JPH06208618A - 画像処理装置及び処理方法 - Google Patents
画像処理装置及び処理方法Info
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- JPH06208618A JPH06208618A JP5183916A JP18391693A JPH06208618A JP H06208618 A JPH06208618 A JP H06208618A JP 5183916 A JP5183916 A JP 5183916A JP 18391693 A JP18391693 A JP 18391693A JP H06208618 A JPH06208618 A JP H06208618A
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
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- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は画像処理装置及び方法に関し、基準
画像に関連して試験画像の過誤登録を検出し、いくつか
の過誤整列の検出処理に容易に適応可能にすることを目
的とする。 【構成】 数個の空間的に分離された局所領域を持つ画
像における対応データを獲得する画像獲得手段と、基準
情報を格納する記憶手段と、局所領域及び基準情報から
の情報を集める統合手段と、画像が正常な位置からシフ
トされたか否かを判定するために集められた情報を解析
する解析手段とで構成される。
画像に関連して試験画像の過誤登録を検出し、いくつか
の過誤整列の検出処理に容易に適応可能にすることを目
的とする。 【構成】 数個の空間的に分離された局所領域を持つ画
像における対応データを獲得する画像獲得手段と、基準
情報を格納する記憶手段と、局所領域及び基準情報から
の情報を集める統合手段と、画像が正常な位置からシフ
トされたか否かを判定するために集められた情報を解析
する解析手段とで構成される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は画像処理装置及び処理方
法に関し、特に画像の有効な登録を確保するための自動
画像登録技術を使用した電子的な画像処理装置及び処理
方法に関する。本発明による装置では過誤登録判定方法
のために数個の画像範囲が比較のために使用される。
法に関し、特に画像の有効な登録を確保するための自動
画像登録技術を使用した電子的な画像処理装置及び処理
方法に関する。本発明による装置では過誤登録判定方法
のために数個の画像範囲が比較のために使用される。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】多くの
画像処理段階では画像の内容に基づいて相互に整列され
た２つ若しくはそれ以上の画像を必要とする。過誤登録
の量を判定し、検出された過誤登録を再登録画像処理に
利用するいくつかの方法が存在する。最も簡単な再登録
技術は単一の基準画像と整列するために１つ又はそれ以
上の画像データをシフトすることである。使用されるシ
フト量は定量的な過誤登録検出法により検出される。
画像処理段階では画像の内容に基づいて相互に整列され
た２つ若しくはそれ以上の画像を必要とする。過誤登録
の量を判定し、検出された過誤登録を再登録画像処理に
利用するいくつかの方法が存在する。最も簡単な再登録
技術は単一の基準画像と整列するために１つ又はそれ以
上の画像データをシフトすることである。使用されるシ
フト量は定量的な過誤登録検出法により検出される。
【０００３】定量的な過誤登録の検出方法として、現
在、エッジ認識、点認識、行及び列合計の補正、局部領
域の補正、その他が存在する。これらの方法は多くの場
合に有効であるが、精度による制限、計算の複雑さ、応
用が限定される、等の問題を含んでいる。さらに、他の
定量的な過誤登録検出方法では、試験画像の局所領域と
基準画像の局所領域について、この２つの局所領域の
差、若しくは画素毎の差の絶対値を統合することにより
比較する。そして、２つの局所領域の内の一方は１画素
毎にＸ軸に沿ってシフトされ再度合計される。このよう
な動作は何回かく繰り返され、その結果は各位置にて記
録される。Ｘ軸のシフト量は元の点に戻され、局所領域
は１画素毎にＹ軸に沿ってシフトされる。そして、Ｘ軸
方向のシフト及び合計はこの新たなＹ軸位置について繰
り返される。このＹ軸のシフトとこれに続くＸ軸のシフ
ト及び合計は何度か繰り返される。結果的に記録された
合計は検査され、最小値が注目される。最小の合計の結
果は局所領域内で最高の整列を特徴とする画素シフトに
対応する。
在、エッジ認識、点認識、行及び列合計の補正、局部領
域の補正、その他が存在する。これらの方法は多くの場
合に有効であるが、精度による制限、計算の複雑さ、応
用が限定される、等の問題を含んでいる。さらに、他の
定量的な過誤登録検出方法では、試験画像の局所領域と
基準画像の局所領域について、この２つの局所領域の
差、若しくは画素毎の差の絶対値を統合することにより
比較する。そして、２つの局所領域の内の一方は１画素
毎にＸ軸に沿ってシフトされ再度合計される。このよう
な動作は何回かく繰り返され、その結果は各位置にて記
録される。Ｘ軸のシフト量は元の点に戻され、局所領域
は１画素毎にＹ軸に沿ってシフトされる。そして、Ｘ軸
方向のシフト及び合計はこの新たなＹ軸位置について繰
り返される。このＹ軸のシフトとこれに続くＸ軸のシフ
ト及び合計は何度か繰り返される。結果的に記録された
合計は検査され、最小値が注目される。最小の合計の結
果は局所領域内で最高の整列を特徴とする画素シフトに
対応する。
【０００４】シフトの量は予測される最大の過誤登録量
により判定され、正常な位置の周りに集められる。局所
領域のサイズと位置は画像の特徴を含むように選択さ
れ、その画像の特徴は水平及び垂直方向について十分な
コントラストと非繰り返し情報内容を有する。上述の過
誤登録検出方法は、動作的に局所領域の非正規化補正に
類似するが、乗算を不要としない簡単な計算が要求され
ている。
により判定され、正常な位置の周りに集められる。局所
領域のサイズと位置は画像の特徴を含むように選択さ
れ、その画像の特徴は水平及び垂直方向について十分な
コントラストと非繰り返し情報内容を有する。上述の過
誤登録検出方法は、動作的に局所領域の非正規化補正に
類似するが、乗算を不要としない簡単な計算が要求され
ている。
【０００５】本発明の目的は、基準画像に関連して試験
画像の過誤登録を検出する画像処理装置及び方法を提供
することにある。本発明の他の目的は、いくつかの過誤
整列の検出処理に容易に適応可能な画像処理装置及び方
法を提供することにある。
画像の過誤登録を検出する画像処理装置及び方法を提供
することにある。本発明の他の目的は、いくつかの過誤
整列の検出処理に容易に適応可能な画像処理装置及び方
法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は画像処理装置で
あって、数個の空間的に分離された局所領域を持つ画像
における対応データを獲得する画像獲得手段と、基準情
報を格納する記憶手段と、局所領域及び基準情報からの
情報を集める統合手段と、画像が正常な位置からシフト
されたか否かを判定するために集められた情報を解析す
る解析手段と、を備える。
あって、数個の空間的に分離された局所領域を持つ画像
における対応データを獲得する画像獲得手段と、基準情
報を格納する記憶手段と、局所領域及び基準情報からの
情報を集める統合手段と、画像が正常な位置からシフト
されたか否かを判定するために集められた情報を解析す
る解析手段と、を備える。
【０００７】実施例として、局所領域及び基準情報から
の情報は二次元的に配列された画素である。実施例とし
て、本発明の画像処理装置は局所領域からの情報を２つ
の直交方向の１つに選択的にシフトするシフト手段をさ
らに備える。さらに、本発明は画像処理装置であって、
サンプルの複数局所領域からのデータを獲得する画像獲
得手段であって、データは画素を対応するサンプル配列
に仕切ったものと、画素を数個の基準配列で格納する記
憶手段と、サンプルと基準配列を比較する比較手段と、
比較結果を集める統合手段と、サンプルと基準配列の間
のシフト量を判定する解析手段とを備える。
の情報は二次元的に配列された画素である。実施例とし
て、本発明の画像処理装置は局所領域からの情報を２つ
の直交方向の１つに選択的にシフトするシフト手段をさ
らに備える。さらに、本発明は画像処理装置であって、
サンプルの複数局所領域からのデータを獲得する画像獲
得手段であって、データは画素を対応するサンプル配列
に仕切ったものと、画素を数個の基準配列で格納する記
憶手段と、サンプルと基準配列を比較する比較手段と、
比較結果を集める統合手段と、サンプルと基準配列の間
のシフト量を判定する解析手段とを備える。
【０００８】実施例として、本発明の画像処理装置は所
定の方向に前記基準配列と前記サンプル配列の１つをシ
フトするシフト手段をさらに含む。さらに、本発明は正
常な位置からのサンプルの直線的なシフトを判定する画
像処理方法であって、各配列がサンプルの局所領域に対
応し、画素の数個のサンプル配列に配置された画像デー
タを獲得し、サンプル配列と対応する基準配列を比較
し、サンプル配列と基準配列の差に対応する差配列を格
納し、サンプル配列をシフトし、シフトされたサンプル
配列と前記基準配列との差と格納され差を比較する。
定の方向に前記基準配列と前記サンプル配列の１つをシ
フトするシフト手段をさらに含む。さらに、本発明は正
常な位置からのサンプルの直線的なシフトを判定する画
像処理方法であって、各配列がサンプルの局所領域に対
応し、画素の数個のサンプル配列に配置された画像デー
タを獲得し、サンプル配列と対応する基準配列を比較
し、サンプル配列と基準配列の差に対応する差配列を格
納し、サンプル配列をシフトし、シフトされたサンプル
配列と前記基準配列との差と格納され差を比較する。
【０００９】実施例としてサンプル配列及び基準配列は
画素毎に解析される。
画素毎に解析される。
【００１０】
【作用】本発明においては、局所領域の比較は、基準画
像からの２つ若しくはそれ以上の局所領域及び試験画像
からの２つ若しくはそれ以上の局所領域を使用して行わ
れる。局所領域は２つの局所領域において近似的に直交
する情報内容を含むように選択される。２つの局所領域
の情報は空間的にリンクされるが、画像フレーム内で広
く分離されている。絶対値の差の合計による方法、即
ち、基準画像における局所領域の１つと試験領域におけ
る対応の局所領域の差の絶対値の合計を、画素対画素基
準で、このコンセプトと共に使用することが行われる。
像からの２つ若しくはそれ以上の局所領域及び試験画像
からの２つ若しくはそれ以上の局所領域を使用して行わ
れる。局所領域は２つの局所領域において近似的に直交
する情報内容を含むように選択される。２つの局所領域
の情報は空間的にリンクされるが、画像フレーム内で広
く分離されている。絶対値の差の合計による方法、即
ち、基準画像における局所領域の１つと試験領域におけ
る対応の局所領域の差の絶対値の合計を、画素対画素基
準で、このコンセプトと共に使用することが行われる。
【００１１】そして、基準画像の他の領域と試験領域の
対応局所領域の絶対値の差の合計が実効される。これら
２つの合計は互いに加算されその結果が記録される。基
準画像における２つの局所領域は、試験画像に関連て１
画素ずつＸ軸に沿ってシフトされる。この動作は何回か
繰り返され、各場所において合計が記録される。Ｘ軸の
シフト量は元の点に戻され、領域は１画素毎にＹ軸に沿
ってシフトされる。Ｘ軸シフト及びその合計は、この新
Ｙ軸に対して繰り返される。このＹ軸シフト及びそれに
続くＸ軸シフト及びその合計は何回か繰り返される。結
果的に得られた合計の最小値は、２つの局所領域内の特
徴として最高な整列をした画素シフトに対応している。
対応局所領域の絶対値の差の合計が実効される。これら
２つの合計は互いに加算されその結果が記録される。基
準画像における２つの局所領域は、試験画像に関連て１
画素ずつＸ軸に沿ってシフトされる。この動作は何回か
繰り返され、各場所において合計が記録される。Ｘ軸の
シフト量は元の点に戻され、領域は１画素毎にＹ軸に沿
ってシフトされる。Ｘ軸シフト及びその合計は、この新
Ｙ軸に対して繰り返される。このＹ軸シフト及びそれに
続くＸ軸シフト及びその合計は何回か繰り返される。結
果的に得られた合計の最小値は、２つの局所領域内の特
徴として最高な整列をした画素シフトに対応している。
【００１２】試験画像からの２の局所領域に対する比較
のために基準画像からの２つの局所領域を使用する概念
は、過誤登録判定の方法、局所領域の非正規化に拡張さ
れる。前述した２つの領域における差の絶対値の合計の
最小値と同様であるが、生成物の合計は各局所領域に対
して各Ｘ及びＹ軸シフトにおいて実行され、合計が加算
され、結果が記録される。全てのシフトが完了すると、
記録された結果は検査され、最大値は２つの局所領域の
特徴とて最高の整列である画素シフトに対応する。
のために基準画像からの２つの局所領域を使用する概念
は、過誤登録判定の方法、局所領域の非正規化に拡張さ
れる。前述した２つの領域における差の絶対値の合計の
最小値と同様であるが、生成物の合計は各局所領域に対
して各Ｘ及びＹ軸シフトにおいて実行され、合計が加算
され、結果が記録される。全てのシフトが完了すると、
記録された結果は検査され、最大値は２つの局所領域の
特徴とて最高の整列である画素シフトに対応する。
【００１３】試験画像からの２の局所領域に対する比較
のために基準画像からの２つの局所領域を使用する概
念、差の絶対値の合計の最小値、又は他の比較方法は、
基準画像からの局所領域の数に対する比較のために基準
画像からの局所領域の如何なる数の使用にも拡張するこ
とができ、比較において多重に空間的にリンクした特徴
を許容する。
のために基準画像からの２つの局所領域を使用する概
念、差の絶対値の合計の最小値、又は他の比較方法は、
基準画像からの局所領域の数に対する比較のために基準
画像からの局所領域の如何なる数の使用にも拡張するこ
とができ、比較において多重に空間的にリンクした特徴
を許容する。
【００１４】
【実施例】本発明による画像処理装置の実施例を図面に
沿って以下に説明する。図１は本発明による画像獲得装
置のブロック図である。本発明による画像獲得装置は特
に印刷パターンをチェックする装置に適している。図示
のように、装置１０には回転ドラム１２があり、回転ド
ラム１２にはシート１４が担持されている。シート１４
は矩形に配列された複数の印刷パターンで印刷されてい
る。
沿って以下に説明する。図１は本発明による画像獲得装
置のブロック図である。本発明による画像獲得装置は特
に印刷パターンをチェックする装置に適している。図示
のように、装置１０には回転ドラム１２があり、回転ド
ラム１２にはシート１４が担持されている。シート１４
は矩形に配列された複数の印刷パターンで印刷されてい
る。
【００１５】スキャナー１６は後段の画像獲得部１８に
画像を再生するためにシート１４を走査する。シート１
４の全体又はその少なくとも一部分の画像は、画像獲得
部１８からメモリ２０へデジタル形式でロードされる。
装置１０はさらに基準シートの画像を格納するための基
準画像メモリ２２を含む。メモリ２０及び基準画像メモ
リ２２からの２つの画像は画像処理部２４に送られ、画
像処理部２４はスキャナー１６からの画像が２つの直交
方向の内の１つにシフトされたかどうか決定するために
使用される。
画像を再生するためにシート１４を走査する。シート１
４の全体又はその少なくとも一部分の画像は、画像獲得
部１８からメモリ２０へデジタル形式でロードされる。
装置１０はさらに基準シートの画像を格納するための基
準画像メモリ２２を含む。メモリ２０及び基準画像メモ
リ２２からの２つの画像は画像処理部２４に送られ、画
像処理部２４はスキャナー１６からの画像が２つの直交
方向の内の１つにシフトされたかどうか決定するために
使用される。
【００１６】図２は画像２８を含む紙幣２６の印刷パタ
ーンを示し、この紙幣はシート１４に対応する。画像２
８がシフトされたか否かを判定するために、３つの局所
領域３０，３２，３４が選択され、次のように解析され
る。即ち、３つの局所領域３０，３２，３４は任意に選
ばれるが、適切には２つの直交方向Ｘ又はＹの何れかに
伸長する顕著な特徴を含むように選択される。このため
に、画像２８は、例えばオフセット印刷による単一の面
から生じるとする。通常、印刷パターンは数種の重畳さ
れた画像で印刷されており、各々の画像は異なる印刷方
法が使用される。このような場合、ここで示すステップ
は各画像について繰り返されており、各画像の直交シフ
トが判定される．各局所領域３０，３２，３４は、適切
には画素の二次元配列を備える。基準画像メモリ２２
は、完全な基準画像か又は局所領域３０，３２，３４に
対応する基準画像の局所領域を含むことができる。
ーンを示し、この紙幣はシート１４に対応する。画像２
８がシフトされたか否かを判定するために、３つの局所
領域３０，３２，３４が選択され、次のように解析され
る。即ち、３つの局所領域３０，３２，３４は任意に選
ばれるが、適切には２つの直交方向Ｘ又はＹの何れかに
伸長する顕著な特徴を含むように選択される。このため
に、画像２８は、例えばオフセット印刷による単一の面
から生じるとする。通常、印刷パターンは数種の重畳さ
れた画像で印刷されており、各々の画像は異なる印刷方
法が使用される。このような場合、ここで示すステップ
は各画像について繰り返されており、各画像の直交シフ
トが判定される．各局所領域３０，３２，３４は、適切
には画素の二次元配列を備える。基準画像メモリ２２
は、完全な基準画像か又は局所領域３０，３２，３４に
対応する基準画像の局所領域を含むことができる。
【００１７】図３は局所基準領域の説明図である。図３
では３つの画素配列３０’，３２’，３４’が示され
る。適切には、局所領域の各画素は二次元座標で表され
る。例えば、図示のように、画素配列３０’，３２’，
３４’の左上隅の画素を、画素Ａ１１’，Ｂ１１’，Ｃ
１１’で表す。元々、実際の画像２８の局所領域は正確
には基準画像の局所領域と一致する。言い換えれば、領
域３０’の中央斜線部分の中心画素は領域３０の中心画
素と一致する。
では３つの画素配列３０’，３２’，３４’が示され
る。適切には、局所領域の各画素は二次元座標で表され
る。例えば、図示のように、画素配列３０’，３２’，
３４’の左上隅の画素を、画素Ａ１１’，Ｂ１１’，Ｃ
１１’で表す。元々、実際の画像２８の局所領域は正確
には基準画像の局所領域と一致する。言い換えれば、領
域３０’の中央斜線部分の中心画素は領域３０の中心画
素と一致する。
【００１８】図４は図１に示す画像獲得装置の画像プロ
セッサ２４の詳細構成ブロック図である。図示のよう
に、画像プロセッサ２４は、５個のカウンター４０，４
２，４４，４６，４８と、統合ネットワーク５０と、メ
モリ５２と、比較器５４と、シフトセレクター５６とで
構成される。メモリ２０と２２は図１と同様である。本
図の画像プロセッサ２４は適切にはデジタルコンピュー
タである。
セッサ２４の詳細構成ブロック図である。図示のよう
に、画像プロセッサ２４は、５個のカウンター４０，４
２，４４，４６，４８と、統合ネットワーク５０と、メ
モリ５２と、比較器５４と、シフトセレクター５６とで
構成される。メモリ２０と２２は図１と同様である。本
図の画像プロセッサ２４は適切にはデジタルコンピュー
タである。
【００１９】メモリ２０からの実施の画像２８が基準画
像メモリ２２の基準画像の関連して直交方向にシフトさ
れるか否かを判定するために、反復的なプロセスを以下
に説明する。カウンター４０は基準画像の局所領域３
０’，３２’，３４’の１つを統合ネットワーク５０に
順次指定する。初期状態ではカウンター４２，４４は、
シフトがまだ発生していないことを示す「ゼロ」に設定
される。カウンター４６及び４８は、配列の画素が処理
される統合ネットワーク５０に示すためのポインターと
して使用される。カウンター４０が第１の局所領域３
０’を指定した後に、統合ネットワーク５０は領域３０
の各画素の値を得て、配列３０及び３０’の各画素の値
の差の絶対値を得る。従って、統合ネットワーク５０
は、差値｜Ａ１１−Ａ１１’｜、｜Ａ１２−Ａ１２’｜
を計算する。これらの差値は合計され格納される。その
結果の第１の位置はメモリ５２内に格納され、さらに
「最適な整合」位置もメモリ５２内に配置される。
像メモリ２２の基準画像の関連して直交方向にシフトさ
れるか否かを判定するために、反復的なプロセスを以下
に説明する。カウンター４０は基準画像の局所領域３
０’，３２’，３４’の１つを統合ネットワーク５０に
順次指定する。初期状態ではカウンター４２，４４は、
シフトがまだ発生していないことを示す「ゼロ」に設定
される。カウンター４６及び４８は、配列の画素が処理
される統合ネットワーク５０に示すためのポインターと
して使用される。カウンター４０が第１の局所領域３
０’を指定した後に、統合ネットワーク５０は領域３０
の各画素の値を得て、配列３０及び３０’の各画素の値
の差の絶対値を得る。従って、統合ネットワーク５０
は、差値｜Ａ１１−Ａ１１’｜、｜Ａ１２−Ａ１２’｜
を計算する。これらの差値は合計され格納される。その
結果の第１の位置はメモリ５２内に格納され、さらに
「最適な整合」位置もメモリ５２内に配置される。
【００２０】配列３０及び３０’の全ての画素に対する
差が計算され格納される。カウンター４０はインクリメ
ントされ、そして、全てのプロセスは、配列３０及び３
０’と同じ位置に対する計算の差で合計した各画素から
の差と共に、配列３２及び３２’に対して繰り返され
る。言い換えれば、配列３２，３２’の第２の組に対し
て、合計ネットワーク５０は差値｜Ｂ１１−Ｂ１１’｜
を得て、この差値が差値｜Ａ１１−Ａ１１’｜に加えら
れる。同じプロセスが、カウンター４６及び４６’の方
向のもとで、配列３２，３２’の他の画素の各々に対し
て繰り返される。最終的に、同じプロセスが配列３４，
３４’の第３の組に対して再び繰り返される。
差が計算され格納される。カウンター４０はインクリメ
ントされ、そして、全てのプロセスは、配列３０及び３
０’と同じ位置に対する計算の差で合計した各画素から
の差と共に、配列３２及び３２’に対して繰り返され
る。言い換えれば、配列３２，３２’の第２の組に対し
て、合計ネットワーク５０は差値｜Ｂ１１−Ｂ１１’｜
を得て、この差値が差値｜Ａ１１−Ａ１１’｜に加えら
れる。同じプロセスが、カウンター４６及び４６’の方
向のもとで、配列３２，３２’の他の画素の各々に対し
て繰り返される。最終的に、同じプロセスが配列３４，
３４’の第３の組に対して再び繰り返される。
【００２１】一度、計算が完了すると、カウンター４２
は、基準配列３０’３２’，３４’が１画素だけＸ軸に
沿ってオフセットされることを示すために１つだけイン
クリメントされる。統合ネットワーク５０は再び上述の
プロセスを実行するが、この時の基準画像の画素はオフ
セットされ、例えば、｜Ａ１２−Ａ１１’｜が計算さ
れ、３組の配列の全ての計算が完了するまで、一時的に
格納される。
は、基準配列３０’３２’，３４’が１画素だけＸ軸に
沿ってオフセットされることを示すために１つだけイン
クリメントされる。統合ネットワーク５０は再び上述の
プロセスを実行するが、この時の基準画像の画素はオフ
セットされ、例えば、｜Ａ１２−Ａ１１’｜が計算さ
れ、３組の配列の全ての計算が完了するまで、一時的に
格納される。
【００２２】比較器５４は結果的な値とシフトしない時
の値を比較する。この値はメモリ５２の結果的に得る配
列の第２の位置に置かれる。もし新しい結果が所定の基
準になるときは（即ち、それらは古い結果に等しいか小
さい）、メモリ５２内の最適な整合位置の古い値は新た
な値に置換えられる。結果が置き換えられると、カウン
ター４２，４４で示されるＸ及びＹ方向のシフトはメモ
リ５２に格納される。そして、配列３０’，３２’，３
４’は再びシフトされ、全体のプロセスは繰り返され
る。３つの配列３０’，３２’，３４は所定の回数、元
の位置の左右にシフトされる。従って、配列は予め選択
された回数だけ上下にシフトされる。
の値を比較する。この値はメモリ５２の結果的に得る配
列の第２の位置に置かれる。もし新しい結果が所定の基
準になるときは（即ち、それらは古い結果に等しいか小
さい）、メモリ５２内の最適な整合位置の古い値は新た
な値に置換えられる。結果が置き換えられると、カウン
ター４２，４４で示されるＸ及びＹ方向のシフトはメモ
リ５２に格納される。そして、配列３０’，３２’，３
４’は再びシフトされ、全体のプロセスは繰り返され
る。３つの配列３０’，３２’，３４は所定の回数、元
の位置の左右にシフトされる。従って、配列は予め選択
された回数だけ上下にシフトされる。
【００２３】全てのシフト及び計算が完了すると、メモ
リ５２は、直交シフトによる値及びこの結果で得られる
Ｘ及びＹ方向のシフトの最適な整合値及び量を示してい
る結果的に得る配列を格納する。この情報はシフト選択
器５６に提供され、このシフト選択器５６は基準画像か
らの画像２８の直交オフセットを示す対応Ｘ及びＹシフ
トを発生する。メモリ５２における合計の結果の配列は
定量的な測定として使用され、この測定値はプロセスに
おける信頼率のレベルを判定するために使用される。
リ５２は、直交シフトによる値及びこの結果で得られる
Ｘ及びＹ方向のシフトの最適な整合値及び量を示してい
る結果的に得る配列を格納する。この情報はシフト選択
器５６に提供され、このシフト選択器５６は基準画像か
らの画像２８の直交オフセットを示す対応Ｘ及びＹシフ
トを発生する。メモリ５２における合計の結果の配列は
定量的な測定として使用され、この測定値はプロセスに
おける信頼率のレベルを判定するために使用される。
【００２４】上述の実施例では、３つの局所領域が説明
のために使用された。しかし、これ以上の数の局所領域
で可能なことは明白である。さらに、画像と基準配列を
比較するための他の基準が可能なことも明白である。
のために使用された。しかし、これ以上の数の局所領域
で可能なことは明白である。さらに、画像と基準配列を
比較するための他の基準が可能なことも明白である。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
基準画像に関連して試験画像の過誤登録を検出し、さら
にいくつかの過誤整列の検出処理に容易に適応可能な画
像処理装置及び方法を提供することにある。
基準画像に関連して試験画像の過誤登録を検出し、さら
にいくつかの過誤整列の検出処理に容易に適応可能な画
像処理装置及び方法を提供することにある。
【図１】本発明による画像処理装置の画像獲得部のブロ
ック図である。
ック図である。
【図２】図１の装置により走査される対象物を示す。
【図３】本発明による基準領域及び局所領域の説明図で
ある。
ある。
【図４】図１の装置の画像プロセッサを構成要素をブロ
ック図である。
ック図である。
１２…スキャナー １４…シート １６…スキャナー １８…画像獲得部 ２０…メモリ ２２…基準画像メモリ ２４…画像処理部 ２６…紙幣 ２８…実画像 ３０’，３２’，３４’…基準画像領域 ４０〜４８…カウンター ５０…統合ネットワーク ５２…メモリ ５４…比較器 ５６…シフト選択器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 デニス マクギー アメリカ合衆国，カリフォルニア 94028, ポルトラ バレー，ミモザ ウェイ 150 (72)発明者 エドワード パノフスキ アメリカ合衆国，カリフォルニア 94062 −9718，ウッドサイド，スター ルート 159ビー
Claims (7)
- 【請求項１】 画像処理装置であって、 数個の空間的に分離された局所領域を持つ画像における
対応データを獲得する画像獲得手段と、 基準情報を格納する記憶手段と、 前記局所領域及び基準情報からの情報を集める統合手段
と、 前記画像が正常な位置からシフトされたか否かを判定す
るために集められた情報を解析する解析手段と、 を備えることを特徴とする画像処理装置。 - 【請求項２】 前記局所領域及び基準情報からの情報は
二次元的に配列された画素である請求項１に記載の装
置。 - 【請求項３】 前記局所領域からの情報を２つの直交方
向の１つに選択的にシフトするシフト手段をさらに備え
る請求項２に記載の装置。 - 【請求項４】 画像処理装置であって、 サンプルの複数局所領域からのデータを獲得する画像獲
得手段であって、前記データは画素を対応するサンプル
配列に仕切ったものと、 画素を数個の基準配列で格納する記憶手段と、 前記サンプルと前記基準配列を比較する比較手段と、 比較結果を集める統合手段と、 前記サンプルと前記基準配列の間のシフト量を判定する
解析手段と、 を備えることを特徴とする画像処理装置。 - 【請求項５】 所定の方向に前記基準配列と前記サンプ
ル配列の１つをシフトするシフト手段をさらに含む請求
項４に記載の装置。 - 【請求項６】 正常な位置からのサンプルの直線的なシ
フトを判定する画像処理方法であって、 各配列が前記サンプルの局所領域に対応し、画素の数個
のサンプル配列に配置された画像データを獲得し、 前記サンプル配列と対応する基準配列を比較し、 前記サンプル配列と基準配列の差に対応する差配列を格
納し、 前記サンプル配列をシフトし、 シフトされたサンプル配列と前記基準配列との差と格納
され差を比較する、ことを特徴とする画像処理方法。 - 【請求項７】 前記サンプル配列及び基準配列は画素毎
に解析される請求項６に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US92677092A | 1992-08-06 | 1992-08-06 | |
| US926770 | 1992-08-06 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06208618A true JPH06208618A (ja) | 1994-07-26 |
Family
ID=25453697
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5183916A Pending JPH06208618A (ja) | 1992-08-06 | 1993-07-26 | 画像処理装置及び処理方法 |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5592573A (ja) |
| EP (1) | EP0582548B2 (ja) |
| JP (1) | JPH06208618A (ja) |
| KR (1) | KR100271389B1 (ja) |
| CN (1) | CN1044057C (ja) |
| AT (1) | ATE176839T1 (ja) |
| AU (1) | AU666390B2 (ja) |
| CA (1) | CA2100324C (ja) |
| DE (1) | DE69323512T3 (ja) |
| RU (1) | RU2138851C1 (ja) |
Families Citing this family (35)
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| US6370271B2 (en) | 1999-04-30 | 2002-04-09 | Seiko Epson Corporation | Image processing apparatus and methods for pattern recognition |
| US6496716B1 (en) | 2000-02-11 | 2002-12-17 | Anatoly Langer | Method and apparatus for stabilization of angiography images |
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| EP1589495A1 (en) | 2004-04-22 | 2005-10-26 | Kba-Giori S.A. | Inspection machine and process |
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| JP5536990B2 (ja) | 2008-05-27 | 2014-07-02 | キヤノン株式会社 | 画像形成装置 |
| JP5252995B2 (ja) | 2008-05-27 | 2013-07-31 | キヤノン株式会社 | 画像形成装置 |
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| JPWO2022004003A1 (ja) * | 2020-06-29 | 2022-01-06 |
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-
1993
- 1993-07-12 CA CA002100324A patent/CA2100324C/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-07-26 EP EP93810534A patent/EP0582548B2/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-07-26 DE DE69323512T patent/DE69323512T3/de not_active Expired - Lifetime
- 1993-07-26 JP JP5183916A patent/JPH06208618A/ja active Pending
- 1993-07-26 AT AT93810534T patent/ATE176839T1/de not_active IP Right Cessation
- 1993-07-27 AU AU44215/93A patent/AU666390B2/en not_active Ceased
- 1993-07-31 KR KR1019930014806A patent/KR100271389B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 1993-08-05 CN CN93109651A patent/CN1044057C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1993-08-05 RU RU93048463A patent/RU2138851C1/ru not_active IP Right Cessation
-
1994
- 1994-10-11 US US08/320,570 patent/US5592573A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69323512T2 (de) | 1999-09-02 |
| RU2138851C1 (ru) | 1999-09-27 |
| KR100271389B1 (ko) | 2000-11-15 |
| ATE176839T1 (de) | 1999-03-15 |
| DE69323512D1 (de) | 1999-03-25 |
| EP0582548B2 (en) | 2002-11-27 |
| US5592573A (en) | 1997-01-07 |
| CA2100324A1 (en) | 1994-02-07 |
| DE69323512T3 (de) | 2003-10-30 |
| AU666390B2 (en) | 1996-02-08 |
| EP0582548B1 (en) | 1999-02-17 |
| KR940005148A (ko) | 1994-03-16 |
| CN1083646A (zh) | 1994-03-09 |
| EP0582548A1 (en) | 1994-02-09 |
| CN1044057C (zh) | 1999-07-07 |
| CA2100324C (en) | 2004-09-28 |
| AU4421593A (en) | 1994-02-10 |
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