JPH06231477A - フォーカスサーボ回路 - Google Patents
フォーカスサーボ回路Info
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- JPH06231477A JPH06231477A JP5042137A JP4213793A JPH06231477A JP H06231477 A JPH06231477 A JP H06231477A JP 5042137 A JP5042137 A JP 5042137A JP 4213793 A JP4213793 A JP 4213793A JP H06231477 A JPH06231477 A JP H06231477A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- focus
- bias voltage
- time difference
- circuit
- signal
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/094—Methods and circuits for servo offset compensation
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 フォーカスサーボのバイアス調整を、再生す
るディスク毎に自動的にかつ最適に行うことが可能なフ
ォーカスサーボ回路を提供する。 【構成】 ＲＦ信号のジッター量をＥＦＭ信号に同期し
たＰＬＬクロックのエッヂとＥＦＭ信号の変化点との間
の時間差として時間差計測回路６で計測し、この時間差
が最少となるようなフォーカスバイアス電圧をバイアス
電圧発生回路７で設定し、この設定フォーカスバイアス
電圧をフォーカス誤差信号生成回路３で生成されたフォ
ーカス誤差信号に加算器４で加算することによってフォ
ーカスバイアスを自動的に調整し、このバイアス調整さ
れたフォーカス誤差信号に基づいてフォーカスサーボを
行う。
るディスク毎に自動的にかつ最適に行うことが可能なフ
ォーカスサーボ回路を提供する。 【構成】 ＲＦ信号のジッター量をＥＦＭ信号に同期し
たＰＬＬクロックのエッヂとＥＦＭ信号の変化点との間
の時間差として時間差計測回路６で計測し、この時間差
が最少となるようなフォーカスバイアス電圧をバイアス
電圧発生回路７で設定し、この設定フォーカスバイアス
電圧をフォーカス誤差信号生成回路３で生成されたフォ
ーカス誤差信号に加算器４で加算することによってフォ
ーカスバイアスを自動的に調整し、このバイアス調整さ
れたフォーカス誤差信号に基づいてフォーカスサーボを
行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、フォーカスサーボ回路
に関し、特にＣＤ（コンパクトディスク）プレーヤ等の
光学式ディスクプレーヤのサーボ系に用いて好適なフォ
ーカスサーボ回路に関する。
に関し、特にＣＤ（コンパクトディスク）プレーヤ等の
光学式ディスクプレーヤのサーボ系に用いて好適なフォ
ーカスサーボ回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】光学式ディスクプレーヤ、例えばＣＤプ
レーヤには、ディスクの反り等に起因してディスク回転
時に発生するディスクの信号面の上下動に対し、ピック
アップに内蔵の対物レンズとディスクの信号面との間の
距離を一定に保つべく制御するフォーカスサーボ回路が
必要不可欠である。このフォーカスサーボ回路の従来例
を図１０に示す。同図において、ディスク１の信号情報
を光学的に読み取るピックアップ２からは、フォーカス
誤差信号生成回路３に対してフォーカスサーボ系の出力
が供給される。
レーヤには、ディスクの反り等に起因してディスク回転
時に発生するディスクの信号面の上下動に対し、ピック
アップに内蔵の対物レンズとディスクの信号面との間の
距離を一定に保つべく制御するフォーカスサーボ回路が
必要不可欠である。このフォーカスサーボ回路の従来例
を図１０に示す。同図において、ディスク１の信号情報
を光学的に読み取るピックアップ２からは、フォーカス
誤差信号生成回路３に対してフォーカスサーボ系の出力
が供給される。
【０００３】フォーカス誤差信号生成回路３では、非点
収差法等の周知の生成法にしたがって、ディスクの信号
面が光学系の焦平面にあるときゼロ、信号面が対物レン
ズに近づくとマイナス（又は、プラス）、信号面が対物
レンズから遠ざかるとプラス（又は、マイナス）となる
フォーカス誤差信号が生成される。このフォーカス誤差
信号は、加算器４を経た後位相補償ドライブアンプ５で
位相補償されてピックアップ２内のフォーカスアクチュ
エータにそのドライブ信号として供給される。
収差法等の周知の生成法にしたがって、ディスクの信号
面が光学系の焦平面にあるときゼロ、信号面が対物レン
ズに近づくとマイナス（又は、プラス）、信号面が対物
レンズから遠ざかるとプラス（又は、マイナス）となる
フォーカス誤差信号が生成される。このフォーカス誤差
信号は、加算器４を経た後位相補償ドライブアンプ５で
位相補償されてピックアップ２内のフォーカスアクチュ
エータにそのドライブ信号として供給される。
【０００４】このフォーカスサーボ回路において、例え
ば、フォーカス誤差信号の生成法として非点収差法を用
いた場合は、図１１に示すように、ピックアップ１の光
検出器として受光面が４分割された４分割センサ３１を
用い、対角線上に位置する受光部と、との各出
力を加算器３２，３３で加算し、さらに各加算出力を減
算器３４で減算することよってフォーカス誤差信号を生
成する構成となっていることから、４分割センサ３１の
各受光部〜の感度にバラツキがあったり、加算器等
の回路系にオフセットが存在したりすると、ディスクの
信号面が光学系の焦平面にあるにも拘らず、フォーカス
誤差信号にオフセット分が生じ、フォーカス誤差信号が
ゼロにならないことになる。
ば、フォーカス誤差信号の生成法として非点収差法を用
いた場合は、図１１に示すように、ピックアップ１の光
検出器として受光面が４分割された４分割センサ３１を
用い、対角線上に位置する受光部と、との各出
力を加算器３２，３３で加算し、さらに各加算出力を減
算器３４で減算することよってフォーカス誤差信号を生
成する構成となっていることから、４分割センサ３１の
各受光部〜の感度にバラツキがあったり、加算器等
の回路系にオフセットが存在したりすると、ディスクの
信号面が光学系の焦平面にあるにも拘らず、フォーカス
誤差信号にオフセット分が生じ、フォーカス誤差信号が
ゼロにならないことになる。
【０００５】この状態でフォーカスサーボを行うと、オ
フセット分だけ焦点ずれとなり、ディスクの信号情報を
良好に読み取れないことになる。このため、従来は、半
固定抵抗Ｒを用いてバイアス電圧を発生し、このバイア
ス電圧を加算器４にてフォーカス誤差信号に加算してオ
フセット分をキャンセルすることにより、ジャストフォ
ーカスとなるようにフォーカスサーボのオフセット調整
を行っていた。このフォーカスサーボのバイアス調整
は、製造ラインにおいて、ディスク上のピットの位置に
フォーカスが合うように、換言すれば、ピックアップ２
から出力されるＲＦ信号のアイパターンが波形観測で一
番きれいになるように行われていた。
フセット分だけ焦点ずれとなり、ディスクの信号情報を
良好に読み取れないことになる。このため、従来は、半
固定抵抗Ｒを用いてバイアス電圧を発生し、このバイア
ス電圧を加算器４にてフォーカス誤差信号に加算してオ
フセット分をキャンセルすることにより、ジャストフォ
ーカスとなるようにフォーカスサーボのオフセット調整
を行っていた。このフォーカスサーボのバイアス調整
は、製造ラインにおいて、ディスク上のピットの位置に
フォーカスが合うように、換言すれば、ピックアップ２
から出力されるＲＦ信号のアイパターンが波形観測で一
番きれいになるように行われていた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記構
成の従来のフォーカスサーボ回路では、フォーカスサー
ボのバイアス調整を製造ラインにおいて手動で行う構成
となっていたので、その調整作業に熟練や手間を要する
とともに、実際に再生するディスクの厚さや材料の違い
によって屈折率が異なった場合に発生する焦点ずれには
対応できないという問題点があった。本発明は、上記課
題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところ
は、フォーカスサーボのバイアス調整を、再生するディ
スク毎に自動的にかつ最適に行うことが可能なフォーカ
スサーボ回路を提供することにある。
成の従来のフォーカスサーボ回路では、フォーカスサー
ボのバイアス調整を製造ラインにおいて手動で行う構成
となっていたので、その調整作業に熟練や手間を要する
とともに、実際に再生するディスクの厚さや材料の違い
によって屈折率が異なった場合に発生する焦点ずれには
対応できないという問題点があった。本発明は、上記課
題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところ
は、フォーカスサーボのバイアス調整を、再生するディ
スク毎に自動的にかつ最適に行うことが可能なフォーカ
スサーボ回路を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明によるフォーカス
サーボ回路は、フォーカス誤差信号を生成する誤差信号
生成回路と、ディスクから再生された２値化信号に同期
したクロックのエッヂと２値化信号の変化点との間の時
間差を計測する時間差計測回路と、この時間差に応じた
フォーカスバイアス電圧を発生するバイアス電圧発生回
路と、フォーカス誤差信号にフォーカスバイアス電圧を
加算する加算器とを具備し、この加算器の加算出力に基
づいてフォーカスサーボを行う構成となっている。
サーボ回路は、フォーカス誤差信号を生成する誤差信号
生成回路と、ディスクから再生された２値化信号に同期
したクロックのエッヂと２値化信号の変化点との間の時
間差を計測する時間差計測回路と、この時間差に応じた
フォーカスバイアス電圧を発生するバイアス電圧発生回
路と、フォーカス誤差信号にフォーカスバイアス電圧を
加算する加算器とを具備し、この加算器の加算出力に基
づいてフォーカスサーボを行う構成となっている。
【０００８】
【作用】ＲＦ信号のジッター量を、２値化信号に同期し
たクロックのエッヂと２値化信号の変化点との間の時間
差として計測する。このジッター量はフォーカスバイア
ス誤差に対応することから、この時間差が最少となるよ
うなフォーカスバイアス電圧を設定する。そして、この
設定フォーカスバイアス電圧をフォーカス誤差信号に加
算する。これにより、フォーカス誤差信号に含まれる直
流オフセット分がキャンセルされるため、フォーカスバ
イアスがジャストフォーカスとなるように自動的に調整
される。
たクロックのエッヂと２値化信号の変化点との間の時間
差として計測する。このジッター量はフォーカスバイア
ス誤差に対応することから、この時間差が最少となるよ
うなフォーカスバイアス電圧を設定する。そして、この
設定フォーカスバイアス電圧をフォーカス誤差信号に加
算する。これにより、フォーカス誤差信号に含まれる直
流オフセット分がキャンセルされるため、フォーカスバ
イアスがジャストフォーカスとなるように自動的に調整
される。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。図１は、例えばＣＤプレーヤに適用された
本発明によるフォーカスサーボ回路の一実施例を示すブ
ロック図である。図１において、ディスク１の信号面に
は、信号情報がピット列として記録されている。このデ
ィスク１の信号情報は、ピックアップ２によって光学的
に読み取られる。このピックアップ２から出力されるＲ
Ｆ信号は、図示せぬＰＬＬ回路に供給されてこのＲＦ信
号に同期したＰＬＬクロックPLCKの生成に用いられると
ともに、図示せぬディジタル信号処理系に供給されてＰ
ＬＬクロックPLCKを基準としてＥＦＭ(Eight to Fourte
en Modulation)復調やエラー訂正等の信号処理が施され
てオーディオ出力として導出される。
に説明する。図１は、例えばＣＤプレーヤに適用された
本発明によるフォーカスサーボ回路の一実施例を示すブ
ロック図である。図１において、ディスク１の信号面に
は、信号情報がピット列として記録されている。このデ
ィスク１の信号情報は、ピックアップ２によって光学的
に読み取られる。このピックアップ２から出力されるＲ
Ｆ信号は、図示せぬＰＬＬ回路に供給されてこのＲＦ信
号に同期したＰＬＬクロックPLCKの生成に用いられると
ともに、図示せぬディジタル信号処理系に供給されてＰ
ＬＬクロックPLCKを基準としてＥＦＭ(Eight to Fourte
en Modulation)復調やエラー訂正等の信号処理が施され
てオーディオ出力として導出される。
【００１０】フォーカス誤差信号生成回路３は、非点収
差法等の周知の生成法にしたがって、ピックアップ２か
らのフォーカスサーボ系の出力に基づいてディスクの信
号面が光学系の焦平面にあるときゼロ、信号面が対物レ
ンズに近づくとマイナス（又は、プラス）、信号面が対
物レンズから遠ざかるとプラス（又は、マイナス）とな
るフォーカス誤差信号を生成する。このフォーカス誤差
信号は、加算器４を経た後位相補償ドライブアンプ５で
位相補償されてピックアップ２内のフォーカスアクチュ
エータにそのドライブ信号として供給される。
差法等の周知の生成法にしたがって、ピックアップ２か
らのフォーカスサーボ系の出力に基づいてディスクの信
号面が光学系の焦平面にあるときゼロ、信号面が対物レ
ンズに近づくとマイナス（又は、プラス）、信号面が対
物レンズから遠ざかるとプラス（又は、マイナス）とな
るフォーカス誤差信号を生成する。このフォーカス誤差
信号は、加算器４を経た後位相補償ドライブアンプ５で
位相補償されてピックアップ２内のフォーカスアクチュ
エータにそのドライブ信号として供給される。
【００１１】ところで、フォーカスサーボにおいては、
図２に示すように、ジャストフォーカスの場合（Ａ）に
は、ＲＦ信号はきれいな波形となり、ＰＬＬクロックPL
CKもジッターのない波形となるが、ジャストフォーカス
ポイントより若干ポイントがずれた場合、即ちフォーカ
スバイアスずれの場合（Ｂ）には、電気的にＲＦ信号の
周波数スペクトルが広がったものとなり、ＲＦ信号がき
たない波形となるために、ＰＬＬクロックPLCKもジッタ
ーを含んだ波形となる。図３（Ａ），（Ｂ）には、ＲＦ
信号の２値化信号であるＥＦＭ信号とＰＬＬクロックPL
CKの波形を、図２（Ａ），（Ｂ）にそれぞれ対応して示
している。
図２に示すように、ジャストフォーカスの場合（Ａ）に
は、ＲＦ信号はきれいな波形となり、ＰＬＬクロックPL
CKもジッターのない波形となるが、ジャストフォーカス
ポイントより若干ポイントがずれた場合、即ちフォーカ
スバイアスずれの場合（Ｂ）には、電気的にＲＦ信号の
周波数スペクトルが広がったものとなり、ＲＦ信号がき
たない波形となるために、ＰＬＬクロックPLCKもジッタ
ーを含んだ波形となる。図３（Ａ），（Ｂ）には、ＲＦ
信号の２値化信号であるＥＦＭ信号とＰＬＬクロックPL
CKの波形を、図２（Ａ），（Ｂ）にそれぞれ対応して示
している。
【００１２】そこで、本発明においては、ジャストフォ
ーカスのときＲＦ信号のジッター量が最少となることに
着目し、フォーカスバイアス誤差に対応したこのジッタ
ー量を、図４に示すように、ＰＬＬクロックPLCKのエッ
ヂとＥＦＭ信号の変化点との時間差（位相差）±Δθと
して計測し、この時間差±Δθが最少となるようなフォ
ーカスバイアス電圧を設定してバイアス調整を自動的に
行うするようにしている。すなわち、図１において、Ｐ
ＬＬクロックのエッヂとＥＦＭ信号の変化点とのの間の
時間差±Δθを計測する時間差計測回路６と、この時間
差±Δθに応じたフォーカスバイアス電圧を発生するバ
イアス電圧発生回路６とを設け、このフォーカスバイア
ス電圧を加算器４にてフォーカス誤差信号に加算し、サ
ーボ系に発生する直流オフセット分をキャンセルするこ
とによってバイアス調整を行う構成となっている。
ーカスのときＲＦ信号のジッター量が最少となることに
着目し、フォーカスバイアス誤差に対応したこのジッタ
ー量を、図４に示すように、ＰＬＬクロックPLCKのエッ
ヂとＥＦＭ信号の変化点との時間差（位相差）±Δθと
して計測し、この時間差±Δθが最少となるようなフォ
ーカスバイアス電圧を設定してバイアス調整を自動的に
行うするようにしている。すなわち、図１において、Ｐ
ＬＬクロックのエッヂとＥＦＭ信号の変化点とのの間の
時間差±Δθを計測する時間差計測回路６と、この時間
差±Δθに応じたフォーカスバイアス電圧を発生するバ
イアス電圧発生回路６とを設け、このフォーカスバイア
ス電圧を加算器４にてフォーカス誤差信号に加算し、サ
ーボ系に発生する直流オフセット分をキャンセルするこ
とによってバイアス調整を行う構成となっている。
【００１３】時間差計測回路６は、所定の時間を基準に
とり、この基準時間（±Ｔref ）以上大きなジッター
が、フレーム同期信号の１周期（＝１３６μsec.）の間
に発生した回数をカウントすることにより、このカウン
ト値を時間差±Δθとして計測する。ここで、上記の基
準時間（±Ｔref ）としては、ＰＬＬクロックPLCKの周
波数（＝４．３２１８ＭＨｚ）の８倍の周期のＮ倍が設
定される。例えば、Ｎ＝３とすると、
とり、この基準時間（±Ｔref ）以上大きなジッター
が、フレーム同期信号の１周期（＝１３６μsec.）の間
に発生した回数をカウントすることにより、このカウン
ト値を時間差±Δθとして計測する。ここで、上記の基
準時間（±Ｔref ）としては、ＰＬＬクロックPLCKの周
波数（＝４．３２１８ＭＨｚ）の８倍の周期のＮ倍が設
定される。例えば、Ｎ＝３とすると、
【数１】Ｔref ＝（１／４．３２１８ＭＨｚ×８）×３
≒８８ｎsec. なる時間が基準にとられることになる。なお、Ｎの値
は、３に限定されるものではなく、任意の値に選定し得
る。
≒８８ｎsec. なる時間が基準にとられることになる。なお、Ｎの値
は、３に限定されるものではなく、任意の値に選定し得
る。
【００１４】次に、この時間差計測回路６の具体的な構
成について説明する。図５は時間差計測回路６の構成の
一例を示すブロック図であり、図６（ａ）〜（ｅ）に図
５の各部（ａ）〜（ｅ）の波形を示す。ＥＦＭ信号
（ｂ）は、フリップフロップ１１の入力になるととも
に、排他的論理和ゲート１２の一入力となる。フリップ
フロップ１１はＰＬＬクロックPLCKをインバータ１３で
反転して得られるクロックXPCK（ａ）で動作する。この
フリップフロップ１１の出力は、ＥＸ‐ＯＲゲート１２
の他入力となる。これにより、ＥＸ‐ＯＲゲート１２の
出力（ｃ）は、ＥＦＭ信号の変化点からクロックXPCKの
立上がりエッヂ、即ちＰＬＬクロックPLCKの立下がりエ
ッヂまでの期間において高レベルとなる。
成について説明する。図５は時間差計測回路６の構成の
一例を示すブロック図であり、図６（ａ）〜（ｅ）に図
５の各部（ａ）〜（ｅ）の波形を示す。ＥＦＭ信号
（ｂ）は、フリップフロップ１１の入力になるととも
に、排他的論理和ゲート１２の一入力となる。フリップ
フロップ１１はＰＬＬクロックPLCKをインバータ１３で
反転して得られるクロックXPCK（ａ）で動作する。この
フリップフロップ１１の出力は、ＥＸ‐ＯＲゲート１２
の他入力となる。これにより、ＥＸ‐ＯＲゲート１２の
出力（ｃ）は、ＥＦＭ信号の変化点からクロックXPCKの
立上がりエッヂ、即ちＰＬＬクロックPLCKの立下がりエ
ッヂまでの期間において高レベルとなる。
【００１５】ＥＸ‐ＯＲゲート１２の出力（ｃ）は、３
bit カウンタ１４のｃｉ入力になるとともに、フリップ
フロップ１５の入力となる。３bit カウンタ１４は、初
期値として２′ｓコンプリメント表現で（１００）の値
（−４）がロードされ、排他的論理和ゲート１２の出力
（ｃ）が高レベルの期間で３４ＭＨｚ（≒４．３２１８
ＭＨｚ×８）の周波数のクロックをカウントする。この
カウンタ１４のカウント値（ｅ）は、ＥＦＭ信号の変化
点とＰＬＬクロックPLCKのエッヂとの間の時間差±Δθ
に対応することになる。フリップフロップ１５の出力は
さらにフリップフロップ１６の入力になるとともに、イ
ンバータ１７で反転されてＮＡＮＤゲート１８の一入力
となる。フリップフロップ１５，１６は共に、３４ＭＨ
ｚのクロックで動作する。フリップフロップ１６の出力
は、ＮＡＮＤゲート１８の他入力となる。
bit カウンタ１４のｃｉ入力になるとともに、フリップ
フロップ１５の入力となる。３bit カウンタ１４は、初
期値として２′ｓコンプリメント表現で（１００）の値
（−４）がロードされ、排他的論理和ゲート１２の出力
（ｃ）が高レベルの期間で３４ＭＨｚ（≒４．３２１８
ＭＨｚ×８）の周波数のクロックをカウントする。この
カウンタ１４のカウント値（ｅ）は、ＥＦＭ信号の変化
点とＰＬＬクロックPLCKのエッヂとの間の時間差±Δθ
に対応することになる。フリップフロップ１５の出力は
さらにフリップフロップ１６の入力になるとともに、イ
ンバータ１７で反転されてＮＡＮＤゲート１８の一入力
となる。フリップフロップ１５，１６は共に、３４ＭＨ
ｚのクロックで動作する。フリップフロップ１６の出力
は、ＮＡＮＤゲート１８の他入力となる。
【００１６】ＮＡＮＤゲート１８の出力（ｃ）は、３bi
t カウンタ１４及びレジスタ１９の各ロード（ＬＤ）入
力となる。このロード入力（ｄ）に応答して、レジスタ
１９には３bit カウンタ１４の最終カウント値がロード
され、同時に３bit カウンタ１４には先の初期値（１０
０）がロードされる。レジスタ１９にロードされた値
（ｆ）は比較器２０の比較入力となる。比較器２０は、
比較入力の値が例えば±３以上のとき高レベルの出力を
発生する。この数値“３”により、数１の式で求められ
る８８ｎsec.なる基準時間（±Ｔref ）が設定されるこ
とになる。
t カウンタ１４及びレジスタ１９の各ロード（ＬＤ）入
力となる。このロード入力（ｄ）に応答して、レジスタ
１９には３bit カウンタ１４の最終カウント値がロード
され、同時に３bit カウンタ１４には先の初期値（１０
０）がロードされる。レジスタ１９にロードされた値
（ｆ）は比較器２０の比較入力となる。比較器２０は、
比較入力の値が例えば±３以上のとき高レベルの出力を
発生する。この数値“３”により、数１の式で求められ
る８８ｎsec.なる基準時間（±Ｔref ）が設定されるこ
とになる。
【００１７】比較器２０の出力はＡＮＤゲート２１の一
入力となる。このＡＮＤゲート２１は、ＮＡＮＤゲート
１８の出力（ｄ）のインバータ２２による反転出力を他
入力とし、ＮＡＮＤゲート１８の出力（ｄ）の発生タイ
ミング（ロードタイミング）で比較器２０の出力をカウ
ンタ２３に供給する。一方、１３６μsec.周期のフレー
ム同期信号は、インバータ２２の出力を一入力とするＡ
ＮＤゲート２４の他入力となる。ＡＮＤゲート２４の出
力は、カウンタ２３のリセット入力になるとともに、Ｐ
／Ｓ（パラレル／シリアル）レジスタ２５のロード入力
となる。Ｐ／Ｓレジスタ２５は、カウンタ２３からロー
ドされたパラレルデータをシリアルデータに変換し、バ
イアス電圧発生回路７から供給されるシフトインクロッ
クに応答して、シリアルデータをシフトアウトデータと
してバイアス電圧発生回路７へ出力する。
入力となる。このＡＮＤゲート２１は、ＮＡＮＤゲート
１８の出力（ｄ）のインバータ２２による反転出力を他
入力とし、ＮＡＮＤゲート１８の出力（ｄ）の発生タイ
ミング（ロードタイミング）で比較器２０の出力をカウ
ンタ２３に供給する。一方、１３６μsec.周期のフレー
ム同期信号は、インバータ２２の出力を一入力とするＡ
ＮＤゲート２４の他入力となる。ＡＮＤゲート２４の出
力は、カウンタ２３のリセット入力になるとともに、Ｐ
／Ｓ（パラレル／シリアル）レジスタ２５のロード入力
となる。Ｐ／Ｓレジスタ２５は、カウンタ２３からロー
ドされたパラレルデータをシリアルデータに変換し、バ
イアス電圧発生回路７から供給されるシフトインクロッ
クに応答して、シリアルデータをシフトアウトデータと
してバイアス電圧発生回路７へ出力する。
【００１８】ここで、ＲＦ信号でＰＬＬクロックPLCKよ
り±８８ｎsec.以上ずれた変化を９８フレーム期間だけ
計測したカウント数（位相ずれ回数）とＣ１ブロックエ
ラーレートを、フォーカスバイアス電圧をパラメータに
とった場合の計測結果として図７に示す。同図におい
て、実線（ａ）がブロックエラーレートを、点線（ｂ）
が最大位相ずれ回数をそれぞれ示している。なお、２本
の実線（ａ）、２本の点線（ｂ）でそれぞれ囲まれた領
域内が多く観測される値である。この計測結果から明ら
かなように、フォーカスバイアス電圧が０〜０．３Ｖの
間で良好であり、このときＣ１ブロックエラーレートも
位相ずれ回数も最少となっていることがわかる。
り±８８ｎsec.以上ずれた変化を９８フレーム期間だけ
計測したカウント数（位相ずれ回数）とＣ１ブロックエ
ラーレートを、フォーカスバイアス電圧をパラメータに
とった場合の計測結果として図７に示す。同図におい
て、実線（ａ）がブロックエラーレートを、点線（ｂ）
が最大位相ずれ回数をそれぞれ示している。なお、２本
の実線（ａ）、２本の点線（ｂ）でそれぞれ囲まれた領
域内が多く観測される値である。この計測結果から明ら
かなように、フォーカスバイアス電圧が０〜０．３Ｖの
間で良好であり、このときＣ１ブロックエラーレートも
位相ずれ回数も最少となっていることがわかる。
【００１９】次に、バイアス電圧発生回路７において、
時間差計測回路６で計測された計測データＮ（位相ずれ
回数）に基づいてフォーカスバイアス電圧を設定する具
体例について説明する。バイアス電圧発生回路７は、マ
イクロコンピュータによって構成され、計測データＮの
平均値が最小となるようにフォーカスバイアス電圧を設
定する。その設定の処理手順の一例を、図８のフォーカ
スバイアス電圧‐位相ずれ回数の特性図に基づいて、図
９のフローチャートにしたがって説明する。
時間差計測回路６で計測された計測データＮ（位相ずれ
回数）に基づいてフォーカスバイアス電圧を設定する具
体例について説明する。バイアス電圧発生回路７は、マ
イクロコンピュータによって構成され、計測データＮの
平均値が最小となるようにフォーカスバイアス電圧を設
定する。その設定の処理手順の一例を、図８のフォーカ
スバイアス電圧‐位相ずれ回数の特性図に基づいて、図
９のフローチャートにしたがって説明する。
【００２０】先ず、計測データＮの最小値Ｎmin を計測
し（ステップＳ１）、次いでこの最小値Ｎmin よりもα
％だけ大なる閾値Ｎthを設定する（ステップＳ２）。な
お、この閾値Ｎthについては、フォーカスサーボが外れ
る危険性のある限界値ＮLIM未満に設定する必要があ
る。続いて、計測データＮが閾値Ｎthとなる２つのバイ
アス値ＦA ，ＦB を計測し（ステップＳ３）、この２つ
のバイアス値ＦA ，ＦB の平均値（＝ＦA ＋ＦB ／２）
を求め（ステップＳ４）、これを設定フォーカスバイア
ス電圧とする。
し（ステップＳ１）、次いでこの最小値Ｎmin よりもα
％だけ大なる閾値Ｎthを設定する（ステップＳ２）。な
お、この閾値Ｎthについては、フォーカスサーボが外れ
る危険性のある限界値ＮLIM未満に設定する必要があ
る。続いて、計測データＮが閾値Ｎthとなる２つのバイ
アス値ＦA ，ＦB を計測し（ステップＳ３）、この２つ
のバイアス値ＦA ，ＦB の平均値（＝ＦA ＋ＦB ／２）
を求め（ステップＳ４）、これを設定フォーカスバイア
ス電圧とする。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ＲＦ信号のジッター量を２値化信号であるＥＦＭ信号に
同期したＰＬＬクロックのエッヂとＥＦＭ信号の変化点
との間の時間差として計測し、この時間差が最少となる
ようなフォーカスバイアス電圧を設定し、この設定バイ
アスバイアス電圧をフォーカス誤差信号に加算してオフ
セット分をキャンセルするようにしたので、従来は製造
ラインで行っていたフォーカスサーボのバイアス調整を
自動的に行えることになる。また、バイアス調整の自動
化により、ディスク再生の度にフォーカスサーボのバイ
アス調整が行われることになるため、ディスクの厚さや
材料が異なっても、各ディスク毎に最適なバイアス点で
再生できることになる。
ＲＦ信号のジッター量を２値化信号であるＥＦＭ信号に
同期したＰＬＬクロックのエッヂとＥＦＭ信号の変化点
との間の時間差として計測し、この時間差が最少となる
ようなフォーカスバイアス電圧を設定し、この設定バイ
アスバイアス電圧をフォーカス誤差信号に加算してオフ
セット分をキャンセルするようにしたので、従来は製造
ラインで行っていたフォーカスサーボのバイアス調整を
自動的に行えることになる。また、バイアス調整の自動
化により、ディスク再生の度にフォーカスサーボのバイ
アス調整が行われることになるため、ディスクの厚さや
材料が異なっても、各ディスク毎に最適なバイアス点で
再生できることになる。
【図１】本発明によるフォーカスサーボ回路の一実施例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】ＲＦ信号とＰＬＬクロックの波形図であり、
（Ａ）はジャストフォーカスの場合を、（Ｂ）はフォー
カスバイアスずれの場合をそれぞれ示している。
（Ａ）はジャストフォーカスの場合を、（Ｂ）はフォー
カスバイアスずれの場合をそれぞれ示している。
【図３】ＥＦＭ信号とＰＬＬクロックの波形図であり、
（Ａ）はジャストフォーカスの場合を、（Ｂ）はフォー
カスバイアスずれの場合をそれぞれ示している。
（Ａ）はジャストフォーカスの場合を、（Ｂ）はフォー
カスバイアスずれの場合をそれぞれ示している。
【図４】ＥＦＭ信号とＰＬＬクロックの時間差±Δθを
示す図である。
示す図である。
【図５】時間差計測回路の構成の一例を示すブロック図
である。
である。
【図６】図５の各部の波形図である。
【図７】フォーカスバイアス電圧に対するブロックエラ
ーレート及び位相ずれ回数の計測結果を示す特性図であ
る。
ーレート及び位相ずれ回数の計測結果を示す特性図であ
る。
【図８】計測結果に基づくフォーカスバイアス電圧‐位
相ずれ回数の特性図である。
相ずれ回数の特性図である。
【図９】バイアス電圧を設定する手順の一例を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図１０】フォーカスサーボ回路の従来例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図１１】非点収差法の原理図である。
１ ディスク ３ フォーカス誤差信号生成回路 ６ 時間差計測回路 ７ バイアス電圧発生回路 １４ ３bit カウンタ １９ レジスタ ２０ 比較器 ２３ カウンタ ２５ Ｐ／Ｓレジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野田 英伸 神奈川県横浜市保土ヶ谷区神戸町134番地 ソニーＬＳＩデザイン株式会社内
Claims (4)
- 【請求項１】 フォーカス誤差信号を生成する誤差信号
生成回路と、 ディスクから再生された２値化信号に同期したクロック
のエッヂと前記２値化信号の変化点との間の時間差を計
測する時間差計測回路と、 前記時間差に応じたフォーカスバイアス電圧を発生する
バイアス電圧発生回路と、 前記フォーカス誤差信号に前記フォーカスバイアス電圧
を加算する加算器とを具備し、 前記加算器の加算出力に基づいてフォーカスサーボを行
うことを特徴とするフォーカスサーボ回路。 - 【請求項２】 前記時間差計測回路は、前記クロックの
エッヂと前記２値化信号の変化点との間の時間差を計測
する回路と、この計測した時間差が基準時間以上となる
ことを検出する回路と、この検出回数が所定の時間内に
おいてカウントするカウンタとを備え、このカウンタの
カウントデータを前記時間差の計測データとして出力す
ることを特徴とする請求項１記載のフォーカスサーボ回
路。 - 【請求項３】 前記バイアス電圧発生回路は、前記計測
データの平均値が最小となるようにフォーカスバイアス
電圧を設定することを特徴とする請求項２記載のフォー
カスサーボ回路。 - 【請求項４】 前記バイアス電圧発生回路は、前記計測
データの最小値を計測するとともに、この最小値よりも
所定値だけ大なる閾値を設定し、前記計測データがこの
閾値となる２つのバイアス値を計測し、この２つのバイ
アス値の平均値をフォーカスバイアス電圧として設定す
ることを特徴とする請求項２記載のフォーカスサーボ回
路。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5042137A JPH06231477A (ja) | 1993-02-05 | 1993-02-05 | フォーカスサーボ回路 |
| KR1019940001678A KR100283970B1 (ko) | 1993-02-05 | 1994-01-31 | 포커스 서보 회로 |
| DE69424199T DE69424199T2 (de) | 1993-02-05 | 1994-02-03 | Automatische Vorspannungsregelung für einen Fokusservokreis |
| EP94101651A EP0609882B1 (en) | 1993-02-05 | 1994-02-03 | Automatic bias adjustment for focus servo circuit |
| US08/410,863 US5475664A (en) | 1993-02-05 | 1995-03-16 | Focus servo circuit apparatus with automatic bias adjustments |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5042137A JPH06231477A (ja) | 1993-02-05 | 1993-02-05 | フォーカスサーボ回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06231477A true JPH06231477A (ja) | 1994-08-19 |
Family
ID=12627558
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5042137A Pending JPH06231477A (ja) | 1993-02-05 | 1993-02-05 | フォーカスサーボ回路 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5475664A (ja) |
| EP (1) | EP0609882B1 (ja) |
| JP (1) | JPH06231477A (ja) |
| KR (1) | KR100283970B1 (ja) |
| DE (1) | DE69424199T2 (ja) |
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| US5663942A (en) * | 1994-05-02 | 1997-09-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Jitter measurement apparatus detecting amplitude of phase errors between information signal and synchronized clock signal |
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| KR100529809B1 (ko) * | 1996-10-31 | 2006-02-08 | 소니 가부시끼 가이샤 | 광디스크시스템을교정하는방법및장치 |
| KR100559753B1 (ko) * | 1996-08-21 | 2006-07-03 | 소니 가부시끼 가이샤 | 디스크드라이브의포커스바이어스조정이나스큐조정에사용되는평가신호생성장치및방법 |
| KR100604791B1 (ko) * | 1999-11-03 | 2006-07-31 | 삼성전자주식회사 | 광 디스크 재생 시스템의 포커스 바이어스 조정방법 및 장치 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US5729511A (en) | 1991-02-15 | 1998-03-17 | Discovision Associates | Optical disc system having servo motor and servo error detection assembly operated relative to monitored quad sum signal |
| US5677899A (en) | 1991-02-15 | 1997-10-14 | Discovision Associates | Method for moving carriage assembly from initial position to target position relative to storage medium |
| US6236625B1 (en) | 1991-02-15 | 2001-05-22 | Discovision Associates | Optical disc system having current monitoring circuit with controller for laser driver and method for operating same |
| KR100375494B1 (ko) | 1993-12-28 | 2003-03-10 | 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤 | 광 디스크, 광 디스크의 재생장치 및 정보기록장치 |
| US5568461A (en) * | 1994-04-20 | 1996-10-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical information recording and reproducing apparatus |
| US5627807A (en) * | 1994-09-19 | 1997-05-06 | Abe; Tetsuya | Optical disk apparatus with focus bias means |
| JPH08180429A (ja) * | 1994-12-22 | 1996-07-12 | Sharp Corp | 光情報記録再生装置及び光記録媒体 |
| US6434087B1 (en) | 1995-01-25 | 2002-08-13 | Discovision Associates | Optical disc system and method for controlling bias coil and light source to process information on a storage medium |
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| KR100433605B1 (ko) | 1995-01-31 | 2004-11-12 | 소니 가부시끼 가이샤 | 광학적기록매체재생장치 |
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| JP3465413B2 (ja) * | 1995-06-16 | 2003-11-10 | ソニー株式会社 | 光ディスク駆動装置およびフォーカス制御方法 |
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1993
- 1993-02-05 JP JP5042137A patent/JPH06231477A/ja active Pending
-
1994
- 1994-01-31 KR KR1019940001678A patent/KR100283970B1/ko not_active Expired - Lifetime
- 1994-02-03 DE DE69424199T patent/DE69424199T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1994-02-03 EP EP94101651A patent/EP0609882B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-03-16 US US08/410,863 patent/US5475664A/en not_active Expired - Lifetime
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|---|---|
| DE69424199T2 (de) | 2001-01-18 |
| DE69424199D1 (de) | 2000-06-08 |
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| EP0609882B1 (en) | 2000-05-03 |
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