JPH06235744A - マイクロ波電力検出器 - Google Patents

マイクロ波電力検出器

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Publication number
JPH06235744A
JPH06235744A JP2243293A JP2243293A JPH06235744A JP H06235744 A JPH06235744 A JP H06235744A JP 2243293 A JP2243293 A JP 2243293A JP 2243293 A JP2243293 A JP 2243293A JP H06235744 A JPH06235744 A JP H06235744A
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JP
Japan
Prior art keywords
microwave power
power detector
probe
waveguide
detection
Prior art date
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Pending
Application number
JP2243293A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiko Funada
雅彦 舟田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2243293A priority Critical patent/JPH06235744A/ja
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 小型・軽量かつ挿入損失の小さい、マイクロ
波電力検出器を得る。 【構成】 導波管1に直接プローブ4を挿入し、プロー
ブ4と結合した、入力端子2の入力信号の一部を、MI
C基板上の検出回路7取り出し検出する。必要な結合度
を得られかつ挿入損失が小さくなる様に、プローブ4の
挿入長を最適化する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、衛星通信、地上マイ
クロ波通信、移動体通信等に使用するマイクロ波電力検
出器に関するものであり、さらに詳しくは、小型・軽量
かつ挿入損失の小さい、マイクロ波電力検出器を提供す
るものである。
【0002】
【従来の技術】図6は従来の入出力端子が導波管で構成
されたマイクロ波電力検出器の一例を示したものであ
る。図において、2は入力端子、3は出力端子、17は
導波管分配器、9は検出用ダイオード、11は負荷抵
抗、12は検出電圧出力端子である。
【0003】次に動作について説明する。入力端子2に
入力されたマイクロ波信号は、導波管分配器17によ
り、出力端子3に出力される信号と、検出用ダイオード
9に印加される信号とに分配される。この際、検出ダイ
オード9の過大入力が印加されない様に、一般的には導
波管分配器17の結合度として−20〜−40dB程度
の値が選ばれることが多い。検出用ダイオード9に印加
された信号は、検出用ダイオード9により検波され、負
荷抵抗11の両端に検出電圧を発生させる。発生した検
出電圧は検出電圧出力端子12より出力される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のマイクロ波電力
検出器は、以上のように導波管分配器を用いて、検出信
号と出力信号とを分配しているが、導波管分配器は使用
する周波数により形状がほぼ決定してしまう為、小型化
・軽量化は不可能である。その為、従来のマイクロ波電
力検出器は、形状が大きく重量が重いという問題点があ
った。又、導波管分配器部の損失が大きい為、入力端子
と出力端子間の挿入損失が大きくなるという問題点があ
った。
【0005】この発明は上記のような課題を解消するた
めになされたもので、小型・軽量かつ挿入損失の小さい
マイクロ波電力検出器を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のマイクロ波電力
検出器は、導波管に直接プローブを挿入し、このプロー
ブとMIC基板上に構成した検出回路とを接続したもの
である。
【0007】実施例2のマイクロ波電力検出器は、上記
実施例1のマイクロ波電力検出器において、検出回路を
構成する検出用ダイオードに直流電圧源を接続し、検出
用ダイオードに強制バイアスを印加したものである。
【0008】実施例3のマイクロ波電力検出器は、実施
例1及び実施例2のマイクロ波電力検出器において、検
出回路とプローブとを同一の金属キャリア上に形成し、
導波管上面に設けたスリット上をプローブが移動可能と
したものである。
【0009】
【作用】以上のように構成されたマイクロ波電力検出器
においては、導波管に挿入されたプローブが入力信号の
一部と結合し、取り出された信号を検出用ダイオードが
検出する為、導波管分配器を用いる必要がなく、小型・
軽量化が可能である。又、プローブの導波管内への挿入
長を最適化することにより挿入損失を小さくすることが
可能である。
【0010】また、以上のように構成された実施例2の
マイクロ波電力検出器においては、検出用ダイオードに
強制バイアスを印加することにより、検出用ダイオード
の動作点を最適化することが可能となる。その為、入力
信号電力の変化量に対する検出電圧出力の感度及び直線
性を改善することが可能である。又、検出電圧出力端子
に低インピーダンスの負荷が接続された場合においても
検出電圧出力の低下を防ぐことが可能となる。
【0011】さらに、以上のように構成された実施例3
のマイクロ波電力検出器においては、たとえ入出力端子
に整合のとれていない負荷が接続され、導波管内に定在
波が発生したとしても、プローブの位置を左右に移動可
能な為、定在波の節を避け検出電圧を出力することが可
能である。
【0012】
【実施例】
実施例1.図1はこの発明の実施例1を示したものであ
る。図1において1は導波管、2は入力端子、3は出力
端子、4はプローブ、5は誘電体、6は接続用ワイヤ、
7はMIC基板上に構成された検出回路である。図2
は、図1中の検出回路7の一実施例を回路図で示したも
のである。図2において8は入力信号端子、9は検出用
ダイオード、10はL,Cにより構成されたチョーク回
路、11は負荷抵抗、12は検出電圧出力端子である。
【0013】入力端子2に入力されたマイクロ波信号
は、その一部がプローブ4と結合し、誘電体5とプロー
ブ4とで形成された伝送線路を伝送して外部に取り出さ
れる。取り出された信号は、接続用ワイヤ6で、MIC
基板上に構成された検出回路7に接続される。この信号
は、検出用ダイオード9により検波され、L,Cにより
構成されたチョーク回路10を経て負荷抵抗11の両端
に検出電圧を発生させる。発生した検出電圧は検出電圧
出力端子12より出力される。
【0014】図3は、プローブの導波管内への挿入長を
変化させた場合における、入出力端子間の挿入損失及び
検出回路側への結合度の一実測値を示す。プローブ挿入
長を短くすれば、結合度は小さくなるが、挿入損失を小
さくすることが出来る。一般的に検出回路側への結合度
は−20〜−40dB程度の値が選ばれることが多い。
この場合図3より、プローブ挿入長は1mm以下で良い
ことがわかり、挿入損失は0.1dB以下である。
【0015】以下の通り、本発明では、導波管分配器の
かわりに、プローブを直接導波管内へ挿入し信号を取り
出す為、小型・軽量化が可能である。又、プローブ挿入
長を最適化することにより、挿入損失を小さくすること
が可能である。
【0016】なお、本実施例では、検出素子としてダイ
オードを用いたが、もちろんFET等他の素子を用いて
も構わない。
【0017】実施例2.図4は実施例2のマイクロ波電
力検出器に用いる検出回路の回路図である。13は検出
用ダイオードに強制バイアスをかける為の直流電圧源、
14はバイアス値を設定する為のバイアス抵抗である。
尚、図中、同一番号のものは同一のものを示す。検出用
ダイオードは、直流電圧源及びバイアス抵抗により、常
に順電流が流れ、強制バイアスが印加されている状態で
ある。直流電圧源の電圧及びバイアス抵抗の値を調整す
ることにより検出用ダイオードの動作点を、最適化する
ことが出来、入力信号電力の変化量に対する検出電圧出
力の感度及び直線性を改善することが可能である。又、
検出電圧出力端子に低インピーダンスの負荷が接続され
た場合でも、検出用ダイオードを流れる電流の変化が小
さい為、検出電圧出力の低下を防ぐことが可能となる。
【0018】実施例3.図5は実施例3のマイクロ波電
力検出器を示す。15は金属キャリア、16は導波管上
に設けられたスリットである。尚、図中、同一番号のも
のは同一のものを示す。誘電体・プローブ及び検出回路
は、金属キャリア上に形成されており、プローブは、導
波管上のスリットを通して導波管内部に挿入されてい
る。プローブの位置は、スリットの範囲内で左右に移動
可能である。いま、入力端子又は出力端子に整合のとれ
ていない負荷が接続された場合を考える。導波管内には
定在波が発生し、仮にプローブの位置が定在波の節に位
置したとすると、検出回路側に信号を取り出すことが不
可能となる。しかしながら、プローブの位置はスリット
の範囲内で移動可能な為、スリットの長さを管内波長の
1/4以上に設定しておけば、定在波がどの位置で発生
しても、節を避け、検出電圧を出力することが可能であ
る。
【0019】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば導波管
に挿入されたプローブが直接入力信号の一部と結合し、
信号を取り出す為、小型・軽量かつ挿入損失の小さいマ
イクロ波電力検出器が得られる。
【0020】実施例2のマイクロ波電力検出器において
は、検出用ダイオードに強制バイアスを印加することに
より、検出電圧出力の感度及び直線性を改善出来る効果
がある。又、検出電圧出力端子に低インピーダンスの負
荷が接続された場合においても検出電圧出力の低下を防
ぐ効果がある。
【0021】実施例3のマイクロ波電力検出器において
は、プローブの位置を移動することが可能な為、たとえ
入出力端子に整合のとれていない負荷が接続されて導波
管内に定在波が発生したとしても、定在波の節を避けて
検出電圧を出力出来る効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例1を示すマイクロ波電力検出
器の構成図である。
【図2】この発明の実施例1における検出回路の回路図
である。
【図3】この発明における効果を示す実測結果である。
【図4】この発明の実施例2における検出回路の回路図
である。
【図5】この発明の実施例3を示すマイクロ波電力検出
器の構成図である。
【図6】従来のマイクロ波電力検出器の構成図である。
【符号の説明】
1 導波管 2 入力端子 3 出力端子 4 プローブ 5 誘電体 6 接続用ワイヤ 7 検出回路 8 入力信号端子 9 検出用ダイオード 10 L,Cにより構成されたチョーク回路 11 負荷抵抗 12 検出電圧出力端子 13 直流電圧源 14 バイアス抵抗 15 金属キャリア 16 スリット 17 導波管分配器

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入出力端子が導波管で構成されたマイク
    ロ波電力検出器において、導波管に直接挿入したプロー
    ブと、MIC基板上に形成した検出回路とを接続したこ
    とを特徴とするマイクロ波電力検出器。
  2. 【請求項2】 マイクロ波電力検出器において、検出回
    路を構成する検出用ダイオードに直流電圧源を接続し、
    検出用ダイオードに強制バイアスを印加したことを特徴
    とする請求項1記載のマイクロ波電力検出器。
  3. 【請求項3】 マイクロ波電力検出器において、検出回
    路とプローブとを、同一の金属キャリア上に形成し、導
    波管上面に設けたスリット上をプローブが移動可能とし
    たことを特徴とする請求項1、または請求項2記載のマ
    イクロ波電力検出器。
JP2243293A 1993-02-10 1993-02-10 マイクロ波電力検出器 Pending JPH06235744A (ja)

Priority Applications (1)

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JP2243293A JPH06235744A (ja) 1993-02-10 1993-02-10 マイクロ波電力検出器

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JP2243293A JPH06235744A (ja) 1993-02-10 1993-02-10 マイクロ波電力検出器

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JP2243293A Pending JPH06235744A (ja) 1993-02-10 1993-02-10 マイクロ波電力検出器

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100440764B1 (ko) * 2002-09-03 2004-07-21 전자부품연구원 마이크로파 전력센서 및 그의 제조방법
KR101040217B1 (ko) * 2010-02-05 2011-06-16 국방과학연구소 전자기파 탐색기의 시험장치 및 이를 구비하는 시험 시스템
CN106771559A (zh) * 2017-03-14 2017-05-31 成都中电锦江信息产业有限公司 一种发射机大功率在线监测装置

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KR101040217B1 (ko) * 2010-02-05 2011-06-16 국방과학연구소 전자기파 탐색기의 시험장치 및 이를 구비하는 시험 시스템
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