JPH06214028A - X線検出器 - Google Patents

X線検出器

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JPH06214028A
JPH06214028A JP843193A JP843193A JPH06214028A JP H06214028 A JPH06214028 A JP H06214028A JP 843193 A JP843193 A JP 843193A JP 843193 A JP843193 A JP 843193A JP H06214028 A JPH06214028 A JP H06214028A
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image
rays
scintillation fiber
ray detector
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JP843193A
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English (en)
Inventor
Shinji Suzuki
伸二 鈴木
Yoji Nishiyama
陽二 西山
Hiroyuki Tsukahara
博之 塚原
Moritoshi Ando
護俊 安藤
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 放射状に被検査物体に照射されたX線を、高
感度に、且つ、高分解能をもって検出することができ、
その結果、X線を用いたプリント基板検出装置の検査精
度や検査効率を向上することができるX線検出器を提供
することを目的とする。 【構成】 被検査物体を透過したX線の一部を通すスリ
ットを有する遮光板と、スリットを通ったX線の面に直
交する方向に配置されたシンチレーションファイバが積
層されて構成されたシンチレーションファイバプレート
と、シンチレーションファイバプレートにおける画像を
撮像する撮像手段と、この撮像された画像における、上
記の入射したX線の軌跡に対応するシンチレーションフ
ァイバ中の発光量を積算する発光量演算手段とを有す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、X線検出器の改良に関
する。特に、放射状に被検査物体に照射されたX線を高
感度に、且つ、高分解能をもって検出することができ、
その結果、X線を用いたプリント板検査装置の検査精度
や検査効率を向上することができるX線検出器を提供す
ることを目的とする改良に関する。
【0002】
【従来の技術】電子計算機が高密度化・高集積化される
にともなって、プリント板検査では外観からは見えない
内部の検査が必要になっている。そこで、物体の透過能
力が高く、非破壊的に内部の組織や欠陥等を検査するこ
とができるX線を用いた検査装置が必要になる。特に、
最近、検査対象がますます高密度化されつゝあるので、
X線を用いた検査装置でも、数ミクロンの高分解能をも
った検査装置が必要になっている。
【0003】ところで、従来技術に係るX線検出器とし
ては、被検査物体にX線を照射し、透過したX線を写真
乾板上またはイメージングプレート上に記録するX線検
出器や、上記の透過X線を蛍光板に照射して蛍光像とし
てみるX線検出器や、X線イメージインテンシファイヤ
法(X線照射による外部光電効果で放出された光電子を
蛍光板に当てゝ輝度の高い蛍光像として見る方法)を使
用したX線検出器や、X線をターゲットの面に照射しタ
ーゲット上に撮像するX線撮像管を用いたX線検出器が
ある。
【0004】ところが、上記の写真乾板やイメージング
プレート上に記録するX線検出器は、リアルタイムでの
観測ができない。また、蛍光板にX線を照射するX線検
出器においては、蛍光板が薄いときは十分な感度が得ら
れず、蛍光板が厚いときは分解能が低下する。その理由
は、蛍光板が薄いときはX線がほとんど透過してしまう
からであり、蛍光板が厚いときは放射状に照射されたX
線のうち蛍光板に傾斜して入射するX線による発光が入
射点と透過点とでずれるからである。また、X線イメー
ジインテンシファイヤ法を使用したX線検出器において
は、光電子を増幅しているので感度はよいが、解像度に
難点がある。X線撮像管を用いたX線検出器において
は、リアルタイムで観測ができ、感度と解像度の両立が
可能であるが、ターゲット材が空気中で非常に不安定な
ため取り扱いが難しく、生産性の点で難点があり、ま
た、大面積の撮像管の製作が困難である。以上のことを
まとめると表1のとおりであり、いずれのX線検出器も
十分満足すべきものではない。
【0005】
【表1】 そこで、蛍光板より解像度のよいシンチレーションファ
イバプレートを使用したX線検出器が開発された。
【0006】以下に、従来技術に係る、シンチレーショ
ンファイバプレートを使用したX線検出器について説明
する。
【0007】図6は、従来技術に係る、シンチレーショ
ンファイバプレートを使用したX線検出器の構成説明図
である。
【0008】図6参照 図において、15はX線源であり、16はこのX線源1
5からのX線を照射される被検査物体である。17は、
上記のX線の光軸に平行になるように配置されたシンチ
レーションファイバ171が積層されて構成されたシン
チレーションファイバプレートである。上記のシンチレ
ーションファイバ171とは、X線で蛍光を発する透明
蛍光体(通常、テルビュームTbを使用する)をガラス
に溶かし込み、これをファイバ状にしたものである。1
8は、上記のシンチレーションファイバプレート17の
裏面に現れた画像を撮像する撮像手段である。
【0009】つぎに、このX線検出器の動作について説
明する。被検査物体16を透過したX線はシンチレーシ
ョンファイバプレート17を構成するそれぞれのシンチ
レーションファイバ171の一方の端面に入射される。
この入射されたX線によってシンチレーションファイバ
171中の透明蛍光体が発光し、この蛍光はシンチレー
ションファイバ171の外被であるクラッドで全反射し
てシンチレーションファイバ171の他方の端面から放
出される。したがって、シンチレーションファイバプレ
ート17の裏面には被検査物体16を透過したX線に対
応する画像が現れる。この画像を撮像手段18をもって
撮像する。
【0010】このX線検出器においては、発光した蛍光
がシンチレーションファイバ171のピッチ(15〜2
5μm)以上に拡がることがなく、高解像度をもって検
出できる利点がある。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のシン
チレーションファイバプレートを使用する従来技術に係
るX線検出器においては、検出される画像のうち、X線
の光軸上やその近傍の画像部分においては解像度が良い
が、画像の周辺部分においては解像度が十分満足すべき
状態とは言い難いと言う欠点がある。その理由は、X線
は一般に放射状に照射されるので、画像周辺部分に対応
するX線は数本のシンチレーションファイバを横切る結
果、このX線に対応する発光が本来の画像周辺部以外の
領域においても現れるからである。
【0012】本発明の目的は、この欠点を解消すること
にあり、放射状に被検査物体に照射されたX線を、高感
度に、且つ、高分解能をもって検出することができ、そ
の結果、X線を用いたプリント板検査装置の検出精度や
検査効率を向上することができるX線検出器を提供する
ことにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記の目的は、放射状に
被検査物体に照射されたX線を検出するX線検出器にお
いて、前記の被検査物体を透過したX線の一部を通すス
リット(11)を有する遮光板(1)と、前記のスリッ
ト(11)を透過したX線の面に直交する方向に配置さ
れたシンチレーションファイバ(21)が積層されて構
成されたシンチレーションファイバプレート(2)と、
このシンチレーションファイバプレート(2)における
画像を撮像する撮像手段(3)と、この撮像手段(3)
によって撮像された画像における、入射したX線の軌跡
に対応するシンチレーションファイバ(21)中の発光
量を積算する発光量演算手段(4)とを有するX線検出
器か、上記の構成に加えて、前記の被検査物体を前記ス
リット(11)の幅方向に平行な方向に移動する被検査
物体移動手段(5)と、前記の被検査物体の移動にとも
なって前記の被検査物体のそれぞれの移動位置において
検出された画像を組み合わせて、前記の被検査物体の全
体像を構成する再構成手段(6)とを有するX線検出器
によって達成される。上記のX線検出器のいずれの構成
においても前記のシンチレーションファイバプレート
(2)における画像を、画像縮小手段(7)を介して撮
像するか、前記のシンチレーションファイバプレート
(2)における画像を、画像縮小手段(7)とこの画像
縮小手段(7)の出力を増幅する光増幅手段(8)とを
介して撮像するか、前記のシンチレーションファイバプ
レート(2)における画像を、第1の画像縮小手段
(9)とこの第1の画像縮小手段(9)の出力を増幅す
る光増幅手段(8)とこの光増幅手段(8)の出力画像
を縮小する第2の画像縮小手段(10)とを介して撮像
すると効果が顕著である。また、前記のシンチレーショ
ンファイバ(21)に替えて、光ファイバのコア内にX
線照射により蛍光を発生するX線蛍光物質を含有するX
線蛍光光ファイバを使用することもできる。
【0014】
【作用】本発明に係るX線検出器においては、被検査物
体を透過したX線はスリットを通してシンチレーション
ファイバプレートに入射され、しかも、このシンチレー
ションファイバプレートを構成するシンチレーションフ
ァイバが上記の入射X線の面に垂直になるよう配置され
ているので、スリットの幅によって透視画像の幅が制約
され、したがって、シンチレーションファイバに横方向
(スリットの幅方向)の多数画素に対応するX線が同時
に入射されることを回避でき、また、上記のシンチレー
ションファイバプレートの配置によって、光軸に対して
種々の角度をもって斜めに入射されるX線のうち個々の
シンチレーションファイバを横切るX線を低減できるか
ら、個々のシンチレーションファイバに対して縦方向
(スリットの長手方向)の多数画素に対応するX線が同
時に入射されることを回避できる。したがって、個々の
シンチレーションファイバにおいては、多数画素に対応
するX線による発光の重なりを避けることが可能であ
り、分解能を十分高めることが可能である。また、本発
明に係るX線検出器は、シンチレーションファイバプレ
ートに入射されたX線が通過した軌跡に対応するシンチ
レーションファイバ(図5参照。図のハッチング部分)
における発光を積算して検出する発光量演算手段を有す
るので、X線の検出光量を増大することができて感度を
高めることができる。
【0015】また、本発明に係る、被検査物体をスリッ
トの幅方向に平行に移動するX線検出器においては、被
検査物体のそれぞれの移動位置における検出画像を再構
成手段を用いて組み合わせることゝされているので、被
検査物体の全体像を検出することができる。
【0016】
【実施例】以下、図面を参照して、本発明の4実施例に
係るX線検出器について説明する。
【0017】図1は第1実施例(請求項1に対応)に係
るX線検出器の構成説明図である。
【0018】図1参照 図において、1は、X線透視画像の縦1ライン分、横1
画素分に対応するスリット11を有する遮光板であり、
その材質は例えば鉛である。2は、上記のスリット11
を通過したX線の面に直交する方向に配置されたシンチ
レーションファイバ21が積層されて構成されたシンチ
レーションファイバプレートである。このシンチレーシ
ョンファイバプレート2の、センサと反対の側には反射
コーティングが施されており、検出効率を上げている。
3は、上記のセンサであり、シンチレーションファイバ
プレート2における画像を撮像する撮像手段である。4
は、この撮像手段3が撮像した画像をA/D変換した
後、入射したX線の軌跡に対応するシンチレーションフ
ァイバ21中の発光量を積算する発光量演算手段であ
る。15は、X線源であり、16はこのX線源15が発
するX線を照射される被検査物体である。
【0019】つぎに、本実施例の動作について説明す
る。被検査物体16を透過したX線は、その一部が遮光
板1のスリット11を通って、シンチレーションファイ
バプレート2の側面に入射される。入射X線が通過した
シンチレーションファイバ21のそれぞれはX線の光量
に比例した光量の蛍光を発する。このシンチレーション
ファイバ21で発光した光はファイバのクラッドによっ
て全反射され、したがって、シンチレーションファイバ
相互における蛍光の授受はなく、また、撮像手段3の反
対側の面に施された反射コーティングによって反射さ
れ、個々のシンチレーションファイバ21で発光した蛍
光の全量が、そのシンチレーションファイバ21の撮像
手段側断面から放出される。発光量演算手段4が、入射
したX線のそれぞれの軌跡に対応するシンチレーション
ファイバ21のそれぞれで発光した蛍光量を積算し、そ
れぞれの軌跡に対応したX線量を演算して透視X線画像
を検出する。
【0020】上記のスリット11の幅に対応してシンチ
レーションファイバプレート2に入射するX線は透視画
像の横1画素分に制約され、また、上記のシンチレーシ
ョンファイバプレート2の配置によって、光軸に対して
種々の角度をもって斜めに入射されるX線のうち個々の
シンチレーションファイバ21を横切るX線を低減でき
るから、個々のシンチレーションファイバに対して多数
画素に対応するX線が同時に入射することを回避できる
ので、分解能を高めることができる。また、シンチレー
ションファイバプレートに入射したX線が通過した軌跡
に対応するシンチレーションファイバにおける発光を積
算するので、感度を高めることもできる。
【0021】図2は本実施例の第2実施例(請求項2に
対応)に係るX線検出器の構成説明図である。
【0022】図2参照 図において、5は、被検査物体16を遮光板1のスリッ
ト11の幅方向に平行な方向に移動する被検査物体移動
手段であり、6は、上記の被検査物体16のそれぞれの
移動位置において検出された画像を組み合わせて、上記
の被検査物体16の全体像を構成する再構成手段であ
る。この再構成手段は、上記の被検査物体16のそれぞ
れの移動位置において検出された画像を一時的に記憶す
る記憶部を有する。他の符号の説明は第1実施例の場合
と同一であるので省略する。
【0023】次に本実施例の動作について説明する。被
検査物体移動手段5によって移動される被検査物体16
のそれぞれの移動位置において、第1実施例と同様にし
てX線透視画像が検出され、この検出された画像が再構
成手段6によって記憶され全移動距離にわたってこれら
記憶された画像が組み合わされて、被検査物体16の全
体像として構成される。
【0024】図3は第3実施例(請求項3に対応)に係
るX線検出器の構成説明図である。
【0025】図3参照 図において、7はシンチレーションファイバプレート2
における画像を縮小する画像縮小手段例えばテーパであ
る。その他の符号の説明は第2実施例の場合と同一であ
る。
【0026】本実施例が第2実施例と相違する点は、第
2実施例においては、シンチレーションファイバプレー
ト2における画像を直接撮像手段で撮像するが、本実施
例においては、画像縮小手段7をもってシンチレーショ
ンファイバプレート2の画像を縮小して撮像する点のみ
である。
【0027】したがって、第2実施例に比べ、撮像手段
3をより小形化することができる。本実施例における撮
像手段3は、二次元CCDカメラまたはTDIカメラで
ある。二次元CCDカメラに比べTDIカメラをSTL
モードで使用する方が高速撮像が可能である。
【0028】上記の光縮小手段7が出力する画像の光量
が不十分な場合には、上記の画像縮小手段7の出力を光
増幅手段に入力し、この光増幅手段の出力を撮像手段3
に入力する(請求項4に対応)。
【0029】図4は第4実施例(請求項5に対応)に係
るX線検出器の構成説明図である。
【0030】図4参照 図において、9は第1の画像縮小手段(例えばテーパ)
であり、10は第2の画像縮小手段(例えばテーパ)で
ある。その他の符号の説明は第2実施例の場合と同一で
ある。
【0031】本実施例が第3実施例と相違する点は、本
実施例においては光増幅手段8と第2の画像縮小手段1
0とが追加された点のみである。これらの手段の追加に
より、さらに感度を高めることができ、撮像手段をより
小形化できる。
【0032】なお、上記の第1〜第4実施例におけるシ
ンチレーションファイバの代わりに、光ファイバのコア
内にX線照射により蛍光を発生するX線蛍光物質を含有
するX線蛍光光ファイバを使用することもできる。
【0033】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明に係るX線
検出器においては、被検査物体を透過したX線がスリッ
トを通ってシンチレーションファイバプレートに入射
し、しかも、このシンチレーションファイバプレートを
構成するシンチレーションファイバは上記の入射X線の
面に垂直になるよう配置されているので、個々のシンチ
レーションファイバに多数画素に対応するX線が同時に
入射されることを回避することができるから分解能を高
めることが可能である。また、発光量検出手段が、シン
チレーションファイバプレートに入射したX線の軌跡に
対応するシンチレーションファイバにおける発光を積算
して検出することゝされているので、感度を高めること
ができる。
【0034】また、本発明に係る、被検査物体をスリッ
トの幅に平行に移動するX線検出器においては、被検査
物体のそれぞれの移動位置における検出画像を再構成手
段を用いて組み合わせることゝされているので、被検査
物体の高感度・高分解能の全体像を検出することができ
る。
【0035】さらに、画像縮小手段を有する本発明に係
るX線検出器においては撮像手段を小形化することがで
き、さらに光増幅手段を有する本発明に係るX線検出器
はシンチレーションファイバプレートの画像輝度が不十
分の場合に対応できる。
【0036】したがって、本発明は、放射状に被検査物
体に照射されたX線を高感度に、且つ、高分解能をもっ
て検出することができ、その結果、X線を用いたプリン
ト板検査装置の検査精度や検査効率を向上することがで
きるX線検出器を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例に係るX線検出器の構成説
明図である。
【図2】本発明の第2実施例に係るX線検出器の構成説
明図である。
【図3】本発明の第3実施例に係るX線検出器の構成説
明図である。
【図4】本発明の第4実施例に係るX線検出器の構成説
明図である。
【図5】シンチレーションファイバプレートに入射した
X線の軌跡に対応するシンチレーションファイバの説明
図である。
【図6】従来技術に係るシンチレーションファイバを使
用したX線検出器の構成説明図である。
【符号の説明】 1 遮光板 2 シンチレーションファイバプレート(本発明) 3 撮像手段(本発明) 4 発光量演算手段 5 被検査物体移動手段 6 再構成手段 7 画像縮小手段 8 光増幅手段8 9 第1の画像縮小手段 10 第2の画像縮小手段 11 スリット 15 X線源 16 被検査物体 17 シンチレーションファイバプレート(従来技
術) 18 撮像手段(従来技術) 21 シンチレーションファイバ(本発明) 171 シンチレーションファイバ(従来技術)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 安藤 護俊 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 放射状に被検査物体に照射されたX線を
    検出するX線検出器において、 前記被検査物体を透過したX線の一部を通すスリット
    (11)を有する遮光板(1)と、 前記スリット(11)を透過したX線の面に直交する方
    向に配置されたシンチレーションファイバ(21)が積
    層されて構成されたシンチレーションファイバプレート
    (2)と、 該シンチレーションファイバプレート(2)における画
    像を撮像する撮像手段(3)と、 該撮像手段(3)によって撮像された画像における、入
    射したX線の軌跡に対応するシンチレーションファイバ
    (21)中の発光量を積算する発光量演算手段(4)と
    を有することを特徴とするX線検出器。
  2. 【請求項2】 前記被検査物体を前記スリット(11)
    の幅方向に平行な方向に移動する被検査物体移動手段
    (5)と、 前記被検査物体の移動にともなって前記被検査物体のそ
    れぞれの移動位置において検出された画像を組み合わせ
    て、前記被検査物体の全体像を構成する再構成手段
    (6)とを有することを特徴とする請求項1記載のX線
    検出器。
  3. 【請求項3】 前記シンチレーションファイバプレート
    (2)における画像を、画像縮小手段(7)を介して撮
    像することを特徴とする請求項1または2記載のX線検
    出器。
  4. 【請求項4】 前記シンチレーションファイバプレート
    (2)における画像を、画像縮小手段(7)と該画像縮
    小手段(7)の出力を増幅する光増幅手段(8)とを介
    して撮像することを特徴とする請求項1または2記載の
    X線検出器。
  5. 【請求項5】 前記シンチレーションファイバプレート
    (2)における画像を、第1の画像縮小手段(9)と該
    第1の画像縮小手段(9)の出力を増幅する光増幅手段
    (8)と該光増幅手段(8)の出力画像を縮小する第2
    の画像縮小手段(10)とを介して撮像することを特徴
    とする請求項1または2記載のX線検出器。
  6. 【請求項6】 前記シンチレーションファイバ(21)
    に替えて、光ファイバのコア内にX線照射により蛍光を
    発生するX線蛍光物質を含有するX線蛍光光ファイバを
    使用することを特徴とする請求項1、2、3、4または
    5記載のX線検出器。
JP843193A 1993-01-21 1993-01-21 X線検出器 Withdrawn JPH06214028A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10160845A (ja) * 1996-12-04 1998-06-19 Mitsubishi Electric Corp シンチレーションファイバ束の劣化診断装置およびその劣化診断方法、並びに放射線の深部線量測定装置の校正装置
WO2013147277A1 (ja) * 2012-03-31 2013-10-03 Sasaki Makoto 放射線計測装置及び放射線計測システム
JP2016125880A (ja) * 2014-12-26 2016-07-11 国立大学法人 東京大学 放射線計測システム及び光学系

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JPWO2013147277A1 (ja) * 2012-03-31 2015-12-14 真人 佐々木 放射線計測装置及び放射線計測システム
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