JPH06235845A - 光コネクタのコア位置測定装置 - Google Patents

光コネクタのコア位置測定装置

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JPH06235845A
JPH06235845A JP2430293A JP2430293A JPH06235845A JP H06235845 A JPH06235845 A JP H06235845A JP 2430293 A JP2430293 A JP 2430293A JP 2430293 A JP2430293 A JP 2430293A JP H06235845 A JPH06235845 A JP H06235845A
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optical
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optical fiber
optical connector
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一雅 小沢
Toshiaki Kakii
俊昭 柿井
Shinji Nagasawa
真二 長沢
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NTT Inc
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 被測定用光コネクタ端面において光ファイバ
が配置される設計位置と実際に固定配置された光ファイ
バ位置とのずれを検出する光コネクタのコア位置測定装
置を得ることを目的とする。 【構成】 基準コネクタ15aを水平に移動させるリニ
アガイド6を、被測定用光コネクタ11端面に平行に対
向配置し、この基準コネクタ15aを予め設計された配
列ピッチで水平に移動させることにより、被測定用光コ
ネクタ11端面に形成された各光ファイバ15aに対
し、基準コネクタ15aを順次対向させるとともに、相
対的な位置関係を補正するため、ダミーパイプ13の貫
通穴に光ファイバ15bを挿入してガイドピン穴12の
中心に測定光あるいは反射光を通過させるように構成し
てガイドピン穴12の中心を特定し、被測定用光コネク
タ11端面と基準コネクタ15aの移動位置との相対的
な位置関係を特定させることにより、この被測定用光コ
ネクタ11端面に固定配置された各光ファイバ15aの
コア位置の設計位置とのずれを正確に測定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、被測定用光コネクタ
端面において光ファイバが配置される設計位置と実際に
固定配置された光ファイバ位置との偏心を検出する光コ
ネクタのコア位置測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、このような分野の技術としては、
例えば「多心コネクタの高精度寸法測定技術」(昭和6
3年電子情報通信学会秋期全国大会、B−343)に示
されたものがある。
【0003】図13は、従来の光コネクタのコア位置測
定装置を示す構成図であり、被測定用光コネクタ301
がXYステージ(図示せず、X方向,Y方向の可動ステ
ージ)にセットされ、後端面に光源302から測定光が
出射される。この被測定用光コネクタ301の前端面側
には対物レンズ303を挾んで例えばCCD等の撮像デ
バイス304が配置され、被測定用光コネクタ301の
前端面の像が撮像デバイス304に結像される。
【0004】ここで、被測定用光コネクタ301には両
側に2本のガイドピン穴305が設けられているととも
に、その間には多数本のファイバ穴306が形成されて
いる。このため、光源302から出射される測定光はガ
イドピン穴305およびファイバ穴306を通り、透過
測定光となって撮像デバイス304に入射する。そし
て、画像処理装置307にはこの被測定用光コネクタ3
01の前端面からの測定光の撮像データが与えられる。
【0005】このため、画像処理装置307ではガイド
ピン穴305とファイバ穴306の前端面におけるエッ
ジの輪郭を求めることができるので、その結果からガイ
ドピン穴305とファイバ穴306の中心位置が求ま
る。そこで、この測定された中心位置を設計上の中心位
置と対比すれば、いわゆる偏心量や偏心方向が求まり、
製品の評価が可能になる。なお、CRT308は撮像デ
ータや測定結果を目視可能に表示するものである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来の光コネクタのコ
ア位置測定装置は以上のように、ファイバ穴の偏心(設
計位置と実際の位置とのずれ)は評価できるが、光ファ
イバと光ファイバのクリアランスが存在することによ
り、ここに挿入される光ファイバ自体の偏心を評価でき
ない。このため、光ファイバを挿入して光コネクタとし
て実際に使用すると、好適な光結合を行なえないという
課題があった。
【0007】また、位置決めの基準となるガイドピン穴
は、その前端面において研磨による「ダレ」が生じやす
く、中心位置が正確に算出できないなどの課題があっ
た。
【0008】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、被測定用光コネクタ端面において
光ファイバが配置される設計位置と実際に固定配置され
た光ファイバ位置とのずれを検出する光コネクタのコア
位置測定装置を得ることを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る光コネク
タのコア位置測定装置は、被測定用光コネクタに所定ピ
ッチで前端面側が固定配置された光ファイバと対向する
1本の光ファイバからなる基準コネクタを支持する電歪
素子が固定され、被測定用光コネクタの端面に対して平
行に対向設置されたリニアガイド上を水平に移動する移
動ステージを、ステージ移動手段により所定ピッチの設
計位置に順次移動させ、被測定用光コネクタ側の光ファ
イバの後端面側に設置された光源より出射された測定光
を、位置検出手段において、円運動コントローラにより
円運動している基準コネクタを介して検出し、この円運
動と測定光の光量変動との位相差から基準コネクタ中心
からの偏心方向を求めるとともに、光量変動の振幅から
基準コネクタ中心からの偏心量を求めることを特徴とし
ている。
【0010】特に、被測定用光コネクタは、その端面に
形成しているガイドピン穴に貫通穴を中心部分に有する
ダミーパイプを挿入するか、さらにこのダミーパイプの
貫通穴に光ファイバを挿入し、ガイドピン穴の中心に測
定光を通過させる構造にしている。
【0011】また、請求項5に係る光コネクタのコア位
置測定装置は、被測定用光コネクタに所定ピッチで前端
面側が固定配置された光ファイバと対向する1本の光フ
ァイバからなる基準コネクタを支持する電歪素子が固定
され、被測定用光コネクタの端面に対して平行に対向設
置されたリニアガイド上を水平に移動する移動ステージ
を、ステージ移動手段により所定ピッチの設計位置に順
次移動させ、位置検出手段において、円運動コントロー
ラにより円運動している基準コネクタを介して光源から
測定光を上記光ファイバ前端面へ出射するとともに、そ
の後端面で反射した反射光を検出し、この円運動と測定
光の光量変動との位相差から基準コネクタ中心からの偏
心方向を求めるとともに、光量変動の振幅から基準コネ
クタ中心からの偏心量を求めることを特徴としている。
【0012】特に、被測定用光コネクタは、ガイドピン
穴に貫通穴を中心部分に有するダミーパイプを挿入し、
さらにこのダミーパイプの貫通穴に光ファイバを挿入
し、ガイドピン穴の中心で反射光が通過する構造にして
いる。
【0013】
【作用】この発明における光コネクタのコア位置測定装
置は、基準コネクタを水平に移動させるリニアガイド
を、被測定用光コネクタ端面に平行に対向配置させるこ
とで、この基準コネクタを所定の配列ピッチで移動させ
ることにより、被測定用光コネクタ端面に形成された各
光ファイバに対し、基準コネクタは順次対向した位置を
とる。
【0014】また、被測定用光コネクタは、ガイドピン
穴に貫通穴を中心部分に有するダミーパイプを挿入して
ガイドピン穴の中心に測定光を通過させるか、さらにこ
のダミーパイプの貫通穴に光ファイバを挿入してガイド
ピン穴の中心に測定光あるいは反射光を通過させるよう
に構成したので、被測定用光コネクタ端面と基準コネク
タの移動位置との相対的な位置関係を特定する。
【0015】また、位置特定のために使用される測定光
は光ファイバのカットオフ波長よりも長い波長とするこ
とで、これら光ファイバがシングルモードであることを
保証し、この測定光の検出にあたっては、これら光ファ
イバの後端面側に光源を設置して、直接光ファイバ内を
通過する測定光を検出するほか、光ファイバ後端面側で
の反射率が略一定(3.5%)であることから、光源を
光ファイバ前端面側に設置して、この反射光を検出する
ことができる。
【0016】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図1乃至図12
を用いて説明する。なお、図中同一部分には同一符号を
付して説明を省略する。
【0017】図1は、請求項1に係る光コネクタのコア
位置測定装置の一実施例の構成を示すブロック図であ
り、正確なリニアスケール7を有するリニアガイド6上
に水平に移動する移動ステージ9が設置されており、こ
の移動ステージ9上には基準コネクタ15aを支持して
円運動コントローラ4により円運動制御される電歪素子
10が固定されている。
【0018】この移動ステージ9の水平移動を制御する
ステージ移動手段Aは、スケール検出ヘッド8から移動
ステージ9の正確な位置を検出するスケールカウンタ1
と、駆動手段としての移動ステージコントローラ2から
構成されている。
【0019】また、位置検出手段Bは、基準コネクタ1
5aを介して伝送される測定光(光源14から出射さ
れ、光ファイバ15bを通過した光)の光量変動から電
歪素子10の円運動との位相差及びこの光量変動の振幅
を検出する検出器3と、この検出器3の出力から基準コ
ネクタ15a中心からの偏心方向及び基準コネクタ15
a中心からの偏心量を計算するCPU5から構成されて
いる。
【0020】一方、被測定用光コネクタ11は、1又は
2以上の光ファイバ15bの前端面が所定のピッチでこ
の被測定用光コネクタ11の端面に固定配置されてお
り、さらに接続時の位置を決めるための少なくとも2本
のガイドピン穴12が設けられている。
【0021】そして、このガイドピン穴12には、中心
に貫通穴を有するダミーパイプ13が挿入され、さらに
この貫通穴には光源14からの測定光を通過させるため
の光ファイバ15bが挿入されている。
【0022】特に、上記位置検出手段Bと円運動コント
ローラ4では、図2に示すように、検出器3において基
準コネクタ15a(光ファイバ)から伝送された測定光
を受光器31で検出し、この検出信号を増幅器32で増
幅させた後、第1及び第2の位相検波器33a、33b
でそれぞれx方向、y方向の位相(検出された測定光の
光量変動の位相)を検出している。そして、この検波さ
れた信号は円運動コントローラ4における参照信号35
とともに第1及び第2のA/D変換器34a、34bで
デジィタル信号に変換され、計算用パラメータとしてC
PU5に送られる。
【0023】CPU5では、第1及び第2の位相検波器
33a、33bの出力から基準コネクタ15a中心から
の偏心方向を計算するとともに、この光量変動の振幅か
ら基準コネクタ15a中心からの偏心量を計算する。
【0024】また、円運動コントローラ4では、sin
波発生回路41から出力される円運動させるためのx、
y方向それぞれのsin波により円運動コントロール部
42が電歪素子10の円運動制御を行っており、xyコ
ントロール部43はCPU5の指示に従って電歪素子1
0をX軸あるいはY軸方向に微動させるための電圧を供
給している。
【0025】次に、この発明の動作について説明する。
【0026】まず、被測定用光コネクタ11がリニアガ
イド6を予め水平に対向配置すべくガイドピン等(図示
せず)により固定される。この際に注意すべき点は、被
測定用光コネクタ11端面とリニアガイド6との距離が
どの位置からも等しくならなければならず、かつこのリ
ニアガイド6上の基準コネクタ15aの端面と被測定用
光コネクタ11端面に固定配置された各光ファイバ15
bの前端面とが図3に示すように平行にならなければな
らない点である。これを実現するにはガイドピン等によ
り機械的に固定するのが最良の方法である。
【0027】そして、被測定用光コネクタ11側の各光
ファイバ15bのコア位置を特定するための光源14
は、各光ファイバ15bの後端面側に設置され、基準コ
ネクタ15aの水平移動と同期して、順次測定されるべ
き光ファイバ15b後端面に測定光を出射すべく水平移
動する。なお、この光源14から出射される測定光の波
長は、基準コネクタ15a(光ファイバ)及び被測定用
光コネクタ11側の各光ファイバ15bのカットオフ波
長よりも長い波長とすることで、それぞれがシングルモ
ードであることを保証する。
【0028】第1の動作段階としては、まず被測定用光
ファイバ11端面に固定配置された各光ファイバ15b
の相対的な位置を特定しなければならない(これは、上
述した被測定用光コネクタ11の設置時の誤差を補正す
るためである)。このため、CPU5は、ステージ移動
手段Aにおける移動ステージコントローラ2に被測定用
光コネクタ11端面における各ガイドピン穴12の設計
時の中心位置と対向する位置に基準コネクタ15aを移
動させる指示をする。
【0029】この際、移動ステージコントローラ2は、
リニアスケール7を読み取るスケール検出ヘッド8の出
力から現時点の移動ステージ9の位置を示すリニアカウ
ンタ1の値に従って、この移動ステージ9を水平移動さ
せ、正確に各設計位置と対抗する位置に基準コネクタ1
5aを移動させる。
【0030】一方、被測定用光コネクタ11におけるガ
イドピン穴12の中心位置は図4に示すように、ガイド
ピン穴12に中心に貫通穴を有するダミーパイプ13を
挿入し、このダミーパイプ13の後端面に光源14から
測定光を出射させることで(同図(a))、同図(c)
に示すようにガイドピン穴12の中心位置を測定可能に
なるように特定させるか、あるいはダミーパイプ13中
心の貫通穴にさらに光ファイバ15bを挿入し、この光
ファイバ15bの後端面に光源14から測定光を出射す
ることで(同図(b))、同図(c)に示すようにガイ
ドピン穴12の中心位置を測定可能になるように特定さ
せる。
【0031】そして、この基準コネクタ15aが設計位
置に移動すると、続いてCPU5は円運動コントローラ
4に円運動制御を指示する。これにより、基準コネクタ
15aは支持されている電歪素子10により円運動させ
られ(電歪素子10は円運動コントローラ4により円運
動制御されている)、この円運動している基準コネクタ
15aを介して伝送された測定光を検出した位置検出手
段Bにおいて、この円運動と測定光の光量変動との位相
差及び光量変動の振幅から基準コネクタ15aと各光フ
ァイバ15bのコア位置の偏心方向及び偏心量が計算さ
れる。
【0032】さらに、CPU5は、上述した第1の動作
段階で計算された各ガイドピン穴12の偏心情報を、被
測定用光コネクタ11端面に固定配置された各光ファイ
バ15bごとに、この被測定用光コネクタ11端面がず
れるのに伴って同じ様にずれる設計位置(本来あるべき
配置位置)を特定するための補正情報として、それぞれ
記録しておく。
【0033】これは、現実には基準コネクタ15aが正
確な設計ピッチで、かつ水平に移動するのに対し、被測
定用光コネクタ11端面を正確に固定することが困難で
あることによる。
【0034】ここで、図5及び図6を用いて電歪素子1
0の構造及び円運動コントローラ4による円運動制御に
ついて説明する。
【0035】まず、図5は、電歪素子10を示す斜視図
(a)及び断面図(b)である。この電歪素子10はそ
の胴体部分が移動ステージ9に固定されており、その後
方(図面左)から基準コネクタ15aとなる光ファイバ
が挿入され、さらにこの電歪素子10の先端外面(図面
右)には4個の圧電ユニットが設けられている。すなわ
ち、電歪素子10の先端外面に設けられたグランド電極
101G 上に圧電材料層102を堆積させ、この圧電材
料層102の上面にさらに4つの電極101X1、101
X2、101Y1、101Y2を設けた構造となっている。
【0036】特に、プラスX電極101X1とマイナスX
電極101X2は互いに対向する位置にあり、同様にプラ
スY電極101Y1とマイナスY電極101Y2とも互いに
対向する位置にある。そして、この電歪素子10の下部
開口(図面右)にはキャップ103が設けられ、このキ
ャップ103には基準コネクタ15aが貫通して固定
(支持)されている。
【0037】以上のような構造によると、電歪素子10
の先端は水平(被測定用光コネクタ11の端面に対して
水平)に微動あるいは回転運動させることができ、これ
によって基準コネクタ15aの先端も上記の運動に従っ
た動きをさせられる。これを示したのが図6(a)、
(b)である。
【0038】この図6(a)の各電極に図6(b)に示
すパターンの電圧を加えると、圧電材料層102に引張
り、あるいは圧縮歪みが生じ、これによって電歪素子1
0が微少に変形し、同図(a)に示す矢印の変位方向
(丸印1〜丸印4)の微動が実現される。
【0039】従って、xyコントローラ部43からプラ
スX電極101X1とマイナスX電極101X2に180°
位相のずれた正弦波電圧が加えられ、かつプラスY電極
101Y1とマイナスY電極101Y2に上記90°ずつ位
相のずれた正弦波電圧が加えられると電歪素子10の先
端は回転運動をする。また、上記の電極101X1〜10
Y1に加えられる交流電圧の直流バイアスが変化する
と、電歪素子10の先端は基準コネクタ15aの光軸に
対して直交方向に微動することになる。
【0040】すなわち、基準コネクタ15aの高速回転
運動と、水平方向の回転中心位置の微調整が同一の電歪
素子10により行なわれるのである。
【0041】次に、第2の動作段階で、CPU5はステ
ージ移動手段Aに対し、被測定用光コネクタ11端面に
固定配置されたその他の各光ファイバ15bが本来配置
されるべき位置(設計位置)と対向する位置に、基準コ
ネクタ15aを順次移動させる指示をする。この時、基
準コネクタ15aの移動に同期して、光源14も次に位
置測定される光ファイバの後端面に測定光を出射すべく
移動する。
【0042】さらに、CPU5は円運動コントローラ4
への円運動制御指示を出して、各光ファイバ15bのコ
ア位置の偏心方向及び偏心量を、第1の動作段階で予め
計算しておいた偏心情報を利用して補正しながら順次求
めていく。
【0043】ここで、図7及び図8を用いて基準コネク
タ15aの回転中心とこれに対向する被測定用光コネク
タ11における各光ファイバ15bの中心との間の偏心
方向及び偏心量(中心位置の距離)の算出原理(位置検
出手段Bにおいて行われている)を説明する。
【0044】まず、図7(a)において、実線の円(図
中、20a)は基準コネクタ15aのコアを示し、点線
の円(図中、20b)は被測定用光コネクタ11におけ
る各光ファイバ15bのコアを示しており、基準コネク
タ15aの回転中心(図中の白丸印200a)は各光フ
ァイバ15bの中心(図中のクロス印200b)から、
マイナスx方向に一定量だけ偏位している場合を示して
いる。回転中の基準コネクタ15aのコアの位置は、図
中の丸印1から丸印5のように変化し、このため基準コ
ネクタ15aと各光ファイバ15bの光結合率は回転位
相に応じて変化する。
【0045】なお、図7において(b)〜(f)は図7
(a)に示した基準コネクタ15aのコアと各光ファイ
バ15bのコアとの位置関係を個別に示したものであ
り、図中201a〜201eは、円運動中の基準コネク
タ15aの現実の中心位置を示している。
【0046】ここで、光源14から出射され、各光ファ
イバ15bを通過した測定光は、基準コネクタ15aを
介して検出器3により検出されるが、この測定光の光量
変化は上記の基準コネクタ15aと各光ファイバ15b
との光結合率の変動に対応している。
【0047】従って、基準コネクタ15aの回転中心位
置と光ファイバ15bの中心位置との位置関係、その回
転運動の位相と検出器3により検出された測定光の光量
変動の位相との関係を図示すると、図8に示すようにな
る。
【0048】すなわち、この図8において同図(a)は
基準コネクタ15aにおけるコア20aの中心位置20
0aが測定される光ファイバ15bにおけるコアの中心
位置200bとがマイナスx方向(図では左側)にずれ
た位置関係を示しており、この図から、回転運動の位相
と光量変動の位相とが一致することが分かる(位相差0
゜)。
【0049】また、同図(b)はマイナスy方向(図で
は下側)にずれた位置関係を示し、この場合の位相差は
90゜、同図(c)はプラスx方向(図では右側)にず
れた位置関係を示し、この場合の位相差は180゜、同
図(d)はプラスy方向(図では上側)にずれた位置関
係を示し、この場合の位相差は270゜となることが分
かる。
【0050】一方、光量変動の振幅と偏心量の関係を図
10に示す。同図(a)〜(c)に示すように、被測定
用光コネクタ11側の各光ファイバ15bにおけるコア
20bの中心位置200bに対して基準コネクタ15a
におけるコア20aの中心位置200aの回転中心があ
まり偏位してないと、受光器31で受光される光量変動
の振幅は小さいが(特に、中心位置が同図(a)のよう
に一致していれば振幅は0になる)、偏位が大きくなる
とこの光量変動の振幅も大きくなる。
【0051】そして、ある値(シングルモードファイバ
同士では約2.5μm)を越えると偏位が大きくなるに
つれて振幅が小さくなるが、これを示したのが図11で
ある。なお、この図11において、検出レベルが点線で
示すレベル(規定値)以下のときは、雑音成分に信号成
分が埋もれるので、この測定光の光量変動が上記の既定
値以下であるときは、調芯(コア位置が一致)されたと
みなす範囲にあるか、中心位置が大きく外れているか
の、いずれかであるとされる。
【0052】この偏位方向及び偏位量の算出は、図1及
び図2に示したCPU5によりなされる。すなわち、図
8(a)〜(d)の下の回転運動の波形は、円運動コン
トローラ4におけるsin波発生回路41から検出器3
に入力される参照信号35の波形であり、光量変動の波
形は、検出器3において受光器31で受光され、増幅器
32で増幅されて第1及び第2の位相検波器33a、3
3bににそれぞれ入力される信号の波形である。
【0053】第1の位相検波器33aの出力ESX及び第
2の位相検波器33bの出力ESYは、図9(a)に示す
ように回転運動の波形と光量変動との間で位相差θS
あると、基準コネクタ15aにおけるコア20aの中心
位置200aと測定される光ファイバ15bにおけるコ
ア20bの中心位置200bとは同図(b)に示すよう
な位置関係にあることから、以下の計算式 (x側)ESX=ES ・cosθS ・・・(1) (y側)ESY=ES ・cos(θS −90゜) =ES ・sinθS ・・・(2) により得られる。
【0054】そこで、CPU5は第1及び第2のA/D
変換器34a、34bを介して上記第1及び第2の位相
検波器33a、33bの出力ESX、ESYをそれぞれ取り
込み、偏心方向θ及び偏心量dを計算する。
【0055】なお、偏心方向θ及び偏心量dの計算は、
偏心量と光量変動の振幅との関係が図11に示すような
関係にある事が分かっているので、現実の偏心方向θS
及び偏心量d´と、上述した第1の動作段階で予め求め
ておいた偏心情報(固定時に予め分かっているx方向の
誤差PX とy方向の誤差PY )で補正を加えることによ
り、以下の計算式から求められる。
【0056】 θ=tan-1((d´・sinθS −PY )/(d´・cosθS −PX ))
【0057】
【数1】
【0058】次に、この発明の他の実施例に係る光コネ
クタのコア位置測定装置について図12を用いて説明す
る。
【0059】図12(a)は、請求項5に係る光コネク
タのコア位置測定装置の一実施例の構成を示すブロック
図であり、正確なリニアスケール7を有するリニアガイ
ド6上に水平に移動する移動ステージ9が設置されてお
り、この移動ステージ9上には基準コネクタ15aを支
持して円運動コントローラ4により円運動制御される電
歪素子10が固定されている。
【0060】この移動ステージ9の水平移動を制御する
ステージ移動手段Aは、スケール検出ヘッド8から移動
ステージ9の正確な位置を検出するスケールカウンタ1
と、駆動手段としての移動ステージコントローラ2から
構成されている。
【0061】また、位置検出手段Cは、基準コネクタ1
5aを介して被測定用光コネクタ11端面に固定配置さ
れた各光ファイバ15bの前端面に測定光を出射する光
源14を備えている。これにより、検出した光の光量変
動から電歪素子10の円運動との位相差及びこの光量変
動の振幅を検出する検出器3は、上記各光ファイバ15
bから基準コネクタ15a及び光カプラ16を介して、
反射光を検出することになる(つまり、光源14から出
射され、各光ファイバ15bの後端面で反射された光を
コア位置の測定に利用する)。
【0062】さらに、この検出器3の出力から基準コネ
クタ15a中心からの偏心方向及び基準コネクタ15a
中心からの偏心量を計算するCPU5から構成されてい
るが、これら検出器3及びCPU5を備えている点につ
いては、前述した位置検出手段Bと同様である。
【0063】一方、被測定用光コネクタ11は、1又は
2以上の光ファイバ15bの前端面が所定のピッチでこ
の被測定用光コネクタ11の端面に固定配置されてお
り、さらに接続時の位置を決めるための少なくとも2本
のガイドピン穴12が設けられている。
【0064】そして、このガイドピン穴12には、中心
に貫通穴を有するダミーパイプ13が挿入され、さらに
この貫通穴には中心位置を特定するための光ファイバ1
5bが挿入されている。
【0065】特に、上記位置検出手段Cと円運動コント
ローラ4では、光源14及びこの光源14から基準コネ
クタ15aを介して測定光を出射させ、同じく基準コネ
クタ15aを介してその反射光を検出させるための光カ
プラ16(図中、3dBカプラで示す)を備えている点
以外は図2に示す位置検出手段Bと円運動コントローラ
4の構造と同様である。
【0066】すなわち、検出器3において基準コネクタ
15a(光ファイバ)から伝送された測定光を受光器3
1で検出し、この検出信号を増幅器32で増幅させた
後、第1及び第2の位相検波器33a、33bでそれぞ
れx方向、y方向の位相(検出された測定光の光量変動
の位相)を検出している。そして、この検波された信号
は第1及び第2のA/D変換器34a、34bでデジィ
タル信号に変換され、計算用パラメータとしてCPU5
に送られる。
【0067】CPU5では、検出器3から送られてきた
出力から円運動と光量変動との位相差を求めて基準コネ
クタ15a中心からの偏心方向を計算するとともに、こ
の光量変動の振幅から基準コネクタ15a中心からの偏
心量を計算する。
【0068】また、円運動コントローラ4では、sin
波発生回路41から出力される円運動させるためのx、
y方向それぞれのsin波により円運動コントロール部
42が電歪素子10の円運動制御を行っており、xyコ
ントロール部43はCPU5の指示に従って電歪素子1
0をX軸あるいはY軸方向に微動させるための電圧を供
給している。
【0069】次に、動作について説明する。この請求項
5に係る光コネクタのコア位置測定装置は、前述した請
求項1に係る光コネクタのコア位置測定装置の構成にお
いて、光源14の設置位置を被測定用光コネクタ11端
面に固定配置された各光ファイバ15bの後端面側では
なく、基準コネクタ15a側に変えたところに特徴があ
る。
【0070】これは、図12(b)に示すように、各光
ファイバ15bの後端面(図12(a)では記号Dで示
す)での測定光の反射率が略一定(3.5%)であるた
めに、測定光を直接コア位置測定のために利用せず、反
射光を利用することによってもコア位置測定が可能だか
らである。
【0071】従って、第1の動作段階でのリニアガイド
6と被測定用光コネクタ11端面との相対的な位置を求
める動作、基準コネクタ15aに円運動させる動作、C
PU5での計算動作等は前述した実施例と同様である。
【0072】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、基準コ
ネクタを水平に移動させるリニアガイドを、被測定用光
コネクタ端面に平行に対向配置し、この基準コネクタを
予め設計された配列ピッチで移動させることにより、被
測定用光コネクタ端面に形成された各光ファイバに対
し、基準コネクタを順次対向させるとともに、相対的な
位置関係を補正するため、被測定用光コネクタのガイド
ピン穴に貫通穴を中心部分に有するダミーパイプを挿入
してガイドピン穴の中心に測定光を通過させるか、さら
にこのダミーパイプの貫通穴に光ファイバを挿入してガ
イドピン穴の中心に測定光あるいは反射光を通過させる
ように構成してガイドピン穴の中心を特定し、被測定用
光コネクタ端面と基準コネクタの移動位置との相対的な
位置関係を特定させることにより、この被測定用光コネ
クタ端面に固定配置された各光ファイバのコア位置の設
計位置とのずれを正確に測定することができる効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1に係る光コネクタのコア位置測定装置
の一実施例の構成を示すブロック図である。
【図2】請求項1に係る光コネクタのコア位置測定装置
の一実施例における位置検出手段の構成を示すブロック
図である。
【図3】基準コネクタ及び被測定用コネクタに固定配置
された各光ファイバの位置関係を説明するための図であ
る。
【図4】被測定用光コネクタにおけるガイドピン穴の中
心位置検出方法を説明する図である。
【図5】この発明のにおける電歪素子の構成を示す斜視
図及び断面図である。
【図6】この発明のにおける電歪素子の動作を説明する
ための図である。
【図7】この発明のにおける電歪素子の円運動を基準コ
ネクタ及び被測定用コネクタに固定配置された各光ファ
イバの位置関係で説明するための図である。
【図8】この発明における基準コネクタ及び被測定用コ
ネクタに固定配置された各光ファイバの位置関係よる測
定光の振幅と位置ずれ量の関係を示す図である。
【図9】この発明における基準コネクタ及び被測定用コ
ネクタに固定配置された各光ファイバの位置関係よる測
定光の振幅と位置ずれ量の関係を示す図である。
【図10】この発明における基準コネクタ及び被測定用
コネクタに固定配置された各光ファイバの位置関係よる
円運動に対する測定光の位相差と位置ずれ方向の関係を
示す図である。
【図11】この発明における位置検出手段の位置ずれ方
向及び位置ずれ量の計算方法を説明するための図であ
る。
【図12】請求項5に係る光コネクタのコア位置測定装
置の一実施例の構成を示すブロック図である。
【図13】従来の光コネクタのコア位置測定装置を示す
斜視図である。
【符号の説明】
1…スケールカウンタ、2…移動ステージコントロー
ラ、3…検出器、4…円運動コントローラ、5…CP
U、6…リニアガイド、7…リニアスケール、8…リニ
アスケール検出ヘッド、9…移動ステージ、10…電歪
素子、11…被測定コネクタ、12…ガイドピン穴、1
3…ダミーパイプ、14…光源、15a…基準コネク
タ、15b…光ファイバ、A…ステージ移動手段、B、
C…位置検出手段。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 長沢 真二 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定用光コネクタ端面に所定ピッチで
    前端面側が固定配置された光ファイバの後端面側へ測定
    光を出射する光源と、 前記各光ファイバと対向する1本の光ファイバからなる
    基準コネクタを支持する電歪素子が固定され、前記被測
    定用光コネクタの端面に対して平行に対向設置されたリ
    ニアガイド上を水平に移動する移動ステージと、 前記基準コネクタが前記被測定用光コネクタ端面に固定
    配置された光ファイバの設計ピッチで移動すべく前記移
    動ステージを移動させるステージ移動手段と、 前記基準コネクタを支持する電歪素子の円運動を制御す
    る円運動コントローラと、 前記基準コネクタと被測定用光コネクタ端面に固定配置
    された光ファイバとのコア位置について、前記光源から
    出射され、かつ被測定用光コネクタ側の光ファイバを通
    過した測定光を、該円運動している基準コネクタを介し
    て検出し、該円運動と光量変動の位相差から基準コネク
    タ中心からの偏心方向を求めるとともに、該光量変動の
    振幅から基準コネクタ中心からの偏心量を求める位置検
    出手段を備えた光コネクタのコア位置測定装置。
  2. 【請求項2】 前記光源は、前記被測定用光コネクタに
    形成されている少なくとも2本のガイドピン穴に挿入さ
    れたダミーパイプ中心の貫通穴に直接測定光を出射する
    ことを特徴とする請求項1記載の光コネクタのコア位置
    測定装置。
  3. 【請求項3】 前記光源は、前記被測定用光コネクタに
    形成されている少なくとも2本のガイドピン穴に挿入さ
    れたダミーパイプ中心の貫通穴に、さらに挿入された光
    ファイバの後端面側へ測定光を出射することを特徴とす
    る請求項1記載の光コネクタのコア位置測定装置。
  4. 【請求項4】 前記位置検出手段は、前記被測定用光コ
    ネクタ端面に固定配置された光ファイバを通過し、基準
    コネクタを介して伝搬してきた測定光の光量変動におけ
    る振幅及び位相を検出する検出器と、 前記検出器が検出した測定光の光量変動と前記円運動と
    の位相差から該基準コネクタ中心からの偏心方向を求め
    るとともに、光量変動の振幅から該基準コネクタ中心か
    らの偏心量を計算するCPUを備えたことを特徴とする
    請求項1記載の光コネクタのコア位置測定装置。
  5. 【請求項5】 被測定用光コネクタ端面に所定ピッチで
    前端面側が固定配置された光ファイバと対向する1本の
    光ファイバからなる基準コネクタを支持する電歪素子が
    固定され、該被測定用光コネクタの端面に対して平行に
    対向設置されたリニアガイド上を水平に移動する移動ス
    テージと、 前記基準コネクタが前記被測定用光コネクタ端面に固定
    配置された光ファイバの設計ピッチで移動すべく前記移
    動ステージを移動させるステージ移動手段と、 前記基準コネクタを支持する電歪素子の円運動を制御す
    る円運動コントローラと、 前記前記基準コネクタと被測定用光コネクタ端面に固定
    配置された光ファイバとのコア位置について、測定光を
    被測定用光コネクタ側の光ファイバの前端面に前記円運
    動している基準コネクタを介して出射し、該光ファイバ
    の後端面で反射した反射光を該基準コネクタを介して検
    出し、該円運動と光量変動の位相差から基準コネクタ中
    心からの偏心方向を求めるとともに、該光量変動の振幅
    から基準コネクタ中心からの偏心量を求める位置検出手
    段を備えた光コネクタのコア位置測定装置。
  6. 【請求項6】 前記位置検出手段は、前記被測定用コネ
    クタ端面に固定配置された各光ファイバの前端面へ基準
    コネクタを介して測定光を出射する光源と、該各光ファ
    イバを通過し、基準コネクタを介して伝搬してきた反射
    光の光量変動における振幅及び位相を検出する検出器
    と、 前記検出器が検出した反射光の光量変動と前記円運動と
    の位相差から該基準コネクタ中心からの偏心方向を求め
    るとともに、光量変動の振幅から該基準コネクタ中心か
    らの偏心量を計算するCPUを備えたことを特徴とする
    請求項5記載の光コネクタのコア位置測定装置。
  7. 【請求項7】 前記前記被測定用光コネクタは、該端面
    に形成されている少なくとも2本のガイドピン穴に、中
    心に貫通穴を有するダミーパイプを挿入し、該ダミーパ
    イプ中心の貫通穴に前記光源から出射された測定光を反
    射させる光ファイバを挿入したことを特徴とする請求項
    5記載の光コネクタのコア位置測定装置。
  8. 【請求項8】 前記電歪素子は、支持する基準コネクタ
    を前記被測定用光コネクタ端面に対して略平行に円運動
    させることを特徴とする請求項1又は5記載の光コネク
    タのコア位置測定装置。
  9. 【請求項9】 前記位置検出手段は、被測定用光コネク
    タ端面に固定配置された光ファイバの設計位置との偏心
    方向及び偏心量を、予め該被測定用光コネクタ端面にお
    けるガイドピン穴の中心を測定しておいた偏心情報で補
    正して計算することを特徴とする請求項1又は5記載の
    光コネクタのコア位置測定装置。
  10. 【請求項10】 前記光源から出射される測定光の波長
    は、前記光ファイバのコアのカットオフ波長よりも長い
    波長であることを特徴とする請求項1、2、3、5、又
    は6のいずれか一項に記載の光コネクタのコア位置測定
    装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100444268B1 (ko) * 2002-06-05 2004-08-12 주식회사 한택 평면배열형 수광 소자를 이용한 광 측정 장치 및 방법
KR20150074624A (ko) * 2013-12-24 2015-07-02 삼성전자주식회사 광학검출장치 및 측정오차의 보정방법

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