JPH06204508A - 光学式検出装置 - Google Patents
光学式検出装置Info
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- JPH06204508A JPH06204508A JP4347413A JP34741392A JPH06204508A JP H06204508 A JPH06204508 A JP H06204508A JP 4347413 A JP4347413 A JP 4347413A JP 34741392 A JP34741392 A JP 34741392A JP H06204508 A JPH06204508 A JP H06204508A
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- Japan
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- light
- optical
- light receiving
- diffraction grating
- detection device
- Prior art date
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 物体からの光を受光することによって物体に
関する検出を行なう光学検出装置において、発光素子、
または受光素子の気密性を高めるとともに、分離、合波
等を行う為の素子との高精度な位置合わせを伴う製作が
容易になり、かつその位置関係を高精度に維持可能にす
る。 【構成】 発光素子からの光束を光学素子によって分離
して少なくとも2光束を形成し、被測定回折格子に入射
させ、発生した少なくとも二つの回折光を合波素子によ
って合波干渉させて受光素子で受光することにより、前
記被測定回折格子の相対変位情報を検出する装置構成に
おいて、前記受光素子を気密封止する透光性樹脂表面
に、前記光学素子と合波素子の少なくとも一方を直接ま
たは積層して形成している。
関する検出を行なう光学検出装置において、発光素子、
または受光素子の気密性を高めるとともに、分離、合波
等を行う為の素子との高精度な位置合わせを伴う製作が
容易になり、かつその位置関係を高精度に維持可能にす
る。 【構成】 発光素子からの光束を光学素子によって分離
して少なくとも2光束を形成し、被測定回折格子に入射
させ、発生した少なくとも二つの回折光を合波素子によ
って合波干渉させて受光素子で受光することにより、前
記被測定回折格子の相対変位情報を検出する装置構成に
おいて、前記受光素子を気密封止する透光性樹脂表面
に、前記光学素子と合波素子の少なくとも一方を直接ま
たは積層して形成している。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は対象物体からの光束を受
光する事により対象物体に関して所定のパラメーターの
検出を行なう光学式の検出装置に関する。
光する事により対象物体に関して所定のパラメーターの
検出を行なう光学式の検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、物体からの光を受光して情報
を得るものとしては、高精度に物体の移動や変位などの
物理量を求める装置として、例えば光学式エンコーダ、
レーザドップラー速度計、レーザ干渉計等がある。ま
た、測定装置とは別の分野であるが、コンパクトディス
クに代表されるようなデジタル情報を微小な凹凸で記録
させ、これに光を照射し、その情報を読みとる光学式ピ
ックアップ等もある。
を得るものとしては、高精度に物体の移動や変位などの
物理量を求める装置として、例えば光学式エンコーダ、
レーザドップラー速度計、レーザ干渉計等がある。ま
た、測定装置とは別の分野であるが、コンパクトディス
クに代表されるようなデジタル情報を微小な凹凸で記録
させ、これに光を照射し、その情報を読みとる光学式ピ
ックアップ等もある。
【0003】これらの装置は、電気信号により発光素子
から光を放出させ、光学部品を介し対象から戻ってくる
光を再び受光素子により受光し、電気信号に変換してそ
れぞれの情報を得ている。
から光を放出させ、光学部品を介し対象から戻ってくる
光を再び受光素子により受光し、電気信号に変換してそ
れぞれの情報を得ている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この様な装置において
は発光素子、受光素子を外界から遮断する事が求められ
てきており、特にその気密性を高める事が必要とされて
きている。
は発光素子、受光素子を外界から遮断する事が求められ
てきており、特にその気密性を高める事が必要とされて
きている。
【0005】同時に、発光素子又は受光素子と光束の分
離、合波等を行なう素子とは測定精度を高める為に、所
定の位置関係に高精度に位置決めして製作し、かつその
位置関係を常に維持しなければならないという課題も存
在する。
離、合波等を行なう素子とは測定精度を高める為に、所
定の位置関係に高精度に位置決めして製作し、かつその
位置関係を常に維持しなければならないという課題も存
在する。
【0006】本願発明はこのような従来例の新たな必要
性等に鑑み、発光素子、または受光素子の気密性を高め
るとともに、分離、合波等を行う為の素子との高精度な
位置合わせを伴う製作が容易になり、かつその位置関係
を高精度に維持可能にした光学検出装置を提供すること
を目的とする。
性等に鑑み、発光素子、または受光素子の気密性を高め
るとともに、分離、合波等を行う為の素子との高精度な
位置合わせを伴う製作が容易になり、かつその位置関係
を高精度に維持可能にした光学検出装置を提供すること
を目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上述目的を達成する為、
本願発明は、対象物体からの2光束を合波素子によって
合波して受光素子で受光することにより前記対象物体に
関する検出を行う検出装置において、該受光素子を気密
封止する透光性樹脂表面に、前記合波素子を直接または
積層して形成している。
本願発明は、対象物体からの2光束を合波素子によって
合波して受光素子で受光することにより前記対象物体に
関する検出を行う検出装置において、該受光素子を気密
封止する透光性樹脂表面に、前記合波素子を直接または
積層して形成している。
【0008】また、本願の他の発明は、発光素子からの
光束を光学素子によって分離または偏向し、該分離また
は偏向された光束を対象物体に照射し、該対象物体から
の光束を受光素子によって受光することによって前記対
象物体に関する検出を行う装置において、前記発光素子
を気密封止する透光性樹脂表面に、前記光学素子を直接
または積層して形成している。
光束を光学素子によって分離または偏向し、該分離また
は偏向された光束を対象物体に照射し、該対象物体から
の光束を受光素子によって受光することによって前記対
象物体に関する検出を行う装置において、前記発光素子
を気密封止する透光性樹脂表面に、前記光学素子を直接
または積層して形成している。
【0009】また、本願の他の発明は、発光素子からの
光束を光学素子によって分離または偏向し、前記光学素
子を経由しかつ対象物体を経由した2光束を合波素子に
よって合波して受光素子で受光することにより前記対象
物体に関する検出を行う検出装置において、前記発光素
子と受光素子を気密封止する透光性樹脂表面に、前記光
学素子と合波素子の少なくとも一方を直接または積層し
て形成している。
光束を光学素子によって分離または偏向し、前記光学素
子を経由しかつ対象物体を経由した2光束を合波素子に
よって合波して受光素子で受光することにより前記対象
物体に関する検出を行う検出装置において、前記発光素
子と受光素子を気密封止する透光性樹脂表面に、前記光
学素子と合波素子の少なくとも一方を直接または積層し
て形成している。
【0010】更に、本願の他の発明は、発光素子からの
光束を光学素子によって分離して少なくとも2光束を形
成し、被測定回折格子に入射させ、発生した少なくとも
二つの回折光を合波素子によって合波干渉させて受光素
子で受光することにより、前記被測定回折格子の相対変
位情報を検出する検出装置において、前記受光素子を気
密封止する透光性樹脂表面に、前記光学素子と合波素子
の少なくとも一方を直接または積層して形成している。
光束を光学素子によって分離して少なくとも2光束を形
成し、被測定回折格子に入射させ、発生した少なくとも
二つの回折光を合波素子によって合波干渉させて受光素
子で受光することにより、前記被測定回折格子の相対変
位情報を検出する検出装置において、前記受光素子を気
密封止する透光性樹脂表面に、前記光学素子と合波素子
の少なくとも一方を直接または積層して形成している。
【0011】
【実施例】図1は、第1実施例を表す模式的断面図であ
る。同図に於いて、1は、半導体レーザ、2は受光素
子、4は受光素子2B、2B′、2C、2C′がマウン
トされているリードフレームのベッド、41は、リード
フレームのベッドに設けられた半導体レーザ1から射出
される光の透過用の穴、5は半導体レーザユニットのホ
ルダー、6は受光素子を気密封止する透明性樹脂9B、
9Cは、回折格子、10はスケールである。受光素子2
B′、2C′はそれぞれ受光素子2B、2Cの紙面垂直
方向奥側にあり、図には現れない。
る。同図に於いて、1は、半導体レーザ、2は受光素
子、4は受光素子2B、2B′、2C、2C′がマウン
トされているリードフレームのベッド、41は、リード
フレームのベッドに設けられた半導体レーザ1から射出
される光の透過用の穴、5は半導体レーザユニットのホ
ルダー、6は受光素子を気密封止する透明性樹脂9B、
9Cは、回折格子、10はスケールである。受光素子2
B′、2C′はそれぞれ受光素子2B、2Cの紙面垂直
方向奥側にあり、図には現れない。
【0012】本実施例においては、まず受光素子をマウ
ントするリードフレームのICベッド部4のある部分に
受光素子である半導体レーザ1からの射出光が、透過す
るように穴41が設けられたリードフレームに受光素子
2B、2B′、2C、2C′をダイボンディングし、受
光素子2B、2B′、2C、2C′の電極パッドとリー
ドフレームの間をワーヤーボンディングする。そして、
トランスファーモールド法により透明性樹脂6を用いて
受光素子2B、2B′、2C、2C′を気密封止する。
ここまでの工程としては、従来の半導体素子のプラスチ
ックパッケージの製造方法と同じである。
ントするリードフレームのICベッド部4のある部分に
受光素子である半導体レーザ1からの射出光が、透過す
るように穴41が設けられたリードフレームに受光素子
2B、2B′、2C、2C′をダイボンディングし、受
光素子2B、2B′、2C、2C′の電極パッドとリー
ドフレームの間をワーヤーボンディングする。そして、
トランスファーモールド法により透明性樹脂6を用いて
受光素子2B、2B′、2C、2C′を気密封止する。
ここまでの工程としては、従来の半導体素子のプラスチ
ックパッケージの製造方法と同じである。
【0013】つぎにガラス基板上にレジストを塗布し、
回折格子のパターンを露光し、レジストを現像すること
によりガラス基板上に回折格子のレジストパターンを形
成する。そして、このガラス基板をドライエッチング
し、ガラス基板に回折格子を形成した後に、レジストを
剥離する。このようにして、回折格子の型を製造する。
回折格子のパターンを露光し、レジストを現像すること
によりガラス基板上に回折格子のレジストパターンを形
成する。そして、このガラス基板をドライエッチング
し、ガラス基板に回折格子を形成した後に、レジストを
剥離する。このようにして、回折格子の型を製造する。
【0014】つぎに、このガラス基板の型上に紫外線硬
化樹脂を塗布し、各受光素子の受光部と、ガラス基板に
形成した回折格子とを位置合わせし、パッケージの透明
性樹脂6の表面を型に接触させガラス基板(型)の裏面
側から、紫外線を照射し紫外線硬化樹脂を硬化させる。
その後ガラス基板(型)からパッケージを離型させる
と、パッケージである透明性樹脂6の表面に紫外線硬化
樹脂が回折格子9A、9B、9B′、9C、9C′とな
って転写される。図2は、パッケージ表面に各回折格子
が形成された状態を示す上面図である。
化樹脂を塗布し、各受光素子の受光部と、ガラス基板に
形成した回折格子とを位置合わせし、パッケージの透明
性樹脂6の表面を型に接触させガラス基板(型)の裏面
側から、紫外線を照射し紫外線硬化樹脂を硬化させる。
その後ガラス基板(型)からパッケージを離型させる
と、パッケージである透明性樹脂6の表面に紫外線硬化
樹脂が回折格子9A、9B、9B′、9C、9C′とな
って転写される。図2は、パッケージ表面に各回折格子
が形成された状態を示す上面図である。
【0015】この様にして透明性樹脂6の表面に回折格
子9A、9B、9B′、9C、9C′を形成したパッケ
ージを、半導体レーザ1を内蔵した半導体レーザホルダ
ー5上に配置し、半導体レーザの発光点が所定の位置に
なるように位置合わせを行った後、パッケージと半導体
レーザホルダー5とを接着し固定する。
子9A、9B、9B′、9C、9C′を形成したパッケ
ージを、半導体レーザ1を内蔵した半導体レーザホルダ
ー5上に配置し、半導体レーザの発光点が所定の位置に
なるように位置合わせを行った後、パッケージと半導体
レーザホルダー5とを接着し固定する。
【0016】その後にそれぞれの電気端子部とリード線
とを接続し、光学式変位センサーのヘッドになる。
とを接続し、光学式変位センサーのヘッドになる。
【0017】以上のような製造方法で製造された光学式
変位センサーヘッドでは、半導体素子である受光素子2
B、2B′、2C、2C′は、透明性樹脂6により気密
封止され信頼性が確保され、かつローコストで製造され
る。また、回折格子9A、9B、9B′、9C、9C′
をパッケージ表面に設ける方法も非常に簡便でかつ受光
部に対して位置決めされて行うので高精度に形成され
る。又、形成後もその位置関係が変化しにくい。
変位センサーヘッドでは、半導体素子である受光素子2
B、2B′、2C、2C′は、透明性樹脂6により気密
封止され信頼性が確保され、かつローコストで製造され
る。また、回折格子9A、9B、9B′、9C、9C′
をパッケージ表面に設ける方法も非常に簡便でかつ受光
部に対して位置決めされて行うので高精度に形成され
る。又、形成後もその位置関係が変化しにくい。
【0018】つぎに以上のように構成された光学式変位
センサーの動作を説明する。本実施例では、半導体レー
ザ1から射出された光束は、受光素子2B、2B′、2
C、2C′を内蔵したパッケージの裏面から入射し、リ
ードフレームのベッド部4に設けられた穴41を透過
し、パッケージ表面に形成された回折格子9Aにて透過
回折されて、0次回折光R0、+1次回折光R+1、−
1次回折光R−1に3分割されパッケージより射出す
る。
センサーの動作を説明する。本実施例では、半導体レー
ザ1から射出された光束は、受光素子2B、2B′、2
C、2C′を内蔵したパッケージの裏面から入射し、リ
ードフレームのベッド部4に設けられた穴41を透過
し、パッケージ表面に形成された回折格子9Aにて透過
回折されて、0次回折光R0、+1次回折光R+1、−
1次回折光R−1に3分割されパッケージより射出す
る。
【0019】回折格子9Aを直進した光束R0は、スケ
ール10上に形成された回折格子10A上の点P1にて
反射回折されて、+1次回折光R0+1、−1次回折光
R0−1に分割されそれぞれ位相変調される。
ール10上に形成された回折格子10A上の点P1にて
反射回折されて、+1次回折光R0+1、−1次回折光
R0−1に分割されそれぞれ位相変調される。
【0020】+1次回折光の位相は+2πX/P、−1
次回折光R0−1の位相は−2πX/Pだけずれる。但
しXはスケール10の回折格子10Aの移動量、Pは回
折格子10Aのピッチである。
次回折光R0−1の位相は−2πX/Pだけずれる。但
しXはスケール10の回折格子10Aの移動量、Pは回
折格子10Aのピッチである。
【0021】以上の説明は回折格子9B′、9C′で
は、それぞれ回折格子9B、9Cと同様の現象がおきる
ので、詳細を省略する。+1次回折光R0+1は、パッ
ケージ表面に形成された回折格子9Bにて透過回折され
て、0次回折光R0+10、−1次回折光R0+1−1
及びその他の光束に分割される。このうち、−1次回折
光R0+1−1は、回折格子面と垂直に取り出され波面
の位相は、+2πX/Pである。
は、それぞれ回折格子9B、9Cと同様の現象がおきる
ので、詳細を省略する。+1次回折光R0+1は、パッ
ケージ表面に形成された回折格子9Bにて透過回折され
て、0次回折光R0+10、−1次回折光R0+1−1
及びその他の光束に分割される。このうち、−1次回折
光R0+1−1は、回折格子面と垂直に取り出され波面
の位相は、+2πX/Pである。
【0022】−1次回折光R0−1は、パッケージ表面
に形成された回折格子9Cにて透過回折されて、0次回
折光R0−10、+1次回折光R0−1+1及びその他
の光束に分割される。このうち、−1次回折光R0−1
+1は、回折格子面と垂直に取り出され波面の位相は、
−2πX/Pである。
に形成された回折格子9Cにて透過回折されて、0次回
折光R0−10、+1次回折光R0−1+1及びその他
の光束に分割される。このうち、−1次回折光R0−1
+1は、回折格子面と垂直に取り出され波面の位相は、
−2πX/Pである。
【0023】ここで回折格子9Bを9Cに対して、格子
の配列位相関係をP/4だけずらしておけば、+1次回
折光R0−1+1は波面の位相が更に−2π(P/4)
/P=−π/2だけずれて、−2πX/P−π/2にな
る。
の配列位相関係をP/4だけずらしておけば、+1次回
折光R0−1+1は波面の位相が更に−2π(P/4)
/P=−π/2だけずれて、−2πX/P−π/2にな
る。
【0024】透明性樹脂6の表面に形成された回折格子
9Aにて+1次回折した光束R+1はスケール10上の
回折格子10A上の点P2にて反射回折されて、−1次
回折光R+1−1、0次回折光R+10及びその他の光
束に分割され、それぞれ位相変調される。このうち、−
1次回折光R+1−1の位相は−2πX/Pだけずれ
て、回折格子9Bに入射し、そこでそのまま直進した0
次回折光R+1−10の波面の位相は、−2πX/Pで
ある。
9Aにて+1次回折した光束R+1はスケール10上の
回折格子10A上の点P2にて反射回折されて、−1次
回折光R+1−1、0次回折光R+10及びその他の光
束に分割され、それぞれ位相変調される。このうち、−
1次回折光R+1−1の位相は−2πX/Pだけずれ
て、回折格子9Bに入射し、そこでそのまま直進した0
次回折光R+1−10の波面の位相は、−2πX/Pで
ある。
【0025】透明性樹脂6の表面に形成された回折格子
9Aにて−1次回折した光束R−1はスケール10上の
回折格子10A上の点P3にて反射回折されて、+1次
回折光R−1+1、0次回折光R−10及びその他の光
束に分割され、それぞれ位相変調される。このうち、+
1次回折光R−1+1の位相は+2πX/Pだけずれ
て、回折格子9Bに入射し、そこでそのまま直進した0
次回折光R−1+10の波面の位相は、+2πX/Pで
ある。
9Aにて−1次回折した光束R−1はスケール10上の
回折格子10A上の点P3にて反射回折されて、+1次
回折光R−1+1、0次回折光R−10及びその他の光
束に分割され、それぞれ位相変調される。このうち、+
1次回折光R−1+1の位相は+2πX/Pだけずれ
て、回折格子9Bに入射し、そこでそのまま直進した0
次回折光R−1+10の波面の位相は、+2πX/Pで
ある。
【0026】回折格子9Bにて、光路を重ね合わされた
光束R+1−10とR0+1−1は干渉光となって受光
素子2Bに入射する。このときの干渉位相は、 {+2πX/P}−{−2πX/P}=4πX/P となり、スケール10上の回折格子10Aが1/2ピッ
チ移動する毎に1周期の明暗信号が発生する。
光束R+1−10とR0+1−1は干渉光となって受光
素子2Bに入射する。このときの干渉位相は、 {+2πX/P}−{−2πX/P}=4πX/P となり、スケール10上の回折格子10Aが1/2ピッ
チ移動する毎に1周期の明暗信号が発生する。
【0027】回折格子9Cにて、光路を重ね合わされた
光束R−1+10とR0−1+1は干渉光となって受光
素子2Cに入射する。このときの干渉位相は、 {−2πX/P−π/2}−{+2πX/P}=4πX/P−π/2 となり、スケール10上の回折格子10Aが1/2ピッ
チ移動する毎に1周期の明暗信号が発生し、受光素子2
Bとは明暗のタイミングが1/4周期だけずれる。
光束R−1+10とR0−1+1は干渉光となって受光
素子2Cに入射する。このときの干渉位相は、 {−2πX/P−π/2}−{+2πX/P}=4πX/P−π/2 となり、スケール10上の回折格子10Aが1/2ピッ
チ移動する毎に1周期の明暗信号が発生し、受光素子2
Bとは明暗のタイミングが1/4周期だけずれる。
【0028】また、回折格子9A′および9B′は、そ
れぞれ回折格子9A、9Bに対し格子の配列位相関係を
P/2だけずらしてあるので、波面の位相は、それぞれ
πだけずれる。そのため、上記のそれぞれの明暗信号に
対しそれぞれ明暗のタイミングが1/2周期だけずれた
明暗信号が、それぞれ受光素子2B′、2C′で受光さ
れる。各受光素子からの信号は、受光素子2B、2B′
の出力の差信号と受光素子2C、2C′の出力の差信号
とで二相信号に変換され、これを利用して、周知の方法
でスケール10の変位量と変位方向が求められる。
れぞれ回折格子9A、9Bに対し格子の配列位相関係を
P/2だけずらしてあるので、波面の位相は、それぞれ
πだけずれる。そのため、上記のそれぞれの明暗信号に
対しそれぞれ明暗のタイミングが1/2周期だけずれた
明暗信号が、それぞれ受光素子2B′、2C′で受光さ
れる。各受光素子からの信号は、受光素子2B、2B′
の出力の差信号と受光素子2C、2C′の出力の差信号
とで二相信号に変換され、これを利用して、周知の方法
でスケール10の変位量と変位方向が求められる。
【0029】図3は、第2実施例を表す模式的断面図で
ある。同図に於いて、前述同様の部材には同じ符番を冠
してある。
ある。同図に於いて、前述同様の部材には同じ符番を冠
してある。
【0030】本実施例では、受光素子2を透明性樹脂6
で封止するときのトランスファーモールドの金型の1部
を凸形状にし、パッケージの1部に凹部61を形成す
る。この凹部は、後に説明するように凸レンズ8とパッ
ケージが干渉しない大きさとする。その他の構成は、第
1実施例と同様として受光素子2が内蔵されたパッケー
ジを得る。
で封止するときのトランスファーモールドの金型の1部
を凸形状にし、パッケージの1部に凹部61を形成す
る。この凹部は、後に説明するように凸レンズ8とパッ
ケージが干渉しない大きさとする。その他の構成は、第
1実施例と同様として受光素子2が内蔵されたパッケー
ジを得る。
【0031】つぎに、本実施例では、ガラス基盤91上
にレジストを塗布し、回折格子のパターンを露光し、レ
ジストを現像する。そして、このガラス基板91をドラ
イエッチングし、ガラス基板91に回折格子9を彫り込
み、レジストを剥離する。つぎに射出光用の回折格子9
Aが形成された裏面側に凸レンズ8を、第1実施例で回
折格子を形成したように金型と紫外線硬化樹脂を用い
て、ガラス基板91に転写させ形成する。
にレジストを塗布し、回折格子のパターンを露光し、レ
ジストを現像する。そして、このガラス基板91をドラ
イエッチングし、ガラス基板91に回折格子9を彫り込
み、レジストを剥離する。つぎに射出光用の回折格子9
Aが形成された裏面側に凸レンズ8を、第1実施例で回
折格子を形成したように金型と紫外線硬化樹脂を用い
て、ガラス基板91に転写させ形成する。
【0032】つぎに、このガラス基板91と上記の透明
性樹脂パッケージとを、回折格子9B、9B′、9C、
9C′と各受光素子の受光部とを位置決めし、接着さ
せ、透明性樹脂に回折格子を形成する。このとき、ガラ
ス基板91に形成した凸レンズ8が、パッケージと干渉
しないようにパッケージに凹部61が設けられる。
性樹脂パッケージとを、回折格子9B、9B′、9C、
9C′と各受光素子の受光部とを位置決めし、接着さ
せ、透明性樹脂に回折格子を形成する。このとき、ガラ
ス基板91に形成した凸レンズ8が、パッケージと干渉
しないようにパッケージに凹部61が設けられる。
【0033】この様にして透明性樹脂6の表面に各回折
格子と凸レンズ8とを形成したパッケージを、半導体レ
ーザ1を内蔵した半導体レーザホルダー5上に配置し、
半導体レーザの発光点が凸レンズ8に対して所定の位置
になるように位置合わせを行った後、パッケージと半導
体レーザホルダー5とを接着し固定する。
格子と凸レンズ8とを形成したパッケージを、半導体レ
ーザ1を内蔵した半導体レーザホルダー5上に配置し、
半導体レーザの発光点が凸レンズ8に対して所定の位置
になるように位置合わせを行った後、パッケージと半導
体レーザホルダー5とを接着し固定する。
【0034】その後にそれぞれの電気端子部とリード線
とを接続し、光学式変位センサーのヘッドになる。動作
は前述のものと同様である。
とを接続し、光学式変位センサーのヘッドになる。動作
は前述のものと同様である。
【0035】本実施例においては、半導体レーザ1から
射出される発散光束を、平行光束もしくは、集束光束に
することにより、信号光強度のアップまたは、取付およ
び使用時の配置に関する外乱に対し信号変化の小さい光
学式変位センサーとなる。
射出される発散光束を、平行光束もしくは、集束光束に
することにより、信号光強度のアップまたは、取付およ
び使用時の配置に関する外乱に対し信号変化の小さい光
学式変位センサーとなる。
【0036】図4は、第3実施例を表わす模式的断面図
である。前述と同様の部材には同じ符番を冠してある。
図5はリードフレーム部上面図である。
である。前述と同様の部材には同じ符番を冠してある。
図5はリードフレーム部上面図である。
【0037】本実施例では、1つの透明性樹脂パッケー
ジの中に発光素子であるLED11と各受光素子を内蔵
する。そのため、パッケージ内部で、発光素子であるL
ED11の発散光が、各受光素子の受光部に入射し、S
/N比が低下するという問題点がある。そこで、LED
11をマウントするリードフレーム4のベッド部をプレ
スにより各受光素子がマウントされるベッド部より高く
なるようにする。この様なリードフレームの形状とする
ことによりLED11の発光部と、受光素子の受光部の
高さの差を大きくとることができ、LED11からの余
分な光の発光部への入射を小さくすることが可能とな
る。
ジの中に発光素子であるLED11と各受光素子を内蔵
する。そのため、パッケージ内部で、発光素子であるL
ED11の発散光が、各受光素子の受光部に入射し、S
/N比が低下するという問題点がある。そこで、LED
11をマウントするリードフレーム4のベッド部をプレ
スにより各受光素子がマウントされるベッド部より高く
なるようにする。この様なリードフレームの形状とする
ことによりLED11の発光部と、受光素子の受光部の
高さの差を大きくとることができ、LED11からの余
分な光の発光部への入射を小さくすることが可能とな
る。
【0038】この様に形成された透明性樹脂パッケージ
に対して第1実施例と同様の方法で各回折格子を形成す
る。動作は前述のものと同様である。
に対して第1実施例と同様の方法で各回折格子を形成す
る。動作は前述のものと同様である。
【0039】以上のようにして形成された光学式変位セ
ンサーは、発光素子を内蔵しているため、極めて小型で
ありパッケージ内部の迷光を抑えS/N比を確保しか
つ、非常にローコストである。
ンサーは、発光素子を内蔵しているため、極めて小型で
ありパッケージ内部の迷光を抑えS/N比を確保しか
つ、非常にローコストである。
【0040】図6は、第4実施例を表わす模式的断面図
であり、図7は同リードフレーム部上面図である。前述
と同様の部材には同じ符番を冠してある。
であり、図7は同リードフレーム部上面図である。前述
と同様の部材には同じ符番を冠してある。
【0041】本実施例では、第3実施例で述べたように
1つの透明性樹脂パッケージに発光素子と受光素子を内
蔵する場合の発光部と受光部のマウントされる高さを確
保し、S/N比を向上させることを目指したものであ
る。
1つの透明性樹脂パッケージに発光素子と受光素子を内
蔵する場合の発光部と受光部のマウントされる高さを確
保し、S/N比を向上させることを目指したものであ
る。
【0042】そのために、本実施例では4つの受光素子
の基台2の大きさを大きめにし、かつ共通化して製作
し、リードフレームにマウントする。つぎに、受光素子
の受光部、取り出し電極部以外の表面にLED11をマ
ウントする。その後に各々の電極部とリードフレームの
電極端子部とをワイヤーボンダーにより接続する。そし
て、透明性樹脂6により気密封止し、パッケージとす
る。
の基台2の大きさを大きめにし、かつ共通化して製作
し、リードフレームにマウントする。つぎに、受光素子
の受光部、取り出し電極部以外の表面にLED11をマ
ウントする。その後に各々の電極部とリードフレームの
電極端子部とをワイヤーボンダーにより接続する。そし
て、透明性樹脂6により気密封止し、パッケージとす
る。
【0043】回折格子9の透明性樹脂表面への形成方法
は、第1実施例と同様である。動作も前述と同様であ
る。
は、第1実施例と同様である。動作も前述と同様であ
る。
【0044】図8は、第5実施例を表わす模式的断面図
であり、図9は同上面図である。前述と同様の部材には
同じ符番を冠してある。本実施例では、前述のように、
形成された光学式変位センサーにおいて、さらに発光素
子であるLED11からのパッケージ内部での散乱光を
受光部に入射させない方法として、図8に示すように発
光点と受光部の間の透明性樹脂6に溝62を形成し、内
部散乱光を受光部に到達する前にカットする構成をと
る。この溝62の形成方法は、第2実施例で用いた様に
パッケージ形成時の金型をその形状にする方法で、形成
する。その他は前述のものと同様である。
であり、図9は同上面図である。前述と同様の部材には
同じ符番を冠してある。本実施例では、前述のように、
形成された光学式変位センサーにおいて、さらに発光素
子であるLED11からのパッケージ内部での散乱光を
受光部に入射させない方法として、図8に示すように発
光点と受光部の間の透明性樹脂6に溝62を形成し、内
部散乱光を受光部に到達する前にカットする構成をと
る。この溝62の形成方法は、第2実施例で用いた様に
パッケージ形成時の金型をその形状にする方法で、形成
する。その他は前述のものと同様である。
【0045】図10は、第6実施例を示す模式的断面図
であり、図11は同リードフレーム部上面図である。前
述と同様の部材には同じ符番を冠してある。
であり、図11は同リードフレーム部上面図である。前
述と同様の部材には同じ符番を冠してある。
【0046】本実施例はLED11と受光部の間の受光
素子2の表面に光吸収性塗料112を塗布し、パッケー
ジ表面と受光素子2表面の遮光アルミによる多重反射を
抑え受光部への散乱光入射を防ぐ。その他は前述と同様
である。
素子2の表面に光吸収性塗料112を塗布し、パッケー
ジ表面と受光素子2表面の遮光アルミによる多重反射を
抑え受光部への散乱光入射を防ぐ。その他は前述と同様
である。
【0047】以上の各実施例における発光素子として
は、半導体レーザ、発光ダイオード等を用いる事ができ
る。
は、半導体レーザ、発光ダイオード等を用いる事ができ
る。
【0048】受光素子としては、フォトダイオード、ア
バランシュ・フォトダイオード、ピンフォトダイオー
ド、CCD、また、これら受光部をもち出力される光電
流を増幅もしくは処理する回路をもった受光ICを用い
る事ができる。
バランシュ・フォトダイオード、ピンフォトダイオー
ド、CCD、また、これら受光部をもち出力される光電
流を増幅もしくは処理する回路をもった受光ICを用い
る事ができる。
【0049】光学部品としてのグレーティングの製作方
法としては、型を形成し、その型に、紫外線硬化樹脂を
流し込み転写部材をその上に置き、紫外線を照射し、樹
脂を硬化させ、転写部材に転写させるレプリカ法、ガラ
ス基板にレジストを塗布し、マスクもしくは、レチクル
によりパターンを露光し、レジストを現像した後に、エ
ッチングにより製作するエッチング法等がある。また、
直接EB(電子線)により直接レジストを描画し、現像
し、エッチングしてもよい。さらに、上記のレジストを
露光した段階で、ハードベークし、グレーティングとし
てもよい。またグレーティングは透明性樹脂6表面に直
接形成してもよい。
法としては、型を形成し、その型に、紫外線硬化樹脂を
流し込み転写部材をその上に置き、紫外線を照射し、樹
脂を硬化させ、転写部材に転写させるレプリカ法、ガラ
ス基板にレジストを塗布し、マスクもしくは、レチクル
によりパターンを露光し、レジストを現像した後に、エ
ッチングにより製作するエッチング法等がある。また、
直接EB(電子線)により直接レジストを描画し、現像
し、エッチングしてもよい。さらに、上記のレジストを
露光した段階で、ハードベークし、グレーティングとし
てもよい。またグレーティングは透明性樹脂6表面に直
接形成してもよい。
【0050】また、各実施例を組み合わせることによ
り、よりS/N比の向上を図ることが可能である。
り、よりS/N比の向上を図ることが可能である。
【0051】
【発明の効果】以上述べた本発明により、発光素子又は
受光素子の気密性を高め、かつ高精度な製作が容易にで
き、その高精度が維持可能な光学検出装置が可能になっ
た。
受光素子の気密性を高め、かつ高精度な製作が容易にで
き、その高精度が維持可能な光学検出装置が可能になっ
た。
【図1】第1実施例を表す模式的断面図。
【図2】第1実施例を表す模式的上面図。
【図3】第2実施例を表す模式的断面図。
【図4】第3実施例を表す模式的断面図。
【図5】第3実施例を表すリードフレーム部の模式的上
面図。
面図。
【図6】第4実施例を表す模式的断面図。
【図7】第4実施例を表すリードフレーム部の模式的上
面図。
面図。
【図8】第5実施例を表す模式的断面図。
【図9】第5実施例を表す模式的上面図。
【図10】第6実施例を表す模式的断面図。
【図11】第6実施例を表すリードフレーム部の模式的
上面図。
上面図。
1 半導体レーザ 2B、2C 受光素子 3 ガラスエポキシ基板 4 リードフレーム 41 貫通穴 5 半導体レーザ用ホルダー 6 透明性樹脂(パッケージ) 61 凹部 62 溝 8 平凸レンズ 9A、9B、9B′、9C、9C′ 回折格子 91 ガラス基板 10 スケール 10A スケールの回折格子 11 LED 12 メインスケール格子 14 インデックス格子 16 インデックス格子 40 メインスケール 42 光源 44 インデックススケール 46 基板 48 受光素子 50 レンズ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 金田 泰 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤノ ン株式会社内
Claims (5)
- 【請求項1】 対象物体からの2光束を合波素子によっ
て合波して受光素子で受光することにより前記対象物体
に関する検出を行う検出装置において、該受光素子を気
密封止する透光性樹脂表面に、前記合波素子を直接また
は積層して形成したことを特徴とする光学式検出装置。 - 【請求項2】 発光素子からの光束を光学素子によって
分離または偏向し、該分離または偏向された光束を対象
物体に照射し、該対象物体からの光束を受光素子によっ
て受光することによって前記対象物体に関する検出を行
う装置において、前記発光素子を気密封止する透光性樹
脂表面に、前記光学素子を直接または積層して形成した
ことを特徴とする光学式検出装置。 - 【請求項3】 発光素子からの光束を光学素子によって
分離または偏向し、前記光学素子を経由しかつ対象物体
を経由した2光束を合波素子によって合波して受光素子
で受光することにより前記対象物体に関する検出を行う
検出装置において、前記発光素子と受光素子を気密封止
する透光性樹脂表面に、前記光学素子と合波素子の少な
くとも一方を直接または積層して形成したことを特徴と
する光学式検出装置。 - 【請求項4】 発光素子からの光束を光学素子によって
分離して少なくとも2光束を形成し、被測定回折格子に
入射させ、発生した少なくとも二つの回折光を合波素子
によって合波干渉させて受光素子で受光することによ
り、前記被測定回折格子の相対変位情報を検出する検出
装置において、前記受光素子を気密封止する透光性樹脂
表面に、前記光学素子と合波素子の少なくとも一方を直
接または積層して形成したことを特徴とする光学式検出
装置。 - 【請求項5】 前記光学素子または合波素子は回折格子
であることを特徴とする請求項1乃至4記載の光学式検
出装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4347413A JPH06204508A (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 光学式検出装置 |
| EP93110388A EP0577088B2 (en) | 1992-06-30 | 1993-06-29 | Displacement information detection apparatus |
| DE69320716T DE69320716T3 (de) | 1992-06-30 | 1993-06-29 | Gerät zur Detektion von Verschiebungsinformation |
| US08/454,501 US5657125A (en) | 1992-06-30 | 1995-05-30 | Apparatus including a light-detecting element having a photo-electric conversion surface and an integral light blocking member |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4347413A JPH06204508A (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 光学式検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06204508A true JPH06204508A (ja) | 1994-07-22 |
Family
ID=18390057
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4347413A Pending JPH06204508A (ja) | 1992-06-30 | 1992-12-28 | 光学式検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06204508A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019146339A1 (ja) * | 2018-01-29 | 2019-08-01 | アオイ電子株式会社 | 半導体装置 |
-
1992
- 1992-12-28 JP JP4347413A patent/JPH06204508A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019146339A1 (ja) * | 2018-01-29 | 2019-08-01 | アオイ電子株式会社 | 半導体装置 |
| JP2019133994A (ja) * | 2018-01-29 | 2019-08-08 | アオイ電子株式会社 | 半導体装置 |
| CN111656540A (zh) * | 2018-01-29 | 2020-09-11 | 青井电子株式会社 | 半导体装置 |
| TWI785195B (zh) * | 2018-01-29 | 2022-12-01 | 日商青井電子股份有限公司 | 半導體裝置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20010313 |