JPH06232507A - 半導体レーザーチップのボンディング方位調整装置及び自動ダイボンディング装置 - Google Patents
半導体レーザーチップのボンディング方位調整装置及び自動ダイボンディング装置Info
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- JPH06232507A JPH06232507A JP5017597A JP1759793A JPH06232507A JP H06232507 A JPH06232507 A JP H06232507A JP 5017597 A JP5017597 A JP 5017597A JP 1759793 A JP1759793 A JP 1759793A JP H06232507 A JPH06232507 A JP H06232507A
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- laser chip
- bonding
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- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 半導体レーザーから発光されるレーザー光の
光軸の安定化を図る。 【構成】 半導体レーザーチップ1を所定の方位に設定
するための半導体レーザーチップのボンディング方位調
整装置であって、前記半導体レーザーチップからレーザ
ー光を発光させる電源手段と、前記レーザー光を投影す
るスクリーン手段3と、該スクリーン手段に投影された
画像を入力する画像入力手段と、該画像入力手段が入力
した画像から前記レーザー光の分布中心を計測し、発光
点位置と照射角度を計算するための画像処理手段と、発
光点位置と照射角度の基準軸に対するズレ量を補正する
ため半導体レーザーチップを移動させる補正手段とから
構成される事を特徴とする半導体レーザーチップのボン
ディング方位調整装置及びこれを利用した自動ダイボン
ディング装置。
光軸の安定化を図る。 【構成】 半導体レーザーチップ1を所定の方位に設定
するための半導体レーザーチップのボンディング方位調
整装置であって、前記半導体レーザーチップからレーザ
ー光を発光させる電源手段と、前記レーザー光を投影す
るスクリーン手段3と、該スクリーン手段に投影された
画像を入力する画像入力手段と、該画像入力手段が入力
した画像から前記レーザー光の分布中心を計測し、発光
点位置と照射角度を計算するための画像処理手段と、発
光点位置と照射角度の基準軸に対するズレ量を補正する
ため半導体レーザーチップを移動させる補正手段とから
構成される事を特徴とする半導体レーザーチップのボン
ディング方位調整装置及びこれを利用した自動ダイボン
ディング装置。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザチップの
ボンディング方位調整装置及び自動ダイボンディング装
置に関する。さらに詳しくは、例えば半導体レーザーの
組立工程において、ダイボンディング装置によってダイ
ボンディングされる半導体レーザーチップの方位姿勢を
調整するための半導体レーザーチップのボンディング方
位調整装置及び自動ダイボンディング装置に関する。
ボンディング方位調整装置及び自動ダイボンディング装
置に関する。さらに詳しくは、例えば半導体レーザーの
組立工程において、ダイボンディング装置によってダイ
ボンディングされる半導体レーザーチップの方位姿勢を
調整するための半導体レーザーチップのボンディング方
位調整装置及び自動ダイボンディング装置に関する。
【0002】
【従来の技術と発明が解決しようとする課題】近年半導
体レーザーは、ステム上に半導体レーザーチップを固定
した構造でありコンパクトディスク用、光情報処理機器
用等多種多様な分野で利用されるようになっている。ま
たこのような半導体レーザーチップをダイボンディング
するための自動ダイボンディング装置が増産されてい
る。
体レーザーは、ステム上に半導体レーザーチップを固定
した構造でありコンパクトディスク用、光情報処理機器
用等多種多様な分野で利用されるようになっている。ま
たこのような半導体レーザーチップをダイボンディング
するための自動ダイボンディング装置が増産されてい
る。
【0003】上記自動ダイボンディング装置には、ステ
ムに対する半導体レーザーチップの位置決めが高精度に
行われることともに、ステムにおける半導体レーザーチ
ップの取付位置にも高精度に行われることが要求されて
いる。すなわち一般に半導体レーザーチップはステム外
形に対して中心に取り付けられるが、半導体レーザーチ
ップのボンディング時におけるステムの熱膨張等による
中心軸の位置ズレが生じてしまう不都合があった。この
ような不都合を解決するために例えば特開昭62-58645号
公報では、ステムを載置する加熱体に載置基準面を設
け、この載置基準面にステムのマウント基準面を当接し
て載置することによって位置ズレを防ぐことからなるダ
イボンディング装置が開示されている。また、半導体レ
ーザーチップはステムに固着後にその位置を補正するこ
とができないので、あらかじめステムと平行に設置され
た別の装置(ボンディング方位調整装置)で、半導体レ
ーザーチップの方位姿勢を調整し、調整後にステムの真
上まで半導体レーザーチップを約1μmの移動精度で移
動させ、ステムに張り付け加熱固着する方法も使用され
ている。このようなボンディング方位調整装置として、
テーブルの上面に設けた平行な2本の位置決めピンとこ
の2本の位置決めピンに直行したもう1本の位置決めピ
ンと、半導体レーザーチップを吸着するための吸着ノズ
ルからなる装置が挙げられる。この装置では、位置決め
を吸着ノズルで吸着した直方体の半導体レーザーチップ
を順次滑らせながら近づけ、直行した2面を接触させる
ことによって半導体レーザーチップの方位姿勢を調整し
ている。しかしながらこのボンディング方位調整装置の
操作は熟練を要し、半導体レーザーチップの調整は困難
であった。
ムに対する半導体レーザーチップの位置決めが高精度に
行われることともに、ステムにおける半導体レーザーチ
ップの取付位置にも高精度に行われることが要求されて
いる。すなわち一般に半導体レーザーチップはステム外
形に対して中心に取り付けられるが、半導体レーザーチ
ップのボンディング時におけるステムの熱膨張等による
中心軸の位置ズレが生じてしまう不都合があった。この
ような不都合を解決するために例えば特開昭62-58645号
公報では、ステムを載置する加熱体に載置基準面を設
け、この載置基準面にステムのマウント基準面を当接し
て載置することによって位置ズレを防ぐことからなるダ
イボンディング装置が開示されている。また、半導体レ
ーザーチップはステムに固着後にその位置を補正するこ
とができないので、あらかじめステムと平行に設置され
た別の装置(ボンディング方位調整装置)で、半導体レ
ーザーチップの方位姿勢を調整し、調整後にステムの真
上まで半導体レーザーチップを約1μmの移動精度で移
動させ、ステムに張り付け加熱固着する方法も使用され
ている。このようなボンディング方位調整装置として、
テーブルの上面に設けた平行な2本の位置決めピンとこ
の2本の位置決めピンに直行したもう1本の位置決めピ
ンと、半導体レーザーチップを吸着するための吸着ノズ
ルからなる装置が挙げられる。この装置では、位置決め
を吸着ノズルで吸着した直方体の半導体レーザーチップ
を順次滑らせながら近づけ、直行した2面を接触させる
ことによって半導体レーザーチップの方位姿勢を調整し
ている。しかしながらこのボンディング方位調整装置の
操作は熟練を要し、半導体レーザーチップの調整は困難
であった。
【0004】上記の操作を更に容易にした装置として、
移動するテーブルと、テーブルに載置した半導体レーザ
ーチップの上方にCCDカメラを設置する装置が提案さ
れている。この装置は、予め基準の画像情報とCCDカ
メラで撮像した半導体レーザーチップの外形全体の画像
情報を照合することによって、載置のズレ量を算出し、
このズレが無くなるようにテーブルを移動することによ
って調整していた。
移動するテーブルと、テーブルに載置した半導体レーザ
ーチップの上方にCCDカメラを設置する装置が提案さ
れている。この装置は、予め基準の画像情報とCCDカ
メラで撮像した半導体レーザーチップの外形全体の画像
情報を照合することによって、載置のズレ量を算出し、
このズレが無くなるようにテーブルを移動することによ
って調整していた。
【0005】しかしながら、上記ボンディング方位調整
装置は、半導体レーザーチップの外形だけで方位姿勢を
調整しており、半導体レーザーチップの発光面から発光
されるレーザー光の照射方向を考慮してはいない。半導
体レーザーチップの発光面から発光されるレーザー光
は、すべてがその発光面に対して一定の角度で射出され
るのではないので、製品毎にばらつきを有している。こ
のため、半導体レーザーチップの外形等からボンディン
グの位置決めをしても、半導体レーザーから発光される
レーザー光の光軸が安定せず、製品の歩留りが悪くなる
という問題点があった。
装置は、半導体レーザーチップの外形だけで方位姿勢を
調整しており、半導体レーザーチップの発光面から発光
されるレーザー光の照射方向を考慮してはいない。半導
体レーザーチップの発光面から発光されるレーザー光
は、すべてがその発光面に対して一定の角度で射出され
るのではないので、製品毎にばらつきを有している。こ
のため、半導体レーザーチップの外形等からボンディン
グの位置決めをしても、半導体レーザーから発光される
レーザー光の光軸が安定せず、製品の歩留りが悪くなる
という問題点があった。
【0006】この問題点を解決するために、特開平第2-
114590号公報には、半導体レーザーチップから照射され
た光束を受光し画像情報に変換するための受光素子と、
画像情報から光束の中心の画素を算出するための算出手
段と、基準の光束の中心値との距離が0となるようにす
るためのステージ回動手段からなるボンディング方位調
整装置が開示されている。
114590号公報には、半導体レーザーチップから照射され
た光束を受光し画像情報に変換するための受光素子と、
画像情報から光束の中心の画素を算出するための算出手
段と、基準の光束の中心値との距離が0となるようにす
るためのステージ回動手段からなるボンディング方位調
整装置が開示されている。
【0007】この装置は上記の形状のみで位置決めする
ための装置を用いて調整し、更に、上記装置で、半導体
レーザーチップから照射された光束を受光素子で受光
し、この受光素子で画像情報に変換し、画像情報から光
束の中心の画素を算出し、この画像情報と比較するため
に、予め基準の光束の中心画素の値を記憶しておき、算
出された光束の中心値と基準の光束の中心値とを比較し
て中心間同士の距離を算出し、この算出距離が0となる
ようにステージを回動し調整している。
ための装置を用いて調整し、更に、上記装置で、半導体
レーザーチップから照射された光束を受光素子で受光
し、この受光素子で画像情報に変換し、画像情報から光
束の中心の画素を算出し、この画像情報と比較するため
に、予め基準の光束の中心画素の値を記憶しておき、算
出された光束の中心値と基準の光束の中心値とを比較し
て中心間同士の距離を算出し、この算出距離が0となる
ようにステージを回動し調整している。
【0008】しかしながら上記装置では、例えば半導体
レーザーチップに斜め方向から照射した場合でも、照射
された光束の画像情報から算出された光束の中心の画素
の位置と、基準となる光束の中心の画素の位置とが一致
すれば調整されたと判断されることとなりレーザー光の
光軸が安定せず、製品の歩留りが悪くなるという問題点
は解決されていない。
レーザーチップに斜め方向から照射した場合でも、照射
された光束の画像情報から算出された光束の中心の画素
の位置と、基準となる光束の中心の画素の位置とが一致
すれば調整されたと判断されることとなりレーザー光の
光軸が安定せず、製品の歩留りが悪くなるという問題点
は解決されていない。
【0009】そこで発明者等は、半導体レーザーチップ
の発光点の方位姿勢を調整するための手段を、ボンディ
ング方位調整装置に設置することによって上記問題点を
解決できることを見いだし本発明に至った。
の発光点の方位姿勢を調整するための手段を、ボンディ
ング方位調整装置に設置することによって上記問題点を
解決できることを見いだし本発明に至った。
【0010】
【課題を解決するための手段及び作用】かくして本発明
によれば、半導体レーザーチップを所定の方位に設定す
るための半導体レーザーチップのボンディング方位調整
装置であって、前記半導体レーザーチップからレーザー
光を発光させる電源手段と、前記レーザー光を投影する
スクリーン手段と、該スクリーン手段に投影された画像
を入力する画像入力手段と、該画像入力手段が入力した
画像から前記レーザー光の分布中心を計測し、発光点位
置と照射角度を計算するための画像処理手段と、発光点
位置と照射角度の基準軸に対するズレ量を補正するため
半導体レーザーチップを移動させる補正手段とから構成
される事を特徴とする半導体レーザーチップのボンディ
ング方位調整装置が提供される。
によれば、半導体レーザーチップを所定の方位に設定す
るための半導体レーザーチップのボンディング方位調整
装置であって、前記半導体レーザーチップからレーザー
光を発光させる電源手段と、前記レーザー光を投影する
スクリーン手段と、該スクリーン手段に投影された画像
を入力する画像入力手段と、該画像入力手段が入力した
画像から前記レーザー光の分布中心を計測し、発光点位
置と照射角度を計算するための画像処理手段と、発光点
位置と照射角度の基準軸に対するズレ量を補正するため
半導体レーザーチップを移動させる補正手段とから構成
される事を特徴とする半導体レーザーチップのボンディ
ング方位調整装置が提供される。
【0011】半導体レーザーチップからレーザー光を発
光させる電源手段としては、公知の手段が使用できる
が、例えば定電流電源等が使用できる。スクリーン手段
としては、例えば拡散板をもちいることもできる。画像
入力装置としては、例えばCCDカメラ、フォトダイオ
ード等が挙げられる。また画像処理手段としては、アナ
ログ処理、デジタル処理あるいはハイブリッド処理等の
処理手段が挙げられるが、デジタル処理手段が好まし
い。補正手段としては、公知の方法が使用でき、例えば
半導体レーザーチップを載置したステージに移動手段を
設けることあるいは吸着ノズルによって吸着することに
よって位置を調整することもできる。
光させる電源手段としては、公知の手段が使用できる
が、例えば定電流電源等が使用できる。スクリーン手段
としては、例えば拡散板をもちいることもできる。画像
入力装置としては、例えばCCDカメラ、フォトダイオ
ード等が挙げられる。また画像処理手段としては、アナ
ログ処理、デジタル処理あるいはハイブリッド処理等の
処理手段が挙げられるが、デジタル処理手段が好まし
い。補正手段としては、公知の方法が使用でき、例えば
半導体レーザーチップを載置したステージに移動手段を
設けることあるいは吸着ノズルによって吸着することに
よって位置を調整することもできる。
【0012】本発明の半導体レーザーチップのボンディ
ング方位調整装置において、発光点位置と照射角度を検
出するための構成手段として、例えば以下のような構成
手段が挙げられる。まず、スクリーン移動手段を設ける
ことが挙げられる。つまりスクリーン手段を移動させる
ことによって、レーザー光の分布を2か所測定すること
ができるので、この測定結果を画像処理手段で処理する
ことによって、発光点位置と照射角度を計算することが
できる。この計算値を予め測定されている基準値と比較
することによって、ズレ量が算出できる。このズレ量を
補正することによって、正しい照射角度を得ることがで
きる。
ング方位調整装置において、発光点位置と照射角度を検
出するための構成手段として、例えば以下のような構成
手段が挙げられる。まず、スクリーン移動手段を設ける
ことが挙げられる。つまりスクリーン手段を移動させる
ことによって、レーザー光の分布を2か所測定すること
ができるので、この測定結果を画像処理手段で処理する
ことによって、発光点位置と照射角度を計算することが
できる。この計算値を予め測定されている基準値と比較
することによって、ズレ量が算出できる。このズレ量を
補正することによって、正しい照射角度を得ることがで
きる。
【0013】更に別な構成手段として、スクリーン手段
に投影された画像を入力するための第1の画像処理手段
及び半導体レーザーチップ発光面の画像を入力する第2
の画像処理手段を設けることが挙げられる。つまり第1
の画像処理手段が入力した画像からレーザー光の分布中
心を、第2の画像処理手段が入力した画像から発光点位
置を計測し、画像処理手段によって照射角度が計算さ
れ、測定された発光点位置と照射角度の基準軸に対する
ズレ量を補正することによって、正しい照射角度を得る
ことができる。
に投影された画像を入力するための第1の画像処理手段
及び半導体レーザーチップ発光面の画像を入力する第2
の画像処理手段を設けることが挙げられる。つまり第1
の画像処理手段が入力した画像からレーザー光の分布中
心を、第2の画像処理手段が入力した画像から発光点位
置を計測し、画像処理手段によって照射角度が計算さ
れ、測定された発光点位置と照射角度の基準軸に対する
ズレ量を補正することによって、正しい照射角度を得る
ことができる。
【0014】また上記半導体レーザーチップのボンディ
ング方位調整装置と自動ボンディング装置とを組み合わ
せることによって、更に精度のよい自動ボンディング装
置を得ることができる。
ング方位調整装置と自動ボンディング装置とを組み合わ
せることによって、更に精度のよい自動ボンディング装
置を得ることができる。
【0015】自動ボンディング装置としては公知の装置
を使用することができる。例えば、自動ボンディング装
置は、ステムを載置しボンディングするための加熱機能
を備えた載置手段と、半導体レーザーチップを前記ステ
ム上に供給するコレットを有した移動手段からなってい
る。コレットを有した移動手段は、例えば真空ポンプ等
に接続することにより、半導体レーザーチップを吸着し
て移動させることができるようになっている。使用され
るステムの材質としては、例えば軟鋼が挙げられる。ス
テムを載置する載置手段としては、熱膨張率の小さい金
属からなる載置手段が好適に使用でき、例えばステンレ
スが挙げられる。この載置手段は、例えばヒータを用い
て加熱することができる加熱機能を備えている。
を使用することができる。例えば、自動ボンディング装
置は、ステムを載置しボンディングするための加熱機能
を備えた載置手段と、半導体レーザーチップを前記ステ
ム上に供給するコレットを有した移動手段からなってい
る。コレットを有した移動手段は、例えば真空ポンプ等
に接続することにより、半導体レーザーチップを吸着し
て移動させることができるようになっている。使用され
るステムの材質としては、例えば軟鋼が挙げられる。ス
テムを載置する載置手段としては、熱膨張率の小さい金
属からなる載置手段が好適に使用でき、例えばステンレ
スが挙げられる。この載置手段は、例えばヒータを用い
て加熱することができる加熱機能を備えている。
【0016】更に本発明では、半導体レーザーチップを
ステム上に設置する手段として、載置手段あるいは移動
手段を用いて半導体レーザーチップを仮補正状態にし、
後に上記ボンディング方位調整装置を使用して微調整を
行う自動ダイボンディング装置も提供できる。この仮置
き方法に使用する装置は、公知の装置を使用することも
できるが、上記載置手段あるいは移動手段にステムの形
状を計測する計測手段と、前記ステムの中心軸を算出し
て基準軸とのズレ量を求め、前記ズレ量に応じて位置を
仮に補正する仮補正手段を備えさせることが好ましい。
仮補正手段としては、ステムを載置する載置手段をズレ
量分移動させるか、コレットを有した移動手段をズレ量
分移動させることが挙げられる。
ステム上に設置する手段として、載置手段あるいは移動
手段を用いて半導体レーザーチップを仮補正状態にし、
後に上記ボンディング方位調整装置を使用して微調整を
行う自動ダイボンディング装置も提供できる。この仮置
き方法に使用する装置は、公知の装置を使用することも
できるが、上記載置手段あるいは移動手段にステムの形
状を計測する計測手段と、前記ステムの中心軸を算出し
て基準軸とのズレ量を求め、前記ズレ量に応じて位置を
仮に補正する仮補正手段を備えさせることが好ましい。
仮補正手段としては、ステムを載置する載置手段をズレ
量分移動させるか、コレットを有した移動手段をズレ量
分移動させることが挙げられる。
【0017】また上記仮補正手段を設けずに、直接ステ
ム上に半導体レーザーチップを載置し、本発明のボンデ
ィング方位調整装置を用いて調整し、融着することもで
きる。更に予めボンディング方位調整装置を用いて調整
された半導体レーザーチップを、直接ステム上に載置す
ることも可能である。
ム上に半導体レーザーチップを載置し、本発明のボンデ
ィング方位調整装置を用いて調整し、融着することもで
きる。更に予めボンディング方位調整装置を用いて調整
された半導体レーザーチップを、直接ステム上に載置す
ることも可能である。
【0018】
【実施例】実施例1 本発明の半導体レーザーチップのボンディング方位調整
装置の一実施例である図1を用いて更に詳細に説明す
る。図1のボンディング方位調整装置は、半導体レーザ
ーチップ1を発光させる電源部2(電源手段)、スクリ
ーン3(スクリーン手段)、画像入力部4(第1の画像
入力手段)、CCDカメラ5(第2の画像入力手段)、
画像処理部6(画像処理手段)及び制御部7と半導体レ
ーザー調整ステージ8からなる補正手段からなってい
る。
装置の一実施例である図1を用いて更に詳細に説明す
る。図1のボンディング方位調整装置は、半導体レーザ
ーチップ1を発光させる電源部2(電源手段)、スクリ
ーン3(スクリーン手段)、画像入力部4(第1の画像
入力手段)、CCDカメラ5(第2の画像入力手段)、
画像処理部6(画像処理手段)及び制御部7と半導体レ
ーザー調整ステージ8からなる補正手段からなってい
る。
【0019】まず半導体レーザーチップ1は電源部2と
接続することによりレーザー光を発光する。このレーザ
ー光はスクリーン3上に投影され、画像入力部4により
映像信号に変換され、画像処理部6に送られる。またC
CDカメラ5は、半導体レーザーチップ前面の画像を入
力し、その入力された映像信号もまた画像処理部6に送
られる。画像処理部6は画像入力部4から送られた画像
からレーザー光の分布の中心を、また、CCDカメラ5
から送られた画像から発光点の位置を計測することによ
って、発光点位置と照射角度を検出する。制御部7はあ
らかじめ設定されている発光点・照射角度の基準位置か
らのズレ量を補正するだけの移動量を半導体レーザー調
整ステージ8に指令する。この指令に基づいて半導体レ
ーザー調整ステージ8は、発光点位置を基準位置とし
て、レーザー光の光軸がz軸と平行になるように半導体
レーザーチップを移動させて、照射角度を調整する。
接続することによりレーザー光を発光する。このレーザ
ー光はスクリーン3上に投影され、画像入力部4により
映像信号に変換され、画像処理部6に送られる。またC
CDカメラ5は、半導体レーザーチップ前面の画像を入
力し、その入力された映像信号もまた画像処理部6に送
られる。画像処理部6は画像入力部4から送られた画像
からレーザー光の分布の中心を、また、CCDカメラ5
から送られた画像から発光点の位置を計測することによ
って、発光点位置と照射角度を検出する。制御部7はあ
らかじめ設定されている発光点・照射角度の基準位置か
らのズレ量を補正するだけの移動量を半導体レーザー調
整ステージ8に指令する。この指令に基づいて半導体レ
ーザー調整ステージ8は、発光点位置を基準位置とし
て、レーザー光の光軸がz軸と平行になるように半導体
レーザーチップを移動させて、照射角度を調整する。
【0020】実施例2 また、本発明の半導体レーザーチップのボンディング方
位調整装置の一実施例である図2を用いて更に詳細に説
明する。図2のボンディング方位調整装置は、半導体レ
ーザーチップ1を発光させる電源部2(電源手段)、ス
クリーン3(スクリーン手段)、スクリーン移動ステー
ジ25(スクリーン移動手段)、画像入力部4(画像入
力手段)、画像処理部6(画像処理手段)及び制御部7
と半導体レーザー調整ステージ8からなる補正手段から
なっている。
位調整装置の一実施例である図2を用いて更に詳細に説
明する。図2のボンディング方位調整装置は、半導体レ
ーザーチップ1を発光させる電源部2(電源手段)、ス
クリーン3(スクリーン手段)、スクリーン移動ステー
ジ25(スクリーン移動手段)、画像入力部4(画像入
力手段)、画像処理部6(画像処理手段)及び制御部7
と半導体レーザー調整ステージ8からなる補正手段から
なっている。
【0021】まず半導体レーザーチップ1は電源部2と
接続することによりレーザー光を発光する。このレーザ
ー光はスクリーン3上に投影され、画像入力部4により
映像信号に変換され、画像処理部6に送られる。次にス
クリーン3をスクリーン移動ステージ5によりz軸方向
に移動して、再度スクリーン3上に投影されたレーザー
光が、画像入力部4により映像信号に変換され、画像処
理部6に送られる。画像処理部6は画像入力部4から送
られた2箇所の位置でのレーザー光の分布の中心を計測
し、発光点位置と照射角度を検出する。制御部7はあら
かじめ設定されている発光点・照射角度の基準位置から
のズレ量を補正するだけの移動量を半導体レーザー調整
ステージ8に指令する。この指令に基づいて半導体レー
ザー調整ステージ8は、発光点位置を基準位置として、
レーザー光の光軸がz軸と平行になるように半導体レー
ザーチップを移動させて、照射角度を調整する。
接続することによりレーザー光を発光する。このレーザ
ー光はスクリーン3上に投影され、画像入力部4により
映像信号に変換され、画像処理部6に送られる。次にス
クリーン3をスクリーン移動ステージ5によりz軸方向
に移動して、再度スクリーン3上に投影されたレーザー
光が、画像入力部4により映像信号に変換され、画像処
理部6に送られる。画像処理部6は画像入力部4から送
られた2箇所の位置でのレーザー光の分布の中心を計測
し、発光点位置と照射角度を検出する。制御部7はあら
かじめ設定されている発光点・照射角度の基準位置から
のズレ量を補正するだけの移動量を半導体レーザー調整
ステージ8に指令する。この指令に基づいて半導体レー
ザー調整ステージ8は、発光点位置を基準位置として、
レーザー光の光軸がz軸と平行になるように半導体レー
ザーチップを移動させて、照射角度を調整する。
【0022】図3に上記調整法での半導体レーザーチッ
プの発光点位置と、照射角度の検出原理を示している。
上記で示したように、スクリーン3を移動させ、L1,
L2の2点でレーザー光を投影し、画像処理部6で投影
された各レーザー光の分布中心を算出する(図3には楕
円中の+マークとして表示している。)。これにより前
記L1,L2での分布中心を結ぶ直線上に半導体レーザ
ーチップ1の発光点が存在するのは明らかである。した
がって、前記2点の分布中心を結ぶ直線と、発光点を通
過する基準軸と平行な直線における角度が半導体レーザ
ーチップの照射角度として検出される。
プの発光点位置と、照射角度の検出原理を示している。
上記で示したように、スクリーン3を移動させ、L1,
L2の2点でレーザー光を投影し、画像処理部6で投影
された各レーザー光の分布中心を算出する(図3には楕
円中の+マークとして表示している。)。これにより前
記L1,L2での分布中心を結ぶ直線上に半導体レーザ
ーチップ1の発光点が存在するのは明らかである。した
がって、前記2点の分布中心を結ぶ直線と、発光点を通
過する基準軸と平行な直線における角度が半導体レーザ
ーチップの照射角度として検出される。
【0023】実施例3 次に本発明のボンディング方位調整装置を利用した、自
動ダイボンディング装置を図4〜6に基づいて説明す
る。図4は、自動ダイボンディング装置のシステム構成
図である。まず、ステムの計測手段はセンサ及び計測部
からなる。センサを使用することによってその形状を計
測し、その結果が計測部に入力される。
動ダイボンディング装置を図4〜6に基づいて説明す
る。図4は、自動ダイボンディング装置のシステム構成
図である。まず、ステムの計測手段はセンサ及び計測部
からなる。センサを使用することによってその形状を計
測し、その結果が計測部に入力される。
【0024】また、ズレ量を仮に補正する仮補正手段は
演算部、制御部、ステムが載置された調整機構及び半導
体レーザーチップを吸着したコレットを有する搬送機構
からなる。上記計測結果は演算部で、あらかじめ入力さ
れている基準データと比較されズレ量が算出される(尚
演算部にはコンピュータ、オペアンプ等を使用した回路
等が挙げられる)。このズレ量は制御部へ入力され、ス
テムが調整機構あるいは半導体レーザーチップを吸着し
たコレットを有する搬送機構を、ズレが0になるまで可
動することによって半導体レーザーチップの仮の補正を
行う。
演算部、制御部、ステムが載置された調整機構及び半導
体レーザーチップを吸着したコレットを有する搬送機構
からなる。上記計測結果は演算部で、あらかじめ入力さ
れている基準データと比較されズレ量が算出される(尚
演算部にはコンピュータ、オペアンプ等を使用した回路
等が挙げられる)。このズレ量は制御部へ入力され、ス
テムが調整機構あるいは半導体レーザーチップを吸着し
たコレットを有する搬送機構を、ズレが0になるまで可
動することによって半導体レーザーチップの仮の補正を
行う。
【0025】図5に自動ダイボンディング装置の要部正
面図を示す。この自動ダイボンディング装置において図
中11は、搬送機構に設置された上下動可能なステージ
であり、このステージ11の先端にはコレット12が取
り付けられている。このコレット12は真空ポンプ(図
示しない)等が接続され、先端に半導体レーザーチップ
13を真空吸気してステム14に供給するようになって
いる。同図中15はステム載置台であり、15aは固定
式であり、15b,15cは例えば圧縮空気を使用した
エアシリンダ等を使用してそれぞれ上下左右に可動し、
図5に示すように載置したステム14上に一定の圧力を
加えることにより固定できるようになっている。15c
には測定基準面15caが具備され、前記基準面までの
距離を測定するレーザー変位計16が載置台15cの可
動方向に平行な位置に設置されている。また上記ステム
載置台15は、左右に可動することができる調整機構に
設置されている。更にこのステム載置台15は、熱膨張
係数の小さい金属であるステンレスで形成されており、
熱の影響が比較的小さい。またボンディング方位調整装
置は自動ダイボンディング装置の任意の位置に設置する
ことができる。
面図を示す。この自動ダイボンディング装置において図
中11は、搬送機構に設置された上下動可能なステージ
であり、このステージ11の先端にはコレット12が取
り付けられている。このコレット12は真空ポンプ(図
示しない)等が接続され、先端に半導体レーザーチップ
13を真空吸気してステム14に供給するようになって
いる。同図中15はステム載置台であり、15aは固定
式であり、15b,15cは例えば圧縮空気を使用した
エアシリンダ等を使用してそれぞれ上下左右に可動し、
図5に示すように載置したステム14上に一定の圧力を
加えることにより固定できるようになっている。15c
には測定基準面15caが具備され、前記基準面までの
距離を測定するレーザー変位計16が載置台15cの可
動方向に平行な位置に設置されている。また上記ステム
載置台15は、左右に可動することができる調整機構に
設置されている。更にこのステム載置台15は、熱膨張
係数の小さい金属であるステンレスで形成されており、
熱の影響が比較的小さい。またボンディング方位調整装
置は自動ダイボンディング装置の任意の位置に設置する
ことができる。
【0026】次に図6を参照しながら本発明の自動ダイ
ボンディング装置の操作方法について述べる。まず、ス
テム載置時に載置台位置を予め決めておく。ステム14
は一方を固定式載置台15aに、反対を可動式載置台1
5b,15cによって押し当てられ固定さている。そし
て前記測定基準面5caまでの距離をレーザー変位計1
6によって測定データとして計測する。測定データは演
算部へ入力される。ここで予め決めておいた基準ステム
の測定データと比較することによって、ステム14のx
方向における中心軸と、基準軸とのズレ量が算出され
る。このズレ量は制御部へ入力され、ステムの調整機構
をズレ量が0になるまで可動させる。次にコレット12
が降下し、半導体レーザーチップの仮の補正が行われ
る。
ボンディング装置の操作方法について述べる。まず、ス
テム載置時に載置台位置を予め決めておく。ステム14
は一方を固定式載置台15aに、反対を可動式載置台1
5b,15cによって押し当てられ固定さている。そし
て前記測定基準面5caまでの距離をレーザー変位計1
6によって測定データとして計測する。測定データは演
算部へ入力される。ここで予め決めておいた基準ステム
の測定データと比較することによって、ステム14のx
方向における中心軸と、基準軸とのズレ量が算出され
る。このズレ量は制御部へ入力され、ステムの調整機構
をズレ量が0になるまで可動させる。次にコレット12
が降下し、半導体レーザーチップの仮の補正が行われ
る。
【0027】次に実施例2あるいは3のボンディング方
位調整装置を使用して、仮に補正された半導体レーザー
チップ13の照射角度の調整を行う。更に載置台を加熱
することによって、調整が行われた半導体レーザーチッ
プ13をダイボンディングすることによって半導体レー
ザーを得ることができる。
位調整装置を使用して、仮に補正された半導体レーザー
チップ13の照射角度の調整を行う。更に載置台を加熱
することによって、調整が行われた半導体レーザーチッ
プ13をダイボンディングすることによって半導体レー
ザーを得ることができる。
【0028】
【発明の効果】本発明の半導体レーザーチップのボンデ
ィング方位調整装置及び自動ボンディング装置を使用す
ることによって、発光点位置と照射角度の両方を検出で
きるので、発光点位置と照射角度の両方を調整すること
によって、従来よりも精度よい照射角度の調整を行うこ
とが可能となり、半導体レーザーチップの歩留りも向上
する。
ィング方位調整装置及び自動ボンディング装置を使用す
ることによって、発光点位置と照射角度の両方を検出で
きるので、発光点位置と照射角度の両方を調整すること
によって、従来よりも精度よい照射角度の調整を行うこ
とが可能となり、半導体レーザーチップの歩留りも向上
する。
【図1】本発明の半導体レーザーチップのボンディング
方位調整装置の概略模式図である。
方位調整装置の概略模式図である。
【図2】本発明の半導体レーザーチップのボンディング
方位調整装置の概略模式図である。
方位調整装置の概略模式図である。
【図3】図2のボンディング方位調整装置の発光点位置
と照射角度の検出原理をしめす概略模式図である。
と照射角度の検出原理をしめす概略模式図である。
【図4】本発明の自動ボンディング装置の要部システム
構成図である。
構成図である。
【図5】本発明の自動ボンディング装置の要部正面図で
ある。
ある。
【図6】図5の自動ボンディング装置の調整法を段階的
に示す図である。
に示す図である。
1 半導体レーザーチップ 2 電源部 3 スクリーン 4 画像入力部 5 CCDカメラ 6 画像処理部 7 制御部 8 半導体レーザー調整ステージ 11 ステージ 12 コレット 13 半導体レーザーチップ 14 ステム 15 ステム載置台 15a 固定式載置台 15b 可動式載置台 15c 可動式載置台 15ca 測定基準面 16 レーザー変位計 25 スクリーン移動ステージ
Claims (6)
- 【請求項1】 半導体レーザーチップを所定の方位に設
定するための半導体レーザーチップのボンディング方位
調整装置であって、前記半導体レーザーチップからレー
ザー光を発光させる電源手段と、前記レーザー光を投影
するスクリーン手段と、該スクリーン手段に投影された
画像を入力する画像入力手段と、該画像入力手段が入力
した画像から前記レーザー光の分布中心を計測し、発光
点位置と照射角度を計算するための画像処理手段と、発
光点位置と照射角度の基準軸に対するズレ量を補正する
ため前記半導体レーザーチップを移動させる補正手段と
から構成される事を特徴とする半導体レーザーチップの
ボンディング方位調整装置。 - 【請求項2】 画像入力手段が、スクリーン手段に投影
された画像を入力するための第1の画像入力手段及び半
導体レーザーチップ発光面の画像を入力する第2の画像
入力手段からなり、画像処理手段が前記第1の画像入力
手段が入力した画像からレーザー光の分布中心を、前記
第2の画像入力手段が入力した画像から発光点位置を計
測し、照射角度を計算する手段とからなる請求項1記載
の半導体レーザーチップのボンディング方位調整装置。 - 【請求項3】 スクリーン手段が、スクリーン移動手段
を備えていることからなる請求項1記載の半導体レーザ
ーチップのボンディング方位調整装置。 - 【請求項4】 請求項1記載の半導体レーザーチップの
ボンディング方位調整装置と、ステムを載置しボンディ
ングするための加熱機能を備えたステム載置手段と、半
導体レーザーチップを前記ステム上に供給するコレット
を有した移動手段からなる自動ダイボンディング装置。 - 【請求項5】 移動手段が、ステムの形状を計測する計
測手段と、前記ステムの中心軸を算出して予め計測され
た基準軸とのズレ量を求め、前記ズレ量に応じて位置を
仮に補正する仮補正手段を備えていることからなる請求
項4記載の自動ダイボンディング装置。 - 【請求項6】 載置手段が、ステムの形状を計測する計
測手段と、前記ステムの中心軸を算出して予め計測され
た基準軸とのズレ量を求め、前記ズレ量に応じて位置を
仮に補正する仮補正手段を備えていることからなる請求
項4記載の自動ダイボンディング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5017597A JPH06232507A (ja) | 1993-02-04 | 1993-02-04 | 半導体レーザーチップのボンディング方位調整装置及び自動ダイボンディング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5017597A JPH06232507A (ja) | 1993-02-04 | 1993-02-04 | 半導体レーザーチップのボンディング方位調整装置及び自動ダイボンディング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06232507A true JPH06232507A (ja) | 1994-08-19 |
Family
ID=11948303
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5017597A Pending JPH06232507A (ja) | 1993-02-04 | 1993-02-04 | 半導体レーザーチップのボンディング方位調整装置及び自動ダイボンディング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06232507A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1988005935A1 (fr) * | 1987-02-04 | 1988-07-11 | Fanuc Ltd | Procede de commande numerique comprenant une fonction de compensation du retard dans le temps de reaction |
| WO1988010171A1 (fr) * | 1987-06-17 | 1988-12-29 | Fanuc Ltd | Dispositif de commande d'acceleration/deceleration |
| EP0762092A3 (en) * | 1995-08-22 | 1997-09-10 | Hamamatsu Photonics Kk | Positioning device for an optical source |
| JP2003023203A (ja) * | 2001-07-05 | 2003-01-24 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 半導体レーザ素子搭載用基台の半田付け装置および半導体レーザモジュールの製造方法 |
| CN101858779B (zh) | 2009-04-10 | 2012-01-11 | 南京理工大学 | 远场激光功率分布测量器 |
-
1993
- 1993-02-04 JP JP5017597A patent/JPH06232507A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1988005935A1 (fr) * | 1987-02-04 | 1988-07-11 | Fanuc Ltd | Procede de commande numerique comprenant une fonction de compensation du retard dans le temps de reaction |
| WO1988010171A1 (fr) * | 1987-06-17 | 1988-12-29 | Fanuc Ltd | Dispositif de commande d'acceleration/deceleration |
| EP0762092A3 (en) * | 1995-08-22 | 1997-09-10 | Hamamatsu Photonics Kk | Positioning device for an optical source |
| JP2003023203A (ja) * | 2001-07-05 | 2003-01-24 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 半導体レーザ素子搭載用基台の半田付け装置および半導体レーザモジュールの製造方法 |
| CN101858779B (zh) | 2009-04-10 | 2012-01-11 | 南京理工大学 | 远场激光功率分布测量器 |
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