JPH06208986A - 半導体ウエーハ用遠心スピン乾燥器 - Google Patents

半導体ウエーハ用遠心スピン乾燥器

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JPH06208986A
JPH06208986A JP2403236A JP40323690A JPH06208986A JP H06208986 A JPH06208986 A JP H06208986A JP 2403236 A JP2403236 A JP 2403236A JP 40323690 A JP40323690 A JP 40323690A JP H06208986 A JPH06208986 A JP H06208986A
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carrier
rpm
semiconductor wafer
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/04Apparatus for manufacture or treatment
    • H10P72/0402Apparatus for fluid treatment
    • H10P72/0406Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
    • H10P72/0408Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for drying
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F26DRYING
    • F26BDRYING SOLID MATERIALS OR OBJECTS BY REMOVING LIQUID THEREFROM
    • F26B5/00Drying solid materials or objects by processes not involving the application of heat
    • F26B5/08Drying solid materials or objects by processes not involving the application of heat by centrifugal treatment

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  • Drying Of Solid Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】遠心力によって半導体ウェーハをスピン乾燥す
る。 【構成】遠心力によって半導体ウェーハ26をスピン乾
燥するための装置であり、この装置は、ウェーハがリン
スされている間ウェーハを選択された軸の回りにスピン
し、次いで、軸の回りを取り囲む通路に沿って軸から離
してウェーハを置き換えて、ウェーハを乾燥する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体ウエーハの表面か
ら流体を遠心力により取り除くための装置に関する。特
に、本発明はウエーハ表面から流体を遠心力のよって引
き離すためにウエーハを回転する間円形状半導体ウエー
ハの両面を同時にリンスする(濯ぐ)装置及びウエーハ
がリンスされた後ウエーハを新たな位置に移動してウエ
ーハに作用する遠心力の強度を増大してウエーハを乾燥
する装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体を乾燥するために回転、スピン装
置を利用することが当該技術分野で知られている。例え
ば、Aigoの米国特許第4,489,501 号、Inamura の米国特
許第4,677,759 号及びAigoの米国特許第4,525,938 号を
参照せよ。これら公知の従来装置は各自の価値を有して
いるが、欠点も有している。第1に、従来の技術は、ウ
エーハが流体でリンスされる時比較的低いRPM で回転さ
れ、次いで4,000 から10,000RPMの範囲の高RPMで
回転され、ウエーハから微粒子が取り除かれる。第2
に、ウエーハを半導体スピン乾燥装置の中心に設置し
て、ウエーハを軸の回りに回転させるので、ウエーハの
中心からは微粒子が取り除かれない。第3に、通常の半
導体スピン乾燥装置は、ウエーハのリンス及び乾燥の両
方の際に低RPMでウエーハを回転するのに適していな
い。ウエーハを高RPMで回転すると、ウエーハを回転
するのに使用されるモータの駆動がより複雑になる。
【0003】従って、ウエーハが中心を軸と合わされて
この軸の回りを回転する間に半導体ウエーハの表面をリ
ンスし、ウエーハのリンスが完了した後比較的低RPM
でウエーハを回転しながらウエーハの中心を含むウエー
ハの全表面を乾燥する改良された半導体ウエーハスピン
乾燥装置を提供することが高く望まれている。従って、
本発明の主要な目的は、遠心力で半導体ウエーハの表面
から流体を取り除く改良された装置を提供することにあ
る。
【0004】本発明の別の目的は、ウエーハの上面及び
下面の両方を同時にリンスする間、半導体ウエーハに作
用する遠心力を発生する改良された半導体スピン乾燥装
置を提供することにある。本発明の他の目的は、半導体
ウエーハのリンスが完了した後ウエーハの回転の通路を
変更してウエーハ上に作用する遠心力の強度を増大し
て、ウエーハを効率的に乾燥するために必要とされるR
PMを減少する上述された形態の改良された半導体ウエ
ーハスピン乾燥器を提供することにある。
【0005】本発明の更に別の目的は、半導体ウエーハ
の上面及び下面が、ウエーハが回転している間に、固設
されたノズルによってリンスされることを可能とする。
本発明の更に他の目的は、ウエーハの中心が合わせられ
る軸の回りに円形半導体ウエーハをスピンし、次に軸か
ら離れ、伝達の周囲通路内の軸の回りでウエーハを回転
し、ウエーハに働く遠心力を増大する改良された半導体
ウエーハスピン乾燥器を提供することにある。
【0006】本発明の更に別の目的は以下の記述から当
業者に明らかとなるであろう。
【0007】
【発明の要約】要約すると、本発明によると、改良され
た半導体ウエーハスピン乾燥器が提供される。ウエーハ
が上面及び下面を有し、この改良された装置は遠心力に
よってウエーハを乾燥するが、第1RPM及び第1RP
Mより大きい第2RPMを含む可変RPMで第1の選択
された軸の回りを回転可能な基盤、この軸から離れ、基
盤と接続され且つ外方へ延びる制御アーム手段、基盤か
ら離されウエーハの下面が基盤と面する様に半導体基盤
を支持するキャリアー、及び半導体ウエーハキャリアー
を制御アーム手段とピボット運動可能に結合し第1の選
択された軸とは異なる第2の選択された軸の回りにキャ
リアーをピボット運動する手段からなる。この半導体ウ
エーハキャリアーは少なくとも2つの作動位置、即ち基
盤から離れたキャリアー内に前記制御アーム手段に関し
て第1の向きにウエーハを有する第1の作動位置、及び
第1の選択された軸から離れた第2の軸の回りで遠心力
によっでピボット運動されて前記制御アーム手段に関し
て第2の向きに向くウエーハを有する第2の作動位置と
の間を移動する。半導体ウエーハキャリアー及び半導体
ウエーハから成る対の少なくとも一方を加重して、基盤
が第1のRPMで回転した時、半導体ウエーハキャリア
ーが基盤と共に第1のRPMで回転する第1の作動位置
にあり、基盤が第2のRPMで回転する時、半導体ウエ
ーハキャリアーが基盤と共に第2のRPMで回転する第
2の作動位置にあるようにする。本発明の装置は、ウエ
ーハが基盤と共に回転する第1の作動位置にある時ウエ
ーハの下面に対して流体を吹きつけるためのノズル手段
を含む。スプレイノズル手段は基盤に取り付けられ基盤
と共に回転する。これとは別に、スプレイノズルは、ノ
ズル手段が分離され基盤から離される様に基盤内に形成
された開口を通して上方に伸ばすことができる。基盤は
ノズルの回りに回転する。
【0008】本発明の別の態様においては、別の改良さ
れた半導体ウエーハスピン乾燥器が提供される。ウエー
ハは上面及び下面を有する。この改良された装置は遠心
力によりウエーハを乾燥し、第1のRPM及び第1のR
PMより大きい第2のRPMを含む可変RPMで第1の
選択された軸の回りで回転可能な基盤、軸から離れ、基
盤に接続され外方に延びる制御アーム手段、基盤から離
れ半導体ウエーハを支持するキャリアー、及び半導体ウ
エーハキャリアーを制御アーム手段にピボット運動可能
に接続し、キャリアーを第1の選択された軸とは異なる
第2の軸の回りにキャリアーをピボット運動する手段か
ら構成される。半導体ウエーハキャリアーを少なくとも
2つの作動位置、即ち基盤から離れたキャリアー内で前
記制御アーム手段に対して第1の向きを有するウエーハ
を有する第1の作動位置、及び遠心力によって第2の軸
の回りにピボット運動して前記制御アーム手段に対して
第2の向きを有するウエーハを有する第2の作動位置と
の間で移動する。半導体ウエーハキャリアー及び半導体
ウエーハキャリアーの対の少なくとも一つが加重され、
基盤が第1のRPMで回転される時半導体ウエーハキャ
リアーが、基盤と共に第1のRPMで回転する第1の作
動位置にあり、基盤が第2のRPMで回転する時ウエー
ハキャリアーが、基盤と共に第2のRPMで回転する第
2の作動位置にあるようにする。
【0009】本発明の更に別の態様においては、更に別
の改良された半導体ウエーハスピン乾燥器が提供され
る。このウエーハは上面と下面とを有する。この改良さ
れた装置はウエーハを遠心力によって乾燥し、第1のR
PM及び第1のRPMより大きい第2のRPMを含む可
変RPMで第1の選択された軸の回りで回転可能な基
盤、前記軸から離れ基盤に接続され外方に延びる制御ア
ーム手段、半導体ウエーハをウエーハの下面が基盤に向
く様に支持するための基盤から離れたキャリアー、半導
体ウエーハが制御アーム手段にピボット可能に接続して
キャリアーを第1の選択された軸とは異なる第2の選択
された軸の回りでピボット運動する手段、及び第1の軸
の回りに形成され基盤を通して延びる開口から成ること
を特徴とする。半導体ウエーハキャリアーは少なくとも
2つの作動位置、即ち前記開口に渡って基盤から離れた
キャリアー内に、第1の選択された軸と交差し且つ中心
を一致し、前記制御アーム手段に関して第1の向きのウ
エーハを有する第1の作動位置、及び第1の選択された
軸から離れ第2の軸の回りを遠心力によってピボット運
動される前記制御アーム手段に対して第2の向きにある
ウエーハを有する第2の作動位置の間で半導体ウエーハ
を移動する。半導体ウエーハキャリアー及び半導体ウエ
ーハの対の少なくとも一つが加重され、基盤が第1のR
PMで回転された時半導体ウエーハキャリアーが基盤と
共に第1のRPMで回転する第1の作動位置にあり、基
盤が第2のRPMで回転した時半導体ウエーハキャリア
ーが基盤共に第2のRPMで回転する第2の作動位置に
あるようにする。この装置はウエーハが基盤と共に回転
する第1の作動的位置になる時ウエーハの下面に対して
流体をスプレイする前記開口に沿って延びるノズル手段
を含む。
【0010】
【実施例】図面を参照する。図面は本発明を実施を説明
するためのための好適な実施例を示しており、本発明の
範囲を限定するものではない。複数の図面に渡って対応
する要素には同じ参照番号が付されている。図1は本発
明に従って構成された半導体ウエーハスピン乾燥器を図
示しており、垂直軸12の回りを回転可能な基盤11を
有している。基盤11はカウンターウエイト13及び基
盤11の下部位置70に取り付けられたプーリー14を
含む。連続ベルト15はフライホイール14及びホイー
ル16の回りに延びる。軸17はホイール16を支え
る。モータ18は軸17とホイール16を回転する起動
力を与え、ベルト15を移動してフライホイール14と
基盤11とを回転する。制御アーム手段19が基盤11
に接続され、かつ外方に延びている。半導体キャリアー
20がロッド21に接続されている。ロッド21は、制
御アーム手段19によって搬送される円筒ブッシュ22
及び23内の取り付けロッド21によって制御アーム手
段19にヒボット運動可能に接続される。キャリアー2
0はロッド21の上端に固定して取りつけられた円状の
パネル部材24を含む。分離された複数のウエーハ保持
足25は部材24の上面に取り付けられる。足25A、
25Bは図1及び図6Aから図6Cに図示される様に円
状ウエーハ26を支持し、ウエーハ26の下面27がウ
エーハ下に位置する基盤部分に面し、ウエーハ26の上
面28がウエーハ26の下に位置する基盤11の部分か
ら離れて向いている様にする。
【0011】基盤11は固定された支持部材30の回り
を回転する。部材30の回りを回転する時、基盤11は
基盤11及び部材30の中間に位置するホイールベアリ
ング31、32上に位置する。開口又は空洞33が部材
30を通して形成されている。スプレイアーム34は開
口33を通して上方に延びる。アーム34の上端に取り
付けられたノズル35はウエーハ26の下面27に流体
36の流れを向ける。スプレイアーム34は中空であ
り、流体をノズル35に運ぶ。中空アーム34内へ圧力
により流体を向ける手段は明瞭のために図1から省略さ
れている。如何なるポンプ−導管の組み合わせ又は他の
手段が流体をアーム34及び出力ノズル35に向けるの
に使用することができることは当分野でよく知られてい
る。アーム34は空洞33の壁にピボット運動可能に取
り付けられている。駆動力手段即ちアクチュエータ40
は矢印A及びBの方向でクレビス39を移動する。クレ
ビス39は図1内で矢印Aの方向に移動される時、アー
ム34が位置37及び38の回りをピボット運動する。
38はノズル35を矢印Cの方向に一点破線41によっ
て示される位置まで移動させる。一点破線42によって
示される位置から矢印Bの方向へクレビスを移動する
と、ノズルヘッド35が図1に示される元の位置に戻
る。フレキシブルなリブ状スリーブ43は開口33及び
アーム34の上方部分をカバーして水又は他の流体が開
口に流れることを防ぐ。支持部材30はテーブル、フロ
アー又は他の好適な構造に頑強に固定される。流体は管
82を通してウエーハ26の底面27に対して下方部材
30から上方に向かうことができる。
【0012】図3及び図4に示されるように、足25A
はパネル部材24の上面の回りで足25Bと交替する。
各足25Bには、ウエハー26がキャリアー20(図6
A)にある時ウエーハ26の周辺エッジ26Eに接触す
る外面81を有するチップが設けられている。各足25
Aはウエーハ26から離れて下方に傾斜する表面80を
含み、表面80の上部おいて、ウエーハ26(図6B及
び図6C)の周辺エッジ26Eの下方に接触する。結果
として、足25Bはウエーハ26の横方向移動を防ぎ、
足25Aがウエーハ26が部材24通して又はこれに対
して下方に落ちることを防止している。足25A及び2
5Bを交互に設ける構成の使用により、ウエーハ26及
び足25A、25Bの間に保持またはトラップされる水
又は別の流体の数を最小にする。
【0013】中空支持アーム44はクレビス45に固定
される。クレビス45はアーム51にピボット運動可能
に接続され、固定支持構造(図示せず)にピボット運動
可能に接続される。アーム44の末端にはノズル46が
取り付けられ、流体が供給れる。ノズル46からの流体
47はウエーハ26の上面28に向けられる。駆動力手
段48はロッド51を矢印D及びEの方向で移動する。
ロッド51が矢印Eの方向に移動される時、ノズル46
は矢印Fの方向に一点破線49で示される位置に移動さ
れる。ノズル35、46は高圧力(4,000から5,000psi)
又は所望の圧力下で流体を輸送することができる。
【0014】ウエーハ26が図1に示されている。これ
は円形であり、平面の平行な対向する上面28及び下面
27を有している。ウエーハ26及び表面27及び28
は所望の形態、輪郭及び大きさを有することができる。
ロッド21の下方端53は基盤11内に形成された略半
円筒状開口54内に延びている。フィン57は端部53
に取り付けられ、これから外方に伸びている。キャリア
ー20が図1に図示される第1の作動位置にある時、フ
ィン57は壁55にもたれかかる。第1の作動位置にお
いて、キャリアー20は制御アーム手段19及び基盤1
1に対して第1の向きにある。キャリアー20及び円状
ウエーハ26は、開口33と共に垂直軸12と中心を合
わされる。基盤11が軸12の回りを、選択された毎分
回転数(RPM)より小さいRPMでエンドレスベルト
15によって回転される時、キャリアー20及びウエー
ハ26は軸12と中心を合わせられ続ける必要がある。
基盤11のRPMが前記選択されたRPMより増大する
時、遠心力がキャリアー20及び/又はウエーハ26に
働き、キャリアー20及びロッド21が、キャリアー2
0が図1の一点鎖線によって示される位置を取るまで、
矢印Gによって示される如く外方に回転する。キャリア
ー20が一点破線58によって示される第2の作動点に
ある場合、キャリアー20は制御アーム手段19に対し
て第2の向きを有しており、フィン57は図1及び図5
の一点破線によって示された壁56に当たる位置まで回
転される。記述される様に、キャリアー20及び/又は
ウエーハ26の加重のバランスを崩すことが、基盤11
のRPMが選択された数を越えて増大される時一点鎖線
によって示される位置までキャリアー20の回転を達成
するのに使用される。
【0015】図5に示される様に、壁56は矢印Hで示
される様に平坦な平面壁55に対して或る角度を有す
る。壁56はキャリアー20が矢印Gの方向に図1に示
される第1の作動位置から180度完全に回転するのを
防止する。キャリアー20が180度未満の角度矢印G
方向に回転することを可能にすることが好ましいが、こ
れはキャリアー20が、基盤11のRPMが十分に下げ
られてキャリアー29で発生される遠心力が最早キャリ
アー20を図1の一点破線によって示される位置に維持
しない様にした後、図1の休止位置に回転することを可
能とすることによる。
【0016】図1において、ウエーハ26及び円状パネ
ル部材24は軸12に垂直である。軸12は軸60と平
行である。軸60とロッド21の長さ軸間の角度は、キ
ャリアー20が図1の一点破線によって示される第2の
作動位置に遠心力によって回転される時の水平軸62と
キャリアー20との間角度62に等しい。軸63が軸1
2と直角である。ロッド21の長さ軸の傾斜が、遠心力
によって第1の作動位置から一点鎖線58によって示さ
れる第2の作動位置へキャリアー20が回転した時にキ
ャリアー20を傾斜する。キャリアー20のこの様な傾
斜はまた、基盤11のRPMが選択された数又は値以下
になった後、軸12に中心を有する第1の作動位置へキ
ャリアー20を回転し、ウエーハ26ち作用してこれを
足25Aの面80に押す下方向きの力ベクトルを発生す
る。
【0017】弾性材料を表面55及び56上に設置する
ことができ、これら表面に対するフィン57の接触をソ
フトにすることができる。また、ロッド21と組み合わ
せて利用できるスプリングローディング又は種々の手段
が、矢印Gの方向又は矢印Gの反対方向にロッド21が
回転する間、表面55及び56に対するフィン57の衝
撃を和らげることができる。
【0018】図2から図4において、尾分64がキャリ
アー20に接続されこれから外方に延びている。尾部6
4はキャリアー20に対するカウンターバランスとして
機能するが、これは明瞭化のために図1からは削除され
ている。本発明の装置の動作が更に図2から図4に示さ
れている。ノズル35及び46、駆動力手段40及び4
8、アーム34及び44、クレビス45、クレビス3
9、及びロッド51は、明瞭化のために図2から図4に
おいて削除されている。同様に図2から図4においては
ウエーハ26が設置されており、足25によって保持さ
れるが、この様なウエーハは明瞭化のために図2から図
4から削除されている。
【0019】図3はキャリアー20をその第1の作動位
置で示している。図3において、軸12に中心を有し且
つ垂直な(足25によって保持されるウエーハ26とす
ることができる)円状部材24の輪郭が描かれる。キャ
リアー20は、基盤11が静止するか、選択されたRP
Mよりも少ないRPMでで回転する時に、軸12及び制
御アーム手段19に関して第1の作動位置を専有する。
重り65が一対の足25の中間に隣接して設置される。
別の重り65がキャリアー20のバランスを崩す。重り
65が除去される場合、図3中の平行軸66の右手側の
(尾部64を含む)キャリアー20の部分は図3内の水
平軸の左手側のキャリアー20部分に対して対称であ
り、重量が等しい。
【0020】重り65の目的は、選択された強度を有
し、キャリアー20上に働く遠心力を発生するために、
基盤11のRPMが選択された数値より大きい数値まで
増大した後、図2に矢印Gで示される方向にキャリアー
20に及んでこれを移動するトルク又は回転力を発生す
ることにある。重り65は位置89に隣接する箇所のキ
ャリアー20内のウエーハ26上に設置することもでき
る。キャリアー20が図3内の矢印Gによって示される
方向で第1の作動位置から回転する時、ロッド21(図
1)は同時にキャリアー20と共に矢印G方向に回転す
る。キャリアー21に働く遠心力が矢印G方向にキャリ
アー20を移動するのに十分な時、キャリアー20は、
フィン57が平坦面56に接触するまで軸12から離れ
て外方に回転し続ける(図1及び図5)。フィン57が
平坦面56に接触する時、遠心力によるキャリアー20
の回転が一時停止され、キャリアー20は軸12及び制
御アーム手段19に対する第2の作動位置に位置する。
図4はキャリアー20の第2の作動位置を図示してい
る。図4において、キャリアー20は軸12から離れて
外方に回転することを完了し、フィン57は平坦面56
に接触してこれにもたれかかる。図3及び図4におい
て、基盤11の回転の方向は矢印11で示されるが、基
盤11は矢印Iの方向に回転し、キャリアー20はその
第2の作動位置を維持し、基盤11のRPMが選択され
た数を越える限り、制御アーム手段19及び軸12に対
して第2の方向を維持する。第1の作動位置から第2の
作動位置へキャリアー20を回転するのに十分な遠心力
を発生するのに必要なRPMの数は、重り65の質量及
び位置、部材24の形状、ウエーハ26の形状、ロッド
21に働く摩擦力、ロッド21の質量等を含むファクタ
ーに依存する。これらのファクターは必要に応じて変化
することができる。基盤11のRPMが選択された数以
下に落ちる時、キャリアー20はその第2の位置から第
1の作動位置に移動する。
【0021】図4に示す様に、図3の第1の作動位置か
ら図2の第2の作動位置へのキャリアー20の回転の弧
は、基盤11が、選択されたRPMより大きいRPMで
矢印Iの方向で回転し続け、キャリアー20に作用する
遠心力が基盤11、手段19及び軸12に関して図4に
示される第2の向きでキャリアーを維持するのに十分な
限り180度引く矢印Jによって示された角度に等し
い。基盤11のRPMが選択された数以下に下がると、
キャリアー20に働く中心力は図4の位置にキャリアー
を維持するのにもはや十分で無くなりキャリアー20は
矢印Kでしめされた方向で回転即ちピボット運動し、基
盤11及び軸12に関して第1の向きに戻る。
【0022】図1において、基盤11と軸12の回りを
回転し、ウエーハ26及びキャリアー20は、キャリア
ー20が第1の作動位置にある時に、軸12に対して垂
直になる。当業者に明らかな様に、本発明の装置は、キ
ャリー20が第1の作動位置にある時、ウエーハ26は
軸12に垂直で無くなる様にすることができる。。例え
ば、ウエーハ26は図2の軸12Aに垂直となることが
できる。キャリアー20が、基盤11のPRMが選択さ
れた数値より小さい時移動の第1の通路内の軸の回りを
移動しスピンし、キャリアー20は、基盤11のRPM
が選択された数より大きい時遠心力により外方の第2の
作動位置及び移動の第2の通路に移動することのみが必
要となる。キャリアー20が第1の作動位置ある時、基
盤11が回転する間は円状のウエーハ26の中心点が軸
12に常に一致する必要はない。キャリアー20及びウ
エーハ26は両方共軸12から離されることができ、キ
ャリアー20が第1の作動位置にあり且つ基盤11が回
転している時、円状ウエーハ26の中心点が、基盤11
の回転の軸12から離れ且つこれを囲む移動路に沿う様
にすることができる。キャリアー20が軸12からずれ
る時、円状ウエーハ26の中心点が、キャリアー20が
第1又は第2の作動位置の何れかにある時軸12の回り
に通路を描く。ノズル35は基盤11上を搬送されるこ
とができる。ノズル35、46は、基盤11が静止して
いる時ウエーハ26をリンスすることができる。
【0023】円状部材24上の足25はウエーハ26を
支持し、ウエーハ26の横方向移動を防止する。図1に
おいて、ウエーハ26は、しかしながら、足25から離
れて上方に上げられる。結果として、ノズル35及び4
6が利用されて、流体がウエーハ26の底27及び頂部
28面に向けられる。流れ36及び47は同じ時間にウ
エーハ26に接触するか、ストリーム47が先ずウエー
ハに接触してストリームが足25から離れて上方にウエ
ーハ26を押し上げる傾向を防止する。ストリーム47
によるウエーハ26への力は、ストリーム36によって
発生された力よりも大きいか等しく無ければならない。
スプレイの流れ36及び47は典型的には扇形形状をし
ており、如何なる形状にもすることができる。
【0024】初めに記述した様に、キャリアー20又は
ウエーハ26のバランスが取れなくなると、第1の作動
位置から第2の作動位置へ外方へキャリアー20を回転
するトルクの発生を可能にする。この様にバランスを逸
することは、バランスが取れた対称なキャリアー20又
はウエーハ26に重りを付加することにより、又キャリ
アー20又はウエーハ26を始めからバランスを逸した
状態で形成し、基盤11のRPMが選択された数を越え
る時バランスを逸したキャリアー20又はウエーハ26
上に働く遠心力が、キャリアー20を第1の作動位置か
ら第2の作動位置へ回転するに十分なトルクを発生する
様にすることにより達成することができる。ロッド21
に補助的な重り即ち質量を十分に加えることにより、こ
の重りに遠心力が加わる時、重りにトルクが発生され、
ロッド21が回転され、キャリアー20が第1の作動位
置から第2の作動位置へ移動されるが、これはキャリア
ー20のバランスを崩すことにより達成すると考えられ
る。キャリアー20が第1の作動位置にある時、必要と
言うわけではないが、補助的な重りをロッド21から略
軸12の片側に向かって伸ばすことができる。図1にお
いて、軸12は円状ウエーハ26の中心点を通過してい
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理に従って構成された半導体ウエー
ハスピン乾燥器を図示する部分断面図。
【図2】図1の半導体スピン乾燥器の主要な部品を図示
する斜視図。
【図3】図2の上面図であり、その動作のモードを図示
している。
【図4】図2の装置の上面図であり、本発明の半導体ス
ピン乾燥器の別の作動のモードを図示している。
【図5】図1の装置の部分断面図であり、更に構造を詳
細に示している。
【図6】図1から図4の装置内の半導体ウエーハを固定
するのに使用する保持足を示している。
【符号の説明】
11 基盤 12 軸 13 カウンターウエイト 19 制御アーム手段 20 半導体ウエーハキャリアー 21 ロッド 25 ウエハ保持足 26 ウエーハ 34 スプレイアーム 35 ノズル 44 アーム 45 ノズル

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】上面及び下面を有する半導体ウエーハを遠
    心力により乾燥するスピン乾燥器において、この乾燥器
    が、(a)第1RPM及び第1RPMより大きい第2R
    PMを含む可変RPMで第1の選択された軸の回りに回
    転可能な基盤、(b)前記軸から離され、前記基盤に結
    合され且つこれから外方に延びる制御アーム手段、
    (c)前記半導体ウエーハを、前記下面を前記基盤に向
    けて支持するための前記基盤から離れたキャリアー、
    (d)前記半導体ウエーハをキャリアーを前記制御アー
    ム手段に回転可能に接続し、前記キャリアーを前記第1
    の選択された軸とは異なる第2の選択された軸の回りに
    回転させる手段からなり、前記半導体ウエーハキャリア
    ーは少なくとも2つの以下の作動位置、(e)前記基盤
    から離れた前記キャリアー内で、前記制御アーム手段に
    関して第1の向きに前記ウエーハを有する第1の作動位
    置、及び(f)前記第1の選択された軸から離れた前記
    第2の軸の回りを遠心力でピボット運動され前記制御ア
    ーム手段に関して第2の向きに向くウエーハを有する第
    2の作動位置の間を移動し、(g)前記半導体ウエーハ
    キャリアー、及び(h)前記半導体ウエーハから成る対
    の内の少なくとも一つが、重み付けされ、前記基盤が、
    (i)前記第1RPMで回転する時、前記半導体ウエー
    ハキャリアーが前記基盤とともに第1RPMで回転する
    前記第1の作動位置にあり、且つ(j)前記第2RPM
    で回転する時、前記半導体ウエーハキャリアーが前記基
    盤とともに第2RPMで回転する前記第2の作動位置に
    ある様にし、(k)前記ウエーハが前記基盤とともに前
    記第2のRPMで回転する前記第1の作動位置ある時前
    記ウエーハの前記下面に対して流体流を吹きつけるノズ
    ル手段を更に有することを特徴とする半導体ウエーハ用
    遠心スピン乾燥器。
JP2403236A 1989-12-18 1990-12-18 半導体ウエーハ用遠心スピン乾燥器 Pending JPH06208986A (ja)

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US4989345A (en) 1991-02-05
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