JPH06201607A - 面検査方法 - Google Patents
面検査方法Info
- Publication number
- JPH06201607A JPH06201607A JP4347181A JP34718192A JPH06201607A JP H06201607 A JPH06201607 A JP H06201607A JP 4347181 A JP4347181 A JP 4347181A JP 34718192 A JP34718192 A JP 34718192A JP H06201607 A JPH06201607 A JP H06201607A
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- JP
- Japan
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- pattern
- image
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- inspected
- lattice
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】異常個所を容易且つ確実に検出できる新規な面
検査方法を実現する。 【構成】被検査面１０の検査部に、光強度が１方向へ周
期的に変化する１次元格子状のパターン１３を照射し、
検査部の像を読取装置１４により読み取り、読み取った
パターン像情報を、格子の縞方向に従って微分処理を行
い、その結果に閾値処理を施すことにより、上記検査部
の異常個所を検出する。
検査方法を実現する。 【構成】被検査面１０の検査部に、光強度が１方向へ周
期的に変化する１次元格子状のパターン１３を照射し、
検査部の像を読取装置１４により読み取り、読み取った
パターン像情報を、格子の縞方向に従って微分処理を行
い、その結果に閾値処理を施すことにより、上記検査部
の異常個所を検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は面検査方法に関する。
この発明は、自動車の車体表面点検等に利用できる。
この発明は、自動車の車体表面点検等に利用できる。
【０００２】
【従来の技術】自動車車体表面等の被検査面の検査部を
照明し、被照明部の像を読取装置により読み取って信号
化し、この信号を閾値処理することにより被検査面上の
異常個所（傷等）を検出する方法は従来から良く知られ
ている。
照明し、被照明部の像を読取装置により読み取って信号
化し、この信号を閾値処理することにより被検査面上の
異常個所（傷等）を検出する方法は従来から良く知られ
ている。
【０００３】このような面検査方法の場合、被検査面の
色等により異常個所とその周辺部との輝度差が不十分で
ある場合があり、このような場合には単純な閾値処理に
よる２値化では異常個所を検出できないことが多い。
色等により異常個所とその周辺部との輝度差が不十分で
ある場合があり、このような場合には単純な閾値処理に
よる２値化では異常個所を検出できないことが多い。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】この発明は上述した事
情に鑑みてなされたものであって、異常個所を容易且つ
確実に検出できる新規な面検査方法の提供を目的とす
る。
情に鑑みてなされたものであって、異常個所を容易且つ
確実に検出できる新規な面検査方法の提供を目的とす
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明の面検査方法
は、「被検査面上の検査部に、光強度が１方向へ周期的
に変化する１次元格子状のパターンを照射し、検査部の
像を読取装置により読み取り、読み取ったパターン像情
報を、格子の縞方向に従って微分処理を行い、その結果
に閾値処理を施すことにより、検査部の異常個所を検出
する」ことを特徴とする。
は、「被検査面上の検査部に、光強度が１方向へ周期的
に変化する１次元格子状のパターンを照射し、検査部の
像を読取装置により読み取り、読み取ったパターン像情
報を、格子の縞方向に従って微分処理を行い、その結果
に閾値処理を施すことにより、検査部の異常個所を検出
する」ことを特徴とする。
【０００６】「格子の縞方向」とは、パターン像の明暗
による縞の方向、即ち明暗の変化が無い方向を意味す
る。
による縞の方向、即ち明暗の変化が無い方向を意味す
る。
【０００７】
【作用】上記のように、この発明においては、被検査面
の検査部における異常個所を検出するために、「読み取
ったパターン像情報を、格子の縞方向に従って微分処理
を行う」ため、パターン画像における格子構造は、微分
情報では実質的に除去される。また異常個所の部分で
は、光強度の局所的な変化が微分演算により強調される
ことになる。
の検査部における異常個所を検出するために、「読み取
ったパターン像情報を、格子の縞方向に従って微分処理
を行う」ため、パターン画像における格子構造は、微分
情報では実質的に除去される。また異常個所の部分で
は、光強度の局所的な変化が微分演算により強調される
ことになる。
【０００８】
【実施例】図１は１実施例を示している。図１（ａ）に
おいて、符号１０は被検査体の被検査面を示す。符号１
２で示す投影機は制御部１６に制御されて、図１（Ｂ）
に示すような「光透過率がｘ方向に周期的に変化する１
次元格子状のパターン１１（以下スリットパターン）」
の拡大像、即ち１次元格子状のパターン１３を被検査面
１０の検査部へ照射する。図１（Ｃ）はパターン１１に
おけるｘ方向における透過率の変化を示している。
おいて、符号１０は被検査体の被検査面を示す。符号１
２で示す投影機は制御部１６に制御されて、図１（Ｂ）
に示すような「光透過率がｘ方向に周期的に変化する１
次元格子状のパターン１１（以下スリットパターン）」
の拡大像、即ち１次元格子状のパターン１３を被検査面
１０の検査部へ照射する。図１（Ｃ）はパターン１１に
おけるｘ方向における透過率の変化を示している。
【０００９】パターン１３を照射された検査部の像は、
読取装置であるＣＣＤカメラ１４により読み取られ、そ
の結果は演算処理部１８に取り込まれる。演算情報部１
８は、具体的にはコンピューター等である。
読取装置であるＣＣＤカメラ１４により読み取られ、そ
の結果は演算処理部１８に取り込まれる。演算情報部１
８は、具体的にはコンピューター等である。
【００１０】例えば、パターン１３の照射部を読み取る
ＣＣＤカメラ１４の受光面上のパターン像が図１（Ｄ）
に示す如くであるものとする。この図において、符号１
００は異常個所としての「傷」の像を示している。スリ
ットパターンにおける光透過率変化方向（ｘ方向）に対
応して、図１（Ｄ）のパターン像に対してもｘ，ｙ方向
を図示のように定めると、ｙ方向は「格子の縞方向」に
対応する。
ＣＣＤカメラ１４の受光面上のパターン像が図１（Ｄ）
に示す如くであるものとする。この図において、符号１
００は異常個所としての「傷」の像を示している。スリ
ットパターンにおける光透過率変化方向（ｘ方向）に対
応して、図１（Ｄ）のパターン像に対してもｘ，ｙ方向
を図示のように定めると、ｙ方向は「格子の縞方向」に
対応する。
【００１１】図１（Ｄ）において、「傷」の像１００が
存在している部分の「明部」におけるｘ座標をｘ1、
「暗部」におけるｘ座標をｘ2とすると、「座標ｘ1，ｘ
2に対応するｙ方向の光強度」に対応する読み取り信号
Ｐは、それぞれ図１（Ｅ）の左右の図のようになり、傷
の像１００の部分で信号値が低下する。しかし、信号Ｐ
の低下はさほど大きくなく、読み取り信号はパターン像
の明暗に従って変化しているので、このままの状態で閾
値処理をしても、「傷部分」を検出することは極めて困
難である。
存在している部分の「明部」におけるｘ座標をｘ1、
「暗部」におけるｘ座標をｘ2とすると、「座標ｘ1，ｘ
2に対応するｙ方向の光強度」に対応する読み取り信号
Ｐは、それぞれ図１（Ｅ）の左右の図のようになり、傷
の像１００の部分で信号値が低下する。しかし、信号Ｐ
の低下はさほど大きくなく、読み取り信号はパターン像
の明暗に従って変化しているので、このままの状態で閾
値処理をしても、「傷部分」を検出することは極めて困
難である。
【００１２】そこで、演算処理部１８において、取り込
んだパターン像情報を「格子の縞方向」であるｙ方向に
微分処理すると、その結果であるＰ’（＝ｄＰ／ｄｙ）
は、上記ｘ座標値ｘ1，ｘ2に対しそれぞれ図１（Ｆ）の
左右の図に示すようになる。即ち、パターン像における
スリットパターンに応じた明暗の、縞方向における微分
値は実質的に０となり、傷の像１００に対応する部分は
大きな値で正・負に変化する。
んだパターン像情報を「格子の縞方向」であるｙ方向に
微分処理すると、その結果であるＰ’（＝ｄＰ／ｄｙ）
は、上記ｘ座標値ｘ1，ｘ2に対しそれぞれ図１（Ｆ）の
左右の図に示すようになる。即ち、パターン像における
スリットパターンに応じた明暗の、縞方向における微分
値は実質的に０となり、傷の像１００に対応する部分は
大きな値で正・負に変化する。
【００１３】従って、この微分処理した信号に対し、そ
の「正値」もしくは「負値（破線で示す）」に対して適
当な閾値Ｅを用いて２値化を行えば、検査部における傷
の部分のみを検出することができる。
の「正値」もしくは「負値（破線で示す）」に対して適
当な閾値Ｅを用いて２値化を行えば、検査部における傷
の部分のみを検出することができる。
【００１４】図１（Ｇ）は、上記微分処理と２値化を行
った結果を図１（Ａ）に符号２０で示すＣＲＴに表示し
た状態を示す。傷の存在位置が異常個所１００Ａとして
表示されている。
った結果を図１（Ａ）に符号２０で示すＣＲＴに表示し
た状態を示す。傷の存在位置が異常個所１００Ａとして
表示されている。
【００１５】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば新規な
面検査方法を提供できる。この発明は上記の如く構成さ
れているので、被検査面検査部の異常個所を容易且つ確
実に検出することができる。
面検査方法を提供できる。この発明は上記の如く構成さ
れているので、被検査面検査部の異常個所を容易且つ確
実に検出することができる。
【００１６】なお、検査部に照射する１次元格子状のパ
ターンにおける格子のピッチを異ならせて、所謂空間の
コード化を行えば検査部を３次元的に検査できることを
付記しておく。
ターンにおける格子のピッチを異ならせて、所謂空間の
コード化を行えば検査部を３次元的に検査できることを
付記しておく。
【図１】この発明の１実施例を説明する図である。
【符号の説明】 １０ 被検査面を表面として有する被検査体 １２ 投影機 １４ 読取装置 １００ 傷（検査部における異常個所）の像
Claims (1)
- 【請求項１】被検査面上の検査部に、光強度が１方向へ
周期的に変化する１次元格子状のパターンを照射し、上
記検査部の像を読取装置により読み取り、 読み取ったパターン像情報を、格子の縞方向に従って微
分処理を行い、その結果に閾値処理を施すことにより、
上記検査部の異常個所を検出することを特徴とする面検
査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4347181A JPH06201607A (ja) | 1992-12-25 | 1992-12-25 | 面検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4347181A JPH06201607A (ja) | 1992-12-25 | 1992-12-25 | 面検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06201607A true JPH06201607A (ja) | 1994-07-22 |
Family
ID=18388474
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4347181A Pending JPH06201607A (ja) | 1992-12-25 | 1992-12-25 | 面検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06201607A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8233694B2 (en) | 2009-10-21 | 2012-07-31 | GM Global Technology Operations LLC | Method of appearance deformation indexing |
| JP2016109532A (ja) * | 2014-12-05 | 2016-06-20 | コマツＮｔｃ株式会社 | 面の評価方法および面の評価装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6373139A (ja) * | 1986-09-17 | 1988-04-02 | Canon Inc | 表面検査装置 |
-
1992
- 1992-12-25 JP JP4347181A patent/JPH06201607A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6373139A (ja) * | 1986-09-17 | 1988-04-02 | Canon Inc | 表面検査装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8233694B2 (en) | 2009-10-21 | 2012-07-31 | GM Global Technology Operations LLC | Method of appearance deformation indexing |
| JP2016109532A (ja) * | 2014-12-05 | 2016-06-20 | コマツＮｔｃ株式会社 | 面の評価方法および面の評価装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980623 |