JPH06225267A - 動き補償画像処理方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 動き補償画像処理方法及び装置において、ベ
クトルの選択を効率よく行なうこと。 【構成】 出力画像の各ピクセルに対する複数の動きベ
クトルを発生し、各動きベクトルについて、テストする
とき指向する１対の入力画像のそれぞれのテスト・ブロ
ックが一部それぞれの入力画像の外部に在るとき（７
２）、入力画像内部のテスト・ブロック部分について相
関テストをして（７６，７８）、テスト・ブロック間の
相関度を検出し、相関度の中の最高の相関度を持つ動き
ベクトルを選択する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、動き補償画像処理に関
する。

【０００２】

【従来の技術】動き補償画像処理は、テレビジョン標準
変換、フィルム標準変換、又はビデオからフィルムへの
変換等の画像処理に応用されている。今までに提案され
た動き補償画像処理装置は、英国特許出願第ＧＢ−Ａ−
２２３１７４９号に述べられている。その中では、或る
ディジタル・ビデオ信号についての時間的に隣接した入
力画像（フィールド又はフレーム）対を処理して、出力
画像の動き補償補間に使うための対応する組の動きベク
トルを発生する。

【０００３】１対の入力画像から発生したこの動きベク
トルの組は、出力画像の各画素（ピクセル）に対する複
数の動きベクトルから成っている。しかし、各ピクセル
は、出力画像の１ブロックにおける他のピクセルと同じ
複数の動きベクトルを持つことができる。

【０００４】出力画像における各ピクセルに対しては、
この動きベクトルの組が動きベクトル選択器に供給さ
れ、ここでそのピクセルの補間に使うための１つの動き
ベクトルを選択するために、そのピクセルに対応する複
数の動きベクトルをテストする。

【０００５】各ピクセルに対して選択された動きベクト
ルは、動き補償補間器に供給され、入力画像間の動きを
考慮しながらその入力画像対から出力画像を補間する。

【０００６】或る種の公知の動き補償画像処理システム
においては、複数の動きベクトルの各々は、その動きベ
クトルによって指向された２つの入力画像におけるピク
セルのテスト・ブロックを比較することによりテストす
べき、特定の出力ピクセルに対応している。

【０００７】特に、２つのブロックの互いに対応するピ
クセルの間の絶対的輝度差の和を検出し、この複数の中
でその和が最低値を持つ動きベクトルが選択されて出力
ピクセルの補間に使われている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このテ
スト・ブロックの一方又は両方が部分的に或る特定の動
きベクトルに対するそれぞれの入力画像の外部に出てい
るならば、そこから絶対輝度差の和が計算されるピクセ
ルの中の数個は、その入力フレームの実画像エリアの外
部にあるピクセルであろう。

【０００９】これらは、入力フレームのブランキング・
エリアのピクセルであったり、単にそれらのピクセルの
アドレスが有効でないという理由で発生されたスプリア
ス・データ値であったりしうる。

【００１０】その結果、それらのピクセルを使って計算
された絶対差の総計はベクトル選択処理では使えず、事
実、この問題に対する以前に提案された１つの解答は、
こうした環境の下では出力ピクセルにゼロ動きベクトル
を割り当てることである。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明は、動き補償画像
処理の方法及び装置を提供するもので、本発明方法は、
１対の入力画像の間の画像の動きを表わすために動きベ
クトルが発生され、この１対の入力画像から、動き補償
された補間によって出力画像が導き出されるものであ
り、次のステップから成る。出力画像の各ピクセルに対
して複数の動きベクトルを発生すること

【００１２】その出力画像の出力ピクセルに関連した複
数の動きベクトルの各々を下記の方法でテストするこ
と、（ｉ）テストに供された動きベクトルによって指向
された、入力画像対のそれぞれのテスト・ブロックが一
部それぞれの入力画像の外部にあるかどうかを決定する
こと、（ii）もし、テスト・ブロックの一方又は両方が
一部それぞれの入力画像の外部にあるならば、それらの
それぞれの入力画像の内側にあるテスト・ブロックの部
分についての第１の相関テストを遂行することによっ
て、テスト・ブロック間の相関の度合を検出すること、
及び（iii ）もし両方のテスト・ブロックがそれらのそ
れぞれの入力画像内に全部あるならば、それらのテスト
・ブロックについての第２の相関テストを遂行してそれ
らのテスト・ブロック間の相関の度合を検出すること、
並びに

【００１３】複数の動きベクトルから、その動きベクト
ルによって指向されたテスト・ブロックの間の最も高い
相関度を持つ動きベクトルを選択すること。

【００１４】本発明方法によれば、テストに供されてい
る動きベクトルによって指向された一方又は両方のテス
ト・ブロックが部分的にそれぞれの入力画像の外部に在
るときでも動きベクトルの選択ができる。

【００１５】入力画像内部に在る各テスト・ブロックに
おけるそれらのピクセルのみを使ったテスト・ブロック
の間の相関の度合を検出するには、相関テストが遂行さ
れる。

【００１６】これは、次のことを意味する。単にその動
きベクトルによって指向されたテスト・ブロックの部分
が入力画像の外部にあるという理由で、その動きベクト
ルを選択処理において捨てる必要はない。

【００１７】第２相関テストを遂行するステップは、次
のステップを含むことが好ましい。すなわち、テスト・
ブロックにおける対応する位置のピクセル対の間の絶対
輝度差を検出するステップと、その絶対輝度差を総計し
て絶対差の和（ＳＡＤ）の値を発生するステップを含む
のがよい。

【００１８】１つの好ましい実施例によれば、第１の相
関テストを遂行するステップは、各対の両ピクセルが対
応する入力画像内部に在るテスト・ブロックにおける対
応する位置のピクセル対の間の絶対輝度差を検出し、そ
の絶対輝度差を総計してＳＡＤ値を発生するステップを
含む。

【００１９】このＳＡＤ値は、全体がそれら入力画像内
部に在るテスト・ブロックから発生される複数のＳＡＤ
値よりも少ない数のピクセルから発生されるので、第１
の相関テストから得られる各ＳＡＤ値に、そのＳＡＤ値
を計算するのに使われたピクセル対の数に対する各テス
ト・ブロックにおけるピクセルの数の比に応じたスケー
ル・ファクタ（尺度係数）だけ乗じるステップが、この
テストのあとに続くことが必要である。

【００２０】この正規化ステップによれば、複数のＳＡ
Ｄ値を類似項について比較されるべき第１及び第２相関
テストによって発生することができる。

【００２１】第１相関テストを達成するステップは、次
のステップから成るのがよい。すなわち、テスト・ブロ
ックにおける複数の対応位置にある複数のピクセル対の
間の絶対輝度差を検出するステップ、一方又は両方の対
がそれに対応する入力画像の外部に在る複数のピクセル
対に対して、検出された絶対輝度差をゼロに設定するス
テップ、及びその絶対輝度差を総計してＳＡＤ値を発生
するステップから成るものである。

【００２２】この装置において、その計算に使われるピ
クセルが対応する入力画像の外部に在ろうがなかろう
が、差値は全て計算される。

【００２３】この計算が遂行された後、ＳＡＤ値が総計
される前に、望ましくない値はマスクされるかゼロに設
定される。

【００２４】もう１つの好ましい実施例においては、第
１相関テストを遂行するステップは次のステップから成
る。その一部が対応する入力画像の外部に在るテスト・
ブロックに対して、その入力画像の内部のテスト・ブロ
ックの部分からのピクセルを、入力画像の外部に在るテ
スト・ブロックにおけるピクセル位置に代入するステッ
プと、複数のテスト・ブロックにおける対応位置にある
複数のピクセル対の間の絶対輝度差を検出するステップ
と、その絶対輝度差を総計してＳＡＤ値を発生するステ
ップとから成る。

【００２５】ピクセル・データを入力画像の外部に在る
ピクセル位置に代入することによって、２つのブロック
における対応する位置の複数のピクセル対の全ての間で
全相関テストを遂行できる。こうすると、後続の正規化
は必要ない。

【００２６】選択ステップは、もし、一方又は両方のテ
スト・ブロックの予め定められた位置の１以上のピクセ
ルが対応する入力画像の外部に在るならば、動きベクト
ルを捨てることを含むのがよい。

【００２７】各出力ピクセルと対応する複数の動きベク
トルの１つが、ゼロの画像間動きを表わす動きベクトル
であることが望ましい。

【００２８】これによって、上述したように、出力画像
内部の各出力ピクセルに対して、少なくとも１つの動き
ベクトルが捨てられずに残ることになるであろう。

【００２９】この方法は又、その出力ピクセルに対して
選択された動きベクトルを使って各出力ピクセルを補間
するステップを含むのがよい。

【００３０】

【作用】本発明の動き補償画像処理方法及びこれを実施
する装置によれば、テストしている動きベクトルによっ
て指向された一方又は両方のテスト・ブロックが一部そ
れぞれの入力画像の外部に在るときでもベクトルの選択
ができる。

【００３１】すなわち、単に動きベクトルによって指向
されたテスト・ブロックの部分が入力画像の外部にある
という理由で、その動きベクトルを選択処理において捨
てる必要がなくなる。

【００３２】また、その一部が対応する入力画像の外部
にあるテスト・ブロックに対して、その入力画像の内部
のテスト・ブロックにあるピクセルを、入力画像の外部
に在るテスト・ブロックのピクセル位置に代入すること
によって、２つのブロックにおける対応する位置の複数
のピクセル対の全ての間で全相関テストを遂行できるよ
うになる。そうすると、後続の正規化は必要がなくな
る。

【００３３】

【実施例】図１を参照して、本発明の一実施例の説明を
する。

【００３４】同図は、毎フレーム１１２５ライン、１秒
間６０フィールドの入力インタレース高品位ビデオ信号
（ＨＤＶＳ）８を毎フレーム６２５ライン、１秒間５０
フレームの出力インタレース・ビデオ信号４０に変換す
るための動き補償テレビ標準変換装置のブロック図であ
る。

【００３５】図１に示した装置は、英国公開特許出願第
ＧＢ−Ａ−２２３１７４９号に開示されたものに基いて
いる。

【００３６】入力ビデオ信号８は、第１にプログレッシ
ブ走査変換器１０に供給され、そこで入力ビデオ・フィ
ールドは、入力ビデオ・フィールドと同じレート（６０
Ｈｚ）でビデオ・フレームに変換される。

【００３７】これらのフレームは、ダウン・コンバータ
１２に供給され、各フレームのラインの数を６２５に削
減する。これは、出力ビデオ信号４０の１フレームのラ
インの数である。

【００３８】ダウンコンバータ入力フレームは時間基準
変更器１４に送られるが、この変更器は入力として入力
ビデオ信号８のフィールド周波数にロックされた６０Ｈ
ｚのクロック信号３２及び出力ビデオ信号４０の所要フ
ィールド周波数にロックされた５０Ｈｚのクロック信号
３４も受信する。

【００３９】この時間基準変更器１４は、出力ビデオ信
号の各フィールドの時間位置を決定し、出力ビデオ信号
のそのフィールドを補間する際に使われる入力ビデオ信
号８のダウン・コンバートされたフレームのうちの２つ
を選択する。

【００４０】この２つのダウン・コンバートされた入力
フレームは、時間基準変更器で選択され、制御情報を持
つ時間基準変更器の第３出力１８とともに、対応する出
力１６上に供給される。

【００４１】時間基準変更器１４で選択された２つのダ
ウン・コンバートされた入力フレームは、動き処理装置
２０に入力として供給される。

【００４２】この動き処理器は、２つの実質的に同じ処
理セクションを含み、１つは偶数出力フィールドに対す
るものであり、もう１つは奇数出力フィールドに対する
ものである。

【００４３】時間基準変更器１４で選択された２つのダ
ウン・コンバートされた入力フレームは、５０Ｈｚのク
ロック信号３４から導出した信号（図示せず）の制御の
下に、スイッチ２１の手段によって、適切に偶数フィー
ルド又は奇数フィールド処理セクションに送られる。動
き処理装置２０の適切なセクション（奇又は偶）におい
ては、ダウン・コンバートされた入力フレームが最初に
直接ブロック突き合わせ器２２に供給され、そこで、２
つのフレームのブロック間の空間的相関を表わす相関面
を計算する。

【００４４】これらの相関面は動きベクトル推定器２４
に送られ、相関面を処理して１組の動きベクトルを発生
し、動きベクトル削減器２６へ供給する。

【００４５】動きベクトル推定器は、各発生した動きベ
クトルについて信頼性テストも行ない、その動きベクト
ルが一般ノイズ・レベルよりも際立っているか否かを決
め、信頼性テストの結果を示す信頼性フラッグを各動き
ベクトルに結び付ける。

【００４６】この信頼性テストそのものは、閾値テスト
及びリング・テストを含み、上述の英国公開特許出願
に、もっと詳しく説明されている。

【００４７】動きベクトル削減器２６は、各ブロックの
各ピクセルに対する可能な動きベクトルの中の選択され
るものを減らす動作をし、それから、それらの動きベク
トルを動きベクトル選択器２８に供給する。その動作の
一部として、動きベクトル選択器２６は「良好」動きベ
クトル（即ち、信頼性テストに通った動きベクトル）の
発生頻度を計数し、それらの動きベクトルを得るのに使
われる入力フレームのブロックの位置は考えない。

【００４８】この良好動きベクトルは、次に周波数が減
少する順序にランク付けする。お互いに著しく異なった
良好動きベクトルの中の３つの最も普通のベクトルを、
「グローバル（大域的）」動きベクトルとして組み分け
する。

【００４９】信頼性テストを通った３つの動きベクトル
は、動きベクトル削減器２６によって、出力フィールド
の各ブロックのピクセルに割当てられ、ゼロ動きベクト
ルと共に、更に処理するための動きベクトル選択器２８
に供給される。

【００５０】これらの３つの選択された動きベクトル
は、そのブロックから発生された動きベクトル、周辺ブ
ロックから発生された複数のベクトル、及び最後にグロ
ーバル動きベクトルから、予め定められた優先順序で選
択される。

【００５１】この動きベクトル選択器２８は、又時間基
準変更器１４によって選択された２つのダウン・コンバ
ートされた入力フレームを入力として受信する。これら
の入力フレームは、動きベクトル（好ましくはシステム
遅延補償器３０で遅延して）を計算するのに使われたも
ので、動きベクトル選択器２８は、出力フィールドのピ
クセル毎に１つの動きベクトルを含む出力を供給する。

【００５２】この動きベクトルは、動きベクトル削減器
２６によって供給されたそのブロックに対する４つの動
きベクトルから選択される。この動きベクトル選択器２
８による動きベクトルの選択における不規則性は、動き
ベクトル後処理器３６で取り除かれ、そこから、処理さ
れた動きベクトルが供給されて補間器３８を制御する。
補間器は、時間基準変更器で選択され、再びシステム遅
延補償器３０で適宜遅延されたダウン・コンバートされ
た入力フレームの中の適正な奇又は偶対も受信する。

【００５３】これらの動きベクトルを使って、補間器３
８は、２つのフレームの間のいかなる画像の動きも考慮
に入れて、時間基準変更器によって選ばれた２つのダウ
ン・コンバートされた入力フレームから１つの出力フィ
ールドを補間する。

【００５４】２つのダウン・コンバートされた入力フレ
ームは、その２つのフレームに関係する出力フィールド
の時間位置に応じた相対的割合で結合される。従って、
より大きな割合を持つ、より近い入力フレームが使われ
る。

【００５５】補間器３８の出力４０は、フレーム当たり
６２５ライン、毎秒５０フィールドを持つインタレース
されたビデオ信号である。

【００５６】動きベクトル選択器２８は、動きベクトル
削減器によって、当該ピクセルを含むブロックに割り当
てられた４つの動きベクトルから、その出力フィールド
における各ピクセルに対する１つの動きベクトルを選択
する。

【００５７】これを達成するには、動きベクトル選択器
２８は、これら４つの動きベクトルの中のどれが出力ピ
クセルの画像の動きに最も良く近似しているかを決定す
るために、各出力ピクセルと関連した４つの動きベクト
ルの各々をテストする。

【００５８】このテストを遂行する方法は図２に示す。
図２は、出力フィールド５２における出力ピクセル５０
と関連する２つの動きベクトル（ベクトル１及びベクト
ル２）を示す。

【００５９】図を明確にするため、出力ピクセル５０と
関連する他の２つの動きベクトル（そのうち１つはゼロ
動きベクトル）は示されていない。

【００６０】出力ピクセル５０と関連した１つの動きベ
クトル（例えば、ベクトル１）をテストするためには、
それらの入力フレームから出力フィールド５２が補間さ
れるべき入力フレームにおけるそれぞれのピクセル５４
を指向するように、そのベクトルを外挿する。

【００６１】そこで、入力フレームのピクセル５４を取
り囲むピクセルのそれぞれのブロックの間の相関度が計
算される。

【００６２】テスト中の動きベクトルによって指向され
たピクセル５４を囲むピクセルのブロックがそれ等それ
ぞれの入力フレーム内に在るとき、ブロック間の相関度
は、２つのブロックの対応位置にあるピクセル対間の絶
対輝度差を計算することによって計算される。

【００６３】これらの絶対輝度差値は加算されて、テス
ト中動きベクトルと関連する絶対輝度差の和（ＳＡＤ）
を作る。ＳＡＤの値が高いと云うことは、その動きベク
トルによって指向されたピクセルを囲む入力フレームの
ブロック間の相関度が低いことを示している。

【００６４】また、ＳＡＤの値が低いと云うことは、そ
れらのブロックの間の相関度が高いことを示している。
このテストは、動きベクトル削減器２６によって動きベ
クトル選択器２８に供給された４つの動きベクトルのそ
れぞれに対して行われる。

【００６５】そのテストからの低ＳＡＤ値を持つ動きベ
クトルが、動きベクトル選択器２８によって選択され、
出力ピクセル５０の補間に使われる。もし両方のピクセ
ル５４がそれ等のそれぞれに対応する入力フレームの内
部にあるが、テスト・ブロックの１つ以上が入力フレー
ムの外部に在るならば、上述の方法で発生したＳＡＤ値
は、テスト中の動きベクトルによって指向されたエリア
（領域）間の相関度の有効表示とはならない。

【００６６】何故ならば、ＳＡＤ値を発生するのに使わ
れたピクセルの幾つかは入力フレームの実画像エリアの
外部にあるからである。これらは、入力フレームのブラ
ンキング・エリアのピクセルか、又は単にそれらのピク
セルのアドレスが有効でないと云う理由で発生したスプ
リアス値である可能性がある。

【００６７】この問題に対する解決策（前に提案された
画像処理装置に使われたような）には、こうした環境下
の出力ピクセルに対して、ゼロ動きベクトルを割り当て
ることであろう。

【００６８】しかしながら、以下に述べる実施例では、
もっと満足のいく解決策が用いられている。

【００６９】図３は動きベクトル選択器２８の一実施例
を示す。この動きベクトル選択器２８は、入力として、
その入力フレームから現在出力フィールドが補間される
べき２つの入力フレームの各々の少なくとも関係部分を
受信する。

【００７０】これらの部分は、対応する画像セグメント
蓄積器６０に蓄積される。この動きベクトル選択器２８
は、出力フィールドのピクセルの各ブロックと対応する
数組みの動きベクトルも受信する。そして、これらはマ
ップ蓄積器６２に蓄積される。

【００７１】動作について説明すると、基準読出しアド
レス発生器６４は出力フィールドの各ピクセルのアドレ
スを順番に発生する。このアドレスは、そのピクセルを
含む出力フィールドのブロックに割り当てられた４つの
動きベクトルと共に、アドレス・シフター６６に供給さ
れる。アドレス・シフター６６は、４つの動きベクトル
の各々に対して順番に、２つの入力フレームの各々にお
けるその動きベクトルによって指向されるピクセルのピ
クセル・アドレスを計算する。

【００７２】このピクセル・アドレスは、各入力フレー
ムに対する対応した位置検出器６８に送られる。各位置
検出器６８は、テスト中の動きベクトルによって指向さ
れるピクセルのアドレスが対応入力フレーム外部にある
か、或いは入力フレームの端に近くてそのピクセルを囲
む１ブロックのピクセルが部分的に入力フレームの外部
になってしまうかを検出する。

【００７３】もし位置検出器が、テスト中の動きベクト
ルにより指向されるピクセルが外部にあると決定した
ら、ＯＲゲート７０に「領域外」信号を送る。

【００７４】このＯＲゲートは、両位置検出器６８から
領域外信号を受信し、論理ＯＲ動作を遂行し、テスト中
の動きベクトルによって指向されるピクセルのどちらか
一方がその対応する入力フレームの外部にあれば、領域
外信号７２を発生する。しかしながら、もし位置検出器
が、テスト中の動きベクトルによって指向されたピクセ
ルが対応する入力フレームの外部にはないが、その入力
フレームの端部に非常に近い所にあるため、そのピクセ
ルを囲む複数のピクセルから成る１テスト・ブロックが
部分的に入力フレームの外部にかかることを検出したな
らば、この位置検出器は１つ以上のマスク信号を発生す
る。この信号についてはあとで説明する。

【００７５】アドレス・シフター６６により発生された
ピクセル・アドレスは、位置検出器６８を経て対応する
画像セグメント蓄積器６０に送られる。この蓄積器６０
は、出力として、テスト中の動きベクトルによって指向
されたピクセルを中心とした５×５ピクセルのブロック
を供給する。

【００７６】この実施例においては、これらのブロック
は、そのブロックのピクセルの１以上の行又は列が対応
する入力画像の外部に在るか否かにかかわらず全部供給
される。

【００７７】対応する画像セグメント蓄積器６０からの
２ブロックのピクセルは、さらに処理するために、ブロ
ック突き合わせ器７４に供給される。

【００７８】ブロック突き合わせ器７４においては、そ
の２ピクセル・ブロックにおける対応位置にあるピクセ
ルの輝度値が比較され、絶対差値（そのブロックの各ピ
クセル位置に対して１つの値）のアレイが発生され、マ
スク装置７６に送られる。

【００７９】マスク装置７６は、選択的に動作して、絶
対差値のアレイにおける１以上の行及び（又は）１以上
の列の値をゼロにセットする。

【００８０】どの行及びどの列をゼロに設定するかの選
択は、位置検出器６８によって行われるから、入力フレ
ームの一方又は両方の外部に在るピクセルから発生され
た絶対差値のどの行又は列でもゼロにセットされる。

【００８１】複数の行又は列が選択的にマスクされた
後、２５の絶対差値（その中の幾つかはゼロにセットさ
れているかもしれない）は、合計されてＳＡＤ値とな
り、正規化装置７８に送られる。

【００８２】正規化装置７８は、現在の出力ピクセルに
対応する４つの異なる動きベクトルに対して発生される
ＳＡＤ値を類似項について比較するために必要である。

【００８３】正規化装置７８は、マスク装置７６に送ら
れた絶対差のアレイにおいてどれだけ多くのピクセル位
置がゼロにセットされたかを決定することによって動作
し、マスク装置７６によって出力されるＳＡＤ値に次の
値に等しい正規化係数を実効的に乗算する。

【００８４】

【００８５】正規化の後、正規化されたＳＡＤ値は蓄積
及び比較装置８０に送られる。この装置８０は、ＯＲゲ
ート７０で発生された領域外信号７２も受信する。

【００８６】４つの可能な動きベクトルの中の第１のも
のが特定の出力ピクセルに対しテストされているとき、
蓄積及び比較装置８０は、そのベクトルに対応した正規
化されたＳＡＤ値を、そのベクトルを識別するベクトル
番号と共に単純に蓄積する。

【００８７】この４つの動きベクトルの中の後続のベク
トルがテストされるとき、蓄積及び比較装置に送られた
正規化されたＳＡＤ値はそこに既に蓄積されているＳＡ
Ｄ値と比較され、比較された２つの値の中の高い方が捨
てられる。各段の動作で捨てられなかったＳＡＤ値に対
応するベクトル番号が、そのＳＡＤ値と共に蓄積され
る。

【００８８】もし、蓄積及び比較装置８０がテスト中の
動きベクトルのどれかに対応する領域外信号７２を受信
すれば、その動きベクトルは蓄積及び比較装置８０内で
自動的に捨てられる。

【００８９】従って、各出力ピクセルに対してテストさ
れる４つの動きベクトルの中の１つがゼロ動きベクトル
であるから、結果として領域外信号７２にならない動き
ベクトルが常に少なくとも１個はあると云うことに注意
されたい。

【００９０】蓄積及び比較装置８０で遂行された比較及
び廃棄処理は、次のことを意味する。第４番目の動きベ
クトルがテストされ終わるまで、蓄積及び比較装置に維
持された動きベクトル番号は、その動きベクトルによっ
て指向された入力フレームのブロックから発生した正規
化ＳＡＤ値が最低となるような動きベクトルに対応して
いる。従って、それらのブロック間の相関度は最も高い
ことを示す。

【００９１】このテスト処理の終わりには、その出力ピ
クセルに適したベクトル番号が、蓄積及び比較装置８０
によって出力８２上に供給される。

【００９２】図４は、位置検出器６８、マスク装置７６
及び正規化装置７８の動作を示す５つの例（ａ）〜
（ｅ）を図解したものである。各例において、各入力フ
レーム（入力フレーム１及び入力フレーム２）について
テスト中の動きベクトルによって指向されたピクセルを
中心とする５×５ピクセルのブロックが示されている。

【００９３】テスト中の動きベクトルによって指向され
た実際のピクセルは、それらブロックの中央位置に
「Ｘ」で示されている。そして、対応する入力フレーム
の境界は、全ブロックにわたり太線で示してある。

【００９４】複数のブロックは５行Ｒ₀ 〜Ｒ₄ に並べら
れていて、５つの列はＣ₀ 〜Ｃ₄ で示されている。それ
ぞれの入力フレームの外部に出ているブロックのピクセ
ルは、破線で示されている。

【００９５】第１の例、すなわち、図４に示された例
（ａ）の各テスト・ブロックにおける最上行Ｒ₀ は対応
する入力フレームの外部にある。

【００９６】これは、位置検出器６８によって検出さ
れ、マスク装置７６に、行Ｒ₀ のピクセルを使って計算
された絶対差値全部をゼロにセットするように指令す
る。

【００９７】しかしながら、位置（Ｃ₀ ，Ｒ₁ ）〜（Ｃ
₄ ，Ｒ₄ ）にあるピクセル対を使って２０個の使用可能
な絶対差値しか計算されない。従って、これら２０個の
絶対差値は、その合計に２５／２０を掛けることによっ
て正規化される。

【００９８】第２の例（ｂ）において、入力フレーム１
のテスト・ブロックの全ピクセルはその入力フレーム内
に在るが、入力フレーム２のテスト・ブロックがその入
力フレームの角に重複しているのでそのテスト・ブロッ
クの行Ｒ₀ 及び１つの列Ｃ₄は入力フレーム２の外部に
在る。

【００９９】入力フレーム１に対する位置検出器６８は
いかなるマスク信号も発生しないが、入力フレーム２に
対する位置検出器６８は、行Ｒ₀ 及び列Ｃ₄ はマスクす
るべきであることを示す信号を発生する。

【０１００】マスク装置７６でこのマスク動作が遂行さ
れた後、テスト・ブロックの可能な２５個のピクセル対
の中から１６個がＳＡＤ値を発生するのに使われてきた
ので、正規化係数として２５／１６が適用される。

【０１０１】例（ｃ）においては、テスト中の動きベク
トルによって指向された入力フレーム１の実際のピクセ
ルは、その入力フレームの外部にある。

【０１０２】入力フレームに対して位置検出器によっ
て、領域外信号が発生され、その結果、ＯＲゲート７０
の出力に領域外信号７２を生じる。

【０１０３】こうして、その動きベクトルに対して発生
されたＳＡＤ値が、上述したように、蓄積及び比較装置
８０で自動的に捨てられる。それ故、いかなる正規化も
あてはまらない。

【０１０４】例（ｄ）における入力フレーム１のテスト
・ブロックではピクセルの１つの行Ｒ₀ と１つの列Ｃ₄
がその入力フレームの外部にあり、入力フレーム２のテ
スト・ブロックはピクセルの２つの行（Ｒ₀ とＲ₁ ）が
その入力フレームの外部に在る。

【０１０５】上述のとおり、マスク装置７６はピクセル
のどちらか一方又は両方のテスト・ブロックの外に在る
行と列をマスクするように動作するから、行Ｒ₀ 及びＲ
₁ 及び列Ｃ₄ にマスクが適用される。このマスク動作に
より、その動きベクトルに対するＳＡＤ値を発生するの
に使う１２個のピクセル位置が残される。

【０１０６】最後に、例（ｅ）はマスク動作の極端な場
合を示し、ピクセル位置の２つの行（Ｒ₀ とＲ₁ ）及び
２つの列（Ｃ₃ とＣ₄ ）がマスク装置７６によってマス
クされる。

【０１０７】これによって、ＳＡＤを発生するのに使う
９個のピクセル位置が残されるので、正規化係数はこの
場合は２５／９である。

【０１０８】図５は位置検出器６８の１つの動作を示す
図である。位置検出器６８は入力としてアドレス・シフ
ター６６からのシフトされたアドレスを受信し、複数の
出力を供給する。即ち、領域外信号（ＯＲゲート７
０）；マスク信号（マスク装置７６へ）；（不変更）シ
フト・アドレス（それぞれの画像セグメント蓄積器６０
へ）である。

【０１０９】位置検出器６８へのシフトされたアドレス
は、まず、行／列復号器９０に供給され、問題のピクセ
ルの列アドレスから行アドレスを分離する。（もし、ア
ドレス・シフター６６によって供給されたシフトされた
アドレスが、行及び列位置がすでに分離されたフォーマ
ットになっていれば、行／列復号器は不用である。この
列アドレスは２つの減算器９２及び９３に供給される。
そのうちの一つ（減算器９３）は、列アドレスから、入
力フレームの第１の列の列アドレスに等しい値を減算
し、他の一つ（減算器９２）は、列アドレスから、その
入力フレームの最後の列の列アドレスに等しい値を減算
する。

【０１１０】減算器９２及び９３のそれぞれの出力は複
数の比較器９６に供給される。特に、減算器９２（その
中で、入力フレームの最後の列のアドレスが現在のピク
セルの列アドレスから減算される）の出力上で遂行され
るテストは次のとおりである：もし、その値が正なら
ば、現在ピクセルの列アドレスは、入力フレームの最後
の列のアドレスよりも大きいから、「領域外」信号が発
生される；

【０１１１】もし、その値がゼロであれば、現在のピク
セルは入力フレームの最後の列にあるから、テスト・ブ
ロックの右手列（Ｃ₃ とＣ₄ ）は入力フレームの外部に
在りマスクされるべきである；そして、

【０１１２】もし、その値が−１に等しければ、その現
在ピクセルは入力フレームの罰列にあるから、そのテス
ト・ブロックの最右端列（Ｃ₄ ）はマスクされるべきで
ある。

【０１１３】同様にして、減算器９３（その中で、入力
フレームの第１列のアドレスが現在ピクセルの列アドレ
スから減算される）によって発生された出力値は次のよ
うにテストされる：

【０１１４】もし、その値が負であれば、シフトされた
アドレスは入力フレームの外部に在るから、領域外信号
が発生される；

【０１１５】もし、その値がゼロならば、現在ピクセル
は入力フレームの第１列に在る；このことはテスト・ブ
ロックの２つの左手列が入力フレームの外部にあり、マ
スクされるべきであることを意味する；そして、もし、
その値が１に等しければ、その現在ピクセルは入力フレ
ームの第２列に在り；このことはテスト・ブロック（Ｃ
₀ ）の最左端列が入力フレームの外にあり、マスクされ
るべきであることを意味している。

【０１１６】減算器９４及び９５によって、行アドレス
に対しても同様のテストが適用される。これらのテスト
は下記に集約される。

【０１１７】 （行アドレス−最終行アドレス）＝正→領域外 ゼロ→マスクＲ₃ 及びＲ₄ −１→マスクＲ₄ （行アドレス−第一行アドレス）＝負→領域外 ゼロ→マスクＲ₀ 及びＲ₁ １→マスクＲ₀

【０１１８】図６は、ブロック突き合わせ器７４及びマ
スク装置７６の動作を図解している。図６に示された装
置は、２５個の個別エレメント１００を含み、各々が入
力フレーム１及び入力フレーム２の対応位置にあるピク
セルの輝度値を受信し、加算器（図示せず）に出力を供
給し、２５個のエレメント１００で与えられた全出力を
合計する。

【０１１９】位置検出器６８からのマスク信号は、対応
する供給ライン１０２に供給され、各々、２位置検出器
６８からのマスク信号の論理和結合に応答する。

【０１２０】換言すると、もし位置検出器６８の一方又
は両方が、特定の行又は列をマスクすべきだと示してい
れば、その行又は列の供給ライン１０２上にマスク信号
が現れる。

【０１２１】個々のエレメント１００の各々は減算器１
０４を含み、それが入力フレーム１及び入力フレーム２
の対応位置にあるピクセルに対する輝度値を受信する。

【０１２２】減算器１０４の出力は、係数（モジュラ
ス）発生器１０６に供給され、減算器１０４の出力の正
の大きさに等しい出力を供給する。

【０１２３】係数発生器１０６の出力は、減算器１０４
に供給される２つのピクセルの間の輝度差の絶対値に等
しく、クリア装置１０８に供給される。クリア装置は、
そのエレメント１００に供給されるピクセルの行及び列
位置に相当する供給ライン上のマスク信号に応答し、も
し、一方又は両方のマスク信号が、対応する行又は列が
マスクされるべきであることを示すように設定されてい
れば、加算器に送る出力をゼロにするように動作する。

【０１２４】図７，８及び９は正規化装置７８の３つの
例を図解している。図７において、位置検出器６８から
供給されるマスク信号は、プログラマブル・リードオン
リー・メモリ（ＰＲＯＭ）１１０への入力として使われ
る。

【０１２５】これらのアドレス入力は、マスク装置７６
によって行Ｒ₀ ，Ｒ₁ ，Ｒ₃ 及び／又はＲ₄ がマスクさ
れてきたかどうか、及び列Ｃ₀ ，Ｃ₁ ，Ｃ₃ 及び／又は
Ｃ₄がマスクされてきたかを示す。

【０１２６】行Ｒ₂ 及び列Ｃ₂ は、もしその行又はその
列が対応する入力フレームの外に在れば領域外信号を発
生するので、決してマスクされることはない。

【０１２７】複数の列マスク信号と複数の行マスク信号
の各結合に対して、ＰＲＯＭ１１０は、マスク装置でＳ
ＡＤ値出力に適用されるべき正規化係数を表わすデータ
出力１１２を供給する。

【０１２８】データ出力１１２は乗算器１１４に供給さ
れ、そこで、ＳＡＤは適正なスケール係数を乗じて、出
力１１６に正規化されたＳＡＤを作り出す。

【０１２９】正規化装置７８の第２の同様な実施例が図
８に示されている。そこでは、２つのＰＲＯＭ１１８及
び１２０が使われている。

【０１３０】ＰＲＯＭ１１８は、アドレス入力として、
行マスク信号を受信し、行方向に正規化を行なうための
正規化係数を表わすデータ出力１２２を供給し、それが
乗算器１２４によってＳＡＤに適用される。そうして、
ＰＲＯＭ１２０はアドレス入力として列マスク信号を受
信し、出力１１６上に正規化されたＳＡＤを作るため乗
算器１２８によってＳＡＤに適用されるデータ出力１２
６を発生する。

【０１３１】行及び列正規化は図８に示すように順番に
行われると説明するのが正直な説明である。例えば、ピ
クセルの１行及び１列がマスクされていれば、そのこと
は、ＳＡＤ値が１６個のピクセル位置から計算され、正
規化係数は２５／１６であることを意味している。

【０１３２】５行の中の４行が使われているので、正規
化係数５／４が乗算器１２４で乗算される。同様にし
て、５列の中の４列が使われているので、正規化係数５
／４が乗算器１２８で乗算される。

【０１３３】これら２つの乗算器は直列に動作し、従っ
て、適用される全正規化係数は５／４×５／４＝２５／
１６である。

【０１３４】正規化装置７８のさらに他の実施例が図９
に示されている。図において、行マスク信号、列マスク
信号及びＳＡＤはアドレス入力として全て単一ＰＲＯＭ
１３０に印加される。

【０１３５】行マスク信号、列マスク信号及びＳＡＤの
各結合に対しては、ＰＲＯＭ１３０がデータ出力１１６
上に正規化されたＳＡＤ値を作る。

【０１３６】これまで説明した実施例は、それぞれの入
力フレームの外部に在るピクセルから導出したそれら絶
対輝度差値をマスクすることを含んでいた。下記に説明
する実施例は、同様の基本的考えに基いている。即ち、
テストに供されている動きベクトルによって指向される
テスト・ブロックの間の相関を表わす絶対輝度差の合計
を発生するのに使われた絶対差値が、それぞれの入力フ
レームの内部に在るピクセルのみを使って発生される。

【０１３７】しかし、図１０〜１３を参照して下記に説
明する実施例においては、この基本的考えが少し違った
方法で適用されている。そこでは、対応する入力フレー
ム内部に存在するテスト・ブロックのピクセルは、その
入力フレームの外部に存在するテスト・ブロックのピク
セルを置き替えるために再び使われる。

【０１３８】テスト下の動きベクトルによって指向され
た実際のピクセルがその入力フレームの内部に在ると仮
定して、ブロック突き合わせ処理は正常に進めることが
できる。

【０１３９】図１０は図１の装置を部分変更したものを
示す。これによれば、常時或る入力フレームの外部に存
在するピクセルをその入力フレームの内部に在るピクセ
ルによって置換することができる。図１０の装置の効果
は図１１に例示してある。図１０の装置は図１の装置の
或る位置（例えば時間基準変更器１４）に挿入するのに
適しているので、そのデータが動きベクトル選択器２８
に供給される前にそれが入力フレームデータ上で動作す
る。

【０１４０】この装置は、１対のフレーム蓄積器（フレ
ーム蓄積器Ａ１４０及びフレーム蓄積器Ｂ１４２）を含
み、どのフレーム蓄積器入力データが書き込まれるかを
制御する入力スイッチ１４４、どのフレーム蓄積出力デ
ータが読み出されるかを制御する出力スイッチ１４６、
及び各フレーム蓄積器において、入力データが書き込ま
れ、出力データが読み出されるアドレスを制御するアド
レス発生器１４８を含む。

【０１４１】入力スイッチ１４４及び出力スイッチ１４
６は、リンクされて、入力データはフレーム蓄積器Ａ１
４０に書き込まれ、同時に、出力データはフレーム蓄積
器Ｂ１４２から読み出され、この逆も行なわれるように
なっている。

【０１４２】フレーム蓄積器１４０及び１４２の各々
は、１フレーム分のピクセル（この実施例では）９６０
×５７６を保持するのに充分なだけ大きい。

【０１４３】各入力フレームに対して、入力データは、
アドレス発生器１４８の制御の下に入力スイッチ１４４
によって選択されたフレーム蓄積器に書き込まれる。

【０１４４】アドレス発生器１４８の制御の下に入力デ
ータがフレーム蓄積器の１つ（例えばフレーム蓄積器Ａ
１４０）に書き込まれている間に、出力データはフレー
ム蓄積器の他方（この場合、フレーム蓄積器Ｂ１４２）
から読み出される。

【０１４５】この出力データは、９６４×５８０ピクセ
ルを含み、各行及び各列の初めと終わりに特別につけた
２つのピクセルを表わしている。これら特別につけたピ
クセルは入力フレームの最外端の近隣ピクセルを単純に
複製したものである。

【０１４６】このことは、図１１を参照すればわかると
おり、図１０の装置に供給された入力データの広がり、
及び図１０の装置によって作られた出力データの広がり
を示している。

【０１４７】図１１において、最初の２行のピクセル
は、その入力データのピクセルの最上行の単純な複製で
ある。同様にして、図１１に示された出力データにおけ
るピクセルの最初の２列はその入力データのピクセルの
最初の列の複製である。

【０１４８】このようにして、入力データのピクセルを
複製することにより入力データよりも多い行と列のピク
セルを含む出力データが発生される。

【０１４９】この複製は、アドレス発生器１４８によっ
て制御されるので、例えば、出力データにおけるピクセ
ルの第１行が読み出され（図１１の出力データの最上
行）たとき、アドレス発生器が入力データの最上行左ピ
クセルを３回アドレス指定し、それから３回繰り返され
る最上行右ピクセル（番号９５９，０）になるまで、入
力データの最上行に沿って続け、各ピクセルを１度読
む。

【０１５０】このアドレス順序は、図１１の出力データ
の最初の３行は同じものであるから、実際には３回発生
される。その後、アドレス発生器は、特定行の最左端ピ
クセルを３回アドレス指定し、それから、その行に沿っ
て続行し、各ピクセルを１度読み、最右端ピクセルに至
り、そこが再び３回アドレス指定される。

【０１５１】図１０に示された装置の効果は、所要の出
力フィールドよりも事実上大きい入力フレームを発生す
ることにあり、従って、その中心が（拡大されていな
い）入力フレーム内にある５×５ピクセルのテスト・ブ
ロックは、その（拡大された）入力フレームの外部には
存在しない。

【０１５２】図１２は、図１０の装置によって発生され
た拡大入力フレームで使う動きベクトル選択器を示す。
図１２の動きベクトル選択器は図３に示したものと類似
しており、アドレス・シフター６６が、基準読み取りア
ドレス発生器６４によって供給される出力ピクセル・ア
ドレスと、マップ蓄積器６２によって供給される動きベ
クトル値に応答してシフトされたアドレスを発生する。

【０１５３】入力フレーム１と入力フレーム２に対する
シフトされたアドレスがそれぞれの位置検出器１５０に
供給され、この位置検出器が図３の位置検出器６８と類
似の仕方で動作するが、テスト下の動きベクトル（即
ち、各テスト・ブロックの中央ピクセル）によって指向
されたピクセルが拡大前の入力フレームの広がりの外部
に存在するか否かを検出することを必要とするだけであ
る。

【０１５４】もしそうだとすると、ＯＲゲート７０に信
号が供給され、領域外信号７２を発生し、蓄積及び比較
装置８０にテスト中の動きベクトルを捨てるように指令
する。

【０１５５】テスト中の動きベクトルによって指向され
たピクセルがその対応する入力フレーム（拡大前）の外
部になければ、そのシフトされたアドレスは対応する画
像セグメント蓄積器６０に供給され、それが、テスト中
の動きベクトルによって指向されたピクセル上に中心を
持つ５×５ピクセルの１ブロックをブロック突き合わせ
器７４に出力する。

【０１５６】ブロック突き合わせ器７４はＳＡＤ値を発
生し、前のように、蓄積及び比較装置８０に送る。図１
０の装置によって発生した拡大入力フレームを使えば、
次のことが保障される。すなわち、テスト下の動きベク
トルによって指向された中央ピクセルが原寸入力フレー
ム内に存在すれば、テスト・ブロックは全部拡大入力フ
レーム内部に在るであろう。従って、全５×５ブロック
突き合わせが遂行され正規化もマスクも要しない。

【０１５７】図１３は、動きベクトル選択器の他の実施
例を示す、同図の装置においては、動きベクトル選択器
に供給される前に入力データを拡大する必要なしに図１
０の装置と同じ効果が得られる。

【０１５８】図１３に示された動きベクトル選択器の基
本動作は上に説明したものと類似している。しかしなが
ら、シフトされたアドレスがアドレス・シフター６６か
ら位置検出器１５２に供給される時、図３に示した位置
検出器６８と類似の仕方で２つのチェックが行なわれ
る。

【０１５９】前と同様に、テスト中の動きベクトルによ
って指向されたピクセルが、それに対応する入力フレー
ムの外部に存在するかどうかを知るためにチェックが行
なわれる。その場合、領域外信号７２を発生することが
でき、蓄積及び比較装置８０に送られるために、ＯＲゲ
ート７０に或る信号が送られる。

【０１６０】同様にして、テスト中の動きベクトルによ
って指向されたピクセルが入力フレームの所又はその近
傍にあるかどうかに関してチェックがなされる。

【０１６１】この場合には、或る信号が対応する画像セ
グメント蓄積器１６０に送られ、その蓄積器に読み取り
アドレスを発生するように命じ、入力フレームの外部に
在るテスト・ブロックの行又は列にあるピクセルが、図
１１に示されたような方法で入力フレームの端部にある
ピクセルによって置換されるようにする。

【０１６２】従って、２つの画像セグメント蓄積器から
供給されたテスト・ブロックは、５×５の使用可能ピク
セルを含むから、前述と同様にして、正規化する必要な
しに全ブロックの突き合わせが遂行できる。

【０１６３】

【発明の効果】本発明の動き補償画像処理方法及び装置
によれば、動きベクトルの選択を効率よく行なうことが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】動き補償テレビジョン標準変換装置を示すブロ
ック図である。

【図２】動きベクトル選択器の動作を示す図である。

【図３】動きベクトル選択器の一実施例のブロック図で
ある。

【図４】（ａ）〜（ｅ）は位置検出器及びマスク装置の
動作を示す５つの例を示す図である。

【図５】位置検出器のブロック図である。

【図６】ブロック突き合わせ器の一部とマスク装置を示
す図である。

【図７】正規化装置の一実施例を示す図である。

【図８】正規化装置の一実施例を示す図である。

【図９】正規化装置の一実施例を示す図である。

【図１０】図１の装置の変形を示す図であり、常時入力
フレームの外部に在るピクセルがフレーム内部からのピ
クセルによって取り替えられるようになっている。

【図１１】入力画像についての図１０の装置の効果を示
す図である。

【図１２】図１０の装置と一緒に使う動きベクトル選択
器のブロック図である。

【図１３】動きベクトル選択器の他の例を示す図であ
る。

【符号の説明】

６０ 画像セグメント蓄積器 ６２ マップ蓄積器 ６４ 基準読み出しアドレス発生器 ６６ アドレス・シフター ６８ 位置検出器 ７４ ブロック突き合わせ器 ７６ マスク装置 ７８ 正規化装置 ８０ 蓄積及び比較器

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 スティーブン・マーク・キーティング イギリス国 ＲＧ６ ３ＡＢ，バークシャ ー，レディング，ローワー アーリー，ハ ンティングトン クロース 28

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 動き補償補間によって出力画像を導出す
   るために１対の入力画像の間の画像の動きを表わす動き
   ベクトルを発生する動き補償画像処理方法であって、 出力画像の各ピクセルに対する動きベクトルを発生する
   ステップと、 出力イメージの出力ピクセルに関連した複数の動きベク
   トルの各々をテストするステップであって、 （ｉ）テスト中の動きベクトルによって指向された入力
   画像対のそれぞれのテスト・ブロックが部分的にそれら
   のそれぞれの入力画像の外部に在るかどうかを決定する
   こと、 （ii）もし一方又は両方のテスト・ブロックが、部分的
   にその対応する入力画像の外部にあれば、それら対応す
   る入力画像の内部に在る部分のテスト・ブロックについ
   て第１の相関テストを行なうことにより、それらテスト
   ・ブロック間の相関度を検出すること、 （iii ）もしそのテスト・ブロックの両方が全部それら
   のそれぞれの入力画像の内部に在れば、それらのテスト
   ・ブロックについて第２相関テストを行なうことによっ
   てテスト・ブロック間の相関度を検出すること から成るステップと、 複数の動きベクトルから、その動きベクトルによって指
   向されたテスト・ブロックの間で最も高い相関度を持つ
   動きベクトルを選択するステップとを含む画像処理方
   法。
2. 【請求項２】 請求項１記載の方法において、第２相関
   度テストを行なうステップが、 それらのテスト・ブロックの対応する位置にあるピクセ
   ル対の間の絶対輝度差を検出するステップ、 及び、絶対輝度差を合計し、絶対差の合計（ＳＡＤ）値
   を発生するステップから成る画像処理方法。
3. 【請求項３】 請求項１又は請求項２記載の方法におい
   て、第１相関度テストを行なうステップが、 そのテスト・ブロックの対応する位置にあるピクセル対
   の間の絶対輝度差を検出し、そのテスト・ブロックに対
   して各対の両ピクセルがそれらのそれぞれの入力画像の
   内部に在ることを検出するステップと、 絶対輝度差を合計して、絶対差の合計（ＳＡＤ）値を発
   生するステップと、 そのＳＡＤ値を計算するのに使われたピクセル対の数
   に、各テスト・ブロックのピクセルの数の比に応じたス
   ケール係数によって得られた各ＳＡＤ値を乗算するステ
   ップとから成る画像処理方法。
4. 【請求項４】 請求項３記載の方法において、第１相関
   テストを行なうステップが、 それらテスト・ブロックの対応位置にあるピクセル対の
   間の絶対輝度差を検出するステップと、 一方又は両方の対がそれに対応する入力画像の外部に在
   るピクセル対に対して、検出した絶対輝度差をゼロに設
   定するステップと、 絶対輝度差を合計し、絶対差の合計（ＳＡＤ）値を発生
   するステップとから成る画像処理方法。
5. 【請求項５】 請求項１又は請求項２記載の方法におい
   て、第１相関テストを行なうステップが、 部分的に、それぞれの入力画像の外部に在るテスト・ブ
   ロックに対して、入力画像の内部のテスト・ブロックの
   部分からのピクセルを入力画像の外部に在るテスト・ブ
   ロックのピクセル位置へ置換するステップと、 テスト・ブロックの対応する位置にあるピクセル対の間
   の絶対輝度差を検出するステップと、 その絶対輝度差を合計して、絶対差の合計（ＳＡＤ）値
   を発生するステップとから成る画像処理方法。
6. 【請求項６】 前記いずれか１つの項に記載の方法にお
   いて、選択ステップが、一方又は両方のテスト・ブロッ
   クの予め定められた位置にある１以上のピクセルがそれ
   ぞれの入力画像の外部にあれば、その動きベクトルを捨
   てるステップから成る画像処理方法。
7. 【請求項７】 前記いずれか１つの項に記載の方法にお
   いて、各出力ピクセルに関連した複数の動きベクトルの
   中の１つが、ゼロ画像間の動きを表わす動きベクトルで
   あることを特徴とする画像処理方法。
8. 【請求項８】 前記いずれか１つの項に記載された方法
   において、各出力ピクセルに対して、選択された動きベ
   クトルを使って出力ピクセルを補間するステップを含む
   画像処理方法。
9. 【請求項９】 動き補償補間によって出力画像を導出す
   るために１対の入力画像の間の画像の動きを表わす動き
   ベクトルを発生する動き補償画像処理装置であって、 出力画像の各ピクセルに対する複数の動きベクトルを発
   生する手段と、 出力イメージの出力ピクセルに関連した複数の動きベク
   トルの各々を、 （ｉ）テスト中の動きベクトルによって指向された入力
   画像対のそれぞれのテスト・ブロックが部分的にそれら
   のそれぞれの入力画像の外部に在るかどうかを決定し、 （ii）もし一方又は両方のテスト・ブロックが、部分的
   にその対応する入力画像の外部にあれば、それら対応す
   る入力画像の内部に在る部分のテスト・ブロックについ
   て第１の相関テストを行なうことにより、それらテスト
   ・ブロック間の相関度を検出し、 （iii ）もしそのテスト・ブロックの両方が全部それら
   のそれぞれの入力画像の内部に在れば、それらのテスト
   ・ブロックについて第２相関テストを行なうことによっ
   てテスト・ブロック間の相関度を検出すること によってテストする手段と、 複数の動きベクトルから、その動きベクトルによって指
   向されたテスト・ブロックの間で最も高い相関度を持つ
   動きベクトルを選択する手段とを具える画像処理装置。
10. 【請求項１０】 請求項９記載の動き補償画像処理装置
    を含むテレビジョン標準変換器。