JPH06202938A - メモリアレイ逐次アクセス回路およびアクセス方法 - Google Patents
メモリアレイ逐次アクセス回路およびアクセス方法Info
- Publication number
- JPH06202938A JPH06202938A JP4340770A JP34077092A JPH06202938A JP H06202938 A JPH06202938 A JP H06202938A JP 4340770 A JP4340770 A JP 4340770A JP 34077092 A JP34077092 A JP 34077092A JP H06202938 A JPH06202938 A JP H06202938A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- line
- output
- lines
- memory array
- bit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 230000004044 response Effects 0.000 claims abstract description 45
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 33
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000003491 array Methods 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013024 troubleshooting Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1018—Serial bit line access mode, e.g. using bit line address shift registers, bit line address counters, bit line burst counters
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- Storage Device Security (AREA)
- Memory System (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 複数個のメモリセル140a−dからなるメ
モリアレイ112を逐次アクセスする方法および回路を
提供する。 【構成】 メモリセル140a−dに接続されたワード
線138aに応答して複数個のメモリセル140a−d
が選定され記憶された各データビットを出力する。メモ
リセル140a−dにより出力される各記憶データビッ
トは各々がメモリセル140a−dの中の関連セルに接
続されている複数のビット線158a−dにより受信さ
れる。各ビット線158a−dは出力線160bに接続
されており、複数のセレクト線124a−dの中の一線
に応答して出力線160bはビット線158a−bの中
の関連する一線からの各記憶データビットをアクセスす
る。セレクト線124a−d間をシフトすることによ
り、出力線160bは各記憶データビットを所定の順序
でアクセスする。
モリアレイ112を逐次アクセスする方法および回路を
提供する。 【構成】 メモリセル140a−dに接続されたワード
線138aに応答して複数個のメモリセル140a−d
が選定され記憶された各データビットを出力する。メモ
リセル140a−dにより出力される各記憶データビッ
トは各々がメモリセル140a−dの中の関連セルに接
続されている複数のビット線158a−dにより受信さ
れる。各ビット線158a−dは出力線160bに接続
されており、複数のセレクト線124a−dの中の一線
に応答して出力線160bはビット線158a−bの中
の関連する一線からの各記憶データビットをアクセスす
る。セレクト線124a−d間をシフトすることによ
り、出力線160bは各記憶データビットを所定の順序
でアクセスする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一般的に電子回路に関
し、特にメモリアレイの逐次アクセス方法および回路に
関する。
し、特にメモリアレイの逐次アクセス方法および回路に
関する。
【0002】
【従来の技術】代表的な先入先出(“FIFO”)メモ
リ等の多くの応用において、メモリアレイのメモリ位置
は逐次アクセスされる。したがって、このようなメモリ
位置を逐次アクセスできる最大周波数を高めてこのよう
な応用の速度を高めることが望ましい。従来の代表的な
方法では、メモリ位置を逐次アクセスできる最大周波数
を高くするために逐次メモリ位置からデータが先取りさ
れてパイプラインレジスタに記憶される。しかしなが
ら、このようなプリフェッチ方法のサイクル時間にはパ
イプラインレジスタの伝搬遅延が含まれるため、この方
法で達成できる最大周波数は制限される。さらに重要な
ことは、プリフェッチ動作により信号線の複雑度が増し
適切なタイミングを達成することも困難となる。
リ等の多くの応用において、メモリアレイのメモリ位置
は逐次アクセスされる。したがって、このようなメモリ
位置を逐次アクセスできる最大周波数を高めてこのよう
な応用の速度を高めることが望ましい。従来の代表的な
方法では、メモリ位置を逐次アクセスできる最大周波数
を高くするために逐次メモリ位置からデータが先取りさ
れてパイプラインレジスタに記憶される。しかしなが
ら、このようなプリフェッチ方法のサイクル時間にはパ
イプラインレジスタの伝搬遅延が含まれるため、この方
法で達成できる最大周波数は制限される。さらに重要な
ことは、プリフェッチ動作により信号線の複雑度が増し
適切なタイミングを達成することも困難となる。
【0003】メモリアレイのメモリ位置を逐次アクセス
するもう一つの代表的方法では、2進カウンタがデコー
ダへの一連のカウントを指定する。デコーダは2進カウ
ントを復号して特定メモリアドレスをアクセスするため
のメモリアレイの特定ローおよびコラムを指定する。こ
の方法の欠点は代表的に2進カウンタによりゼロカウン
トから最大カウントを経てゼロカウントへ戻るのに必要
な総カウント数が2の累乗となる制約が課されることで
ある。したがって、メモリアレイのローもしくはコラム
数が2の累乗でない場合には付加回路が必要になる。
するもう一つの代表的方法では、2進カウンタがデコー
ダへの一連のカウントを指定する。デコーダは2進カウ
ントを復号して特定メモリアドレスをアクセスするため
のメモリアレイの特定ローおよびコラムを指定する。こ
の方法の欠点は代表的に2進カウンタによりゼロカウン
トから最大カウントを経てゼロカウントへ戻るのに必要
な総カウント数が2の累乗となる制約が課されることで
ある。したがって、メモリアレイのローもしくはコラム
数が2の累乗でない場合には付加回路が必要になる。
【0004】重要なことは、2進カウンタおよびデコー
ダには相当数の組合論理ゲートが含まれ、それにより集
積回路のレイアウト領域が消耗され、またローおよびコ
ラム間のスイッチング遅延によりサイクル時間が増大す
ることである。さらに、メモリアレイ内のさらに多くの
メモリ位置を個別にアドレスするためにデコーダおよび
2進カウンタを拡張する場合には、組合論理ゲートの数
が実質的に増大する。したがって、メモリアレイにロー
およびコラムが付加されるため同じモジュールを繰返し
重復することができない。このようなカスケーダビリテ
ィは特定用途集積回路(“ASIC”)コンパイラ設計
プログラムでは非常に望ましいものである。モジュール
化されたカスケーダブルアーキテクチュアを提供すれ
ば、ASICコンパイラ設計はあまり複雑でなく信頼度
の高いものとなり、診断および故障対策が容易になる。
ダには相当数の組合論理ゲートが含まれ、それにより集
積回路のレイアウト領域が消耗され、またローおよびコ
ラム間のスイッチング遅延によりサイクル時間が増大す
ることである。さらに、メモリアレイ内のさらに多くの
メモリ位置を個別にアドレスするためにデコーダおよび
2進カウンタを拡張する場合には、組合論理ゲートの数
が実質的に増大する。したがって、メモリアレイにロー
およびコラムが付加されるため同じモジュールを繰返し
重復することができない。このようなカスケーダビリテ
ィは特定用途集積回路(“ASIC”)コンパイラ設計
プログラムでは非常に望ましいものである。モジュール
化されたカスケーダブルアーキテクチュアを提供すれ
ば、ASICコンパイラ設計はあまり複雑でなく信頼度
の高いものとなり、診断および故障対策が容易になる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】したがって、メモリア
レイのメモリ位置を逐次アクセスできる最大周波数が高
められる、メモリアレイの逐次アクセス方法および回路
に対するニーズが生じている。重要なことは、デコーダ
や2進カウンタにより課される制約が実質的に回避され
る、メモリアレイの逐次アクセス方法および回路に対す
るニーズが生じていることである。さらに、信号線の複
雑度および適切なタイミングを得る困難度が緩和され
る、メモリアレイの逐次アクセス方法および回路に対す
るニーズも生じている。
レイのメモリ位置を逐次アクセスできる最大周波数が高
められる、メモリアレイの逐次アクセス方法および回路
に対するニーズが生じている。重要なことは、デコーダ
や2進カウンタにより課される制約が実質的に回避され
る、メモリアレイの逐次アクセス方法および回路に対す
るニーズが生じていることである。さらに、信号線の複
雑度および適切なタイミングを得る困難度が緩和され
る、メモリアレイの逐次アクセス方法および回路に対す
るニーズも生じている。
【0006】
【課題を解決するための手段】メモリアレイを逐次アク
セスする方法および回路において、メモリアレイは複数
個のメモリセルからなっている。複数個のメモリセルは
それに接続されたワード線に応答して選定され各記憶デ
ータビットを出力する。メモリセルから出力される各記
憶データビットは各々が関連するメモリセルに接続され
ている複数のビット線により受信される。各ビット線は
出力線に選択的に接続され、複数本のセレクト線の中の
1本に応答して出力線が関連するビット線からの各記憶
データビットへアクセスするようにされる。セレクト線
間でシフトすることにより、出力線は各記憶データビッ
トを所定の順序でアクセスする。
セスする方法および回路において、メモリアレイは複数
個のメモリセルからなっている。複数個のメモリセルは
それに接続されたワード線に応答して選定され各記憶デ
ータビットを出力する。メモリセルから出力される各記
憶データビットは各々が関連するメモリセルに接続され
ている複数のビット線により受信される。各ビット線は
出力線に選択的に接続され、複数本のセレクト線の中の
1本に応答して出力線が関連するビット線からの各記憶
データビットへアクセスするようにされる。セレクト線
間でシフトすることにより、出力線は各記憶データビッ
トを所定の順序でアクセスする。
【0007】メモリアレイのメモリ位置を逐次アクセス
できる最大周波数を増大できることが本発明の技術的利
点である。
できる最大周波数を増大できることが本発明の技術的利
点である。
【0008】デコーダや2進カウンタにより課される制
約を実質的に回避できることが本発明のもう一つの技術
的利点である。
約を実質的に回避できることが本発明のもう一つの技術
的利点である。
【0009】信号線の複雑度を緩和できることが本発明
のもう一つの技術的利点である。
のもう一つの技術的利点である。
【0010】適切なタイミングを得る際の困難を緩和で
きることが本発明のもう一つの技術的利点である。
きることが本発明のもう一つの技術的利点である。
【0011】
【実施例】図1〜図3を参照すれば本発明の実施例およ
びその利点を最も理解することができ、さまざまな図面
の同じおよび対応する部分には同じ番号が使用されてい
る。
びその利点を最も理解することができ、さまざまな図面
の同じおよび対応する部分には同じ番号が使用されてい
る。
【0012】図1は従来技術によりメモリアレイ12を
逐次アクセスする略電気回路図を一般的に符号10に示
してある。明確にするために、メモリアレイ12はワー
ド線34a〜cにより選定される3つのローおよびコラ
ムセレクト線22a〜dおよび24a〜dにより選定さ
れる8つのコラムを有しているが、ローおよびコラム数
は変えることができる。したがって、メモリアレイ12
はローおよびコラムの交点に位置する24個のメモリセ
ルを含んでおり、各メモリセルがデータビットを記憶す
ることができる。特定メモリセルの位置で交差するコラ
ムおよびローを選定することによりメモリアレイ12の
特定メモリセルをアドレスすることができる。線13上
のリードクロックパルスに応答して特定メモリセルをア
ドレスした後、メモリアレイ12は特定メモリセルに記
憶されたデータビットを出力信号線38a,38bへ出
力する。図1において、メモリアレイ12の24個のメ
モリセルは12×2としてアドレスされ、2個のメモリ
セルが線13上のリードクロックパルスに応答して任意
の時間にアドレスされて2データビットを出力する。
逐次アクセスする略電気回路図を一般的に符号10に示
してある。明確にするために、メモリアレイ12はワー
ド線34a〜cにより選定される3つのローおよびコラ
ムセレクト線22a〜dおよび24a〜dにより選定さ
れる8つのコラムを有しているが、ローおよびコラム数
は変えることができる。したがって、メモリアレイ12
はローおよびコラムの交点に位置する24個のメモリセ
ルを含んでおり、各メモリセルがデータビットを記憶す
ることができる。特定メモリセルの位置で交差するコラ
ムおよびローを選定することによりメモリアレイ12の
特定メモリセルをアドレスすることができる。線13上
のリードクロックパルスに応答して特定メモリセルをア
ドレスした後、メモリアレイ12は特定メモリセルに記
憶されたデータビットを出力信号線38a,38bへ出
力する。図1において、メモリアレイ12の24個のメ
モリセルは12×2としてアドレスされ、2個のメモリ
セルが線13上のリードクロックパルスに応答して任意
の時間にアドレスされて2データビットを出力する。
【0013】図1において、コラムデコーダ20からの
コラムセレクト線22a〜d、24a〜dにより特定コ
ラムが選定され、2進コラムカウンタ16からの線18
a〜d上に指定された2進コラムカウントに基いてコラ
ムセレクト線22a〜dの中の1本およびコラムセレク
ト線24a〜dの中の1本が設定される。2進コラムカ
ウンタ16は線14上のカウント信号パルスに応答して
2進コラムカウントを増分する。例えば、2進コラムカ
ウントは線14上の第1のパルスに応答して0から1
へ、線14上の第2のパルスに応答して1から2へ、線
14上の第3のパルスに応答して2から3へ、次に線1
4上の第4のパルスに応答して3から0へ戻るようなシ
ーケンスとされる。
コラムセレクト線22a〜d、24a〜dにより特定コ
ラムが選定され、2進コラムカウンタ16からの線18
a〜d上に指定された2進コラムカウントに基いてコラ
ムセレクト線22a〜dの中の1本およびコラムセレク
ト線24a〜dの中の1本が設定される。2進コラムカ
ウンタ16は線14上のカウント信号パルスに応答して
2進コラムカウントを増分する。例えば、2進コラムカ
ウントは線14上の第1のパルスに応答して0から1
へ、線14上の第2のパルスに応答して1から2へ、線
14上の第3のパルスに応答して2から3へ、次に線1
4上の第4のパルスに応答して3から0へ戻るようなシ
ーケンスとされる。
【0014】線18a〜d上の2進コラムカウントに基
づいて、コラムデコーダ20はコラムセレクト線22a
〜dの中の1本およびコラムセレクト線24a〜dの中
の1本を選択的に設定する。このようにして、メモリア
レイ12の2個のメモリセルが一時にアドレスされる。
2進コラムカウントが0であれば、コラムデコーダ20
はコラムセレクト線22a,24aを設定してメモリア
レイ12の第1および第5コラムを選定する。2進コラ
ムカウントが1であれば、コラムデコーダ20はコラム
セレクト線22b,24bを設定してメモリアレイ12
の第2および第6コラムを選定する。2進コラムカウン
トが2であれば、コラムデコーダ20はコラムセレクト
線22c,24cを設定してメモリアレイ12の第3お
よび第7コラムを選定する。2進コラムカウントが3で
あれば、コラムデコーダ20はコラムセレクト線22
d,24dを設定してメモリアレイ12の第4および第
8コラムを選定する。
づいて、コラムデコーダ20はコラムセレクト線22a
〜dの中の1本およびコラムセレクト線24a〜dの中
の1本を選択的に設定する。このようにして、メモリア
レイ12の2個のメモリセルが一時にアドレスされる。
2進コラムカウントが0であれば、コラムデコーダ20
はコラムセレクト線22a,24aを設定してメモリア
レイ12の第1および第5コラムを選定する。2進コラ
ムカウントが1であれば、コラムデコーダ20はコラム
セレクト線22b,24bを設定してメモリアレイ12
の第2および第6コラムを選定する。2進コラムカウン
トが2であれば、コラムデコーダ20はコラムセレクト
線22c,24cを設定してメモリアレイ12の第3お
よび第7コラムを選定する。2進コラムカウントが3で
あれば、コラムデコーダ20はコラムセレクト線22
d,24dを設定してメモリアレイ12の第4および第
8コラムを選定する。
【0015】ローデコーダ32からのワード線34a〜
cにより特定ローが選定され、2進ローカウンタ28か
らの線30a〜dに指定された2進ローカウントに基い
てワード線34a〜cの中の1本が設定される。線18
a〜b上の2進コラムカウントが3から0へ逐次戻され
ると、コラムデコーダ20は線26を介して2進ローカ
ウンタ28へカウント信号パルスを出力する。線26上
のこのようなパルスに応答して、2進ローカウンタ28
は2進ローカウントを増分する。例えば、2進ローカウ
ントは線26上の第1パルスに応答して0から1へ、線
26上の第2パルスに応答して1から2へとシーケンス
される。
cにより特定ローが選定され、2進ローカウンタ28か
らの線30a〜dに指定された2進ローカウントに基い
てワード線34a〜cの中の1本が設定される。線18
a〜b上の2進コラムカウントが3から0へ逐次戻され
ると、コラムデコーダ20は線26を介して2進ローカ
ウンタ28へカウント信号パルスを出力する。線26上
のこのようなパルスに応答して、2進ローカウンタ28
は2進ローカウントを増分する。例えば、2進ローカウ
ントは線26上の第1パルスに応答して0から1へ、線
26上の第2パルスに応答して1から2へとシーケンス
される。
【0016】線30a〜b上の2進ローカウントに基い
て、ローデコーダ32はワード線34a〜cの中の1本
を選択的に設定する。2進ローカウントが0であれば、
ローデコーダ32はワード線34aを設定してメモリア
レイ12の第1のローを選定する。2進ローカウントが
1であれば、ローデコーダ32はワード線34bを設定
してメモリアレイ12の第2のローを選定する。2進ロ
ーカウントが2であれば、ローデコーダ32はワード線
34cを設定してメモリアレイ12の第3のローを選定
する。
て、ローデコーダ32はワード線34a〜cの中の1本
を選択的に設定する。2進ローカウントが0であれば、
ローデコーダ32はワード線34aを設定してメモリア
レイ12の第1のローを選定する。2進ローカウントが
1であれば、ローデコーダ32はワード線34bを設定
してメモリアレイ12の第2のローを選定する。2進ロ
ーカウントが2であれば、ローデコーダ32はワード線
34cを設定してメモリアレイ12の第3のローを選定
する。
【0017】ワード線34cは2進ローカウンタ28の
リセット入力36に接続されている。したがって、ロー
デコーダ32がワード線34cを設定すると、2進ロー
カウンタ28により2進ローカウントは2から0へリセ
ットされる。そうでなければ、2進ローカウンタ28は
線26上の後続パルスに応答して2進ローカウントを2
から3へ増分し、したがって図1のメモリアレイ12は
3つのローしかないためメモリアレイ12のローを適切
に選定することができない。
リセット入力36に接続されている。したがって、ロー
デコーダ32がワード線34cを設定すると、2進ロー
カウンタ28により2進ローカウントは2から0へリセ
ットされる。そうでなければ、2進ローカウンタ28は
線26上の後続パルスに応答して2進ローカウントを2
から3へ増分し、したがって図1のメモリアレイ12は
3つのローしかないためメモリアレイ12のローを適切
に選定することができない。
【0018】ワード線34a〜cの中の選定線およびコ
ラムセレクト線22a〜dの中の選定線によりアドレス
される特定メモリに対して、メモリアレイ12は特定メ
モリセルに記憶されたデータビットを出力信号線38a
を介して出力する。ワード線34a〜cの中の選定線お
よびコラムセレクト線24a〜dの中の選定線によりア
ドレスされる特定メモリに対して、メモリアレイ12は
特定メモリセルに記憶されたデータビットを出力信号線
38bを介して出力する。
ラムセレクト線22a〜dの中の選定線によりアドレス
される特定メモリに対して、メモリアレイ12は特定メ
モリセルに記憶されたデータビットを出力信号線38a
を介して出力する。ワード線34a〜cの中の選定線お
よびコラムセレクト線24a〜dの中の選定線によりア
ドレスされる特定メモリに対して、メモリアレイ12は
特定メモリセルに記憶されたデータビットを出力信号線
38bを介して出力する。
【0019】出力段40において、各出力信号線38a
〜dは各出力信号線38a〜bからのデータビットを別
々にラッチする別々の背中合せCMOSインバータ対に
接続される。出力段40にはイネーブル線44が設定さ
れているかどうかに基いて出力線42a〜bを介してラ
ッチされたデータビットを選択的に与える3−ステート
バッファが含まれている。
〜dは各出力信号線38a〜bからのデータビットを別
々にラッチする別々の背中合せCMOSインバータ対に
接続される。出力段40にはイネーブル線44が設定さ
れているかどうかに基いて出力線42a〜bを介してラ
ッチされたデータビットを選択的に与える3−ステート
バッファが含まれている。
【0020】ローデコーダ32およびコラムデコーダ2
0はメモリアレイ12のメモリセルを逐次もしくは非逐
次に指定するように設計されている。図1において、メ
モリアレイ12内のメモリセルの逐次アクセス順は2進
ローカウンタ28および2進コラムカウンタ16を使用
してローデコーダ32およびコラムデコーダ20の一連
の逐次2進カウントを指定することにより達成される。
メモリセルを非逐次順で指定することもできるローデコ
ーダ32およびコラムデコーダ20を使用することによ
り、図1の方法には著しい欠点がある。
0はメモリアレイ12のメモリセルを逐次もしくは非逐
次に指定するように設計されている。図1において、メ
モリアレイ12内のメモリセルの逐次アクセス順は2進
ローカウンタ28および2進コラムカウンタ16を使用
してローデコーダ32およびコラムデコーダ20の一連
の逐次2進カウントを指定することにより達成される。
メモリセルを非逐次順で指定することもできるローデコ
ーダ32およびコラムデコーダ20を使用することによ
り、図1の方法には著しい欠点がある。
【0021】一つの欠点は、2進カウンタ16,28等
の2進カウンタには代表的に0カウントから最大カウン
トを経て0へ戻るのに要する総カウント数が2の累乗と
なる制約が課される。したがって、図1で2進ローカウ
ンタ28のリセット入力36に接続されたワード線34
cで示すように、付加回路が必要となるとなることであ
る。もう一つの欠点は、コラムデコーダ20およびロー
デコーダ32が相当数の組合せ論理ゲートを含み、それ
らは集積回路内のレイアウト領域を消耗し、さらに電力
を消耗し、ローおよびコラム間のスイッチングに遅延を
生じてサイクル時間が増大することである。さらに、メ
モリアレイ12内のさらに多くのメモリセルを個別にア
ドレスするためにローデコーダ32およびコラムデコー
ダ20を拡張した場合には組合せ論理ゲートの数が実質
的に増大する。同様に、メモリアレイ12内のさらに多
くのメモリセルを個別にアドレスする高い2進カウント
を与えるために2進コラムカウンタ16および2進ロー
カウンタ28を拡張すると、2進カウンタおよびデコー
ダ内の組合せ論理ゲートの数がさらに実質的に増大す
る。さらに、2進コラムカウンタ16および2進ローカ
ウンタ28はカスケーダブルに拡張することができな
い。
の2進カウンタには代表的に0カウントから最大カウン
トを経て0へ戻るのに要する総カウント数が2の累乗と
なる制約が課される。したがって、図1で2進ローカウ
ンタ28のリセット入力36に接続されたワード線34
cで示すように、付加回路が必要となるとなることであ
る。もう一つの欠点は、コラムデコーダ20およびロー
デコーダ32が相当数の組合せ論理ゲートを含み、それ
らは集積回路内のレイアウト領域を消耗し、さらに電力
を消耗し、ローおよびコラム間のスイッチングに遅延を
生じてサイクル時間が増大することである。さらに、メ
モリアレイ12内のさらに多くのメモリセルを個別にア
ドレスするためにローデコーダ32およびコラムデコー
ダ20を拡張した場合には組合せ論理ゲートの数が実質
的に増大する。同様に、メモリアレイ12内のさらに多
くのメモリセルを個別にアドレスする高い2進カウント
を与えるために2進コラムカウンタ16および2進ロー
カウンタ28を拡張すると、2進カウンタおよびデコー
ダ内の組合せ論理ゲートの数がさらに実質的に増大す
る。さらに、2進コラムカウンタ16および2進ローカ
ウンタ28はカスケーダブルに拡張することができな
い。
【0022】図2に一般的に符号110で実施例の破線
112で示すメモリアレイを逐次アクセスするための略
電気回路図を示す。リードクロック114がコラムリン
グカウンタ116のクロック入力115、ANDゲート
118aの第1の入力117a、ANDゲート118b
の第1の入力117b、ANDゲート118cの第1の
入力117c、ANDゲート118dの第1の入力11
7d、およびANDゲート120の第1の入力119に
接続されている。
112で示すメモリアレイを逐次アクセスするための略
電気回路図を示す。リードクロック114がコラムリン
グカウンタ116のクロック入力115、ANDゲート
118aの第1の入力117a、ANDゲート118b
の第1の入力117b、ANDゲート118cの第1の
入力117c、ANDゲート118dの第1の入力11
7d、およびANDゲート120の第1の入力119に
接続されている。
【0023】コラムリングカウンタ116のセレクト線
出力121aはANDゲート118aの第2の入力12
2aに接続されている。コラムリングカウンタ116の
セレクト線出力121bはANDゲート118bの第2
の入力122bに接続されている。コラムリングカウン
タ116のセレクト線出力121cはANDゲート11
8cの第2の入力122cに接続されている。コラムリ
ングカウンタ116のセレクト線出力121dはAND
ゲート118dの第2の入力122dおよびANDゲー
ト120の第2の入力123に接続されている。
出力121aはANDゲート118aの第2の入力12
2aに接続されている。コラムリングカウンタ116の
セレクト線出力121bはANDゲート118bの第2
の入力122bに接続されている。コラムリングカウン
タ116のセレクト線出力121cはANDゲート11
8cの第2の入力122cに接続されている。コラムリ
ングカウンタ116のセレクト線出力121dはAND
ゲート118dの第2の入力122dおよびANDゲー
ト120の第2の入力123に接続されている。
【0024】転送ゲートバス線126a〜dによりAN
Dゲート118a〜dの出力124a〜dは転送ゲート
128a〜dのセレクト線入力127a〜dに接続され
さらに転送ゲート130a〜dのセレクト線入力129
a〜dに接続される。このようにして、ANDゲート出
力124a〜dの中の一つによりメモリアレイ112の
2つ以上の転送ゲートを選定することができる。図2に
示すように、メモリアレイ112の各半分に対して一つ
の転送ゲートが選定される。図2において、ANDゲー
ト118aの出力124aは転送ゲートバス線126a
に接続され、ANDゲート118bの出力124bは転
送ゲートバス線126bに接続され、ANDゲート11
8cの出力124cは転送ゲートバス線126cに接続
され、ANDゲート118dの出力124dは転送ゲー
トバス線126dに接続されている。転送ゲート128
a〜dのセレクト線入力127a〜dはそれぞれ転送ゲ
ートバス線126a〜dに接続されている。転送ゲート
130a〜dのセレクト線入力129a〜dはそれぞれ
転送ゲートバス線126a〜dに接続されている。AN
Dゲート120の出力132はローリングカウンタ13
6のクロック入力134に接続されている。
Dゲート118a〜dの出力124a〜dは転送ゲート
128a〜dのセレクト線入力127a〜dに接続され
さらに転送ゲート130a〜dのセレクト線入力129
a〜dに接続される。このようにして、ANDゲート出
力124a〜dの中の一つによりメモリアレイ112の
2つ以上の転送ゲートを選定することができる。図2に
示すように、メモリアレイ112の各半分に対して一つ
の転送ゲートが選定される。図2において、ANDゲー
ト118aの出力124aは転送ゲートバス線126a
に接続され、ANDゲート118bの出力124bは転
送ゲートバス線126bに接続され、ANDゲート11
8cの出力124cは転送ゲートバス線126cに接続
され、ANDゲート118dの出力124dは転送ゲー
トバス線126dに接続されている。転送ゲート128
a〜dのセレクト線入力127a〜dはそれぞれ転送ゲ
ートバス線126a〜dに接続されている。転送ゲート
130a〜dのセレクト線入力129a〜dはそれぞれ
転送ゲートバス線126a〜dに接続されている。AN
Dゲート120の出力132はローリングカウンタ13
6のクロック入力134に接続されている。
【0025】ローリングカウンタ136のワード線入力
138aはメモリセル140a〜dに接続され、ローリ
ングカウンタ136のワード線出力138bはメモリセ
ル142a〜dに接続されている。ローリングカウンタ
136のワード線出力144aはメモリセル146a〜
dに接続され、ローリングカウンタ136のワード線出
力144bはメモリセル148a〜dに接続されてい
る。ローリングカウンタ136のワード線出力150a
はメモリセル152a〜dに接続され、ローリングカウ
ンタ136のワード線出力150bはメモリセル154
a〜dに接続されている。小型メモリアレイに対して
は、ワード線138a〜dを1個の信号ドライバにより
発生することができる。同様に、ワード線144a〜b
は1個の信号ドライバにより発生することができ、ワー
ド線150a〜dは1個の信号ドライバにより発生する
ことができる。
138aはメモリセル140a〜dに接続され、ローリ
ングカウンタ136のワード線出力138bはメモリセ
ル142a〜dに接続されている。ローリングカウンタ
136のワード線出力144aはメモリセル146a〜
dに接続され、ローリングカウンタ136のワード線出
力144bはメモリセル148a〜dに接続されてい
る。ローリングカウンタ136のワード線出力150a
はメモリセル152a〜dに接続され、ローリングカウ
ンタ136のワード線出力150bはメモリセル154
a〜dに接続されている。小型メモリアレイに対して
は、ワード線138a〜dを1個の信号ドライバにより
発生することができる。同様に、ワード線144a〜b
は1個の信号ドライバにより発生することができ、ワー
ド線150a〜dは1個の信号ドライバにより発生する
ことができる。
【0026】ビット線156aはメモリセル142a,
148a,154aを介して転送ゲート130aに接続
されている。ビット線156bはメモリセル142b,
148b,154bを介して転送ゲート130bに接続
されている。ビット線156cはメモリセル142c,
148c,154cを介して転送ゲート130cに接続
されている。ビット線156dはメモリセル142d,
148d,154dを介して転送ゲート130dに接続
されている。ビット線158aはメモリセル140a,
146a,152aを介して転送ゲート128aに接続
されている。ビット線158bはメモリセル140b,
146b,152bを介して転送ゲート128bに接続
されている。ビット線158cはメモリセル140c,
146c,152cを介して転送ゲート128cに接続
されている。ビット線158dはメモリセル140d,
146d,152dを介して転送ゲート128dに接続
されている。
148a,154aを介して転送ゲート130aに接続
されている。ビット線156bはメモリセル142b,
148b,154bを介して転送ゲート130bに接続
されている。ビット線156cはメモリセル142c,
148c,154cを介して転送ゲート130cに接続
されている。ビット線156dはメモリセル142d,
148d,154dを介して転送ゲート130dに接続
されている。ビット線158aはメモリセル140a,
146a,152aを介して転送ゲート128aに接続
されている。ビット線158bはメモリセル140b,
146b,152bを介して転送ゲート128bに接続
されている。ビット線158cはメモリセル140c,
146c,152cを介して転送ゲート128cに接続
されている。ビット線158dはメモリセル140d,
146d,152dを介して転送ゲート128dに接続
されている。
【0027】セレクト線入力129a〜dの状態に基い
て、転送ゲート130a〜dはそれぞれビット線156
a〜dを出力信号線160aに選択的に接続する。セレ
クト線入力127a〜dの状態に基いて、転送ゲート1
28a〜dはそれぞれビット線158a〜dを出力線1
60bに選択的に接続する。
て、転送ゲート130a〜dはそれぞれビット線156
a〜dを出力信号線160aに選択的に接続する。セレ
クト線入力127a〜dの状態に基いて、転送ゲート1
28a〜dはそれぞれビット線158a〜dを出力線1
60bに選択的に接続する。
【0028】出力段162において、各出力信号線16
0a〜bは異なる背中合せCMOSインバータ対に接続
されて各出力信号線160a〜bから別々にデータビッ
トをラッチする。出力段162にはイネーブル線166
が設定されているかどうかに基いて出力線164a〜b
にラッチされたデータビットを選択的に与える3−ステ
ートバッファが含まれている。
0a〜bは異なる背中合せCMOSインバータ対に接続
されて各出力信号線160a〜bから別々にデータビッ
トをラッチする。出力段162にはイネーブル線166
が設定されているかどうかに基いて出力線164a〜b
にラッチされたデータビットを選択的に与える3−ステ
ートバッファが含まれている。
【0029】コラムリングカウンタ116およびローリ
ングカウンタ136を使用すれば、図2の方法によりメ
モリアレイ112内のメモリセルの逐次アクセス順が達
成され、図1の方法に較べて著しく有利となる。重要な
ことは、コラムリングカウンタ116およびローリング
カウンタ136の出力は復号する必要がなく、したがっ
て組合せ論理ゲートの数を実質的に低減することにより
サイクル時間が低減される。さらに、デコーダおよび2
進カウンタが不要とされるため、図2の方法はカスケー
ダブルであり、メモリアレイ112にさらにコラムおよ
びローを付加する場合に同じモジュールを繰返し重復し
てコラムリングカウンタ116やローリングカウンタ1
36を拡張することができる。このようなカスケーダビ
リティは特定用途集積回路(“ASIC”)コンパイラ
設計プログラムに対して非常に望ましいものである。モ
ジュール化されたカスケーダブルアーキテクチュアによ
り、ASICコンパイラ設計は複雑度が緩和されて信頼
度が高まり、それにより診断および故障対策が容易にな
る。
ングカウンタ136を使用すれば、図2の方法によりメ
モリアレイ112内のメモリセルの逐次アクセス順が達
成され、図1の方法に較べて著しく有利となる。重要な
ことは、コラムリングカウンタ116およびローリング
カウンタ136の出力は復号する必要がなく、したがっ
て組合せ論理ゲートの数を実質的に低減することにより
サイクル時間が低減される。さらに、デコーダおよび2
進カウンタが不要とされるため、図2の方法はカスケー
ダブルであり、メモリアレイ112にさらにコラムおよ
びローを付加する場合に同じモジュールを繰返し重復し
てコラムリングカウンタ116やローリングカウンタ1
36を拡張することができる。このようなカスケーダビ
リティは特定用途集積回路(“ASIC”)コンパイラ
設計プログラムに対して非常に望ましいものである。モ
ジュール化されたカスケーダブルアーキテクチュアによ
り、ASICコンパイラ設計は複雑度が緩和されて信頼
度が高まり、それにより診断および故障対策が容易にな
る。
【0030】明瞭にするために、メモリアレイ112は
3つのロー(ワード線)と8つのカラム(ビット線)を
有しているが、ローおよびカラム数は変えることができ
る。したがって、メモリアレイ112はローとコラムの
交点に位置する24個のメモリセルを含み、各メモリセ
ルがデータビットを記憶することができる。
3つのロー(ワード線)と8つのカラム(ビット線)を
有しているが、ローおよびカラム数は変えることができ
る。したがって、メモリアレイ112はローとコラムの
交点に位置する24個のメモリセルを含み、各メモリセ
ルがデータビットを記憶することができる。
【0031】実施例では、メモリアレイ112のメモリ
セルはビット線プリチャージすなわちリードビット線の
“プルアップ”を必要としないBiCMOSデュアルポ
ートメモリセルである。ワード線がメモリセルのローを
選択すると、選定されたメモリセルはそれぞれ記憶され
たデータビットをそれに接続されたビット線へ出力す
る。メモリアレイ112のメモリセルはリードクロック
114の各パルスに応答してビット線をチャージもしく
はディスチャージする必要がないため、制御信号が簡単
化され、パワーが節減され、メモリアレイ内のスイッチ
ングノイズが低減する。
セルはビット線プリチャージすなわちリードビット線の
“プルアップ”を必要としないBiCMOSデュアルポ
ートメモリセルである。ワード線がメモリセルのローを
選択すると、選定されたメモリセルはそれぞれ記憶され
たデータビットをそれに接続されたビット線へ出力す
る。メモリアレイ112のメモリセルはリードクロック
114の各パルスに応答してビット線をチャージもしく
はディスチャージする必要がないため、制御信号が簡単
化され、パワーが節減され、メモリアレイ内のスイッチ
ングノイズが低減する。
【0032】また、リードクロック114の一連のパル
スに応答して転送ゲート128a〜d、130a〜dを
逐次オンとすることにより、コラムリングカウンタ11
6がビット線からのデータビットを多重化する間選定さ
れたワード線はイネーブルされたままとされるため、ア
クセス時間が短縮される。有利なことに、ビット線の電
荷が出力段162を駆動するのを助けてその速度が増大
する。
スに応答して転送ゲート128a〜d、130a〜dを
逐次オンとすることにより、コラムリングカウンタ11
6がビット線からのデータビットを多重化する間選定さ
れたワード線はイネーブルされたままとされるため、ア
クセス時間が短縮される。有利なことに、ビット線の電
荷が出力段162を駆動するのを助けてその速度が増大
する。
【0033】さらに、ローリングカウンタ136がシフ
トして特定ワード線をイネーブルすると、ワード線のメ
モリセルはリードクロック114の次のパルスに応答し
てアクセスできる状態となる。このようにして、リード
クロック114の一連のパルスに応答して転送ゲート1
28a〜d、130a〜dの連続ゲートをオンとするこ
とによりビット線からのデータビットを多重化しながら
ワード線を断続的にイネーブルすることによりある形式
のデータビットの多段パイプラインが達成される。した
がって、パイプラインレジスタが不要となり、制御信号
が簡単化されてサイクル時間が短縮される。
トして特定ワード線をイネーブルすると、ワード線のメ
モリセルはリードクロック114の次のパルスに応答し
てアクセスできる状態となる。このようにして、リード
クロック114の一連のパルスに応答して転送ゲート1
28a〜d、130a〜dの連続ゲートをオンとするこ
とによりビット線からのデータビットを多重化しながら
ワード線を断続的にイネーブルすることによりある形式
のデータビットの多段パイプラインが達成される。した
がって、パイプラインレジスタが不要となり、制御信号
が簡単化されてサイクル時間が短縮される。
【0034】特定メモリセルの位置で交差するコラムお
よびローを指定することによりメモリアレイ112の特
定メモリセルをアドレスすることができる。特定メモリ
セルがアドレスされると、メモリアレイ112はリード
クロック114のパルスに応答して特定メモリセルに記
憶されたデータビットを出力する。図2において、メモ
リアレイ12の24個のメモリセルは12×2としてア
ドレスされ、2個のメモリセルがリードクロック114
のパルスに応答して任意の一時期にアドレスされ2デー
タビットを出力する。
よびローを指定することによりメモリアレイ112の特
定メモリセルをアドレスすることができる。特定メモリ
セルがアドレスされると、メモリアレイ112はリード
クロック114のパルスに応答して特定メモリセルに記
憶されたデータビットを出力する。図2において、メモ
リアレイ12の24個のメモリセルは12×2としてア
ドレスされ、2個のメモリセルがリードクロック114
のパルスに応答して任意の一時期にアドレスされ2デー
タビットを出力する。
【0035】メモリアレイ112は2分される。メモリ
アレイ112の第1の半分はワード線138a,144
a,150aおよび転送ゲート128a〜dのセレクト
線入力127a〜dによりアドレスされる。メモリアレ
イ112の第2の半分はワード線138b,144b,
150bおよび転送ゲート130a〜dのセレクト線入
力129a〜dによりアドレスされる。メモリアレイ1
12を別々の半分へ分割すれば、ワード線138a〜
b、144a〜b、150a〜bは長さが短縮されるた
め信号の減衰が少くなり、ローリングカウンタ136の
所要駆動能力が低くなる。
アレイ112の第1の半分はワード線138a,144
a,150aおよび転送ゲート128a〜dのセレクト
線入力127a〜dによりアドレスされる。メモリアレ
イ112の第2の半分はワード線138b,144b,
150bおよび転送ゲート130a〜dのセレクト線入
力129a〜dによりアドレスされる。メモリアレイ1
12を別々の半分へ分割すれば、ワード線138a〜
b、144a〜b、150a〜bは長さが短縮されるた
め信号の減衰が少くなり、ローリングカウンタ136の
所要駆動能力が低くなる。
【0036】ワード線対138aおよび138b、ワー
ド線対144aおよび144b、もしくはワード線対1
50aおよび150bを設定することによりローリング
カウンタ136は一時に一つのローを選定する。コラム
リングカウンタ116はそれぞれセレクト線出力121
a〜dの一つを設定することにより一時にANDゲート
118a〜dの一つをイネーブルする。リードクロック
114のパルスに応答して、一つの選定されたANDゲ
ート118a〜dによりそれぞれセレクト線入力127
a〜dの一つおよびセレクト線入力129a〜dの一つ
が設定され、メモリアレイ112の各半分のコラムが選
定される。
ド線対144aおよび144b、もしくはワード線対1
50aおよび150bを設定することによりローリング
カウンタ136は一時に一つのローを選定する。コラム
リングカウンタ116はそれぞれセレクト線出力121
a〜dの一つを設定することにより一時にANDゲート
118a〜dの一つをイネーブルする。リードクロック
114のパルスに応答して、一つの選定されたANDゲ
ート118a〜dによりそれぞれセレクト線入力127
a〜dの一つおよびセレクト線入力129a〜dの一つ
が設定され、メモリアレイ112の各半分のコラムが選
定される。
【0037】コラムリングカウンタ116およびローリ
ングカウンタ136はシフトレジスタとして作動する。
初期状態において、コラムリングカウンタ116はセレ
クト線出力121aを設定することによりANDゲート
118aをイネーブルし、ローリングカウンタ136は
ワード線対138a,138bを設定する。リードクロ
ック114のパルスに応答して、ANDゲート118a
がセレクト線入力129a,127aを設定して転送ゲ
ート130a,128aをオンとする時にメモリセル1
42a,140aからのデータビットが出力信号線16
0a,160bへ出力される。リードクロック114の
この同じパルスに応答して、コラムリングカウンタ11
6がシフトしてANDゲート118aの替りに次に続く
ANDゲート118bをイネーブルする。
ングカウンタ136はシフトレジスタとして作動する。
初期状態において、コラムリングカウンタ116はセレ
クト線出力121aを設定することによりANDゲート
118aをイネーブルし、ローリングカウンタ136は
ワード線対138a,138bを設定する。リードクロ
ック114のパルスに応答して、ANDゲート118a
がセレクト線入力129a,127aを設定して転送ゲ
ート130a,128aをオンとする時にメモリセル1
42a,140aからのデータビットが出力信号線16
0a,160bへ出力される。リードクロック114の
この同じパルスに応答して、コラムリングカウンタ11
6がシフトしてANDゲート118aの替りに次に続く
ANDゲート118bをイネーブルする。
【0038】リードクロック114の次のパルスに応答
して、メモリセル142b,140bからのデータビッ
トがそれぞれ出力信号線160a,160bへ出力さ
れ、コラムリングカウンタ116がシフトしてANDゲ
ート118bの替りに次に続くANDゲート118cを
イネーブルする。コラムリングカウンタ116がシフト
してANDゲート118dをイネーブルするまで、リー
ドクロック114の後続パルスに応答して動作が同様に
継続される。
して、メモリセル142b,140bからのデータビッ
トがそれぞれ出力信号線160a,160bへ出力さ
れ、コラムリングカウンタ116がシフトしてANDゲ
ート118bの替りに次に続くANDゲート118cを
イネーブルする。コラムリングカウンタ116がシフト
してANDゲート118dをイネーブルするまで、リー
ドクロック114の後続パルスに応答して動作が同様に
継続される。
【0039】コラムリングカウンタ116がシフトして
ANDゲート118dをイネーブルすると、ANDゲー
ト120の入力123はコラムリングカウンタ116の
セレクト線出力121dに接続されているためANDゲ
ート120もイネーブルされる。したがって、リードク
ロック114の次のパルスに応答して、メモリセル14
2d,140dからのデータビットがそれぞれ出力信号
線160a,160dに出力される。また、コラムリン
グカウンタ116がシフトしてANDゲート118dの
替りに次に続くANDゲート118aをイネーブルし、
ANDゲート118a〜dは円形すなわちリング状に繰
返しシーケンスすなわち巡回される。リードクロック1
14のこの同じパルスに応答して、ローリングカウンタ
136がシフトしてANDゲート120がローリングカ
ウンタ136のクロツク入力134を設定する時に次に
続くワード線対144a,144bを設定する。
ANDゲート118dをイネーブルすると、ANDゲー
ト120の入力123はコラムリングカウンタ116の
セレクト線出力121dに接続されているためANDゲ
ート120もイネーブルされる。したがって、リードク
ロック114の次のパルスに応答して、メモリセル14
2d,140dからのデータビットがそれぞれ出力信号
線160a,160dに出力される。また、コラムリン
グカウンタ116がシフトしてANDゲート118dの
替りに次に続くANDゲート118aをイネーブルし、
ANDゲート118a〜dは円形すなわちリング状に繰
返しシーケンスすなわち巡回される。リードクロック1
14のこの同じパルスに応答して、ローリングカウンタ
136がシフトしてANDゲート120がローリングカ
ウンタ136のクロツク入力134を設定する時に次に
続くワード線対144a,144bを設定する。
【0040】コラムリングカウンタ116はリードクロ
ック114の後続パルスに応答して再びシフトしたAN
Dゲート118a〜dの連続ゲートをイネーブルし、こ
の動作はコラムリングカウンタ116が再びシフトして
ANDゲート118dをイネーブルするまで継続され
る。次に、リードクロック114の次のパルスに応答し
て、メモリセル148d,146dからのデータビット
がそれぞれ出力信号線160a,160bへ出力され
る。また、コラムリングカウンタ116もシフトしてA
NDゲート118dの替りに次に続くANDゲート11
8aをイネーブルする。リードクロック114のこの同
じパルスに応答して、ローリングカウンタ136がシフ
トして次に続くワード線対150a,150bを設定す
る。
ック114の後続パルスに応答して再びシフトしたAN
Dゲート118a〜dの連続ゲートをイネーブルし、こ
の動作はコラムリングカウンタ116が再びシフトして
ANDゲート118dをイネーブルするまで継続され
る。次に、リードクロック114の次のパルスに応答し
て、メモリセル148d,146dからのデータビット
がそれぞれ出力信号線160a,160bへ出力され
る。また、コラムリングカウンタ116もシフトしてA
NDゲート118dの替りに次に続くANDゲート11
8aをイネーブルする。リードクロック114のこの同
じパルスに応答して、ローリングカウンタ136がシフ
トして次に続くワード線対150a,150bを設定す
る。
【0041】コラムリングカウンタ116が再び巡回し
てANDゲート118a〜dの連続ゲートがANDゲー
ト118dを再びイネーブルすることができる。次に、
リードクロック114の次のパルスに応答して、メモリ
セル154d,152dからのデータビットがそれぞれ
出力信号線160a,160bへ出力され、コラムリン
グカウンタ116がシフトしてANDゲート118dの
替りに次に続くANDゲート118aをイネーブルす
る。リードクロック114のこの同じパルスに応答し
て、ローリングカウンタ136がシフトして次に続くワ
ード線対138a,138bを設定し、ワード線対13
8a〜d、144a〜d、150a〜dを円形すなわち
リング状に繰返しシーケンスすなわち巡回することによ
り初期状態へ戻る。
てANDゲート118a〜dの連続ゲートがANDゲー
ト118dを再びイネーブルすることができる。次に、
リードクロック114の次のパルスに応答して、メモリ
セル154d,152dからのデータビットがそれぞれ
出力信号線160a,160bへ出力され、コラムリン
グカウンタ116がシフトしてANDゲート118dの
替りに次に続くANDゲート118aをイネーブルす
る。リードクロック114のこの同じパルスに応答し
て、ローリングカウンタ136がシフトして次に続くワ
ード線対138a,138bを設定し、ワード線対13
8a〜d、144a〜d、150a〜dを円形すなわち
リング状に繰返しシーケンスすなわち巡回することによ
り初期状態へ戻る。
【0042】図3に一般的に符号128aにより実施例
の代表的転送ゲートの略電気回路図を示す。図2の回路
110は図3の代表的転送ゲートの替りに他の適切な種
類の転送ゲートを含むこともできる。図3において、セ
レクト線入力127aが設定されると、n−チャネルト
ランジスタ170によりビット線158aと出力信号線
160a間に低インピーダンスパスが生成される。ま
た、セレクト線入力127aがインバータ172を介し
てp−チャネルトランジスタ174のゲートに接続さ
れ、p−チャネルトランジスタ174によりビット線1
58aと出力信号線160b間にもう一つの低インピー
ダンスパスが生成される。このようにして、転送ゲート
128aはセレクト線入力127aの状態に基いて選択
的にビット線158aを出力信号線160bに接続す
る。n−チャネルトランジスタ170とp−チャネルト
ランジスタ174の両方を使用すれば、1個だけのトラ
ンジスタの場合に生じる強力なボディ効果を回避する低
インピーダンスパスがビット線158aと出力信号線1
60bの間に有利に生成される。
の代表的転送ゲートの略電気回路図を示す。図2の回路
110は図3の代表的転送ゲートの替りに他の適切な種
類の転送ゲートを含むこともできる。図3において、セ
レクト線入力127aが設定されると、n−チャネルト
ランジスタ170によりビット線158aと出力信号線
160a間に低インピーダンスパスが生成される。ま
た、セレクト線入力127aがインバータ172を介し
てp−チャネルトランジスタ174のゲートに接続さ
れ、p−チャネルトランジスタ174によりビット線1
58aと出力信号線160b間にもう一つの低インピー
ダンスパスが生成される。このようにして、転送ゲート
128aはセレクト線入力127aの状態に基いて選択
的にビット線158aを出力信号線160bに接続す
る。n−チャネルトランジスタ170とp−チャネルト
ランジスタ174の両方を使用すれば、1個だけのトラ
ンジスタの場合に生じる強力なボディ効果を回避する低
インピーダンスパスがビット線158aと出力信号線1
60bの間に有利に生成される。
【0043】図2および図3に関して、実施例ではリー
ドクロック114のパルスの持続時間はおよそ3nSで
あり、ビット線158aからのデータビットは出力信号
線160bへ転送される。リードクロック114のパル
スが終った後で、出力信号線160bからのデータビッ
トはさらにおよそ2nS後に出力段162に到達する。
リードクロック114のパルスの前もしくはその継続中
にイネーブル線166が設定されると、データビットが
出力段162に到達した後さらにおよそ2nS後にデー
タビットは出力線164bに到達する。
ドクロック114のパルスの持続時間はおよそ3nSで
あり、ビット線158aからのデータビットは出力信号
線160bへ転送される。リードクロック114のパル
スが終った後で、出力信号線160bからのデータビッ
トはさらにおよそ2nS後に出力段162に到達する。
リードクロック114のパルスの前もしくはその継続中
にイネーブル線166が設定されると、データビットが
出力段162に到達した後さらにおよそ2nS後にデー
タビットは出力線164bに到達する。
【0044】図1の回路10に対して、図2の回路11
0ではメモリアレイのメモリ位置を逐次アクセスできる
最大周波数が高くなる。例えば、4ビット×4ビット〜
2Kビット×4ビットの範囲のメモリアレイでは、回路
10の代表的なアクセス時間はおよそ4nS〜6nSの
範囲となり、代表的なサイクル時間はおよそ6nS〜1
3nSの範囲となる。これに較べ、回路10の代表的ア
クセス時間はおよそ10〜18nSの範囲であり、代表
的サイクル時間はおよそ9〜16nSの範囲である。こ
れらの時間はよく似ており特定回路に使用する特定工程
技術に依存する。
0ではメモリアレイのメモリ位置を逐次アクセスできる
最大周波数が高くなる。例えば、4ビット×4ビット〜
2Kビット×4ビットの範囲のメモリアレイでは、回路
10の代表的なアクセス時間はおよそ4nS〜6nSの
範囲となり、代表的なサイクル時間はおよそ6nS〜1
3nSの範囲となる。これに較べ、回路10の代表的ア
クセス時間はおよそ10〜18nSの範囲であり、代表
的サイクル時間はおよそ9〜16nSの範囲である。こ
れらの時間はよく似ており特定回路に使用する特定工程
技術に依存する。
【0045】本発明およびその利点について詳細に説明
を行ってきたが、特許請求の範囲に示す発明の精神およ
び範囲を逸脱することなくさまざまな変更、置換、修正
が可能である。以上の説明に関して更に以下の項を開示
する。 (1).複数のメモリセルからなるメモリアレイを逐次
アクセスする回路において、該回路は、データビットを
アクセスする少くとも1本の出力線と、複数個のメモリ
セルに接続されメモリセルを選定して記憶された各デー
タビットを出力する少くとも1本のワード線と、各々が
関連する1個のメモリセルに接続されてそこから前記記
憶された各データビットを受信する複数本のビット線
と、各々が前記関連するビット線を前記出力線に選択的
に接続して前記出力線が前記ビット線から前記記憶され
た各データビットへアクセスするように作動する複数本
のセレクト線と、前記セレクト線間でシフトを行って前
記出力線が前記記憶された各データビットを所定の順序
でアクセスするようにするシフト回路を具備する、メモ
リアレイ逐次アクセス回路。
を行ってきたが、特許請求の範囲に示す発明の精神およ
び範囲を逸脱することなくさまざまな変更、置換、修正
が可能である。以上の説明に関して更に以下の項を開示
する。 (1).複数のメモリセルからなるメモリアレイを逐次
アクセスする回路において、該回路は、データビットを
アクセスする少くとも1本の出力線と、複数個のメモリ
セルに接続されメモリセルを選定して記憶された各デー
タビットを出力する少くとも1本のワード線と、各々が
関連する1個のメモリセルに接続されてそこから前記記
憶された各データビットを受信する複数本のビット線
と、各々が前記関連するビット線を前記出力線に選択的
に接続して前記出力線が前記ビット線から前記記憶され
た各データビットへアクセスするように作動する複数本
のセレクト線と、前記セレクト線間でシフトを行って前
記出力線が前記記憶された各データビットを所定の順序
でアクセスするようにするシフト回路を具備する、メモ
リアレイ逐次アクセス回路。
【0046】(2).第1項記載の回路において、前記
シフト回路はクロック線上のパルスに応答して前記セレ
クト線間でシフトする、メモリアレイ逐次アクセス回
路。
シフト回路はクロック線上のパルスに応答して前記セレ
クト線間でシフトする、メモリアレイ逐次アクセス回
路。
【0047】(3).第1項記載の回路において、前記
シフト回路は前記所定のアクセス順をリング状に繰り返
す、メモリアレイ逐次アクセス回路。
シフト回路は前記所定のアクセス順をリング状に繰り返
す、メモリアレイ逐次アクセス回路。
【0048】(4).第1項記載の回路において、前記
シフト回路はシフトレジスタにより構成される、メモリ
アレイ逐次アクセス回路。
シフト回路はシフトレジスタにより構成される、メモリ
アレイ逐次アクセス回路。
【0049】(5).第4項記載の回路において、前記
シフトレジスタはリングカウンタを形成する、メモリア
レイ逐次アクセス回路。
シフトレジスタはリングカウンタを形成する、メモリア
レイ逐次アクセス回路。
【0050】(6).第1項記載の回路において、前記
シフト回路は、パルスを与えるクロック線と、前記クロ
ック線に接続され前記パルスに応答して複数のイネーブ
ル線間でシフトするシフトレジスタと、各々が前記イネ
ーブル線の中の関連する線にシフトする前記シフトレジ
スタに応答して前記パルスの継続中に前記セレクト線の
中の関連する線を表明するように作動可能な複数個の論
理ゲートを具備する、メモリアレイ逐次アクセス回路。
シフト回路は、パルスを与えるクロック線と、前記クロ
ック線に接続され前記パルスに応答して複数のイネーブ
ル線間でシフトするシフトレジスタと、各々が前記イネ
ーブル線の中の関連する線にシフトする前記シフトレジ
スタに応答して前記パルスの継続中に前記セレクト線の
中の関連する線を表明するように作動可能な複数個の論
理ゲートを具備する、メモリアレイ逐次アクセス回路。
【0051】(7).第1項記載の回路において、さら
に前記各ワード線に接続されワード線間でシフトして所
定シーケンスのローを選定するローシフト回路を具備す
る、メモリアレイ逐次アクセス回路。
に前記各ワード線に接続されワード線間でシフトして所
定シーケンスのローを選定するローシフト回路を具備す
る、メモリアレイ逐次アクセス回路。
【0052】(8).第7項記載の回路において、前記
ローシフト回路は前記所定の順序で前記記憶された各デ
ータビットをアクセスしている前記出力線に応答して次
に続くワード線へシフトする、メモリアレイ逐次アクセ
ス回路。
ローシフト回路は前記所定の順序で前記記憶された各デ
ータビットをアクセスしている前記出力線に応答して次
に続くワード線へシフトする、メモリアレイ逐次アクセ
ス回路。
【0053】(9).第7項記載の回路において、前記
ローシフト回路は前記所定シーケンスの前記ローをリン
グ状に繰返すように作動できる、メモリアレイ逐次アク
セス回路。
ローシフト回路は前記所定シーケンスの前記ローをリン
グ状に繰返すように作動できる、メモリアレイ逐次アク
セス回路。
【0054】(10).第7項記載の回路において、前
記ローシフト回路はローシフトレジスタにより構成され
る、メモリアレイ逐次アクセス回路。
記ローシフト回路はローシフトレジスタにより構成され
る、メモリアレイ逐次アクセス回路。
【0055】(11).第10項記載の回路において、
前記ローシフトレジスタはローリングカウンタを形成す
る、メモリアレイ逐次アクセス回路。
前記ローシフトレジスタはローリングカウンタを形成す
る、メモリアレイ逐次アクセス回路。
【0056】(12).第1項記載の回路において、さ
らに、少くとも1本の付加出力線と、少くとも1本の付
加ビット線を具備し、前記セレクト線の少くとも1本は
さらに前記付加出力線を前記付加ビット線へ選択的に接
続できるように作動できる、メモリアレイ逐次アクセス
回路。
らに、少くとも1本の付加出力線と、少くとも1本の付
加ビット線を具備し、前記セレクト線の少くとも1本は
さらに前記付加出力線を前記付加ビット線へ選択的に接
続できるように作動できる、メモリアレイ逐次アクセス
回路。
【0057】(13).複数個のメモリセルからなるメ
モリアレイに逐次アクセスする方法において、該方法は
次のステップすなわち、メモリセルに接続されたワード
線に応答して複数個のメモリセルを選定して記憶された
各データビットを出力し、各々が関連するメモリセルに
接続された複数本のビット線を有する前記メモリセルか
ら出力される前記各データビットを受信し、前記各ビッ
ト線を出力線に選択的に接続し複数のセレクト線の中の
1本に応答して前記出力線が前記関連するビット線から
の前記記憶された各データビットにアクセスし、前記セ
レクト線間をシフトして前記出力線が前記記憶された各
データビットに所定の順序でアクセスする、ことからな
るメモリアレイ逐次アクセス方法。
モリアレイに逐次アクセスする方法において、該方法は
次のステップすなわち、メモリセルに接続されたワード
線に応答して複数個のメモリセルを選定して記憶された
各データビットを出力し、各々が関連するメモリセルに
接続された複数本のビット線を有する前記メモリセルか
ら出力される前記各データビットを受信し、前記各ビッ
ト線を出力線に選択的に接続し複数のセレクト線の中の
1本に応答して前記出力線が前記関連するビット線から
の前記記憶された各データビットにアクセスし、前記セ
レクト線間をシフトして前記出力線が前記記憶された各
データビットに所定の順序でアクセスする、ことからな
るメモリアレイ逐次アクセス方法。
【0058】(14).第13項記載の方法において、
前記シフトステップはクロック線上のパルスに応答して
前記セレクト線間でシフトするステップからなる、メモ
リアレイ逐次アクセス方法。
前記シフトステップはクロック線上のパルスに応答して
前記セレクト線間でシフトするステップからなる、メモ
リアレイ逐次アクセス方法。
【0059】(15).第13項記載の方法において、
前記シフトステップは前記所定の順序のアクセスをリン
グ状に繰返すステップからなる、メモリアレイ逐次アク
セス方法。
前記シフトステップは前記所定の順序のアクセスをリン
グ状に繰返すステップからなる、メモリアレイ逐次アク
セス方法。
【0060】(16).第13項記載の方法において、
前記シフトステップはクロック線上にパルスを与え、前
記パルスに応答して複数のイネーブル線間でシフトし、
前記イネーブル線の中の関連する線にシフトする前記シ
フトレジスタに応答して前記パルスの継続中に前記セレ
クト線の中の関連する線を表明するステップからなる、
メモリアレイ逐次アクセス方法。
前記シフトステップはクロック線上にパルスを与え、前
記パルスに応答して複数のイネーブル線間でシフトし、
前記イネーブル線の中の関連する線にシフトする前記シ
フトレジスタに応答して前記パルスの継続中に前記セレ
クト線の中の関連する線を表明するステップからなる、
メモリアレイ逐次アクセス方法。
【0061】(17).第13項記載の方法において、
さらにワード線間でシフトして所定シーケンスのローを
選定するステップからなる、メモリアレイ逐次アクセス
方法。
さらにワード線間でシフトして所定シーケンスのローを
選定するステップからなる、メモリアレイ逐次アクセス
方法。
【0062】(18).第17項記載の方法において、
前記ワード線シフトステップは前記所定の順序で前記各
記憶データビットへアクセスしている前記出力線に応答
して次に続くワード線へシフトするステップからなる、
メモリアレイ逐次アクセス方法。
前記ワード線シフトステップは前記所定の順序で前記各
記憶データビットへアクセスしている前記出力線に応答
して次に続くワード線へシフトするステップからなる、
メモリアレイ逐次アクセス方法。
【0063】(19).第17項記載の方法において、
前記ワード線シフトステップは前記所定シーケンスの前
記ローをリング状に繰返すステップからなる、メモリア
レイ逐次アクセス方法。
前記ワード線シフトステップは前記所定シーケンスの前
記ローをリング状に繰返すステップからなる、メモリア
レイ逐次アクセス方法。
【0064】(20).第13項記載の方法において、
さらに前記セレクト線の少くとも1本に応答して少くと
も1本の付加ビット線を少くとも1本の付加出力線に選
択的に接続するステップからなる、メモリアレイ逐次ア
クセス方法。
さらに前記セレクト線の少くとも1本に応答して少くと
も1本の付加ビット線を少くとも1本の付加出力線に選
択的に接続するステップからなる、メモリアレイ逐次ア
クセス方法。
【0065】(21).複数個のメモリアレイ140a
〜dからなるメモリアレイ112を逐次アクセスする方
法および回路が提供される。メモリセル140a〜dに
接続されたワード線138aに応答して複数個のメモリ
セル140a〜dが選定され記憶された各データビット
を出力する。メモリセル140a〜dにより出力される
各記憶データビットは各々がメモリセル140a〜dの
中の関連セルに接続されている複数のビット線158a
〜dにより受信される。各ビット線158a〜dは出力
線160bに接続されており、複数のセレクト線124
a〜dの中の一線に応答して出力線160bはビット線
158a〜dの中の関連する一線からの各記憶データビ
ットをアクセスする。セレクト線124a〜d間をシフ
トすることにより、出力線160bは各記憶データビッ
トを所定の順序でアクセスする。
〜dからなるメモリアレイ112を逐次アクセスする方
法および回路が提供される。メモリセル140a〜dに
接続されたワード線138aに応答して複数個のメモリ
セル140a〜dが選定され記憶された各データビット
を出力する。メモリセル140a〜dにより出力される
各記憶データビットは各々がメモリセル140a〜dの
中の関連セルに接続されている複数のビット線158a
〜dにより受信される。各ビット線158a〜dは出力
線160bに接続されており、複数のセレクト線124
a〜dの中の一線に応答して出力線160bはビット線
158a〜dの中の関連する一線からの各記憶データビ
ットをアクセスする。セレクト線124a〜d間をシフ
トすることにより、出力線160bは各記憶データビッ
トを所定の順序でアクセスする。
【図1】従来技術に従ってメモリアレイを逐次アクセス
する電気回路の回路図。
する電気回路の回路図。
【図2】実施例のメモリアレイを逐次アクセスする電気
回路の回路図。
回路の回路図。
【図3】実施例の代表的転送ゲートの電気回路図。
10 メモリアレイ逐次アクセス回路 12 メモリアレイ 16 2進コラムカウンタ 20 コラムデコーダ 28 2進ローカウンタ 32 ローデコーダ 40 出力段 112 メモリアレイ 124a セレクト線 124b セレクト線 124c セレクト線 124d セレクト線 138a ワード線 140a メモリセル 140b メモリセル 140c メモリセル 140d メモリセル 158a ビット線 158b ビット線 158c ビット線 158d ビット線 160b 出力線
Claims (2)
- 【請求項1】 複数のメモリセルからなるメモリアレイ
を逐次アクセスする回路において、該回路は、データビ
ットをアクセスする少くとも1本の出力線と、複数個の
メモリセルに接続されメモリセルを選定して記憶された
各データビットを出力する少くとも1本のワード線と、
各々が関連する1個のメモリセルに接続されてそこから
前記記憶された各データビットを受信する複数本のビッ
ト線と、各々が前記関連するビット線を前記出力線に選
択的に接続して前記出力線が前記関連するビット線から
の前記記憶された各データビットへアクセスするように
作動する複数本のセレクト線と、前記セレクト線間でシ
フトを行って前記出力線が前記記憶された各データビッ
トを所定の順序でアクセスするようにするシフト回路、
を具備する、メモリアレイ逐次アクセス回路。 - 【請求項2】 複数個のメモリセルからなるメモリアレ
イを逐次アクセスする方法において、該方法は次のステ
ップすなわち、メモリセルに接続されたワード線に応答
して複数個のメモリセルを選定して記憶された各データ
ビットを出力し、各々が関連するメモリセルに接続され
た複数本のビット線を有する前記メモリセルから出力さ
れる前記各記憶データビットを受信し、前記各ビット線
を出力線に選択的に接続し複数のセレクト線の中の1本
に応答して前記出力線が前記関連するビット線からの前
記各記憶データビットをアクセスし、前記セレクト線間
でシフトして前記出力線が前記各記憶データビットを所
定の順序でアクセスする、ことからなるメモリアレイ逐
次アクセス方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US81291291A | 1991-12-19 | 1991-12-19 | |
| US812912 | 1991-12-19 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06202938A true JPH06202938A (ja) | 1994-07-22 |
Family
ID=25210946
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4340770A Pending JPH06202938A (ja) | 1991-12-19 | 1992-12-21 | メモリアレイ逐次アクセス回路およびアクセス方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0547830A2 (ja) |
| JP (1) | JPH06202938A (ja) |
| KR (1) | KR930014606A (ja) |
| TW (1) | TW381372B (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08315579A (ja) * | 1995-05-16 | 1996-11-29 | Oki Micro Design Miyazaki:Kk | シリアルアクセスメモリ装置 |
| GB2308695A (en) * | 1995-12-22 | 1997-07-02 | Motorola Inc | Memory system and memory element |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5694589A (en) * | 1979-12-27 | 1981-07-31 | Nec Corp | Memory device |
-
1992
- 1992-12-09 EP EP92311215A patent/EP0547830A2/en not_active Withdrawn
- 1992-12-17 KR KR1019920024606A patent/KR930014606A/ko not_active Withdrawn
- 1992-12-21 JP JP4340770A patent/JPH06202938A/ja active Pending
-
1993
- 1993-04-15 TW TW082102857A patent/TW381372B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0547830A2 (en) | 1993-06-23 |
| TW381372B (en) | 2000-02-01 |
| KR930014606A (ko) | 1993-07-23 |
| EP0547830A3 (ja) | 1994-02-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6411128B2 (en) | Logical circuit for serializing and outputting a plurality of signal bits simultaneously read from a memory cell array or the like | |
| EP0056240B1 (en) | Memory device | |
| KR19980018543A (ko) | 레지스터의 수가 감소된 동기식 반도체 메모리 | |
| US6469953B1 (en) | Latch circuit | |
| US5854767A (en) | Semiconductor memory device having a plurality of blocks each including a parallel/serial conversion circuit | |
| CN1992073B (zh) | 地址译码器、存储装置、处理器装置、以及地址译码方法 | |
| CN1088941C (zh) | 同步二进制计数器 | |
| US5640108A (en) | Single stage dynamic receiver/decoder | |
| US4985872A (en) | Sequencing column select circuit for a random access memory | |
| US6484231B1 (en) | Synchronous SRAM circuit | |
| US5852748A (en) | Programmable read-write word line equality signal generation for FIFOs | |
| JP2000030460A (ja) | パイプラインド・デュアル・ポ―ト集積回路メモリ | |
| US6639867B2 (en) | Decoder circuit in a semiconductor memory device | |
| JPH06202938A (ja) | メモリアレイ逐次アクセス回路およびアクセス方法 | |
| KR0154741B1 (ko) | 듀얼포트 메모리 장치 및 듀얼포트 메모리 장치의 시리얼데이타 출력방법 | |
| EP0293808B1 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
| US4918657A (en) | Semiconductor memory device provided with an improved precharge and enable control circuit | |
| JP2721931B2 (ja) | 半導体メモリのためのシリアル選択回路 | |
| KR100362207B1 (ko) | 시리얼액세스메모리장치 | |
| JP2703642B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
| JP2001344977A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| JPH08221978A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| US6363032B2 (en) | Programmable counter circuit for generating a sequential/interleave address sequence | |
| WO2001043135A9 (en) | A prefetch write driver for a random access memory | |
| JP3968560B2 (ja) | ドライバ回路及びデコーダ回路 |