JPH06215710A - 異種波長x線を発生可能なx線発生装置 - Google Patents
異種波長x線を発生可能なx線発生装置Info
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- JPH06215710A JPH06215710A JP5023596A JP2359693A JPH06215710A JP H06215710 A JPH06215710 A JP H06215710A JP 5023596 A JP5023596 A JP 5023596A JP 2359693 A JP2359693 A JP 2359693A JP H06215710 A JPH06215710 A JP H06215710A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 異なる波長の複数のX線を同時に発生するこ
とができ、それら個々のX線の強度をそれぞれ独自に調
節可能であり、しかも小型であるX線発生装置を提供す
る。 【構成】 ターゲット2は、電気絶縁領域5によって2
つのX線焦点領域4a,4bに分けられている。加熱に
よりフィラメント3a,3bから飛び出した電子が個々
のX線焦点領域4a,4bに衝突し、ラインフォーカス
のX線R1及びポイントフォーカスのX線R2が同時に
発生する。各X線焦点領域4a,4bは互いに異なる金
属によって形成されていて、それらから発生するX線R
1,R2は、互いに波長が異なっている。絶縁領域5を
設けてあるので各X線R1,R2の強度を独自に調節で
きる。
とができ、それら個々のX線の強度をそれぞれ独自に調
節可能であり、しかも小型であるX線発生装置を提供す
る。 【構成】 ターゲット2は、電気絶縁領域5によって2
つのX線焦点領域4a,4bに分けられている。加熱に
よりフィラメント3a,3bから飛び出した電子が個々
のX線焦点領域4a,4bに衝突し、ラインフォーカス
のX線R1及びポイントフォーカスのX線R2が同時に
発生する。各X線焦点領域4a,4bは互いに異なる金
属によって形成されていて、それらから発生するX線R
1,R2は、互いに波長が異なっている。絶縁領域5を
設けてあるので各X線R1,R2の強度を独自に調節で
きる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、X線を発生するX線発
生装置、特に異なる波長のX線を発生できるX線発生装
置に関する。
生装置、特に異なる波長のX線を発生できるX線発生装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般にX線発生装置は、通電によって発
熱して電子を放出するフィラメント、すなわち陰極と、
そのフィラメントに対向して配置されたターゲット、す
なわち対陰極又は陽極とによって構成される。また、フ
ィラメントから放出される電子が所望の焦点形状でター
ゲットに当たるように電子の流れを制御するウエネルト
も多く用いられる。このX線発生装置では、ターゲット
に電子が高速で衝突したときにそのターゲットからX線
が放射される。そしてこのときに放射されるX線の波長
は、ターゲットの材質によって決定される。
熱して電子を放出するフィラメント、すなわち陰極と、
そのフィラメントに対向して配置されたターゲット、す
なわち対陰極又は陽極とによって構成される。また、フ
ィラメントから放出される電子が所望の焦点形状でター
ゲットに当たるように電子の流れを制御するウエネルト
も多く用いられる。このX線発生装置では、ターゲット
に電子が高速で衝突したときにそのターゲットからX線
が放射される。そしてこのときに放射されるX線の波長
は、ターゲットの材質によって決定される。
【0003】X線発生装置を使用する機器の1つとして
X線回折装置が広く知られている。このX線回折装置で
は、例えば、測定対象である試料にX線を照射し、そし
て試料で回折したX線をX線検出器で検出することによ
り、その試料の組成や、内部結晶構造等を判定する。
X線回折装置が広く知られている。このX線回折装置で
は、例えば、測定対象である試料にX線を照射し、そし
て試料で回折したX線をX線検出器で検出することによ
り、その試料の組成や、内部結晶構造等を判定する。
【0004】上記のX線回折装置には、測定方法に応じ
て構造の異なる種々の装置がある。これら種々のX線回
折装置は、波長の異なったX線をX線源として要求する
ことが多い。例えば、通常広く用いられている広角ゴニ
オメータは銅(Cu)ターゲットから発生されるライン
フォーカスのX線を要求することが多い。一方、微小部
X線回折装置はクロム(Cr)ターゲットから発生され
るポイントフォーカスのX線を要求することが多い。
て構造の異なる種々の装置がある。これら種々のX線回
折装置は、波長の異なったX線をX線源として要求する
ことが多い。例えば、通常広く用いられている広角ゴニ
オメータは銅(Cu)ターゲットから発生されるライン
フォーカスのX線を要求することが多い。一方、微小部
X線回折装置はクロム(Cr)ターゲットから発生され
るポイントフォーカスのX線を要求することが多い。
【0005】また、広角ゴニオメータで液体、非晶質等
に関して構造解析測定、いわゆる動径分布関数の測定を
行う場合には、銅、モリブデン(Mo)、そして銀(A
g)の各ターゲットから発生する互いに波長の異なるX
線で個別に測定を行って、得られたデータを繋ぎ合わせ
て評価を行う。
に関して構造解析測定、いわゆる動径分布関数の測定を
行う場合には、銅、モリブデン(Mo)、そして銀(A
g)の各ターゲットから発生する互いに波長の異なるX
線で個別に測定を行って、得られたデータを繋ぎ合わせ
て評価を行う。
【0006】以上のように、X線回折装置においては、
異なる波長のX線をX線源として用いる場合がある。こ
のような要求を満足するため、従来、一対のフィラメン
ト及びターゲットから成る独立したX線管球を複数個設
置し、それらのうちの1つを電源の切り換えによって選
択して使用するようにしたX線発生装置がある。
異なる波長のX線をX線源として用いる場合がある。こ
のような要求を満足するため、従来、一対のフィラメン
ト及びターゲットから成る独立したX線管球を複数個設
置し、それらのうちの1つを電源の切り換えによって選
択して使用するようにしたX線発生装置がある。
【0007】また、別の装置として、異種金属から成る
複数のX線焦点領域を備えたターゲットに1つのフィラ
メントを対向して配置し、フィラメント又はターゲット
のいずれか一方を平行移動することにより、フィラメン
トから飛び出す電子が衝突するターゲット金属を切り換
えるようにしたX線回折装置も知られている。
複数のX線焦点領域を備えたターゲットに1つのフィラ
メントを対向して配置し、フィラメント又はターゲット
のいずれか一方を平行移動することにより、フィラメン
トから飛び出す電子が衝突するターゲット金属を切り換
えるようにしたX線回折装置も知られている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、独立し
たX線管球を複数個設置した方式の従来のX線発生装置
は、装置全体がきわめて大型になること及び異なる波長
のX線を同時に発生できないとことという問題を有して
いた。また、フィラメント又はターゲットのいずれか一
方を平行移動させてX線の波長を選択するようにした従
来のX線発生装置は、やはり異なる波長のX線を同時に
発生できないという問題を有していた。また、X線の波
長を選択するに際してフィラメントを平行移動する場合
には、ターゲットのX線放射位置が変化してX線の光軸
がズレるという問題があった。
たX線管球を複数個設置した方式の従来のX線発生装置
は、装置全体がきわめて大型になること及び異なる波長
のX線を同時に発生できないとことという問題を有して
いた。また、フィラメント又はターゲットのいずれか一
方を平行移動させてX線の波長を選択するようにした従
来のX線発生装置は、やはり異なる波長のX線を同時に
発生できないという問題を有していた。また、X線の波
長を選択するに際してフィラメントを平行移動する場合
には、ターゲットのX線放射位置が変化してX線の光軸
がズレるという問題があった。
【0009】本発明は、従来のX線発生装置における上
記の問題点を解消するためになされたものであって、異
なる波長の複数のX線を同時に発生することができ、そ
れら個々のX線の強度をそれぞれ独自に調節可能であ
り、しかも小型であるX線発生装置を提供することを目
的とする。
記の問題点を解消するためになされたものであって、異
なる波長の複数のX線を同時に発生することができ、そ
れら個々のX線の強度をそれぞれ独自に調節可能であ
り、しかも小型であるX線発生装置を提供することを目
的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明に係るX線発生装置は、回転軸線に沿って隣
接して設けられた異種金属から成る複数のX線焦点領域
を備えたターゲットと、各X線焦点領域の間に設けられ
た電気絶縁領域と、個々のX線焦点領域に対向して配置
された複数のフィラメントと、各X線焦点領域に対応し
て設けた複数のX線取出窓とを有することを特徴として
いる。
め、本発明に係るX線発生装置は、回転軸線に沿って隣
接して設けられた異種金属から成る複数のX線焦点領域
を備えたターゲットと、各X線焦点領域の間に設けられ
た電気絶縁領域と、個々のX線焦点領域に対向して配置
された複数のフィラメントと、各X線焦点領域に対応し
て設けた複数のX線取出窓とを有することを特徴として
いる。
【0011】
【作用】個々のフィラメントには個別且つ同時に電流が
流されて電子が同時に放出される。各フィラメントから
放出された電子は、異種金属から成るターゲットのX線
焦点領域に個別に照射される。よって、各X線焦点領域
から波長の異なったX線が同時に発生し、これらは異な
るX線取出窓から外部へ個別に取り出される。
流されて電子が同時に放出される。各フィラメントから
放出された電子は、異種金属から成るターゲットのX線
焦点領域に個別に照射される。よって、各X線焦点領域
から波長の異なったX線が同時に発生し、これらは異な
るX線取出窓から外部へ個別に取り出される。
【0012】こうして同時に取り出された波長の異なる
X線によって、異種のX線回折測定が同時に行われる。
ターゲットそれ自体は1個であってそれに複数種のX線
焦点領域が形成されているだけなので、フィラメントと
ターゲットの1対から成るX線管球を複数個設置する場
合に比べてX線発生装置の全体形状が小型になる。
X線によって、異種のX線回折測定が同時に行われる。
ターゲットそれ自体は1個であってそれに複数種のX線
焦点領域が形成されているだけなので、フィラメントと
ターゲットの1対から成るX線管球を複数個設置する場
合に比べてX線発生装置の全体形状が小型になる。
【0013】
【実施例】図1は、本発明に係るX線発生装置をX線回
折装置に用いた場合の実施例を示している。同図におい
て、X線発生装置1は、円錐形状の外周面を有するター
ゲット2と、そのターゲット2の手前側に配置された2
個のフィラメント3a及び3bとを有している。ターゲ
ット2は、例えば銅(Cu)によって形成された円錐状
の帯状表面である第1X線焦点領域4aと、例えばクロ
ム(Cr)によって形成された同じく円錐状の帯状表面
である第2X線焦点領域4bと、そして両X線焦点領域
4a,4bの間に帯状に位置する電気絶縁領域5とによ
って形成されている。第1フィラメント3aは第1X線
焦点領域4aに対向し、第2フィラメント3bは第2X
線焦点領域4bに対向している。ターゲット2及びフィ
ラメント3a,3bのまわりは真空状態に保持されてい
る。
折装置に用いた場合の実施例を示している。同図におい
て、X線発生装置1は、円錐形状の外周面を有するター
ゲット2と、そのターゲット2の手前側に配置された2
個のフィラメント3a及び3bとを有している。ターゲ
ット2は、例えば銅(Cu)によって形成された円錐状
の帯状表面である第1X線焦点領域4aと、例えばクロ
ム(Cr)によって形成された同じく円錐状の帯状表面
である第2X線焦点領域4bと、そして両X線焦点領域
4a,4bの間に帯状に位置する電気絶縁領域5とによ
って形成されている。第1フィラメント3aは第1X線
焦点領域4aに対向し、第2フィラメント3bは第2X
線焦点領域4bに対向している。ターゲット2及びフィ
ラメント3a,3bのまわりは真空状態に保持されてい
る。
【0014】ターゲット2を支持する駆動ユニット6の
中には、ターゲット2及びフィラメント3a,3bのま
わりを真空で塵のない状態に保持するための軸封装置
や、ターゲット2を高速回転させるためのダイレクトド
ライブモータや、ターゲット2を冷却するための冷却水
循環路等が格納されている。ターゲット2は、冷却水に
よって冷却されながら、ダイレクトドライブモータによ
って駆動されて軸線Lのまわりに高速で回転する。
中には、ターゲット2及びフィラメント3a,3bのま
わりを真空で塵のない状態に保持するための軸封装置
や、ターゲット2を高速回転させるためのダイレクトド
ライブモータや、ターゲット2を冷却するための冷却水
循環路等が格納されている。ターゲット2は、冷却水に
よって冷却されながら、ダイレクトドライブモータによ
って駆動されて軸線Lのまわりに高速で回転する。
【0015】X線発生装置1の側壁には、2つのX線取
出窓22a及び22bが形成されている。これらの窓
は、X線を通過させることが可能な材料、例えばベリリ
ウム(Be)等によって形成されている。
出窓22a及び22bが形成されている。これらの窓
は、X線を通過させることが可能な材料、例えばベリリ
ウム(Be)等によって形成されている。
【0016】X線発生装置1の右側に広角ゴニオメータ
7が配設され、X線発生装置1の手前側に微小部X線回
折装置8が配設されている。広角ゴニオメータというの
は、測定対象である試料にX線を照射し、その試料で回
折した回折線をX線カウンタによって検出することによ
りその試料の組成等を判別する装置であり、特に試料に
入射する入射X線に対する回折線の回折角度(一般に角
度2θと呼ばれる)を広い範囲でX線カウンタによって
走査する形式のX線回折装置である。微小部X線回折装
置というのは、試料の一つの微少部分やきわめて微少な
試料を測定対象とするものであって、ポイントフォーカ
スのX線源から放射されたX線をコリメータによって微
小断面のX線ビームに成形し、そのX線ビームを微少試
料等に照射してX線回折測定を行うというものである。
広角ゴニオメータ7及び微小部X線回折装置8は共に、
X線発生装置1のX線取出窓22a及び22bに対応す
る位置にX線取り込み用の窓23を備えている。
7が配設され、X線発生装置1の手前側に微小部X線回
折装置8が配設されている。広角ゴニオメータというの
は、測定対象である試料にX線を照射し、その試料で回
折した回折線をX線カウンタによって検出することによ
りその試料の組成等を判別する装置であり、特に試料に
入射する入射X線に対する回折線の回折角度(一般に角
度2θと呼ばれる)を広い範囲でX線カウンタによって
走査する形式のX線回折装置である。微小部X線回折装
置というのは、試料の一つの微少部分やきわめて微少な
試料を測定対象とするものであって、ポイントフォーカ
スのX線源から放射されたX線をコリメータによって微
小断面のX線ビームに成形し、そのX線ビームを微少試
料等に照射してX線回折測定を行うというものである。
広角ゴニオメータ7及び微小部X線回折装置8は共に、
X線発生装置1のX線取出窓22a及び22bに対応す
る位置にX線取り込み用の窓23を備えている。
【0017】図4は、図1のX線発生装置に付設される
電気回路の一実施例を示している。同図の右側にX線発
生装置1、フィラメント3a,3b、そしてX線焦点領
域4a及び4bを備えたターゲット2が示してある。
電気回路の一実施例を示している。同図の右側にX線発
生装置1、フィラメント3a,3b、そしてX線焦点領
域4a及び4bを備えたターゲット2が示してある。
【0018】第1フィラメント3aには第1フィラメン
ト電源9が接続され、そして第2フィラメント3bには
第2フィラメント電源10が接続されている。これらの
電源は、それぞれ、第1管電流制御回路11及び第2管
電流制御回路12から出力される制御信号に基づいた大
きさの電流を、それぞれ、第1フィラメント3a及び第
2フィラメント3bに供給する。各フィラメント3a,
3bとターゲット2との間には高圧電源13が接続され
ている。この高圧電源13は、管電圧制御回路14から
出力される制御信号に基づいた大きさの電圧を各フィラ
メント3a,3bとターゲット2との間に印加する。
ト電源9が接続され、そして第2フィラメント3bには
第2フィラメント電源10が接続されている。これらの
電源は、それぞれ、第1管電流制御回路11及び第2管
電流制御回路12から出力される制御信号に基づいた大
きさの電流を、それぞれ、第1フィラメント3a及び第
2フィラメント3bに供給する。各フィラメント3a,
3bとターゲット2との間には高圧電源13が接続され
ている。この高圧電源13は、管電圧制御回路14から
出力される制御信号に基づいた大きさの電圧を各フィラ
メント3a,3bとターゲット2との間に印加する。
【0019】ここにいう管電流とは、加熱されたフィラ
メント3a,3bから飛び出した電子がターゲット2に
到達するときにその逆方向に流れる電流のことである。
一方、管電圧とは、フィラメント3a,3bとターゲッ
ト2との間に印加される電圧のことである。通常、管電
流と管電圧との積(管電流×管電圧)の値はターゲット
2に加えられる負荷と呼ばれており、この負荷について
の最大許容値はターゲット2を構成する金属材料及びタ
ーゲット2に付設される冷却装置の冷却能力等に応じて
一定の値が決められている。例えば、従来広く用いられ
ているX線発生装置では、銅(Cu)ターゲットに関し
て18kw程度の最大許容負荷が決められている。ター
ゲット2に加わる負荷がこの最大許容負荷を越えると、
ターゲット2が異常発熱して損傷するおそれがある。
メント3a,3bから飛び出した電子がターゲット2に
到達するときにその逆方向に流れる電流のことである。
一方、管電圧とは、フィラメント3a,3bとターゲッ
ト2との間に印加される電圧のことである。通常、管電
流と管電圧との積(管電流×管電圧)の値はターゲット
2に加えられる負荷と呼ばれており、この負荷について
の最大許容値はターゲット2を構成する金属材料及びタ
ーゲット2に付設される冷却装置の冷却能力等に応じて
一定の値が決められている。例えば、従来広く用いられ
ているX線発生装置では、銅(Cu)ターゲットに関し
て18kw程度の最大許容負荷が決められている。ター
ゲット2に加わる負荷がこの最大許容負荷を越えると、
ターゲット2が異常発熱して損傷するおそれがある。
【0020】上記の管電圧は、分圧回路15によって検
出され、バッファアンプ16を介して管電圧制御回路1
4にフィードバックされる。第1フィラメント3a及び
第2フィラメント3bのそれぞれについての管電流はバ
ッファアンプ17及び18を介して第1管電流制御回路
11及び第2管電流制御回路12にフィードバックされ
る。
出され、バッファアンプ16を介して管電圧制御回路1
4にフィードバックされる。第1フィラメント3a及び
第2フィラメント3bのそれぞれについての管電流はバ
ッファアンプ17及び18を介して第1管電流制御回路
11及び第2管電流制御回路12にフィードバックされ
る。
【0021】管電圧バッファアンプ16の出力並びに管
電流バッファアンプ17及び18の出力は負荷判定回路
19にも送られる。この負荷判定回路19は、それらの
信号に基づいて、例えばLED等の複数の発光セグメン
トから成る表示装置21及び電圧遮断回路20を駆動す
る。
電流バッファアンプ17及び18の出力は負荷判定回路
19にも送られる。この負荷判定回路19は、それらの
信号に基づいて、例えばLED等の複数の発光セグメン
トから成る表示装置21及び電圧遮断回路20を駆動す
る。
【0022】本実施例に係るX線発生装置は以上のよう
に構成されているので、第1フィラメント電源9からの
給電により第1フィラメント3aが発熱し、同時に第2
フィラメント電源10からの給電により第2フィラメン
ト3bが発熱する。またその時、高圧電源13の作用に
より、ターゲット2の第1X線焦点領域4aと第1フィ
ラメント3aとの間及び第2X線焦点領域4bと第2フ
ィラメント3bとの間に管電圧が印加される。
に構成されているので、第1フィラメント電源9からの
給電により第1フィラメント3aが発熱し、同時に第2
フィラメント電源10からの給電により第2フィラメン
ト3bが発熱する。またその時、高圧電源13の作用に
より、ターゲット2の第1X線焦点領域4aと第1フィ
ラメント3aとの間及び第2X線焦点領域4bと第2フ
ィラメント3bとの間に管電圧が印加される。
【0023】各フィラメント3a及び3bが発熱すると
それらから電子が飛び出し、その飛び出した電子が管電
圧によって加速されて各X線焦点領域4a及び4bに衝
突する。そして電子が衝突した部分のX線焦点領域4a
及び4bからX線が放射される。図1に示すように、第
1X線焦点領域4aから放射されてX線取出窓22aに
よって外部へ取り出されるX線R1はラインフォーカス
を有している。一方、第2X線焦点領域4bから放射さ
れてX線取出窓22bによって外部へ取り出されるX線
R2はポイントフォーカスを有している。また、これら
のX線R1及びR2は、各X線焦点領域4a及び4bを
形成する材料、すなわち銅(Cu)及びクロム(Cr)
に応じた、それぞれ異なる波長を有している。
それらから電子が飛び出し、その飛び出した電子が管電
圧によって加速されて各X線焦点領域4a及び4bに衝
突する。そして電子が衝突した部分のX線焦点領域4a
及び4bからX線が放射される。図1に示すように、第
1X線焦点領域4aから放射されてX線取出窓22aに
よって外部へ取り出されるX線R1はラインフォーカス
を有している。一方、第2X線焦点領域4bから放射さ
れてX線取出窓22bによって外部へ取り出されるX線
R2はポイントフォーカスを有している。また、これら
のX線R1及びR2は、各X線焦点領域4a及び4bを
形成する材料、すなわち銅(Cu)及びクロム(Cr)
に応じた、それぞれ異なる波長を有している。
【0024】これらのX線R1及びR2は、同時に発生
するので、広角ゴニオメータ7によるX線回折測定及び
微小部X線回折装置によるX線回折測定は同時に行われ
る。
するので、広角ゴニオメータ7によるX線回折測定及び
微小部X線回折装置によるX線回折測定は同時に行われ
る。
【0025】図4において、第1フィラメント3aに関
する管電流は第1管電流制御回路11及び第1フィラメ
ント電源9によって独自に制御され、一方、第2フィラ
メント3bに関する管電流は、第2管電流制御回路12
及び第2フィラメント電源10によって独自に制御され
る。従って、ラインフォーカスのX線R1のX線強度及
びポイントフォーカスのX線R2のX線強度は、それぞ
れ、独自に希望する値に設定できる。そのため、広角ゴ
ニオメータ7及び微小部X線回折装置8のX線回折測定
の条件を他方に左右されることなく自由に設定できる。
する管電流は第1管電流制御回路11及び第1フィラメ
ント電源9によって独自に制御され、一方、第2フィラ
メント3bに関する管電流は、第2管電流制御回路12
及び第2フィラメント電源10によって独自に制御され
る。従って、ラインフォーカスのX線R1のX線強度及
びポイントフォーカスのX線R2のX線強度は、それぞ
れ、独自に希望する値に設定できる。そのため、広角ゴ
ニオメータ7及び微小部X線回折装置8のX線回折測定
の条件を他方に左右されることなく自由に設定できる。
【0026】ところで、ターゲット2に加えることがで
きる最大許容負荷は、一定の値に制限されていて、それ
を越えることはできない。本実施例では、図4に示した
負荷判定回路19によってその負荷制御を行っている。
すなわち、負荷判定回路19は、第1フィラメント3a
に関する管電流、第2フィラメント3bに関する管電流
及び両フィラメント3a及び3bに関する管電圧のそれ
ぞれを入力し、各フィラメント・ターゲット対に関する
管電圧×管電流の値、すなわち負荷を算出し、さらにそ
れらを加算して負荷の総和を算出し、その算出結果を最
大許容負荷として予め設定された値と比較する。その比
較の結果、ターゲット2にかかっている実際の負荷が最
大許容負荷を越える場合には、電源遮断回路20を作動
させて第1フィラメント電源9、第2フィラメント電源
10及び高圧電源13への給電を遮断して安全を確保
し、さらに表示装置21にその旨を表示して作業者に告
知する。
きる最大許容負荷は、一定の値に制限されていて、それ
を越えることはできない。本実施例では、図4に示した
負荷判定回路19によってその負荷制御を行っている。
すなわち、負荷判定回路19は、第1フィラメント3a
に関する管電流、第2フィラメント3bに関する管電流
及び両フィラメント3a及び3bに関する管電圧のそれ
ぞれを入力し、各フィラメント・ターゲット対に関する
管電圧×管電流の値、すなわち負荷を算出し、さらにそ
れらを加算して負荷の総和を算出し、その算出結果を最
大許容負荷として予め設定された値と比較する。その比
較の結果、ターゲット2にかかっている実際の負荷が最
大許容負荷を越える場合には、電源遮断回路20を作動
させて第1フィラメント電源9、第2フィラメント電源
10及び高圧電源13への給電を遮断して安全を確保
し、さらに表示装置21にその旨を表示して作業者に告
知する。
【0027】図2は、本発明にかかるX線発生装置の他
の実施例を示している。この実施例では、円錐面状のX
線焦点領域に代えて円筒面状のX線焦点領域24a及び
24bを用いている。そして、両X線焦点領域24a,
24bから、いずれもラインフォーカスのX線R3及び
R4が同時に取り出される。もちろん、X線焦点領域2
4a及び24bは、異なる波長のX線を発生するため
に、互いに異なる金属によって形成されている。
の実施例を示している。この実施例では、円錐面状のX
線焦点領域に代えて円筒面状のX線焦点領域24a及び
24bを用いている。そして、両X線焦点領域24a,
24bから、いずれもラインフォーカスのX線R3及び
R4が同時に取り出される。もちろん、X線焦点領域2
4a及び24bは、異なる波長のX線を発生するため
に、互いに異なる金属によって形成されている。
【0028】図3は、X線発生装置のさらに他の実施例
を示している。この実施例は、異なる材質の金属によっ
て形成された2つのX線焦点領域24a,24bから、
いずれもポイントフォーカスの、しかし互いに波長の異
なる2つのX線R5及びR6を同時に取り出す。
を示している。この実施例は、異なる材質の金属によっ
て形成された2つのX線焦点領域24a,24bから、
いずれもポイントフォーカスの、しかし互いに波長の異
なる2つのX線R5及びR6を同時に取り出す。
【0029】以上、いくつかの好ましい実施例をあげて
本発明を説明したが、本発明はそれらの実施例に限定さ
れるものではない。例えば、X線焦点領域とフィラメン
トとの対数は、実施例のような2組に限られず、3組以
上とすることができる。
本発明を説明したが、本発明はそれらの実施例に限定さ
れるものではない。例えば、X線焦点領域とフィラメン
トとの対数は、実施例のような2組に限られず、3組以
上とすることができる。
【0030】本発明にかかるX線発生装置を用いるX線
回折装置は、図1に示したような、広角ゴニオメータと
微小部X線回折装置とから成るシステムに限られず他の
任意の構成とすることができる。
回折装置は、図1に示したような、広角ゴニオメータと
微小部X線回折装置とから成るシステムに限られず他の
任意の構成とすることができる。
【0031】図4に示した回路では、第1フィラメント
3a−第1X線焦点領域4a対に管電圧を印加する高圧
電源と、第2フィラメント3b−第2X線焦点領域4b
対に管電圧を印加する高圧電源とを共通の電源13によ
って賄った。しかしながら、各対に対して個別の高圧電
源を設けることもできる。
3a−第1X線焦点領域4a対に管電圧を印加する高圧
電源と、第2フィラメント3b−第2X線焦点領域4b
対に管電圧を印加する高圧電源とを共通の電源13によ
って賄った。しかしながら、各対に対して個別の高圧電
源を設けることもできる。
【0032】
【発明の効果】本発明によれば、異なる金属材料によっ
て形成された複数のX線焦点領域に対応させて個々にフ
ィラメントを設け、各フィラメントに同時に管電流及び
管電圧をかけることにしたので、異なる波長の複数のX
線を同時に発生することができる。
て形成された複数のX線焦点領域に対応させて個々にフ
ィラメントを設け、各フィラメントに同時に管電流及び
管電圧をかけることにしたので、異なる波長の複数のX
線を同時に発生することができる。
【0033】また、各X線焦点領域の間に電気絶縁領域
を設けたので、発生される個々のX線の強度をそれぞれ
独自に調節できる。
を設けたので、発生される個々のX線の強度をそれぞれ
独自に調節できる。
【0034】さらに、1個のフィラメントと1個のター
ゲットとから成るX線管球を複数個設置する構造に比べ
てX線発生装置の全体の形状がきわめて小型である。
ゲットとから成るX線管球を複数個設置する構造に比べ
てX線発生装置の全体の形状がきわめて小型である。
【0035】
【図1】本発明に係るX線発生装置をX線回折装置に用
いた場合の一実施例を示す斜視図である。
いた場合の一実施例を示す斜視図である。
【図2】本発明に係るX線発生装置の他の実施例を示す
斜視図である。
斜視図である。
【図3】本発明に係るX線発生装置のさらに他の実施例
を示す斜視図である。
を示す斜視図である。
【図4】図1の実施例に用いられる電気回路の一例を示
す回路図である。
す回路図である。
2 ターゲット 3a 第1フィラメント 3b 第2フィラメント 4a 第1X線焦点領域 4b 第2X線焦点領域 5 電気絶縁領域 9 第1フィラメント電源 10 第2フィラメント電源 19 負荷判定回路 22a X線取出窓 22b X線取出窓 24a 第1X線焦点領域 24b 第2X線焦点領域 L ターゲットの回転軸線
Claims (3)
- 【請求項1】 回転軸線に沿って隣接して設けられた異
種金属から成る複数のX線焦点領域を備えたターゲット
と、各X線焦点領域の間に設けられた電気絶縁領域と、
個々のX線焦点領域に対向して配置された複数のフィラ
メントと、各X線焦点領域に対応して設けた複数のX線
取出窓とを有することを特徴とする異種波長X線を発生
可能なX線発生装置。 - 【請求項2】 フィラメントに電流を供給するためのフ
ィラメント電源が上記複数のフィラメントに対して個々
に設けられることを特徴とする請求項1記載の異種波長
X線を発生可能なX線発生装置。 - 【請求項3】 フィラメントとターゲットとの間に印加
される管電圧と、フィラメントとターゲットとの間を流
れる管電流との積によって表される負荷に関し、個々の
フィラメント・ターゲット対の負荷の総和と許容最大負
荷とを比較する負荷判定装置を設けたことを特徴とする
請求項2記載の異種波長X線を発生可能なX線発生装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5023596A JPH06215710A (ja) | 1993-01-19 | 1993-01-19 | 異種波長x線を発生可能なx線発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5023596A JPH06215710A (ja) | 1993-01-19 | 1993-01-19 | 異種波長x線を発生可能なx線発生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06215710A true JPH06215710A (ja) | 1994-08-05 |
Family
ID=12114981
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5023596A Pending JPH06215710A (ja) | 1993-01-19 | 1993-01-19 | 異種波長x線を発生可能なx線発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06215710A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003014894A (ja) * | 2001-06-27 | 2003-01-15 | Rigaku Corp | X線分光方法及びx線分光装置 |
| JP2010117369A (ja) * | 2010-02-21 | 2010-05-27 | Rigaku Corp | X線分光方法及びx線分光装置 |
| DE102011078357A1 (de) | 2010-06-29 | 2011-12-29 | Rigaku Corp. | Vorrichtung für eine Röntgenstrahlanalyse mit klassifizierten Wellenlängen |
| JP2012510137A (ja) * | 2008-11-25 | 2012-04-26 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | X線陽極 |
| WO2013108876A1 (ja) * | 2012-01-18 | 2013-07-25 | 株式会社リガク | X線回折装置 |
| EP3686913A4 (en) * | 2017-09-18 | 2021-10-27 | Nuctech Company Limited | ANODE TARGET, RADIATION LIGHT SOURCE, COMPUTER TOMOGRAPHY DEVICE, AND IMAGING METHOD |
-
1993
- 1993-01-19 JP JP5023596A patent/JPH06215710A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003014894A (ja) * | 2001-06-27 | 2003-01-15 | Rigaku Corp | X線分光方法及びx線分光装置 |
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| JP2010117369A (ja) * | 2010-02-21 | 2010-05-27 | Rigaku Corp | X線分光方法及びx線分光装置 |
| DE102011078357A1 (de) | 2010-06-29 | 2011-12-29 | Rigaku Corp. | Vorrichtung für eine Röntgenstrahlanalyse mit klassifizierten Wellenlängen |
| GB2481700A (en) * | 2010-06-29 | 2012-01-04 | Rigaku Denki Co Ltd | Wavelength-classifying type X-ray diffraction device |
| US8300767B1 (en) | 2010-06-29 | 2012-10-30 | Rigaku Corporation | Wavelength-classifying type X-ray diffraction device |
| US8699665B2 (en) | 2010-06-29 | 2014-04-15 | Rigaku Corporation | Wavelength-classifying type X-ray diffraction device |
| GB2481700B (en) * | 2010-06-29 | 2014-06-11 | Rigaku Denki Co Ltd | Wavelength-classifying type x-ray diffraction device |
| WO2013108876A1 (ja) * | 2012-01-18 | 2013-07-25 | 株式会社リガク | X線回折装置 |
| EP3686913A4 (en) * | 2017-09-18 | 2021-10-27 | Nuctech Company Limited | ANODE TARGET, RADIATION LIGHT SOURCE, COMPUTER TOMOGRAPHY DEVICE, AND IMAGING METHOD |
| US11315750B2 (en) | 2017-09-18 | 2022-04-26 | Nuctech Company Limited | Anode target, ray light source, computed tomography scanning device, and imaging method |
| US11456146B2 (en) | 2017-09-18 | 2022-09-27 | Nuctech Company Limited | Anode target, ray light source, computed tomography device, and imaging method |
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