JPH06242087A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPH06242087A JPH06242087A JP5026760A JP2676093A JPH06242087A JP H06242087 A JPH06242087 A JP H06242087A JP 5026760 A JP5026760 A JP 5026760A JP 2676093 A JP2676093 A JP 2676093A JP H06242087 A JPH06242087 A JP H06242087A
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 自由曲面を有する被検体に対して、簡易な機
構でありながら高分解能でかつ高速な超音波探傷動作を
行うことを可能にする。 【構成】 Z方向に移動可能に設けられ、被検体3との
間で超音波の送受信を行う超音波探触子1を、走査手段
4によりZ方向と直交する方向に走査して被検体3から
の超音波信号を得る超音波探傷装置において、走査手段
4を被検体3に対してZ方向に移動可能に支持する支持
手段19〜21と、被検体3の表面形状に模した表面形
状を有するダミー被検体33と、ダミー被検体33の表
面形状に倣ってZ方向に上下動して走査手段4をZ方向
に移動させる倣い手段22とを設けた。
構でありながら高分解能でかつ高速な超音波探傷動作を
行うことを可能にする。 【構成】 Z方向に移動可能に設けられ、被検体3との
間で超音波の送受信を行う超音波探触子1を、走査手段
4によりZ方向と直交する方向に走査して被検体3から
の超音波信号を得る超音波探傷装置において、走査手段
4を被検体3に対してZ方向に移動可能に支持する支持
手段19〜21と、被検体3の表面形状に模した表面形
状を有するダミー被検体33と、ダミー被検体33の表
面形状に倣ってZ方向に上下動して走査手段4をZ方向
に移動させる倣い手段22とを設けた。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被検体と超音波探触子
との間で超音波を送受信しつつ、この超音波探触子を走
査することにより特定深さの被検体の超音波画像などを
得る超音波探傷装置に関する。
との間で超音波を送受信しつつ、この超音波探触子を走
査することにより特定深さの被検体の超音波画像などを
得る超音波探傷装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図4は、この種の超音波探傷装置の従来
例を示す図であって、その回路構成を示すブロック図で
ある。図4において、1は被検体3との間で超音波の送
受信を行う超音波探触子であり、この超音波探触子1は
3次元走査装置4に取り付けられている。走査装置4
は、定盤10と、この定盤10の上に固定されたフレー
ム11と、このフレーム11に取り付けられたY軸スキ
ャナ12、X軸スキャナ13およびZ軸スキャナ14と
を備えている。Y軸スキャナ12は、駆動モータ17a
の駆動力によりフレーム11に対してY方向(図4の紙
面に直交する方向)に移動可能とされ、X軸スキャナ1
3は、駆動モータ17bの駆動力によりY軸スキャナ1
2に対してX方向(図4の左右方向)に移動可能とさ
れ、さらにZ軸スキャナ14は、駆動モータ17cの駆
動力によりX軸スキャナ13に対してZ方向(図4の上
下方向)に移動可能とされている。Z軸スキャナ14に
は治具18が固設されており、この治具18の先端に上
述の超音波探触子1が取り付けられている。16は水1
5が満たされた水槽であり、その深さ方向が走査装置4
のZ方向に一致するように定盤10上に配置されてい
る。被検体3はこの水槽16内に水没した状態で配置さ
れる。
例を示す図であって、その回路構成を示すブロック図で
ある。図4において、1は被検体3との間で超音波の送
受信を行う超音波探触子であり、この超音波探触子1は
3次元走査装置4に取り付けられている。走査装置4
は、定盤10と、この定盤10の上に固定されたフレー
ム11と、このフレーム11に取り付けられたY軸スキ
ャナ12、X軸スキャナ13およびZ軸スキャナ14と
を備えている。Y軸スキャナ12は、駆動モータ17a
の駆動力によりフレーム11に対してY方向(図4の紙
面に直交する方向)に移動可能とされ、X軸スキャナ1
3は、駆動モータ17bの駆動力によりY軸スキャナ1
2に対してX方向(図4の左右方向)に移動可能とさ
れ、さらにZ軸スキャナ14は、駆動モータ17cの駆
動力によりX軸スキャナ13に対してZ方向(図4の上
下方向)に移動可能とされている。Z軸スキャナ14に
は治具18が固設されており、この治具18の先端に上
述の超音波探触子1が取り付けられている。16は水1
5が満たされた水槽であり、その深さ方向が走査装置4
のZ方向に一致するように定盤10上に配置されてい
る。被検体3はこの水槽16内に水没した状態で配置さ
れる。
【0003】2は超音波送受信部であり、パルサレシー
バ2aおよびピーク検出器2bを備える。パルサレシー
バ2aは、探触子1にパルス状の電圧を印加してこの探
触子1から被検体3に向けて超音波を照射するととも
に、探触子1で受信されて電気信号に変換された被検体
3からの反射超音波信号を増幅する。ピーク検出器2b
は、パルサレシーバ2aからの受信信号から、任意の伝
播時間内の信号のピーク値に比例した直流電圧を出力す
る。コンピュータ5は超音波探傷装置全体の制御を行
い、操作者からの指示データ等はキーボード8を介して
入力される。コンピュータ5は、コントローラ6を介し
て走査装置4の各駆動モータ17a、17b、17cを
駆動制御し、超音波探触子1を走査して被検体3の各測
定点(通常はXY平面、XZ平面あるいはYZ平面上に
存在する)からの反射超音波を受信し、測定点毎に取り
込んで画像化したデータをモニタ7に表示する。
バ2aおよびピーク検出器2bを備える。パルサレシー
バ2aは、探触子1にパルス状の電圧を印加してこの探
触子1から被検体3に向けて超音波を照射するととも
に、探触子1で受信されて電気信号に変換された被検体
3からの反射超音波信号を増幅する。ピーク検出器2b
は、パルサレシーバ2aからの受信信号から、任意の伝
播時間内の信号のピーク値に比例した直流電圧を出力す
る。コンピュータ5は超音波探傷装置全体の制御を行
い、操作者からの指示データ等はキーボード8を介して
入力される。コンピュータ5は、コントローラ6を介し
て走査装置4の各駆動モータ17a、17b、17cを
駆動制御し、超音波探触子1を走査して被検体3の各測
定点(通常はXY平面、XZ平面あるいはYZ平面上に
存在する)からの反射超音波を受信し、測定点毎に取り
込んで画像化したデータをモニタ7に表示する。
【0004】図5は、図4に適用される従来の超音波探
触子の一例を示す図である。図5に示すように、超音波
探触子1は、薄板あるいは薄膜状に形成された圧電素子
30と、この圧電素子30で発生した超音波を収束する
凹面31aが下端に形成された音響レンズ31とを備え
ている。超音波探触子1の音響レンズ31の下端から照
射される超音波ビームUBは、凹面31aの曲率で定ま
る各探触子固有の焦点距離fの位置Fで収束すべく水1
5内を伝播するが、超音波ビームUBが被検体3内に進
入するときは、被検体3と水15との音響インピーダン
スが異なることからこれらの界面で屈折し、通常は焦点
距離fより短い距離の焦点位置F′で収束する(図5に
実線で示す)。
触子の一例を示す図である。図5に示すように、超音波
探触子1は、薄板あるいは薄膜状に形成された圧電素子
30と、この圧電素子30で発生した超音波を収束する
凹面31aが下端に形成された音響レンズ31とを備え
ている。超音波探触子1の音響レンズ31の下端から照
射される超音波ビームUBは、凹面31aの曲率で定ま
る各探触子固有の焦点距離fの位置Fで収束すべく水1
5内を伝播するが、超音波ビームUBが被検体3内に進
入するときは、被検体3と水15との音響インピーダン
スが異なることからこれらの界面で屈折し、通常は焦点
距離fより短い距離の焦点位置F′で収束する(図5に
実線で示す)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の超音波探傷装置にあっては、被検体3の表面と
探触子1との間の距離(水距離)が変動するとこれに連
れて超音波ビームの焦点位置も変動し、超音波画像が不
鮮明になる等して分解能の劣化を招く、という問題があ
った。すなわち、近年、航空機等に用いられる3次元曲
面を有する複合材料の材料特性の測定に超音波探傷装置
が適用されつつあり、このような3次元曲面を有する材
料を測定すると、超音波探触子1がXY平面に沿って走
査された場合でも、被検体3の表面位置が各測定点で異
なるために被検体3の表面と超音波探触子1との間の距
離は必ずしも一定しない。このような場合、上述のごと
く超音波ビームUBが被検体3内に進入するときは、被
検体3と水15との音響インピーダンス差に基づく屈折
により超音波ビームUBは位置F′に収束され、被検体
3の表面と探触子1との間の距離が変動すると被検体3
への入射角がこれに連れて変動し、焦点位置F′も変動
する。そして、焦点位置が変動すると超音波画像が不鮮
明になる等して分解能の劣化を招くおそれがある。な
お、図5において被検体3の表面と焦点位置Fとが一致
する場合を二点鎖線で示す。
た従来の超音波探傷装置にあっては、被検体3の表面と
探触子1との間の距離(水距離)が変動するとこれに連
れて超音波ビームの焦点位置も変動し、超音波画像が不
鮮明になる等して分解能の劣化を招く、という問題があ
った。すなわち、近年、航空機等に用いられる3次元曲
面を有する複合材料の材料特性の測定に超音波探傷装置
が適用されつつあり、このような3次元曲面を有する材
料を測定すると、超音波探触子1がXY平面に沿って走
査された場合でも、被検体3の表面位置が各測定点で異
なるために被検体3の表面と超音波探触子1との間の距
離は必ずしも一定しない。このような場合、上述のごと
く超音波ビームUBが被検体3内に進入するときは、被
検体3と水15との音響インピーダンス差に基づく屈折
により超音波ビームUBは位置F′に収束され、被検体
3の表面と探触子1との間の距離が変動すると被検体3
への入射角がこれに連れて変動し、焦点位置F′も変動
する。そして、焦点位置が変動すると超音波画像が不鮮
明になる等して分解能の劣化を招くおそれがある。な
お、図5において被検体3の表面と焦点位置Fとが一致
する場合を二点鎖線で示す。
【0006】このため、従来の超音波探傷装置にあって
は、凹面31aの曲率が小さくて焦点距離の長い探触子
1を使用することにより被検体3への入射角を小さく
し、被検体3の表面と探触子1との間の距離が変動して
も焦点位置が大きく変動しないようにしていた。しかし
ながら、焦点距離が長い探触子は分解能が本来的に低い
ため、結果として本質的な解決策となっていない。
は、凹面31aの曲率が小さくて焦点距離の長い探触子
1を使用することにより被検体3への入射角を小さく
し、被検体3の表面と探触子1との間の距離が変動して
も焦点位置が大きく変動しないようにしていた。しかし
ながら、焦点距離が長い探触子は分解能が本来的に低い
ため、結果として本質的な解決策となっていない。
【0007】焦点距離が短くて分解能が高い探触子を使
用しつつ、超音波画像の不鮮明化等を防止する手法とし
ては、被検体3の表面と探触子1との間の距離を常に一
定に保持しつつ超音波探触子1を走査する手法が挙げら
れる。被検体3の表面と探触子1との間の距離を測定し
てこれを一定に保持する技術としては、例えば実開昭59
ー166164号公報、実開昭59ー194063号公報などに開示され
た技術がある。しかしながら、これら従来技術にあって
は、超音波により被検体と探触子との間の距離を測定
し、この距離が一定となるように被検体または探触子を
移動制御するものであるため、超音波探触子の走査機構
に加えて被検体または探触子の移動制御機構が加わり、
制御手順、機構が複雑になるとともに被検体の高速走査
が困難である、という問題があった。
用しつつ、超音波画像の不鮮明化等を防止する手法とし
ては、被検体3の表面と探触子1との間の距離を常に一
定に保持しつつ超音波探触子1を走査する手法が挙げら
れる。被検体3の表面と探触子1との間の距離を測定し
てこれを一定に保持する技術としては、例えば実開昭59
ー166164号公報、実開昭59ー194063号公報などに開示され
た技術がある。しかしながら、これら従来技術にあって
は、超音波により被検体と探触子との間の距離を測定
し、この距離が一定となるように被検体または探触子を
移動制御するものであるため、超音波探触子の走査機構
に加えて被検体または探触子の移動制御機構が加わり、
制御手順、機構が複雑になるとともに被検体の高速走査
が困難である、という問題があった。
【0008】本発明の目的は、自由曲面を有する被検体
に対して簡易な機構でありながら高分解能でかつ高速な
超音波探傷動作を行うことの可能な超音波探傷装置を提
供することにある。
に対して簡易な機構でありながら高分解能でかつ高速な
超音波探傷動作を行うことの可能な超音波探傷装置を提
供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】一実施例を示す図1およ
び図3に対応付けて説明すると、請求項1の発明は、Z
方向に移動可能に設けられ、被検体3との間で超音波の
送受信を行う超音波探触子1を、走査手段4により前記
Z方向と直交する方向に走査して前記被検体3からの超
音波信号を得る超音波探傷装置に適用される。そして、
上述の目的は、前記走査手段4を前記被検体3に対して
Z方向に移動可能に支持する支持手段19、20、21
と、前記被検体3の表面形状に模した表面形状を有する
ダミー被検体33と、前記ダミー被検体33の表面形状
に倣って前記Z方向に上下動して前記走査手段4をZ方
向に移動させる倣い手段22とを設けることにより達成
される。また、請求項2の発明は、前記被検体3の表面
形状に模した表面形状を有するダミー被検体33と、前
記ダミー被検体33の表面形状に応じた倣い信号を出力
する倣い信号出力手段24と、前記倣い信号出力手段2
4から出力される倣い信号に基づいて、前記超音波探触
子1と前記被検体3の表面との間の距離が略所定値とな
るように前記超音波探触子1を移動させる移動手段14
とを設けることにより上述の目的を達成する。
び図3に対応付けて説明すると、請求項1の発明は、Z
方向に移動可能に設けられ、被検体3との間で超音波の
送受信を行う超音波探触子1を、走査手段4により前記
Z方向と直交する方向に走査して前記被検体3からの超
音波信号を得る超音波探傷装置に適用される。そして、
上述の目的は、前記走査手段4を前記被検体3に対して
Z方向に移動可能に支持する支持手段19、20、21
と、前記被検体3の表面形状に模した表面形状を有する
ダミー被検体33と、前記ダミー被検体33の表面形状
に倣って前記Z方向に上下動して前記走査手段4をZ方
向に移動させる倣い手段22とを設けることにより達成
される。また、請求項2の発明は、前記被検体3の表面
形状に模した表面形状を有するダミー被検体33と、前
記ダミー被検体33の表面形状に応じた倣い信号を出力
する倣い信号出力手段24と、前記倣い信号出力手段2
4から出力される倣い信号に基づいて、前記超音波探触
子1と前記被検体3の表面との間の距離が略所定値とな
るように前記超音波探触子1を移動させる移動手段14
とを設けることにより上述の目的を達成する。
【0010】
−請求項1− 倣い手段22は、ダミー被検体33の表面形状に倣って
Z方向に上下動し、この上下動により走査手段4をZ方
向に移動させる。走査手段4のZ方向への移動に伴って
超音波探触子1もZ方向に移動し、これにより、超音波
探触子1がダミー被検体33、すなわち被検体3の表面
形状に倣ってZ方向に上下動する。 −請求項2− 移動手段14は、倣い信号出力手段24が出力するダミ
ー被検体33の表面形状に応じた倣い信号に基づき、超
音波探触子1と被検体3の表面との間の距離が略所定値
となるように前記超音波探触子1を移動させる。
Z方向に上下動し、この上下動により走査手段4をZ方
向に移動させる。走査手段4のZ方向への移動に伴って
超音波探触子1もZ方向に移動し、これにより、超音波
探触子1がダミー被検体33、すなわち被検体3の表面
形状に倣ってZ方向に上下動する。 −請求項2− 移動手段14は、倣い信号出力手段24が出力するダミ
ー被検体33の表面形状に応じた倣い信号に基づき、超
音波探触子1と被検体3の表面との間の距離が略所定値
となるように前記超音波探触子1を移動させる。
【0011】なお、本発明の構成を説明する上記課題を
解決するための手段と作用の項では、本発明を分かり易
くするために実施例の図を用いたが、これにより本発明
が実施例に限定されるものではない。
解決するための手段と作用の項では、本発明を分かり易
くするために実施例の図を用いたが、これにより本発明
が実施例に限定されるものではない。
【0012】
−第1実施例− 図1は、本発明による超音波探傷装置の第1実施例を示
す図であって、その全体構成を示す図である。なお、以
下の説明において、従来例と同様の機能、作用を有する
構成要素については同一の符号を付してその説明を簡略
化する。
す図であって、その全体構成を示す図である。なお、以
下の説明において、従来例と同様の機能、作用を有する
構成要素については同一の符号を付してその説明を簡略
化する。
【0013】本実施例においても、超音波探触子1は3
次元走査装置4の治具18の先端に取り付けられてお
り、この走査装置4は、定盤10の上に設けられた1対
のフレーム11と、これらフレーム11の間に図中Y方
向に移動可能に架設されたY軸スキャナ12と、Y軸ス
キャナ12の上に図中X方向に移動可能に載置されたX
軸スキャナ13と、このX軸スキャナ13に設けられ、
治具18を図中Z方向に移動可能に支持するZ軸スキャ
ナ14とを備えている。しかし、本実施例では、フレー
ム11がスプリング19およびダンパ20を介して定盤
10の上に支持されており、かつ、各フレーム11の側
方に設けられた一対のガイド機構21(図1では一方の
み図示)により図中Z方向にのみ移動が許容されてい
る。これにより、各フレーム11は定盤10に対してZ
方向にのみ移動し、かつ、スプリング19およびダンパ
20により微動、振動が減衰される。任意の3次元自由
曲面を有する被検体3は、従来例と同様に水15が満た
された水槽16内に配置されている。
次元走査装置4の治具18の先端に取り付けられてお
り、この走査装置4は、定盤10の上に設けられた1対
のフレーム11と、これらフレーム11の間に図中Y方
向に移動可能に架設されたY軸スキャナ12と、Y軸ス
キャナ12の上に図中X方向に移動可能に載置されたX
軸スキャナ13と、このX軸スキャナ13に設けられ、
治具18を図中Z方向に移動可能に支持するZ軸スキャ
ナ14とを備えている。しかし、本実施例では、フレー
ム11がスプリング19およびダンパ20を介して定盤
10の上に支持されており、かつ、各フレーム11の側
方に設けられた一対のガイド機構21(図1では一方の
み図示)により図中Z方向にのみ移動が許容されてい
る。これにより、各フレーム11は定盤10に対してZ
方向にのみ移動し、かつ、スプリング19およびダンパ
20により微動、振動が減衰される。任意の3次元自由
曲面を有する被検体3は、従来例と同様に水15が満た
された水槽16内に配置されている。
【0014】定盤10上には、水槽16の底面と平行な
上面を有するテーブル23が設けられ、このテーブル2
3上には、水槽16内に配置された被検体3の表面形状
と全く同一の表面形状を有するダミー被検体33が配置
されている。テーブル23の上面の広さは、少なくとも
走査装置4によるXY平面上の最大走査範囲よりも広く
形成されている。
上面を有するテーブル23が設けられ、このテーブル2
3上には、水槽16内に配置された被検体3の表面形状
と全く同一の表面形状を有するダミー被検体33が配置
されている。テーブル23の上面の広さは、少なくとも
走査装置4によるXY平面上の最大走査範囲よりも広く
形成されている。
【0015】一方、X軸スキャナ13からは、その先端
部22aがテーブル23に向かって延びる探針22が突
設されている。探針22は、X軸スキャナ13からX方
向に略水平に延出する腕部22bと、この腕部22bの
先端からZ方向に下降する検出部22cとからなる。検
出部22cは、図2に示すように内ロッド40に外管4
1が外嵌されることにより外管41が内ロッド40に対
して所定範囲だけ伸縮可能に構成されている。外管41
内にはスプリング42が配設されている。内ロッド40
には、その長手方向に沿ってスリット40aが形成され
る一方、外管41にはスリット40aを臨む位置に貫通
孔41aが形成され、これらスリット40aおよび貫通
孔41aを通ってボルト43が貫通されてナット44で
緊締、固定されることにより内ロッド40に対する外管
41の伸縮位置が固定可能に構成されている。また、探
針22の先端部22aは後述のごとくダミー被検体33
の表面上を摺動するため、ローラ等の転動手段、あるい
はテフロン(登録商標)加工等の摩擦低減手段が設けら
れていることが好ましい。
部22aがテーブル23に向かって延びる探針22が突
設されている。探針22は、X軸スキャナ13からX方
向に略水平に延出する腕部22bと、この腕部22bの
先端からZ方向に下降する検出部22cとからなる。検
出部22cは、図2に示すように内ロッド40に外管4
1が外嵌されることにより外管41が内ロッド40に対
して所定範囲だけ伸縮可能に構成されている。外管41
内にはスプリング42が配設されている。内ロッド40
には、その長手方向に沿ってスリット40aが形成され
る一方、外管41にはスリット40aを臨む位置に貫通
孔41aが形成され、これらスリット40aおよび貫通
孔41aを通ってボルト43が貫通されてナット44で
緊締、固定されることにより内ロッド40に対する外管
41の伸縮位置が固定可能に構成されている。また、探
針22の先端部22aは後述のごとくダミー被検体33
の表面上を摺動するため、ローラ等の転動手段、あるい
はテフロン(登録商標)加工等の摩擦低減手段が設けら
れていることが好ましい。
【0016】水槽16の底面とテーブル23の上面とに
はそれぞれ同一ピッチの桝目が形成されており、かつ、
探触子1のXY座標値と探針22の先端部22aの位置
との対応をつけるための手段、たとえばXY座標値の目
盛がテーブル23の上面に形成されている。
はそれぞれ同一ピッチの桝目が形成されており、かつ、
探触子1のXY座標値と探針22の先端部22aの位置
との対応をつけるための手段、たとえばXY座標値の目
盛がテーブル23の上面に形成されている。
【0017】なお、超音波送受信部2、コンピュータ
5、コントローラ6、モニタ7、キーボード8および駆
動モータ17a〜17cの構成は従来例とほぼ同様であ
るためその説明を省略する。
5、コントローラ6、モニタ7、キーボード8および駆
動モータ17a〜17cの構成は従来例とほぼ同様であ
るためその説明を省略する。
【0018】次に、図1を参照して、本実施例の超音波
探傷装置による被検体の探傷動作を説明する。なお、以
下に説明する被検体の探傷は、XY平面上の複数の測定
点からのデータを収集することにより行われる。
探傷装置による被検体の探傷動作を説明する。なお、以
下に説明する被検体の探傷は、XY平面上の複数の測定
点からのデータを収集することにより行われる。
【0019】まず、図1に示すように、水槽16の底面
の所定位置上に被検体3を配置するとともに、これに対
応するテーブル23上の所定位置にダミー被検体33を
配置する。さらに、探針22の検出部22c、すなわち
外管41を伸縮させて先端部22aをダミー被検体33
の表面に当接させ、この状態で検出部22cの伸縮位置
をボルト43、ナット44(図1では不図示)により固
定する。検出部22cの伸縮位置は、フレーム11、各
軸スキャナ12〜14の自重によりスプリング19が撓
んだつりあい位置において探針22の先端部22aがダ
ミー被検体33の最も窪んだ位置よりも下方に位置する
ように定められる。これにより、後述のごとく、ダミー
被検体33の最も窪んだ位置にも探針22の検出部22
cが当接可能となる。この後、駆動モータ17a、17
bを駆動してX軸スキャナ13およびY軸スキャナ12
により探触子1を検査開始位置まで移動させる。
の所定位置上に被検体3を配置するとともに、これに対
応するテーブル23上の所定位置にダミー被検体33を
配置する。さらに、探針22の検出部22c、すなわち
外管41を伸縮させて先端部22aをダミー被検体33
の表面に当接させ、この状態で検出部22cの伸縮位置
をボルト43、ナット44(図1では不図示)により固
定する。検出部22cの伸縮位置は、フレーム11、各
軸スキャナ12〜14の自重によりスプリング19が撓
んだつりあい位置において探針22の先端部22aがダ
ミー被検体33の最も窪んだ位置よりも下方に位置する
ように定められる。これにより、後述のごとく、ダミー
被検体33の最も窪んだ位置にも探針22の検出部22
cが当接可能となる。この後、駆動モータ17a、17
bを駆動してX軸スキャナ13およびY軸スキャナ12
により探触子1を検査開始位置まで移動させる。
【0020】次いで、駆動モータ17cを駆動してZ軸
スキャナ14により探触子1をZ方向に下降させつつ、
目的とする表面深さの位置に探触子1の焦点位置が設定
されたか否かをモニタ7に表示される超音波信号を操作
者が観察して確認することにより、被検体3の表面と探
触子1との間の距離(水距離)を調整、設定する。この
後、焦点位置に相当する伝播時間(遅延時間)近傍の超
音波信号のピーク値を検出できるようにピーク検出器2
bを設定する。
スキャナ14により探触子1をZ方向に下降させつつ、
目的とする表面深さの位置に探触子1の焦点位置が設定
されたか否かをモニタ7に表示される超音波信号を操作
者が観察して確認することにより、被検体3の表面と探
触子1との間の距離(水距離)を調整、設定する。この
後、焦点位置に相当する伝播時間(遅延時間)近傍の超
音波信号のピーク値を検出できるようにピーク検出器2
bを設定する。
【0021】さらに、操作者はキーボード8を介してコ
ンピュータ5にXY平面走査指令を送り、コンピュータ
5は、コントローラ6を介して駆動モータ17a、17
bを駆動し、X軸スキャナ13およびY軸スキャナ12
を介して探触子1をXY平面に沿って移動させる。
ンピュータ5にXY平面走査指令を送り、コンピュータ
5は、コントローラ6を介して駆動モータ17a、17
bを駆動し、X軸スキャナ13およびY軸スキャナ12
を介して探触子1をXY平面に沿って移動させる。
【0022】探触子1の移動に伴ってY軸スキャナ12
に突設された探針22も移動し、探針22の先端部22
aが接触しているダミー被検体33の表面位置に倣って
Z方向に上下動する。したがって、X軸スキャナ13、
Y軸スキャナ12およびZ軸スキャナ14は、探針22
の上下動の変位と等しい変位をもってZ方向に上下動
し、Z軸スキャナ14の治具18に固定された探触子1
もこれに連れて上下動する。ダミー被検体33は、水槽
16の底面上にある被検体3の位置に対応するテーブル
23上の位置に配置されているので、探触子1のZ方向
の上下動は水槽16内の被検体3の表面位置に倣ったも
のになる。よって、探触子1は被検体3の3次元自由曲
面に沿って移動し、探触子1と被検体3の表面との間の
距離が一定に保持されて探触子1の焦点位置は被検体3
の表面から一定深さの位置に維持される。
に突設された探針22も移動し、探針22の先端部22
aが接触しているダミー被検体33の表面位置に倣って
Z方向に上下動する。したがって、X軸スキャナ13、
Y軸スキャナ12およびZ軸スキャナ14は、探針22
の上下動の変位と等しい変位をもってZ方向に上下動
し、Z軸スキャナ14の治具18に固定された探触子1
もこれに連れて上下動する。ダミー被検体33は、水槽
16の底面上にある被検体3の位置に対応するテーブル
23上の位置に配置されているので、探触子1のZ方向
の上下動は水槽16内の被検体3の表面位置に倣ったも
のになる。よって、探触子1は被検体3の3次元自由曲
面に沿って移動し、探触子1と被検体3の表面との間の
距離が一定に保持されて探触子1の焦点位置は被検体3
の表面から一定深さの位置に維持される。
【0023】特に、本実施例では、フレーム11、各軸
スキャナ12〜14の自重によりスプリング19が撓ん
だつりあい位置において探針22の先端部22aがダミ
ー被検体33の最も窪んだ位置よりも下方に位置するよ
うに検出部22cの伸縮位置が定められているので、探
針22の先端部22aがダミー被検体33の表面に当接
している状態ではスプリング19が伸長され、その反発
力により探針22には下向きの力が作用する。そして、
この力は走査動作を通じて探針22に作用するため、探
針22の先端部22aは常にダミー被検体33の表面に
押圧された状態にあり、ダミー被検体33の表面位置が
上下に大きく変化してもこれに追従することが可能とな
る。
スキャナ12〜14の自重によりスプリング19が撓ん
だつりあい位置において探針22の先端部22aがダミ
ー被検体33の最も窪んだ位置よりも下方に位置するよ
うに検出部22cの伸縮位置が定められているので、探
針22の先端部22aがダミー被検体33の表面に当接
している状態ではスプリング19が伸長され、その反発
力により探針22には下向きの力が作用する。そして、
この力は走査動作を通じて探針22に作用するため、探
針22の先端部22aは常にダミー被検体33の表面に
押圧された状態にあり、ダミー被検体33の表面位置が
上下に大きく変化してもこれに追従することが可能とな
る。
【0024】したがって、本実施例によれば、探針22
がダミー被検体33の表面位置に倣って上下動する力を
直接各軸スキャナ12〜14の上下動に利用し、これら
各軸スキャナ12〜14の上下動により探触子1と被検
体3の表面との間の距離を一定に保持しているので、上
述した従来技術のように探触子1の位置制御機構を走査
機構と別に設ける必要がなく、あるいはZ軸スキャナ1
4を探触子1の位置制御に用いる必要がないため、制御
手順、機構が簡易で従来の3次元走査装置4を流用する
ことができるとともに、被検体3の高速走査が可能とな
る。加えて、探触子1と被検体3の表面との間の距離を
常に一定に保持できるので、焦点距離が短く分解能が高
い探触子の適用が可能となり、これにより、簡易な機構
により自由曲面を有する被検体に対して高分解能でかつ
高速な超音波探傷動作を行うことができる。
がダミー被検体33の表面位置に倣って上下動する力を
直接各軸スキャナ12〜14の上下動に利用し、これら
各軸スキャナ12〜14の上下動により探触子1と被検
体3の表面との間の距離を一定に保持しているので、上
述した従来技術のように探触子1の位置制御機構を走査
機構と別に設ける必要がなく、あるいはZ軸スキャナ1
4を探触子1の位置制御に用いる必要がないため、制御
手順、機構が簡易で従来の3次元走査装置4を流用する
ことができるとともに、被検体3の高速走査が可能とな
る。加えて、探触子1と被検体3の表面との間の距離を
常に一定に保持できるので、焦点距離が短く分解能が高
い探触子の適用が可能となり、これにより、簡易な機構
により自由曲面を有する被検体に対して高分解能でかつ
高速な超音波探傷動作を行うことができる。
【0025】−第2実施例− 図3は、本発明による超音波探傷装置の第2実施例を示
す図であって、その全体構成を示す図である。なお、以
下の説明では第1実施例と第2実施例との相違点につい
て主に説明し、共通する部分についてはその説明を簡略
化する。
す図であって、その全体構成を示す図である。なお、以
下の説明では第1実施例と第2実施例との相違点につい
て主に説明し、共通する部分についてはその説明を簡略
化する。
【0026】本実施例では、探針22の検出部22cの
伸縮位置を固定するボルト43、ナット44が省略され
ているかわりに、この検出部22cのZ方向の伸縮を検
出する変位センサ24が設けられている。変位センサ2
4は周知の構成、たとえばリニアエンコーダやロータリ
ーエンコーダなどを備え、内ロッド40に対する外管4
1のZ方向の変位、すなわち伸縮量が測定可能なもので
あればその構成に限定はない。変位センサ24の検出信
号は変換器25を介してコンピュータ5に入力される。
また、本実施例ではスプリング19およびダンパ20が
省略され、フレーム11は定盤10上に固設されてい
る。
伸縮位置を固定するボルト43、ナット44が省略され
ているかわりに、この検出部22cのZ方向の伸縮を検
出する変位センサ24が設けられている。変位センサ2
4は周知の構成、たとえばリニアエンコーダやロータリ
ーエンコーダなどを備え、内ロッド40に対する外管4
1のZ方向の変位、すなわち伸縮量が測定可能なもので
あればその構成に限定はない。変位センサ24の検出信
号は変換器25を介してコンピュータ5に入力される。
また、本実施例ではスプリング19およびダンパ20が
省略され、フレーム11は定盤10上に固設されてい
る。
【0027】次に、図3を参照して、本実施例の超音波
探傷装置による被検体の探傷動作を説明する。まず、上
述の第1実施例と同様に、被検体3およびダミー被検体
33を対応位置にそれぞれ配置した後、駆動モータ17
a、17bを駆動してX軸スキャナ13およびY軸スキ
ャナ12により探触子1を検査開始位置まで移動させ
る。なお、本実施例では検出部22cの固定機構、すな
わちボルト43、ナット44が省略されているので、検
出部22cの外管41は自由に伸縮し、探触子1が検査
開始位置まで移動された状態では探針22の先端部22
aはダミー被検体33の表面に当接している。
探傷装置による被検体の探傷動作を説明する。まず、上
述の第1実施例と同様に、被検体3およびダミー被検体
33を対応位置にそれぞれ配置した後、駆動モータ17
a、17bを駆動してX軸スキャナ13およびY軸スキ
ャナ12により探触子1を検査開始位置まで移動させ
る。なお、本実施例では検出部22cの固定機構、すな
わちボルト43、ナット44が省略されているので、検
出部22cの外管41は自由に伸縮し、探触子1が検査
開始位置まで移動された状態では探針22の先端部22
aはダミー被検体33の表面に当接している。
【0028】次いで、Z軸スキャナ14により探触子1
をZ方向に下降させつつ、探触子1の焦点位置を操作者
が確認することにより、被検体3の表面と探触子1との
間の距離(水距離)を調整、設定する。この後、焦点位
置に相当する伝播時間(遅延時間)近傍の超音波信号の
ピーク値を検出できるようにピーク検出器2bを設定す
る。
をZ方向に下降させつつ、探触子1の焦点位置を操作者
が確認することにより、被検体3の表面と探触子1との
間の距離(水距離)を調整、設定する。この後、焦点位
置に相当する伝播時間(遅延時間)近傍の超音波信号の
ピーク値を検出できるようにピーク検出器2bを設定す
る。
【0029】さらに、操作者はキーボード8を介してコ
ンピュータ5にXY平面走査指令を送り、コンピュータ
5は、コントローラ6を介して駆動モータ17a、17
bを駆動し、X軸スキャナ13およびY軸スキャナ12
を介して探触子1をXY平面に沿って移動させる。探触
子1の移動に伴ってY軸スキャナ12に突設された探針
22も移動し、探針22の先端部22aが接触している
ダミー被検体33の表面位置に倣って検出部22cがZ
方向に伸縮する。検出部22cの伸縮は変位センサ24
により検出され、伸縮量が変換器25を介してコンピュ
ータ5に入力される。コンピュータ5は、変位センサ2
4の検出信号に基づき、探触子1と被検体3の表面との
間の距離が一定になるように駆動モータ17cに指令を
発し、Z軸スキャナ14を介して探触子1をZ方向に移
動させる。一例として、検出部22cの伸縮量がΔ(Δ
は正負いずれの値をもとる)であるとすれば、探触子1
のZ方向の移動量もΔとなるように駆動モータ17cに
指令を発すればよい。探触子1のZ方向の移動により、
探触子1は被検体3の3次元自由曲面に沿って移動し、
探触子1と被検体3の表面との間の距離が一定に保持さ
れて探触子1の焦点位置は被検体3の表面から一定深さ
の位置に維持される。
ンピュータ5にXY平面走査指令を送り、コンピュータ
5は、コントローラ6を介して駆動モータ17a、17
bを駆動し、X軸スキャナ13およびY軸スキャナ12
を介して探触子1をXY平面に沿って移動させる。探触
子1の移動に伴ってY軸スキャナ12に突設された探針
22も移動し、探針22の先端部22aが接触している
ダミー被検体33の表面位置に倣って検出部22cがZ
方向に伸縮する。検出部22cの伸縮は変位センサ24
により検出され、伸縮量が変換器25を介してコンピュ
ータ5に入力される。コンピュータ5は、変位センサ2
4の検出信号に基づき、探触子1と被検体3の表面との
間の距離が一定になるように駆動モータ17cに指令を
発し、Z軸スキャナ14を介して探触子1をZ方向に移
動させる。一例として、検出部22cの伸縮量がΔ(Δ
は正負いずれの値をもとる)であるとすれば、探触子1
のZ方向の移動量もΔとなるように駆動モータ17cに
指令を発すればよい。探触子1のZ方向の移動により、
探触子1は被検体3の3次元自由曲面に沿って移動し、
探触子1と被検体3の表面との間の距離が一定に保持さ
れて探触子1の焦点位置は被検体3の表面から一定深さ
の位置に維持される。
【0030】したがって、本実施例によれば、ダミー被
検体33の表面位置に倣って伸縮する探針22の検出部
22cの伸縮量を変位センサ24により検出し、探触子
1と被検体3の表面との間の距離が一定になるようにZ
軸スキャナ14を駆動制御しているので、上述した従来
技術のように探触子の位置制御機構を走査機構と別に設
ける必要がなく、制御手順、機構が簡易で従来の3次元
走査装置4を流用することができるとともに、被検体3
の高速走査が可能となる。加えて、探触子1と被検体3
の表面との間の距離を常に一定に保持できるので、焦点
距離が短く分解能が高い探触子の適用が可能となり、こ
れにより、簡易な機構により自由曲面を有する被検体に
対して高分解能でかつ高速な超音波探傷動作を行うこと
ができる。
検体33の表面位置に倣って伸縮する探針22の検出部
22cの伸縮量を変位センサ24により検出し、探触子
1と被検体3の表面との間の距離が一定になるようにZ
軸スキャナ14を駆動制御しているので、上述した従来
技術のように探触子の位置制御機構を走査機構と別に設
ける必要がなく、制御手順、機構が簡易で従来の3次元
走査装置4を流用することができるとともに、被検体3
の高速走査が可能となる。加えて、探触子1と被検体3
の表面との間の距離を常に一定に保持できるので、焦点
距離が短く分解能が高い探触子の適用が可能となり、こ
れにより、簡易な機構により自由曲面を有する被検体に
対して高分解能でかつ高速な超音波探傷動作を行うこと
ができる。
【0031】以上説明した実施例と請求の範囲との対応
において、走査装置4は走査手段を、スプリング19、
ダンパ20およびガイド機構21は支持手段を、探針2
2は倣い手段を、変位センサ24は倣い信号出力手段
を、Z軸スキャナ14は移動手段をそれぞれ構成してい
る。
において、走査装置4は走査手段を、スプリング19、
ダンパ20およびガイド機構21は支持手段を、探針2
2は倣い手段を、変位センサ24は倣い信号出力手段
を、Z軸スキャナ14は移動手段をそれぞれ構成してい
る。
【0032】なお、本発明の超音波探傷装置は、その細
部が上述の各実施例に限定されず、種々の変形が可能で
ある。一例として、探針22の形状、構成は各実施例の
それに限定されず、ダミー被検体33の表面形状に倣っ
てZ方向に上下動するものであればよい。また、第2実
施例においては、非接触型センサなどによりダミー被検
体33の表面形状を実時間的に計測し、これをZ軸スキ
ャナ14の駆動制御に用いることもできる。
部が上述の各実施例に限定されず、種々の変形が可能で
ある。一例として、探針22の形状、構成は各実施例の
それに限定されず、ダミー被検体33の表面形状に倣っ
てZ方向に上下動するものであればよい。また、第2実
施例においては、非接触型センサなどによりダミー被検
体33の表面形状を実時間的に計測し、これをZ軸スキ
ャナ14の駆動制御に用いることもできる。
【0033】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、被検体の表面形状に模した表面形状を有するダミ
ー被検体の表面形状に倣って、走査手段あるいは探触子
をZ方向に移動させて探触子と被検体の表面との間の距
離を略所定値に保持しているので、上述した従来技術の
ように探触子の位置制御手段を走査手段と別に設ける必
要がなく、制御手順、機構が簡易で従来の走査装置を流
用することができるとともに、被検体の高速走査が可能
となる。加えて、探触子と被検体の表面との間の距離を
常に略所定値に保持できるので、焦点距離が短く分解能
が高い探触子の適用が可能となり、これにより、簡易な
機構により自由曲面を有する被検体に対して高分解能で
かつ高速な超音波探傷動作を行うことができる。
れば、被検体の表面形状に模した表面形状を有するダミ
ー被検体の表面形状に倣って、走査手段あるいは探触子
をZ方向に移動させて探触子と被検体の表面との間の距
離を略所定値に保持しているので、上述した従来技術の
ように探触子の位置制御手段を走査手段と別に設ける必
要がなく、制御手順、機構が簡易で従来の走査装置を流
用することができるとともに、被検体の高速走査が可能
となる。加えて、探触子と被検体の表面との間の距離を
常に略所定値に保持できるので、焦点距離が短く分解能
が高い探触子の適用が可能となり、これにより、簡易な
機構により自由曲面を有する被検体に対して高分解能で
かつ高速な超音波探傷動作を行うことができる。
【図1】本発明の第1実施例である超音波探傷装置の全
体構成を示す図である。
体構成を示す図である。
【図2】探針の検出部の詳細を示す一部断面正面図であ
る。
る。
【図3】本発明の第2実施例である超音波探傷装置の全
体構成を示す図である。
体構成を示す図である。
【図4】従来の超音波探傷装置の一例の回路構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図5】超音波探触子の概略構成を示す断面図である。
1 探触子 3 被検体 4 走査装置 10 定盤 11 フレーム 12 Y軸スキャナ 13 X軸スキャナ 14 Z軸スキャナ 15 水 16 水槽 17a、17b、17c 駆動モータ 19 スプリング 20 ダンパ 21 ガイド機構 22 探針 22a 先端部 22b 腕部 22c 検出部 23 テーブル 24 変位センサ 33 ダミー被検体
Claims (2)
- 【請求項1】 Z方向に移動可能に設けられ、被検体と
の間で超音波の送受信を行う超音波探触子を、走査手段
により前記Z方向と直交する方向に走査して前記被検体
からの超音波信号を得る超音波探傷装置において、 前記走査手段を前記被検体に対してZ方向に移動可能に
支持する支持手段と、 前記被検体の表面形状に模した表面形状を有するダミー
被検体と、 前記ダミー被検体の表面形状に倣って前記Z方向に上下
動して前記走査手段をZ方向に移動させる倣い手段とを
備えたことを特徴とする超音波探傷装置。 - 【請求項2】 Z方向に移動可能に設けられ、被検体と
の間で超音波の送受信を行う超音波探触子を、走査手段
により前記Z方向と直交する方向に走査して前記被検体
からの超音波信号を得る超音波探傷装置において、 前記被検体の表面形状に模した表面形状を有するダミー
被検体と、 前記ダミー被検体の表面形状に応じた倣い信号を出力す
る倣い信号出力手段と、 前記倣い信号出力手段から出力される倣い信号に基づい
て、前記超音波探触子と前記被検体の表面との間の距離
が略所定値となるように前記超音波探触子を移動させる
移動手段とを備えたことを特徴とする超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5026760A JPH06242087A (ja) | 1993-02-16 | 1993-02-16 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5026760A JPH06242087A (ja) | 1993-02-16 | 1993-02-16 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06242087A true JPH06242087A (ja) | 1994-09-02 |
Family
ID=12202245
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5026760A Pending JPH06242087A (ja) | 1993-02-16 | 1993-02-16 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06242087A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009051242A1 (ja) | 2007-10-19 | 2009-04-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 倣い装置 |
| WO2009051241A1 (ja) | 2007-10-19 | 2009-04-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 倣い装置 |
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