JPH0621114A - 樹脂封止方法 - Google Patents

樹脂封止方法

Info

Publication number
JPH0621114A
JPH0621114A JP17787992A JP17787992A JPH0621114A JP H0621114 A JPH0621114 A JP H0621114A JP 17787992 A JP17787992 A JP 17787992A JP 17787992 A JP17787992 A JP 17787992A JP H0621114 A JPH0621114 A JP H0621114A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
sealing
semiconductor element
tape carrier
mask
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP17787992A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2738893B2 (ja
Inventor
Mitsuaki Osono
光昭 大園
Yasunori Senkawa
保憲 千川
Takamichi Maeda
崇道 前田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP17787992A priority Critical patent/JP2738893B2/ja
Publication of JPH0621114A publication Critical patent/JPH0621114A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2738893B2 publication Critical patent/JP2738893B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【構成】 半導体素子3を搭載したテープキャリア4に
接するようにマスク2を設置し、一又は複数のスプレー
式ノズル1を用いて、封止樹脂5を霧状にして、半導体
素子3に吐出し、樹脂封止を行う。 【効果】 マスク2がテープキャリア4と密接してお
り、かつテープキャリア4にほとんど圧力を加えること
なく樹脂封止が行えるため、マスク2とテープキャリア
4間からの樹脂5のにじみ出しによる封止不良及び外観
不良並びにワイヤー,イナーリード等の変形及び切断の
発生を防ぐことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体素子のパッケー
ジ形態であるTCP(Tape Carrier Package)デバイス
及びCOB(Cipe On Board)デバイス等の樹脂封止に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】図3は、従来のスキージ方式による半導
体素子を搭載する基板として、テープキャリアを用いて
半導体素子を樹脂封止する工程を示す。
【0003】図3において、3は半導体素子,4はテー
プキャリア,5は封止樹脂,6は固定治具,8は印刷マ
スク,9はスキージ,10はたれ落ちた封止樹脂を示
す。
【0004】従来は複数の孔を設けた印刷マスク8上に
封止樹脂5を載せ、スキージ9によりテープキャリア4
に搭載された半導体素子3を一括塗布封止している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記スキージ
方式で樹脂封止を行う場合、半導体素子3の搭載されて
いないテープキャリア7にも同時に樹脂封止を行うこと
になる。その結果、封止樹脂5が半導体素子3の搭載さ
れていないテープキャリア4の裏面に流れ落ち、その都
度、固定治具6を清掃しなければならず、また、仮に半
導体素子3が搭載されていないテープキャリア7を封止
した場合、従来の後工程で肉眼又は光センサー等により
行っていた半導体素子3が搭載されているか否かの認識
方法を改良しなければならなくなる。
【0006】また、上記封止樹脂5のたれ落ちを防ぐた
め、封止工程前に予め半導体素子3が搭載されていない
テープキャリア7上の印刷マスク2の孔をマスキングす
る方法も行われているが、この場合、工程数が増加し、
一括塗布封止としての利点が少なくなる。上記問題点に
より、工程数が増し、コストアップにつながり、量産化
が非常に困難になる。
【0007】更にスキージ方式を用いた場合、印刷マス
ク8の反力とスキージ9による圧力とを利用して封止樹
脂5を塗布するため印刷マスク8とテープキャリア4と
の間に隙間を設ける必要がある。このため、封止工程時
において、スキージ9による圧力により、印刷マスク8
とテープキャリア4との間に封止樹脂5のにじみ出しに
よる封止不良及び外観不良並びにワイヤー,イナーリー
ド等の変形及び切断が生じ、更に、スキージ9による封
止樹脂5の気泡の巻き込みが生じ、TCPやCOB等の
信頼性が低下する。
【0008】本発明は、テープキャリア,プリント基板
又はリードフレーム等の半導体素子を搭載する基板に対
して、ほとんど圧力を加えることなく、また、マスキン
グなしに、前記基板に半導体素子が搭載されているもの
のみを封止する手段を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の樹脂封止方法
は、半導体素子を搭載した基板に接するようにマスクを
設置し、一又は複数のスプレー式ノズルを用いて、樹脂
を霧状にして、前記半導体素子に吐出し、樹脂封止を行
うことを特徴とするものである。
【0010】
【作用】上記本発明を用いることによって、一つの半導
体素子を一つのスプレー式ノズルを用いて霧状封止樹脂
を吐出するため、マスキングを行うことなくまた、基板
に圧力を加えることなく、半導体素子を搭載した基板の
みを選択し樹脂封止ができる。また、マスクと半導体素
子を搭載した基板とを密着させ樹脂封止をすることが可
能になる。
【0011】
【実施例】以下、一実施例に基づいて本発明を詳細に説
明する。
【0012】図1は、本発明の一実施例のテープキャリ
アに搭載された半導体素子を封止する方法を示し、図2
は本発明の他の実施例の半導体素子封止方法を示す。図
1,2において、1はスプレー式ノズル,2はマスク,
3は半導体素子,4はテープキャリア,5は霧状の封止
樹脂,6は固定治具,7は半導体素子が搭載されて無い
テープキャリアを示す。
【0013】スプレー式ノズル1は、半導体素子3と対
向する位置に一又は複数設置してあり、マスク2はテー
プキャリア4と密着するように設置してある。従来図3
に示すように、印刷マスク8とテープキャリア4との間
に隙間が設けられているが、これは、印刷マスク8の反
力とスキージ9による圧力とを調整しつつ、封止樹脂5
を半導体素子3上に塗布するのに必要だからであり、本
発明では霧状の封止樹脂5を用いているため、テープキ
ャリア4とマスク2との間に隙間を必要としない。この
ため、本発明では封止樹脂5を高く積み上げる必要がな
く、従来より樹脂粘度の低いものでも樹脂封止が可能で
ある。
【0014】本実施例の樹脂封止工程は、まず、マスク
2の下に密接するようにテープキャリア4を設置し、次
に、テープキャリア4に半導体素子3が搭載されている
か否かを肉眼又は光センサ等により識別し、スプレー式
ノズル1をオン/オフすることにより、半導体素子3が
搭載されているテープキャリア4のみの樹脂封止を行
う。
【0015】封止樹脂5の量は、一つの半導体素子3に
対して、例えば約3×16(mm2)の面積の半導体素
子3に100ミクロンの膜厚の封止樹脂5を堆積させる
ためには、数10mg程度の封止樹脂5が必要である。
【0016】また、本実施例において、半導体素子3を
搭載する基板としてテープキャリア4を用いたが、プリ
ント基板,リードフレーム等にも適用可能であり、前記
基板の片面のみの樹脂封止の他に、図2に示すように、
両面とも樹脂封止する場合にも適用可能である。
【0017】
【発明の効果】以上、詳細に説明した様に、本発明を用
いることにより、以下の様な効果を奏する。
【0018】まず、スプレーノズルをオン/オフするこ
とで任意の基板のみを封止することが可能となる。ま
た、スプレーノズルの本数を増すことによって封止効率
の向上が容易に図れる。
【0019】また、マスクを基板に密着させることがで
きるために、マスクと基板との間の樹脂のにじみ出しに
よる封止不良及び外観不良並びにワイヤー,イナーリー
ド等の変形及び切断の発生を防ぐことができる。
【0020】更に、従来行っていた印刷マスクの反力と
スキージによる圧力との調整作業が省略でき、作業が簡
易化される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の工程図である。
【図2】本発明の他の実施例の工程図である。
【図3】従来の樹脂封止工程図である。
【符号の説明】
1 スプレー式ノズル 2 マスク 3 半導体素子 4 テープキャリア 5 封止樹脂 6 固定治具 7 半導体素子が搭載されて無いテープキャリア

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体素子を搭載した基板に接するよう
    にマスクを配置し、一又は複数のスプレー式ノズルを用
    いて、樹脂を霧状にして、前記半導体素子に吐出し、樹
    脂封止を行うことを特徴とする樹脂封止方法。
JP17787992A 1992-07-06 1992-07-06 樹脂封止方法 Expired - Lifetime JP2738893B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17787992A JP2738893B2 (ja) 1992-07-06 1992-07-06 樹脂封止方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17787992A JP2738893B2 (ja) 1992-07-06 1992-07-06 樹脂封止方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0621114A true JPH0621114A (ja) 1994-01-28
JP2738893B2 JP2738893B2 (ja) 1998-04-08

Family

ID=16038657

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17787992A Expired - Lifetime JP2738893B2 (ja) 1992-07-06 1992-07-06 樹脂封止方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2738893B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JP2738893B2 (ja) 1998-04-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5776799A (en) Lead-on-chip type semiconductor chip package using an adhesive deposited on chip active surfaces at a wafer level and method for manufacturing same
US6518186B1 (en) Use of residual organic compounds to facilitate gate break on a carrier substrate for a semiconductor device
KR100337412B1 (ko) 저면보호막을가진반도체웨이퍼,집적회로디바이스및그제조방법
JP3956199B2 (ja) 固体撮像装置の製造方法およびその製造方法において使用するマスク
US6445060B1 (en) Coated semiconductor die/leadframe assembly and method for coating the assembly
US5810926A (en) Method and apparatus for applying atomized adhesive to a leadframe for chip bonding
JP2004207719A (ja) 半導体パッケージの組立て方法及び半導体パッケージ工程の保護テープの除去装置
JPH0621114A (ja) 樹脂封止方法
US4995551A (en) Bonding electrical leads to pads on electrical components
CN1101597C (zh) 片上引线式半导体芯片封装及其制作方法
US20020182774A1 (en) Die-attach method and assemblies using film and epoxy bonds
US4366187A (en) Immersion curing of encapsulating material
JP4005077B2 (ja) 半導体装置の製造方法及び粘性液体の塗膜方法
JP2002507836A (ja) 制御された量の融剤をパッケージに塗布するための自動化したブラシ融剤処理システム
EP4528811A1 (en) Packaged semiconductor device and method of manufacturing
KR0124550Y1 (ko) 반도체 제조용 접착제 분사 장치
JPH02102563A (ja) 半導体装置とその製法
JP2713220B2 (ja) ワイヤ及びリードフレームの短絡防止方法
JP3158399B2 (ja) 樹脂塗布方法
JPH02241040A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH07122682A (ja) 半導体素子封止装置
JPH06291156A (ja) 半導体装置用リードフレームへの接着剤塗布方法
JPH04299847A (ja) ベアチップの封止方法
JPS63124433A (ja) フイルムキヤリア
JP2000021950A (ja) 半導体実装装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 10

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080116

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090116

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100116

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110116

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120116

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130116

Year of fee payment: 15

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130116

Year of fee payment: 15