JPH06216105A - ベーパ乾燥装置 - Google Patents
ベーパ乾燥装置Info
- Publication number
- JPH06216105A JPH06216105A JP764393A JP764393A JPH06216105A JP H06216105 A JPH06216105 A JP H06216105A JP 764393 A JP764393 A JP 764393A JP 764393 A JP764393 A JP 764393A JP H06216105 A JPH06216105 A JP H06216105A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vapor
- tank
- liquid
- ipa
- ipa liquid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Drying Of Solid Materials (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 IPAベーパ乾燥装置におけるIPA液の精
製再利用。 【構成】 ベーパ槽1内のIPA液3および受け皿14
で受けたIPA液3をドレインパイプ16,18を介し
て精製槽30内に流入させる。精製槽30内のIPA液
3に対して超音波振動子31によって超音波振動を加え
てキャビテーションを発生させてIPA液3内の水分を
気化させ、水蒸気37を水蒸気排気口33から排気させ
る。超音波振動の続行によりIPA液3の水分の含有率
は低くなる。ポンプ35を駆動させてリターンパイプ3
4で精製処理液39をベーパ槽1に還流させる。ベーパ
槽1内のIPA液3は常に水分の含有率が低く、常時多
量のIPA蒸気6が発生することから、確実な乾燥処理
が達成できることになる。また、IPA液3を循環させ
て使用するため、乾燥コストの低減が可能となる。
製再利用。 【構成】 ベーパ槽1内のIPA液3および受け皿14
で受けたIPA液3をドレインパイプ16,18を介し
て精製槽30内に流入させる。精製槽30内のIPA液
3に対して超音波振動子31によって超音波振動を加え
てキャビテーションを発生させてIPA液3内の水分を
気化させ、水蒸気37を水蒸気排気口33から排気させ
る。超音波振動の続行によりIPA液3の水分の含有率
は低くなる。ポンプ35を駆動させてリターンパイプ3
4で精製処理液39をベーパ槽1に還流させる。ベーパ
槽1内のIPA液3は常に水分の含有率が低く、常時多
量のIPA蒸気6が発生することから、確実な乾燥処理
が達成できることになる。また、IPA液3を循環させ
て使用するため、乾燥コストの低減が可能となる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はベーパ乾燥装置、特に蒸
気化される処理液における水分管理を行いながらベーパ
乾燥を行う技術に関し、たとえば、半導体デバイスの製
造における半導体薄板(ウエハ)の乾燥に適用して有効
な技術に関する。
気化される処理液における水分管理を行いながらベーパ
乾燥を行う技術に関し、たとえば、半導体デバイスの製
造における半導体薄板(ウエハ)の乾燥に適用して有効
な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスの製造においては、ウエ
ハに繰り返しホトリソグラフィ処理が行われる。そし
て、その都度ウエハの洗浄・乾燥処理が行われる。ウエ
ハの乾燥処理の一つにベーパ乾燥がある。ベーパ乾燥に
ついては、たとえば、日本エス・エス・ティ株式会社発
行「solid state tecnology (ソリッド ステート テ
クノロジ)日本版」1991年4月号、同年4月15日
発行、P21に記載されている。この文献には、ベーパ
ー乾燥について、「ウエーハ乾燥は,枚葉,インライ
ン,ベーパー乾燥で行なわれる。IPA(又は他の溶
剤)は,セルフ・コンテインで外部の加熱機構でプロセ
ス温度を得ている。ウエーハはJ−アームで位置を取
り,ベーパーを当て乾燥させる。」旨記載されている。
ハに繰り返しホトリソグラフィ処理が行われる。そし
て、その都度ウエハの洗浄・乾燥処理が行われる。ウエ
ハの乾燥処理の一つにベーパ乾燥がある。ベーパ乾燥に
ついては、たとえば、日本エス・エス・ティ株式会社発
行「solid state tecnology (ソリッド ステート テ
クノロジ)日本版」1991年4月号、同年4月15日
発行、P21に記載されている。この文献には、ベーパ
ー乾燥について、「ウエーハ乾燥は,枚葉,インライ
ン,ベーパー乾燥で行なわれる。IPA(又は他の溶
剤)は,セルフ・コンテインで外部の加熱機構でプロセ
ス温度を得ている。ウエーハはJ−アームで位置を取
り,ベーパーを当て乾燥させる。」旨記載されている。
【0003】また、工業調査会発行「電子材料」199
2年7月号、同年7月1日発行、P38〜P42には、
液晶パネル洗浄装置について記載されている。この文献
には、超音波洗浄と高周波洗浄について「液体中に40
kHzなどの強力な超音波を加え,発生するキャビテー
ションの物理的な作用で被洗浄物表面に付着したゴミを
除去する超音波洗浄は,バッチ処理で多く使われてい
る。また、高周波洗浄は,さらに高い周波数であるMH
z帯の超音波を純水などの流体に加え,その粒子加速度
の直進力により被洗浄物表面の微細なゴミ(パーティク
ル)を除去するもので,パターン形成プロセスにおける
枚葉処理方式の洗浄に使われている。」旨記載されてい
る。なお、この文献には、フロンベーパ乾燥についても
記載されている。
2年7月号、同年7月1日発行、P38〜P42には、
液晶パネル洗浄装置について記載されている。この文献
には、超音波洗浄と高周波洗浄について「液体中に40
kHzなどの強力な超音波を加え,発生するキャビテー
ションの物理的な作用で被洗浄物表面に付着したゴミを
除去する超音波洗浄は,バッチ処理で多く使われてい
る。また、高周波洗浄は,さらに高い周波数であるMH
z帯の超音波を純水などの流体に加え,その粒子加速度
の直進力により被洗浄物表面の微細なゴミ(パーティク
ル)を除去するもので,パターン形成プロセスにおける
枚葉処理方式の洗浄に使われている。」旨記載されてい
る。なお、この文献には、フロンベーパ乾燥についても
記載されている。
【0004】一方、「精密洗浄装置と最新応用技術」工
業資料センター、1991年11月8日発行、P476
およびP477には、超音波洗浄における洗浄液の表面
張力とキャビテーション・エネルギの関係について記載
されている。この文献には「洗浄液の表面張力を小さく
することによって、キャビテーション強度を小さくす
る。図12からキャビテーション・エネルギには表面張
力の要因が大きいことがわかる(その他蒸気圧、粘度の
要因もある)。I.P.A(21.7dyne/cm )、フロ
ン113(17.3dyne/cm )は表面張力が小さく、ま
た水に0.1%程度の界面活性剤を入れただけでも72
→30dyne/cm と小さくなる。」旨記載されている。ま
た、前記図12のグラフには、アミルアルコール,トル
エン,フェノール,アニリン,水における表面張力とキ
ャビテーション・エネルギの相関が記載されている。
業資料センター、1991年11月8日発行、P476
およびP477には、超音波洗浄における洗浄液の表面
張力とキャビテーション・エネルギの関係について記載
されている。この文献には「洗浄液の表面張力を小さく
することによって、キャビテーション強度を小さくす
る。図12からキャビテーション・エネルギには表面張
力の要因が大きいことがわかる(その他蒸気圧、粘度の
要因もある)。I.P.A(21.7dyne/cm )、フロ
ン113(17.3dyne/cm )は表面張力が小さく、ま
た水に0.1%程度の界面活性剤を入れただけでも72
→30dyne/cm と小さくなる。」旨記載されている。ま
た、前記図12のグラフには、アミルアルコール,トル
エン,フェノール,アニリン,水における表面張力とキ
ャビテーション・エネルギの相関が記載されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ウエハの乾燥を行う技
術の一つとして、前記文献にも記載されているように、
ベーパ乾燥技術がある。ベーパ乾燥装置では、ベーパ槽
に収容したIPA(イソプロパノール)等の処理液を加
熱して蒸気化し、このIPA蒸気(ベーパ)にウエハを
当てて乾燥を行っている。ウエハの表面で凝縮したIP
A蒸気は多量の水を含んでベーパ槽の処理液(IPA
液)中に落下する。IPA液は最初は高い純度を保つ
が、繰り返し行われるウエハの乾燥処理に伴って順次純
度が下がり、ヒータの加熱によるIPA液の蒸気化率は
低下する。この結果、ウエハの乾燥化が不十分となると
ともに、乾燥の効率も悪くなる。そこで、本発明者等で
は、IPA液の水分含有率が、たとえば5%程度に至る
と、乾燥処理を中断してIPA液の交換を行っている。
しかし、処理液中の水分の含有率が高い状態では、蒸気
化率が低く、乾燥に寄与する蒸気が少なくなって乾燥が
不十分となる。また、ベーパ槽から抜き出された処理液
は再度ウエハ乾燥には使用されることはなく、不経済で
ある。
術の一つとして、前記文献にも記載されているように、
ベーパ乾燥技術がある。ベーパ乾燥装置では、ベーパ槽
に収容したIPA(イソプロパノール)等の処理液を加
熱して蒸気化し、このIPA蒸気(ベーパ)にウエハを
当てて乾燥を行っている。ウエハの表面で凝縮したIP
A蒸気は多量の水を含んでベーパ槽の処理液(IPA
液)中に落下する。IPA液は最初は高い純度を保つ
が、繰り返し行われるウエハの乾燥処理に伴って順次純
度が下がり、ヒータの加熱によるIPA液の蒸気化率は
低下する。この結果、ウエハの乾燥化が不十分となると
ともに、乾燥の効率も悪くなる。そこで、本発明者等で
は、IPA液の水分含有率が、たとえば5%程度に至る
と、乾燥処理を中断してIPA液の交換を行っている。
しかし、処理液中の水分の含有率が高い状態では、蒸気
化率が低く、乾燥に寄与する蒸気が少なくなって乾燥が
不十分となる。また、ベーパ槽から抜き出された処理液
は再度ウエハ乾燥には使用されることはなく、不経済で
ある。
【0006】本発明の目的は、乾燥処理が常に安定して
行えるベーパ乾燥装置を提供することにある。
行えるベーパ乾燥装置を提供することにある。
【0007】本発明の他の目的は、処理液を精製還流再
使用できるベーパ乾燥装置を提供することにある。本発
明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、本明
細書の記述および添付図面からあきらかになるであろ
う。
使用できるベーパ乾燥装置を提供することにある。本発
明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、本明
細書の記述および添付図面からあきらかになるであろ
う。
【0008】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、下
記のとおりである。すなわち、本発明のベーパ乾燥装置
は、上部に開口扉を有しかつ下部に処理液(IPA液)
を収容するベーパ槽と、前記処理液を加熱して蒸気化す
るヒータと、前記ベーパ槽の上部の処理蒸気(IPA蒸
気)中に被乾燥物を搬出入するローダと、被乾燥物の表
面で凝縮しかつ落下するIPA液を受ける前記ベーパ槽
内に配設された受け皿と、超音波振動子を内蔵しかつ上
部に水蒸気排気口を有する精製槽と、前記受け皿内のI
PA液を精製槽内に流入させるドレインパイプ系と、前
記ベーパ槽の処理液を精製槽に流入させるドレインパイ
プ系と、前記精製槽内の精製処理液をベーパ槽に還流さ
せるリターンパイプ系とを有している。また、前記2つ
のドレインパイプ系には自動開閉弁が設けられ、必要に
応じて処理液を精製槽に流入させるようになっている。
また、前記リターンパイプ系には循環ポンプとフィルタ
ーが備えられている。また、前記受け皿に溜まった処理
液は常時または一定間隔毎にもしくはベーパ乾燥処理が
行われない時に精製槽に送られる。また、ベーパ槽の底
の処理液は一定間隔毎にまたはベーパ乾燥処理が行われ
ない時に精製槽に送られる。ベーパ槽の底の処理液を一
定間隔毎に精製槽に送る際、ベーパ乾燥処理に支障を来
さない量をベーパ槽内に残留させるように所定量の処理
液が精製槽に送られる。このような装置においては、前
記精製槽に導かれた水分を含む処理液に超音波振動を与
えてキャビテーションを発生させ、これによって水分を
蒸気化させて排気するとともに、水分の含有率が数%乃
至1%未満の精製処理液をベーパ槽に還流させるように
なっている。
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、下
記のとおりである。すなわち、本発明のベーパ乾燥装置
は、上部に開口扉を有しかつ下部に処理液(IPA液)
を収容するベーパ槽と、前記処理液を加熱して蒸気化す
るヒータと、前記ベーパ槽の上部の処理蒸気(IPA蒸
気)中に被乾燥物を搬出入するローダと、被乾燥物の表
面で凝縮しかつ落下するIPA液を受ける前記ベーパ槽
内に配設された受け皿と、超音波振動子を内蔵しかつ上
部に水蒸気排気口を有する精製槽と、前記受け皿内のI
PA液を精製槽内に流入させるドレインパイプ系と、前
記ベーパ槽の処理液を精製槽に流入させるドレインパイ
プ系と、前記精製槽内の精製処理液をベーパ槽に還流さ
せるリターンパイプ系とを有している。また、前記2つ
のドレインパイプ系には自動開閉弁が設けられ、必要に
応じて処理液を精製槽に流入させるようになっている。
また、前記リターンパイプ系には循環ポンプとフィルタ
ーが備えられている。また、前記受け皿に溜まった処理
液は常時または一定間隔毎にもしくはベーパ乾燥処理が
行われない時に精製槽に送られる。また、ベーパ槽の底
の処理液は一定間隔毎にまたはベーパ乾燥処理が行われ
ない時に精製槽に送られる。ベーパ槽の底の処理液を一
定間隔毎に精製槽に送る際、ベーパ乾燥処理に支障を来
さない量をベーパ槽内に残留させるように所定量の処理
液が精製槽に送られる。このような装置においては、前
記精製槽に導かれた水分を含む処理液に超音波振動を与
えてキャビテーションを発生させ、これによって水分を
蒸気化させて排気するとともに、水分の含有率が数%乃
至1%未満の精製処理液をベーパ槽に還流させるように
なっている。
【0009】
【作用】上記した手段によれば、本発明のベーパ乾燥装
置は、被乾燥物の表面で凝縮しかつ落下するIPA液を
受ける受け皿に溜まった水分の多いIPA液を精製槽に
流入させるとともに、ベーパ槽の底の水分含有率が増大
したIPA液を精製槽に流入させ、この精製槽内のIP
A液に対して超音波振動を加えてキャビテーションによ
る水分の気化を促し、水蒸気を水蒸気排気口から精製槽
外に排出する構造となっている。また、水分の含有率が
数%乃至1%未満の精製処理液(精製IPA液)をリタ
ーンパイプ系からベーパ槽に還流させるため、ベーパ槽
の底に溜まるIPA液は常に水分の含有率が低く、常時
多量のIPA蒸気が発生することから、確実な乾燥処理
が達成できることになる。また、本発明のベーパ乾燥装
置はIPA液を循環させて使用するため、処理液として
のIPA液の使用に無駄がなく経済的である。
置は、被乾燥物の表面で凝縮しかつ落下するIPA液を
受ける受け皿に溜まった水分の多いIPA液を精製槽に
流入させるとともに、ベーパ槽の底の水分含有率が増大
したIPA液を精製槽に流入させ、この精製槽内のIP
A液に対して超音波振動を加えてキャビテーションによ
る水分の気化を促し、水蒸気を水蒸気排気口から精製槽
外に排出する構造となっている。また、水分の含有率が
数%乃至1%未満の精製処理液(精製IPA液)をリタ
ーンパイプ系からベーパ槽に還流させるため、ベーパ槽
の底に溜まるIPA液は常に水分の含有率が低く、常時
多量のIPA蒸気が発生することから、確実な乾燥処理
が達成できることになる。また、本発明のベーパ乾燥装
置はIPA液を循環させて使用するため、処理液として
のIPA液の使用に無駄がなく経済的である。
【0010】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の一実施例につ
いて説明する。図1は本発明の一実施例によるベーパ乾
燥装置の概要を示す断面図である。本発明のベーパ乾燥
装置は、図1に示すように、大別してベーパ槽1および
精製槽30とからなっている。また、前記ベーパ槽1と
精製槽30間には2本のドレインパイプ系とリターンパ
イプ系とが設けられている。
いて説明する。図1は本発明の一実施例によるベーパ乾
燥装置の概要を示す断面図である。本発明のベーパ乾燥
装置は、図1に示すように、大別してベーパ槽1および
精製槽30とからなっている。また、前記ベーパ槽1と
精製槽30間には2本のドレインパイプ系とリターンパ
イプ系とが設けられている。
【0011】ベーパ槽1は上部が開口した箱型構造とな
っている。この開口部には観音開き状の開口扉2が設け
られている。また、ベーパ槽1内には処理液3、たとえ
ばイソプロパノール(IPA)液3が途中深さまで収容
される。このIPA液3は、ベーパ槽1の一側に取り付
けられた供給管4から圧送されて供給される。また、ベ
ーパ槽1の底側にはヒータ5が設けられている。このヒ
ータ5はベーパ槽1内のIPA液3を加熱して気化(I
PA液3の沸点は82°C)させる。そして、気化した
IPA蒸気6(点々で示す)によって被乾燥物7を乾燥
させる。また、ベーパ槽1の内壁上部には冷却用蛇管9
が一定高さ域に亘って設けられている。この冷却用蛇管
9には冷却水が流されることから、ベーパ槽1の開口空
間は冷却される。これによって、上昇して来たIPA蒸
気6は、冷却用蛇管9で冷却される空間領域に達する
と、凝固して落下する。
っている。この開口部には観音開き状の開口扉2が設け
られている。また、ベーパ槽1内には処理液3、たとえ
ばイソプロパノール(IPA)液3が途中深さまで収容
される。このIPA液3は、ベーパ槽1の一側に取り付
けられた供給管4から圧送されて供給される。また、ベ
ーパ槽1の底側にはヒータ5が設けられている。このヒ
ータ5はベーパ槽1内のIPA液3を加熱して気化(I
PA液3の沸点は82°C)させる。そして、気化した
IPA蒸気6(点々で示す)によって被乾燥物7を乾燥
させる。また、ベーパ槽1の内壁上部には冷却用蛇管9
が一定高さ域に亘って設けられている。この冷却用蛇管
9には冷却水が流されることから、ベーパ槽1の開口空
間は冷却される。これによって、上昇して来たIPA蒸
気6は、冷却用蛇管9で冷却される空間領域に達する
と、凝固して落下する。
【0012】ウエハからなる被乾燥物7は、カセット1
0に収容され、クランプ構造のローダ11に保持されて
IPA蒸気6が充満する処理空間12に搬入されて乾燥
処理され、その後ベーパ槽1の外に搬出される。ローダ
11は、一対のクランプ爪13の開閉動作でカセット1
0の保持・解放を行うようになっている。また、IPA
蒸気6はウエハ7の表面に触れると凝縮して落下する。
そして、この落下したIPA液3を受ける受け皿14が
ベーパ槽1の内部に設けられている。
0に収容され、クランプ構造のローダ11に保持されて
IPA蒸気6が充満する処理空間12に搬入されて乾燥
処理され、その後ベーパ槽1の外に搬出される。ローダ
11は、一対のクランプ爪13の開閉動作でカセット1
0の保持・解放を行うようになっている。また、IPA
蒸気6はウエハ7の表面に触れると凝縮して落下する。
そして、この落下したIPA液3を受ける受け皿14が
ベーパ槽1の内部に設けられている。
【0013】また、前記受け皿14を支持する支柱15
はパイプ状となり、IPA液3を下方に案内する。そし
て、この支柱15には、ドレインパイプ16の一端が連
結されている。このドレインパイプ16はベーパ槽1の
外に延在するとともに、下端を精製槽30内に突入させ
ている。また、前記ドレインパイプ16の途中部分には
自動開閉弁17が設けられている。また、前記ベーパ槽
1と精製槽30との間には、ドレインパイプ18が設け
られている。このドレインパイプ18は、ベーパ槽1の
底に収容されるIPA液3を精製槽30に流入させるよ
うになっている。このドレインパイプ18の途中にも自
動開閉弁19が設けられている。これら2本のドレイン
パイプ系は、前記自動開閉弁17,19が、図示しない
制御部によって制御されて駆動された際、IPA液3を
精製槽30内に流入させるようになっている。このIP
A液3の精製槽30への流入は、ベーパ乾燥時に随時行
う方法と、ベーパ乾燥が終了した段階で行う方法とがあ
る。前記2本のドレインパイプ系において、自動開閉弁
17,19をそれぞれ駆動させて開けることによって、
それぞれのIPA液3を精製槽30に流入させることが
できる。ベーパ乾燥処理後の場合は、自動開閉弁17,
19を開けて、全てのIPA液3を精製槽30に流入さ
せてもよいが、ベーパ乾燥処理時には、受け皿14内の
IPA液3は別として、ベーパ槽1の底に収容されてい
るIPA液3は、順次蒸気化する必要があるため、全部
のIPA液3を精製槽30に流入させることはできな
い。そこで、ベーパ乾燥処理時には、ベーパ槽1の底の
IPA液3は、ベーパ乾燥処理に支障を来さない量のI
PA液3が、一定間隔毎に精製槽に送られる。なお、ベ
ーパ乾燥処理時には、前記受け皿14内のIPA液3は
常時精製槽30に送るようにしても良く、また所定間隔
毎に所定時間自動開閉弁17を開いて精製槽30にIP
A液3を送るようにしても良い。
はパイプ状となり、IPA液3を下方に案内する。そし
て、この支柱15には、ドレインパイプ16の一端が連
結されている。このドレインパイプ16はベーパ槽1の
外に延在するとともに、下端を精製槽30内に突入させ
ている。また、前記ドレインパイプ16の途中部分には
自動開閉弁17が設けられている。また、前記ベーパ槽
1と精製槽30との間には、ドレインパイプ18が設け
られている。このドレインパイプ18は、ベーパ槽1の
底に収容されるIPA液3を精製槽30に流入させるよ
うになっている。このドレインパイプ18の途中にも自
動開閉弁19が設けられている。これら2本のドレイン
パイプ系は、前記自動開閉弁17,19が、図示しない
制御部によって制御されて駆動された際、IPA液3を
精製槽30内に流入させるようになっている。このIP
A液3の精製槽30への流入は、ベーパ乾燥時に随時行
う方法と、ベーパ乾燥が終了した段階で行う方法とがあ
る。前記2本のドレインパイプ系において、自動開閉弁
17,19をそれぞれ駆動させて開けることによって、
それぞれのIPA液3を精製槽30に流入させることが
できる。ベーパ乾燥処理後の場合は、自動開閉弁17,
19を開けて、全てのIPA液3を精製槽30に流入さ
せてもよいが、ベーパ乾燥処理時には、受け皿14内の
IPA液3は別として、ベーパ槽1の底に収容されてい
るIPA液3は、順次蒸気化する必要があるため、全部
のIPA液3を精製槽30に流入させることはできな
い。そこで、ベーパ乾燥処理時には、ベーパ槽1の底の
IPA液3は、ベーパ乾燥処理に支障を来さない量のI
PA液3が、一定間隔毎に精製槽に送られる。なお、ベ
ーパ乾燥処理時には、前記受け皿14内のIPA液3は
常時精製槽30に送るようにしても良く、また所定間隔
毎に所定時間自動開閉弁17を開いて精製槽30にIP
A液3を送るようにしても良い。
【0014】精製槽30は密閉箱型構造となっていて、
前記2本のドレインパイプ系から送られて来る水分の含
有率が高い処理液(IPA液)3が収容される。また、
精製槽30の底側には、超音波振動子(発振振動子)3
1が取り付けられている。この例では、超音波振動をI
PA液3全体に加えるように3個設けられている。ま
た、これら超音波振動子31はカバー32で被われてい
る。また、精製槽30の上部側壁には、水蒸気排気口3
3が設けられている。さらに、この精製槽30とベーパ
槽1との間にはリターンパイプ系が設けられている。リ
ターンパイプ系は、精製槽30の下部のIPA液3をベ
ーパ槽1の上部に還流させるリターンパイプ34と、こ
のリターンパイプ34の途中に設けられるポンプ35
と、このポンプ35と精製槽30との間に設けられるフ
ィルター36とからなっている。なお、このベーパ乾燥
装置を構成する各部は、耐薬品性に優れた材質、たとえ
ば石英,ステンレス,四フッ化エチレンで形成されてい
る。
前記2本のドレインパイプ系から送られて来る水分の含
有率が高い処理液(IPA液)3が収容される。また、
精製槽30の底側には、超音波振動子(発振振動子)3
1が取り付けられている。この例では、超音波振動をI
PA液3全体に加えるように3個設けられている。ま
た、これら超音波振動子31はカバー32で被われてい
る。また、精製槽30の上部側壁には、水蒸気排気口3
3が設けられている。さらに、この精製槽30とベーパ
槽1との間にはリターンパイプ系が設けられている。リ
ターンパイプ系は、精製槽30の下部のIPA液3をベ
ーパ槽1の上部に還流させるリターンパイプ34と、こ
のリターンパイプ34の途中に設けられるポンプ35
と、このポンプ35と精製槽30との間に設けられるフ
ィルター36とからなっている。なお、このベーパ乾燥
装置を構成する各部は、耐薬品性に優れた材質、たとえ
ば石英,ステンレス,四フッ化エチレンで形成されてい
る。
【0015】このような精製槽30においては、前記超
音波振動子31を駆動させて超音波発振させると、精製
槽30内のIPA液3は超音波振動によりキャビテーシ
ョンを起こし、IPA液3中の水分は気化して水蒸気3
7となる。すなわち、IPAに比較して水は表面張力が
大きく、キャビテーション・エネルギが大きい。このた
め、破壊強度が大きく、キャビテーションが起き易く気
化し易い。したがって、IPA液3は精製槽30の底に
残留するが、IPA液3中に含まれる水分は気化され、
水蒸気37となって水蒸気排気口33から精製槽30外
に排気される。超音波振動を続行させることによって、
精製槽30に収容されているIPA液3内の水分の含有
率が急速に低下する。そこで、所定時間超音波振動子3
1を駆動させて、水分の含有率が数%乃至1%未満とな
った時点で、前記超音波振動子31を停止させるととも
に、ポンプ35を駆動させて、精製槽30の底に収容さ
れる精製処理液(精製IPA液)39をベーパ槽1内に
還流させる。なお、精製槽30内のIPA液3(精製処
理液39)を所定量だけ還流させる場合、あるいは受け
皿14に繋がるドレインパイプ系から連続的に精製槽3
0にIPA液3を流入させる状態では、前記超音波振動
子31は連続駆動させて、水蒸気発生を続行する。これ
によって、ベーパ槽1に収容されるIPA液3の水分の
含有率は、従来のように5%とならず数%乃至1%未満
となるため、IPA液3における蒸気化は効率的に行わ
れることになり、ウエハ7は多量のIPA蒸気6で効果
的に乾燥処理されることになる。
音波振動子31を駆動させて超音波発振させると、精製
槽30内のIPA液3は超音波振動によりキャビテーシ
ョンを起こし、IPA液3中の水分は気化して水蒸気3
7となる。すなわち、IPAに比較して水は表面張力が
大きく、キャビテーション・エネルギが大きい。このた
め、破壊強度が大きく、キャビテーションが起き易く気
化し易い。したがって、IPA液3は精製槽30の底に
残留するが、IPA液3中に含まれる水分は気化され、
水蒸気37となって水蒸気排気口33から精製槽30外
に排気される。超音波振動を続行させることによって、
精製槽30に収容されているIPA液3内の水分の含有
率が急速に低下する。そこで、所定時間超音波振動子3
1を駆動させて、水分の含有率が数%乃至1%未満とな
った時点で、前記超音波振動子31を停止させるととも
に、ポンプ35を駆動させて、精製槽30の底に収容さ
れる精製処理液(精製IPA液)39をベーパ槽1内に
還流させる。なお、精製槽30内のIPA液3(精製処
理液39)を所定量だけ還流させる場合、あるいは受け
皿14に繋がるドレインパイプ系から連続的に精製槽3
0にIPA液3を流入させる状態では、前記超音波振動
子31は連続駆動させて、水蒸気発生を続行する。これ
によって、ベーパ槽1に収容されるIPA液3の水分の
含有率は、従来のように5%とならず数%乃至1%未満
となるため、IPA液3における蒸気化は効率的に行わ
れることになり、ウエハ7は多量のIPA蒸気6で効果
的に乾燥処理されることになる。
【0016】
【発明の効果】(1)本発明のベーパ乾燥装置は、処理
液が順次精製されて水分が除去されることから、処理液
中の水分の含有率は低く、蒸気化率は高い。したがっ
て、被乾燥物に触れる処理蒸気の量も多く、被乾燥物表
面の水分は短時間に完全に除去されるという効果が得ら
れる。
液が順次精製されて水分が除去されることから、処理液
中の水分の含有率は低く、蒸気化率は高い。したがっ
て、被乾燥物に触れる処理蒸気の量も多く、被乾燥物表
面の水分は短時間に完全に除去されるという効果が得ら
れる。
【0017】(2)上記(1)により、本発明のベーパ
乾燥装置は、水分の含有率が高くなった処理液を精製処
理してベーパ槽に還流して再使用するため、処理液の無
駄なく消費され経済的であるという効果が得られる。
乾燥装置は、水分の含有率が高くなった処理液を精製処
理してベーパ槽に還流して再使用するため、処理液の無
駄なく消費され経済的であるという効果が得られる。
【0018】(3)上記(1)および(2)により、本
発明によれば、乾燥コストが低廉なベーパ乾燥装置を提
供することができるという相乗効果が得られる。
発明によれば、乾燥コストが低廉なベーパ乾燥装置を提
供することができるという相乗効果が得られる。
【0019】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない、たとえば、
前記実施例ではイソプロパノール液内における水分の分
離に適用した例について説明したが、超音波振動による
キャビテーション・エネルギ閾値を選択して、水分以外
の液体の気化分離を行うようにしても良い。この場合、
超音波の周波数を変換し、2種類以上の混合液体の中か
ら各液体を別々に気化分離して再使用してもよい。ま
た、前記実施例では受け皿を設けてあるが、受け皿がな
い構造でも前記実施例同様な効果が得られる。
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない、たとえば、
前記実施例ではイソプロパノール液内における水分の分
離に適用した例について説明したが、超音波振動による
キャビテーション・エネルギ閾値を選択して、水分以外
の液体の気化分離を行うようにしても良い。この場合、
超音波の周波数を変換し、2種類以上の混合液体の中か
ら各液体を別々に気化分離して再使用してもよい。ま
た、前記実施例では受け皿を設けてあるが、受け皿がな
い構造でも前記実施例同様な効果が得られる。
【0020】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるイソプ
ロパノールを処理液とするベーパ乾燥装置に適用した場
合について説明したが、それに限定されるものではな
く、たとえば、フロンを使用するベーパ乾燥装置などに
も適用できる。本発明は少なくとも超音波振動によって
キャビテーションを起こす液体の気化分離技術には適用
できる。
なされた発明をその背景となった利用分野であるイソプ
ロパノールを処理液とするベーパ乾燥装置に適用した場
合について説明したが、それに限定されるものではな
く、たとえば、フロンを使用するベーパ乾燥装置などに
も適用できる。本発明は少なくとも超音波振動によって
キャビテーションを起こす液体の気化分離技術には適用
できる。
【図1】本発明の一実施例によるベーパ乾燥装置の概要
を示す断面図である。
を示す断面図である。
1…ベーパ槽、2…開口扉、3…処理液(IPA液)、
4…供給管、5…ヒータ、6…処理蒸気(IPA蒸
気)、7…ウエハ、9…冷却用蛇管、10…カセット、
11…ローダ、12…処理空間、13…クランプ爪、1
4…受け皿、15…支柱、16…ドレインパイプ、17
…自動開閉弁、18…ドレインパイプ、19…自動開閉
弁、30…精製槽、31…超音波振動子、32…カバ
ー、33…水蒸気排気口、34…リターンパイプ、35
…ポンプ、36…フィルター、37…水蒸気、39…精
製処理液(精製IPA液)。
4…供給管、5…ヒータ、6…処理蒸気(IPA蒸
気)、7…ウエハ、9…冷却用蛇管、10…カセット、
11…ローダ、12…処理空間、13…クランプ爪、1
4…受け皿、15…支柱、16…ドレインパイプ、17
…自動開閉弁、18…ドレインパイプ、19…自動開閉
弁、30…精製槽、31…超音波振動子、32…カバ
ー、33…水蒸気排気口、34…リターンパイプ、35
…ポンプ、36…フィルター、37…水蒸気、39…精
製処理液(精製IPA液)。
Claims (3)
- 【請求項1】 上部に開口扉を有しかつ下部に処理液を
収容するベーパ槽と、前記ベーパ槽内の処理液を加熱し
て蒸気化させるヒータと、前記ベーパ槽の上部の処理蒸
気中に被乾燥物を搬出入するローダとを有するベーパ乾
燥装置であって、超音波振動子を内蔵しかつ上部に水蒸
気排気口を有する精製槽と、前記ベーパ槽の処理液を精
製槽に流入させるドレインパイプ系と、前記精製槽内の
精製処理液を前記ベーパ槽に還流させるリターンパイプ
系とを有することを特徴とするベーパ乾燥装置。 - 【請求項2】 前記ベーパ槽には被乾燥物の表面で凝縮
しかつ落下する処理液を受ける受け皿が設けられている
とともに、この受け皿に溜まった処理液を前記精製槽に
流入させるドレインパイプ系を有することを特徴とする
請求項1記載のベーパ乾燥装置。 - 【請求項3】 前記処理液はイソプロパノールとなり、
精製処理液は水分の含有率が数%乃至1%未満の状態で
ベーパ槽に還流されることを特徴とする請求項1または
請求項2記載のベーパ乾燥装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP764393A JPH06216105A (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | ベーパ乾燥装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP764393A JPH06216105A (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | ベーパ乾燥装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06216105A true JPH06216105A (ja) | 1994-08-05 |
Family
ID=11671513
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP764393A Pending JPH06216105A (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | ベーパ乾燥装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06216105A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100678467B1 (ko) * | 2005-01-12 | 2007-02-02 | 삼성전자주식회사 | 기판 건조장치 및 이를 이용한 건조방법 |
| JP4870837B2 (ja) * | 2007-05-23 | 2012-02-08 | セメス カンパニー リミテッド | 基板乾燥装置及びその方法 |
| JP2016157709A (ja) * | 2015-02-23 | 2016-09-01 | 株式会社Screenホールディングス | 蒸気供給装置、蒸気乾燥装置、蒸気供給方法および蒸気乾燥方法 |
| JP2017144410A (ja) * | 2016-02-19 | 2017-08-24 | オルガノ株式会社 | イソプロピルアルコールの回収装置及び回収方法 |
-
1993
- 1993-01-20 JP JP764393A patent/JPH06216105A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100678467B1 (ko) * | 2005-01-12 | 2007-02-02 | 삼성전자주식회사 | 기판 건조장치 및 이를 이용한 건조방법 |
| US7887636B2 (en) | 2005-01-12 | 2011-02-15 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Substrate dryer and a drying method |
| JP4870837B2 (ja) * | 2007-05-23 | 2012-02-08 | セメス カンパニー リミテッド | 基板乾燥装置及びその方法 |
| US8793898B2 (en) | 2007-05-23 | 2014-08-05 | Semes Co., Ltd. | Apparatus and method for drying substrates |
| JP2016157709A (ja) * | 2015-02-23 | 2016-09-01 | 株式会社Screenホールディングス | 蒸気供給装置、蒸気乾燥装置、蒸気供給方法および蒸気乾燥方法 |
| US10612844B2 (en) | 2015-02-23 | 2020-04-07 | SCREEN Holdings Co., Ltd. | Vapor supplying apparatus, vapor drying apparatus, vapor supplying method, and vapor drying method |
| JP2017144410A (ja) * | 2016-02-19 | 2017-08-24 | オルガノ株式会社 | イソプロピルアルコールの回収装置及び回収方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100452542B1 (ko) | 세정물 건조장치 및 건조방법 | |
| US5601655A (en) | Method of cleaning substrates | |
| US6418942B1 (en) | Solvent and aqueous decompression processing system | |
| JPH03503975A (ja) | 表面および液体の洗浄方法 | |
| JP2002519179A (ja) | 半導体および他の装置の浸漬処理方法および装置 | |
| JP4608748B2 (ja) | 洗浄装置、洗浄システム及び洗浄方法 | |
| KR20010049985A (ko) | 세정 기구와 세정 시스템과 처리 기구 및 세정 방법 | |
| US5540245A (en) | Processing equipment of single substrate transfer type | |
| KR20060082339A (ko) | 기판 건조장치 및 이를 이용한 건조방법 | |
| JP3996345B2 (ja) | 洗浄物の乾燥方法及び乾燥装置並びに洗浄乾燥装置 | |
| JPS62183804A (ja) | 処理液の補給および/または再生方法 | |
| US4078974A (en) | Vapor generating and recovering apparatus including vapor condenser control means | |
| JPS63182818A (ja) | 乾燥装置 | |
| JP2003031533A (ja) | 高圧処理装置 | |
| JP2002313764A (ja) | 高圧処理装置 | |
| JPS62106630A (ja) | 処理装置 | |
| JP2922194B1 (ja) | 洗浄物の乾燥装置 | |
| JP4557742B2 (ja) | 溶剤回収機能付き蒸留装置 | |
| US5937878A (en) | Apparatus for removing particles from a wafer and for cleaning the wafer | |
| JP3052103B2 (ja) | 真空脱脂洗浄装置 | |
| JPH0731944A (ja) | 洗浄液の処理方法及び処理装置 | |
| JP2785923B2 (ja) | ワーク洗浄装置 | |
| JP2003273061A (ja) | 処理方法及び処理システム | |
| JP3231747B2 (ja) | 汚染洗浄液の煮詰め装置 | |
| JP3137244B2 (ja) | 洗浄物の乾燥装置及びその乾燥方法 |