JPH06215729A - 質量分析計 - Google Patents
質量分析計Info
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- JPH06215729A JPH06215729A JP5007332A JP733293A JPH06215729A JP H06215729 A JPH06215729 A JP H06215729A JP 5007332 A JP5007332 A JP 5007332A JP 733293 A JP733293 A JP 733293A JP H06215729 A JPH06215729 A JP H06215729A
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- JP
- Japan
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- ion
- ion source
- mass spectrometer
- sample
- atmospheric pressure
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Abstract
(57)【要約】
【目的】イオン源の組み替ええなしに極性の低い試料か
ら高いものまでイオン化し分析すること。 【構成】ガスクロクトグラフより流出した無極性試料を
イオン化する電子衝撃イオン源の後より、液体クロマト
グラフより流出してきた比較的高極性試料を別に設けた
大気圧イオン源（大気圧化学イオン化，エレクトロスプ
レー）によりイオン化し、その試料イオンを導入出来る
ようにしたもので、１台の質量分析計で数種類のイオン
源からのイオンを同時に、または質量挿引ごとにイオン
源の組替えなしにガスクロマトグラフ質量分析計，液体
クロマトグラフ質量分析などの測定を可能にした。
ら高いものまでイオン化し分析すること。 【構成】ガスクロクトグラフより流出した無極性試料を
イオン化する電子衝撃イオン源の後より、液体クロマト
グラフより流出してきた比較的高極性試料を別に設けた
大気圧イオン源（大気圧化学イオン化，エレクトロスプ
レー）によりイオン化し、その試料イオンを導入出来る
ようにしたもので、１台の質量分析計で数種類のイオン
源からのイオンを同時に、または質量挿引ごとにイオン
源の組替えなしにガスクロマトグラフ質量分析計，液体
クロマトグラフ質量分析などの測定を可能にした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、質量分析計に係り、特
に複数の異なったイオン源よりイオン化される試料イオ
ンの分析に関する。
に複数の異なったイオン源よりイオン化される試料イオ
ンの分析に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のクロマトグラフ質量分析計は、ガ
スクロマトグラフまたは液体クロマトグラフと質量分析
計との組合わせて出来ていたが、それらの分析対象とな
る試料は、ガスクロマトグラフは低極性、液体クロマト
グラフは比較的中極性から高極性となっている。それら
極性面から試料をイオン化するイオン化手法もガスクロ
マトグラフには電子衝撃法，液体クロマトグラフには大
気圧イオン化法，フリットファブ法，エレクトロスプレ
ー法などを使用してきたが、それらはイオン化手法ごと
にイオン源部の組替えを必要としており、イオン源ハウ
ジングの真空を破り、大気圧にした後イオン源を交換，
再排気を行っていた。
スクロマトグラフまたは液体クロマトグラフと質量分析
計との組合わせて出来ていたが、それらの分析対象とな
る試料は、ガスクロマトグラフは低極性、液体クロマト
グラフは比較的中極性から高極性となっている。それら
極性面から試料をイオン化するイオン化手法もガスクロ
マトグラフには電子衝撃法，液体クロマトグラフには大
気圧イオン化法，フリットファブ法，エレクトロスプレ
ー法などを使用してきたが、それらはイオン化手法ごと
にイオン源部の組替えを必要としており、イオン源ハウ
ジングの真空を破り、大気圧にした後イオン源を交換，
再排気を行っていた。
【０００３】また、各種イオン源への組替え後も、クロ
マトグラフからイオン源への経路の温度および各イオン
源を、最適イオン化効率で試料をイオン化するための温
度までの昇温に長時間を必要とした。
マトグラフからイオン源への経路の温度および各イオン
源を、最適イオン化効率で試料をイオン化するための温
度までの昇温に長時間を必要とした。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術において
は、クロマトグラフから流出してくる試料は無極性から
高極性まで幅広い範囲であることについて配慮がされて
おらず、それらのイオン化には、電子衝撃イオン源のほ
か数種類のイオン源を必要とし、それらを組替えて使用
することによりスペクトルを得ていた。この方法は交換
するイオン源が真空中に設置されているため、無駄な時
間と労力を必要とした。
は、クロマトグラフから流出してくる試料は無極性から
高極性まで幅広い範囲であることについて配慮がされて
おらず、それらのイオン化には、電子衝撃イオン源のほ
か数種類のイオン源を必要とし、それらを組替えて使用
することによりスペクトルを得ていた。この方法は交換
するイオン源が真空中に設置されているため、無駄な時
間と労力を必要とした。
【０００５】本発明の目的は、それらの欠点をなくすた
めイオン源ハウジング内にあらかじめ数種類のイオン源
を設置しておき、試料の極性に応じて低極性試料はガス
クロマトグラフより電子衝撃イオン源、高極性試料は液
体クロマトグラフより大気圧イオン化やフリットファブ
あるいはエレクトロスプレーなどのイオン源でイオン化
し各々のイオンをディフレクター電極で分析部に導くこ
とで、イオン源などの組替えなしに各種試料の測定を行
うことにある。
めイオン源ハウジング内にあらかじめ数種類のイオン源
を設置しておき、試料の極性に応じて低極性試料はガス
クロマトグラフより電子衝撃イオン源、高極性試料は液
体クロマトグラフより大気圧イオン化やフリットファブ
あるいはエレクトロスプレーなどのイオン源でイオン化
し各々のイオンをディフレクター電極で分析部に導くこ
とで、イオン源などの組替えなしに各種試料の測定を行
うことにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、ガスクロマトグラフより流出した無極性試料をイオ
ン化する電子衝撃イオン源の後より、液体クロマトグラ
フより流出してきた比較的高極性試料を別に設けた大気
圧イオン源（大気圧化学イオン化，エレクトロスプレ
ー）によりイオン化し、その試料イオンを導入出来るよ
うにしたもので、１台の質量分析計で数種類のイオン源
からのイオンを同時に、または質量挿引ごとにイオン源
の組替えなしにガスクロマトグラフ質量分析，液体クロ
マトグラフ質量分析などの測定を可能にしたものであ
る。
に、ガスクロマトグラフより流出した無極性試料をイオ
ン化する電子衝撃イオン源の後より、液体クロマトグラ
フより流出してきた比較的高極性試料を別に設けた大気
圧イオン源（大気圧化学イオン化，エレクトロスプレ
ー）によりイオン化し、その試料イオンを導入出来るよ
うにしたもので、１台の質量分析計で数種類のイオン源
からのイオンを同時に、または質量挿引ごとにイオン源
の組替えなしにガスクロマトグラフ質量分析，液体クロ
マトグラフ質量分析などの測定を可能にしたものであ
る。
【０００７】すなわち、無極性の試料は、ガスクロマト
グラフを通って従来品のように電子衝撃イオン源でイオ
ン化され、試料イオンとなって分析部に導入される。一
方極性のある試料は通常液体クロマトグラフを通り、イ
オン化も、電子衝撃イオン源の後に設置された大気圧化
学イオン化，フリットファブあるいはエレクトロスプレ
ーイオン源などによりイオン化され、ディフレクター電
極で試料イオンの方向修正することにより、溶媒分子お
よびイオン化されなかった液体クロマトグラフ移動相な
どは直進し排気される。試料イオンは電子衝撃イオン源
の後から入り、加速されレンズ作用を受け収斂しながら
分析部へと送られ、試料イオンスペクトルとして記録さ
れる。
グラフを通って従来品のように電子衝撃イオン源でイオ
ン化され、試料イオンとなって分析部に導入される。一
方極性のある試料は通常液体クロマトグラフを通り、イ
オン化も、電子衝撃イオン源の後に設置された大気圧化
学イオン化，フリットファブあるいはエレクトロスプレ
ーイオン源などによりイオン化され、ディフレクター電
極で試料イオンの方向修正することにより、溶媒分子お
よびイオン化されなかった液体クロマトグラフ移動相な
どは直進し排気される。試料イオンは電子衝撃イオン源
の後から入り、加速されレンズ作用を受け収斂しながら
分析部へと送られ、試料イオンスペクトルとして記録さ
れる。
【０００８】また、ガスクロマトグラフ質量分析計とし
て使用するときはディフレクター電圧を変更し、液体ク
ロマトグラフからのイオン飛行方向を変え、試料イオン
を電子衝撃イオン源に入れないようにすることにより、
従来のガスクロマトグラフ質量分析計としての機能を果
たす。
て使用するときはディフレクター電圧を変更し、液体ク
ロマトグラフからのイオン飛行方向を変え、試料イオン
を電子衝撃イオン源に入れないようにすることにより、
従来のガスクロマトグラフ質量分析計としての機能を果
たす。
【０００９】以上のことから１台の質量分析計に複数の
イオン源を設置し、極性の異なった試料でもイオン源の
組替えなしに測定出来るようにしたものである。
イオン源を設置し、極性の異なった試料でもイオン源の
組替えなしに測定出来るようにしたものである。
【００１０】
【作用】ガスクロマトグラフ質量分析のように無極性の
試料のイオン化は従来から使用されていた電子衝撃イオ
ン源を使用する。極性物質などは通常液体クロマトグラ
フを通して分析されており、そのイオン化は電子衝撃イ
オン源の後方に設置された大気圧化学イオン化，エレク
トロスプレーなどのイオン源により液体クロマトグラフ
から流出した試料のイオン化を行い、各イオン源を出射
した試料イオンはディフレクター電極によりイオンの軌
道変更を行い、電子衝撃イオン源の後よりリペラ電極方
向に導入，分析部へ送られるので、各イオン源を取外す
ことなしに各種モードの測定が可能となる。
試料のイオン化は従来から使用されていた電子衝撃イオ
ン源を使用する。極性物質などは通常液体クロマトグラ
フを通して分析されており、そのイオン化は電子衝撃イ
オン源の後方に設置された大気圧化学イオン化，エレク
トロスプレーなどのイオン源により液体クロマトグラフ
から流出した試料のイオン化を行い、各イオン源を出射
した試料イオンはディフレクター電極によりイオンの軌
道変更を行い、電子衝撃イオン源の後よりリペラ電極方
向に導入，分析部へ送られるので、各イオン源を取外す
ことなしに各種モードの測定が可能となる。
【００１１】
【実施例】以下本発明の一実施例を図１により説明す
る。比較的無極性の試料はガスクロマトグラフ１より注
入、カラム分離後流出した試料分子は電子衝撃イオン源
２〜６に導入される。電子衝撃イオン源では、フィラメ
ント３に電流を流すことにより生成される熱電子と試料
分子の衝突によりガスクロマトグラフからの流出成分は
イオン化され、リペラ電極４で分析部方向へ押し出さ
れ、イオン化箱２に印加されたイオン加速電圧によりア
ーススリット６へ向かって引き出され、途中にあるレン
ズ電極５で収斂し分析部へと入り分析される。
る。比較的無極性の試料はガスクロマトグラフ１より注
入、カラム分離後流出した試料分子は電子衝撃イオン源
２〜６に導入される。電子衝撃イオン源では、フィラメ
ント３に電流を流すことにより生成される熱電子と試料
分子の衝突によりガスクロマトグラフからの流出成分は
イオン化され、リペラ電極４で分析部方向へ押し出さ
れ、イオン化箱２に印加されたイオン加速電圧によりア
ーススリット６へ向かって引き出され、途中にあるレン
ズ電極５で収斂し分析部へと入り分析される。
【００１２】一方液体クロマトグラフ１２からの試料は
流出してくる試料の質量数、極性によって、エレクトロ
スプレー１３〜１５と大気圧化学イオン化８〜１１を使
いわける。すなわち高極性で高質量数の物質はエレクト
ロスプレー、低〜中極性で低〜中質量数の物質は大気圧
化学イオン化イオン源でイオン化を行う。
流出してくる試料の質量数、極性によって、エレクトロ
スプレー１３〜１５と大気圧化学イオン化８〜１１を使
いわける。すなわち高極性で高質量数の物質はエレクト
ロスプレー、低〜中極性で低〜中質量数の物質は大気圧
化学イオン化イオン源でイオン化を行う。
【００１３】エレクトロスプレーは液体クロマトグラフ
からの移動相をキャピラリー１５を通して送りこみ、キ
ャピラリーの先端に対向電極に対し約３〜５ｋＶの電圧
を印加する。キャピラリーの先端からは、非常に小さな
液滴が生成し、この液滴には多くの正または負の電荷が
帯電される。噴霧は大気中に行われ、液滴は対向電極の
方へ移動しながら、液滴表面から溶媒の気化が行われ液
滴は小さくなって行く。電荷は液滴表面に電解により局
在するようになる。液滴が小さくなり電気的反発力が表
面張力を上回ると、液滴は一気に細分化され最後は溶質
分子(試料分子)に電荷が移った状態となり、液相から気
相へ直接イオンの蒸発が行われ試料分子はイオン化され
る。
からの移動相をキャピラリー１５を通して送りこみ、キ
ャピラリーの先端に対向電極に対し約３〜５ｋＶの電圧
を印加する。キャピラリーの先端からは、非常に小さな
液滴が生成し、この液滴には多くの正または負の電荷が
帯電される。噴霧は大気中に行われ、液滴は対向電極の
方へ移動しながら、液滴表面から溶媒の気化が行われ液
滴は小さくなって行く。電荷は液滴表面に電解により局
在するようになる。液滴が小さくなり電気的反発力が表
面張力を上回ると、液滴は一気に細分化され最後は溶質
分子(試料分子)に電荷が移った状態となり、液相から気
相へ直接イオンの蒸発が行われ試料分子はイオン化され
る。
【００１４】大気圧化学イオン化は大気圧下で液体クロ
マトグラフの移動相である水やメタノールなどの移動相
溶媒をコロナ放電によりイオン化し生成された移動相溶
媒イオンで溶質分子（試料分子）のイオン化を行うもの
である。液体クロマトグラフより流出した試料は移動相
とともに霧化器１１で霧化され、脱溶媒室１０ではほと
んどの移動相溶媒が排気された後、残った移動相溶媒と
試料は針電極室に入り、針電極１６より起るコロナ放電
によりまず移動相溶媒をイオン化し、その後繰り返しの
イオン分子反応により試料分子を一種の化学イオン化反
応によりイオン化する。ここで生成されたイオンは第１
細孔９，第２細孔８（エレクトロスプレーは第１細孔１
４，第２細孔１３）を通りイオン軌道修正用ディフレク
ター電極７で、軌道修正され電子衝撃イオン源の後方よ
りイオン源に入り、イオン化箱に掛かったイオン加速電
圧により加速され分析部に入った後質量分散を受けスペ
クトルとして観察される。以上のような方法をとるとイ
オン源の脱着なしにガスクロマトグラフ／電子衝撃法，
液体クロマトグラフ／エレクトロスプレー，液体クロマ
トグラフ／大気圧化学イオン化法などの分析を行うこと
が可能となる。
マトグラフの移動相である水やメタノールなどの移動相
溶媒をコロナ放電によりイオン化し生成された移動相溶
媒イオンで溶質分子（試料分子）のイオン化を行うもの
である。液体クロマトグラフより流出した試料は移動相
とともに霧化器１１で霧化され、脱溶媒室１０ではほと
んどの移動相溶媒が排気された後、残った移動相溶媒と
試料は針電極室に入り、針電極１６より起るコロナ放電
によりまず移動相溶媒をイオン化し、その後繰り返しの
イオン分子反応により試料分子を一種の化学イオン化反
応によりイオン化する。ここで生成されたイオンは第１
細孔９，第２細孔８（エレクトロスプレーは第１細孔１
４，第２細孔１３）を通りイオン軌道修正用ディフレク
ター電極７で、軌道修正され電子衝撃イオン源の後方よ
りイオン源に入り、イオン化箱に掛かったイオン加速電
圧により加速され分析部に入った後質量分散を受けスペ
クトルとして観察される。以上のような方法をとるとイ
オン源の脱着なしにガスクロマトグラフ／電子衝撃法，
液体クロマトグラフ／エレクトロスプレー，液体クロマ
トグラフ／大気圧化学イオン化法などの分析を行うこと
が可能となる。
【００１５】また、質量挿引ごとにディフレクター電極
７の電圧を変化させることにより液体クロマトグラフ／
エレクトロスプレー，液体クロマトグラフ／大気圧化学
イオン化法の交互測定が可能となり、エレクトロスプレ
ーで分子イオンを、大気圧化学イオン化法でフラグメン
トイオン測定し、両データを合成することにより、一枚
のデータ上により多くの情報を加えデータ検索のスタン
ダードにすることも可能となる。
７の電圧を変化させることにより液体クロマトグラフ／
エレクトロスプレー，液体クロマトグラフ／大気圧化学
イオン化法の交互測定が可能となり、エレクトロスプレ
ーで分子イオンを、大気圧化学イオン化法でフラグメン
トイオン測定し、両データを合成することにより、一枚
のデータ上により多くの情報を加えデータ検索のスタン
ダードにすることも可能となる。
【００１６】
【発明の効果】本発明によれば、１台の質量分析計に各
種イオン源を装着し試料の極性に応じたイオンをそれら
のイオン源で行った後、ディフレクター電極でイオン軌
道を変更することにより電子衝撃イオン源の後方より導
入し分析する。本発明ではイオン源の組替えなしに無極
性から高極性の試料の分析を可能とするほか、液体クロ
マトグラフ質量分析，ガスクロマトグラフ質量分析の同
時測定なども可能とする。
種イオン源を装着し試料の極性に応じたイオンをそれら
のイオン源で行った後、ディフレクター電極でイオン軌
道を変更することにより電子衝撃イオン源の後方より導
入し分析する。本発明ではイオン源の組替えなしに無極
性から高極性の試料の分析を可能とするほか、液体クロ
マトグラフ質量分析，ガスクロマトグラフ質量分析の同
時測定なども可能とする。
【図１】本発明の一実施例の断面およびイオン源配置を
示す図である。
示す図である。
１…ガスクロマトグラフ、２…イオン化箱、３…フィラ
メント、４…リペラ電極、５…レンズ電極、６…アース
電極、７…ディフレクター電極、８，１３…第２細孔、
９，１４…第１細孔、１０…脱溶媒室、１１…霧化器、
１２…液体クロマトグラフ、１５…キャピラリー、１６
…針電極、１７…ディフレクター電源、１８…電子ビー
ム、１９…試料イオンビーム。
メント、４…リペラ電極、５…レンズ電極、６…アース
電極、７…ディフレクター電極、８，１３…第２細孔、
９，１４…第１細孔、１０…脱溶媒室、１１…霧化器、
１２…液体クロマトグラフ、１５…キャピラリー、１６
…針電極、１７…ディフレクター電源、１８…電子ビー
ム、１９…試料イオンビーム。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ▲高▼橋 利明 茨城県勝田市堀口字長久保832番地２ 日 立計測エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 板東 智美 茨城県勝田市堀口字長久保832番地２ 日 立計測エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 白崎 俊浩 茨城県勝田市堀口字長久保832番地２ 日 立計測エンジニアリング株式会社内
Claims (4)
- 【請求項１】異なったイオン化方式のイオン源を兼ね備
えた質量分析計において、電子衝撃イオン源の、分析部
と反対方向から、大気圧イオン化，エレクトロスプレー
などによりイオン化されたイオンを導入し分析部へ押し
出すことを特徴とした質量分析計。 - 【請求項２】請求項１において、電子衝撃イオン源に導
入されるイオンは、大気圧イオン源など各々のイオン源
よりイオン方向変更電極（ディフレクター電極）を介し
導入することを特徴とした質量分析計。 - 【請求項３】請求項２において、分析部に導入される各
イオン源からのイオンは、ディフレクター電圧などを変
化させることにより、必要とするイオンのみ、すなわち
検討しようとするイオン源からのイオンのみを分析部に
導入することを特徴とする質量分析計。 - 【請求項４】請求項３において、ディフレクター電圧
は、各イオンモードごと、または質量挿引ごとに変化さ
せ１台の質量分析計で複数のイオン源からのイオンを同
時に分析することを特徴とした質量分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5007332A JPH06215729A (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5007332A JPH06215729A (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 質量分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06215729A true JPH06215729A (ja) | 1994-08-05 |
Family
ID=11663005
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5007332A Pending JPH06215729A (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 質量分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06215729A (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2349270B (en) * | 1999-04-15 | 2002-02-13 | Hitachi Ltd | Mass analysis apparatus and method for mass analysis |
| WO2001044795A3 (en) * | 1999-12-15 | 2002-11-14 | Mds Inc | Parallel sample introduction electrospray mass spectrometer with electronic indexing through multiple ion entrance orifices |
| JP2007213934A (ja) * | 2006-02-08 | 2007-08-23 | Hitachi Ltd | 質量分析装置及び質量分析方法 |
| JP2008209293A (ja) * | 2007-02-27 | 2008-09-11 | Hitachi High-Tech Science Systems Corp | 液体クロマトグラフ質量分析計 |
| JP2009036739A (ja) * | 2007-08-06 | 2009-02-19 | Hitachi Ltd | 質量分析装置及び質量分析方法 |
| JP2010027622A (ja) * | 2009-10-30 | 2010-02-04 | Canon Anelva Corp | 質量分析装置 |
| JP2012519841A (ja) * | 2009-03-06 | 2012-08-30 | マイクロマス・ユー・ケイ・リミテツド | デュアルソース質量分析システム |
| JP2012519840A (ja) * | 2009-03-06 | 2012-08-30 | マイクロマス・ユー・ケイ・リミテツド | デュアルソース質量分析システム |
| WO2015060341A1 (ja) | 2013-10-22 | 2015-04-30 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 繊維材料への塗料の塗着方法、繊維材料の製造方法、及び繊維材料加工装置 |
| WO2015060342A1 (ja) | 2013-10-22 | 2015-04-30 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 金属粒子の添着方法、抗菌消臭化方法、繊維材料の製造方法、及び金属粒子添着装置 |
| TWI625524B (zh) * | 2016-04-14 | 2018-06-01 | 國立中山大學 | 使用多游離源作爲連接介面及游離技術的層析質譜裝置 |
-
1993
- 1993-01-20 JP JP5007332A patent/JPH06215729A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2349270B (en) * | 1999-04-15 | 2002-02-13 | Hitachi Ltd | Mass analysis apparatus and method for mass analysis |
| WO2001044795A3 (en) * | 1999-12-15 | 2002-11-14 | Mds Inc | Parallel sample introduction electrospray mass spectrometer with electronic indexing through multiple ion entrance orifices |
| US6784422B2 (en) | 1999-12-15 | 2004-08-31 | Mds Inc. | Parallel sample introduction electrospray mass spectrometer with electronic indexing through multiple ion entrance orifices |
| JP2007213934A (ja) * | 2006-02-08 | 2007-08-23 | Hitachi Ltd | 質量分析装置及び質量分析方法 |
| JP2008209293A (ja) * | 2007-02-27 | 2008-09-11 | Hitachi High-Tech Science Systems Corp | 液体クロマトグラフ質量分析計 |
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| JP2012519841A (ja) * | 2009-03-06 | 2012-08-30 | マイクロマス・ユー・ケイ・リミテツド | デュアルソース質量分析システム |
| JP2012519840A (ja) * | 2009-03-06 | 2012-08-30 | マイクロマス・ユー・ケイ・リミテツド | デュアルソース質量分析システム |
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| WO2015060341A1 (ja) | 2013-10-22 | 2015-04-30 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 繊維材料への塗料の塗着方法、繊維材料の製造方法、及び繊維材料加工装置 |
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| TWI625524B (zh) * | 2016-04-14 | 2018-06-01 | 國立中山大學 | 使用多游離源作爲連接介面及游離技術的層析質譜裝置 |
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