情報供給システム22の辞書メモリ回路22Aか
ら類似辞書選択回路22Bにより、辞書パターンPRの中
から互いに類似する辞書パターンPR1,PR2に係る類似
辞書データDr1,Dr2が選択される。
【0058】例えば、図6(a)に示すような被試験物
パターンPG2の判定基準となる単位記号「Å」やローマ
字の「A」の太辞書パターンPd12 ,細辞書パターンP
d22等の辞書データDrや、その一致・不一致を判定す
る判定レベルS,辞書のサイズ/面積等のデータが読み
出され、それが第1,第2の選択辞書メモリ回路22C,
22Dにそれぞれ個別に記憶され、ステップP4でその重
み係数K2が算出され、以下ステップP5,P6に基づ
いて、その被試験物パターンPG2に係る単位記号「Å」
のパターン検査が実行される。
パターンPG2の判定基準となる単位記号「Å」やローマ
字の「A」の太辞書パターンPd12 ,細辞書パターンP
d22等の辞書データDrや、その一致・不一致を判定す
る判定レベルS,辞書のサイズ/面積等のデータが読み
出され、それが第1,第2の選択辞書メモリ回路22C,
22Dにそれぞれ個別に記憶され、ステップP4でその重
み係数K2が算出され、以下ステップP5,P6に基づ
いて、その被試験物パターンPG2に係る単位記号「Å」
のパターン検査が実行される。
【0059】このようにして、本発明の実施例に係るパ
ターン検査方法によれば、図4のフローチャートに示す
ように、ステップP2で被試験物パターンPG1,PG2の
判定基準となる類似した辞書パターンPR1,PR2が選択
されると、ステップP3で両辞書パターンPR1,PR2か
ら重み辞書パターンPtが抽出され、その後、ステップ
P4で重み辞書パターンPt毎に重み係数K1の算出処
理をしている。
ターン検査方法によれば、図4のフローチャートに示す
ように、ステップP2で被試験物パターンPG1,PG2の
判定基準となる類似した辞書パターンPR1,PR2が選択
されると、ステップP3で両辞書パターンPR1,PR2か
ら重み辞書パターンPtが抽出され、その後、ステップ
P4で重み辞書パターンPt毎に重み係数K1の算出処
理をしている。
【0060】このため、被試験物パターンPG1,PG2の
中に互いに類似する被認識対象,例えば、ローマ字
「O」や「C」,単位記号「Å」やローマ字の「A」を
含むパターンを識別する場合であって、その辞書パター
ンPR1,PR2が類似する場合にも、ステップP5で類似
した辞書パターンPR1,PR2,重み辞書パターンPt及
び重み係数K1,K2に基づいて被試験物パターンPG
1,PG2を精度良く比較判定処理を行うことが可能とな
る。
中に互いに類似する被認識対象,例えば、ローマ字
「O」や「C」,単位記号「Å」やローマ字の「A」を
含むパターンを識別する場合であって、その辞書パター
ンPR1,PR2が類似する場合にも、ステップP5で類似
した辞書パターンPR1,PR2,重み辞書パターンPt及
び重み係数K1,K2に基づいて被試験物パターンPG
1,PG2を精度良く比較判定処理を行うことが可能とな
る。
【0061】すなわち、被試験物パターンPG1,PG2の
中に、互いに類似する被認識対象,例えば、ローマ字の
「O」と「C」,「E」と「F」,「I」と「L」等を
含むパターンを識別する場合であって、辞書パターンP
R1,PR2と被試験物パターンPG1,PG2とをマッチング
処理した場合には、その太辞書パターンPd11 や細辞書
パターンPd21 等との不一致量が小さくても、重み係数
K1に基づいて重み辞書パターンPtに係る不一致量t
1が大きくなることから、総不一致量uが大きくなる。
中に、互いに類似する被認識対象,例えば、ローマ字の
「O」と「C」,「E」と「F」,「I」と「L」等を
含むパターンを識別する場合であって、辞書パターンP
R1,PR2と被試験物パターンPG1,PG2とをマッチング
処理した場合には、その太辞書パターンPd11 や細辞書
パターンPd21 等との不一致量が小さくても、重み係数
K1に基づいて重み辞書パターンPtに係る不一致量t
1が大きくなることから、総不一致量uが大きくなる。
【0062】これにより、パターン比較判定回路23に
より、判定レベルSと総不一致量uが比較され、その結
果,u>Sとなり、当該被試験物パターンの「O」と
「C」,「E」と「F」,「I」と「L」等の「不一
致」を正確に判定することが可能となる。
より、判定レベルSと総不一致量uが比較され、その結
果,u>Sとなり、当該被試験物パターンの「O」と
「C」,「E」と「F」,「I」と「L」等の「不一
致」を正確に判定することが可能となる。
【0063】また、被試験物パターンPG1,PG2の中
に、互いに類似する被認識対象,例えば、単位記号
「Å」やローマ字の「A」を含む相違点の識別が困難な
パターン検査をする場合であって、図6(b)に示すよ
うに、そのマッチング処理に基づく太辞書パターンPd1
2 ,細辞書パターンPd22 の不一致量h1が共に小さく
なっても、重み係数K2に基づいて重み辞書パターンP
tに係る不一致量t2が従来例と異なり大きくなるの
で、その総不一致量uが大きくなる。
に、互いに類似する被認識対象,例えば、単位記号
「Å」やローマ字の「A」を含む相違点の識別が困難な
パターン検査をする場合であって、図6(b)に示すよ
うに、そのマッチング処理に基づく太辞書パターンPd1
2 ,細辞書パターンPd22 の不一致量h1が共に小さく
なっても、重み係数K2に基づいて重み辞書パターンP
tに係る不一致量t2が従来例と異なり大きくなるの
で、その総不一致量uが大きくなる。
【0064】例えば、パターン比較判定回路23におい
て、判定レベルSと総不一致量uとを比較した結果,従
来例のようにu≦Sとならずu>Sとなることから、本
来,被試験物パターンに係る単位記号「Å」がローマ字
の「A」と異なる場合にも、当該被試験物パターンの単
位記号「Å」やローマ字の「A」を「不一致」として判
定をすることが可能となる。
て、判定レベルSと総不一致量uとを比較した結果,従
来例のようにu≦Sとならずu>Sとなることから、本
来,被試験物パターンに係る単位記号「Å」がローマ字
の「A」と異なる場合にも、当該被試験物パターンの単
位記号「Å」やローマ字の「A」を「不一致」として判
定をすることが可能となる。
【0065】これにより、パターン比較判定回路23に
おいて従来例のような誤判定を極力低減することが可能
となる。このことで、パターンマッチング処理をするパ
ターン検査装置の信頼性の向上を図ることが可能とな
る。
おいて従来例のような誤判定を極力低減することが可能
となる。このことで、パターンマッチング処理をするパ
ターン検査装置の信頼性の向上を図ることが可能とな
る。
【0066】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のパターン
検査装置によれば画像取得手段,辞書情報供給手段及び
比較判定手段が具備され、該辞書情報供給手段に重み係
数を算出する重み係数演算手段が設けられる。
検査装置によれば画像取得手段,辞書情報供給手段及び
比較判定手段が具備され、該辞書情報供給手段に重み係
数を算出する重み係数演算手段が設けられる。
【0067】このため、類似した辞書パターン間の重み
パターン数と、両辞書パターンの判定基準値とに基づい
て重み係数演算手段により重み係数が演算されると、パ
ターンマッチング処理の際に、重み辞書パターンに係る
不一致量を重み係数により補正することが可能となる。
このことで、重み辞書パターンに係わり重み係数を従来
例のように一律に固定することなく、類似辞書パターン
毎に算出された重み係数を総不一致量に反映させること
が可能となる。
パターン数と、両辞書パターンの判定基準値とに基づい
て重み係数演算手段により重み係数が演算されると、パ
ターンマッチング処理の際に、重み辞書パターンに係る
不一致量を重み係数により補正することが可能となる。
このことで、重み辞書パターンに係わり重み係数を従来
例のように一律に固定することなく、類似辞書パターン
毎に算出された重み係数を総不一致量に反映させること
が可能となる。
【0068】また、本発明のパターン検査方法によれ
ば、被検査対象の判定基準となる類似した辞書パターン
が選択されると、両辞書パターンから重み辞書パターン
が抽出され、その後、重み辞書パターン毎に重み係数の
算出処理をしている。
ば、被検査対象の判定基準となる類似した辞書パターン
が選択されると、両辞書パターンから重み辞書パターン
が抽出され、その後、重み辞書パターン毎に重み係数の
算出処理をしている。
【0069】このため、辞書パターン毎に異なった重み
係数が得られるので、被検査パターンの中に互いに類似
する被認識対象を含むパターンを識別する場合であっ
て、その辞書パターンが類似する場合にも、類似した辞
書パターン,重み辞書パターン及び重み係数に基づい
て、被検査対象を精度良く比較判定処理を行うことが可
能となる。このことで、従来例のような誤判定を極力低
減することが可能となる。
係数が得られるので、被検査パターンの中に互いに類似
する被認識対象を含むパターンを識別する場合であっ
て、その辞書パターンが類似する場合にも、類似した辞
書パターン,重み辞書パターン及び重み係数に基づい
て、被検査対象を精度良く比較判定処理を行うことが可
能となる。このことで、従来例のような誤判定を極力低
減することが可能となる。
【0070】これにより、当該被検査パターンに合致し
た高精度かつ高信頼度のパターンマッチング処理をする
ことが可能となる。このことで、信頼性の良いパターン
検査装置の提供に寄与するところが大きい。
た高精度かつ高信頼度のパターンマッチング処理をする
ことが可能となる。このことで、信頼性の良いパターン
検査装置の提供に寄与するところが大きい。
【図1】本発明に係るパターン検査装置の原理図であ
る。
る。
【図2】本発明に係るパターン検査方法の原理図であ
る。
る。
【図3】本発明の実施例に係るパターン検査装置の構成
図である。
図である。
【図4】本発明の実施例に係るパターン検査の処理フロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図5】本発明の実施例に係るフローチャートの補足説
明図(その1)である。
明図(その1)である。
【図6】本発明の実施例に係るフローチャートの補足説
明図(その2)である。
明図(その2)である。
【図7】従来例に係るパターン検査装置の構成図であ
る。
る。
11…画像取得手段、 12…辞書情報供給手段、 13…比較判定手段、 12A…重み係数演算手段、 DIN…画像取得データ、 Dr…辞書データ、 DPt…重み辞書データ、 K…重み係数、 PR1,PR2…類似した辞書パターン、 Pt…重み辞書パターン。
Claims (3)
- 【請求項1】 被検査対象(14)の画像を取得して画
像取得データ(DIN)を出力する画像取得手段(11)
と、前記被検査対象(14)の判定基準となる辞書デー
タ(Dr),重み辞書データ(DPt)及び重み係数
(K)を出力する辞書情報供給手段(12)と、前記辞
書データ(Dr),重み辞書データ(DPt)と被検査対
象(14)の被検査領域に係る画像取得データ(DIN)
との比較判定をする比較判定手段(13)とを具備し、
前記辞書情報供給手段(12)に重み係数(K)を算出
する重み係数演算手段(12A)が設けられることを特徴
とするパターン検査装置。 - 【請求項2】 請求項1記載のパターン検査装置におい
て、前記重み係数演算手段(12A)が類似した辞書パタ
ーン(PR1,PR2)間の不一致を示す重みパターン数
(N)と、前記類似した辞書パターン(PR1,PR2)の
一致,不一致を判定する判定基準値(S)とに基づいて
重み係数(K=S/N)を演算することを特徴とするパ
ターン検査装置。 - 【請求項3】 被検査対象(14)の判定基準となる類
似した辞書パターン(PR1,PR2)の選択処理をし、前
記類似した辞書パターン(PR1,PR2)から重み辞書パ
ターン(Pt)の抽出処理をし、前記重み辞書パターン
(Pt)毎に重み係数(K)の算出処理をし、前記類似
した辞書パターン(PR1,PR2),重み辞書パターン
(Pt)及び重み係数(K)に基づいて前記被検査対象
(14)のパターンマッチング処理をすることを特徴と
するパターン検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4176864A JPH0620032A (ja) | 1992-07-03 | 1992-07-03 | パターン検査装置及びパターン検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4176864A JPH0620032A (ja) | 1992-07-03 | 1992-07-03 | パターン検査装置及びパターン検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0620032A true JPH0620032A (ja) | 1994-01-28 |
Family
ID=16021149
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4176864A Withdrawn JPH0620032A (ja) | 1992-07-03 | 1992-07-03 | パターン検査装置及びパターン検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0620032A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07230552A (ja) * | 1994-02-14 | 1995-08-29 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 画像品質分析の方法および装置 |
| JP2009043184A (ja) * | 2007-08-10 | 2009-02-26 | Omron Corp | 画像処理方法および画像処理装置 |
-
1992
- 1992-07-03 JP JP4176864A patent/JPH0620032A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07230552A (ja) * | 1994-02-14 | 1995-08-29 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 画像品質分析の方法および装置 |
| JP2009043184A (ja) * | 2007-08-10 | 2009-02-26 | Omron Corp | 画像処理方法および画像処理装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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