JPH06222573A - ポジ型レジスト用剥離液 - Google Patents
ポジ型レジスト用剥離液Info
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- JPH06222573A JPH06222573A JP2847093A JP2847093A JPH06222573A JP H06222573 A JPH06222573 A JP H06222573A JP 2847093 A JP2847093 A JP 2847093A JP 2847093 A JP2847093 A JP 2847093A JP H06222573 A JPH06222573 A JP H06222573A
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Landscapes
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 ジメチルスルホキシドと含窒素有機ヒドロキ
シ化合物とを、重量比10:90ないし90:10の割
合で混合して得られた溶液に対して、一般式 【化1】 (式中のR1は水酸基又はアミノ基、R2は水素原子、
水酸基、アミノ基、カルボキシル基、アルキル基又はヒ
ドロキシアルキルである)で表わされる芳香族ヒドロキ
シ化合物0.5〜30重量%を配合して成るポジ型レジ
スト用剥離液である。 【効果】 比較的低温においても剥離性に優れる上、ア
ルミニウムなどの金属層に対する腐食性が少なく、IC
やLSIなどの半導体素子の製造に好適に用いられる。
シ化合物とを、重量比10:90ないし90:10の割
合で混合して得られた溶液に対して、一般式 【化1】 (式中のR1は水酸基又はアミノ基、R2は水素原子、
水酸基、アミノ基、カルボキシル基、アルキル基又はヒ
ドロキシアルキルである)で表わされる芳香族ヒドロキ
シ化合物0.5〜30重量%を配合して成るポジ型レジ
スト用剥離液である。 【効果】 比較的低温においても剥離性に優れる上、ア
ルミニウムなどの金属層に対する腐食性が少なく、IC
やLSIなどの半導体素子の製造に好適に用いられる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は新規なポジ型レジスト用
剥離液、さらに詳しくは、ICやLSIなどの半導体素
子の製造に好適な、比較的低温においても剥離性に優れ
る上、アルミニウムなどの金属層に対する腐食性の少な
いポジ型レジスト用剥離液に関するものである。
剥離液、さらに詳しくは、ICやLSIなどの半導体素
子の製造に好適な、比較的低温においても剥離性に優れ
る上、アルミニウムなどの金属層に対する腐食性の少な
いポジ型レジスト用剥離液に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ICやLSIなどの半導体素子の製造に
おいては、通常、まずシリコンウエハーなどの基板上に
酸化膜などの薄膜を形成し、次いでその表面にレジスト
を均一に塗布して感光層を設けたのち、露光及び現像処
理してレジストパターンを形成し、続いてこのレジスト
パターンをマスクとして下層部の酸化膜などの薄膜を選
択的にエッチングしたのち、レジストを完全に除去する
工程がとられている。
おいては、通常、まずシリコンウエハーなどの基板上に
酸化膜などの薄膜を形成し、次いでその表面にレジスト
を均一に塗布して感光層を設けたのち、露光及び現像処
理してレジストパターンを形成し、続いてこのレジスト
パターンをマスクとして下層部の酸化膜などの薄膜を選
択的にエッチングしたのち、レジストを完全に除去する
工程がとられている。
【0003】従来、このレジストの除去に使用される剥
離液としては、全炭素数10〜20のアルキルベンゼン
スルホン酸と沸点150℃以上の非ハロゲン化芳香族炭
化水素系溶剤との混合液(特開昭51−72503号公
報)、ジメチル又はジエチルスルホキシドと有機スルホ
ンとから成る混合液(特開昭57−84456号公
報)、全炭素数10〜20の表面活性アルキルアリール
スルホン酸と全炭素数6〜9の向水性芳香族スルホンと
沸点150℃以上の非ハロゲン化芳香族炭化水素系溶剤
との混合液(米国特許第4165294号明細書)、有
機スルホン酸及び1,2‐ジヒドロキシベンゼンに極性
又は非極性有機溶剤を添加したもの(ヨーロッパ公開特
許第0119337号明細書)などが提案されている。
離液としては、全炭素数10〜20のアルキルベンゼン
スルホン酸と沸点150℃以上の非ハロゲン化芳香族炭
化水素系溶剤との混合液(特開昭51−72503号公
報)、ジメチル又はジエチルスルホキシドと有機スルホ
ンとから成る混合液(特開昭57−84456号公
報)、全炭素数10〜20の表面活性アルキルアリール
スルホン酸と全炭素数6〜9の向水性芳香族スルホンと
沸点150℃以上の非ハロゲン化芳香族炭化水素系溶剤
との混合液(米国特許第4165294号明細書)、有
機スルホン酸及び1,2‐ジヒドロキシベンゼンに極性
又は非極性有機溶剤を添加したもの(ヨーロッパ公開特
許第0119337号明細書)などが提案されている。
【0004】しかしながら、これらの剥離液はレジスト
に対する剥離能力について十分ではなく、特に半導体素
子の製造過程で例えば高温に曝されたり、エッチング処
理の際に強い酸溶液や、プラズマのような過酷な化学的
環境に曝されて、変質したレジストに対しては剥離性が
低いため、実用性を欠き、また半導体素子の製造工程で
使用されるアルミニウムなどの金属層に対して腐食をも
たらすおそれがあるなどの欠点を有している。
に対する剥離能力について十分ではなく、特に半導体素
子の製造過程で例えば高温に曝されたり、エッチング処
理の際に強い酸溶液や、プラズマのような過酷な化学的
環境に曝されて、変質したレジストに対しては剥離性が
低いため、実用性を欠き、また半導体素子の製造工程で
使用されるアルミニウムなどの金属層に対して腐食をも
たらすおそれがあるなどの欠点を有している。
【0005】さらに、従来の剥離液においては、通常レ
ジストを剥離処理する際に温度が100℃以上でないと
実用的な剥離性を示さないため、剥離液の揮発量が多く
て、経時的に組成変化を生じるのを免れず、剥離液を安
定に使用できないという欠点がある。
ジストを剥離処理する際に温度が100℃以上でないと
実用的な剥離性を示さないため、剥離液の揮発量が多く
て、経時的に組成変化を生じるのを免れず、剥離液を安
定に使用できないという欠点がある。
【0006】
【発明が解決しよとする課題】本発明は、このような従
来の剥離液が有する欠点を克服し、従来より低い処理温
度においても剥離性に優れ、しかもアルミニウムなどの
金属層を腐食させないポジ型レジスト用剥離液を提供す
ることを目的としてなされたものである。
来の剥離液が有する欠点を克服し、従来より低い処理温
度においても剥離性に優れ、しかもアルミニウムなどの
金属層を腐食させないポジ型レジスト用剥離液を提供す
ることを目的としてなされたものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、前記の好
ましい性質を有するポジ型レジスト用剥離液を開発すべ
く鋭意研究を重ねた結果、特定の割合のジメチルスルホ
キシドと含窒素有機ヒドロキシ化合物とから成る混合液
に、水酸基を有する特定の芳香族化合物を所定の割合で
配合することにより、その目的を達成しうることを見出
し、この知見に基づいて本発明を完成するに至った。
ましい性質を有するポジ型レジスト用剥離液を開発すべ
く鋭意研究を重ねた結果、特定の割合のジメチルスルホ
キシドと含窒素有機ヒドロキシ化合物とから成る混合液
に、水酸基を有する特定の芳香族化合物を所定の割合で
配合することにより、その目的を達成しうることを見出
し、この知見に基づいて本発明を完成するに至った。
【0008】すなわち、本発明は、ジメチルスルホキシ
ドと含窒素有機ヒドロキシ化合物とを、重量比10:9
0ないし90:10の割合で混合して得られた溶液に対
して、一般式
ドと含窒素有機ヒドロキシ化合物とを、重量比10:9
0ないし90:10の割合で混合して得られた溶液に対
して、一般式
【化2】 (式中のR1は水酸基又はアミノ基、R2は水素原子、
水酸基、アミノ基、カルボキシル基、アルキル基又はヒ
ドロキシアルキル基である)で表わされる芳香族ヒドロ
キシ化合物0.5〜30重量%を配合したことを特徴と
するポジ型レジスト用剥離液を提供するものである。
水酸基、アミノ基、カルボキシル基、アルキル基又はヒ
ドロキシアルキル基である)で表わされる芳香族ヒドロ
キシ化合物0.5〜30重量%を配合したことを特徴と
するポジ型レジスト用剥離液を提供するものである。
【0009】本発明剥離液において用いられる含窒素有
機ヒドロキシ化合物については、分子中に窒素原子を有
する有機ヒドロキシ化合物であればよく特に制限され
ず、各種のものを用いることができるが、N‐ヒドロキ
シアルキル置換のアミン及び含窒素複素環式化合物が好
適である。
機ヒドロキシ化合物については、分子中に窒素原子を有
する有機ヒドロキシ化合物であればよく特に制限され
ず、各種のものを用いることができるが、N‐ヒドロキ
シアルキル置換のアミン及び含窒素複素環式化合物が好
適である。
【0010】このような化合物としては、例えばモノエ
タノールアミン、N‐ヒドロキシエチルピペラジン、1
‐(2‐ヒドロキシエチル)‐2‐ピロリドン、1‐
(3‐ヒドロキシプロピル)‐2‐ピロリドン、4‐
(2‐ヒドロキシエチル)モルホリン、N‐(2‐ヒド
ロキシエチル)フタルイミド、2‐(2‐ヒドロキシエ
チル)ピリジン、3‐(1‐ピロリジル)‐1,2‐プ
ロパンジオール、2‐ピペリジンメタノール、N‐メチ
ル‐3‐ピペリジンメタノール、2‐ピペリジンエタノ
ール、N‐メチル‐3‐ヒドロキシピペリジン、N‐メ
チル‐4‐ピペリジノール、1‐ピペリジンエタノール
などを挙げることができる。これらの含窒素有機ヒドロ
キシ化合物は1種用いてもよいし、2種以上を組み合わ
せて用いてもよい。
タノールアミン、N‐ヒドロキシエチルピペラジン、1
‐(2‐ヒドロキシエチル)‐2‐ピロリドン、1‐
(3‐ヒドロキシプロピル)‐2‐ピロリドン、4‐
(2‐ヒドロキシエチル)モルホリン、N‐(2‐ヒド
ロキシエチル)フタルイミド、2‐(2‐ヒドロキシエ
チル)ピリジン、3‐(1‐ピロリジル)‐1,2‐プ
ロパンジオール、2‐ピペリジンメタノール、N‐メチ
ル‐3‐ピペリジンメタノール、2‐ピペリジンエタノ
ール、N‐メチル‐3‐ヒドロキシピペリジン、N‐メ
チル‐4‐ピペリジノール、1‐ピペリジンエタノール
などを挙げることができる。これらの含窒素有機ヒドロ
キシ化合物は1種用いてもよいし、2種以上を組み合わ
せて用いてもよい。
【0011】本発明剥離液は、ジメチルスルホキシドと
前記含窒素有機ヒドロキシ化合物とを重量比10:90
ないし90:10、好ましくは20:80ないし80:
20の割合で混合して得られた溶液に対して、前記一般
式(I)で表わされる化合物を0.5〜30重量%、好
ましくは1〜20重量%の割合で配合したものであっ
て、ジメチルスルホキシドと含窒素有機ヒドロキシ化合
物との混合割合が前記範囲を逸脱すると剥離性が著しく
低下するとともに、アルミニウムなどの金属層に対する
腐食性が大きくなる。また、一般式(I)で表わされる
化合物の配合量が0.5重量%未満では剥離性の向上効
果が十分に発揮されないし、30重量%を超えると剥離
液としての安定性が低下する。
前記含窒素有機ヒドロキシ化合物とを重量比10:90
ないし90:10、好ましくは20:80ないし80:
20の割合で混合して得られた溶液に対して、前記一般
式(I)で表わされる化合物を0.5〜30重量%、好
ましくは1〜20重量%の割合で配合したものであっ
て、ジメチルスルホキシドと含窒素有機ヒドロキシ化合
物との混合割合が前記範囲を逸脱すると剥離性が著しく
低下するとともに、アルミニウムなどの金属層に対する
腐食性が大きくなる。また、一般式(I)で表わされる
化合物の配合量が0.5重量%未満では剥離性の向上効
果が十分に発揮されないし、30重量%を超えると剥離
液としての安定性が低下する。
【0012】前記一般式(I)で表わされる芳香族ヒド
ロキシ化合物としては、例えばクレゾール、キシレノー
ル、ピロカテコール、レゾルシノール、ヒドロキノン、
ピロガロール、1,2,4‐ベンゼントリオール、サリ
チルアルコール、p‐ヒドロキシベンジルアルコール、
o‐ヒドロキシベンジルアルコール、p‐ヒドロキシフ
ェネチルアルコール、p‐アミノフェノール、m‐アミ
ノフェノール、ジアミノフェノール、アミノレゾルシノ
ール、p‐ヒドロキシ安息香酸、o‐ヒドロキシ安息香
酸、2,4‐ジヒドロキシ安息香酸、2,5‐ジヒドロ
キシ安息香酸、2,6‐ジヒドロキシ安息香酸、3,4
‐ジヒドロキシ安息香酸、3,5‐ジヒドロキシ安息香
酸などを挙げることができる。これらの化合物は1種用
いてもよいし、2種以上組み合わせて用いてもよい。こ
れらの化合物の中でも特に剥離性の向上作用に優れるピ
ロカテコールが好適に使用される。
ロキシ化合物としては、例えばクレゾール、キシレノー
ル、ピロカテコール、レゾルシノール、ヒドロキノン、
ピロガロール、1,2,4‐ベンゼントリオール、サリ
チルアルコール、p‐ヒドロキシベンジルアルコール、
o‐ヒドロキシベンジルアルコール、p‐ヒドロキシフ
ェネチルアルコール、p‐アミノフェノール、m‐アミ
ノフェノール、ジアミノフェノール、アミノレゾルシノ
ール、p‐ヒドロキシ安息香酸、o‐ヒドロキシ安息香
酸、2,4‐ジヒドロキシ安息香酸、2,5‐ジヒドロ
キシ安息香酸、2,6‐ジヒドロキシ安息香酸、3,4
‐ジヒドロキシ安息香酸、3,5‐ジヒドロキシ安息香
酸などを挙げることができる。これらの化合物は1種用
いてもよいし、2種以上組み合わせて用いてもよい。こ
れらの化合物の中でも特に剥離性の向上作用に優れるピ
ロカテコールが好適に使用される。
【0013】本発明のポジ型レジスト用剥離液は、シリ
コンウエハーなどの基板上に形成されたレジスト膜に6
0〜100℃の温度で接触させることで、レジスト膜を
容易に剥離することができ、従来の剥離液の処理温度で
ある90〜130℃に比べ低い温度で処理することがで
きる。
コンウエハーなどの基板上に形成されたレジスト膜に6
0〜100℃の温度で接触させることで、レジスト膜を
容易に剥離することができ、従来の剥離液の処理温度で
ある90〜130℃に比べ低い温度で処理することがで
きる。
【0014】
【発明の効果】本発明のポジ型レジスト用剥離液は、1
00℃以下の温度においても剥離性に優れ、特に過酷な
化学的環境に曝され、変質したレジストに対しても容易
に剥離することができ、かつアルミニウムなどの金属層
を腐食しないため、半導体素子の製造用として好適であ
る。
00℃以下の温度においても剥離性に優れ、特に過酷な
化学的環境に曝され、変質したレジストに対しても容易
に剥離することができ、かつアルミニウムなどの金属層
を腐食しないため、半導体素子の製造用として好適であ
る。
【0015】
【実施例】次に、実施例により本発明をさらに詳細に説
明するが、本発明はこれらの例によってなんら限定され
るものではない。
明するが、本発明はこれらの例によってなんら限定され
るものではない。
【0016】なお、各例中の剥離性及び耐食性は次のよ
うにして試験し、評価した。 (1)剥離性 シリコンウエハー上にポジ型レジストOFPR‐800
(東京応化工業社製)を乾燥膜厚1.35μmになるよ
うに塗布し、次いでこれを露光し、現像したのち、15
0℃で5分間ポストベークしてレジスト膜を得た。次に
液温80℃に保持した剥離液中にレジスト膜を形成した
シリコンウエハーを浸漬し、5分後、10分後及び15
分後にこれらを取り出して、その剥離性を以下の基準に
従って評価した。 ○…5分未満で剥離する △…5〜10分で剥離する ×…10分経過後も剥離しない
うにして試験し、評価した。 (1)剥離性 シリコンウエハー上にポジ型レジストOFPR‐800
(東京応化工業社製)を乾燥膜厚1.35μmになるよ
うに塗布し、次いでこれを露光し、現像したのち、15
0℃で5分間ポストベークしてレジスト膜を得た。次に
液温80℃に保持した剥離液中にレジスト膜を形成した
シリコンウエハーを浸漬し、5分後、10分後及び15
分後にこれらを取り出して、その剥離性を以下の基準に
従って評価した。 ○…5分未満で剥離する △…5〜10分で剥離する ×…10分経過後も剥離しない
【0017】(2)耐食性 純水に剥離液を配合することで、各剥離液の10重量%
水溶液を調製し、その水溶液にパターン化されたアルミ
ニウム層が形成されたシリコンウエハーを20分間浸漬
し、アルミニウムの腐食の有無を目視により観察した。 ○…腐食が認められないもの。 △…多少の腐食は認められるが、実用上問題がないも
の。 ×…腐食が認められ、実用上使用できないもの。
水溶液を調製し、その水溶液にパターン化されたアルミ
ニウム層が形成されたシリコンウエハーを20分間浸漬
し、アルミニウムの腐食の有無を目視により観察した。 ○…腐食が認められないもの。 △…多少の腐食は認められるが、実用上問題がないも
の。 ×…腐食が認められ、実用上使用できないもの。
【0018】実施例1〜15、比較例1〜6 ジメチルスルホキシド、モノエタノールアミン及び表1
に示した芳香族ヒドロキシ化合物を用い、表1に示す割
合で配合して剥離液を調製し、それぞれの剥離液につい
て剥離性及び耐食性を評価した。その結果を表1に示
す。
に示した芳香族ヒドロキシ化合物を用い、表1に示す割
合で配合して剥離液を調製し、それぞれの剥離液につい
て剥離性及び耐食性を評価した。その結果を表1に示
す。
【0019】
【表1】
【0020】(注)芳香族ヒドロキシ化合物の重量%
は、ジメチルスルホキシドとモノエタノールアミンとの
混合物の全重量に対する値である。
は、ジメチルスルホキシドとモノエタノールアミンとの
混合物の全重量に対する値である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田中 初幸 神奈川県川崎市中原区中丸子150番地 東 京応化工業株式会社内 (72)発明者 中山 寿昌 神奈川県川崎市中原区中丸子150番地 東 京応化工業株式会社内
Claims (1)
- 【請求項1】 ジメチルスルホキシドと含窒素有機ヒド
ロキシ化合物とを、重量比10:90ないし90:10
の割合で混合して得られた溶液に対して、一般式 【化1】 (式中のR1は水酸基又はアミノ基、R2は水素原子、
水酸基、アミノ基、カルボキシル基、アルキル基又はヒ
ドロキシアルキル基である)で表わされる芳香族ヒドロ
キシ化合物0.5〜30重量%を配合したことを特徴と
するポジ型レジスト用剥離液。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2847093A JPH06222573A (ja) | 1993-01-26 | 1993-01-26 | ポジ型レジスト用剥離液 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2847093A JPH06222573A (ja) | 1993-01-26 | 1993-01-26 | ポジ型レジスト用剥離液 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06222573A true JPH06222573A (ja) | 1994-08-12 |
Family
ID=12249543
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2847093A Pending JPH06222573A (ja) | 1993-01-26 | 1993-01-26 | ポジ型レジスト用剥離液 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06222573A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07219241A (ja) * | 1993-10-07 | 1995-08-18 | J T Baker Inc | 金属腐食を減少させるための還元剤を含有しているフォトレジストストリッパー |
| EP0788143A2 (en) | 1996-02-05 | 1997-08-06 | Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. | Method of producing semiconductor device and rinse for cleaning semiconductor device |
| US6218087B1 (en) | 1999-06-07 | 2001-04-17 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Photoresist stripping liquid composition and a method of stripping photoresists using the same |
| US6265309B1 (en) | 1998-05-14 | 2001-07-24 | Mitsubishi Gas Chemicals Co., Inc. | Cleaning agent for use in producing semiconductor devices and process for producing semiconductor devices using the same |
-
1993
- 1993-01-26 JP JP2847093A patent/JPH06222573A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07219241A (ja) * | 1993-10-07 | 1995-08-18 | J T Baker Inc | 金属腐食を減少させるための還元剤を含有しているフォトレジストストリッパー |
| EP0788143A2 (en) | 1996-02-05 | 1997-08-06 | Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. | Method of producing semiconductor device and rinse for cleaning semiconductor device |
| US6265309B1 (en) | 1998-05-14 | 2001-07-24 | Mitsubishi Gas Chemicals Co., Inc. | Cleaning agent for use in producing semiconductor devices and process for producing semiconductor devices using the same |
| US6218087B1 (en) | 1999-06-07 | 2001-04-17 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Photoresist stripping liquid composition and a method of stripping photoresists using the same |
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