JPH06233193A - Ｘ線透視検査装置 - Google Patents
Ｘ線透視検査装置Info
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- JPH06233193A JPH06233193A JP5013844A JP1384493A JPH06233193A JP H06233193 A JPH06233193 A JP H06233193A JP 5013844 A JP5013844 A JP 5013844A JP 1384493 A JP1384493 A JP 1384493A JP H06233193 A JPH06233193 A JP H06233193A
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- JP
- Japan
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- ray
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- structural noise
- imaging
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 被検査体の画像から固定パターンノイズを適
確に除去し、ＳＮ比および解像度を向上したＸ線透視検
査装置を提供する。 【構成】 被検査体３のＸ線吸収と同じＸ線吸収を有す
るＸ線吸収体であるフィルタ４ａ，４ｂ，４ｃを設け、
このフィルタ４ａ，４ｂ，４ｃに対して被検査体３と同
一条件でＸ線装置１からのＸ線透過、イメージセンサ５
による可視化およびテレビカメラ６による撮像を行っ
て、フィルタ４ａ，４ｂ，４ｃの画像を入手し、このフ
ィルタ４ａ，４ｂ，４ｃの画像を被検査体３の画像から
減算して構造ノイズを低減する。
確に除去し、ＳＮ比および解像度を向上したＸ線透視検
査装置を提供する。 【構成】 被検査体３のＸ線吸収と同じＸ線吸収を有す
るＸ線吸収体であるフィルタ４ａ，４ｂ，４ｃを設け、
このフィルタ４ａ，４ｂ，４ｃに対して被検査体３と同
一条件でＸ線装置１からのＸ線透過、イメージセンサ５
による可視化およびテレビカメラ６による撮像を行っ
て、フィルタ４ａ，４ｂ，４ｃの画像を入手し、このフ
ィルタ４ａ，４ｂ，４ｃの画像を被検査体３の画像から
減算して構造ノイズを低減する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被検査体に向けてＸ線
を発生し、被検査体を透過したＸ線をイメージセンサで
検出して可視化し、該可視画像を撮像手段で撮像して表
示し検査するＸ線透視検査装置に関する。
を発生し、被検査体を透過したＸ線をイメージセンサで
検出して可視化し、該可視画像を撮像手段で撮像して表
示し検査するＸ線透視検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種のＸ線透視検査装置は、微細な内
部欠陥や内部構造を透視して検査するものであり、拡大
透視法を利用している。
部欠陥や内部構造を透視して検査するものであり、拡大
透視法を利用している。
【０００３】拡大透視法は、Ｘ線装置から発生するＸ線
を被検査体に透過させ、拡大透過像をイメージセンサで
可視像に変換し、この可視像を工業用テレビカメラで撮
像してテレビモニタに表示し観察するものである。この
拡大透視法では、像の拡大率を大きくするためにイメー
ジセンサの出力可視像を光学的に拡大してから工業用テ
レビカメラで撮像する方法が行われている。
を被検査体に透過させ、拡大透過像をイメージセンサで
可視像に変換し、この可視像を工業用テレビカメラで撮
像してテレビモニタに表示し観察するものである。この
拡大透視法では、像の拡大率を大きくするためにイメー
ジセンサの出力可視像を光学的に拡大してから工業用テ
レビカメラで撮像する方法が行われている。
【０００４】この方法によって得られる画像においては
イメージセンサの固有の構造ノイズも拡大されるため、
画像のＳＮ比が光学的拡大率に反比例して劣化する。
イメージセンサの固有の構造ノイズも拡大されるため、
画像のＳＮ比が光学的拡大率に反比例して劣化する。
【０００５】従来、このような固定パターンノイズは被
検査体を視野に設けないで得られる固定パターンノイズ
のみをフレームメモリに蓄積しておき、この画像を蓄積
した固定パターンノイズの画像を固定パターンノイズを
含んだ被検査体の透視画像から減算して除去するという
方法が利用されている。
検査体を視野に設けないで得られる固定パターンノイズ
のみをフレームメモリに蓄積しておき、この画像を蓄積
した固定パターンノイズの画像を固定パターンノイズを
含んだ被検査体の透視画像から減算して除去するという
方法が利用されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の方法で
は、被検査体を透過して含まれる固定パターンノイズと
被検査体を視野に設けないで得られた固定パターンノイ
ズは被検査体によるＸ線吸収が異なるため、減算を行っ
ても、固定パターンノイズは残留し、ＳＮ比改善効果は
低いという問題がある。
は、被検査体を透過して含まれる固定パターンノイズと
被検査体を視野に設けないで得られた固定パターンノイ
ズは被検査体によるＸ線吸収が異なるため、減算を行っ
ても、固定パターンノイズは残留し、ＳＮ比改善効果は
低いという問題がある。
【０００７】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、被検査体の画像から固定パタ
ーンノイズを適確に除去し、ＳＮ比および解像度を向上
したＸ線透視検査装置を提供することにある。
その目的とするところは、被検査体の画像から固定パタ
ーンノイズを適確に除去し、ＳＮ比および解像度を向上
したＸ線透視検査装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のＸ線透視検査装置は、被検査体に向けてＸ
線を発生し、被検査体を透過したＸ線をイメージセンサ
で検出して可視化し、該可視画像を撮像手段で撮像して
表示し検査するＸ線透視検査装置であって、前記撮像手
段で撮像した前記被検査体の画像を記憶する記憶手段
と、前記被検査体のＸ線吸収と同じＸ線吸収を有するＸ
線吸収体と、該Ｘ線吸収体に対して前記被検査体と同一
条件でＸ線透過、前記イメージセンサによる可視化およ
び前記撮像手段による撮像を行って、Ｘ線吸収体の画像
を得るように制御する制御手段と、前記記憶手段に記憶
された前記被検査体の画像から前記制御手段の制御によ
り得た前記Ｘ線吸収体の画像を減算し、被検査体の画像
から構造ノイズを低減する減算手段とを有することを要
旨とする。
め、本発明のＸ線透視検査装置は、被検査体に向けてＸ
線を発生し、被検査体を透過したＸ線をイメージセンサ
で検出して可視化し、該可視画像を撮像手段で撮像して
表示し検査するＸ線透視検査装置であって、前記撮像手
段で撮像した前記被検査体の画像を記憶する記憶手段
と、前記被検査体のＸ線吸収と同じＸ線吸収を有するＸ
線吸収体と、該Ｘ線吸収体に対して前記被検査体と同一
条件でＸ線透過、前記イメージセンサによる可視化およ
び前記撮像手段による撮像を行って、Ｘ線吸収体の画像
を得るように制御する制御手段と、前記記憶手段に記憶
された前記被検査体の画像から前記制御手段の制御によ
り得た前記Ｘ線吸収体の画像を減算し、被検査体の画像
から構造ノイズを低減する減算手段とを有することを要
旨とする。
【０００９】また、本発明のＸ線透視検査装置は、被検
査体に向けてＸ線を発生し、被検査体を透過したＸ線を
イメージセンサで検出して可視化し、該可視画像を撮像
手段で撮像して表示し検査するＸ線透視検査装置であっ
て、前記撮像手段で撮像した前記被検査体の画像を記憶
する記憶手段と、前記被検査体を動かす手段と、該手段
により動かされている被検査体に対してＸ線透過、前記
イメージセンサによる可視化および前記撮像手段による
撮像を行って得られる被検査体の画像に対してフレーム
積分を行い、被検査体の画像のみをぼかして構造ノイズ
を含んだ画像を得る構造ノイズ入手手段と、前記記憶手
段に記憶された前記被検査体の画像から前記構造ノイズ
入手手段で得た構造ノイズの画像を減算し、被検査体の
画像から構造ノイズを低減する減算手段とを有すること
を要旨とする。
査体に向けてＸ線を発生し、被検査体を透過したＸ線を
イメージセンサで検出して可視化し、該可視画像を撮像
手段で撮像して表示し検査するＸ線透視検査装置であっ
て、前記撮像手段で撮像した前記被検査体の画像を記憶
する記憶手段と、前記被検査体を動かす手段と、該手段
により動かされている被検査体に対してＸ線透過、前記
イメージセンサによる可視化および前記撮像手段による
撮像を行って得られる被検査体の画像に対してフレーム
積分を行い、被検査体の画像のみをぼかして構造ノイズ
を含んだ画像を得る構造ノイズ入手手段と、前記記憶手
段に記憶された前記被検査体の画像から前記構造ノイズ
入手手段で得た構造ノイズの画像を減算し、被検査体の
画像から構造ノイズを低減する減算手段とを有すること
を要旨とする。
【００１０】
【作用】本発明のＸ線透視検査装置では、被検査体のＸ
線吸収と同じＸ線吸収を有するＸ線吸収体を設け、この
Ｘ線吸収体に対して被検査体と同一条件でＸ線透過、イ
メージセンサによる可視化および撮像手段による撮像を
行って、Ｘ線吸収体の画像を入手し、このＸ線吸収体の
画像を被検査体の画像から減算して構造ノイズを低減し
ている。
線吸収と同じＸ線吸収を有するＸ線吸収体を設け、この
Ｘ線吸収体に対して被検査体と同一条件でＸ線透過、イ
メージセンサによる可視化および撮像手段による撮像を
行って、Ｘ線吸収体の画像を入手し、このＸ線吸収体の
画像を被検査体の画像から減算して構造ノイズを低減し
ている。
【００１１】また、本発明のＸ線透視検査装置では、被
検査体を動かしながら、この被検査体に対してＸ線透
過、イメージセンサによる可視化および撮像手段による
撮像を行って得られる被検査体の画像に対してフレーム
積分を行い、被検査体の画像のみをぼかして得られる構
造ノイズの画像を被検査体の画像から減算して構造ノイ
ズを低減している。
検査体を動かしながら、この被検査体に対してＸ線透
過、イメージセンサによる可視化および撮像手段による
撮像を行って得られる被検査体の画像に対してフレーム
積分を行い、被検査体の画像のみをぼかして得られる構
造ノイズの画像を被検査体の画像から減算して構造ノイ
ズを低減している。
【００１２】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。
る。
【００１３】図１は、本発明の一実施例に係わるＸ線透
視検査装置の構成を示す図である。同図に示すＸ線透視
検査装置は、Ｘ線を発生するＸ線装置１を有し、該Ｘ線
装置１から発生されるＸ線ビーム２は被検査体３を透過
し、イメージセンサ５で検出され、可視像に変換され
る。この可視像は光学系５’により結像された工業用テ
レビカメラ６で撮像され、第１のフレームメモリ７ａに
記憶される。以下、この第１のフレームメモリ７ａに記
憶された被検査体３の画像をＳ画像と称する。この第１
のフレームメモリ７ａに記憶されたＳ画像は、平均輝度
レベル演算装置１０に供給され、該Ｓ画像の全体の平均
輝度レベルまたは一部の輝度レベルまたはその平均を算
出される。
視検査装置の構成を示す図である。同図に示すＸ線透視
検査装置は、Ｘ線を発生するＸ線装置１を有し、該Ｘ線
装置１から発生されるＸ線ビーム２は被検査体３を透過
し、イメージセンサ５で検出され、可視像に変換され
る。この可視像は光学系５’により結像された工業用テ
レビカメラ６で撮像され、第１のフレームメモリ７ａに
記憶される。以下、この第１のフレームメモリ７ａに記
憶された被検査体３の画像をＳ画像と称する。この第１
のフレームメモリ７ａに記憶されたＳ画像は、平均輝度
レベル演算装置１０に供給され、該Ｓ画像の全体の平均
輝度レベルまたは一部の輝度レベルまたはその平均を算
出される。
【００１４】前記被検査体３は、移動テーブル１２上に
設けられているが、この移動テーブル１２上には更にフ
ィルタ４ａ，４ｂ，４ｃが設けられている。これらのフ
ィルタ４ａ，４ｂ，４ｃは前記被検査体３のＸ線吸収と
同じまたはほぼ同じＸ線吸収を有するＸ線吸収体であ
り、移動テーブル制御装置１１の制御による移動テーブ
ル１２の移動によりＸ線装置１のＸ線ビーム２の視野内
に順次搬送され、Ｘ線を透過させられる。この各フィル
タ４ａ，４ｂ，４ｃのＸ線透過画像はイメージセンサ５
で検出され、光学系５’を介してテレビカメラ６で撮像
され、第２のフレームメモリ７ｂに記憶される。この第
２のフレームメモリ７ｂに記憶された各フィルタ４ａ，
４ｂ，４ｃの輝度レベルは、前記平均輝度レベル演算装
置１０で算出されたＳ画像の輝度レベルと輝度比較ユニ
ット１３で比較される。
設けられているが、この移動テーブル１２上には更にフ
ィルタ４ａ，４ｂ，４ｃが設けられている。これらのフ
ィルタ４ａ，４ｂ，４ｃは前記被検査体３のＸ線吸収と
同じまたはほぼ同じＸ線吸収を有するＸ線吸収体であ
り、移動テーブル制御装置１１の制御による移動テーブ
ル１２の移動によりＸ線装置１のＸ線ビーム２の視野内
に順次搬送され、Ｘ線を透過させられる。この各フィル
タ４ａ，４ｂ，４ｃのＸ線透過画像はイメージセンサ５
で検出され、光学系５’を介してテレビカメラ６で撮像
され、第２のフレームメモリ７ｂに記憶される。この第
２のフレームメモリ７ｂに記憶された各フィルタ４ａ，
４ｂ，４ｃの輝度レベルは、前記平均輝度レベル演算装
置１０で算出されたＳ画像の輝度レベルと輝度比較ユニ
ット１３で比較される。
【００１５】そして、この比較の結果、Ｓ画像の輝度レ
ベルに等しいまたはほぼ等しい輝度レベルを有するフィ
ルタ４ａ，４ｂまたは４ｃが選択され、このフィルタ４
ａ，４ｂまたは４ｃの画像が第２のフレームメモリ７ｂ
に記憶される。以下、この画像をＮ画像と称する。
ベルに等しいまたはほぼ等しい輝度レベルを有するフィ
ルタ４ａ，４ｂまたは４ｃが選択され、このフィルタ４
ａ，４ｂまたは４ｃの画像が第２のフレームメモリ７ｂ
に記憶される。以下、この画像をＮ画像と称する。
【００１６】上述したように、第１のフレームメモリ７
ａに記憶されたＳ画像および第２のフレームメモリ７ｂ
に記憶されたＮ画像はフレーム減算器８に供給され、Ｓ
画像からＮ画像が減算され、この減算結果はモニタ９に
表示され、被検査体３の検査のために観察される。
ａに記憶されたＳ画像および第２のフレームメモリ７ｂ
に記憶されたＮ画像はフレーム減算器８に供給され、Ｓ
画像からＮ画像が減算され、この減算結果はモニタ９に
表示され、被検査体３の検査のために観察される。
【００１７】すなわち、上記実施例では、被検査体３の
Ｘ線吸収と同じまたはほぼ同じＸ線吸収を有するＸ線吸
収体であるフィルタ４ａ，４ｂ，４ｃに対してＸ線透
過、イメージセンサ５による可視化、テレビカメラ６に
よる撮像を行って、フィルタ４ａ，４ｂ，４ｃの画像を
Ｎ画像として取り込むことにより、被検査体３の画像に
含まれる構造ノイズ、すなわち固定パターンノイズを被
検査体３の画像を得た場合と同じまたはほぼ同じ条件
（Ｘ線のエネルギ、線量、被検査体の吸収）で入手し、
この入手した固定パターンノイズを被検査体３のＳ画像
から減算して、被検査体３の画像から固定パターンノイ
ズを低減し、ＳＮ比および解像度を向上している。
Ｘ線吸収と同じまたはほぼ同じＸ線吸収を有するＸ線吸
収体であるフィルタ４ａ，４ｂ，４ｃに対してＸ線透
過、イメージセンサ５による可視化、テレビカメラ６に
よる撮像を行って、フィルタ４ａ，４ｂ，４ｃの画像を
Ｎ画像として取り込むことにより、被検査体３の画像に
含まれる構造ノイズ、すなわち固定パターンノイズを被
検査体３の画像を得た場合と同じまたはほぼ同じ条件
（Ｘ線のエネルギ、線量、被検査体の吸収）で入手し、
この入手した固定パターンノイズを被検査体３のＳ画像
から減算して、被検査体３の画像から固定パターンノイ
ズを低減し、ＳＮ比および解像度を向上している。
【００１８】なお、上記実施例では、フィルタ４ａ，４
ｂ，４ｃを使用しているが、この代わりに図１において
点線で示すようにテレビカメラ６と第１のフレームメモ
リ７ａとの間にフレーム積分器１４を設けるとともに、
移動テーブル１２を動かしながら、被検査体３に対して
Ｘ線の透過、イメージセンサ５による可視化およびテレ
ビカメラ６による撮像を行い、これにより得られた被検
査体３の画像をフレーム積分器１４でフレーム積分し
て、固定パターンノイズはそのままで被検査体３の透視
像のみをぼけさせ、固定パターンノイズはイメージセン
サ５等を動かさないためにぼけさせず積分された固定パ
ターンノイズの画像を取り出し、この画像を第２のフレ
ームメモリ７ｂに記憶し、この画像を第１のフレームメ
モリ７ａに記憶した被検査体３のＳ画像からフレーム減
算器８で減算することにより、被検査体３の画像から固
定パターンノイズを低減することも可能である。
ｂ，４ｃを使用しているが、この代わりに図１において
点線で示すようにテレビカメラ６と第１のフレームメモ
リ７ａとの間にフレーム積分器１４を設けるとともに、
移動テーブル１２を動かしながら、被検査体３に対して
Ｘ線の透過、イメージセンサ５による可視化およびテレ
ビカメラ６による撮像を行い、これにより得られた被検
査体３の画像をフレーム積分器１４でフレーム積分し
て、固定パターンノイズはそのままで被検査体３の透視
像のみをぼけさせ、固定パターンノイズはイメージセン
サ５等を動かさないためにぼけさせず積分された固定パ
ターンノイズの画像を取り出し、この画像を第２のフレ
ームメモリ７ｂに記憶し、この画像を第１のフレームメ
モリ７ａに記憶した被検査体３のＳ画像からフレーム減
算器８で減算することにより、被検査体３の画像から固
定パターンノイズを低減することも可能である。
【００１９】更に、上記実施例において、フィルタ４
ａ，４ｂ，４ｃを特定し、この特定のフィルタにＸ線を
透過してイメージセンサ５で検出し、テレビカメラ６で
撮像した画像を得る場合に、この特定のフィルタに対す
るＸ線エネルギ、線量、吸収等の条件を異ならしめ、こ
の異なる条件で得られた該特定のフィルタの各画像を第
２のフレームメモリ７ｂにそれぞれ記憶しておき、これ
らの各画像を前記第１のフレームメモリ７ａに記憶され
たＳ画像からフレーム減算器８で減算し、その場合の固
定パターンノイズが最も少ない画像をモニタ９に表示し
て観察しても同様の効果が得られる。
ａ，４ｂ，４ｃを特定し、この特定のフィルタにＸ線を
透過してイメージセンサ５で検出し、テレビカメラ６で
撮像した画像を得る場合に、この特定のフィルタに対す
るＸ線エネルギ、線量、吸収等の条件を異ならしめ、こ
の異なる条件で得られた該特定のフィルタの各画像を第
２のフレームメモリ７ｂにそれぞれ記憶しておき、これ
らの各画像を前記第１のフレームメモリ７ａに記憶され
たＳ画像からフレーム減算器８で減算し、その場合の固
定パターンノイズが最も少ない画像をモニタ９に表示し
て観察しても同様の効果が得られる。
【００２０】また更に、以上の説明において、フレーム
減算器８における減算処理の代わりに、除算処理を行っ
ても同様の効果が得られる。この場合の除算は、被検査
体３の透視像およびフィルタだけの固定パターンノイズ
画像を各々対数変換してから減算することにより達成す
ることができる。
減算器８における減算処理の代わりに、除算処理を行っ
ても同様の効果が得られる。この場合の除算は、被検査
体３の透視像およびフィルタだけの固定パターンノイズ
画像を各々対数変換してから減算することにより達成す
ることができる。
【００２１】なお、上記実施例においては、複数のフィ
ルタ４ａ，４ｂ，４ｃは被検査体３と同じ移動テーブル
１２上に設けられているが、本発明はこれに限定される
ものでなく、フィルタ４ａ，４ｂ，４ｃはＸ線ビーム２
の内部であれば、どこに設けられてもよく、例えば別の
テーブルやマニプレータに設けられてもよい。
ルタ４ａ，４ｂ，４ｃは被検査体３と同じ移動テーブル
１２上に設けられているが、本発明はこれに限定される
ものでなく、フィルタ４ａ，４ｂ，４ｃはＸ線ビーム２
の内部であれば、どこに設けられてもよく、例えば別の
テーブルやマニプレータに設けられてもよい。
【００２２】更に、平均輝度レベル演算装置１０および
輝度比較ユニット１３を設けることなく、前記Ｓ画像お
よびＮ画像をモニタ９に直接表示して、両者を目視比較
して、フィルタ４ａ，４ｂ，４ｃを選択してもほぼ同様
の効果が得られるものである。
輝度比較ユニット１３を設けることなく、前記Ｓ画像お
よびＮ画像をモニタ９に直接表示して、両者を目視比較
して、フィルタ４ａ，４ｂ，４ｃを選択してもほぼ同様
の効果が得られるものである。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被検査体のＸ線吸収と同じＸ線吸収を有するＸ線吸収体
を設け、このＸ線吸収体に対して被検査体と同一条件で
Ｘ線透過、イメージセンサによる可視化および撮像手段
による撮像を行って、Ｘ線吸収体の画像を入手し、この
Ｘ線吸収体の画像を被検査体の画像から減算して構造ノ
イズを低減したり、または被検査体を動かしながら、こ
の被検査体に対してＸ線透過、イメージセンサによる可
視化および撮像手段による撮像を行って得られる被検査
体の画像に対してフレーム積分を行い、被検査体の画像
のみをぼかして得られる構造ノイズの画像を被検査体の
画像から減算して構造ノイズを低減しているので、被検
査体の画像から固定パターンノイズである構造ノイズを
適確に低減し、ＳＮ比および解像度を向上することがで
きる。
被検査体のＸ線吸収と同じＸ線吸収を有するＸ線吸収体
を設け、このＸ線吸収体に対して被検査体と同一条件で
Ｘ線透過、イメージセンサによる可視化および撮像手段
による撮像を行って、Ｘ線吸収体の画像を入手し、この
Ｘ線吸収体の画像を被検査体の画像から減算して構造ノ
イズを低減したり、または被検査体を動かしながら、こ
の被検査体に対してＸ線透過、イメージセンサによる可
視化および撮像手段による撮像を行って得られる被検査
体の画像に対してフレーム積分を行い、被検査体の画像
のみをぼかして得られる構造ノイズの画像を被検査体の
画像から減算して構造ノイズを低減しているので、被検
査体の画像から固定パターンノイズである構造ノイズを
適確に低減し、ＳＮ比および解像度を向上することがで
きる。
【図１】本発明の一実施例に係わるＸ線透視検査装置の
構成を示す図である。
構成を示す図である。
１ Ｘ線装置 ２ Ｘ線ビーム ３ 被検査体 ４ａ，４ｂ，４ｃ フィルタ ５ イメージセンサ ６ テレビカメラ ７ａ 第１のフレームメモリ ７ｂ 第２のフレームメモリ ８ フレーム減算器 ９ モニタ １０ 平均輝度レベル演算装置 １３ 輝度比較ユニット
Claims (5)
- 【請求項１】 被検査体に向けてＸ線を発生し、被検査
体を透過したＸ線をイメージセンサで検出して可視化
し、該可視画像を撮像手段で撮像して表示し検査するＸ
線透視検査装置であって、前記撮像手段で撮像した前記
被検査体の画像を記憶する記憶手段と、前記被検査体の
Ｘ線吸収と同じＸ線吸収を有するＸ線吸収体と、該Ｘ線
吸収体に対して前記被検査体と同一条件でＸ線透過、前
記イメージセンサによる可視化および前記撮像手段によ
る撮像を行って、Ｘ線吸収体の画像を得るように制御す
る制御手段と、前記記憶手段に記憶された前記被検査体
の画像から前記制御手段の制御により得た前記Ｘ線吸収
体の画像を減算し、被検査体の画像から構造ノイズを低
減する減算手段とを有することを特徴とするＸ線透視検
査装置。 - 【請求項２】 前記制御手段は前記Ｘ線吸収体に対する
Ｘ線透過、前記イメージセンサによる可視化および前記
撮像手段による撮像を複数の条件で行い、該複数の条件
でそれぞれ得られるＸ線吸収体の複数の画像をキャリブ
レーションデータとして保存する保存手段を有し、前記
減算手段は前記記憶手段に記憶された前記被検査体の画
像から前記保存手段に保存された前記Ｘ線吸収体の複数
の画像をそれぞれ減算し、構造ノイズの最も少ない画像
を選択する手段を有することを特徴とする請求項１記載
のＸ線透視検査装置。 - 【請求項３】 前記減算手段は前記記憶手段に記憶され
た前記被検査体の画像に対して前記Ｘ線吸収体の画像を
対数変換してから減算するという除算処理を行って、構
造ノイズを低減する除算手段を有することを特徴とする
請求項１または２記載のＸ線透視検査装置。 - 【請求項４】 被検査体に向けてＸ線を発生し、被検査
体を透過したＸ線をイメージセンサで検出して可視化
し、該可視画像を撮像手段で撮像して表示し検査するＸ
線透視検査装置であって、前記撮像手段で撮像した前記
被検査体の画像を記憶する記憶手段と、前記被検査体を
動かす手段と、該手段により動かされている被検査体に
対してＸ線透過、前記イメージセンサによる可視化およ
び前記撮像手段による撮像を行って得られる被検査体の
画像に対してフレーム積分を行い、被検査体の画像のみ
をぼかして構造ノイズを含んだ画像を得る構造ノイズ入
手手段と、前記記憶手段に記憶された前記被検査体の画
像から前記構造ノイズ入手手段で得た構造ノイズの画像
を減算し、被検査体の画像から構造ノイズを低減する減
算手段とを有することを特徴とするＸ線透視検査装置。 - 【請求項５】 前記減算手段は前記記憶手段に記憶され
た前記被検査体の画像に対して前記構造ノイズ入手手段
で得た構造ノイズの画像を対数変換してから減算すると
いう除算処理を行って、構造ノイズを低減する除算手段
を有することを特徴とする請求項４記載のＸ線透視検査
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5013844A JPH06233193A (ja) | 1993-01-29 | 1993-01-29 | Ｘ線透視検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5013844A JPH06233193A (ja) | 1993-01-29 | 1993-01-29 | Ｘ線透視検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06233193A true JPH06233193A (ja) | 1994-08-19 |
Family
ID=11844590
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5013844A Pending JPH06233193A (ja) | 1993-01-29 | 1993-01-29 | Ｘ線透視検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06233193A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003232752A (ja) * | 2002-02-12 | 2003-08-22 | Yamato Scale Co Ltd | Ｘ線異物検査装置の感度校正方法及び感度校正用異物試料体 |
| JP2014135989A (ja) * | 2013-01-16 | 2014-07-28 | Konica Minolta Inc | 医用画像システム |
-
1993
- 1993-01-29 JP JP5013844A patent/JPH06233193A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003232752A (ja) * | 2002-02-12 | 2003-08-22 | Yamato Scale Co Ltd | Ｘ線異物検査装置の感度校正方法及び感度校正用異物試料体 |
| JP2014135989A (ja) * | 2013-01-16 | 2014-07-28 | Konica Minolta Inc | 医用画像システム |
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