JPH06224599A - アキシャル電子部品の検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、アキシャル電子部品の検査装置に
関し、目視検査をより正確で能率的に、そして個人の検
査能力に影響されないアキシャル電子部品用の検査装置
の提供を目的とする。 【構成】 並設した電子部品のリード線を両側でテーピ
ングしたアキシャル電子部品の整列状態を検査する検査
装置であって、テーピングの幅を検出する縦溝１１と、
電子部品のセンターリングを検出する中央溝１２と、電
子部品の間隔に対応しリード線が嵌る横溝１３を設けた
検査装置１０である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板に電子部
品を実装する実装装置例えばアキシャル電子部品挿入機
に、予めテーピングして整列された状態で供給されるア
キシャル電子部品の検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、図８に示すようなアキシャル電子
部品１は、これを製造するシーケンサーと呼ばれる装置
にて、プリント基板に実装されるべき電子部品２やジャ
ンパ線３を並列状態に整列させて順番に並べ、そして、
前記電子部品２等のリード線の両端において、粘着テー
プ４，４で上下方向から挟着してにテーピングされ、全
体がベルト状に形成されている。

【０００３】上記のようなベルト状のアキシャル電子部
品１が例えば巻取ドラムに巻取られ、その巻取ドラムが
所定のアキシャル電子部品挿入機（図示せず）へと供給
され、該アキシャル電子部品挿入機において、前記アキ
シャル電子部品１から個々の電子部品２がカッテイング
され更にリード線が折り曲げられて、次いでプログラム
制御に基づいて順番にプリント基板の所定位置に前記電
子部品２が実装されるものである。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上述のアキシャル電子
部品１において、テーピングした粘着テープ４のテーピ
ング幅Ａやアキシャル電子部品１の幅Ｂ、電子部品２の
センターＣ若しくは電子部品２の間隔であるピッチＤ
は、いずれも定められた基準値内に収まっていないと、
アキシャル電子部品挿入機で挿入ミスが発生してしまう
ので、粘着テープ４の一端側から定規５を当てがって、
図８に示すように前記各幅Ａ，ＢやセンターＣ及びピッ
チＤを作業者が目視検査していた。

【０００５】しかしながら、上述のような目視検査で
は、作業者の熟練度に頼る検査であり個人の検査能力差
の影響が無視できず、作業者の目も疲れるものであり、
また、定規５を一方向に滑らせながら目視検査していく
にしても、作業者に長時間に亘る緊張を強いて作業能率
が悪いばかりでなく、疲労度が大きいものであった。ま
た、目視検査の個人差による検査ミスがあって、アキシ
ャル電子部品挿入機での電子部品の実装後にプリント基
板の品質が安定しないという問題点があった。

【０００６】従って、従来例のアキシャル電子部品の目
視検査をより正確に且つ能率の向上を図ると共に、個人
の検査能力に影響されないアキシャル電子部品の検査手
段に解決しなければならない課題を有している。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明の上記課題を解決
するための手段としては、並設した電子部品のリード線
を両側でテーピングしたアキシャル電子部品の整列状態
を検査する検査装置であって、テーピングの幅を検出す
る縦溝と、電子部品のセンターリングを検出する中央溝
と、電子部品の間隔に対応しリード線が嵌る横溝を設け
たことである。

【０００８】前記リード線が嵌る横溝を所定の間隔で設
けたことで電子部品の整列の良否を検出し、更には、テ
ーピングの幅を検出する縦溝で、ベルト状のアキシャル
電子部品の全体の幅を検出するようにしたことである。

【０００９】

【作用】本発明のアキシャル電子部品の検査装置によれ
ば、例えば机上等に載置した検査装置に対して、作業者
が検査しようとするベルト状のアキシャル電子部品を手
にとって、これの粘着テープや電子部品やリード線を前
記検査装置の各々対応する溝に所定長さづつ順次嵌め込
むだけである。

【００１０】そして、アキシャル電子部品における粘着
テープのテーピング幅や電子部品のセンターリングやリ
ード線のピッチが基準値内にあれば、前記各対応する溝
に当該アキシャル電子部品の電子部品等が無抵抗で嵌め
込まれる。よって作業者は検査範囲内のアキシャル電子
部品が良品であることが直ちに判るものである。

【００１１】一方、検査範囲内のアキシャル電子部品が
不良品である場合には、前記検査装置の各溝に当該アキ
シャル電子部品の電子部品等を嵌め込もうとしても、例
えばテーピング幅が広すぎれば縦溝内に収まらず、電子
部品のセンターが基準内に収まっていないと中央溝に電
子部品が収まらず、また電子部品のピッチが狭かったり
広かったりするとリード線が横溝に収まらない。

【００１２】このようにアキシャル電子部品のいずれか
の幅やピッチ等が不良であると、検査装置にアキシャル
電子部品を嵌め込もうとしても各溝内にスムーズに収ま
らずに作業者は負荷を感じる。こうして検査範囲内のア
キシャル電子部品が不良品であることが直ちに判るもの
である。

【００１３】

【実施例】次に、本発明を図示の実施例について詳細に
説明する。図１乃至図４において、符号１０は本発明に
係る検査装置を示し、該検査装置１０は例えば金属材料
または硬質樹脂材料等で所定厚さの板状に形成されるも
のであり、平面形状か四角形又は長方形状を呈するもの
である。

【００１４】この検査装置１０の上面に寸法精度良く複
数条の検査用溝が形成される。即ち、検査装置１０の両
サイド寄りに幅広の縦溝１１，１１が設定された溝幅を
もって形成され、これら縦溝１１と平行に且つ中央部に
中央溝１２が形成され、更に、中央溝１２と直交する方
向に比較的狭い溝幅の横溝１３が設定され所定の間隔を
もって複数条が並列に形成される。

【００１５】前記形成された各溝は、所定の深さを有し
一連につながっている。そして、縦溝１１，１１はアキ
シャル電子部品１のテーピングの幅Ａに対応させ、中央
溝１２は電子部品２の長さ（大きさ）に対応させ、横溝
１３の溝幅はリード線６又はジャンパー線３の太さと対
応させると共に、溝間隔は並列させた電子部品２のピッ
チに対応させて、各々溝幅は設定された各許容値の幅で
形成してある。

【００１６】そして、前記テーピングの幅Ａを検出する
縦溝１１，１１の両端で、アキシャル電子部品１のベル
ト状をなしている全体の幅Ｂを検出するようになってい
る。

【００１７】前記縦溝１１や中央溝１２の各溝の深さ
は、横溝１３にリード線６が嵌め込まれた状態で電子部
品等が十分に溝内に収まるように適宜な深さになされる
ものである。

【００１８】このように構成した検査装置１０を用いて
シーケンサーで製造されたベルト状のアキシャル電子部
品１を検査する場合に、図５に示すように、検査装置１
０の長さ分に相当するアキシャル電子部品１の長さ分を
一方の端部から回分方式で順次所定の溝内に嵌め込んで
検査を行う。

【００１９】即ち、アキシャル電子部品１の両側にある
テーピングした粘着テープ４，４が縦溝１１，１１に嵌
まり、リード線６又はジャンパー線３が横溝１３，…に
夫々嵌まり、電子部品２が中央溝１２内に嵌まり込むよ
うになり、この状態に無理なく収まることを目視により
確認しながら順次同じ作業を繰り返して検査を行うもの
である。このようにして、アキシャル電子部品１の、テ
ーピング幅Ａと、アキシャル電子部品１のベルト状をな
す全体の幅Ｂと、電子部品２のセンターＣのセンターリ
ングと、電子部品２の並列間隔であるピッチＤが適正で
あるかどうかを同時に検査できるものである。

【００２０】仮に、リード線６，６の両端でテーピング
するテーピング幅Ａが広すぎると、粘着テープ４が溝の
開口部のエッジ部分に引っかかって縦溝１１に収まらな
い。このテーピング幅Ａが広くなる場合とは、図６に示
すように、リード線６を上下方向から粘着テープ４，４
で挟着したときの、上下の粘着テープ４のズレ１４によ
って生じるもので、粘着テープ４自身の幅よりも広くな
ってしまうものである。

【００２１】次に、前記縦溝１１，１１でもってアキシ
ャル電子部品１の幅Ｂを検査でき、前記幅Ｂが広すぎる
と、図面で右側の縦溝１１を形成する側壁１１ａにアキ
シャル電子部品１の右端部を当てがって検査装置１０に
アキシャル電子部品１を嵌め込もうとしても、図面で左
側の縦溝１１を形成する側壁１１ｂのエッジ部分にアキ
シャル電子部品１の左端部が衝突してしまい、嵌め込む
ことが出来ない。

【００２２】また、逆に前記アキシャル電子部品１の幅
Ｂが狭いと、前記左側の縦溝１１を形成する側壁１１ｃ
のエッジ部分に粘着テープ４の端部が衝突してしまい、
上述と同様に嵌め込むことができない。

【００２３】更に、アキシャル電子部品１の電子部品２
のセンターＣのセンターリングが不良であると、複数個
の電子部品２のうちセンターＣの位置が不良の電子部品
２が、中央溝１２を形成する左右の側壁のいずれかのエ
ッジ部分１２ａに衝突して中央溝１２内に収まらない。

【００２４】また、同様にして電子部品２の間隔である
ピッチＤが、狭かったり広かったりしていると、いずれ
かのリード線６が横溝１３内に収まらないことになる。

【００２５】このように検査範囲内におけるアキシャル
電子部品１の電子部品等の整列状態に位置的な不良箇所
があると、検査装置１０のいづれかの溝のエッジ部分に
アキシャル電子部品の不良箇所が衝突して負荷がかか
り、前記検査装置１０に当該アキシャル電子部品１をス
ムーズに嵌め込むことがでない。よって、作業者は検査
しているアキシャル電子部品が不良品であることが直ち
に判るのである。

【００２６】他方、検査範囲内のアキシャル電子部品１
が良品である場合には、負荷もなく検査装置１０の各溝
にアキシャル電子部品の電子部品等がスムーズに嵌まり
込むので、検査範囲内の複数の電子部品２のセンターリ
ングやピッチ及びテーピング幅が基準値内に収まってい
ることが作業者に判るのである。

【００２７】図７に示すように、検査装置１０における
中央溝１２の幅Ｆや、テーピング間の幅Ｇを適宜に設計
変更することで、電子部品２が１／８Ｗ〜１／２Ｗの小
型抵抗であったり、整流ダイオード等の大型電子部品で
あっても、各々アキシャル電子部品の検査装置として使
用できるものである。

【００２８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るアキ
シャル電子部品の検査装置は、並設した電子部品のリー
ド線を両側でテーピングしたアキシャル電子部品の整列
状態を検査する検査装置であって、テーピングの幅を検
出する縦溝と、電子部品のセンターリングを検出する中
央溝と、電子部品の間隔に対応しリード線が嵌る横溝を
設けたものなので、検査範囲内のアキシャル電子部品に
おける電子部品のセンターリングやピッチ及びテーピン
グ幅の各検査項目の良否が、前記検査装置の各溝に当該
アキシャル電子部品がスムーズに嵌め込まれるか否かに
よって判別されるので、個人差がなく正確でかつ容易で
あり、一度に多数の電子部品等を検査できるので極めて
能率的である。

【００２９】また、リード線が嵌る横溝を所定の間隔で
設けたり、テーピングの幅を検出する縦溝で、アキシャ
ル電子部品の幅を検出するようにしたので、一度の検査
で必要な全ての検査項目の良否が判別されて、検査作業
の能率が向上する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る検査装置の斜視図である。

【図２】同検査装置の平面図である。

【図３】同検査装置の正面図である。

【図４】図２のＥ−Ｅ線に沿う断面図である。

【図５】検査装置の使用状態を示す平面図である。

【図６】被検査アキシャル電子部品のテーピングがずれ
た状態の一部を示す斜視図である。

【図７】検査装置の他の例を示す一部平面図である。

【図８】従来例に係るアキシャル電子部品の検査の様子
を示す説明図である。

【符号の説明】

１０ 本発明に係る検査装置、 １１ 縦溝、 １２ 中央溝、 １３ 横溝。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 並設した電子部品のリード線を両側でテ
   ーピングしたアキシャル電子部品の整列状態を検査する
   検査装置であって、テーピングの幅を検出する縦溝と、
   電子部品のセンターリングを検出する中央溝と、電子部
   品の間隔に対応しリード線が嵌る横溝を設けたことを特
   徴とするアキシャル電子部品の検査装置。
2. 【請求項２】 リード線が嵌る横溝を所定の間隔で設け
   たことを特徴とする請求項１に記載のアキシャル電子部
   品の検査装置。
3. 【請求項３】 テーピングの幅を検出する縦溝で、アキ
   シャル電子部品の幅を検出する請求項１または２に記載
   のアキシャル電子部品の検査装置。