JPH06207281A - Treatment of waste etchant - Google Patents

Treatment of waste etchant

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JPH06207281A
JPH06207281A JP1691093A JP1691093A JPH06207281A JP H06207281 A JPH06207281 A JP H06207281A JP 1691093 A JP1691093 A JP 1691093A JP 1691093 A JP1691093 A JP 1691093A JP H06207281 A JPH06207281 A JP H06207281A
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昌平 小坂
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俊郎 吉川
Katsuhiro Kimura
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    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
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    • C23F1/46Regeneration of etching compositions

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Abstract

PURPOSE:To easily and economically regenerate a waste etchant generated from the etching of copper with a cupric chloride etchant. CONSTITUTION:The concn. of cuprous chloride in a waste etchant is measured, and the waste etchant is separated and supplied to the cathode compartment 32 and anode compartment 33 of an electrolytic cell 3 divided by an anion- exchange membrane 31 in the ratio corresponding to the cuprous chloride concn. Cupric chloride is electrolytically reduced to cuprous chloride in the cathode compartment 32, and the chloride ion generated by the reaction is passed through the anion-exchange membrane and transferred to the anode compartment 33. Meanwhile, cuprous chloride is electrolytically oxidized by the chloride ion in the cathode compartment 32. The amt. of chloride ion generated in the cathode compartment 32 is balanced with the amt. of chloride ion needed in the anode compartment 33 by adjusting the amt. of waste etchant to be supplied to each compartment, and hence the waste etchant is efficiently regenerated.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は例えば銅プリント基板を
塩化第二銅エッチング液でエッチング処理した後のエッ
チング廃液の再生処理方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for recycling an etching waste solution after etching a copper printed board with a cupric chloride etching solution.

【0002】[0002]

【従来の技術】塩化第二銅エッチング液による銅プリン
ト基板のエッチング法は一般に民生用、産業機器用など
幅広い分野で多く利用されている。このエッチング液を
用いて被エッチング材である銅(Cu)をエッチング処
理する反応機構は下記の(1)式により示され、この反
応により塩化第二銅(CuCI2 )は塩化第一銅(Cu
Cl)になる。 Cu+CuCl2 =2CuCl…(1) この塩化第一銅は水に対する溶解度が小さく難溶性であ
るが、塩化第二銅エッチング液に約7〜8%含まれる塩
酸(HCl)により銅錯体を形成してエッチング処理後
の溶液中に溶解している。しかしながらこの塩化第一銅
は銅の溶解能力がないので、エッチング液中にこの塩化
第一銅が存在するとエッチング速度(銅の単位時間当た
りの溶解量)が低下し、このため被エッチング材のエッ
チング処理の効率が著しく悪化すると共に、エッチファ
クターも悪くなる。
2. Description of the Related Art An etching method for a copper printed circuit board using a cupric chloride etching solution is generally widely used in a wide range of fields such as consumer use and industrial equipment. The reaction mechanism of etching copper (Cu) as the material to be etched using this etching solution is represented by the following formula (1), and cupric chloride (CuCI 2 ) is converted to cuprous chloride (Cu) by this reaction.
Cl). Cu + CuCl 2 = 2CuCl (1) Although this cuprous chloride has a low solubility in water and is poorly soluble, it forms a copper complex with hydrochloric acid (HCl) contained in the cupric chloride etching solution in an amount of about 7 to 8%. It is dissolved in the solution after the etching process. However, since this cuprous chloride does not have the ability to dissolve copper, the presence of this cuprous chloride in the etching solution lowers the etching rate (the amount of copper dissolved per unit time), which results in the etching of the material to be etched. Not only the efficiency of processing is significantly deteriorated, but also the etch factor is deteriorated.

【0003】そこで実際にエッチング処理を行う際に
は、なるべく新液に近い状態でエッチング処理を行うこ
とが必要であり、従来から上述のエッチング反応で生成
する塩化第一銅を酸化して速やかに塩化第二銅を再生す
る方法が採られている。この方法には化学的処理方法や
電気化学的処理方法がある。
Therefore, when actually performing the etching treatment, it is necessary to perform the etching treatment in a state as close as possible to a new solution, and conventionally, the cuprous chloride produced by the above-mentioned etching reaction is oxidized to quickly. A method of regenerating cupric chloride is adopted. This method includes a chemical treatment method and an electrochemical treatment method.

【0004】このうち化学的処理方法とは、例えば過酸
化水素水(H2 2 )を酸化剤として用いると共に、酸
化の際に消費される塩素イオン(Cl)を補充するため
に塩酸を添加することにより、以下の(2)式に示す反
応によって塩化第一銅を塩化第二銅に酸化再生する方法
である。 2CuCl+2HCl+H2 2 =2CuCl2 +H2 O…(2) また電気化学的処理方法とは、例えば特公昭第63−5
4795号公報に開示されるように、隔膜で仕切られた
第1電解槽の陰極室において、エッチング廃液を5A/
dm2 以下の低電流密度で電解処理し、エッチング廃液
中の二価の銅イオン(Cu2+)を一価の銅イオン(Cu
+ )に還元した後、この溶液を第2電解槽へ導き、陽極
側では低電流密度(5A/dm2 )でかつ陰極側では高
電流密度(5A/dm2 )で電解を行い、上記の一価の
銅イオンの一部を陰極に銅(Cu)として析出させると
共に、この溶液を比重調整槽において比重を調整した
後、第1電解槽へ陽極室に導入して5A/dm2 以下の
低電流密度で電解し、溶液中の一価の銅イオンを二価の
銅イオンに酸化することにより、塩化第二銅エッチング
液を再生する方法である。
Among them, the chemical treatment method is, for example, hydrogen peroxide solution (H 2 O 2 ) is used as an oxidizing agent, and hydrochloric acid is added to supplement chlorine ions (Cl) consumed during the oxidation. By doing so, the cuprous chloride is oxidized and regenerated to cupric chloride by the reaction represented by the following formula (2). 2CuCl + 2HCl + H 2 O 2 = 2CuCl 2 + H 2 O (2) Further, the electrochemical treatment method is, for example, Japanese Patent Publication No. 63-5.
As disclosed in Japanese Patent No. 4795, in the cathode chamber of the first electrolytic cell partitioned by a diaphragm, the etching waste liquid is discharged at 5 A /
Electrolytic treatment is performed at a low current density of dm 2 or less, and divalent copper ions (Cu 2+ ) in the etching waste liquid are converted into monovalent copper ions (Cu
+ )), This solution is introduced into a second electrolytic cell, and electrolysis is performed at a low current density (5 A / dm 2 ) on the anode side and a high current density (5 A / dm 2 ) on the cathode side, and After depositing a part of monovalent copper ions as copper (Cu) on the cathode and adjusting the specific gravity of this solution in the specific gravity adjusting tank, the solution was introduced into the anode chamber of the first electrolytic tank and was adjusted to 5 A / dm 2 or less. This is a method of regenerating the cupric chloride etching solution by electrolyzing at a low current density and oxidizing monovalent copper ions in the solution into divalent copper ions.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述の化
学的処理方法では、エッチング液を再生することによっ
て再生液中の塩化第二銅の量が増加するため、エッチン
グ液を同一濃度に維持するには他の試薬及び水を添加し
て調整することが必要である。このため再生後のエッチ
ング液は再生前と比較して溶液量が増加する。従ってこ
の再生処理方法を実施する装置をエッチング処理装置に
連結して、エッチング処理とエッチング液の再生処理と
を連続的に行う場合には、エッチング処理が進行するに
つれて、エッチング液の再生によりエッチング液がオー
バーフローする可能性がある。このため増加分のエッチ
ング液を定期的に取出して廃棄する必要が生じるが、廃
棄に際しては廃液処理が必要である。従ってこの方法で
は、エッチング処理を行えば行うほど、それに伴う再生
処理によって常にエッチング液が増加し、その増加した
エッチング液を系外へ取出して廃液処理を行った後、廃
棄しなくてはならないので、手間が多くまたコストがか
かるという問題があった。
However, in the above-mentioned chemical treatment method, since the amount of cupric chloride in the regenerant is increased by regenerating the etchant, it is necessary to maintain the same concentration in the etchant. It is necessary to adjust by adding other reagents and water. For this reason, the amount of the etching solution after the regeneration is larger than that before the regeneration. Therefore, when an apparatus for carrying out this regeneration treatment method is connected to an etching treatment apparatus and the etching treatment and the regeneration treatment of the etching liquid are carried out continuously, the etching liquid is regenerated by the regeneration of the etching liquid as the etching treatment progresses. May overflow. For this reason, it is necessary to periodically take out the increased amount of the etching solution and dispose of it, but when disposing, it is necessary to treat the waste solution. Therefore, in this method, the more the etching treatment is performed, the more the etching liquid is constantly increased by the regenerating treatment accompanying it, and the increased etching liquid must be taken out of the system to perform the waste liquid treatment and then discarded. However, there was a problem that it was troublesome and costly.

【0006】さらにこの方法において、酸化剤として使
用する過酸化水素水には強力な酸化作用があり、手や足
などの皮膚に付着すると水泡状の薬傷を起こすので取扱
いに注意を要するほか、下記の(3)式に示すような自
己分解して純酸素を発生させる性質があるため、油分等
と長時間接すると、発火するなどの危険性がある。従っ
てこの薬液の使用に際しては危険が伴い、また管理が煩
わしいという問題があった。 2H2 2 =2H2 O+O2 …(3) 一方上述の電気化学的処理方法は、従来の電気化学的処
理方法において問題となっていた、陽極部における塩素
ガスの発生を抑える方法であり、このためこの方法で
は、エッチング廃液の酸化還元電位を調整するための第
1電解槽と、銅を回収するための第2電解槽と、比重を
調整するための比重調整槽の3つの槽を用い、第1、第
2電解槽において陽極及び陰極の電流密度の制御を行う
ようにしている。従ってこの方法の実施にあたっては、
処理液を隔膜で仕切られた電解槽の陰極部に導入し還元
処理を行った後に、同液を引き続いて陽極室で酸化処理
しているため電流効率が悪くなる傾向があると共に、3
つの電解槽と、各電解槽間を連結するポンプや流路が必
要となるため、全体として装置が大がかりで複雑であ
り、またこれらのバランスを保つためには全体に電流効
率を下げて運転しなくてはならない(さもなければ塩素
ガスの発生が陽極部において起こってしまう)という問
題点があった。
Further, in this method, the hydrogen peroxide solution used as an oxidizing agent has a strong oxidizing action, and if it adheres to the skin of hands, feet, etc., it may cause blisters-like chemical wounds, so that it must be handled with care. Since it has the property of self-decomposing to generate pure oxygen as shown in the following formula (3), there is a risk of ignition if it is in contact with oil or the like for a long time. Therefore, there is a problem in using this chemical solution, and there is a problem that management is troublesome. 2H 2 O 2 = 2H 2 O + O 2 (3) On the other hand, the above-mentioned electrochemical treatment method is a method of suppressing the generation of chlorine gas in the anode part, which has been a problem in the conventional electrochemical treatment method. For this reason, this method uses three tanks, a first electrolytic tank for adjusting the oxidation-reduction potential of the etching waste liquid, a second electrolytic tank for recovering copper, and a specific gravity adjusting tank for adjusting specific gravity. The current densities of the anode and the cathode in the first and second electrolytic cells are controlled. Therefore, in carrying out this method,
After the treatment liquid is introduced into the cathode part of the electrolytic cell partitioned by the diaphragm and subjected to the reduction treatment, the treatment liquid is subsequently subjected to the oxidation treatment in the anode chamber, so that the current efficiency tends to be deteriorated.
Since one electrolysis cell and a pump and a flow path that connect each electrolysis cell are required, the overall system is large and complicated, and in order to maintain these balances, the current efficiency must be lowered as a whole to operate. There is a problem that it is necessary (otherwise, chlorine gas is generated in the anode part).

【0007】本発明は、このような事情のもとになされ
たものであり、その目的は、エッチング処理後のエッチ
ング液の再生を容易にしかも経済的に行うことができる
エッチング廃液処理方法を提供することにある。
The present invention has been made under the above circumstances, and an object thereof is to provide an etching waste liquid treatment method capable of easily and economically regenerating the etching liquid after the etching treatment. To do.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は、塩化第二銅エ
ッチング液を用いて銅をエッチング処理した後のエッチ
ング廃液からエッチング液を再生する方法において、電
解槽を陰イオン交換膜により陰極室と陽極室とに区画
し、前記エッチング廃液の塩化第一銅濃度に応じた供給
量の比率により、前記エッチング廃液を陰極室及び陽極
室に分割供給して電解を行うことを特徴とする。
The present invention relates to a method of regenerating an etching liquid from an etching waste liquid after copper is etched using a cupric chloride etching liquid, in which an electrolytic cell is provided with a cathode chamber using an anion exchange membrane. And the anode chamber, and the electrolysis is performed by separately supplying the etching waste liquid to the cathode chamber and the anode chamber according to the ratio of the supply amount according to the cuprous chloride concentration of the etching waste liquid.

【0009】[0009]

【作用】エッチング廃液中の塩化第一銅濃度を測定し、
この塩化第一銅濃度に応じた供給量の比率により、エッ
チング廃液を陰イオン交換膜で区画された電解槽の陰極
室と陽極室に分割供給する。陰極室では、エッチング廃
液中の塩化第二銅の塩化第一銅への還元反応と、塩化第
一銅から銅への還元析出反応の各電解反応が進行し、こ
の反応によって発生した塩素イオンは陰イオン交換膜を
通過して陽極室に移行する。一方、陽極室ではエッチン
グ廃液中の塩化第一銅から塩化第二銅への塩素イオンに
よる酸化反応が進行する。ここで陰極室において発生す
る塩素イオンの量と、陽極室において必要とされる塩素
イオンの量は、各電解室に供給されるエッチング廃液の
量の調整によりバランスが取れているため、効率よくエ
ッチング廃液の再生処理が行われる。
[Function] Measuring the cuprous chloride concentration in the etching waste liquid,
The etching waste liquid is dividedly supplied to the cathode chamber and the anode chamber of the electrolytic cell partitioned by the anion exchange membrane according to the ratio of the supply amount according to the concentration of cuprous chloride. In the cathode chamber, electrolytic reactions of reduction reaction of cupric chloride to cuprous chloride in the etching waste liquid and reduction deposition reaction of cuprous chloride to copper proceed, and chlorine ions generated by this reaction are It passes through the anion exchange membrane and moves to the anode chamber. On the other hand, in the anode chamber, an oxidation reaction of chloride from cuprous chloride to cupric chloride in the etching waste liquid proceeds. Here, the amount of chlorine ions generated in the cathode chamber and the amount of chlorine ions required in the anode chamber are balanced by adjusting the amount of the etching waste liquid supplied to each electrolytic chamber, so that etching is performed efficiently. The waste liquid is recycled.

【0010】[0010]

【実施例】以下に本発明のエッチング廃液処理方法をこ
の方法を実施する装置により説明する。図1は本発明を
実施するエッチング廃液処理装置の構成図である。図1
中1は、被エッチング材例えば銅プリント基板と塩化第
二銅エッチング液でエッチング処理した後のエッチング
廃液を貯留するための廃液貯留槽であり、この廃液貯留
槽1には、ポンプ11、塩化第一銅濃度計12を介して
エッチング廃液を廃液貯留槽1に循環させる循環路Aが
設けられている。塩化第一銅濃度計12は、エッチング
廃液中の塩化第一銅濃度を測定するものであり、例えば
吸光光度法により、溶液中の塩化第一銅濃度を検出する
方法等を用いて測定される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The etching waste liquid treatment method of the present invention will be described below with an apparatus for carrying out this method. FIG. 1 is a configuration diagram of an etching waste liquid treatment apparatus for carrying out the present invention. Figure 1
A medium 1 is a waste liquid storage tank for storing an etching waste liquid after etching with a material to be etched such as a copper printed board and a cupric chloride etching liquid. The waste liquid storage tank 1 includes a pump 11 and a chloride chloride A circulation path A for circulating the etching waste liquid to the waste liquid storage tank 1 via the one-copper concentration meter 12 is provided. The cuprous chloride concentration meter 12 measures the cuprous chloride concentration in the etching waste liquid, and is measured by, for example, a method of detecting the cuprous chloride concentration in the solution by an absorptiometry method. .

【0011】循環路Aのポンプ11と塩化第一銅濃度計
12との間からは供給路Bが分岐しており、さらにこの
供給路Bは2本の供給路C、Dに分かれている。そして
供給路Cは流量計21、流量調整バルブ23を介して電
解槽3の陰極室32の一端側へ接続され、一方供給路D
は流量計22、流量調整バルブ24を介して電解槽3の
陽極室33の一端側へ接続されている。
A supply path B is branched from between the pump 11 and the cuprous chloride concentration meter 12 in the circulation path A, and the supply path B is further divided into two supply paths C and D. The supply path C is connected to one end side of the cathode chamber 32 of the electrolytic cell 3 via the flow meter 21 and the flow rate adjusting valve 23, while the supply path D is provided.
Is connected to one end side of an anode chamber 33 of the electrolytic cell 3 via a flow meter 22 and a flow rate adjusting valve 24.

【0012】電解槽3は陰イオン交換膜31によって陰
極室32と陽極室33とに仕切られた槽であり、陰極室
32には陰極34、陽極室33には陽極35がそれぞれ
設けられている。陰極34の材質としては、陰極34は
通電中陰分極され防蝕されているため、例えば軟鉄、ス
テンレスや銅等が適しており、また陽極35の材質とし
ては、耐食性が必要であるため、例えばクラファイト、
カーボン、不溶性陽極等が適している。なお不溶性陽極
を使用する場合は塩素適電圧の高い触媒能を持つものが
好ましい。
The electrolytic cell 3 is a cell divided into a cathode chamber 32 and an anode chamber 33 by an anion exchange membrane 31. The cathode chamber 32 is provided with a cathode 34, and the anode chamber 33 is provided with an anode 35. . As the material of the cathode 34, for example, soft iron, stainless steel, copper or the like is suitable because the cathode 34 is negatively polarized and protected against corrosion during energization. Also, as the material of the anode 35, corrosion resistance is required, and thus, for example, Clafite. ,
Carbon, insoluble anode, etc. are suitable. When an insoluble anode is used, it is preferable to use one having a high catalytic activity with a suitable chlorine voltage.

【0013】そしてこの電解槽には陰極室32の他端側
に供給路Eが設けられると共に、陽極室33の他端側に
供給路Fが設けられており、この供給路Fは途中で供給
路Eと合流して再生液槽4に接続されている。
A supply path E is provided at the other end of the cathode chamber 32 and a supply path F is provided at the other end of the anode chamber 33 in the electrolytic cell. The supply path F is supplied midway. It joins the channel E and is connected to the regeneration liquid tank 4.

【0014】またこの実施例では、塩化第一銅濃度計1
2の出力信号即ち溶液中の塩化第一銅濃度に基づいて流
量調整バルブ23、24を開閉制御して、陰極室32及
び陽極室33へ供給されるエッチング廃液の量を制御す
る制御手段5が設けられている。
Further, in this embodiment, the cuprous chloride concentration meter 1
The control means 5 for controlling the amount of the etching waste liquid supplied to the cathode chamber 32 and the anode chamber 33 by controlling the opening and closing of the flow rate adjusting valves 23 and 24 based on the output signal of 2 or the cuprous chloride concentration in the solution. It is provided.

【0015】次に上述実施例の作用について述べる。図
示しないエッチング反応槽には(従来の技術)の欄で説
明した、(1)式に示す塩化第二銅エッチング液による
例えば銅プリント基板のエッチング処理が行われてお
り、エッチング処理後の廃液(エッチング廃液)は廃液
貯留槽1内に貯留されると共に、ポンプ11の作動によ
り循環路Aを介して循環される。このエッチング廃液に
は、エッチング生成物である塩化第一銅と、未反応の塩
化第二銅が含まれており循環路Aの途中で塩化第一銅濃
度計12によってエッチング廃液中の塩化第一銅の濃度
が測定され、この測定値は制御手段5へ出力される。
Next, the operation of the above embodiment will be described. In an etching reaction tank (not shown), for example, a copper printed board is subjected to etching treatment with the cupric chloride etching solution represented by the formula (1) described in the section of (Prior Art), and the waste liquid after the etching treatment ( The etching waste liquid) is stored in the waste liquid storage tank 1 and is circulated through the circulation path A by the operation of the pump 11. The etching waste liquid contains cupric chloride, which is an etching product, and unreacted cupric chloride, and the cuprous chloride concentration meter 12 in the middle of the circulation path A uses the chloride chloride in the etching waste liquid. The copper concentration is measured, and this measured value is output to the control means 5.

【0016】そしてこの制御手段5から塩化第一銅濃度
の測定値に基づいて、流量調整バルブ23、24へ作動
信号が出力され、廃液貯留槽1内のエッチング廃液はポ
ンプ11、供給路B、C、流量計21、流量調整バルブ
23を介して電解槽3の陰極室32に供給されると共
に、同様に供給路D、流量計21、流量調整バルブ24
を介して陽極室33に供給される。
An operation signal is output from the control means 5 to the flow rate adjusting valves 23 and 24 based on the measured value of the cuprous chloride concentration, and the etching waste liquid in the waste liquid storage tank 1 is pumped to the supply path B. It is supplied to the cathode chamber 32 of the electrolytic cell 3 through C, the flow meter 21, and the flow rate adjusting valve 23, and similarly, the supply path D, the flow meter 21, and the flow rate adjusting valve 24
Is supplied to the anode chamber 33 via.

【0017】陰極室32では、電解により下記の(4)
式に示す塩化第二銅から塩化第一銅への還元反応と
(5)式に示す銅の還元析出反応が起こり、陰極34に
銅が析出すると共に、塩素イオン(Cl- )が陰イオン
交換膜31を通過して陽極室33へ移行する。また陽極
室33では、下記の(6)式に示すように、塩化第一銅
から塩化第二銅への酸化反応が起こり、塩化第二銅が再
生される。 CuCl2 +e- →CuCl+Cl- …(4) CuCl +e- →Cu+Cl- …(5) CuCl +Cl- →CuCl2 +e- …(6) 以上の電解反応により、陰極室32の出口側すなわち供
給路Eが設けられた側の溶液は、一価の銅イオンをほと
んど含まない塩酸液となり、また陽極室33の出口側す
なわち供給路Fが設けられた側の溶液は、一価の銅イオ
ンをほとんど含まない塩化第二銅液となる。そして再生
された塩化第二銅液は陽極室33から供給路Fを介して
再生液槽4へ供給され、また塩酸液も陰極室32から供
給路Eを介して供給路Fへ供給されて、供給路Fにより
塩化第二銅液と共に再生液槽4へ供給される。
In the cathode chamber 32, the following (4) is caused by electrolysis.
A reduction reaction from cupric chloride to cuprous chloride shown in the formula and a reduction deposition reaction of copper shown in the formula (5) occur, copper is deposited on the cathode 34, and chlorine ions (Cl ) are anion-exchanged. It passes through the membrane 31 and moves to the anode chamber 33. Further, in the anode chamber 33, as shown in the following formula (6), an oxidation reaction from cuprous chloride to cupric chloride occurs, and cupric chloride is regenerated. CuCl 2 + e → CuCl + Cl (4) CuCl + e → Cu + Cl (5) CuCl + Cl → CuCl 2 + e (6) By the above electrolysis reaction, the outlet side of the cathode chamber 32, that is, the supply path E is The solution on the side provided is a hydrochloric acid solution containing almost no monovalent copper ions, and the solution on the outlet side of the anode chamber 33, that is, the side on which the supply path F is provided, contains almost no monovalent copper ions. Becomes cupric chloride solution. Then, the regenerated cupric chloride solution is supplied from the anode chamber 33 to the regeneration solution tank 4 via the supply passage F, and the hydrochloric acid solution is also supplied from the cathode chamber 32 to the supply passage F via the supply passage E, It is supplied to the regenerator tank 4 together with the cupric chloride solution through the supply channel F.

【0018】ここでこの電解反応では、陽極35の面積
は陰極34に対して大きく設けられているが、このよう
に各電極の面積が異なるのは、各電極で反応する物質が
異なり、また不要な反応を抑制するためである。すなわ
ち一定の電流を電解槽に通電している場合、電極の面積
を変化させることにより、電極での見掛け上の過電圧が
変化し、電極の面積を大きくすると単位面積当たりの電
流密度は小さくなり電極電位は低くなる。一方電極の面
積を小さくすると単位面積当たりの電流密度は大きくな
り電極電位は高くなる。
In this electrolytic reaction, the area of the anode 35 is larger than that of the cathode 34, but the reason that the areas of the electrodes are different is that substances reacting at the electrodes are different and unnecessary. This is to suppress such a reaction. That is, when a constant current is applied to the electrolytic cell, changing the area of the electrode changes the apparent overvoltage at the electrode, and increasing the area of the electrode decreases the current density per unit area. The electric potential becomes low. On the other hand, when the area of the electrode is reduced, the current density per unit area increases and the electrode potential increases.

【0019】そして電極電位が高くなると、陰極34で
は塩化第一銅が銅メタルとして析出する反応及び塩化第
二銅が塩化第一銅に還元する反応と共に、水素ガスの発
生反応が起こり、また陽極35では塩化第一銅が塩化第
二銅に酸化する反応と共に、塩素イオンが塩素ガスに酸
化する反応も起こる。この水素ガスや塩素ガスの発生反
応は通電する電力から見るとロスであるため、電極の面
積を変えることで電極電位を変化させ、このロス即ち不
要な反応は抑制する必要がある。また陰極34について
は、電極電位を低くしす過ぎると、銅の析出反応が起こ
らなくなるので、これらを考慮して適当に各電極の大き
さを調整する必要がある。そこで例えば本実施例では、
陰極34の面積を1、陽極35の面積を5として、陽極
35の面積を陰極34に対して大きく設けている。
When the electrode potential increases, at the cathode 34, a reaction of depositing cuprous chloride as copper metal and a reaction of reducing cupric chloride to cuprous chloride occur together with a hydrogen gas generation reaction, and the anode 34 In 35, a reaction of oxidizing cuprous chloride to cupric chloride and a reaction of oxidizing chlorine ions to chlorine gas occur. Since this hydrogen gas or chlorine gas generation reaction is a loss when viewed from the electric power supplied, it is necessary to change the electrode potential by changing the area of the electrode and suppress this loss, that is, unnecessary reaction. Regarding the cathode 34, if the electrode potential is lowered too much, the copper precipitation reaction does not occur, so it is necessary to appropriately adjust the size of each electrode in consideration of these. So, for example, in this embodiment,
The area of the anode 35 is set larger than that of the cathode 34 with the area of the cathode 34 being 1 and the area of the anode 35 being 5.

【0020】またこの電解反応では、陽極室33におけ
る塩素ガスの発生を抑えるために、陰極室32及び陽極
室33へ供給するエッチング廃液の量を流量調整バルブ
23、24により調節しており、この供給量は、陰極室
32から陽極室33へ移行する塩素イオンの量と、陽極
室33へ供給される塩化第一銅の量とのバランスがとれ
るように、エッチング廃液中の塩化第一銅濃度に基づい
て決定される。即ち例えばエッチング廃液の組成が、塩
化第一銅濃度2.4%、塩化第二銅濃度19.4%であ
り、エッチング廃液の総量が1008kgである場合に
おいて、陰極室32へ供給されるエッチング廃液の量を
x%とすると、陰極室32において発生する塩素イオン
の量は、塩化第一銅が銅に還元される際に発生する塩素
イオンの量(x%×2.4%×1008/塩化第一銅の
分子量 kmol)と、塩化第二銅が塩化第一銅を経て
銅に還元される際に発生する塩素イオンの量(x%×1
9.4%×1008g×2/塩化第二銅の分子量 km
ol)とを合わせたものであり、また陽極室33におい
て塩化第一銅の酸化に必要な塩素イオンの量は、(10
0−x)%×2.4%×1008/塩化第一銅の分子量
kmolである。陽極室33において、塩素ガスの発生
を抑えるためには、両者を等しくすればよく、この結果
はxは7.19%となる。従ってこの場合は陰極室32
への供給量と陽極室33への供給量との割合は7対93
となる。なお、エッチング廃液中の塩化第二銅の濃度は
塩化第一銅の濃度に基づいて決定することができる。
Further, in this electrolytic reaction, in order to suppress the generation of chlorine gas in the anode chamber 33, the amount of the etching waste liquid supplied to the cathode chamber 32 and the anode chamber 33 is adjusted by the flow rate adjusting valves 23 and 24. The supply amount of the cuprous chloride in the etching waste liquid is adjusted so that the amount of chlorine ions transferred from the cathode chamber 32 to the anode chamber 33 and the amount of cuprous chloride supplied to the anode chamber 33 are balanced. It is decided based on. That is, for example, when the composition of the etching waste liquid is cuprous chloride concentration 2.4% and cupric chloride concentration 19.4%, and the total amount of the etching waste liquid is 1008 kg, the etching waste liquid supplied to the cathode chamber 32. Is defined as x%, the amount of chlorine ions generated in the cathode chamber 32 is equal to the amount of chloride ions generated when cuprous chloride is reduced to copper (x% × 2.4% × 1008 / chloride). Cuprous molecular weight kmol) and amount of chloride ions generated when cupric chloride is reduced to copper through cuprous chloride (x% × 1)
9.4% x 1008 g x 2 / cupric chloride molecular weight km
ol), and the amount of chlorine ions required for the oxidation of cuprous chloride in the anode chamber 33 is (10
0-x)% x 2.4% x 1008 / cuprous chloride molecular weight kmol. In order to suppress the generation of chlorine gas in the anode chamber 33, both may be made equal, and the result is x = 7.19%. Therefore, in this case, the cathode chamber 32
The ratio of the amount supplied to the anode chamber 33 to the amount supplied to the anode chamber 33 is 7:93.
Becomes The concentration of cupric chloride in the etching waste liquid can be determined based on the concentration of cuprous chloride.

【0021】さらに本実施例のエッチング廃液処理装置
では、電解槽3をイオン選択性のある陰イオン交換膜3
1を用いて陰極室32と陽極室33とに仕切ってるた
め、陰極室32から陰イオンである塩素イオンが選択的
に陰イオン交換膜31を通過して陽極室33へ移行し、
陽極室33では、上述のように移行した塩素イオンと塩
化第一銅との反応により塩化第二銅が再生される。
Further, in the etching waste liquid treatment apparatus of this embodiment, the electrolytic bath 3 is provided with an anion exchange membrane 3 having ion selectivity.
Since the cathode chamber 32 and the anode chamber 33 are partitioned by using 1, the chloride ions which are anions from the cathode chamber 32 selectively pass through the anion exchange membrane 31 and move to the anode chamber 33,
In the anode chamber 33, cupric chloride is regenerated by the reaction between the chloride ions transferred as described above and cuprous chloride.

【0022】ここで本実施例の電解槽3を隔膜で仕切っ
た場合について考察すると、隔膜はイオン選択性がない
ため、塩素イオンのみならず一価の銅イオン、二価の銅
イオンも隔膜を通過して陰極室32と陽極室33とを行
き来することになる。従って陰極室32及び陽極室33
へ供給するエッチング廃液の量を調整したとしても、各
イオンの行き来によりそれぞれの電解室に含まれるイオ
ンの濃度が変化し、陰極室32から陽極室33へ移行す
る塩素イオンの量と、陽極室33において必要とされる
塩素イオンとのバランスがとれなくなる。このため陰極
室32における水素ガス発生反応や、陽極室33におけ
る塩素ガス発生反応等の不要な反応が起こり、エッチン
グ液の再生のための電解反応が効率よく行えないと推察
される。
Considering the case where the electrolytic cell 3 of this embodiment is partitioned by a diaphragm, since the diaphragm does not have ion selectivity, not only chlorine ions but also monovalent copper ions and divalent copper ions can be separated. It passes through and goes back and forth between the cathode chamber 32 and the anode chamber 33. Therefore, the cathode chamber 32 and the anode chamber 33
Even if the amount of the etching waste liquid supplied to the anode chamber is adjusted, the concentration of the ions contained in each electrolytic chamber changes due to the movement of each ion and the amount of chlorine ions transferred from the cathode chamber 32 to the anode chamber 33 and the anode chamber 33. At 33, the chlorine ions needed are out of balance. Therefore, it is presumed that an unnecessary reaction such as a hydrogen gas generation reaction in the cathode chamber 32 or a chlorine gas generation reaction in the anode chamber 33 occurs, and the electrolytic reaction for regenerating the etching solution cannot be efficiently performed.

【0023】さらにまた本実施例のエッチング廃液処理
装置では、陰極室32へ供給されたエッチング廃液は陰
極室32のみを通過するかまたは循環し、また陽極室3
3へ供給されたエッチング廃液は陽極室33のみを通過
するかまたは循環するため、陰極室32及び陽極室33
において起こる各々の電極反応をロス無く有効に利用で
きる。
Furthermore, in the etching waste liquid treatment apparatus of this embodiment, the etching waste liquid supplied to the cathode chamber 32 passes through or circulates only in the cathode chamber 32, and the anode chamber 3
Since the etching waste liquid supplied to No. 3 passes or circulates only in the anode chamber 33, the cathode chamber 32 and the anode chamber 33.
Each electrode reaction that occurs in 1 can be effectively used without loss.

【0024】従って以上の実施例によれば、エッチング
廃液の電気化学的処理方法により、塩化第二銅エッチン
グ液を再生しているので、エッチング液の量を変化させ
ずにエッチング液を再生することができ、従来の化学的
処理方法で問題であった、再生後のエッチング液の増加
分の廃液処理が不用であると共に、過酸化水素水等の酸
化剤を必要としないため、容易にしかも安全にエッチン
グ液を再生するとができる。
Therefore, according to the above embodiment, since the cupric chloride etching solution is regenerated by the electrochemical treatment method of the etching waste solution, the etching solution can be regenerated without changing the amount of the etching solution. It is not necessary to treat the increased amount of etching liquid after regeneration, which was a problem with conventional chemical treatment methods, and it is easy and safe because it does not require an oxidizing agent such as hydrogen peroxide. The etching solution can be regenerated.

【0025】さらに本実施例によれば、電解槽3を陰イ
オン交換膜31によって仕切り、また陰極室32及び陽
極室33へ供給するエッチング廃液の量をエッチング廃
液中の塩化第一銅濃度に基づいて調整しているため、陽
極室33における塩素ガスの発生反応を抑えて効率よく
エッチング液を再生することができると共に、従来の電
気化学的処理方法において必要であった2個の電解槽や
比重調整槽を用いなくても簡単な装置で容易にエッチン
グ液の再生処理を行うことができる。
Further, according to this embodiment, the electrolytic cell 3 is partitioned by the anion exchange membrane 31, and the amount of the etching waste liquid supplied to the cathode chamber 32 and the anode chamber 33 is based on the cuprous chloride concentration in the etching waste liquid. Since the etching solution can be efficiently regenerated by suppressing the generation reaction of chlorine gas in the anode chamber 33, the two electrolytic cells and the specific gravity required in the conventional electrochemical treatment method can be obtained. Even if the adjusting tank is not used, the etching liquid can be easily regenerated by a simple device.

【0026】ここで本実施例のエッチング廃液処理装置
の効果を確認するために行った実験例について説明す
る。例えば組成が、銅100kg(10%)、塩化第二
銅211.58kg(21%)、塩酸70.00kg
(7%)、水718.42kg(71%)からなるトー
タル量1000kgの塩化第二銅エッチング液を用いて
銅をエッチングした後のエッチング廃液の組成は、上述
の通り、塩化第一銅24.32kg(2.41%)、塩
化第二銅195.07kg(19.36%)、塩酸7
0.00kg(6.95%)、水718.42kg(7
1.29%)であり、このエッチング廃液を陰極室32
と陽極室33に、流量が夫々7:93の割合となるよう
に供給し、電解槽3において、電槽電圧5.0V、電解
槽1槽当たりの陽極面積0.5m2 、陽極電流密度40
0A/m2 、通電電流200A、電槽数31槽、必要電
気量6.1KAH(キロ・アンペア・アワ−)の条件の
下で電解反応を行った。そしてこの電解反応後に陰極室
32から流出する溶液の組成を測定したところ、塩酸
5.07kg(0.08879%)、水52.01kg
であり、また陽極室33から流出する溶液の組成は、塩
化第一銅0.00kg(0.00%)、塩化第二銅21
1.58kg(22.44%)、塩酸64.93kg
(6.89%)、水666.40kg(70.67%)
であった。従って再生液槽4に貯留される再生された溶
液(陰極室32から流出した溶液+陽極室33から流出
した溶液)の組成は、塩化第二銅211.58kg(2
1.16%)、塩酸70.00kg(7.00%)、水
718.42kg(71.84%)となり、この組成及
び溶液量は初期の塩化第二銅エッチング液とほぼ同じで
あった。これによりこのエッチング廃液処理装置では、
溶液量を増加させずに効率よくエッチング廃液の再生処
理が行われることが確認できた。
Here, an example of an experiment conducted to confirm the effect of the etching waste liquid treatment apparatus of this embodiment will be described. For example, the composition is copper 100 kg (10%), cupric chloride 211.58 kg (21%), hydrochloric acid 70.00 kg.
(7%) and 718.42 kg (71%) of water, the composition of the etching waste liquid after etching copper using a total amount of 1000 kg of cupric chloride etching liquid is 24. 32 kg (2.41%), cupric chloride 195.07 kg (19.36%), hydrochloric acid 7
0.00 kg (6.95%), water 718.42 kg (7
1.29%), and this etching waste liquid is stored in the cathode chamber 32.
To the anode chamber 33 at a flow rate of 7:93, and in the electrolytic cell 3, the cell voltage was 5.0 V, the anode area per electrolytic cell was 0.5 m 2 , and the anode current density was 40.
The electrolysis reaction was carried out under the conditions of 0 A / m 2 , an energizing current of 200 A, a number of cells of 31 and a required amount of electricity of 6.1 KAH (kilo ampere hour). Then, the composition of the solution flowing out from the cathode chamber 32 after the electrolytic reaction was measured and found to be 5.07 kg (0.08879%) of hydrochloric acid and 52.01 kg of water.
The composition of the solution flowing out from the anode chamber 33 is 0.00 kg (0.00%) of cuprous chloride, 21 cupric chloride.
1.58 kg (22.44%), hydrochloric acid 64.93 kg
(6.89%), water 666.40 kg (70.67%)
Met. Therefore, the composition of the regenerated solution (the solution flowing out from the cathode chamber 32 + the solution flowing out from the anode chamber 33) stored in the regeneration liquid tank 4 is 211.58 kg (2
1.16%), hydrochloric acid 70.00 kg (7.00%), water 718.42 kg (71.84%), and the composition and the solution amount were almost the same as the initial cupric chloride etching solution. Therefore, in this etching waste liquid treatment device,
It was confirmed that the etching waste liquid was efficiently regenerated without increasing the amount of the solution.

【0027】なお以上において、本発明のエッチング廃
液処理装置は、電解槽に間欠的にエッチング廃液を供給
し、再生処理を行う場合にも適用できる。
In the above, the etching waste liquid treatment apparatus of the present invention can also be applied to the case where the etching waste liquid is intermittently supplied to the electrolytic cell to perform the regeneration treatment.

【0028】[0028]

【発明の効果】本発明によれば、塩化第二銅エッチング
液を用いて銅をエッチング処理した後のエッチング廃液
を、陰イオン交換膜によって陰極室と陽極室とが仕切ら
れた電解槽内において、エッチング廃液中の塩化第一銅
濃度に応じて陰極室及び陽極室に供給するエッチング廃
液の量を調節しながら電解処理を行い、塩化第二銅エッ
チング液を再生しているため、再生処理工程が単純化す
ると共に、再生処理によりエッチング液の量が増加しな
いため、面倒なエッチング液の増加分の廃液処理が不要
となり、効率のよいエッチング廃液の再生処理が行え
る。
EFFECTS OF THE INVENTION According to the present invention, an etching waste liquid obtained by etching copper with a cupric chloride etching liquid is placed in an electrolytic cell in which a cathode chamber and an anode chamber are partitioned by an anion exchange membrane. , The electrolytic treatment is performed while the amount of the etching waste liquid supplied to the cathode chamber and the anode chamber is adjusted according to the concentration of cuprous chloride in the etching waste liquid, and the cupric chloride etching liquid is regenerated, so a regeneration treatment step In addition, since the amount of the etching liquid is not increased by the regeneration process, the waste liquid treatment for the increased amount of the etching liquid is not required, and the etching waste liquid can be efficiently regenerated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のエッチング廃液処理方法を実施するエ
ッチング廃液処理装置の構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of an etching waste liquid treatment apparatus for carrying out an etching waste liquid treatment method of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 廃液貯留槽 21、22 流量計 23、24 流量調整バルブ 3 電解槽 31 陰イオン交換膜 32 陰極室 33 陽極室 34 陰極 35 陽極 4 再生液槽 5 制御手段 1 Waste Liquid Storage Tank 21, 22 Flow Meter 23, 24 Flow Control Valve 3 Electrolysis Tank 31 Anion Exchange Membrane 32 Cathode Chamber 33 Anode Chamber 34 Cathode 35 Anode 4 Regeneration Liquid Tank 5 Control Means

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 塩化第二銅エッチング液を用いて銅をエ
ッチング処理した後のエッチング廃液からエッチング液
を再生する方法において、 電解槽を陰イオン交換膜により陰極室と陽極室とに区画
し、 前記エッチング廃液の塩化第一銅濃度に応じた供給量の
比率により、前記エッチング廃液を陰極室及び陽極室に
分割供給して電解を行うことを特徴とするエッチング廃
液処理方法。
1. A method of regenerating an etching liquid from an etching waste liquid after etching copper with a cupric chloride etching liquid, wherein an electrolytic cell is divided into a cathode chamber and an anode chamber by an anion exchange membrane, An etching waste liquid treatment method, characterized in that the etching waste liquid is dividedly supplied to the cathode chamber and the anode chamber for electrolysis according to the ratio of the supply amount of the etching waste liquid according to the cuprous chloride concentration.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008511746A (en) * 2004-06-25 2008-04-17 ゲブリューダー シュミット ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー Recyclable etching solution by electrolysis
CN107829111A (en) * 2017-10-17 2018-03-23 天津大学 A kind of acid copper chloride etching liquid in-situ electrolysis regeneration and copper recovery method

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