JPH06207809A - Microscopic hole dimension measuring apparatus - Google Patents
Microscopic hole dimension measuring apparatusInfo
- Publication number
- JPH06207809A JPH06207809A JP1938093A JP1938093A JPH06207809A JP H06207809 A JPH06207809 A JP H06207809A JP 1938093 A JP1938093 A JP 1938093A JP 1938093 A JP1938093 A JP 1938093A JP H06207809 A JPH06207809 A JP H06207809A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- microscope
- diameter
- hole
- measured
- dies
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 26
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 11
- 238000005491 wire drawing Methods 0.000 claims description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、線引きダイスのような
微小孔を有する被測定物の孔径やスリット幅を、透過拡
大像を得る顕微鏡を用いて自動的に精密測定する微小孔
寸法測定装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a fine hole size measuring device for automatically and precisely measuring the hole diameter and slit width of an object to be measured having a fine hole such as a drawing die by using a microscope for obtaining a transmission enlarged image. Regarding
【0002】[0002]
【従来の技術】線引きダイスの孔径は、0.01〜2.
0mmという小さい値を持つ。従来よりある測定装置を用
いてこれだけの微小な孔の径を精密に測定することは困
難である。JIS規格においても、線引きダイスの孔径
は引き抜いた線径の測定値をもって定めている。しか
し、ユーザーには、線引きダイスの孔径を直接精密に測
定し、更にこれにより出来上がる線径を予測するシステ
ムを構築したいという要求がある。2. Description of the Related Art The hole diameter of a wire drawing die is 0.01-2.
It has a small value of 0 mm. It is difficult to accurately measure the diameter of such a minute hole using a conventional measuring device. Also in the JIS standard, the hole diameter of the wire drawing die is determined by the measured value of the drawn wire diameter. However, there is a demand for the user to construct a system that directly and precisely measures the hole diameter of the wire drawing die and predicts the wire diameter to be completed by this.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】顕微鏡を用いた測定装
置において、焦点合わせと透過照明開口絞りの調整は、
精度よく測定するための重要な要素である。しかし従
来、焦点合わせの自動化は実施しても、開口絞りを自動
化したものはない。本発明は、この様な事情を考慮して
なされたもので、顕微鏡による透過拡大像を用いて微小
孔寸法を自動的に精密測定する微小孔寸法測定装置を提
供することを目的とする。In a measuring device using a microscope, focusing and adjustment of a transillumination aperture stop are performed as follows.
This is an important factor for accurate measurement. However, conventionally, even if the focusing is automated, there is no automated aperture stop. The present invention has been made in consideration of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a micropore size measuring apparatus that automatically and precisely measures the micropore size using a transmission magnified image by a microscope.
【0004】[0004]
【課題を解決するための手段】本発明による微小孔寸法
測定装置は、微小孔を持つ被測定物の透過拡大像を得る
顕微鏡と、この顕微鏡の拡大像を撮像する撮像装置と、
この撮像装置の出力信号をディジタル化しエッジ座標検
出を行って前記微小孔の寸法を演算する画像処理手段
と、前記顕微鏡の照明光の光量および照明開口絞りを自
動調整する顕微鏡制御手段と、測定すべき孔寸法に適す
る顕微鏡の照明光の光量および照明開口絞りの開口数の
最適値を記憶する記憶装置を有し、測定すべき孔寸法の
規格値を入力することにより前記記憶装置に基づいて前
記顕微鏡制御手段を最適制御するシステム制御手段とを
備えたことを特徴としている。A micropore size measuring device according to the present invention comprises a microscope for obtaining a transmission magnified image of an object to be measured having micropores, and an image pickup device for picking up a magnified image of this microscope.
Image processing means for digitizing the output signal of the image pickup device to detect the edge coordinates to calculate the size of the minute hole, microscope control means for automatically adjusting the light quantity of the illumination light of the microscope and the illumination aperture stop, and measuring. It has a storage device for storing the optimum value of the light quantity of the illumination light of the microscope suitable for the power hole size and the numerical aperture of the illumination aperture stop, and based on the storage device by inputting the standard value of the hole size to be measured. And a system control unit for optimally controlling the microscope control unit.
【0005】本発明による微小孔寸法測定装置はまた、
被測定物が線引きダイスである場合に前記システム制御
手段が、前記画像処理手段により得られた孔径に基づい
てその線引きダイスにより得られる繊維の線径を予測す
る演算部を有することを特徴としている。The micropore size measuring device according to the invention also comprises
When the object to be measured is a drawing die, the system control means is characterized in that it has an arithmetic unit for predicting the wire diameter of the fiber obtained by the drawing die based on the hole diameter obtained by the image processing means. .
【0006】[0006]
【作用】本発明によると、顕微鏡の透過拡大像を撮像し
て画像処理することにより、被測定物の微小孔寸法を測
定することができる。また本発明では、顕微鏡の焦点,
照明光の光量および照明開口絞りが、測定すべき孔径に
応じて自動制御され、これにより高精度の孔寸法測定が
できる。更に本発明の孔寸法測定装置を用いれば、線引
きダイスにより出来上がる線径を予測するシステムを容
易に構築することができる。According to the present invention, it is possible to measure the micropore size of the object to be measured by picking up a transmission magnified image of the microscope and processing the image. Further, in the present invention, the focus of the microscope,
The amount of illumination light and the illumination aperture stop are automatically controlled according to the hole diameter to be measured, which enables highly accurate hole size measurement. Further, by using the hole size measuring device of the present invention, it is possible to easily construct a system for predicting the wire diameter to be completed by the wire drawing die.
【0007】[0007]
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。図1は、本発明の一実施例に係る線引きダイ
ス孔径測定装置の構成を示す。図2は、測定すべき線引
きダイスの構造を示す。図1のようにこの装置は、テー
ブル14上に置かれた線引きダイス15の透過拡大像を
得る光学顕微鏡1、この顕微鏡1の焦点等を自動調整す
る顕微鏡制御装置2、顕微鏡1に取り付けられたCCD
カメラ3、このCCDカメラ3の出力信号を処理する画
像処理装置4、および顕微鏡制御装置2を制御するコン
ピュータ等のシステム制御装置5を有する。システム制
御装置5は、顕微鏡制御装置2の制御の他、画像処理装
置4により得られた孔径データに基づいて、線径を予測
する機能を持っている。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows the structure of a wire drawing die hole diameter measuring apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 shows the structure of the drawing die to be measured. As shown in FIG. 1, this device is attached to an optical microscope 1 for obtaining a transmission enlarged image of a drawing die 15 placed on a table 14, a microscope control device 2 for automatically adjusting the focus of the microscope 1 and the like. CCD
It has a camera 3, an image processing device 4 for processing the output signal of the CCD camera 3, and a system control device 5 such as a computer for controlling the microscope control device 2. The system control device 5 has a function of predicting the wire diameter based on the hole diameter data obtained by the image processing device 4, in addition to the control of the microscope control device 2.
【0008】CCDカメラ3により得られる画像や、こ
れを画像処理して得られる線引きダイスの孔径データ、
更にこの孔径に基づいて予測される線径データを出力表
示するためにディスプレイ5およびプリンタ6が設けら
れている。An image obtained by the CCD camera 3, hole diameter data of a drawing die obtained by image processing the image,
Further, a display 5 and a printer 6 are provided to output and display the wire diameter data predicted based on the hole diameter.
【0009】顕微鏡1は、テーブル14上に載置された
線引きダイス15の照明装置11による透過拡大像を得
るものである。照明装置11の照明光量および開口絞り
12の絞り駆動部13は、それぞれ顕微鏡制御装置2内
の光量制御部24および絞り制御部23により自動制御
される。顕微鏡1の対物レンズ16はレンズマウント1
7に取り付けられていて、レンズ切替え装置18は、顕
微鏡制御装置2内のレンズ交換制御部22により切替え
制御される。対物レンズ16は手動による切り替えも勿
論できる。顕微鏡1の焦点調整部19は、同じく顕微鏡
制御装置2内の焦点制御部21により自動制御される。
焦点制御部21は、CCDカメラ21にある焦点検出部
21からの焦点検出データが取り込まれて、このデータ
に基づいて焦点の最適制御を行うものである。The microscope 1 is for obtaining a transmission enlarged image of the drawing die 15 placed on the table 14 by the illumination device 11. The illumination light amount of the illumination device 11 and the aperture driving unit 13 of the aperture stop 12 are automatically controlled by the light amount control unit 24 and the aperture control unit 23 in the microscope control device 2, respectively. The objective lens 16 of the microscope 1 is a lens mount 1
The lens switching device 18 attached to the lens 7 is controlled by the lens exchange control unit 22 in the microscope control device 2. Of course, the objective lens 16 can be manually switched. The focus adjustment unit 19 of the microscope 1 is also automatically controlled by the focus control unit 21 in the microscope control device 2.
The focus control unit 21 takes in focus detection data from the focus detection unit 21 in the CCD camera 21, and performs optimum control of the focus based on this data.
【0010】顕微鏡制御装置2内のレンズ交換制御部2
2,絞り制御部23、光量制御部24には、システム制
御装置5から制御データが送られる。システム制御装置
5は、CPU51,演算回路52および記憶回路53に
より構成されている。記憶回路53には、各種のシステ
ム制御データの他に、測定すべき線引きダイスの孔径
(線径)とこれに対する顕微鏡1の照明光の光量および
照明開口絞りの開口数(NA)の最適値との間の予め求
められた相関関係を記憶するテーブルを有する。そして
キーボード等の入力装置から測定すべき線引きダイスの
孔径の規格値を入力することにより、その記憶テーブル
のデータに基づいて顕微鏡制御装置2に最適制御信号が
送られるようになっている。Lens exchange controller 2 in microscope controller 2
2, control data is sent from the system controller 5 to the aperture controller 23 and the light amount controller 24. The system control device 5 includes a CPU 51, an arithmetic circuit 52, and a storage circuit 53. In addition to various system control data, the storage circuit 53 stores the hole diameter (wire diameter) of the drawing die to be measured, and the optimum value of the light quantity of the illumination light of the microscope 1 and the numerical aperture (NA) of the illumination aperture stop for this. It has a table that stores the previously determined correlations between. Then, by inputting the standard value of the hole diameter of the wire drawing die to be measured from an input device such as a keyboard, an optimum control signal is sent to the microscope control device 2 based on the data in the storage table.
【0011】画像処理装置4は、CCDカメラ3の出力
信号をディジタル化するA/Dコンバータ41、得られ
たディジタルデータを記憶するフレームメモリ42、こ
のフレームメモリ42のデータを所定のスライスレベル
でスライスして2値化する2値化回路43、2値化され
たデータからエッジ座標検出を行うエッジ座標検出回路
44、および検出されたエッジ座標データから線引きダ
イスの孔径を算出する演算回路45により構成されてい
る。The image processing device 4 includes an A / D converter 41 for digitizing an output signal of the CCD camera 3, a frame memory 42 for storing the obtained digital data, and a slice of the data in the frame memory 42 at a predetermined slice level. And binarizing circuit 43 for binarizing, edge coordinate detecting circuit 44 for detecting edge coordinates from the binarized data, and arithmetic circuit 45 for calculating the hole diameter of the drawing die from the detected edge coordinate data. Has been done.
【0012】画像処理装置4により得られた線引きダイ
スの孔径は、システム制御装置5に送られ、演算回路5
2においてこの線引きダイスにより引き抜かれる繊維の
線径を求める演算が行われる。線引きダイスの孔径と線
径の関係は予め測定されて、記憶回路52に記憶されて
おり、その関係式に基づいて、演算回路52で線径の予
測がなされることになる。The hole diameter of the wire drawing die obtained by the image processing device 4 is sent to the system control device 5, and the arithmetic circuit 5 is operated.
In step 2, an operation for obtaining the wire diameter of the fiber drawn by the wire drawing die is performed. The relation between the hole diameter of the wire drawing die and the wire diameter is measured in advance and stored in the memory circuit 52, and the arithmetic circuit 52 predicts the wire diameter based on the relational expression.
【0013】この実施例のシステムによる具体的なダイ
ス径測定と線径予測の動作を次に説明する。まず本測定
に先立って、システムの予備設定が必要である。最初
に、孔径が分かっている基準ダイスを用いて自動焦点合
わせを行う。これは、指令スイッチにより顕微鏡制御装
置2内の焦点制御部21が働いて、CCDカメラ3内の
焦点検出部21のデータに基づいて焦点調整部19が自
動制御される。因みに図3は、焦点位置ずれとダイス径
測定誤差の関係を、1.95mmφの線引きダイスについ
て測定したデータである。このデータから焦点合わせを
正確に行うことが高精度測定にとって重要であることが
理解される。The specific operation of die diameter measurement and wire diameter prediction by the system of this embodiment will be described below. First of all, it is necessary to pre-set the system prior to the main measurement. First, automatic focusing is performed using a reference die whose hole diameter is known. The focus control unit 21 in the microscope control device 2 is operated by the command switch, and the focus adjustment unit 19 is automatically controlled based on the data of the focus detection unit 21 in the CCD camera 3. Incidentally, FIG. 3 shows data obtained by measuring the relationship between the focus position shift and the die diameter measurement error for a 1.95 mmφ wire drawing die. It is understood from this data that accurate focusing is important for high precision measurements.
【0014】次に、顕微鏡1の照明装置11の光量およ
び開口絞り12を手動により調整して、最適光量と開口
絞りを選択する。開口絞りの条件によって、顕微鏡1に
より得られるダイス孔に相当する光学像の明るさ分布は
図4(a) 〜(c) のように変化する。これらの光学像撮像
信号をディジタル化して明暗の画素数分布を求めると、
図4(a) 〜(c) に対応してそれぞれ、図5(a) 〜(c) の
ような分布になる。画像処理装置4によるデータ2値化
のスライスレベルが画像の明部と暗部の1/2に設定さ
れているとすると、図4(b) に示すように明部と暗部の
境界が急峻でかつ明部が極力平坦となるように、開口絞
りを設定することが好ましい。また照明の開口絞りの最
適条件は、測定するダイスの径によっても異なる。その
データを図6に示す。開口絞りのNAとダイス径測定誤
差の関係は、図示のようにダイス径によって異なるの
で、ダイス径に応じて測定誤差が最も小さくなる最適の
NA(図6の丸印)を選択する必要がある。Next, the light amount of the illumination device 11 of the microscope 1 and the aperture stop 12 are manually adjusted to select the optimum light amount and the aperture stop. Depending on the conditions of the aperture stop, the brightness distribution of the optical image corresponding to the die hole obtained by the microscope 1 changes as shown in FIGS. 4 (a) to 4 (c). When these optical image pickup signals are digitized and the distribution of bright and dark pixel numbers is obtained,
Corresponding to FIGS. 4 (a)-(c), the distributions are as shown in FIGS. 5 (a)-(c), respectively. Assuming that the slice level of the data binarization by the image processing device 4 is set to 1/2 of the bright and dark parts of the image, the boundary between the bright and dark parts is steep as shown in FIG. It is preferable to set the aperture stop so that the bright portion is as flat as possible. The optimum conditions for the aperture stop of the illumination also differ depending on the diameter of the die to be measured. The data is shown in FIG. Since the relationship between the NA of the aperture stop and the die diameter measurement error differs depending on the die diameter as shown in the figure, it is necessary to select the optimum NA (circle in FIG. 6) that minimizes the measurement error according to the die diameter. .
【0015】したがって予備設定においては、ダイス径
の分かっている寸法の異なる複数の基準ダイスを用い
て、それぞれ最適光量と照明の開口絞りの最適NAを求
めるということが必要になる。こうして求められた孔径
と最適光量および最適開口絞りとの相関関係のデータ
は、全てシステム制御装置5内の記憶回路53内にテー
ブルとして記憶される。Therefore, in the preliminary setting, it is necessary to use a plurality of reference dies having different known dice diameters to obtain the optimum light amount and the optimum NA of the illumination aperture stop. All the data of the correlation between the hole diameter and the optimum light amount and the optimum aperture diaphragm thus obtained are stored as a table in the storage circuit 53 in the system control device 5.
【0016】システムの予備設定においては更に、基準
ダイスの孔径と実際にこの基準ダイスにより線引きした
時の線径との関係を、複数回の実測と最小自乗法を用い
た平均化処理により求め、これをシステム制御装置5内
の記憶回路53に書き込んで記憶する。具体的にダイス
径と線径の関係は、例えば図7に示すようになる。この
関係式を予め求めて記憶しておくことにより、これに基
づいて実際に線引きダイスの径を測定したときに、演算
回路52で予測線径を演算して出力することができる。In the preliminary setting of the system, the relation between the hole diameter of the reference die and the wire diameter when the wire is actually drawn by the reference die is obtained by a plurality of measurements and an averaging process using the least squares method. This is written and stored in the storage circuit 53 in the system control device 5. Specifically, the relationship between the die diameter and the wire diameter is as shown in FIG. 7, for example. By obtaining and storing this relational expression in advance, when the diameter of the drawing die is actually measured based on this, the calculation circuit 52 can calculate and output the predicted wire diameter.
【0017】以上の予備設定が終了した後、本測定に入
る。測定すべき線引きダイスを顕微鏡のテーブルに設置
して、焦点合わせの指令スイッチを押すと、先の予備設
定のときと同様に、顕微鏡制御装置2内の焦点制御部2
1が働いて、CCDカメラ3内の焦点検出部21のデー
タに基づいて焦点調整部19を自動制御する。測定者は
この時必要なら、線引きダイスの孔がカメラ中央に位置
するように手動で調整する。位置調整ができたら、次に
測定する線引きダイスの線径規格値をキー入力する。孔
径によって顕微鏡の倍率を変える必要がある場合には、
孔径と対応させてレンズの切り替え信号(レンズ指定デ
ータ)をキー入力する。これにより、システム制御装置
5内のテーブルに基づいて、照明装置11の照明光量お
よび開口絞り12の絞り駆動部13が、それぞれ顕微鏡
制御装置2内の光量制御部24および絞り制御部23に
より自動的に最適条件に設定される。After the above preliminary setting is completed, the main measurement is started. When the drawing die to be measured is installed on the table of the microscope and the focusing command switch is pressed, the focus control unit 2 in the microscope control device 2 is operated as in the case of the above-mentioned preliminary setting.
1 operates to automatically control the focus adjustment unit 19 based on the data of the focus detection unit 21 in the CCD camera 3. If necessary at this time, the operator manually adjusts the hole of the drawing die so that it is located in the center of the camera. After adjusting the position, key in the standard wire diameter of the wire drawing die to be measured next. When it is necessary to change the magnification of the microscope depending on the hole diameter,
Key in the lens switching signal (lens designation data) corresponding to the hole diameter. Accordingly, based on the table in the system control device 5, the illumination light amount of the illumination device 11 and the diaphragm drive unit 13 of the aperture stop 12 are automatically controlled by the light amount control unit 24 and the aperture control unit 23 in the microscope control device 2, respectively. Is set to optimal conditions.
【0018】そして測定開始指令を出すと、画像処理装
置4により光学像がディジタル信号処理されてダイス径
が得られ、またこのダイス径に基づいてシステム制御装
置5内で予測線径が演算される。例えばディスプレイ5
上には、キー入力された線径の規格値と共に、求められ
たダイス径と予測された線径とが出力表示される。また
これらのデータは、必要に応じてプリンタ6によりプリ
ントアウトされる。When a measurement start command is issued, the optical image is digitally processed by the image processing device 4 to obtain the die diameter, and the predicted wire diameter is calculated in the system controller 5 based on the die diameter. . For example, display 5
On the top, the obtained die diameter and the predicted wire diameter are output and displayed together with the standard value of the wire diameter keyed in. Further, these data are printed out by the printer 6 as needed.
【0019】実施例では、微小孔が線引きダイスの円形
孔の場合を説明したが、本発明はこれに限られるもので
はなく、微小孔がスリットであってそのスリット幅を測
定する場合にも同様に本発明を適用することができる。In the embodiment, the case where the minute holes are circular holes of the drawing die has been described, but the present invention is not limited to this, and the same applies when the minute holes are slits and the slit width is measured. The present invention can be applied to.
【0020】[0020]
【発明の効果】以上のように本発明によれば、顕微鏡の
透過拡大像を撮像して画像処理することにより、被測定
物の微小孔寸法を自動測定することができる。また本発
明では、照明光の光量および照明開口絞りが、測定すべ
き孔径に応じて自動制御され、これにより高精度の孔寸
法測定ができる。As described above, according to the present invention, it is possible to automatically measure the micropore size of the object to be measured by picking up a transmission magnified image of a microscope and performing image processing. Further, in the present invention, the light quantity of the illumination light and the illumination aperture stop are automatically controlled according to the hole diameter to be measured, which allows highly accurate hole size measurement.
【図1】 本発明の一実施例に係る測定装置の構成を示
す図である。FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】 測定すべき線引きダイスの構造を示す図であ
る。FIG. 2 is a diagram showing a structure of a drawing die to be measured.
【図3】 ダイス径測定誤差と焦点ずれの関係を示す図
である。FIG. 3 is a diagram showing a relationship between a die diameter measurement error and defocus.
【図4】 光学像の明るさ分布と照明開口絞りの関係を
示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a relationship between a brightness distribution of an optical image and an illumination aperture stop.
【図5】 図4の明るさ分布に対応するディジタル化し
た画素数分布を示す図である。5 is a diagram showing a digitized pixel number distribution corresponding to the brightness distribution of FIG.
【図6】 ダイス径測定誤差と照明開口絞りの関係を示
す図である。FIG. 6 is a diagram showing a relationship between a die diameter measurement error and an illumination aperture stop.
【図7】 ダイス径とこのダイスにより引かれる繊維の
線径の関係を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a relationship between a die diameter and a wire diameter of a fiber drawn by the die.
1…顕微鏡、2…顕微鏡制御装置、3…CCDカメラ、
4…画像処理装置、5…システム制御装置、5…ディス
プレイ、6…プリンタ。1 ... microscope, 2 ... microscope control device, 3 ... CCD camera,
4 ... Image processing device, 5 ... System control device, 5 ... Display, 6 ... Printer.
Claims (2)
る顕微鏡と、 この顕微鏡の透過拡大像を撮像する撮像装置と、 この撮像装置の出力信号をディジタル化しエッジ座標検
出を行って前記微小孔の寸法を演算する画像処理手段
と、 前記顕微鏡の照明光の光量および照明開口絞りを自動調
整する顕微鏡制御手段と、 測定すべき孔寸法に適する顕微鏡の照明光の光量および
照明開口絞りの開口数の最適値を記憶する記憶装置を有
し、測定すべき孔寸法の規格値を入力することにより前
記記憶装置に基づいて前記顕微鏡制御手段を最適制御す
るシステム制御手段と、を備えたことを特徴とする微小
孔寸法測定装置。1. A microscope for obtaining a transmission magnified image of an object to be measured having fine holes, an image pickup device for picking up a transmission magnified image of this microscope, and an output signal of this image pickup device being digitized to perform edge coordinate detection, Image processing means for calculating the size of the minute hole, microscope control means for automatically adjusting the light amount of the illumination light of the microscope and the illumination aperture stop, and the light amount of the illumination light of the microscope and the illumination aperture stop suitable for the hole size to be measured. And a system control means for optimally controlling the microscope control means on the basis of the storage device by inputting a standard value of a hole size to be measured. A micropore size measuring device characterized by.
前記システム制御手段は、前記画像処理手段により得ら
れた孔径に基づいてその線引きダイスにより得られる繊
維の線径を予測する演算部を有することを特徴とする請
求項1記載の微小孔寸法測定装置。2. The object to be measured is a wire drawing die,
2. The micropore size measuring device according to claim 1, wherein the system control means has an arithmetic unit that predicts a wire diameter of a fiber obtained by the drawing die based on the hole diameter obtained by the image processing means. .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1938093A JPH06207809A (en) | 1993-01-11 | 1993-01-11 | Microscopic hole dimension measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1938093A JPH06207809A (en) | 1993-01-11 | 1993-01-11 | Microscopic hole dimension measuring apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06207809A true JPH06207809A (en) | 1994-07-26 |
Family
ID=11997712
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1938093A Pending JPH06207809A (en) | 1993-01-11 | 1993-01-11 | Microscopic hole dimension measuring apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06207809A (en) |
-
1993
- 1993-01-11 JP JP1938093A patent/JPH06207809A/en active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2870142B2 (en) | Coplanarity measuring method and apparatus | |
| US20090216486A1 (en) | Method for measuring three-dimension shape | |
| US20040105000A1 (en) | Microscopic image capture apparatus | |
| JP2001059940A (en) | Microscope and recording medium | |
| WO2005096062A1 (en) | Method of compensating spherical aberration and corresponding system | |
| US12013525B2 (en) | Magnified observation apparatus | |
| JP3296513B2 (en) | Micro diameter measuring device | |
| US4384200A (en) | Apparatus for changing illumination optics of a microscope | |
| JP4655644B2 (en) | Periodic pattern unevenness inspection system | |
| EP2635890B1 (en) | Method for automatically adjusting the levels of illumination sources in an optical measurement machine | |
| CN120232812A (en) | System with optimized multi-channel lighting control | |
| JPH06207809A (en) | Microscopic hole dimension measuring apparatus | |
| JP2989921B2 (en) | microscope | |
| JPH11283035A (en) | Focus adjustment device for image equipment | |
| JP3508368B2 (en) | Image measuring machine | |
| KR19990085013A (en) | Pattern inspector of plasma display panel and inspection method | |
| JP3429109B2 (en) | Lens meter | |
| JP3552381B2 (en) | Image measuring machine | |
| JP3534817B2 (en) | Automatic lighting setting method and device | |
| JP3183811B2 (en) | Inspection support device | |
| JP4684646B2 (en) | Autofocus method | |
| JPH09189522A (en) | Optical dimension measuring machine | |
| JP2661477B2 (en) | Method and apparatus for detecting surface profile of material to be detected | |
| JP2000031233A (en) | Method of calling defect position and device to which the method is applied | |
| JPH11295048A (en) | Image processing device |