JPH0623922Y2 - 厚さ監視装置 - Google Patents
厚さ監視装置Info
- Publication number
- JPH0623922Y2 JPH0623922Y2 JP9222588U JP9222588U JPH0623922Y2 JP H0623922 Y2 JPH0623922 Y2 JP H0623922Y2 JP 9222588 U JP9222588 U JP 9222588U JP 9222588 U JP9222588 U JP 9222588U JP H0623922 Y2 JPH0623922 Y2 JP H0623922Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- mirror
- measured
- half mirror
- incident
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案は、プラスチック・フィルムのような透明なシー
ト状物体の厚さを光学的手段によって測定する厚さ監視
装置に関する。
ト状物体の厚さを光学的手段によって測定する厚さ監視
装置に関する。
〈従来の技術〉 従来、光学式厚さ監視装置としてマイケルソン干渉計を
用いたものが公知である。第3図はその原理を示す。光
源1からの光はハーフミラー2で2つに分割され、一方
はハーフミラー2を透過してミラー3に向かい、他方は
被測定物4を透過しミラー5に向かう。ミラー5で反射
された光はハーフミラー2を透過し、ミラー3により反
射された光と混合されて光検出素子6に進む。光検出素
子6では2つの光路の光路差に基づく干渉縞が形成され
る。光路差は被測定物4の厚さによって変化するため干
渉縞から被測定物4の厚さが測定できる。
用いたものが公知である。第3図はその原理を示す。光
源1からの光はハーフミラー2で2つに分割され、一方
はハーフミラー2を透過してミラー3に向かい、他方は
被測定物4を透過しミラー5に向かう。ミラー5で反射
された光はハーフミラー2を透過し、ミラー3により反
射された光と混合されて光検出素子6に進む。光検出素
子6では2つの光路の光路差に基づく干渉縞が形成され
る。光路差は被測定物4の厚さによって変化するため干
渉縞から被測定物4の厚さが測定できる。
〈考案が解決しようとする課題〉 しかし、このような従来装置では、被測定物4における
測定領域が小さく固定されているため、測定により得ら
れるデータ量が少なく、異常を検出する確度が劣ってい
た。更に被測定物4の種類によって要求される検出精度
に差があるが、従来装置では被測定物4の最適の検出精
度で測定を行うことができなかった。
測定領域が小さく固定されているため、測定により得ら
れるデータ量が少なく、異常を検出する確度が劣ってい
た。更に被測定物4の種類によって要求される検出精度
に差があるが、従来装置では被測定物4の最適の検出精
度で測定を行うことができなかった。
本考案の解決しようとする技術的課題は、測定領域が大
きく、かつこの領域を可変できる光学式厚さ監視装置を
実現することにある。
きく、かつこの領域を可変できる光学式厚さ監視装置を
実現することにある。
〈問題点を解決するための手段〉 本考案の構成は、光源と、この光源からの光を平行光と
するコリメートレンズと、このコリメートレンズからの
平行光を絞る可変絞りと、この可変絞りからの光を二つ
に分割するハーフミラーと、被測定物を透過した前記ハ
ーフミラーからの光が与えられた円錐ミラーと、この円
錐ミラーの周囲に同心円上に配置された内面コーンミラ
ーと、前記被測定物に関し、前記円錐ミラー及び前記内
面コーンミラーと反対側に、これらミラーと同心円上に
配置されたドーナツミラーと、前記ハーフミラーで分割
され、比較光として入射される第1の光と、前記被測定
物を透過し、前記円錐ミラー、内面コーンミラーおよび
ドーナツミラーで反射され、測定光として入射される第
2の光とが混合されて照射される光検出素子とを具備
し、この光検出素子上に形成される干渉縞から前記被測
定物の厚さを監視すると共に、前記被測定物の種類に応
じて前記可変絞りを調整し測定領域を可変できるように
したことにある。
するコリメートレンズと、このコリメートレンズからの
平行光を絞る可変絞りと、この可変絞りからの光を二つ
に分割するハーフミラーと、被測定物を透過した前記ハ
ーフミラーからの光が与えられた円錐ミラーと、この円
錐ミラーの周囲に同心円上に配置された内面コーンミラ
ーと、前記被測定物に関し、前記円錐ミラー及び前記内
面コーンミラーと反対側に、これらミラーと同心円上に
配置されたドーナツミラーと、前記ハーフミラーで分割
され、比較光として入射される第1の光と、前記被測定
物を透過し、前記円錐ミラー、内面コーンミラーおよび
ドーナツミラーで反射され、測定光として入射される第
2の光とが混合されて照射される光検出素子とを具備
し、この光検出素子上に形成される干渉縞から前記被測
定物の厚さを監視すると共に、前記被測定物の種類に応
じて前記可変絞りを調整し測定領域を可変できるように
したことにある。
〈作用〉 前記の技術手段は次のように作用する。即ち、前記光源
から出た光束は前記コリメートレンズで平行光とされ前
記ハーフミラーに入射する。このハーフミラーで2分割
された光束のうち第1の光束は前記被測定物を透過せず
前記光検出素子に向かう。第2の光束は前記被測定物を
透過し、被測定物を挟んで前記ハーフミラーと反対側に
配置された前記円錐ミラー及び前記内面コーンミラーで
反射され、再度前記被測定物に入射され、透過光は前記
ハーフミラー側の前記ドーナツミラーで反射され、三度
前記被測定物に入射され、同じ光路を辿って前記ハーフ
ミラーに戻る。前記ハーフミラーを透過した第2の光束
は第1の光束と混合され、前記検出素子上に干渉縞が形
成される。この干渉縞から前記測定物の厚さを求め、前
記可変絞りで前記光束を絞り測定領域を変化させる。
から出た光束は前記コリメートレンズで平行光とされ前
記ハーフミラーに入射する。このハーフミラーで2分割
された光束のうち第1の光束は前記被測定物を透過せず
前記光検出素子に向かう。第2の光束は前記被測定物を
透過し、被測定物を挟んで前記ハーフミラーと反対側に
配置された前記円錐ミラー及び前記内面コーンミラーで
反射され、再度前記被測定物に入射され、透過光は前記
ハーフミラー側の前記ドーナツミラーで反射され、三度
前記被測定物に入射され、同じ光路を辿って前記ハーフ
ミラーに戻る。前記ハーフミラーを透過した第2の光束
は第1の光束と混合され、前記検出素子上に干渉縞が形
成される。この干渉縞から前記測定物の厚さを求め、前
記可変絞りで前記光束を絞り測定領域を変化させる。
〈実施例〉 以下図面に従い本考案の実施例を説明する。第1図は本
考案実施例装置を示す構成図である。図中、Aは上部検
出ヘッド、Bは下部検出ヘッド、Cはこれらヘッドに挟
まれた、例えばプラスチック・フィルムのような透明な
シート状物体である。検出ヘッドA内において、7は例
えばHe−Neレーザを用いた光源、8は光源7からの
コーヒレント光を拡大するビーム・エキスパンダー、9
は光を平行光とするコリメートレンズ、10はコリメー
トレンズ9からの平行光を絞る可変絞り、11は前記平
行光を二つに分割するハーフミラー、12はこのハーフ
ミラーを透過した光を反射してハーフミラー11に戻す
ミラー、13は光検出素子、14はハーフミラー11か
らの光束が中心の開口を通り、シート状物体C側が鏡面
のドーナツミラーで、後出の円錐ミラー、並びに内面コ
ーンミラーと同心円上に配置されている。
考案実施例装置を示す構成図である。図中、Aは上部検
出ヘッド、Bは下部検出ヘッド、Cはこれらヘッドに挟
まれた、例えばプラスチック・フィルムのような透明な
シート状物体である。検出ヘッドA内において、7は例
えばHe−Neレーザを用いた光源、8は光源7からの
コーヒレント光を拡大するビーム・エキスパンダー、9
は光を平行光とするコリメートレンズ、10はコリメー
トレンズ9からの平行光を絞る可変絞り、11は前記平
行光を二つに分割するハーフミラー、12はこのハーフ
ミラーを透過した光を反射してハーフミラー11に戻す
ミラー、13は光検出素子、14はハーフミラー11か
らの光束が中心の開口を通り、シート状物体C側が鏡面
のドーナツミラーで、後出の円錐ミラー、並びに内面コ
ーンミラーと同心円上に配置されている。
検出ヘッドB内において、15はシート状物体Cの透過
光の光軸部分に設けられた45°円錐ミラー、16はこ
の円錐ミラーの周囲に同心円上に設けられた内面コーン
ミラーである。
光の光軸部分に設けられた45°円錐ミラー、16はこ
の円錐ミラーの周囲に同心円上に設けられた内面コーン
ミラーである。
次にこのように構成された装置の動作について説明す
る。検出ヘッドA,Bはシート状物体Cを挟んで対向関
係を保って、本図では図示されていないフレーム上をシ
ート状物体Cの幅方向に往復走行する。光源7から出た
コーヒレント光はビーム・エキスパンダー8により拡大
され、コリメートレンズ9で平行光とされ、可変絞り1
0を経てハーフミラー11に与えられる。ハーフミラー
11では入射光を二つの光束に分割し、第1の光束L1
はミラー12に向かう。第2の光束L2はシート状物体
Cに入射し、透過光は円錐ミラー15で4方に反射さ
れ、内面コーンミラー16で方向を変えられて、再度シ
ート状物体Cに入射する。透過光はドーナツミラー14
で反射され、三度シート状物体Cに入射され、同じ光路
を辿ってハーフミラー11に戻り、ハーフミラー11を
透過した光は第1の光束と混合されて光検出素子13に
入射される。
る。検出ヘッドA,Bはシート状物体Cを挟んで対向関
係を保って、本図では図示されていないフレーム上をシ
ート状物体Cの幅方向に往復走行する。光源7から出た
コーヒレント光はビーム・エキスパンダー8により拡大
され、コリメートレンズ9で平行光とされ、可変絞り1
0を経てハーフミラー11に与えられる。ハーフミラー
11では入射光を二つの光束に分割し、第1の光束L1
はミラー12に向かう。第2の光束L2はシート状物体
Cに入射し、透過光は円錐ミラー15で4方に反射さ
れ、内面コーンミラー16で方向を変えられて、再度シ
ート状物体Cに入射する。透過光はドーナツミラー14
で反射され、三度シート状物体Cに入射され、同じ光路
を辿ってハーフミラー11に戻り、ハーフミラー11を
透過した光は第1の光束と混合されて光検出素子13に
入射される。
光検出素子13上には第2図で示すような干渉縞が形成
される。干渉縞はシート状物体Cの厚さに関連してお
り、この干渉縞からシート状物体Cの厚さを監視でき
る。また、可変絞り10で光束を絞ることによって、干
渉縞の直径Dが変わり測定領域を変えることができる。
される。干渉縞はシート状物体Cの厚さに関連してお
り、この干渉縞からシート状物体Cの厚さを監視でき
る。また、可変絞り10で光束を絞ることによって、干
渉縞の直径Dが変わり測定領域を変えることができる。
〈考案の効果〉 本考案によれば、測定領域が大きく測定により得られる
データ量が多いため、異常検出の確度を大幅に向上でき
る。更に、前記測定領域は可変できるため前記シート状
物体の種類に応じて任意の検出精度が選べる。
データ量が多いため、異常検出の確度を大幅に向上でき
る。更に、前記測定領域は可変できるため前記シート状
物体の種類に応じて任意の検出精度が選べる。
第1図は本考案実施例装置を示す構成図、第2図は本考
案実施例装置の動作説明図、第3図は従来装置の原理構
成図である。 7:光源、8:ビーム・エキスパンダー、9:コリメー
タレンズ、10:可変絞り、11:ハーフミラー、1
2:ミラー、13:光検出素子、14:ドーナツミラ
ー、15:円錐ミラー、16:内面コーンミラー、A:
上部検出ヘッド、B:下部検出ヘッド、C……シート状
物体
案実施例装置の動作説明図、第3図は従来装置の原理構
成図である。 7:光源、8:ビーム・エキスパンダー、9:コリメー
タレンズ、10:可変絞り、11:ハーフミラー、1
2:ミラー、13:光検出素子、14:ドーナツミラ
ー、15:円錐ミラー、16:内面コーンミラー、A:
上部検出ヘッド、B:下部検出ヘッド、C……シート状
物体
Claims (1)
- 【請求項1】光源と、この光源からの光を平行光とする
コリメートレンズと、このコリメートレンズからの平行
光を絞る可変絞りと、この可変絞りからの光を二つに分
割するハーフミラーと、被測定物を透過した前記ハーフ
ミラーからの光が与えられた円錐ミラーと、この円錐ミ
ラーの周囲に同心円上に配置された内面コーンミラー
と、前記被測定物に関し、前記円錐ミラー及び前記内面
コーンミラーと反対側に、これらミラーと同心円上に配
置されたドーナツミラーと、前記ハーフミラーで分割さ
れ、比較光として入射される第1の光と、前記被測定物
を透過し、前記円錐ミラー、内面コーンミラーおよびド
ーナツミラーで反射され、測定光として入射される第2
の光とが混合されて照射される光検出素子とを具備し、
この光検出素子上に形成される干渉縞から前記被測定物
の厚さを測定すると共に、前記被測定物の種類に応じて
前記可変絞りを調整し測定領域を可変できるようにした
ことを特徴とする厚さ監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9222588U JPH0623922Y2 (ja) | 1988-07-12 | 1988-07-12 | 厚さ監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9222588U JPH0623922Y2 (ja) | 1988-07-12 | 1988-07-12 | 厚さ監視装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0214004U JPH0214004U (ja) | 1990-01-29 |
| JPH0623922Y2 true JPH0623922Y2 (ja) | 1994-06-22 |
Family
ID=31316678
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9222588U Expired - Lifetime JPH0623922Y2 (ja) | 1988-07-12 | 1988-07-12 | 厚さ監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0623922Y2 (ja) |
-
1988
- 1988-07-12 JP JP9222588U patent/JPH0623922Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0214004U (ja) | 1990-01-29 |
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