JPH06201515A - 光学部品の特性測定方法 - Google Patents
光学部品の特性測定方法Info
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- JPH06201515A JPH06201515A JP36167992A JP36167992A JPH06201515A JP H06201515 A JPH06201515 A JP H06201515A JP 36167992 A JP36167992 A JP 36167992A JP 36167992 A JP36167992 A JP 36167992A JP H06201515 A JPH06201515 A JP H06201515A
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 励起光源１の光を希土類ドープファイバ２に
入射し、希土類ドープファイバ２から出射する自然放出
光を被測定物３の光源とすることにより、光学部品の光
学特性を高精度で測定する 【構成】 励起光源１の光を希土類ドープファイバ２に
入射する。希土類ドープファイバ２は励起光源１の光に
より励起され自然放出光を放出する。希土類ドープファ
イバ２の自然放出光を被測定物３に入射し、被測定物３
の光学特性に応じた出力を測定器４で測定する。
入射し、希土類ドープファイバ２から出射する自然放出
光を被測定物３の光源とすることにより、光学部品の光
学特性を高精度で測定する 【構成】 励起光源１の光を希土類ドープファイバ２に
入射する。希土類ドープファイバ２は励起光源１の光に
より励起され自然放出光を放出する。希土類ドープファ
イバ２の自然放出光を被測定物３に入射し、被測定物３
の光学特性に応じた出力を測定器４で測定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、光学部品の光学特性
を測定する方法についてのものである。
を測定する方法についてのものである。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来技術による光学部品の特性測
定の構成を図２により説明する。図２の１Ａは白色光
源、２Ａは光ファイバ、３は被測定物、４は測定器であ
る。
定の構成を図２により説明する。図２の１Ａは白色光
源、２Ａは光ファイバ、３は被測定物、４は測定器であ
る。
【０００３】白色光源１Ａは、ハロゲンランプの光をレ
ンズによって光ファイバ２Ａに結合したものである。光
ファイバ２Ａの出射光を被測定物３に入射し、被測定物
３の光学特性に応じた出力を測定器４で測定する。
ンズによって光ファイバ２Ａに結合したものである。光
ファイバ２Ａの出射光を被測定物３に入射し、被測定物
３の光学特性に応じた出力を測定器４で測定する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】図２では、白色光源１
Ａの光は光ファイバ２Ａに結合しているので、光ファイ
バ２Ａの終端では微弱な光しか取り出すことができな
い。微弱光を被測定物３に入射し、被測定物３の出射光
はさらに微弱光となるので、高精度の測定が困難とな
る。また、検出する光が微弱であるため、ダイナミック
レンジの広い測定器４が必要である。
Ａの光は光ファイバ２Ａに結合しているので、光ファイ
バ２Ａの終端では微弱な光しか取り出すことができな
い。微弱光を被測定物３に入射し、被測定物３の出射光
はさらに微弱光となるので、高精度の測定が困難とな
る。また、検出する光が微弱であるため、ダイナミック
レンジの広い測定器４が必要である。
【０００５】この発明は、励起光源の光を希土類ドープ
ファイバ（以下、単にドープファイバという。）に入射
し、ドープファイバから出射する自然放出光を被測定物
の光源とすることにより、光学部品の光学特性を高精度
で測定することを目的とする。
ファイバ（以下、単にドープファイバという。）に入射
し、ドープファイバから出射する自然放出光を被測定物
の光源とすることにより、光学部品の光学特性を高精度
で測定することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明では、励起光源１の光を希土類ドープファ
イバ２に入射し、希土類ドープファイバ２は励起光源１
の光により励起されて自然放出光を放出し、希土類ドー
プファイバ２の自然放出光を被測定物３に入射し、被測
定物３の光学特性に応じた出力を測定器４で測定する。
め、この発明では、励起光源１の光を希土類ドープファ
イバ２に入射し、希土類ドープファイバ２は励起光源１
の光により励起されて自然放出光を放出し、希土類ドー
プファイバ２の自然放出光を被測定物３に入射し、被測
定物３の光学特性に応じた出力を測定器４で測定する。
【０００７】
【作用】次に、この発明による光学部品の特性測定の構
成を図１により説明する。図１の１は励起光源、２はド
ープファイバ、その他は図２と同じものである。すなわ
ち、図１は図２の白色光源１Ａと光ファイバ２Ａを励起
光源１とドープファイバに置き換えたものである。
成を図１により説明する。図１の１は励起光源、２はド
ープファイバ、その他は図２と同じものである。すなわ
ち、図１は図２の白色光源１Ａと光ファイバ２Ａを励起
光源１とドープファイバに置き換えたものである。
【０００８】図１では、励起光源１の出射光をドープフ
ァイバ２に入射し、ドープファイバ２は励起光源１の出
射光により励起され、利得波長帯Δλの自然放出光を放
出する。波長帯Δλの放出光を被測定物３に入力する
と、被測定物３の光学特性に応じた出力を得ることがで
き、測定器４で測定する。
ァイバ２に入射し、ドープファイバ２は励起光源１の出
射光により励起され、利得波長帯Δλの自然放出光を放
出する。波長帯Δλの放出光を被測定物３に入力する
と、被測定物３の光学特性に応じた出力を得ることがで
き、測定器４で測定する。
【０００９】ドープファイバ２は、光ファイバのコア材
に希土類元素を添加して製作されるものであり、放出さ
れる自然放出光も希土類元素によるものである。すなわ
ち、光ファイバのコア部そのものが発光するものであ
り、白色光源に比べて大きな光を取り出すことができ
る。
に希土類元素を添加して製作されるものであり、放出さ
れる自然放出光も希土類元素によるものである。すなわ
ち、光ファイバのコア部そのものが発光するものであ
り、白色光源に比べて大きな光を取り出すことができ
る。
【００１０】このように、大きな光を被測定物３に入射
して光学特性を測定する場合、ダイナミックレンジの狭
い測定器４も使用可能になり、また、高精度の測定も可
能となる。
して光学特性を測定する場合、ダイナミックレンジの狭
い測定器４も使用可能になり、また、高精度の測定も可
能となる。
【００１１】
【実施例】次に、図１による光バンドパスフィルタモジ
ュール光学特性測定の実施例を説明する。励起光源１に
は発振波長1.48μｍで光出力数10ｍＷの半導体レーザモ
ジュールを使用し、ドープファイバ２にはエルビウムド
ープファイバを使用する。被測定物３は、透過ピーク波
長1.55μｍ、半値幅５ｎｍ、ピーク透過率90％、阻止域
損失20ｄＢの光フィルタを内蔵する光バンドパスフィル
タモジュールとする。測定器４は光スペクトラムアナラ
イザを用いる。このとき、エルビウムドープファイバの
両端には発振防止のためファイバ型光アイソレータを接
続しておくとよい。
ュール光学特性測定の実施例を説明する。励起光源１に
は発振波長1.48μｍで光出力数10ｍＷの半導体レーザモ
ジュールを使用し、ドープファイバ２にはエルビウムド
ープファイバを使用する。被測定物３は、透過ピーク波
長1.55μｍ、半値幅５ｎｍ、ピーク透過率90％、阻止域
損失20ｄＢの光フィルタを内蔵する光バンドパスフィル
タモジュールとする。測定器４は光スペクトラムアナラ
イザを用いる。このとき、エルビウムドープファイバの
両端には発振防止のためファイバ型光アイソレータを接
続しておくとよい。
【００１２】励起光源１からの出力をエルビウムドープ
ファイバ２に入力すると、エルビウムドープファイバ２
は励起され1.55μｍ帯の広い範囲の自然放出光を放出す
る。前記自然放出光を光バンドパスフィルタモジュール
に入力すると、光学特性に応じた出力を得ることがで
き、光スペクトラムアナライザで精度よく測定すること
ができる。
ファイバ２に入力すると、エルビウムドープファイバ２
は励起され1.55μｍ帯の広い範囲の自然放出光を放出す
る。前記自然放出光を光バンドパスフィルタモジュール
に入力すると、光学特性に応じた出力を得ることがで
き、光スペクトラムアナライザで精度よく測定すること
ができる。
【００１３】図２の白色光源を用いた場合、光バンドパ
スフィルタモジュールに入力することができる光は、エ
ルビウムドープファイバを用いた場合に比べて40〜50ｄ
Ｂも低いレベルである。このような、低レベルの光を光
源として測定すると、光スペクトラムアナライザの雑音
レベルにかかる領域で測定することになり、高精度の測
定ができなくなる。
スフィルタモジュールに入力することができる光は、エ
ルビウムドープファイバを用いた場合に比べて40〜50ｄ
Ｂも低いレベルである。このような、低レベルの光を光
源として測定すると、光スペクトラムアナライザの雑音
レベルにかかる領域で測定することになり、高精度の測
定ができなくなる。
【００１４】
【発明の効果】この発明によれば、励起光源の光を希土
類ドープファイバに入射し、希土類ドープファイバから
出射する自然放出光を被測定物の光源としているので、
大きな光を被測定物に入射することができ、光学部品の
光学特性を精度よく測定できる。また、測定器に入力す
る光のレベルも大きいため、ダイナミックレンジの狭い
測定器の使用も可能となる。
類ドープファイバに入射し、希土類ドープファイバから
出射する自然放出光を被測定物の光源としているので、
大きな光を被測定物に入射することができ、光学部品の
光学特性を精度よく測定できる。また、測定器に入力す
る光のレベルも大きいため、ダイナミックレンジの狭い
測定器の使用も可能となる。
【図１】この発明による光学特性の測定方法の構成図で
ある。
ある。
【図２】従来技術による光学特性の測定方法の構成図で
ある。
ある。
【符号の説明】 １ 励起光源 ２ 希土類ドープファイバ ３ 被測定物 ４ 測定器
Claims (1)
- 【請求項１】 励起光源(1) の光を希土類ドープファイ
バ(2) に入射し、 希土類ドープファイバ(2) は励起光源(1) の光により励
起されて自然放出光を放出し、 希土類ドープファイバ(2) の自然放出光を被測定物(3)
に入射し、 被測定物(3) の光学特性に応じた出力を測定器(4) で測
定することを特徴とする光学部品の特性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP36167992A JP3161115B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 光学部品の特性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP36167992A JP3161115B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 光学部品の特性測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06201515A true JPH06201515A (ja) | 1994-07-19 |
| JP3161115B2 JP3161115B2 (ja) | 2001-04-25 |
Family
ID=18474512
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP36167992A Expired - Fee Related JP3161115B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 光学部品の特性測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3161115B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0766480A (ja) * | 1993-08-23 | 1995-03-10 | Nec Corp | 光通信用光源 |
-
1992
- 1992-12-28 JP JP36167992A patent/JP3161115B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0766480A (ja) * | 1993-08-23 | 1995-03-10 | Nec Corp | 光通信用光源 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3161115B2 (ja) | 2001-04-25 |
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