JPH06242148A - インパルス電圧測定装置 - Google Patents
インパルス電圧測定装置Info
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- JPH06242148A JPH06242148A JP5054687A JP5468793A JPH06242148A JP H06242148 A JPH06242148 A JP H06242148A JP 5054687 A JP5054687 A JP 5054687A JP 5468793 A JP5468793 A JP 5468793A JP H06242148 A JPH06242148 A JP H06242148A
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- 230000004044 response Effects 0.000 claims abstract description 31
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 14
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- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 無誘導抵抗体各部における対地容量を無視で
きる程度に抑えて、応答特性を大きく向上する。 【構成】 高圧接続線２を通して、インパルス電圧が印
加される電圧分圧用の円筒状の無誘導抵抗体１１と、該
無誘導抵抗体１１の周囲に同心的かつ等間隔に配置さ
れ、最上部のものが上記誘導抵抗体１１の頂部に、最下
部のものが接地側にそれぞれ接続された複数のシールド
リング１３と、該シールドリング１３の隣り合うものど
うしを接続する無誘導抵抗１４および高圧用コンデンサ
１５からなる直列回路とを設けて、上記無誘導抵抗体１
１の低圧部に応答特性補償回路Ｐを接続する。
きる程度に抑えて、応答特性を大きく向上する。 【構成】 高圧接続線２を通して、インパルス電圧が印
加される電圧分圧用の円筒状の無誘導抵抗体１１と、該
無誘導抵抗体１１の周囲に同心的かつ等間隔に配置さ
れ、最上部のものが上記誘導抵抗体１１の頂部に、最下
部のものが接地側にそれぞれ接続された複数のシールド
リング１３と、該シールドリング１３の隣り合うものど
うしを接続する無誘導抵抗１４および高圧用コンデンサ
１５からなる直列回路とを設けて、上記無誘導抵抗体１
１の低圧部に応答特性補償回路Ｐを接続する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、雷などによるインパ
ルス電圧およびその波頭截断波電圧を高精度で測定する
のに利用するインパルス電圧測定装置に関するものであ
る。
ルス電圧およびその波頭截断波電圧を高精度で測定する
のに利用するインパルス電圧測定装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】図６は従来のインパルス電圧測定装置を
示す回路図であり、図において、１は分圧器、Ｒd は制
動抵抗、ＲL はこの分圧器１に直列に接続された低圧部
抵抗、２は高圧接続線、ＲH は制動抵抗としての高圧部
抵抗で、これらは図示のように直列に接続されて、測定
端子Ａ，Ｄからインパルス電圧が印加される。
示す回路図であり、図において、１は分圧器、Ｒd は制
動抵抗、ＲL はこの分圧器１に直列に接続された低圧部
抵抗、２は高圧接続線、ＲH は制動抵抗としての高圧部
抵抗で、これらは図示のように直列に接続されて、測定
端子Ａ，Ｄからインパルス電圧が印加される。
【０００３】また、Ｒ1 ，Ｒ2 は整合抵抗、３は測定ケ
ーブル、Ｒ3 は分圧抵抗で、これらは測定対象の電圧を
調整して測定器４に供給する。なお、分圧器１におい
て、端子Ｂ，Ｃ間は高圧部、端子Ｃ，Ｅ間は低圧部、Ｃ
g は高圧部抵抗ＲH の対地容量である。
ーブル、Ｒ3 は分圧抵抗で、これらは測定対象の電圧を
調整して測定器４に供給する。なお、分圧器１におい
て、端子Ｂ，Ｃ間は高圧部、端子Ｃ，Ｅ間は低圧部、Ｃ
g は高圧部抵抗ＲH の対地容量である。
【０００４】かかるインパルス電圧測定装置では、高圧
部抵抗ＲH および高圧接続線２を通して分圧器１に電圧
が印加されると、これにより分圧された電圧が、低圧部
ＲL端に得られ、これがさらに測定ケーブル３を介して
測定器４に入力されて測定される。
部抵抗ＲH および高圧接続線２を通して分圧器１に電圧
が印加されると、これにより分圧された電圧が、低圧部
ＲL端に得られ、これがさらに測定ケーブル３を介して
測定器４に入力されて測定される。
【０００５】ところで、この測定系の応答特性である周
波数特性は、一般に直角波応答によって示され、端子Ａ
に直角波電圧を印加したとき、測定器４にあらわれる電
圧波形の最終値を１として正規化して表わされる。
波数特性は、一般に直角波応答によって示され、端子Ａ
に直角波電圧を印加したとき、測定器４にあらわれる電
圧波形の最終値を１として正規化して表わされる。
【０００６】図７はその直角波電圧の応答波形ｇ（ｔ）
を示す。ここでは、波頭における接線が横軸（時間軸）
と交わる点Ｏ1 が原点となり、斜線部分の面積（時間の
単位を有する）で応答特性が示される。また、同図にお
いて、Ｔ0 は初期歪み時間、Ｔαは部分応答時間、ＴN
（Ｔα−Ｔβ＋Ｔγ−Ｔδ＋・・・）は実験的応答時間
である。
を示す。ここでは、波頭における接線が横軸（時間軸）
と交わる点Ｏ1 が原点となり、斜線部分の面積（時間の
単位を有する）で応答特性が示される。また、同図にお
いて、Ｔ0 は初期歪み時間、Ｔαは部分応答時間、ＴN
（Ｔα−Ｔβ＋Ｔγ−Ｔδ＋・・・）は実験的応答時間
である。
【０００７】また、原点Ｏ1 より時刻ｔまでの斜線部分
を積分した値Ｔ（ｔ）は安定時間であり、下記のように
表わされる。
を積分した値Ｔ（ｔ）は安定時間であり、下記のように
表わされる。
【０００８】
【数１】
【０００９】そして、このＴ（ｔ）は図８に示すような
波形となり、これの最終値Ｔを基準として、Ｔ＋｀Ｏ
´．０２ｔ，Ｔ−０．０２ｔの直線を描き、Ｔ（ｔ）と
の最終交点の時間をｔS とすれば、このｔS が安定時間
となる。
波形となり、これの最終値Ｔを基準として、Ｔ＋｀Ｏ
´．０２ｔ，Ｔ−０．０２ｔの直線を描き、Ｔ（ｔ）と
の最終交点の時間をｔS とすれば、このｔS が安定時間
となる。
【００１０】さらに、抵抗分圧器では、ｇ（ｔ）が振動
性とならず、ＴN は略ＲH Ｃg ／６で与えられる。そし
て、ＴN が小さいほど応答特性は良好となるので、Ｃg
を小さくして応答特性の向上をはかるため、図９に示す
ように、分圧器１の頭部に大形のシールドリング５を取
り付ける方法が従来から採用されている。
性とならず、ＴN は略ＲH Ｃg ／６で与えられる。そし
て、ＴN が小さいほど応答特性は良好となるので、Ｃg
を小さくして応答特性の向上をはかるため、図９に示す
ように、分圧器１の頭部に大形のシールドリング５を取
り付ける方法が従来から採用されている。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】従来のインパルス電圧
測定装置は以上のように構成されているので、上記分圧
器１の端子Ｂ，Ｃ間の高圧部では、インパルス電圧が印
加されたときには、各部での電圧分担が不均一であり、
かつ各部からの対地容量が大きく、かつ不均等であるた
め、抵抗体より大地に向う電気力線が大きく、応答特性
の改善には限界があるなどの問題点があった。
測定装置は以上のように構成されているので、上記分圧
器１の端子Ｂ，Ｃ間の高圧部では、インパルス電圧が印
加されたときには、各部での電圧分担が不均一であり、
かつ各部からの対地容量が大きく、かつ不均等であるた
め、抵抗体より大地に向う電気力線が大きく、応答特性
の改善には限界があるなどの問題点があった。
【００１２】また、図９に示すものでは、１個のシール
ドリング５を用いるので、抵抗ＲHの対地容量Ｃg を完
全に打消すことが困難であること、シールドリング５が
大形となり、これの対地容量が大きくなり、この対地容
量，制動抵抗Ｒd および高圧接続線２のインダクタンス
Ｌにより分圧器１の頭部に加わる電圧波形がゆるやかと
なり、応答特性を悪くするなどの問題点があった。
ドリング５を用いるので、抵抗ＲHの対地容量Ｃg を完
全に打消すことが困難であること、シールドリング５が
大形となり、これの対地容量が大きくなり、この対地容
量，制動抵抗Ｒd および高圧接続線２のインダクタンス
Ｌにより分圧器１の頭部に加わる電圧波形がゆるやかと
なり、応答特性を悪くするなどの問題点があった。
【００１３】さらに、シールドリング５は分圧器１の頭
部よりかなり下方に取り付けるので、大地への距離が短
くなり、分圧器１の耐電圧を低下することとなり、場合
によっては、耐電圧が２／３程度となることもあるなど
の問題点があった。
部よりかなり下方に取り付けるので、大地への距離が短
くなり、分圧器１の耐電圧を低下することとなり、場合
によっては、耐電圧が２／３程度となることもあるなど
の問題点があった。
【００１４】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたものであり、無誘導抵抗体各部における
対地容量を無視できる程度に抑えることで応答特性を大
きく向上できるインパルス電圧測定装置を得ることを目
的とする。
ためになされたものであり、無誘導抵抗体各部における
対地容量を無視できる程度に抑えることで応答特性を大
きく向上できるインパルス電圧測定装置を得ることを目
的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】この発明に係るインパル
ス電圧測定装置は、高圧接続線を通して、インパルス電
圧が印加される電圧分圧用の円筒状の無誘導抵抗体と、
該無誘導抵抗体の周囲に同心的かつ等間隔に配置され、
最上部のものが上記誘導抵抗体の頂部に、最下部のもの
が接地側にそれぞれ接続された複数のシールドリング
と、該シールドリングの隣り合うものどうしを接続する
無誘導抵抗および高圧用コンデンサからなる直列回路と
を設けて、上記無誘導抵抗体の低圧部に応答特性補償回
路を接続したものである。
ス電圧測定装置は、高圧接続線を通して、インパルス電
圧が印加される電圧分圧用の円筒状の無誘導抵抗体と、
該無誘導抵抗体の周囲に同心的かつ等間隔に配置され、
最上部のものが上記誘導抵抗体の頂部に、最下部のもの
が接地側にそれぞれ接続された複数のシールドリング
と、該シールドリングの隣り合うものどうしを接続する
無誘導抵抗および高圧用コンデンサからなる直列回路と
を設けて、上記無誘導抵抗体の低圧部に応答特性補償回
路を接続したものである。
【００１６】
【作用】この発明におけるインパルス電圧測定装置は、
シールドリング間を小容量の高電圧用のコンデンサと無
誘導抵抗との直列回路で接続したものであり、インパル
ス電圧が電圧分圧用の無誘導抵抗体に印加されたとき、
各シールドリング間には均等の電圧を分担させ、その無
誘導抵抗体の頂部より接地側に向って電圧を直線的に分
布させ、シールドリング間の電界を無誘導抵抗体に平行
に発生させ、その無誘導抵抗体から大地に向う電気力線
を略零にするように機能する。
シールドリング間を小容量の高電圧用のコンデンサと無
誘導抵抗との直列回路で接続したものであり、インパル
ス電圧が電圧分圧用の無誘導抵抗体に印加されたとき、
各シールドリング間には均等の電圧を分担させ、その無
誘導抵抗体の頂部より接地側に向って電圧を直線的に分
布させ、シールドリング間の電界を無誘導抵抗体に平行
に発生させ、その無誘導抵抗体から大地に向う電気力線
を略零にするように機能する。
【００１７】
実施例１．以下に、この発明の一実施例を図について説
明する。図１において、１１は垂直に立てられた円筒状
の電圧分圧用の無誘導抵抗体であり、例えば全長が２３
２０ｍｍ、抵抗値が１０Ωとされ、これの頂部には高圧
接続線を通して雷などによるインパルス電圧が印加され
るようになっている。１２は無誘導抵抗体１１の下端と
接地との間に接続された低圧部補償回路である。
明する。図１において、１１は垂直に立てられた円筒状
の電圧分圧用の無誘導抵抗体であり、例えば全長が２３
２０ｍｍ、抵抗値が１０Ωとされ、これの頂部には高圧
接続線を通して雷などによるインパルス電圧が印加され
るようになっている。１２は無誘導抵抗体１１の下端と
接地との間に接続された低圧部補償回路である。
【００１８】また、上記無誘導抵抗体１１の周囲には、
これに対し同心的に複数の環状のシールドリング１３が
上下方向に等間隔に配置され、これらのシールドリング
１３は例えば外径が３３０ｍｍ，厚さが３０ｍｍとさ
れ、これらのうち、最上部にあるものは無誘導抵抗体１
１の頂部に電気的に接続され、最下部にあるものは無誘
導抵抗および高圧用コンデンサを介して低圧部補償回路
１２を収容するケースＫなどを介して、接地されてい
る。
これに対し同心的に複数の環状のシールドリング１３が
上下方向に等間隔に配置され、これらのシールドリング
１３は例えば外径が３３０ｍｍ，厚さが３０ｍｍとさ
れ、これらのうち、最上部にあるものは無誘導抵抗体１
１の頂部に電気的に接続され、最下部にあるものは無誘
導抵抗および高圧用コンデンサを介して低圧部補償回路
１２を収容するケースＫなどを介して、接地されてい
る。
【００１９】さらに、１４は例えば抵抗値が数１０Ω〜
数１００Ωの無誘導抵抗、１５はこの無誘導抵抗１４に
直列接続された、例えば容量が数１０ｐＦ〜数１０００
ｐＦの高圧用コンデンサであり、これらの直列回路が上
記各シールドリング１３間および最下部のシールドリン
グ１３と接地との間に接続されている。
数１００Ωの無誘導抵抗、１５はこの無誘導抵抗１４に
直列接続された、例えば容量が数１０ｐＦ〜数１０００
ｐＦの高圧用コンデンサであり、これらの直列回路が上
記各シールドリング１３間および最下部のシールドリン
グ１３と接地との間に接続されている。
【００２０】また、上記無誘導抵抗体１１の下端と低下
部補償回路１２との接続点には、測定ケーブル１６を介
して他の低圧部補償回路１７およびディジタルレコー
ダ，オシロスコープなどの測定器１８が順次接続されて
いる。なお、上記２つの低圧部補償回路１２，１７は応
答特性補償回路Ｐを構成している。
部補償回路１２との接続点には、測定ケーブル１６を介
して他の低圧部補償回路１７およびディジタルレコー
ダ，オシロスコープなどの測定器１８が順次接続されて
いる。なお、上記２つの低圧部補償回路１２，１７は応
答特性補償回路Ｐを構成している。
【００２１】図２はその応答特性補償回路Ｐを構成す
る、例えば低圧部補償回路１７の具体例を示し、抵抗Ｒ
a が５０ΩおよびインダクタンスＬa が１．３μＨの直
列回路と、抵抗Ｒb が１０Ω、インダクタンスＬb が３
μＨおよびキャパシタＣが６５０ｐＦの直列回路とを並
列接続したものからなる。なお、上記低圧部補償回路１
２としては、例えば抵抗５０Ωが用いられる。
る、例えば低圧部補償回路１７の具体例を示し、抵抗Ｒ
a が５０ΩおよびインダクタンスＬa が１．３μＨの直
列回路と、抵抗Ｒb が１０Ω、インダクタンスＬb が３
μＨおよびキャパシタＣが６５０ｐＦの直列回路とを並
列接続したものからなる。なお、上記低圧部補償回路１
２としては、例えば抵抗５０Ωが用いられる。
【００２２】次に動作について説明する。かかる構成に
なるインパルス電圧測定装置は、雷インパルス電圧が無
誘導抵抗体１１に印加されると、各シールドリング１３
間では無誘導抵抗１４および高圧用コンデンサ１５によ
って互いに等しい電圧を分担することとなり、その無誘
導抵抗体１１の頂部より接地側に向って、電圧が直線的
に分布する。
なるインパルス電圧測定装置は、雷インパルス電圧が無
誘導抵抗体１１に印加されると、各シールドリング１３
間では無誘導抵抗１４および高圧用コンデンサ１５によ
って互いに等しい電圧を分担することとなり、その無誘
導抵抗体１１の頂部より接地側に向って、電圧が直線的
に分布する。
【００２３】従って、各シールドリング１３間の電界は
抵抗体と平行に生じ、無誘導抵抗体１１より大地に向う
電気力線は殆どなくなり、この無誘導抵抗体１１の対地
容量は無視できるほど小さくなるので、応答特性は大き
く向上する。また、この発明では、低圧部補償回路１７
の図２に示すような最適の回路定数によって、一段の応
答特性の高性能化を図ることができる。
抵抗体と平行に生じ、無誘導抵抗体１１より大地に向う
電気力線は殆どなくなり、この無誘導抵抗体１１の対地
容量は無視できるほど小さくなるので、応答特性は大き
く向上する。また、この発明では、低圧部補償回路１７
の図２に示すような最適の回路定数によって、一段の応
答特性の高性能化を図ることができる。
【００２４】なお、上記の低圧部補償回路１２，１７と
して、図３（ａ）に示すように、インダクタンスｌ1 お
よび抵抗ｒ1 の直列回路を用いてもよいし、図３（ｂ）
に示すように、インダクタンスｌ1 および抵抗ｒ1 の直
列回路とインダクタンスｌ2，キャパシタＣおよび抵抗
ｒ2 の直列回路とを並列接続したものを用いてもよく、
さらに、上記低圧部補償回路１２，１７の一方を図３
（ａ）または図３（ｂ）の各回路とし、他方を無誘導抵
抗としてもよい。
して、図３（ａ）に示すように、インダクタンスｌ1 お
よび抵抗ｒ1 の直列回路を用いてもよいし、図３（ｂ）
に示すように、インダクタンスｌ1 および抵抗ｒ1 の直
列回路とインダクタンスｌ2，キャパシタＣおよび抵抗
ｒ2 の直列回路とを並列接続したものを用いてもよく、
さらに、上記低圧部補償回路１２，１７の一方を図３
（ａ）または図３（ｂ）の各回路とし、他方を無誘導抵
抗としてもよい。
【００２５】現在改訂中のＩＥＣ規格（国際規格）案の
ハイ ボルテージ テスト テクニクス，パート２：メ
ージュアリング システムズ（ｈｉｇｈ ｖｏｌｔａｇ
ｅｔｅｓｔ ｔｅｃｈｎｉｑｕｅｓ，ｐａｒｔ２：ｍｅ
ａｓｕｒｉｎｇ ｓｙｓｔｅｍｓ）１９９２では、全波
雷インパルスならびに波頭截断波雷インパルス電圧測定
用の標準分圧器の応答条件を、図４の表図に示すように
規定している。
ハイ ボルテージ テスト テクニクス，パート２：メ
ージュアリング システムズ（ｈｉｇｈ ｖｏｌｔａｇ
ｅｔｅｓｔ ｔｅｃｈｎｉｑｕｅｓ，ｐａｒｔ２：ｍｅ
ａｓｕｒｉｎｇ ｓｙｓｔｅｍｓ）１９９２では、全波
雷インパルスならびに波頭截断波雷インパルス電圧測定
用の標準分圧器の応答条件を、図４の表図に示すように
規定している。
【００２６】そして、この発明により１０００ＫＶ用の
高圧部抵抗（抵抗値１０ＫΩ）を持った無誘導抵抗体１
１を試作して、応答性能を測定したところ、ＴN ≒０、
ｔS≦１００〜１５０ｎｓ、Ｔα＜１０ｎｓ、Ｔ0 ≒
０．０５ｎｓのように、極めて優れた特性を得た。この
性能は現在のところ、内外で最高水準である。
高圧部抵抗（抵抗値１０ＫΩ）を持った無誘導抵抗体１
１を試作して、応答性能を測定したところ、ＴN ≒０、
ｔS≦１００〜１５０ｎｓ、Ｔα＜１０ｎｓ、Ｔ0 ≒
０．０５ｎｓのように、極めて優れた特性を得た。この
性能は現在のところ、内外で最高水準である。
【００２７】このように、この発明の誘導抵抗体１１は
本質的に抵抗分圧器であり、分圧比は高圧部，低圧部の
抵抗値によって定まり、抵抗はマンガニン・カマーロイ
などの抵抗線を用いるので、温度変化，経年変化が極め
て小さく、分圧比への影響は無視できる。
本質的に抵抗分圧器であり、分圧比は高圧部，低圧部の
抵抗値によって定まり、抵抗はマンガニン・カマーロイ
などの抵抗線を用いるので、温度変化，経年変化が極め
て小さく、分圧比への影響は無視できる。
【００２８】また、各シールドリング１３間を連結する
高電圧用コンデンサ１５の容量の温度変化，経年変化は
１〜２％はあるが、仮に１０％変化しても、応答パラメ
ータへの影響は殆どないことが実測により確かめられ
た。
高電圧用コンデンサ１５の容量の温度変化，経年変化は
１〜２％はあるが、仮に１０％変化しても、応答パラメ
ータへの影響は殆どないことが実測により確かめられ
た。
【００２９】そして、低圧部補償回路１２，１７に用い
られるキャパシタＣは使用電圧が低く（数１００Ｖ以
下）、容量も小さいので、特性の良好なものが容易かつ
安価に得られ、容量値を監視し、容易に一定に保持でき
る。
られるキャパシタＣは使用電圧が低く（数１００Ｖ以
下）、容量も小さいので、特性の良好なものが容易かつ
安価に得られ、容量値を監視し、容易に一定に保持でき
る。
【００３０】図５は上記試作した１０００ＫＶ用プロッ
トタイプについて実測した応答波形を示したものであ
り、補償回路の定数は図１および図２について説明した
値を使用したが、高圧接続線２や制動抵抗Ｒd の値に従
って、最適値に選ぶ必要がある。なお、この実測例で
は、高圧接続線２を３ｍとし、制動抵抗Ｒd を１００Ω
とした。これにより、ＴN ≒０、ｔS ≒１１０μｓ、Ｔ
α≒１０ｎｓ、Ｔ0 ≒０．０４ｎｓが得られた。
トタイプについて実測した応答波形を示したものであ
り、補償回路の定数は図１および図２について説明した
値を使用したが、高圧接続線２や制動抵抗Ｒd の値に従
って、最適値に選ぶ必要がある。なお、この実測例で
は、高圧接続線２を３ｍとし、制動抵抗Ｒd を１００Ω
とした。これにより、ＴN ≒０、ｔS ≒１１０μｓ、Ｔ
α≒１０ｎｓ、Ｔ0 ≒０．０４ｎｓが得られた。
【００３１】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、高圧
接続線を通して、インパルス電圧が印加される電圧分圧
用の円筒状の無誘導抵抗体と、該無誘導抵抗体の周囲に
同心的かつ等間隔に配置され、最上部のものが上記誘導
抵抗体の頂部に、最下部のものが接地側にそれぞれ接続
された複数のシールドリングと、該シールドリングの隣
り合うものどうしを接続する無誘導抵抗および高圧用コ
ンデンサからなる直列回路とを設けて、上記無誘導抵抗
体の低圧部に応答特性補償回路を接続するように構成し
たので、高圧部抵抗体である無誘導抵抗体の対地容量を
殆ど零にすることができ、従って、分圧器としての応答
特性を向上できるとともに、さらに低圧部の応答特性補
償回路によって、一段の応答特性の向上を図れるものが
得られる効果がある。
接続線を通して、インパルス電圧が印加される電圧分圧
用の円筒状の無誘導抵抗体と、該無誘導抵抗体の周囲に
同心的かつ等間隔に配置され、最上部のものが上記誘導
抵抗体の頂部に、最下部のものが接地側にそれぞれ接続
された複数のシールドリングと、該シールドリングの隣
り合うものどうしを接続する無誘導抵抗および高圧用コ
ンデンサからなる直列回路とを設けて、上記無誘導抵抗
体の低圧部に応答特性補償回路を接続するように構成し
たので、高圧部抵抗体である無誘導抵抗体の対地容量を
殆ど零にすることができ、従って、分圧器としての応答
特性を向上できるとともに、さらに低圧部の応答特性補
償回路によって、一段の応答特性の向上を図れるものが
得られる効果がある。
【図１】この発明の一実施例によるインパルス電圧測定
装置を示す構成図である。
装置を示す構成図である。
【図２】図１における低圧部補償回路を具体的に示す回
路図である。
路図である。
【図３】図１における低圧部補償回路の他の具体例を示
す回路図である。
す回路図である。
【図４】改訂中のＩＥＣ規格による、標準分圧器に要求
される応答パラメータを示す表図である。
される応答パラメータを示す表図である。
【図５】１０００ＫＶ用プロトタイプのインパルス電圧
測定装置による実測応答波形を示す波形図である。
測定装置による実測応答波形を示す波形図である。
【図６】従来のインパルス電圧測定装置を示す回路図で
ある。
ある。
【図７】図６のインパルス電圧測定装置による応答波形
を示す波形図である。
を示す波形図である。
【図８】図７の応答波形の安定時間を示す特性図であ
る。
る。
【図９】従来のシールドリングを用いた抵抗分圧器を示
す概念図である。
す概念図である。
２ 高圧接続線 １１ 無誘導抵抗体 １３ シールドリング １４ 無誘導抵抗 １５ 高圧用コンデンサ Ｐ 応答特性補償回路
Claims (1)
- 【請求項１】 高圧接続線を通して、インパルス電圧が
印加される電圧分圧用の円筒状の無誘導抵抗体と、該無
誘導抵抗体の周囲に同心的かつ等間隔に配置され、最上
部のものが上記誘導抵抗体の頂部に、最下部のものが接
地側にそれぞれ接続された複数のシールドリングと、該
シールドリングの隣り合うものどうしを接続する無誘導
抵抗および高圧用コンデンサからなる直列回路と、上記
無誘導抵抗体の低圧部に接続された応答特性補償回路と
を備えたインパルス電圧測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5054687A JPH06242148A (ja) | 1993-02-22 | 1993-02-22 | インパルス電圧測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5054687A JPH06242148A (ja) | 1993-02-22 | 1993-02-22 | インパルス電圧測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06242148A true JPH06242148A (ja) | 1994-09-02 |
Family
ID=12977711
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5054687A Pending JPH06242148A (ja) | 1993-02-22 | 1993-02-22 | インパルス電圧測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06242148A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112563030A (zh) * | 2020-12-01 | 2021-03-26 | 上海上电电容器有限公司 | 无感均压阻尼分压电容器 |
| CN113884739A (zh) * | 2021-08-20 | 2022-01-04 | 中国电力科学研究院有限公司 | 一种宽频电压分压器装置及刻度因数标定方法 |
| WO2024125031A1 (zh) * | 2022-12-16 | 2024-06-20 | 中国电力科学研究院有限公司 | 一种屏蔽电阻分压器和分压测量装置 |
-
1993
- 1993-02-22 JP JP5054687A patent/JPH06242148A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112563030A (zh) * | 2020-12-01 | 2021-03-26 | 上海上电电容器有限公司 | 无感均压阻尼分压电容器 |
| CN112563030B (zh) * | 2020-12-01 | 2022-02-15 | 上海上电电容器有限公司 | 无感均压阻尼分压电容器 |
| CN113884739A (zh) * | 2021-08-20 | 2022-01-04 | 中国电力科学研究院有限公司 | 一种宽频电压分压器装置及刻度因数标定方法 |
| CN113884739B (zh) * | 2021-08-20 | 2024-02-13 | 中国电力科学研究院有限公司 | 一种宽频电压分压器装置及刻度因数标定方法 |
| WO2024125031A1 (zh) * | 2022-12-16 | 2024-06-20 | 中国电力科学研究院有限公司 | 一种屏蔽电阻分压器和分压测量装置 |
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