JPH06231482A - 光ディスク装置 - Google Patents

光ディスク装置

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JPH06231482A
JPH06231482A JP5014425A JP1442593A JPH06231482A JP H06231482 A JPH06231482 A JP H06231482A JP 5014425 A JP5014425 A JP 5014425A JP 1442593 A JP1442593 A JP 1442593A JP H06231482 A JPH06231482 A JP H06231482A
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JP
Japan
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recording
light
laser
semiconductor laser
optical disk
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Application number
JP5014425A
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English (en)
Inventor
Shinichi Yamada
真一 山田
Mitsuro Moriya
充郎 守屋
Hiromichi Ishibashi
広通 石橋
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ディスクに対する信号記録に先立ち、あら
かじめ記録時のレーザの発光強度を調整したうえで記録
をおこなう光ディスク装置において光ディスクの劣化を
少なくする手段を提供する。 【構成】 半導体レーザ111の発光をカップリングレ
ンズ112で集束光とし音響光学変調器113を介し
て、モータ102で一定角速度で回転する光ディスク1
01に照射する構成において、記録に先立つ発光強度調
整期間においてマイクロコンピュータ150の制御によ
りレーザ駆動回路136から半導体レーザ111に発光
強度調整用電流を加える期間およびその前後においてR
F発振器124より高周波信号を音響光学変調器113
に加えてレーザ光を回折させ、光ディスク101に照射
しないように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ディスクに記録するに
先立ちあらかじめ記録時のレーザの発光強度を調整した
うえで記録をおこなう光ディスク装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、大量の情報を記録し、再生できる
種々の方式の光ディスク装置が実用化されている。以下
図面に基づいて従来の光ディスク装置について説明す
る。図6(a)は従来例のサンプルサーボ用の光ディス
ク装置で使用する光ディスクの表面の模式図、図6
(b)はその表面の反射光量の波形図を示す。図6
(a)において一点鎖線601はトラック中心線を示
し、サーボ領域にはトラッキング用ピットとクロック用
ピットが基板面から凹状になるようにインジェクション
等の手法で製作されている。第1のトラッキング用ピッ
ト602はこのトラック中心線601から図の上方へ1
/4ピッチずれた位置に配置され、第2のトラッキング
用ピット603はこのトラック中心線601から図の下
方へ1/4ピッチずれた位置に配置されている。このよ
うなピット配置をウォブルマークとも称する。そして第
2のトラッキング用ピット603からユニークディスタ
ンス(以下UDと略称)だけ離れた点において、トラッ
ク中心線601上にクロック用ピット604が配置され
ている。このユニークディスタンスとは、再生時に第2
のトラッキング用ピット603とクロック用ピット60
4の間を、集束された光ビームが走行する時間間隔で表
される時間距離であって、ピットとピットとの空間距離
ではない。クロック用ピット604と、その前のトラッ
キング用ピット603との間の部分以外にはUDと同等
の時間間隔をもって再生信号が発生するようなピット間
隔が存在しないようにして、クロック用ピットの検出を
確実にするための手段である。このサーボ領域の前方
(図の左方)に記録パワー調整領域が、また後方(図の
右方)にデータ領域が配置されている。
【0003】つぎに従来例の光ディスク装置のブロック
図を図5に示す。ディスクは図6と同様のサンプルサー
ボ形式のディスクであり、データを書き込むことによっ
て反射率が低くなる相変化型の記録材料を用いた光ディ
スクであるものとする。以下、その構成と概略の動作を
説明すると、相変化型の記録媒体(光ディスク)101
はモ−タ102の回転軸に取り付けられて所定の回転数
で回転されている。光ピックアップ110内において半
導体レ−ザ等の光源111より発生した光ビ−ムは、カ
ップリングレンズ112で平行光にされた後に偏光ビ−
ムスプリッタ114、1/4波長板115を通過し、収
束レンズ116により光ディスク101上に収束して照
射されている。光ディスク101により反射された反射
光は、収束レンズ116を通過して、1/4波長板11
5を通過した後に偏光ビ−ムスプリッタ−114で左方
に反射され、集光レンズ117で集光され反射ミラー1
18により、その一部が反射され、残りの一部は2分割
されたフォトダイオード等の光検出器119上に照射さ
れる。
【0004】光検出器119の出力の一方は信号処理系
130の差動増幅器131のそれぞれの端子に入力され
ており、差動増幅器131は両信号の差に応じた信号を
出力する。この出力は、記録媒体101上に収束されて
いる光ビームのフォーカスずれを示すフォーカスエラー
信号となる。このフォーカスエラー信号はピックアップ
制御系140のフォーカシング駆動回路141に入力さ
れる。
【0005】また、2分割された光検出器119の出力
の一方は加算増幅器132のそれぞれの端子に入力され
加算される。また光ディスク101から反射された光束
の一部は反射ミラー118により反射され、2分割され
たフォトダイオード等の光検出器123上に照射され、
光検出器123の出力は加算増幅器134の両端子に加
えられて加算さる。そしてこの加算増幅器134の出力
と先の加算増幅器132の出力とを加算増幅器135の
両端子にそれぞれ加え、加算増幅器135の出力の一方
は2値化回路133に与えられて2値化され、記録媒体
101から読み出されたデータとして装置全体を制御す
るマイクロコンピュータ150に入力される。加算増幅
器135の出力の一方はピックアップ制御系140のト
ラッキング駆動回路142に入力され、ここでトラッキ
ングエラー信号(以下TE信号と呼ぶ)が発生され、こ
のTE信号はピックアップ制御系140のトラッキング
駆動回路143に入力される。
【0006】一方、収束レンズ116はアクチュエ−タ
120の可動部に取り付けられている。アクチュエ−タ
120は可動部に設けられているフォーカス用コイル1
21とトラッキング用コイル122と、固定部に取り付
けられている永久磁石(図示せず)より構成されてい
る。したがってこのフォーカシング駆動回路141によ
りフォ−カス用のコイル121に電流を流すと、コイル
が受ける電気磁気力によって収束レンズ116は光ディ
スク101の面と垂直な方向(図上では上下方向)に移
動できるように構成されている。またトラッキング用コ
イル121にトラッキング駆動回路143の出力電流を
流すと、コイルが受ける電気磁気力によって収束レンズ
116は光ディスク101の半径方向、すなわち光ディ
スク101上のトラックを横切るように(図における左
右方向に)移動する。
【0007】トラッキング制御の場合、トラッキングエ
ラー検出回路142で図6のUDを利用してクロック用
ピット604を検出し、その周期に同期し、その周期の
n倍の周波数の基準クロック信号をPLL(Phase
Locked Loop)により発生させる。この基
準クロック信号に基づいてクロック用ピット間隔と一定
の時間間隔にある位置でゲートを開いてトラッキング用
の第1および第2のピット602,603を検出する。
トラッキング用の第1および第2のピット602,60
3によるディスクからの反射光量の差に応じて光ビーム
のトラック中心からのずれを検出し、トラッキング制御
を行う。光ビームが正しい位置をトラッキングしている
場合の反射光量の変化を図6(b)の実線で、光ビーム
がずれた場合の反射光量の変化を同じく破線で示す。
【0008】また光ピックアップ110はアクチュエー
タ120の移動だけでは追いつかないような大幅なトラ
ックずれの場合は、光ディスク101の半径方向に移動
するように構成されている。これらのトラッキングサー
ボ制御とフォーカシング制御に関しては周知の技術であ
るので詳細な説明は省略する。
【0009】マイクロコンピュータ150の指示はレー
ザ駆動回路136に加えられ、半導体レーザ111を駆
動する。また半導体レーザ111の出力は後方にも出力
され、たとえばPINダイオード等を用いた光検出器1
25で受光して、その出力をレーザ駆動回路136にフ
ィードバックする。
【0010】上記のクロックピットの検出と、それを基
準に発生した基準クロックによりマイクロコンピュータ
150が記録パワー記録領域を決定し、その領域でレー
ザ駆動回路136を駆動して半導体レーザ111を発光
させて、その後方への光強度を光検出器125で検出し
てレーザ駆動回路へフィードバックし、記録時のための
発光強度を決定していた。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】このように光ディスク
に記録するに際して、記録直前にレーザの記録パワーを
調整するとき、高いパワーでDC信号で調整するので、
特に相変化型の記録媒体においては記録パワー調整領域
において記録膜の特性が劣化しやすい。劣化の範囲は徐
々に増大するので、劣化の範囲がデータの先頭に記録さ
れるデータ再生のための同期信号の領域に及んだ場合は
データの再生ができなくなる、という課題があった。
【0012】またサンプルサーボ形式特有の課題として
記録パワー調整領域の前後において調整領域とサーボ領
域、また調整領域とそれに先行するデータ領域との間に
上記のユニークディスタンスと同等の期間が生じること
によるクロックピットの検出が不確実になるという課題
もあった。さらに調整領域の分だけ記憶容量が小さくな
るという課題もあった。
【0013】本発明は上述した従来の課題を改善するた
めになされたもので、データの記録直前の記録パワーの
調整領域においてレーザの記録パワーで記録膜を照射す
ることを防止して記録膜の劣化および破壊を防ぎ、記憶
容量も増大させる手段を有する光ディスク装置を提供す
ることを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の光ディスク装置は、光源である半導体レーザ
からのレーザ光を光学的に収束して、回転する光ディス
クに照射し、かつこの光源である半導体レーザの前方収
束光以外の放射光を検出する光検出器を有する光ピック
アップ手段と、前記光ピックアップ手段の前記光検出器
の出力を検知し、かつその検知結果に基づいて少なくと
も記録時の前記光源である半導体レーザへの印可電流を
決定するレーザ駆動回路と、装置各部を制御するととも
に前記レーザ駆動回路の動作タイミングを制御するマイ
クロコンピュータと、前記光ピックアップ手段の、前記
光源である半導体レーザからの収束された光が前記光デ
ィスクに到達する以前に配置され、前記マイクロコンピ
ュータが前記レーザ駆動回路を介して前記光源である半
導体レーザに記録時の発光強度調整用電流を与える期間
およびその前後の期間にRF信号発振器を介して高周波
信号を与えることにより前記収束光を回折させ、光ディ
スクに到達させないよう制御する音響光学変調器とを有
した構成となっている。
【0015】
【作用】本発明の光ディスク装置は、上記の構成におい
て光ピックアップ手段の光検出器が半導体レーザの前方
収束光以外の放射光を検知し、かつその検知結果に基づ
いてレーザ駆動回路は記録時の半導体レーザへの印可電
流を決定し、マイクロコンピュータの指示により、信号
記録に先立って発光強度調整期間に記録時の発光強度の
電流を半導体レーザへ印可するとともに、一方マイクロ
コンピュータは発光強度調整期間およびその前後の期間
においてRF信号発振器を介して高周波信号を音響光学
変調器に与えることにより光源である半導体レーザの発
する収束光を回折させ、光ディスクに到達させないよう
作用することとなる。
【0016】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例の光
ディスク装置について説明する。図1に本発明の第1の
実施例である光ディスク装置のブロック図を示す。本実
施例におけるディスクは従来例で説明したのと同様のサ
ンプルサーボ形式のディスクであり、データを書き込む
ことによって反射率が低くなる相変化型の記録材料を用
いた光ディスクであるものとする。従来例の図5と同一
機能の構成要素には同一符号を付して詳細な説明を省略
する。
【0017】光ピックアップ110内において半導体レ
−ザ等の光源111より発生した光ビ−ムは、カップリ
ングレンズ112で平行光にされた後に音響光学変調器
(以下AO変調器という)113を通過した後、偏光ビ
−ムスプリッタ114、1/4波長板115を通過し、
収束レンズ116により光ディスク101上に収束して
照射されるように構成されている。AO変調器113は
マイクロコンピュータ150からの指示によって発振器
124を発振させ、AO変調器113のレーザ光射出方
向を決定するように構成されている。
【0018】図2はAO変調器の構造と、その動作を示
す説明図である。図においてはブラッグ回折を用いたA
O変調器の例について説明する。たとえばTeO2 など
を用いた音響光学媒体31の一端に超音波を発生させる
圧電体よりなるトランスジューサ32を貼り付け、他端
には超音波吸収材33を貼り付ける。そしてトランスジ
ューサ32にRF信号発振器34から、たとえば75M
Hzの高周波信号を与えると、音響光学媒体31内に疎
密波35が発生する。この状態でレーザ入射光36を入
射すると、ブラッグ回折現象を生じ、RF信号発振器3
4が発振していないときの0次光の方向37に対して2
θ回折した1次光38の方向に射出する。AO変調器の
実例として有効開口口径3.5×3.5mm、光波長6
32nmのものを用いればレーザ光変調には十分適合で
き、このときの偏向角2θは2.7゜〜5.4゜を確保
できた。このようにしてRF信号発振器34の発振時に
レーザ入射光36の射出方向を変えることができる。音
響光学媒体31の材料としてはこの他に重フリントガラ
ス、PbMoO4 なども用いられる。
【0019】図3に図1のレーザ駆動回路136のブロ
ック図を、図4に各部信号のタイミングチャートを示
す。図3において端子301は図1の光ダイオード12
5の出力を入力する端子である。端子302,303,
304および305はマイクロコンピュータ150から
の制御信号の入力端子で、端子302は記録時、再生時
のレベル設定、端子303は記録パワーの調整期間の設
定信号、端子304は通常の信号記録または信号再生期
間設定信号、端子305は半導体レーザの駆動電流のオ
ン・オフを制御するゲート信号を入力する。端子306
は半導体レーザ111への駆動電流端子である。
【0020】端子301から増幅器310を介して差動
増幅器312の(+)端子に接続され、端子302は差
動増幅器312の(−)端子に接続されている。差動増
幅器312の出力はスイッチ313のA端子およびスイ
ッチ315のA端子に接続され、またスイッチ313の
B端子はコンデンサ314およびスイッチ315のB端
子に接続されている。スイッチ313のC端子は端子3
03に接続されている。スイッチ315のC端子は端子
304に接続されている。スイッチ315のD端子はバ
ッファ増幅器316を介してトランジスタ321のベー
スに接続され、トランジスタ321のエミッタは抵抗3
22を介して電源Vccに接続されている。トランジス
タ321のコレクタはトランジスタ320,323のエ
ミッタに接続され、トランジスタ320,322ののベ
ースはそれぞれ抵抗318,319および324,32
5によりVccよりバイアスを与えられ、トランジスタ
320のコレクタは半導体レーザ駆動電流端子306
に、トランジスタ323のコレクタは接地されている。
端子305は直接トランジスタ323のベースに接続さ
れ、またインバータ317を介してトランジスタ320
のベースに接続されている。
【0021】以上のように構成され、つぎにその動作を
説明すると、まず発光強度調整時には端子301から入
力された光ダイオード125の受けた半導体レーザ11
1の発光強度は増幅器310で増幅され、差動増幅器3
12の(−)端子に与えられた、端子302からの記録
時の設定レベルに対応した信号を出力する。通常は端子
302には再生レベルが与えられているものとし、図4
(a)のハイレベルの区間だけ記録レベルが与えられ
る。それに対して端子303から図4(b)の信号が入
力されると、そのローレベルでスイッチ313がオンと
され、コンデンサ314が差動増幅器312の出力の記
録レベルで充電され、調整レベルが記憶される。この記
憶されたレベルが後のデータ記録時に使用される。図4
の波形(c)のハイレベル区間ではスイッチ315はA
端子側となり、この差動増幅器312の記録レベルは同
時にスイッチ315のA端子、D端子およびバッファ増
幅器316を介してトランジスタ321のベースに加え
られ、トランジスタ320に流す電流値を制御する。端
子305の入力波形、図4(d)はこの調整期間はハイ
レベルとなり、インバータ317によりトランジスタ3
20はオンとなり、トランジスタ321で決定された記
録レベルの電流が端子306から半導体レーザ111に
与えられて発光し、光ダイオード125の受けた半導体
レーザ111の発光強度が所定の値になるまで入力端子
302の値を調整して記録レベルの調整を行い、確定し
た値をコンデンサ314に記憶して記録レベルの調整を
終わる。
【0022】つぎに、このように記録レベルが調整さ
れ、コンデンサ114に記憶された後の記録状態の動作
について説明する。
【0023】データ記録時には図4の(c)のローレベ
ル区間ではスイッチ315はB端子側となり、コンデン
サ314の電圧がスイッチ315のB端子からD端子、
バッファ増幅器316を介してトランジスタ321のベ
ースに与えた値でコレクタ電流を記録レベルの電流を流
す状態にするので、波形(c)のローの区間であって、
かつ端子305からの図4の波形(d)のハイの部分だ
け端子306に調整済みの記録レベルの電流を出力して
光ディスク101にデータを記録する。
【0024】データ再生時には、端子302から再生レ
ベルが入力され、図4の波形(c)は信号再生区間で図
のようにローレベルにはならずハイレベルを保持しスイ
ッチ315はA端子側に接したままとなり、この差動増
幅器312の再生レベルは同時にスイッチ315のA端
子、D端子およびバッファ増幅器316を介してトラン
ジスタ321のベースに加えられ、トランジスタ320
に流す電流値を再生の値に制御する。端子305の入力
波形、図4(d)はクロックパルスに同期してハイレベ
ルとなり、インバータ317によりトランジスタ320
のベースのローレベル時にトランジスタ320はオンと
なり、トランジスタ321で決定された再生レベルの電
流が端子306から半導体レーザ111に与えられ、デ
ータの再生を行う。
【0025】トランジスタ320と323とはインバー
タ317により逆入力が与えられ、交互にオンすること
によって、トランジスタ321には平滑な電流を流すこ
とができる。図4の波形(a)のハイの区間と波形
(c)のロー区間との間は、サンプルサーボのためのト
ラッキングピットやタイミングクロックの元となるトラ
ッキングピットを配置する部分とする。これらのトラッ
キングサーボ制御とフォーカシング制御に関しては周知
の技術であるので詳細な説明は省略する。
【0026】ここでこのままでは、図4(a)のハイレ
ベルの区間で端子306からの記録レベルの電流が半導
体レーザ111に与えられると、そのまま光ディスク1
01に照射されるので、マイクロコンピュータ150は
図4の波形(e)を出力する。これは図4の波形(a)
のハイの部分より早くハイとなり、波形(a)がローに
なった後にローになるようにする。この波形(e)のハ
イの部分でRF信号発振器124を駆動することによっ
て、AO変調器を駆動し、半導体レーザ111の発光強
度調整期間の間レーザ光を2θ方向へ回折させ、光ディ
スク側へ射出しないようにする。この回折光の射出方向
には適当なレーザ光吸収材(図示せず)を設けて回折光
が他に支障を及ぼさないように配慮すればよい。
【0027】以上説明したように本実施例の光ディスク
装置によれば、レーザ光の発光強度調整期間において
は、光ディスクにはレーザ光が到達しないので、特に相
変化型光ディスクの場合光ディスクの劣化防止に有効で
あり、また光ディスク上に調整期間のためのスペースを
設ける必要がなく、データ領域を有効に使うことがで
き、またサンプルサーボの場合には、上述のユニークデ
ィスタンスと同等のタイミングが発光強度調整期間の前
後にできないよう配慮する必要があったが、これも問題
なくなるものである。
【0028】なお、装置各部分の回路や音響光学素子等
はこの実施例に限定されるものでなく、この発明の目的
を達成できるものを用いれば良いのは当然である。ま
た、本実施例ではサンプルサーボ方式のものについて説
明したが、連続サーボ方式のものにおいても適用できる
のは当然である。さらに相変化型光ディスクの場合を説
明したが、光磁気ディスクに適用しても差し支えない。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように本発明の光ディスク
装置は、光源としての半導体レーザからの前方収束光以
外の放射光を検出する光検出器と、この光検出器の出力
を検知し、かつその検知結果に基づいて記録時の前記半
導体レーザへの印可電流を決定するレーザ駆動回路と、
レーザ駆動回路の動作タイミングを制御するマイクロコ
ンピュータと、半導体レーザからの収束された光が光デ
ィスクに到達する以前に配置され、RF信号発振器を介
して高周波信号を受ける音響光学変調器とを有すること
により、信号記録に先立つ発光強度調整期間に記録時の
発光強度の電流を半導体レーザへ印可するとともに、発
光強度調整期間およびその前後の期間においてRF信号
発振器より高周波信号を音響光学変調器に与えることに
より半導体レーザの発する収束光を回折させて光ディス
クを照射しないので、特に相変化型光ディスクの場合光
ディスクの劣化防止に有効であり、また光ディスク上に
発光強度調整領域を特に設ける必要がなく、データ領域
を有効に使うことができ、またサンプルサーボの場合に
は、上述のユニークディスタンスと同等のタイミングが
発光強度調整期間の前後にできないよう配慮する必要が
なく、クロックピットの検出が確実にできるという効果
を得られるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の光ディスク装置のブロック
【図2】同実施例における音響光学素子の説明図
【図3】同実施例におけるレーザ駆動回路のブロック図
【図4】同実施例における各部信号の波形図
【図5】従来例の光ディスク装置のブロック図
【図6】(a)は従来例および本発明共用のサンプルサ
ーボ用の光ディスクの表面の模式図 (b)は同じくその反射光量の波形図
【符号の説明】
101 光ディスク(記録担体) 110 光ピックアップ 112 カップリングレンズ 111 半導体光レーザ 113 音響光学変調器 124 RF信号発振器 125 光検出器 130 信号処理系 136 レーザ駆動回路 140 ピックアップ制御系 150 マイクロコンピュータ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体レーザ等の光源からのレーザ光を光
    学的に収束して、回転する光ディスクに照射し、この半
    導体レーザの前方収束光以外の放射光を検出する光検出
    器を有する光ピックアップ手段と、 前記光ピックアップ手段の前記光検出器の出力を検知
    し、この検知結果に基づいて少なくとも記録時の前記光
    源である半導体レーザへの印可電流を決定するレーザ駆
    動回路と、 装置各部を制御するとともに前記レーザ駆動回路の動作
    タイミングを制御するマイクロコンピュータと、 前記光ピックアップ手段の、前記光源である半導体レー
    ザからの収束された光が前記光ディスクに到達する以前
    に配置され、前記マイクロコンピュータが前記レーザ駆
    動回路を介して前記光源である半導体レーザに記録時の
    発光強度調整用電流を与える期間およびその前後の期間
    にRF信号発振器を介して高周波信号を与えることによ
    り前記収束光を回折させ、光ディスクに到達させないよ
    う制御する音響光学変調器とを有してなる光ディスク装
    置。
JP5014425A 1993-02-01 1993-02-01 光ディスク装置 Pending JPH06231482A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019086266A (ja) * 2017-11-10 2019-06-06 川崎重工業株式会社 レーザ切換装置

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