JPH062261U - 距離測定装置 - Google Patents

距離測定装置

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Publication number
JPH062261U
JPH062261U JP4712592U JP4712592U JPH062261U JP H062261 U JPH062261 U JP H062261U JP 4712592 U JP4712592 U JP 4712592U JP 4712592 U JP4712592 U JP 4712592U JP H062261 U JPH062261 U JP H062261U
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JP
Japan
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light
light source
measured
measuring device
distance measuring
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4712592U
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English (en)
Inventor
泰永 加山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP4712592U priority Critical patent/JPH062261U/ja
Publication of JPH062261U publication Critical patent/JPH062261U/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光源に特殊な材料を使用したり、特殊な加工
をする必要なく、高精度に距離を測定できるようにす
る。 【構成】 光源1と測定対象物との間に、光源1から測
定対象物に向かう光に対しては損失が小さく、測定対象
物から光源1に向かう光に対しては損失が大きい方向性
結合手段(例えば、図1のコア径の小さい送光用ファイ
バ3aと、コア径の大きい送光用ファイバ3bとの組み
合わせ)を挿入する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、測量・建築・工業計測分野で利用される距離測定装置に関するもの である。
【0002】
【従来の技術】
光波を使用する距離測定装置は、半導体レーザー等の光源からの強度変調され た光や、パルス状の光を測定対象物に対して出射し、その反射光を受光素子にて 受光することにより、距離測定装置と測定対象物との間の距離によって変化する 出射変調光と受光信号との位相差や、光パルスの往復時間を測定して、測定対象 物までの距離を測定する。
【0003】 図3は、光波を使用して距離を測定する距離測定装置の一例を示す。光源1か ら出射された光は、集光レンズ2および送光用ファイバ3を通って、送光用対物 レンズ4により平行光とされて、測定対象物(図示せず)に到達する。測定対象 物に到達した光は反射されて、受光用対物レンズ11、受光用ファイバ12、お よび集光レンズ13を通って受光素子14に入射する。
【0004】 他方、測定対象物からの反射光の一部は、送光用対物レンズ4、送光用ファイ バ3および集光レンズ2を通って、再び光源1に戻ってくる。この戻ってきた光 の一部が光源1にて反射されて、集光レンズ2、送光用ファイバ3および送光用 対物レンズ4を通って、再び測定対象物に到達する。すなわち、正規の測距光よ りも一往復多く、光が、距離測定装置と測定対象物との間を行き来することにな る。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】
上述のように、従来の距離測定装置においては、測定対象物で反射され、装置 本体に戻ってきた光の一部が、装置本体で再び反射して測定対象物に向かうため 、光が、装置本体と測定対象物との間を一往復(またはそれ以上)余計に伝搬し た後に、受光素子に入射する。装置本体と測定物との間を一往復以上余計に伝搬 する光は、ほんのわずかであっても、測距精度に影響を与える。例えば、強度変 調光の位相差測定を利用した測距装置では、精密測定に用いる変調周波数の基本 波周期(例えば、精密測定用周波数15MHzの場合、10m周期)における周 期的誤差を生じさせる。
【0006】 光が装置本体と測定対象物との間を往復することは、装置本体の反射率を小さ くすることにより、具体的には、装置本体自身を反射率の低い塗料で塗装したり 、あるいはレンズに反射防止コートを施したりすることで、ある程度は改善でき る。
【0007】 しかしながら、これらの対策で抑えることの出来ない反射もいくつか存在する 。その一つが光源での反射である。もちろん光源自体を反射率の低い材料で作成 したり、反射率の低い表面処理を行ったり、チップ端面に反射防止コートを施せ ば多少の改善は見込めるが、当然価格上昇や信頼性の低下を招き、また、これら の対策によって得られる反射光防止効果はあまり大きくない。
【0008】 本考案は、このような状況に鑑みてなされたもので、光源に特殊な材料を使用 したり、特別な加工をする必要なく、高精度に距離を測定できる安価で信頼性の 高い距離測定装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本考案の距離測定装置は、光源と測定対象物との間に、光源から測定対象物に 向かう光に対しては損失が少なく、測定対象物から光源に向かう光に対しては損 失が大きい方向性結合手段を挿入することを特徴とする。
【0010】
【作用】
上記構成の本考案の距離測距装置においては、光源から測定対象物まで到達す る本来の測距光は、損失が少ないため特に問題なく測距が可能である。他方、光 源から測定対象物に反射して戻ってきた光は、測定対象物から光源方向へ戻って 来る過程において損失が大きくなる。したがって、光源で再度反射して測定対象 物に向けて出射する光、すなわち本来の測距光よりも測定対象物との間を一往復 以上余計に伝搬する光は、小さなレベルとなり、この光に起因する測距誤差を抑 える事が可能となる。
【0011】
【実施例】
図1は、本考案の距離測定装置の一実施例を示す。この実施例と図3の従来例 との相違は、送光用ファイバ部分である。この実施例においては、従来の送光用 ファイバ3の代わりに、光源1側すなわち集光レンズ2に接続されたコア径が小 さいファイバ3aと、送光用対物レンズ4に接続されたコア径が大きいファイバ 3bを使用する。これらのコア径の異なるファイバ3aおよび3bは、密着させ て接続されており、送光用ファイバ3bから、送光用ファイバ3aへ入射できな かった光が、再び送光用ファイバ3bへ入射しないように構成されている。
【0012】 光源1から出射された光は、集光レンズ2、送光用ファイバ3aおよび3bを 通った後、送光用対物レンズ4により平行光とされて測定対象物(図示せず)に 到達する。測定対象物に到達した光は、反射されて、受光用対物レンズ11、受 光用ファイバ12および集光レンズ13を通って受光素子14に入射する。
【0013】 他方、測定対象物からの反射光の一部は、送光用対物レンズ4を介して送光用 ファイバ3bに戻ってくる。しかし、送光用ファイバ3bに接続されている送光 用ファイバ3aは、送光用ファイバ3bに比較してコア径が小さいため、多くの 光は送光用ファイバ3aを経由して光源1に到達する事はない。したがって、光 源1からの再反射光を低減できる。
【0014】 なお、光源1から出射されて、集光レンズ2、送光用ファイバ3aおよび3b を通って、測定対象物(図示せず)に向かう本来の測距光は、送光用ファイバ3 bのコア径が送光用ファイバ3aに比べて十分大きいため、減衰が抑制されるか ら、距離測定に支障は生じない。
【0015】 図3は、本考案の距離測定装置の別の実施例を示す。この実施例では、図1の 実施例の送光用ファイバ3aおよび3bの代わりに、偏光ビームスプリッタ20 2、λ/4波長板203、無焦点レンズ204および吸収板206が設けられる 。
【0016】 光源(この場合は偏光ビームである半導体レーザー等が望ましい)201から の出射光は、偏光ビームスプリッタ202を透過後、λ/4波長板203、無焦 点レンズ204および送光用対物レンズ4を通って、測定対象物に到達する。測 定対象物からの反射光は、受光用対物レンズ11、受光用ファイバ12および集 光レンズ13を通って、受光素子14に入射する。
【0017】 一方、測定対象物からの反射光の一部は、送光用対物レンズ205、無焦点レ ンズ204およびλ/4波長板203を経て、偏光ビームスピリッタ202に戻 ってくる。この光はλ/4波長板203を2回通過しているため、偏光方向が9 0゜回転しており、光源201の方向には戻らず、偏光ビームスプリッタ202 で反射され、吸収板206で吸収される。
【0018】 このようにして、測定対象物からの反射光の内、再度測定対象物に向かって出 射される光を抑える事が出来る。
【0019】
【考案の効果】
本考案の距離測定装置によれば、光源と測定対象物との間に、光源から測定対 象物に向かう光に対しては損失が少なく、測定対象物から光源に向かう光に対し ては損失が大きい方向性結合手段を挿入したので、光源から測定対象物まで到達 する本来の測距光は、損失が少ないため特に問題なく測距が可能であるとともに 、光源で再度反射して測定対象物に向けて出射する光は、小さなレベルとなるか ら、この光に起因する測距誤差を抑える事が可能となる。従って、光源に特殊な 材料を使用したり、特別な加工をする必要なく、安価且つ信頼性高く、しかも高 精度に距離を測定できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の距離測定装置の一実施例の構成を示す
光学的構成図である。
【図2】本考案の距離測定装置の一実施例の構成を示す
光学的構成図である。
【図3】従来のの距離測定装置の一例の構成を示す光学
的構成図である。
【符号の説明】
1,201 光源 2,13 集光レンズ 3a,3b 送光用ファイバ 4 送光用対物レンズ 11 受光用対物レンズ 12 受光用ファイバ 14 受光素子 202 偏光ビームスピリッタ 203 λ/4波長板

Claims (3)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源からの光を測定対象物に出射し、そ
    の反射光を受光して測定対象物までの距離を測定する距
    離測定装置において、 前記光源と前記測定対象物との間に、前記光源から前記
    測定対象物に向かう光に対しては損失が少なく、前記測
    定対象物から前記光源に向かう光に対しては損失が大き
    い方向性結合手段を挿入した事を特徴とする距離測定装
    置。
  2. 【請求項2】 前記方向性結合手段が、2種類のコア径
    の異なるファイバを使用して構成される事を特徴とする
    請求項1記載の距離測定装置。
  3. 【請求項3】 前記方向性結合手段が、偏光ビームスプ
    リッタおよびλ/4波長板を使用して構成される事を特
    徴とする請求項1記載の距離測定装置。
JP4712592U 1992-06-12 1992-06-12 距離測定装置 Withdrawn JPH062261U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4712592U JPH062261U (ja) 1992-06-12 1992-06-12 距離測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4712592U JPH062261U (ja) 1992-06-12 1992-06-12 距離測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH062261U true JPH062261U (ja) 1994-01-14

Family

ID=12766435

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4712592U Withdrawn JPH062261U (ja) 1992-06-12 1992-06-12 距離測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH062261U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6290362U (ja) * 1985-11-27 1987-06-09
JP2013205414A (ja) * 2012-03-27 2013-10-07 Sick Ag 監視領域内の対象物を検知するための光電センサおよび方法

Cited By (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6290362U (ja) * 1985-11-27 1987-06-09
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Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19961003