JPH06209290A - 光サブシステム - Google Patents
光サブシステムInfo
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- JPH06209290A JPH06209290A JP5196683A JP19668393A JPH06209290A JP H06209290 A JPH06209290 A JP H06209290A JP 5196683 A JP5196683 A JP 5196683A JP 19668393 A JP19668393 A JP 19668393A JP H06209290 A JPH06209290 A JP H06209290A
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
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- H—ELECTRICITY
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- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/29—Repeaters
- H04B10/291—Repeaters in which processing or amplification is carried out without conversion of the main signal from optical form
- H04B10/293—Signal power control
- H04B10/294—Signal power control in a multiwavelength system, e.g. gain equalisation
- H04B10/2942—Signal power control in a multiwavelength system, e.g. gain equalisation using automatic gain control [AGC]
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
- H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
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- H04B10/50—Transmitters
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/06825—Protecting the laser, e.g. during switch-on/off, detection of malfunctioning or degradation
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 様々な動作環境の変化の観点から光通信シス
テムの性能を最適化する手段を提供すること。更に、光
サブシステムの性能を最適化する為に、特に、内蔵型マ
イクロコントローラを用いて、所望の最適値を与えるこ
とである。 【構成】 本発明の光サブシステム12は、この光サブ
システム内に含まれる複数の動作パラメータは、光サブ
システムの置かれる環境内の変化の関数としてその値を
変化し、前記光サブシステム内に搭載され、環境条件の
所定のセットに対する動作パラメータの最適値を含むよ
う、プログラムされたメモリを含むマイクロプロセッサ
14を有し、前記マイクロプロセッサは複数の動作パラ
メータに応答して、前記複数の動作パラメータをメモリ
内に記憶された最適値と比較し、前記動作パラメータの
最適値を前記サブシステムに提供することを特徴とす
る。
テムの性能を最適化する手段を提供すること。更に、光
サブシステムの性能を最適化する為に、特に、内蔵型マ
イクロコントローラを用いて、所望の最適値を与えるこ
とである。 【構成】 本発明の光サブシステム12は、この光サブ
システム内に含まれる複数の動作パラメータは、光サブ
システムの置かれる環境内の変化の関数としてその値を
変化し、前記光サブシステム内に搭載され、環境条件の
所定のセットに対する動作パラメータの最適値を含むよ
う、プログラムされたメモリを含むマイクロプロセッサ
14を有し、前記マイクロプロセッサは複数の動作パラ
メータに応答して、前記複数の動作パラメータをメモリ
内に記憶された最適値と比較し、前記動作パラメータの
最適値を前記サブシステムに提供することを特徴とす
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光サブシステムの性能の
最適値を得る方法に関し、特に、最適値を提供するマイ
クロコントローラを用いる装置に関する。
最適値を得る方法に関し、特に、最適値を提供するマイ
クロコントローラを用いる装置に関する。
【0002】
【従来の技術】多くの光通信システムにおいて、様々な
サブシステム装置(例えば、伝送器、受信器、増幅器、
再生器)のサブシステムは、その性能が周囲温度、装置
の経年変化、電力源の変動、入力信号のレベル等(以下
環境変化と称する)の関数として変化する。アナログフ
ィードバック回路は、ある状況においては、例えばレー
ザ伝送器に印加されるバイアス電圧を制御したり、受信
器プリアンプのトランスインピーダンスのゲンイを制御
したり、光増幅器のゲンイを制御したり、それらを組み
合わせたものを制御するような適切な制御レベルを提供
するためにしばしば用いられる。
サブシステム装置(例えば、伝送器、受信器、増幅器、
再生器)のサブシステムは、その性能が周囲温度、装置
の経年変化、電力源の変動、入力信号のレベル等(以下
環境変化と称する)の関数として変化する。アナログフ
ィードバック回路は、ある状況においては、例えばレー
ザ伝送器に印加されるバイアス電圧を制御したり、受信
器プリアンプのトランスインピーダンスのゲンイを制御
したり、光増幅器のゲンイを制御したり、それらを組み
合わせたものを制御するような適切な制御レベルを提供
するためにしばしば用いられる。
【0003】米国特許第4924191号明細書はこの
アナログフィードバック回路(この場合には、光システ
ムではなく、電力増幅器であるが)に関連する様々な問
題に対する解決法を教示している。ここに開示されたよ
うに、電力増幅器の動作バイアス点はコンピュータメモ
リ内に記憶されている。テスト期間(入力信号が遮断さ
れた場合)の間、テスト信号は電力増幅器を介して伝送
され、テストバイアス点が測定される。このテストバイ
アス点は、その後、コンピュータにより、メモリ内に記
憶された動作バイアス点と比較される。もし、それらが
異なる場合には、このメモリは更新され、このテストバ
イアス値を記憶し、増幅器の動作モードは再スタートす
る。この更新された値は、次のテスト期間が始まるま
で、増幅器をバイアスするのに使用される。別法とし
て、コンピュータは、ユーザによりプログラムされ、テ
ストモードをバイパスし、ユーザが供給するバイアス電
圧値を用いて連続的に動かされる。前記の特許に開示さ
れた装置の一つの問題点は、電力増幅器は、しばしばそ
の運転を中止して、新たな動作パラメータを得るために
テストされる。多くの光通信システムの装置において
は、このような動作の中断は許されない。
アナログフィードバック回路(この場合には、光システ
ムではなく、電力増幅器であるが)に関連する様々な問
題に対する解決法を教示している。ここに開示されたよ
うに、電力増幅器の動作バイアス点はコンピュータメモ
リ内に記憶されている。テスト期間(入力信号が遮断さ
れた場合)の間、テスト信号は電力増幅器を介して伝送
され、テストバイアス点が測定される。このテストバイ
アス点は、その後、コンピュータにより、メモリ内に記
憶された動作バイアス点と比較される。もし、それらが
異なる場合には、このメモリは更新され、このテストバ
イアス値を記憶し、増幅器の動作モードは再スタートす
る。この更新された値は、次のテスト期間が始まるま
で、増幅器をバイアスするのに使用される。別法とし
て、コンピュータは、ユーザによりプログラムされ、テ
ストモードをバイパスし、ユーザが供給するバイアス電
圧値を用いて連続的に動かされる。前記の特許に開示さ
れた装置の一つの問題点は、電力増幅器は、しばしばそ
の運転を中止して、新たな動作パラメータを得るために
テストされる。多くの光通信システムの装置において
は、このような動作の中断は許されない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、様々な動作環境の変化の観点から光通信システムの
性能を最適化する手段を提供し、それにより、従来のア
ナログフィードバック回路でとった解決法に関連する様
々な欠点を回避しようとするものである。さらに、本発
明は光サブシステムの性能を最適化することに関し、特
に、内蔵型マイクロコントローラを用いて、所望の最適
値を与えることである。
は、様々な動作環境の変化の観点から光通信システムの
性能を最適化する手段を提供し、それにより、従来のア
ナログフィードバック回路でとった解決法に関連する様
々な欠点を回避しようとするものである。さらに、本発
明は光サブシステムの性能を最適化することに関し、特
に、内蔵型マイクロコントローラを用いて、所望の最適
値を与えることである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の光サブシステム
12は、この光サブシステム内に含まれる複数の動作パ
ラメータは、光サブシステムの置かれる環境内の変化の
関数としてその値を変化し、前記光サブシステム内に搭
載され、環境条件の所定のセットに対する動作パラメー
タの最適値を含むよう、プログラムされたメモリを含む
マイクロプロセッサ14を有し、 前記マイクロプロセ
ッサは複数の動作パラメータに応答して、前記複数の動
作パラメータをメモリ内に記憶された最適値と比較し、
前記動作パラメータの最適値を前記サブシステムに提供
することを特徴とする。
12は、この光サブシステム内に含まれる複数の動作パ
ラメータは、光サブシステムの置かれる環境内の変化の
関数としてその値を変化し、前記光サブシステム内に搭
載され、環境条件の所定のセットに対する動作パラメー
タの最適値を含むよう、プログラムされたメモリを含む
マイクロプロセッサ14を有し、 前記マイクロプロセ
ッサは複数の動作パラメータに応答して、前記複数の動
作パラメータをメモリ内に記憶された最適値と比較し、
前記動作パラメータの最適値を前記サブシステムに提供
することを特徴とする。
【0006】
【実施例】図1において、本発明により光サブシステム
のマイクロコントローラ部分を初期化プログラムする製
造ライン10が図示されている。本発明においては、あ
る光サブシステムは実際に使用する前に、このサブシス
テムがその製品寿命の間にわたって受ける環境変化のあ
らゆる範囲の試験を行なわれる。多くの応用において、
最も重要な環境変化は、周囲温度、入力信号パワーレベ
ルとこのサブシステム内の個別の素子の経年変化であ
る。製造ライン10は、この光サブシステムを所定の環
境変化に曝すための装置で、これらの環境変化の関数と
して、サブシステム内のパラメータの変化を記録する。
その後、この組み込まれたマイクロコントローラは実際
の環境変化として、サブシステムの性能を模擬する。
のマイクロコントローラ部分を初期化プログラムする製
造ライン10が図示されている。本発明においては、あ
る光サブシステムは実際に使用する前に、このサブシス
テムがその製品寿命の間にわたって受ける環境変化のあ
らゆる範囲の試験を行なわれる。多くの応用において、
最も重要な環境変化は、周囲温度、入力信号パワーレベ
ルとこのサブシステム内の個別の素子の経年変化であ
る。製造ライン10は、この光サブシステムを所定の環
境変化に曝すための装置で、これらの環境変化の関数と
して、サブシステム内のパラメータの変化を記録する。
その後、この組み込まれたマイクロコントローラは実際
の環境変化として、サブシステムの性能を模擬する。
【0007】この図の製造ライン10において、光サブ
システム12(例えば、レーザトランスミッタ、APD
受信機、光増幅器、また再生器)は、マイクロコントロ
ーラ14を有し、それらはオーブン16に配置される。
テストセットコンピュータ18が、製造ライン10に具
備され、このテストセットコンピュータ18は、検査さ
れるサブシステムの特定なタイプに必要なテスト範囲を
完全に含むように初期化プログラムされる。その後、こ
のテストセットコンピュータ18は、テストプログラム
をマイクロコントローラ14に伝送する。またテストセ
ットコンピュータ18は、オーブン16にも、あるいは
さらに様々な他の外部テスト装置(例えば、入力信号減
衰器)にも直接接続される。例えば、このテストセット
コンピュータ18は、BER(Bit Error Rate)テスト
モニタ20にも接続される。このBERテストモニタ2
0は、検査されるべき特定のそれぞれの温度で、一般的
(最悪の場合)のテスト信号に対する最低のビットエラ
ーレート(BER)を検出するために使用される。付属
のテスト装置22を用いて、最低のビットエラーレート
に到達するまで、光サブシステム12の動作パラメータ
(例えば、バイアス電圧、素子温度、トランスインピー
ダンスゲイン)を変化させる。一旦それが決まると、あ
る温度(入力信号レベル)での最適性能を有する動作パ
ラメータが、テストセットコンピュータ18を介してR
OMプログラマ24に伝送される。このROMプログラ
マ24内にはROMチップのようなROM26が含ま
れ、このROM26は、データを記憶するようプログラ
ムされる。その後ROM26はテストが完了すると、マ
イクロコントローラ14内に組み込まれる。選択的にテ
ストプロセスによって生成され、テストセットコンピュ
ータ18に伝送されたデータは図1に示すようにデータ
表示装置28内で所望の形態(例えば、可視ディスプレ
ー、プロート、グラフ、表等)で表示される。テストプ
ロセスの完了後、ROM26はマイクロコントローラ1
4内に組み込まれて、最終の光サブシステムとしてパッ
ケージされる。
システム12(例えば、レーザトランスミッタ、APD
受信機、光増幅器、また再生器)は、マイクロコントロ
ーラ14を有し、それらはオーブン16に配置される。
テストセットコンピュータ18が、製造ライン10に具
備され、このテストセットコンピュータ18は、検査さ
れるサブシステムの特定なタイプに必要なテスト範囲を
完全に含むように初期化プログラムされる。その後、こ
のテストセットコンピュータ18は、テストプログラム
をマイクロコントローラ14に伝送する。またテストセ
ットコンピュータ18は、オーブン16にも、あるいは
さらに様々な他の外部テスト装置(例えば、入力信号減
衰器)にも直接接続される。例えば、このテストセット
コンピュータ18は、BER(Bit Error Rate)テスト
モニタ20にも接続される。このBERテストモニタ2
0は、検査されるべき特定のそれぞれの温度で、一般的
(最悪の場合)のテスト信号に対する最低のビットエラ
ーレート(BER)を検出するために使用される。付属
のテスト装置22を用いて、最低のビットエラーレート
に到達するまで、光サブシステム12の動作パラメータ
(例えば、バイアス電圧、素子温度、トランスインピー
ダンスゲイン)を変化させる。一旦それが決まると、あ
る温度(入力信号レベル)での最適性能を有する動作パ
ラメータが、テストセットコンピュータ18を介してR
OMプログラマ24に伝送される。このROMプログラ
マ24内にはROMチップのようなROM26が含ま
れ、このROM26は、データを記憶するようプログラ
ムされる。その後ROM26はテストが完了すると、マ
イクロコントローラ14内に組み込まれる。選択的にテ
ストプロセスによって生成され、テストセットコンピュ
ータ18に伝送されたデータは図1に示すようにデータ
表示装置28内で所望の形態(例えば、可視ディスプレ
ー、プロート、グラフ、表等)で表示される。テストプ
ロセスの完了後、ROM26はマイクロコントローラ1
4内に組み込まれて、最終の光サブシステムとしてパッ
ケージされる。
【0008】図2には本発明によるマイクロコントロー
ラ32を搭載した再生器30が図示されている。この再
生器30の動作をまず説明し、その後マイクロコントロ
ーラ32の利用法について述べる。この再生器30は、
光通信システム内で用いられて、発信器と受信器との間
を転送する光信号を保持(あるいは再生)するために用
いられる。この再生器30は、光ファイバを伝播する光
信号を受信し、この光信号を電気信号に変換して、電気
信号を再生し、論理1と論理0との間の急峻な変化を含
むよう電気信号を再生し、最終的に電気信号を光ファイ
バ内に再結合される光信号を再変換する。このプロセス
を図2で説明する。入力光データ信号Iは、受信器34
の入力に加えられ、この受信器34は、光信号を電気信
号に変換する。この電気信号Eは、デザイン回路36の
入力として加えられ、このデザイン回路36はその回路
を通過することにより、各データビットの論理値を決定
する。デザイン回路36からの二つの出力はDataと-Dat
a(Dataの上付きのバーを表す論理否定である)とに分
けられる。クロック信号は電気信号Eからも取り出され
る。図2の再生器30は、図2に示すように直列に接続
された排他的ORゲート38、SAWフィルタ40、位
相シフタ42を用いて、クロック再生を行なう。位相シ
フタ42からの出力即ち再生されたクロック信号CLK
は、デザイン回路36の入力信号としてフェードバック
されて、データ出力信号の正確なタイミングを提供す
る。クロック信号CLKは、個別の出力信号として出現
し、「ALARM」信号として伝送ロスを指示する信号
を再生する。アラームユニット44を用いてクロック信
号Clkと基準電圧とを比較して、アラーム信号を生成
する。
ラ32を搭載した再生器30が図示されている。この再
生器30の動作をまず説明し、その後マイクロコントロ
ーラ32の利用法について述べる。この再生器30は、
光通信システム内で用いられて、発信器と受信器との間
を転送する光信号を保持(あるいは再生)するために用
いられる。この再生器30は、光ファイバを伝播する光
信号を受信し、この光信号を電気信号に変換して、電気
信号を再生し、論理1と論理0との間の急峻な変化を含
むよう電気信号を再生し、最終的に電気信号を光ファイ
バ内に再結合される光信号を再変換する。このプロセス
を図2で説明する。入力光データ信号Iは、受信器34
の入力に加えられ、この受信器34は、光信号を電気信
号に変換する。この電気信号Eは、デザイン回路36の
入力として加えられ、このデザイン回路36はその回路
を通過することにより、各データビットの論理値を決定
する。デザイン回路36からの二つの出力はDataと-Dat
a(Dataの上付きのバーを表す論理否定である)とに分
けられる。クロック信号は電気信号Eからも取り出され
る。図2の再生器30は、図2に示すように直列に接続
された排他的ORゲート38、SAWフィルタ40、位
相シフタ42を用いて、クロック再生を行なう。位相シ
フタ42からの出力即ち再生されたクロック信号CLK
は、デザイン回路36の入力信号としてフェードバック
されて、データ出力信号の正確なタイミングを提供す
る。クロック信号CLKは、個別の出力信号として出現
し、「ALARM」信号として伝送ロスを指示する信号
を再生する。アラームユニット44を用いてクロック信
号Clkと基準電圧とを比較して、アラーム信号を生成
する。
【0009】このマイクロコントローラ32を用いて再
生器30の様々な動作パラメータをモニタし、これらの
パラメータを調整して、環境の変化に応じて再生器30
の性能を連続的に最適化する。これらのパラメータの例
は以下に述べる。しかし、これらのパラメータは単なる
一実施例で、他のパラメータを測定して本発明による最
適化を提供することもできる。図2の受信器34におい
て、マイクロコントローラ32の周囲温度Tと光電流I
Rは動作パラメータとしてマイクロコントローラ32に
伝送され、ROM46(すでにプログラム化されてい
る)を用いて、最適の受信器34のフィードバック電圧
(Vfb)と光検知器バイアス電圧(VAPD)とを決定す
る。実際に搭載する前に、再生器30を様々な動作条件
のもとでテストして、パラメータ(例えば、フェードバ
ック電圧及び光検知器バイアス電圧)を測定して、様々
な条件のもとで最適値を決定する。搭載後、マイクロコ
ントローラ32はそのメモリ内にこれらの動作条件の最
適値を記憶する。それ故に、受信器34に入力される基
準電圧(例えば、温度の関数として)を連続的調整する
ことによりその性能を最適化することができる。図2に
示すように、VfdとVAPDとは、マイクロコントローラ
32からの単なる一対の出力である。デザイン回路36
からの出力を制御するために用いられるしきい電圧V
DataとVClkとはこれらの電圧は温度の関数として変化
するためにマイクロコントローラ32により決定され
る。アラームユニット44用の基準電圧(Valm.ref)
は、マイクロコントローラ32に示されるようにセット
されて、クロック信号の実際の電力レベル(Val m)は
データとしてマイクロコントローラ32に送られる。デ
ュティサイクルディテクタ48がクロック出力ラインに
挿入されて、信号の平均DC値を決定し、このデュティ
サイクルディテクタ48で、DC電圧(VDC)はデータ
としてマイクロコントローラ32に転送される。
生器30の様々な動作パラメータをモニタし、これらの
パラメータを調整して、環境の変化に応じて再生器30
の性能を連続的に最適化する。これらのパラメータの例
は以下に述べる。しかし、これらのパラメータは単なる
一実施例で、他のパラメータを測定して本発明による最
適化を提供することもできる。図2の受信器34におい
て、マイクロコントローラ32の周囲温度Tと光電流I
Rは動作パラメータとしてマイクロコントローラ32に
伝送され、ROM46(すでにプログラム化されてい
る)を用いて、最適の受信器34のフィードバック電圧
(Vfb)と光検知器バイアス電圧(VAPD)とを決定す
る。実際に搭載する前に、再生器30を様々な動作条件
のもとでテストして、パラメータ(例えば、フェードバ
ック電圧及び光検知器バイアス電圧)を測定して、様々
な条件のもとで最適値を決定する。搭載後、マイクロコ
ントローラ32はそのメモリ内にこれらの動作条件の最
適値を記憶する。それ故に、受信器34に入力される基
準電圧(例えば、温度の関数として)を連続的調整する
ことによりその性能を最適化することができる。図2に
示すように、VfdとVAPDとは、マイクロコントローラ
32からの単なる一対の出力である。デザイン回路36
からの出力を制御するために用いられるしきい電圧V
DataとVClkとはこれらの電圧は温度の関数として変化
するためにマイクロコントローラ32により決定され
る。アラームユニット44用の基準電圧(Valm.ref)
は、マイクロコントローラ32に示されるようにセット
されて、クロック信号の実際の電力レベル(Val m)は
データとしてマイクロコントローラ32に送られる。デ
ュティサイクルディテクタ48がクロック出力ラインに
挿入されて、信号の平均DC値を決定し、このデュティ
サイクルディテクタ48で、DC電圧(VDC)はデータ
としてマイクロコントローラ32に転送される。
【0010】本発明の別の特徴としては、搭載後マイク
ロコントローラ32の動作を変更することができ、ある
動作パラメータの値を決定して、所望の動作レベルを提
供するように変更することができる(受信器34の最大
の感受性を保証するためにVAPDを最大化する)。図2
に示すように端子50はマイクロコントローラ32に接
続されて、ROM46をディスエーブルして、マイクロ
コントローラ32からの様々な出力を決定し、あるいは
変更する。
ロコントローラ32の動作を変更することができ、ある
動作パラメータの値を決定して、所望の動作レベルを提
供するように変更することができる(受信器34の最大
の感受性を保証するためにVAPDを最大化する)。図2
に示すように端子50はマイクロコントローラ32に接
続されて、ROM46をディスエーブルして、マイクロ
コントローラ32からの様々な出力を決定し、あるいは
変更する。
【0011】図3には光ファイバ増幅器60のブロック
図が示してある。入力光データ信号IINと光ポンプ信号
IPが同時入力として希土類でドープされた光ファイバ
に入力される。特定波長(例えば、λpump=0.98μm)
のポンプ信号Pは、光データ信号を増幅させる。光入力
信号IINと第1のポンプ信号IP1は、第1波長マルチプ
レックサ62に介して、ドープされた光ファイバ64に
入力される。この増幅は、ポンプ信号の伝播方向とは無
関係であるので、第2のポンプ信号IP2が第2波長マル
チプレックサ66によりドープされた光ファイバ64の
他端に入力されうる。このポンプ信号により光データ信
号のゲインを増加させる。かくして光ファイバ増幅器6
0からの出力は増幅されて、入力信号のIAMPとなる。
図が示してある。入力光データ信号IINと光ポンプ信号
IPが同時入力として希土類でドープされた光ファイバ
に入力される。特定波長(例えば、λpump=0.98μm)
のポンプ信号Pは、光データ信号を増幅させる。光入力
信号IINと第1のポンプ信号IP1は、第1波長マルチプ
レックサ62に介して、ドープされた光ファイバ64に
入力される。この増幅は、ポンプ信号の伝播方向とは無
関係であるので、第2のポンプ信号IP2が第2波長マル
チプレックサ66によりドープされた光ファイバ64の
他端に入力されうる。このポンプ信号により光データ信
号のゲインを増加させる。かくして光ファイバ増幅器6
0からの出力は増幅されて、入力信号のIAMPとなる。
【0012】上記の問題点は、ポンプレーザ源は経年変
化により、ポンプレーザの可能な出力パワーが減少し、
あるいはポンプレーザの波長がドリフトする。光ファイ
バ増幅器の使用環境下で用いられると、ポンプ波長は所
定の値に保持されるのが好ましい。それは、ゲイン量は
その波長におけるラマンミックシングであるからであ
る。それ故に、本発明によればマイクロコントローラ6
8は、光ファイバ増幅器60内に搭載されて、ポンプレ
ーザの性能をモニタし、連続的に最適化するのに利用さ
れる。図3においては二つのポンプレーザのみが示され
ているが、光ファイバ増幅器は如何なる数のポンプレー
ザを用いてもよい。
化により、ポンプレーザの可能な出力パワーが減少し、
あるいはポンプレーザの波長がドリフトする。光ファイ
バ増幅器の使用環境下で用いられると、ポンプ波長は所
定の値に保持されるのが好ましい。それは、ゲイン量は
その波長におけるラマンミックシングであるからであ
る。それ故に、本発明によればマイクロコントローラ6
8は、光ファイバ増幅器60内に搭載されて、ポンプレ
ーザの性能をモニタし、連続的に最適化するのに利用さ
れる。図3においては二つのポンプレーザのみが示され
ているが、光ファイバ増幅器は如何なる数のポンプレー
ザを用いてもよい。
【0013】上述の再生器の構成において、光ファイバ
増幅器60のマイクロコントローラ68は、まず図1の
製造ライン10のような装置を用いてプログラム入力さ
れる。ドープされた光ファイバのサブシステムにおいて
用いられるようにテストセットコンピュータ18を用い
て、環境条件の変化の関数として、ポンプソース70と
72に関連する動作パラメータを変更する。ROMプロ
グラマ24内のROMチップのようなROM74が所望
の動作パラメータの値を記憶するようプログラムされ
て、その後マイクロコントローラ68内に搭載される。
例えば、ポンプソース70と72において、入力バイア
ス電流(Ibias)の関数としての光出力(L)はデータ
点で決定され、固定波長における十分なパワーを維持す
るための最適バイアス電流が記録されて、ROM74内
に記憶される。図1においてBERテストは、このため
にL−Iテストで置き換えてもよい。図3に示すように
実際に配置した後、ポンプソース70と72に関連する
各バックフェースモニタBFM(図示せず)により生成
された電気信号は、マイクロコントローラ68への入力
として検知され、このマイクロコントローラ68は、こ
の情報を各ポンプレーザに入力されるバイアス電流とし
て制御する。一対の熱電子クーラ76、78はポンプソ
ース70と72にそれぞれ関連して用いられ、レーザ源
の局部温度に合わせて、最大の出力パワーが得られるよ
うに維持する。上記の生成器の構成において、マイクロ
コントローラ68は外部端子80に接続してもよい。そ
してこの外部端子80をROM74の動作を書換え、光
ファイバ増幅器60により用いされる別の所定の動作パ
ラメータを提供する。
増幅器60のマイクロコントローラ68は、まず図1の
製造ライン10のような装置を用いてプログラム入力さ
れる。ドープされた光ファイバのサブシステムにおいて
用いられるようにテストセットコンピュータ18を用い
て、環境条件の変化の関数として、ポンプソース70と
72に関連する動作パラメータを変更する。ROMプロ
グラマ24内のROMチップのようなROM74が所望
の動作パラメータの値を記憶するようプログラムされ
て、その後マイクロコントローラ68内に搭載される。
例えば、ポンプソース70と72において、入力バイア
ス電流(Ibias)の関数としての光出力(L)はデータ
点で決定され、固定波長における十分なパワーを維持す
るための最適バイアス電流が記録されて、ROM74内
に記憶される。図1においてBERテストは、このため
にL−Iテストで置き換えてもよい。図3に示すように
実際に配置した後、ポンプソース70と72に関連する
各バックフェースモニタBFM(図示せず)により生成
された電気信号は、マイクロコントローラ68への入力
として検知され、このマイクロコントローラ68は、こ
の情報を各ポンプレーザに入力されるバイアス電流とし
て制御する。一対の熱電子クーラ76、78はポンプソ
ース70と72にそれぞれ関連して用いられ、レーザ源
の局部温度に合わせて、最大の出力パワーが得られるよ
うに維持する。上記の生成器の構成において、マイクロ
コントローラ68は外部端子80に接続してもよい。そ
してこの外部端子80をROM74の動作を書換え、光
ファイバ増幅器60により用いされる別の所定の動作パ
ラメータを提供する。
【0014】上記は単なる一実施例であるが、マイクロ
コントローラを所望の光サブシステムとともに用いて、
光サブシステムの動作環境の様々な変化の関数として、
自己同調し、性能を最適化するようにしてもよい。例え
ば、このマイクロコントローラをレーザトランスミット
とともにレーザの温度、バイアス電流、変調電流を環境
条件の関数として調整するために用いてよい。
コントローラを所望の光サブシステムとともに用いて、
光サブシステムの動作環境の様々な変化の関数として、
自己同調し、性能を最適化するようにしてもよい。例え
ば、このマイクロコントローラをレーザトランスミット
とともにレーザの温度、バイアス電流、変調電流を環境
条件の関数として調整するために用いてよい。
【0015】
【発明の効果】以上述べたように、本発明は内蔵型マイ
クロコントローラを用いて、所望の最適値を与えること
のできる光サブシステムを提供できる。
クロコントローラを用いて、所望の最適値を与えること
のできる光サブシステムを提供できる。
【図1】本発明の内蔵型マイクロコントローラを初期化
する際の工場における組立状態を表わすブロック図であ
る。
する際の工場における組立状態を表わすブロック図であ
る。
【図2】内蔵型マイクロコントローラを用いて、本発明
による性能を最適化するための光再生器を示す図であ
る。
による性能を最適化するための光再生器を示す図であ
る。
【図3】ドープされた光ファイバ増幅器装置内で用いら
れるマイクロコントローラの性能を最適化する他の実施
例を示す図である。
れるマイクロコントローラの性能を最適化する他の実施
例を示す図である。
10 製造ライン 12 光サブシステム 14 マイクロコントローラ 16 オーブン 18 テストセットコンピュータ 20 BERテストモニタ 22 テスト装置 24 ROMプログラマ 26 ROM 28 データ表示装置 30 再生器 32 マイクロコントローラ 34 受信機 36 デザイン回路 38 排他的ORゲート 40 SAWフィルタ 42 位相シフタ 44 アラームユニット 46 ROM 48 デュティサイクルディテクタ 50 端子 60 光ファイバ増幅器 62 第1波長マルチプレックサ 64 ドープされた光ファイバ 66 第2波長マルチプレックサ 68 マイクロコントローラ 70、72 ポンプソース 74 ROM 76、78 熱電子クーラ 80 外部端子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ポール デヴィッド イェーツ アメリカ合衆国 18011 ペンシルヴェニ ア アルバーティス、バークスカウンティ ー、ロングスワンプ タウンシップ、アー ルアール1 ボックス800−ビー
Claims (6)
- 【請求項1】 光入力信号に応答して、光出力信号を生
成する光サブシステム(12)において、 この光サブシステム内に含まれる複数の動作パラメータ
は、光サブシステムの置かれる環境内の変化の関数とし
てその値を変化させ、 前記光サブシステム内に搭載され、環境条件の所定のセ
ットに対する動作パラメータの最適値を含むよう、プロ
グラムされたメモリを含むマイクロプロセッサ(14)
を有し、 前記マイクロプロセッサは複数の動作パラメータに応答
して、前記複数の動作パラメータをメモリ内に記憶され
た最適値と比較し、 前記動作パラメータの最適値を前記サブシステムに提供
することを特徴とする光サブシステム。 - 【請求項2】 前記マイクロコントローラのメモリは、
動作パラメータの最適値を含むよう初期のテスト期間の
間、プログラムされたROMチップ(26)を含むこと
を特徴とする請求項1のサブシステム。 - 【請求項3】 前記マイクロコントローラはメモリ内に
記憶された値を書換え、動作パラメータの他の所定値を
光サブシステムに提供する手段さらにを含むことを特徴
とする請求項1のサブシステム。 - 【請求項4】 前記サブシステムは、再生器であること
を特徴とする請求項1のサブシステム。 - 【請求項5】 前記サブシステムは、ドープ光ファイバ
増幅器であることを特徴とする請求項1のサブシステ
ム。 - 【請求項6】 前記サブシステムは、レーザ伝送器であ
ることを特徴とする請求項1のサブシステム。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/916,934 US5278404A (en) | 1992-07-20 | 1992-07-20 | Optical sub-system utilizing an embedded micro-controller |
| US916934 | 1997-08-21 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06209290A true JPH06209290A (ja) | 1994-07-26 |
Family
ID=25438104
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5196683A Pending JPH06209290A (ja) | 1992-07-20 | 1993-07-15 | 光サブシステム |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US5278404A (ja) |
| EP (1) | EP0580317A1 (ja) |
| JP (1) | JPH06209290A (ja) |
| KR (1) | KR940003225A (ja) |
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