JPH06214149A - 測距装置 - Google Patents
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- JPH06214149A JPH06214149A JP5005374A JP537493A JPH06214149A JP H06214149 A JPH06214149 A JP H06214149A JP 5005374 A JP5005374 A JP 5005374A JP 537493 A JP537493 A JP 537493A JP H06214149 A JPH06214149 A JP H06214149A
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- distance measuring
- distance
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/30—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
- G02B7/32—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/46—Indirect determination of position data
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/491—Details of non-pulse systems
- G01S7/493—Extracting wanted echo signals
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- Focusing (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 被写体で反射される光束の欠けを防止して常
に正確な測距結果が得られる測距装置を提供する。 【構成】 被写界中の複数箇所に投光する投光手段10
1と、複数箇所に位置する被写体からの反射光をそれぞ
れ受光して各受光信号を出力する受光手段102とを備
え、受光手段102からの受光信号に基づいて被写体ま
での距離を測定する測距装置において、上記複数箇所の
うち受光信号が所定値以上の箇所を検索するとともに、
その検索箇所からいずれかを測距対象箇所として選択す
る選択手段103と、選択された測距対象箇所に対する
受光信号に基づいて被写体距離を測定する測定手段10
4とを具備する。
に正確な測距結果が得られる測距装置を提供する。 【構成】 被写界中の複数箇所に投光する投光手段10
1と、複数箇所に位置する被写体からの反射光をそれぞ
れ受光して各受光信号を出力する受光手段102とを備
え、受光手段102からの受光信号に基づいて被写体ま
での距離を測定する測距装置において、上記複数箇所の
うち受光信号が所定値以上の箇所を検索するとともに、
その検索箇所からいずれかを測距対象箇所として選択す
る選択手段103と、選択された測距対象箇所に対する
受光信号に基づいて被写体距離を測定する測定手段10
4とを具備する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被写体に向けて投光
し、被写体からの反射光を受光して被写体距離を測定す
る、いわゆるアクティブタイプの測距装置に関する。
し、被写体からの反射光を受光して被写体距離を測定す
る、いわゆるアクティブタイプの測距装置に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の従来の測距装置として、例えば
特開平2−222806号公報に開示されたものが知ら
れている。この装置は、被写界中の複数領域に向けて投
光光束を選択的に照射する投光素子と、投光された各被
写体からの各反射光をそれぞれ受光する受光素子とを備
え、受光素子の出力(受光信号)が大きく変動した領域
を検出し、この領域に対する投光光束の向きに基づいて
被写体距離を測定するものである。これによれば、上記
投光された複数の領域のうち最も近距離の被写体を測距
できるので、例えば二人並んだ人物を撮影した場合に人
物の間の部分(背景)にピントが合う、いわゆる中抜け
が防止できる。
特開平2−222806号公報に開示されたものが知ら
れている。この装置は、被写界中の複数領域に向けて投
光光束を選択的に照射する投光素子と、投光された各被
写体からの各反射光をそれぞれ受光する受光素子とを備
え、受光素子の出力(受光信号)が大きく変動した領域
を検出し、この領域に対する投光光束の向きに基づいて
被写体距離を測定するものである。これによれば、上記
投光された複数の領域のうち最も近距離の被写体を測距
できるので、例えば二人並んだ人物を撮影した場合に人
物の間の部分(背景)にピントが合う、いわゆる中抜け
が防止できる。
【0003】また特開平2−293615号公報には、
投光素子の投光光束を例えば水平方向に複数に分割して
照射するとともに、この投光素子を垂直方向に移動さ
せ、これにより被写界縦方向および横方向の複数の領域
を測距できるようにした測距装置が開示されている。こ
れらの複数の測距結果から最も近距離の被写体距離を選
択することにより上述と同様に中抜けを防止できる。
投光素子の投光光束を例えば水平方向に複数に分割して
照射するとともに、この投光素子を垂直方向に移動さ
せ、これにより被写界縦方向および横方向の複数の領域
を測距できるようにした測距装置が開示されている。こ
れらの複数の測距結果から最も近距離の被写体距離を選
択することにより上述と同様に中抜けを防止できる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、この種のア
クティブタイプの測距装置では、投光素子から発せられ
た光束が主要被写体と背景との境界部分に照射される
と、主要被写体から反射されて受光素子に受光される光
束は投光光束の一部のみとなってしまう。この場合に
は、受光光束の受光素子上における重心位置が全量反射
された場合に対してずれ、このため正確な測距結果が得
られずにピンボケとなるおそれがある。しかし、上述し
た各公報に開示された装置では、このような受光光束の
欠けに起因する誤測距については何ら考慮されていな
い。
クティブタイプの測距装置では、投光素子から発せられ
た光束が主要被写体と背景との境界部分に照射される
と、主要被写体から反射されて受光素子に受光される光
束は投光光束の一部のみとなってしまう。この場合に
は、受光光束の受光素子上における重心位置が全量反射
された場合に対してずれ、このため正確な測距結果が得
られずにピンボケとなるおそれがある。しかし、上述し
た各公報に開示された装置では、このような受光光束の
欠けに起因する誤測距については何ら考慮されていな
い。
【0005】本発明の目的は、被写体で反射される光束
の欠けを防止して常に正確な測距結果が得られる測距装
置を提供することにある。
の欠けを防止して常に正確な測距結果が得られる測距装
置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】クレーム対応図である図
1により説明すると、本発明は、被写界中の複数箇所に
投光する投光手段101と、複数箇所に位置する被写体
からの反射光をそれぞれ受光して各受光信号を出力する
受光手段102とを備え、受光手段102からの受光信
号に基づいて被写体までの距離を測定する測距装置に適
用される。そして、上記複数箇所のうち受光信号が所定
値以上の箇所を検索するとともに、その検索箇所からい
ずれかを測距対象箇所として選択する選択手段103
と、選択された測距対象箇所に対する受光信号に基づい
て被写体距離を測定する測定手段104とを具備し、こ
れにより上記問題点を解決する。特に請求項2は、上記
受光信号の所定値を、上記複数箇所に対する受光信号の
最大値から予め設定された値を差し引いた値としたもの
である。また請求項3は、受光信号が所定値以上の箇所
が互いに隣接して複数存在する場合には、それらの中央
に位置する箇所を測距対象箇所として選択するようにし
たものである。さらに請求項4は、上記選択手段を、受
光信号が所定値以上で互いに隣接する箇所をそれぞれ記
憶する記憶部と、この記憶部に記憶された箇所の個数が
所定値に達すると、各記憶箇所のうち中央に位置する箇
所を測距対象箇所として選択する選択部とから構成した
ものである。さらにまた、請求項5は、被写界中の複数
箇所に投光されるよう投光手段を回動させる駆動手段を
備えるとともに、撮影画角が狭くなるほど上記投光手段
の回動範囲を狭くするようにしたものである。
1により説明すると、本発明は、被写界中の複数箇所に
投光する投光手段101と、複数箇所に位置する被写体
からの反射光をそれぞれ受光して各受光信号を出力する
受光手段102とを備え、受光手段102からの受光信
号に基づいて被写体までの距離を測定する測距装置に適
用される。そして、上記複数箇所のうち受光信号が所定
値以上の箇所を検索するとともに、その検索箇所からい
ずれかを測距対象箇所として選択する選択手段103
と、選択された測距対象箇所に対する受光信号に基づい
て被写体距離を測定する測定手段104とを具備し、こ
れにより上記問題点を解決する。特に請求項2は、上記
受光信号の所定値を、上記複数箇所に対する受光信号の
最大値から予め設定された値を差し引いた値としたもの
である。また請求項3は、受光信号が所定値以上の箇所
が互いに隣接して複数存在する場合には、それらの中央
に位置する箇所を測距対象箇所として選択するようにし
たものである。さらに請求項4は、上記選択手段を、受
光信号が所定値以上で互いに隣接する箇所をそれぞれ記
憶する記憶部と、この記憶部に記憶された箇所の個数が
所定値に達すると、各記憶箇所のうち中央に位置する箇
所を測距対象箇所として選択する選択部とから構成した
ものである。さらにまた、請求項5は、被写界中の複数
箇所に投光されるよう投光手段を回動させる駆動手段を
備えるとともに、撮影画角が狭くなるほど上記投光手段
の回動範囲を狭くするようにしたものである。
【0007】
【作用】投光手段101により被写界中の複数箇所に投
光され、各箇所に位置する被写体からの反射光が受光手
段102により受光され、受光手段102から各受光信
号が出力される。検索手段103は、上記複数箇所のう
ち受光信号が所定値以上の箇所を検索するとともに、そ
の検索箇所からいずれかを測距対象箇所として選択す
る。測定手段104は、上記選択された測距対象箇所に
対する受光信号に基づいて被写体距離を測定する。ここ
で、受光信号が所定値以上ということは、投光された光
束が反射時に欠けることなくほぼ全量受光手段102に
受光されたと考えることができるから、その受光信号に
基づいて被写体距離を求めれば誤測距となることはな
い。
光され、各箇所に位置する被写体からの反射光が受光手
段102により受光され、受光手段102から各受光信
号が出力される。検索手段103は、上記複数箇所のう
ち受光信号が所定値以上の箇所を検索するとともに、そ
の検索箇所からいずれかを測距対象箇所として選択す
る。測定手段104は、上記選択された測距対象箇所に
対する受光信号に基づいて被写体距離を測定する。ここ
で、受光信号が所定値以上ということは、投光された光
束が反射時に欠けることなくほぼ全量受光手段102に
受光されたと考えることができるから、その受光信号に
基づいて被写体距離を求めれば誤測距となることはな
い。
【0008】
【実施例】図2〜図9により本発明の一実施例を説明す
る。図2は本発明に係る測距装置の構成を示すブロック
図であり、カメラ本体に内蔵された制御回路1には、測
距部10と、測距部駆動モータ2と、フォトインタラプ
タ3とが接続されている。測距部10は図3に示すよう
に、投光レンズ11を介して被写体に向けて赤外光を照
射する投光素子12と、受光レンズ13を介して被写体
からの反射赤外光を受光する受光素子14とを有してい
る。
る。図2は本発明に係る測距装置の構成を示すブロック
図であり、カメラ本体に内蔵された制御回路1には、測
距部10と、測距部駆動モータ2と、フォトインタラプ
タ3とが接続されている。測距部10は図3に示すよう
に、投光レンズ11を介して被写体に向けて赤外光を照
射する投光素子12と、受光レンズ13を介して被写体
からの反射赤外光を受光する受光素子14とを有してい
る。
【0009】15はこれらの投光素子12,受光素子1
4,および投光/受光レンズ11,13が固定される台
座であり、この台座15に突設された軸の先端に歯車1
6が設けられている。歯車16には、測距部駆動モータ
2の出力軸に取付けられた歯車2aが噛合しており、し
たがってモータ2が回転すると、歯車2a,16を介し
て台座15、すなわち測距部10が軸Xを中心として水
平面内で回動する。31,32は、台座15のA方向お
よびB方向の回動をそれぞれ規制するストッパである。
フォトインタラプタ3は、例えば上記歯車2aに等角度
間隔で穿設された複数の孔部を検出してパルス信号を出
力する。すなわち、測距部10の回動量に応じた数のパ
ルスがフォトインタラプタ3から出力されることにな
る。
4,および投光/受光レンズ11,13が固定される台
座であり、この台座15に突設された軸の先端に歯車1
6が設けられている。歯車16には、測距部駆動モータ
2の出力軸に取付けられた歯車2aが噛合しており、し
たがってモータ2が回転すると、歯車2a,16を介し
て台座15、すなわち測距部10が軸Xを中心として水
平面内で回動する。31,32は、台座15のA方向お
よびB方向の回動をそれぞれ規制するストッパである。
フォトインタラプタ3は、例えば上記歯車2aに等角度
間隔で穿設された複数の孔部を検出してパルス信号を出
力する。すなわち、測距部10の回動量に応じた数のパ
ルスがフォトインタラプタ3から出力されることにな
る。
【0010】ここで本実施例では、測距を行うにあた
り、投光素子12が赤外光を射出する状態で、上記測距
部10をストッパ32に当接する位置からストッパ31
に当接する位置までA方向に回動させる。これにより、
投光素子12からの照射赤外光が図4に示す撮影画面上
の点Pから点Qまで水平方向に連続的に照射され、各照
射赤外光は、それぞれの位置に存在する被写体で反射さ
れて受光素子14に受光され、受光素子14はその受光
量に応じた受光信号をそれぞれ出力する。図5は点Pか
ら点Qにかけての各受光信号の大きさを示し、図示E2
は、点Pから点Qのうち受光信号がmax−dd以上の
領域を示している。ここで、maxは全受光信号のうち
の最大値、ddは予め決められた固定値である。本実施
例では、このように受光信号がmax−dd以上の領域
(図5では領域E2)を検索するとともに、その領域の
中央位置(図5では点P6)を測距対象箇所として選択
するようにしている。以下、その詳細な手順について図
6〜図9のフローチャートを用いて説明する。
り、投光素子12が赤外光を射出する状態で、上記測距
部10をストッパ32に当接する位置からストッパ31
に当接する位置までA方向に回動させる。これにより、
投光素子12からの照射赤外光が図4に示す撮影画面上
の点Pから点Qまで水平方向に連続的に照射され、各照
射赤外光は、それぞれの位置に存在する被写体で反射さ
れて受光素子14に受光され、受光素子14はその受光
量に応じた受光信号をそれぞれ出力する。図5は点Pか
ら点Qにかけての各受光信号の大きさを示し、図示E2
は、点Pから点Qのうち受光信号がmax−dd以上の
領域を示している。ここで、maxは全受光信号のうち
の最大値、ddは予め決められた固定値である。本実施
例では、このように受光信号がmax−dd以上の領域
(図5では領域E2)を検索するとともに、その領域の
中央位置(図5では点P6)を測距対象箇所として選択
するようにしている。以下、その詳細な手順について図
6〜図9のフローチャートを用いて説明する。
【0011】図6はメインのフローチャートであり、例
えばレリーズ釦(不図示)が半押し操作されるとこのプ
ログラムが起動される。まずステップS201で投光素
子12を駆動して赤外光を発生せしめ、次いでステップ
S202で投光素子12の出力が安定するまで数mS待
つ。ステップS203ではモータ2を逆転させ、歯車2
a,16を介して台座15、すなわち測距部10を図3
のB方向に回動せしめる。
えばレリーズ釦(不図示)が半押し操作されるとこのプ
ログラムが起動される。まずステップS201で投光素
子12を駆動して赤外光を発生せしめ、次いでステップ
S202で投光素子12の出力が安定するまで数mS待
つ。ステップS203ではモータ2を逆転させ、歯車2
a,16を介して台座15、すなわち測距部10を図3
のB方向に回動せしめる。
【0012】ステップS204では測距部10が基準位
置に達するまで待つ。ここで基準位置とは、測距部10
がストッパ32に当接する位置、すなわち図4の点Pに
投光光束が照射される位置である。測距部10が基準位
置に達したことは、測距部10のストッパ32への当接
によりモータ2の回転が阻止され、フォトインタラプタ
3からパルスが出力されなくなったことで検出できる。
なお本実施例では、後述するように測距が終了した時点
で測距部10を基準位置に駆動するようにしているか
ら、本来はステップS203,S204の処理は不要で
あるが、何らかの原因で測距部10が基準位置にない場
合も考えられるので、これらの処理を行うようにしてい
る。
置に達するまで待つ。ここで基準位置とは、測距部10
がストッパ32に当接する位置、すなわち図4の点Pに
投光光束が照射される位置である。測距部10が基準位
置に達したことは、測距部10のストッパ32への当接
によりモータ2の回転が阻止され、フォトインタラプタ
3からパルスが出力されなくなったことで検出できる。
なお本実施例では、後述するように測距が終了した時点
で測距部10を基準位置に駆動するようにしているか
ら、本来はステップS203,S204の処理は不要で
あるが、何らかの原因で測距部10が基準位置にない場
合も考えられるので、これらの処理を行うようにしてい
る。
【0013】測距部10が基準位置に達すると、ステッ
プS205において、後述する図7〜図9の処理で用い
られる各変数の初期設定を行う。すなわち、変数cou
nt,max,max(1),maxp(1),sma
x(1),smaxp(1),BFをそれぞれ「0」に
設定するとともに、変数Bm,Bm2を「1」に設定す
る。
プS205において、後述する図7〜図9の処理で用い
られる各変数の初期設定を行う。すなわち、変数cou
nt,max,max(1),maxp(1),sma
x(1),smaxp(1),BFをそれぞれ「0」に
設定するとともに、変数Bm,Bm2を「1」に設定す
る。
【0014】これらの各変数の内容を説明すると、co
untはフォトインタラプタ3から出力されるパルスの
カウント値であり、その値が点Pから点Qまでの各位置
をそれぞれ示す。変数maxは上述したように受光信号
の最大値である。ここで、本実施例では点Pから点Qに
かけて順に処理を行うので、例えば図5の点P4以前の
処理では、点P1における受光信号がmaxとなる。ま
た変数maxp(1)には、受光信号がmax−dd以
上の領域(図5では領域E2)のうち最も点Q側の位置
が格納され、max(1)にはその位置における受光信
号の大きさが格納される。さらに、上記領域E2の最も
点P側の位置がmaxp(Bm)に格納されるととも
に、max(1)〜max(Bm)の間の各位置がそれ
ぞれmaxp(2),maxp(3)・・・に順に格納
される。Bmは上記領域の幅を示す。
untはフォトインタラプタ3から出力されるパルスの
カウント値であり、その値が点Pから点Qまでの各位置
をそれぞれ示す。変数maxは上述したように受光信号
の最大値である。ここで、本実施例では点Pから点Qに
かけて順に処理を行うので、例えば図5の点P4以前の
処理では、点P1における受光信号がmaxとなる。ま
た変数maxp(1)には、受光信号がmax−dd以
上の領域(図5では領域E2)のうち最も点Q側の位置
が格納され、max(1)にはその位置における受光信
号の大きさが格納される。さらに、上記領域E2の最も
点P側の位置がmaxp(Bm)に格納されるととも
に、max(1)〜max(Bm)の間の各位置がそれ
ぞれmaxp(2),maxp(3)・・・に順に格納
される。Bmは上記領域の幅を示す。
【0015】変数BFは、受光信号がmax−dd以上
の領域が確定されると「1」にセットされるフラグであ
り、図5に示す例では、点P1から点P4の間および点
P7から点Qの間はフラグBFは「1」とされ、その他
の位置では「0」とされる。またsmax(1),sm
axp(1)は、いったん受光信号がmax−dd以上
の領域(図5ではE1)が確定された後に最大値max
が更新された場合に備えて、上記max(1),max
p(1)と同様な値を格納しておくための変数である。
の領域が確定されると「1」にセットされるフラグであ
り、図5に示す例では、点P1から点P4の間および点
P7から点Qの間はフラグBFは「1」とされ、その他
の位置では「0」とされる。またsmax(1),sm
axp(1)は、いったん受光信号がmax−dd以上
の領域(図5ではE1)が確定された後に最大値max
が更新された場合に備えて、上記max(1),max
p(1)と同様な値を格納しておくための変数である。
【0016】次にステップS206では、モータ2をい
ったん停止させてから正転させるとともに、上記フォト
インタラプタ3からのパルス信号の割込みを許可する。
モータ2の正転により測距部10は図3のA方向に回動
し、投光素子12の照射光が点Pから点Qに向けて移動
する。またパルス割込み許可により、以降はパルス信号
が入力されるたびに図7の処理(後で詳述する)が割込
み起動される。この図7の処理を繰返し行うことによ
り、受光信号がmax−dd以上の領域が決定される。
その後、ステップS207では、測距部10が終了位置
(測距部10がストッパ31に当接する位置、すなわち
図4の点Qに投光光束が導かれる位置)に達したと判定
されるまで待ち、次いでステップS208でモータ2を
停止する。
ったん停止させてから正転させるとともに、上記フォト
インタラプタ3からのパルス信号の割込みを許可する。
モータ2の正転により測距部10は図3のA方向に回動
し、投光素子12の照射光が点Pから点Qに向けて移動
する。またパルス割込み許可により、以降はパルス信号
が入力されるたびに図7の処理(後で詳述する)が割込
み起動される。この図7の処理を繰返し行うことによ
り、受光信号がmax−dd以上の領域が決定される。
その後、ステップS207では、測距部10が終了位置
(測距部10がストッパ31に当接する位置、すなわち
図4の点Qに投光光束が導かれる位置)に達したと判定
されるまで待ち、次いでステップS208でモータ2を
停止する。
【0017】次にステップS209では投光素子12を
消灯させ、ステップS210では上記図7の処理で得ら
れた領域から測距対象箇所(図5では点P6)を決定す
るとともに、モータ2を逆転させて測距部10を測距位
置(上記測距対象箇所に投光赤外光が導かれる位置)に
向けて回動させる。ステップS211で測距部10が測
距位置に達するまで待ち、達するとステップS212で
モータ2を停止させる。ここで、測距対象箇所の求め方
については後で詳述するが、これは点Pからのパルスカ
ウント値で与えられる。したがって、上記モータ逆転に
より測距部10を点QからB方向に移動させ、その際に
フォトインタラプタ3からパルスが出力されるごとに上
記countをカウントダウンしてゆき、countの
値が上記得られた測距対象箇所のカウント値に達したと
きにモータ2を停止すれば、測距部10を上記測距位置
で停止させることができる。
消灯させ、ステップS210では上記図7の処理で得ら
れた領域から測距対象箇所(図5では点P6)を決定す
るとともに、モータ2を逆転させて測距部10を測距位
置(上記測距対象箇所に投光赤外光が導かれる位置)に
向けて回動させる。ステップS211で測距部10が測
距位置に達するまで待ち、達するとステップS212で
モータ2を停止させる。ここで、測距対象箇所の求め方
については後で詳述するが、これは点Pからのパルスカ
ウント値で与えられる。したがって、上記モータ逆転に
より測距部10を点QからB方向に移動させ、その際に
フォトインタラプタ3からパルスが出力されるごとに上
記countをカウントダウンしてゆき、countの
値が上記得られた測距対象箇所のカウント値に達したと
きにモータ2を停止すれば、測距部10を上記測距位置
で停止させることができる。
【0018】ステップS213では、投光素子12を作
動させて赤外光を照射せしめ、これにより測距を行う。
すなわち、投光素子12からの赤外光は被写体で反射さ
れた後、受光素子14で受光され、周知の如く例えば受
光素子14の両端から各受光信号I1,I2が出力され
る。これらの受光信号I1,I2から上記反射赤外光の
受光素子上の受光位置が求められ、これに基づいて被写
体距離が求められる。次いで、ステップS214でモー
タ2を逆転させて測距部10をB方向に回転させ、ステ
ップS215で上記基準位置に達するまで待つ。基準位
置に達するとステップS216でモータ2を停止させ、
処理を終了する。なお、上記求められた被写体距離に基
づいて撮影レンズのフォ−カシングが行われるが、その
処理内容は周知であり、また本発明とは直接関係ないの
で、詳細な説明は省略する。
動させて赤外光を照射せしめ、これにより測距を行う。
すなわち、投光素子12からの赤外光は被写体で反射さ
れた後、受光素子14で受光され、周知の如く例えば受
光素子14の両端から各受光信号I1,I2が出力され
る。これらの受光信号I1,I2から上記反射赤外光の
受光素子上の受光位置が求められ、これに基づいて被写
体距離が求められる。次いで、ステップS214でモー
タ2を逆転させて測距部10をB方向に回転させ、ステ
ップS215で上記基準位置に達するまで待つ。基準位
置に達するとステップS216でモータ2を停止させ、
処理を終了する。なお、上記求められた被写体距離に基
づいて撮影レンズのフォ−カシングが行われるが、その
処理内容は周知であり、また本発明とは直接関係ないの
で、詳細な説明は省略する。
【0019】図7は上記ステップS206とS207の
間でフォトインタラプタ3のパルスが入力されるたびに
行われる割込み処理の詳細を示している。パルスの入力
に伴って図7のステップS301から処理がスタート
し、まずステップS301でモータ2が正転中か逆転中
かを判定する。逆転中の場合、すなわち測距部10がB
方向に回動しているときにはステップS305でパルス
カウント値countをカウントダウンして図6の処理
にリターンする。一方、モータ2が正転中の場合、すな
わち測距部10がA方向に回動しているときにはステッ
プS302に進んでcountをカウントアップし、次
いでステップS303で受光素子14の受光信号を取り
込む。その後、ステップS304で受光信号判定処理を
行ってから図6の処理にリターンする。
間でフォトインタラプタ3のパルスが入力されるたびに
行われる割込み処理の詳細を示している。パルスの入力
に伴って図7のステップS301から処理がスタート
し、まずステップS301でモータ2が正転中か逆転中
かを判定する。逆転中の場合、すなわち測距部10がB
方向に回動しているときにはステップS305でパルス
カウント値countをカウントダウンして図6の処理
にリターンする。一方、モータ2が正転中の場合、すな
わち測距部10がA方向に回動しているときにはステッ
プS302に進んでcountをカウントアップし、次
いでステップS303で受光素子14の受光信号を取り
込む。その後、ステップS304で受光信号判定処理を
行ってから図6の処理にリターンする。
【0020】図8および図9により上記受光信号判定処
理の詳細を説明する。まずステップS401で上記読み
込んだ受光素子14の受光信号(例えば上記I1+I
2)を変数Imに格納し、ステップS402でImが最
大値max(当初はゼロリセットされている)以上か否
かを判定する。ステップS402が肯定されるとステッ
プS403でmaxにImを格納し、次いでステップS
404でフラグBFを判定する。フラグBFが「0」と
判定されるとステップS407に進み、変数Bmをiに
格納するとともに、Bmを「1」だけ歩進する。ステッ
プS408では、現時点での受光信号の最大値maxか
ら所定値dd(図5参照)を差し引いた値とmax
(i)とを比較する。すなわち、以前に読み込み記憶さ
れた受光信号max(i)がmax−ddより小さいか
否かを判定する。max−dd>max(i)であれば
ステップS409へ進み、max−dd≦max(i)
であればステップS410に進む。
理の詳細を説明する。まずステップS401で上記読み
込んだ受光素子14の受光信号(例えば上記I1+I
2)を変数Imに格納し、ステップS402でImが最
大値max(当初はゼロリセットされている)以上か否
かを判定する。ステップS402が肯定されるとステッ
プS403でmaxにImを格納し、次いでステップS
404でフラグBFを判定する。フラグBFが「0」と
判定されるとステップS407に進み、変数Bmをiに
格納するとともに、Bmを「1」だけ歩進する。ステッ
プS408では、現時点での受光信号の最大値maxか
ら所定値dd(図5参照)を差し引いた値とmax
(i)とを比較する。すなわち、以前に読み込み記憶さ
れた受光信号max(i)がmax−ddより小さいか
否かを判定する。max−dd>max(i)であれば
ステップS409へ進み、max−dd≦max(i)
であればステップS410に進む。
【0021】ステップS409では、max(i+1)
およびmaxp(i+1)をそれぞれ「0」に設定する
とともに、Bmにiの値を格納する。またステップS4
10では、max(i)の値をmax(i+1)にひと
つずらすとともに、maxp(i)の値もmaxp(i
+1)にずらす。その後、ステップS411でiを「−
1」だけ歩進し、ステップS412でiの値を判定す
る。i≠0であればステップS408に戻り、i=0で
あればステップS413に進む。ステップS413で
は、今回の受光信号Imをmax(1)に格納するとと
もに、現在のパルスカウント値countをmaxp
(1)に格納して図7の処理にリターンする。ここで、
例えば図5の点Pから点P1のように受光信号が当初か
ら増加しているときには、上記ステップS402が必ず
肯定されてmaxの値が更新されるから、上述したステ
ップS407〜S413の処理が連続して行われること
になる。この処理は、上述したmaxp(1)〜max
p(Bm)を求めるための処理である。
およびmaxp(i+1)をそれぞれ「0」に設定する
とともに、Bmにiの値を格納する。またステップS4
10では、max(i)の値をmax(i+1)にひと
つずらすとともに、maxp(i)の値もmaxp(i
+1)にずらす。その後、ステップS411でiを「−
1」だけ歩進し、ステップS412でiの値を判定す
る。i≠0であればステップS408に戻り、i=0で
あればステップS413に進む。ステップS413で
は、今回の受光信号Imをmax(1)に格納するとと
もに、現在のパルスカウント値countをmaxp
(1)に格納して図7の処理にリターンする。ここで、
例えば図5の点Pから点P1のように受光信号が当初か
ら増加しているときには、上記ステップS402が必ず
肯定されてmaxの値が更新されるから、上述したステ
ップS407〜S413の処理が連続して行われること
になる。この処理は、上述したmaxp(1)〜max
p(Bm)を求めるための処理である。
【0022】一方、例えば点P1から図示のように受光
信号が減少したような場合には、ステップS402が否
定されて図9のステップS414以降の処理に進む。ス
テップS414では、今回の受光信号Imとmax−d
dと比較し、例えば点P1から点P2の間のようにIm
≧max−ddであれば、ステップS415に進む。ス
テップS415ではフラグBFを判定し、「0」であれ
ば上記ステップS407に進み、ステップS407以降
の処理を行う。
信号が減少したような場合には、ステップS402が否
定されて図9のステップS414以降の処理に進む。ス
テップS414では、今回の受光信号Imとmax−d
dと比較し、例えば点P1から点P2の間のようにIm
≧max−ddであれば、ステップS415に進む。ス
テップS415ではフラグBFを判定し、「0」であれ
ば上記ステップS407に進み、ステップS407以降
の処理を行う。
【0023】また、ステップS414でIm<max−
ddと判定された場合(例えば点P2からP3)には、
ステップS420に進んでフラグBFを「1」に設定す
る。次いでステップS421では、変数Bm2を「1」
とするとともに、smax(1)およびsmaxp
(1)を共に「0」として図7の処理にリターンする。
ここで、図5の例では、点P2における処理によって初
めて領域E1が確定され、maxp(1)〜maxp
(Bm)が確定する。ただし、その後に最大値maxが
更新された場合には、maxp(1)〜maxp(B
m)も更新される。
ddと判定された場合(例えば点P2からP3)には、
ステップS420に進んでフラグBFを「1」に設定す
る。次いでステップS421では、変数Bm2を「1」
とするとともに、smax(1)およびsmaxp
(1)を共に「0」として図7の処理にリターンする。
ここで、図5の例では、点P2における処理によって初
めて領域E1が確定され、maxp(1)〜maxp
(Bm)が確定する。ただし、その後に最大値maxが
更新された場合には、maxp(1)〜maxp(B
m)も更新される。
【0024】上記ステップS420でフラグBFが
「1」となった後にステップS414が肯定された場合
(例えば点P3から点P4)には、ステップS415が
肯定されてステップS416以降の処理が行われる。ス
テップS416では変数Bm2の値をiに格納するとと
もにBm2を「1」だけ歩進し、次いでステップS41
7に進む。ステップS417では、smax(i)の値
をsmax(i+1)にひとつずらすとともに、sma
xp(i)の値もsmaxp(i+1)にずらし、また
iを「−1」だけ歩進してステップS418に進む。ス
テップS418でi≠0と判定されるとステップS41
7に戻り、i=0と判定されるとステップS419に進
む。ステップS419では、今回の受光信号Imをsm
ax(1)に格納するとともに、現在のパルスカウント
値countをsmaxp(1)に格納して図7の処理
にリターンする。
「1」となった後にステップS414が肯定された場合
(例えば点P3から点P4)には、ステップS415が
肯定されてステップS416以降の処理が行われる。ス
テップS416では変数Bm2の値をiに格納するとと
もにBm2を「1」だけ歩進し、次いでステップS41
7に進む。ステップS417では、smax(i)の値
をsmax(i+1)にひとつずらすとともに、sma
xp(i)の値もsmaxp(i+1)にずらし、また
iを「−1」だけ歩進してステップS418に進む。ス
テップS418でi≠0と判定されるとステップS41
7に戻り、i=0と判定されるとステップS419に進
む。ステップS419では、今回の受光信号Imをsm
ax(1)に格納するとともに、現在のパルスカウント
値countをsmaxp(1)に格納して図7の処理
にリターンする。
【0025】その後、測光信号Imが先の最大値(ma
x)を超えた場合(図5の点P4以降)には、再びステ
ップS402が肯定されてステップS403でmaxが
更新され、このときBF=1であるからステップS40
4が肯定されてステップS405に進む。ステップS4
05では、smax(*)(ただし、*=1,2,・・
・,Bm)の各値をmax(*)に移し変えるととも
に、smaxp(*)の各値をmaxp(*)に移し変
え、またBm2の値をBmに移し変える。その後、ステ
ップS406でフラグBFを「0」に設定し、上述と同
様にステップS407以降の処理を行う。
x)を超えた場合(図5の点P4以降)には、再びステ
ップS402が肯定されてステップS403でmaxが
更新され、このときBF=1であるからステップS40
4が肯定されてステップS405に進む。ステップS4
05では、smax(*)(ただし、*=1,2,・・
・,Bm)の各値をmax(*)に移し変えるととも
に、smaxp(*)の各値をmaxp(*)に移し変
え、またBm2の値をBmに移し変える。その後、ステ
ップS406でフラグBFを「0」に設定し、上述と同
様にステップS407以降の処理を行う。
【0026】以上の図7〜図9の処理は点Qまで繰返し
行われ、最終的に受光信号がmax−ddの領域が確定
される。図5の例では、点P7の位置がmaxp(1)
が、点P5の位置がmax(Bm)にそれぞれ格納され
る。
行われ、最終的に受光信号がmax−ddの領域が確定
される。図5の例では、点P7の位置がmaxp(1)
が、点P5の位置がmax(Bm)にそれぞれ格納され
る。
【0027】その後、上述したように図6のステップS
210で測距位置の決定を行う。測距位置は、上記受光
信号がmax−ddを超える領域の中央部(図5の例で
は点P6)であり、これは、
210で測距位置の決定を行う。測距位置は、上記受光
信号がmax−ddを超える領域の中央部(図5の例で
は点P6)であり、これは、
【数1】{max(1)−max(Bm)}/2+ma
x(Bm) により求められる。そして、求められた箇所に投光可能
な位置(測距位置)に測距部10が回転され、その位置
で測距が行われる。
x(Bm) により求められる。そして、求められた箇所に投光可能
な位置(測距位置)に測距部10が回転され、その位置
で測距が行われる。
【0028】以上の手順によれば、測距部10の回動に
より被写界中の複数箇所に投光され、各箇所に位置する
被写体からの反射光が受光素子14により受光され、各
受光信号が出力される。そして、各受光信号の大きさが
max−dd以上の領域が検索され、その中央箇所が測
距対象箇所として選択され、その測距対象箇所にて測距
が行われる。受光信号がmax−dd以上ということ
は、投光された光束が反射時に欠けることなくほぼ全量
受光素子14に受光されたと考えることができるから、
その受光信号に基づいて被写体距離を求めれば、反射光
の欠けに起因する誤測距が防止できる。
より被写界中の複数箇所に投光され、各箇所に位置する
被写体からの反射光が受光素子14により受光され、各
受光信号が出力される。そして、各受光信号の大きさが
max−dd以上の領域が検索され、その中央箇所が測
距対象箇所として選択され、その測距対象箇所にて測距
が行われる。受光信号がmax−dd以上ということ
は、投光された光束が反射時に欠けることなくほぼ全量
受光素子14に受光されたと考えることができるから、
その受光信号に基づいて被写体距離を求めれば、反射光
の欠けに起因する誤測距が防止できる。
【0029】また、上記受光信号がmax−dd以上の
領域は、受光信号がmax−dd以上の箇所が複数個隣
接して存在するということであり、これは、その領域が
一つの物体を表していると考えることができる。したが
って、上述の如くその領域の中央部を測距対象領域にす
れば、その物体のほぼ中央部を測距することになり、上
記反射光が欠ける可能性は極めて低く、誤測距防止効果
が高められる。さらに、被写界中に例えば人物が二人並
んでいる場面を想定した場合、その人物の前方や背景に
高反射率の物体がないかぎりは人物の位置に相当する箇
所の反射光が背景と比べて大きくなる。したがって上記
制御によれば、人物が存在する箇所が測距対象箇所とな
る可能性が高く、中抜け防止効果も得られる。
領域は、受光信号がmax−dd以上の箇所が複数個隣
接して存在するということであり、これは、その領域が
一つの物体を表していると考えることができる。したが
って、上述の如くその領域の中央部を測距対象領域にす
れば、その物体のほぼ中央部を測距することになり、上
記反射光が欠ける可能性は極めて低く、誤測距防止効果
が高められる。さらに、被写界中に例えば人物が二人並
んでいる場面を想定した場合、その人物の前方や背景に
高反射率の物体がないかぎりは人物の位置に相当する箇
所の反射光が背景と比べて大きくなる。したがって上記
制御によれば、人物が存在する箇所が測距対象箇所とな
る可能性が高く、中抜け防止効果も得られる。
【0030】以上の実施例の構成において、投光素子1
2が投光手段101を、受光素子14が受光手段102
を、制御回路1が選択手段103および測定手段104
をそれぞれ構成する。
2が投光手段101を、受光素子14が受光手段102
を、制御回路1が選択手段103および測定手段104
をそれぞれ構成する。
【0031】また図10は別実施例を示している。図1
0(a)は上記図8のステップS407をステップS4
07’に変更したものであり、その他の箇所は図8と同
様であるので図示を省略してある。ステップS407’
を説明すると、まずステップS4071で変数Bmの値
をiに格納し、次いでステップS4072でBmを所定
値xと比較する。Bm≦xと判定されるとステップS4
073でBmを「1」だけ歩進して上記ステップS40
8に進み、Bm>xと判定されるとステップS4074
でiを「−1」だけ歩進してステップS408に進む。
また図10(b)は図9のステップS416をステップ
S416’に変更したものであり、ステップS4161
〜S4164は、BmがBm2となる以外は上記ステッ
プS4071〜S4074と同様である。
0(a)は上記図8のステップS407をステップS4
07’に変更したものであり、その他の箇所は図8と同
様であるので図示を省略してある。ステップS407’
を説明すると、まずステップS4071で変数Bmの値
をiに格納し、次いでステップS4072でBmを所定
値xと比較する。Bm≦xと判定されるとステップS4
073でBmを「1」だけ歩進して上記ステップS40
8に進み、Bm>xと判定されるとステップS4074
でiを「−1」だけ歩進してステップS408に進む。
また図10(b)は図9のステップS416をステップ
S416’に変更したものであり、ステップS4161
〜S4164は、BmがBm2となる以外は上記ステッ
プS4071〜S4074と同様である。
【0032】この手順によれば、受光素子14からの受
光信号がmax−dd以上で互いに隣接する箇所を変数
maxp(*)に格納(記憶)してゆく処理において、
その箇所の個数Bmがx個に達すると、それ以上Bmが
増加することはない。したがって最終的には、受光信号
がmax−dd以上の領域のうち、その一端側からx個
分の領域が記憶され、その領域の中央箇所が測距対象箇
所とされる。ここで、上記xの値を例えば受光光束の幅
よりもやや大きい値とすれば、決定された測距対象領域
に照射された反射光は、ある物体と背景との境界部分よ
りやや物体中心側に照射されることになるから、その物
体からの反射光が欠けることはなく、上述と同様に誤測
距が防止できる。そして本実施例では、受光信号がma
x−dd以上の領域が大きい場合(Bmが大きい場合)
でもその一部分の箇所のみを記憶すればよいから、上述
の実施例と比べて記憶容量の小さいメモリでも対応で
き、コストダウンが図れる。
光信号がmax−dd以上で互いに隣接する箇所を変数
maxp(*)に格納(記憶)してゆく処理において、
その箇所の個数Bmがx個に達すると、それ以上Bmが
増加することはない。したがって最終的には、受光信号
がmax−dd以上の領域のうち、その一端側からx個
分の領域が記憶され、その領域の中央箇所が測距対象箇
所とされる。ここで、上記xの値を例えば受光光束の幅
よりもやや大きい値とすれば、決定された測距対象領域
に照射された反射光は、ある物体と背景との境界部分よ
りやや物体中心側に照射されることになるから、その物
体からの反射光が欠けることはなく、上述と同様に誤測
距が防止できる。そして本実施例では、受光信号がma
x−dd以上の領域が大きい場合(Bmが大きい場合)
でもその一部分の箇所のみを記憶すればよいから、上述
の実施例と比べて記憶容量の小さいメモリでも対応で
き、コストダウンが図れる。
【0033】なお、例えばズームレンズを有するカメラ
の場合には、ズームレンズの焦点距離に応じて画角が変
化するから、上記制御を行うに当って測距部10の回動
範囲を焦点距離に応じて変更する必要がある。すなわ
ち、焦点距離が大きくなるほど(撮影画角が狭くなるほ
ど)、それに合わせて測距部10の回動範囲を狭くする
必要がある。この場合には、例えば図11に示すように
撮影レンズの焦点距離を検出する検出器51を設けると
ともに、モータ52により図示矢印方向に移動可能なス
トッパ53,54を設け、検出された焦点距離が大きく
なるほどストッパ53,54を測距部10に近づけるよ
うにすればよい。
の場合には、ズームレンズの焦点距離に応じて画角が変
化するから、上記制御を行うに当って測距部10の回動
範囲を焦点距離に応じて変更する必要がある。すなわ
ち、焦点距離が大きくなるほど(撮影画角が狭くなるほ
ど)、それに合わせて測距部10の回動範囲を狭くする
必要がある。この場合には、例えば図11に示すように
撮影レンズの焦点距離を検出する検出器51を設けると
ともに、モータ52により図示矢印方向に移動可能なス
トッパ53,54を設け、検出された焦点距離が大きく
なるほどストッパ53,54を測距部10に近づけるよ
うにすればよい。
【0034】また以上では、測距信号がmax−ddの
箇所を測距対象領域とする例を示したが、測距信号がm
axの箇所を測距対象領域としてもよい。さらに、測距
部10を水平面内で回動させ、図4の如く撮影画面横方
向に順に赤外光を照射するようにしたが、測距部10を
垂直面内で回動させて撮影画面縦方向に赤外光を照射す
るようにしてもよい。さらにまた、水平面内および垂直
面内の双方で測距部10を回動可能とし、カメラの姿勢
に応じて回動方向を切換えるようにしてもよい。これを
実現するには、例えば周知の水銀スイッチでカメラの姿
勢を検出し、横姿勢であれば実施例のように測距部10
を水平面内で回動させ、縦姿勢であれば測距部10を垂
直面内で回動させるようにすればよい。また以上では、
測距部全体を回動させるようにしたが、投光部(投光素
子、投光レンズなど)のみを回動させるようにしてもよ
い。
箇所を測距対象領域とする例を示したが、測距信号がm
axの箇所を測距対象領域としてもよい。さらに、測距
部10を水平面内で回動させ、図4の如く撮影画面横方
向に順に赤外光を照射するようにしたが、測距部10を
垂直面内で回動させて撮影画面縦方向に赤外光を照射す
るようにしてもよい。さらにまた、水平面内および垂直
面内の双方で測距部10を回動可能とし、カメラの姿勢
に応じて回動方向を切換えるようにしてもよい。これを
実現するには、例えば周知の水銀スイッチでカメラの姿
勢を検出し、横姿勢であれば実施例のように測距部10
を水平面内で回動させ、縦姿勢であれば測距部10を垂
直面内で回動させるようにすればよい。また以上では、
測距部全体を回動させるようにしたが、投光部(投光素
子、投光レンズなど)のみを回動させるようにしてもよ
い。
【0035】
【発明の効果】本発明によれば、投光手段の照射光を被
写界中の複数領域に照射するとともに、複数箇所のうち
受光信号が所定値以上の箇所を検索し、その検索箇所か
らいずれかを測距対象箇所として選択するようにしたの
で、欠けのない反射光に基づいて測距が行える可能性が
高くなり、したがって受光光束の重心のずれに起因する
誤測距を防止して正確に被写体にピントを合わせること
が可能となるとともに、いわゆる中抜けも防止できる。
特に請求項2の発明では、受光信号の所定値を、複数箇
所に対する受光信号の最大値から予め設定された値を差
し引いた値とし、受光信号がその値以上の箇所を測距対
象箇所としたので、欠けのない反射光に基づいて測距が
行える可能性をより高めることができ、誤測距防止効果
の向上が図れる。また請求項3の発明によれば、受光信
号が所定値以上の箇所が互いに隣接して複数存在する場
合には、それらの中央に位置する箇所を測距対象箇所と
して選択するようにしたので、選択された測距対象箇所
が物体の中央部分である可能性が高く、欠けのない反射
光に基づいて測距が行える可能性をより高めることがで
きる。さらに請求項4の発明によれば、受光信号が所定
値以上で互いに隣接する箇所をそれぞれ記憶し、記憶さ
れた箇所の個数が所定値に達すると、各記憶箇所のうち
中央に位置する箇所を測距対象箇所として選択するよう
にしたので、請求項3と同様の効果が得られるととも
に、上記箇所を記憶するメモリの容量が小さくて済み、
コストダウンが図れる。
写界中の複数領域に照射するとともに、複数箇所のうち
受光信号が所定値以上の箇所を検索し、その検索箇所か
らいずれかを測距対象箇所として選択するようにしたの
で、欠けのない反射光に基づいて測距が行える可能性が
高くなり、したがって受光光束の重心のずれに起因する
誤測距を防止して正確に被写体にピントを合わせること
が可能となるとともに、いわゆる中抜けも防止できる。
特に請求項2の発明では、受光信号の所定値を、複数箇
所に対する受光信号の最大値から予め設定された値を差
し引いた値とし、受光信号がその値以上の箇所を測距対
象箇所としたので、欠けのない反射光に基づいて測距が
行える可能性をより高めることができ、誤測距防止効果
の向上が図れる。また請求項3の発明によれば、受光信
号が所定値以上の箇所が互いに隣接して複数存在する場
合には、それらの中央に位置する箇所を測距対象箇所と
して選択するようにしたので、選択された測距対象箇所
が物体の中央部分である可能性が高く、欠けのない反射
光に基づいて測距が行える可能性をより高めることがで
きる。さらに請求項4の発明によれば、受光信号が所定
値以上で互いに隣接する箇所をそれぞれ記憶し、記憶さ
れた箇所の個数が所定値に達すると、各記憶箇所のうち
中央に位置する箇所を測距対象箇所として選択するよう
にしたので、請求項3と同様の効果が得られるととも
に、上記箇所を記憶するメモリの容量が小さくて済み、
コストダウンが図れる。
【図1】クレーム対応図。
【図2】一実施例に係る測距装置の全体構成を示す図。
【図3】測距部の詳細を示す図。
【図4】投光素子からの光が照射される範囲を示す図。
【図5】各照射位置における受光信号の大きさを表す
図。
図。
【図6】実施例の動作を説明するメインのフローチャー
ト。
ト。
【図7】測距位置を判定するための手順を示すフローチ
ャート。
ャート。
【図8】図7の受光信号判定処理の詳細を示すフローチ
ャート。
ャート。
【図9】図8に続くフローチャート。
【図10】受光信号判定処理の別実施例の一部を示すフ
ローチャート。
ローチャート。
【図11】測距部の回動範囲を変更可能とした別実施例
を示す図。
を示す図。
1 制御回路 2 測距部駆動モータ 2a,15 歯車 3 フォトインタラプタ 10 測距部 11 投光レンズ 12 投光素子 13 受光レンズ 14 受光素子 15 台座 31,32 ストッパ
Claims (5)
- 【請求項1】 被写界中の複数箇所に投光する投光手段
と、前記複数箇所に位置する被写体からの反射光をそれ
ぞれ受光して各受光信号を出力する受光手段とを備え、
前記受光手段からの受光信号に基づいて被写体までの距
離を測定する測距装置において、 前記複数箇所のうち前記受光信号が所定値以上の箇所を
検索するとともに、その検索箇所からいずれかを測距対
象箇所として選択する選択手段と、 前記選択された測距対象箇所に対する受光信号に基づい
て被写体距離を測定する測定手段とを具備することを特
徴とする測距装置。 - 【請求項2】 請求項1の測距装置において、前記受光
信号の所定値は、前記複数箇所に対する受光信号の最大
値から予め設定された値を差し引いた値であることを特
徴とする測距装置。 - 【請求項3】 請求項1または2の測距装置において、
前記選択手段は、前記受光信号が所定値以上の箇所が互
いに隣接して複数存在する場合には、それらの中央に位
置する箇所を前記測距対象箇所として選択することを特
徴とする測距装置。 - 【請求項4】 請求項1または2の測距装置において、
前記選択手段は、前記受光信号が所定値以上で互いに隣
接する箇所をそれぞれ記憶する記憶部と、この記憶部に
記憶された箇所の個数が所定値に達すると、各記憶箇所
のうち中央に位置する箇所を前記測距対象箇所として選
択する選択部とから構成されていることを特徴とする測
距装置。 - 【請求項5】 請求項1〜4のいずれかの項の測距装置
において、被写界中の複数箇所に投光されるよう前記投
光手段を回動させる駆動手段を備えるとともに、撮影画
角が狭くなるほど前記投光手段の回動範囲が狭くなるよ
うに前記駆動手段を制御するようにしたことを特徴とす
る測距装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5005374A JPH06214149A (ja) | 1993-01-14 | 1993-01-14 | 測距装置 |
| US08/180,322 US5426482A (en) | 1993-01-14 | 1994-01-12 | Distance-measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5005374A JPH06214149A (ja) | 1993-01-14 | 1993-01-14 | 測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06214149A true JPH06214149A (ja) | 1994-08-05 |
Family
ID=11609401
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5005374A Pending JPH06214149A (ja) | 1993-01-14 | 1993-01-14 | 測距装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5426482A (ja) |
| JP (1) | JPH06214149A (ja) |
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- 1993-01-14 JP JP5005374A patent/JPH06214149A/ja active Pending
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1994
- 1994-01-12 US US08/180,322 patent/US5426482A/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5426482A (en) | 1995-06-20 |
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