JPH06244461A - 電気／光変換装置 - Google Patents
電気／光変換装置Info
- Publication number
- JPH06244461A JPH06244461A JP4987293A JP4987293A JPH06244461A JP H06244461 A JPH06244461 A JP H06244461A JP 4987293 A JP4987293 A JP 4987293A JP 4987293 A JP4987293 A JP 4987293A JP H06244461 A JPH06244461 A JP H06244461A
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- JP
- Japan
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- laser diode
- signal
- output
- optical
- bias
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 信号品質を最良に保つようにレーザ・ダイオ
ードのバイアス電流の制御を行なう電気／光変換装置を
提供することを目的とする。 【構成】 送信電気信号をバイアス電流に重畳させ、変
調電気信号として出力するバイアス回路（３）と、該バ
イアス回路（３）の出力に接続され前記変調電気信号を
光信号に変換するレーザ・ダイオード（４）と、レーザ
・ダイオード（４）の一端に配置され、レーザ・ダイオ
ード（４）から出力される光信号を伝送する光ファイバ
（５）と、レーザ・ダイオード（４）の他端に配置さ
れ、レーザ・ダイオード（４）から出力される光信号を
電気モニタ信号に変換するモニタ・フォト・ダイオード
（６）と、該モニタ・フォト・ダイオード（６）の出力
に接続され、光信号の雑音強度を検出する雑音強度検出
器（８）と、該検出器（８）の出力に従って前記雑音強
度が最小となるように前記バイアス回路（３）を制御す
るバイアス制御回路（７）とを有する電気／光変換装
置。
ードのバイアス電流の制御を行なう電気／光変換装置を
提供することを目的とする。 【構成】 送信電気信号をバイアス電流に重畳させ、変
調電気信号として出力するバイアス回路（３）と、該バ
イアス回路（３）の出力に接続され前記変調電気信号を
光信号に変換するレーザ・ダイオード（４）と、レーザ
・ダイオード（４）の一端に配置され、レーザ・ダイオ
ード（４）から出力される光信号を伝送する光ファイバ
（５）と、レーザ・ダイオード（４）の他端に配置さ
れ、レーザ・ダイオード（４）から出力される光信号を
電気モニタ信号に変換するモニタ・フォト・ダイオード
（６）と、該モニタ・フォト・ダイオード（６）の出力
に接続され、光信号の雑音強度を検出する雑音強度検出
器（８）と、該検出器（８）の出力に従って前記雑音強
度が最小となるように前記バイアス回路（３）を制御す
るバイアス制御回路（７）とを有する電気／光変換装
置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、電気信号の光インタ
コネクトに用いる電気／光変換装置に関するものであ
る。
コネクトに用いる電気／光変換装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】図２は従来の電気／光変換装置を示す図
である。
である。
【０００３】図中、１は送信電気信号の信号入力端子、
２はバイアス電流の電力供給端子、３は信号入力端子１
からの送信電気信号にバイアス制御回路７からのバイア
ス電流を重畳し、変調電気信号として出力するバイアス
回路、４はバイアス回路３からの変調電気信号を光信号
に変換するレーザ・ダイオード、５はレーザ・ダイオー
ド４から出力される光信号を伝送する光ファイバ、６は
レーザ・ダイオード４からの光信号を電気モニタ信号に
変換するモニタ・フォト・ダイオード、７は電気モニタ
信号によりバイアス電流の量を変化させるバイアス制御
回路である。
２はバイアス電流の電力供給端子、３は信号入力端子１
からの送信電気信号にバイアス制御回路７からのバイア
ス電流を重畳し、変調電気信号として出力するバイアス
回路、４はバイアス回路３からの変調電気信号を光信号
に変換するレーザ・ダイオード、５はレーザ・ダイオー
ド４から出力される光信号を伝送する光ファイバ、６は
レーザ・ダイオード４からの光信号を電気モニタ信号に
変換するモニタ・フォト・ダイオード、７は電気モニタ
信号によりバイアス電流の量を変化させるバイアス制御
回路である。
【０００４】次に、本装置の動作を説明する。
【０００５】本電気／光変換装置により送信される送信
電気信号は、信号入力端子１から入力され、バイアス電
流は電力供給端子２から供給される。送信電気信号に
は、バイアス回路３においてバイアス制御回路７から出
力されるバイアス電流が重畳され、変調電気信号とな
る。変調電気信号はレーザ・ダイオード４に入力され、
その強度に応じた光信号がレーザ・ダイオード４から出
力される。更に、光信号は光ファイバ５に入射され、伝
送される。
電気信号は、信号入力端子１から入力され、バイアス電
流は電力供給端子２から供給される。送信電気信号に
は、バイアス回路３においてバイアス制御回路７から出
力されるバイアス電流が重畳され、変調電気信号とな
る。変調電気信号はレーザ・ダイオード４に入力され、
その強度に応じた光信号がレーザ・ダイオード４から出
力される。更に、光信号は光ファイバ５に入射され、伝
送される。
【０００６】レーザ・ダイオード４から出力される光信
号はレーザ・ダイオード４の温度や使用時間等の外部状
況の変化により、その平均強度が変化する。光信号の一
部は、モニタ・フォト・ダイオード６により取り込まれ
るが、モニタ・フォト・ダイオード６がスロー・デバイ
スのため光信号は平均化され電気モニタ信号として出力
される。バイアス制御回路７は電気モニタ信号に変化が
あれば、電気モニタ信号が一定になるようにバイアス電
流の量を変化させて、バイアス電流としてバイアス回路
３に出力し、レーザ・ダイオード４の光信号の平均強度
の変化を補償する。
号はレーザ・ダイオード４の温度や使用時間等の外部状
況の変化により、その平均強度が変化する。光信号の一
部は、モニタ・フォト・ダイオード６により取り込まれ
るが、モニタ・フォト・ダイオード６がスロー・デバイ
スのため光信号は平均化され電気モニタ信号として出力
される。バイアス制御回路７は電気モニタ信号に変化が
あれば、電気モニタ信号が一定になるようにバイアス電
流の量を変化させて、バイアス電流としてバイアス回路
３に出力し、レーザ・ダイオード４の光信号の平均強度
の変化を補償する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来の電気／光変換装
置は以上のように構成されているが、バイアス制御回路
によるバイアス電流の増加は光ファイバの端面での反射
戻り光を増加させる。一方、レーザ・ダイオードから出
力される光信号の雑音成分は、上記のような反射戻り光
の再入射によって増加するので、バイアス電流の制御は
送信電気信号の信号品質劣化をおこす問題点があった。
置は以上のように構成されているが、バイアス制御回路
によるバイアス電流の増加は光ファイバの端面での反射
戻り光を増加させる。一方、レーザ・ダイオードから出
力される光信号の雑音成分は、上記のような反射戻り光
の再入射によって増加するので、バイアス電流の制御は
送信電気信号の信号品質劣化をおこす問題点があった。
【０００８】本発明は電気／光変換装置の送信電気信号
の信号品質を最良に保つように、レーザ・ダイオードの
バイアス電流の制御をおこなうことを目的とする。
の信号品質を最良に保つように、レーザ・ダイオードの
バイアス電流の制御をおこなうことを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の特徴は、送信電気信号をバイアス電流に重畳
させ、変調電気信号として出力するバイアス回路と、該
バイアス回路の出力に接続され前記変調電気信号を光信
号に変換するレーザ・ダイオードと、レーザ・ダイオー
ドの一端に配置され、レーザ・ダイオードから出力され
る光信号を伝送する光ファイバと、レーザ・ダイオード
の他端に配置され、レーザ・ダイオードから出力される
光信号を電気モニタ信号に変換するモニタ・フォト・ダ
イオードと、該モニタ・フォト・ダイオードの出力に接
続され、光信号の雑音強度を検出する雑音強度検出器
と、該検出器の出力に従って前記雑音強度が最小となる
ように前記バイアス回路を制御するバイアス制御回路と
を有する電気／光変換装置にある。
の本発明の特徴は、送信電気信号をバイアス電流に重畳
させ、変調電気信号として出力するバイアス回路と、該
バイアス回路の出力に接続され前記変調電気信号を光信
号に変換するレーザ・ダイオードと、レーザ・ダイオー
ドの一端に配置され、レーザ・ダイオードから出力され
る光信号を伝送する光ファイバと、レーザ・ダイオード
の他端に配置され、レーザ・ダイオードから出力される
光信号を電気モニタ信号に変換するモニタ・フォト・ダ
イオードと、該モニタ・フォト・ダイオードの出力に接
続され、光信号の雑音強度を検出する雑音強度検出器
と、該検出器の出力に従って前記雑音強度が最小となる
ように前記バイアス回路を制御するバイアス制御回路と
を有する電気／光変換装置にある。
【００１０】
【作用】この発明における電気／光変換装置は、電気モ
ニタ信号から雑音強度を検出し、これをバイアス電流の
制御により最小に保つことにより、送信電気信号の信号
品質を常に、最大に保つことが可能となる。
ニタ信号から雑音強度を検出し、これをバイアス電流の
制御により最小に保つことにより、送信電気信号の信号
品質を常に、最大に保つことが可能となる。
【００１１】
【実施例】図１は本発明の一実施例を示す構成図であ
る。
る。
【００１２】図において、１〜７は従来例と同一のもの
である。８はモニタ・フォト・ダイオード６の電気モニ
タ信号から雑音強度を検出し、その強度に応じた雑音モ
ニタ信号を出力する雑音強度検出器である。
である。８はモニタ・フォト・ダイオード６の電気モニ
タ信号から雑音強度を検出し、その強度に応じた雑音モ
ニタ信号を出力する雑音強度検出器である。
【００１３】次に、本装置の動作を説明する。
【００１４】図３はバイアス電流とレーザ・ダイオード
から出力される光信号の雑音強度の関係を示したもので
ある。
から出力される光信号の雑音強度の関係を示したもので
ある。
【００１５】図において、９は反射戻り光に起因するレ
ーザ・ダイオードの雑音成分、１０は電子−正孔結合の
ランダム発光に起因するレーザ・ダイオードの雑音成
分、１１は反射戻り光に起因する雑音成分９と電子−正
孔結合のランダム発光に起因する雑音成分１０の和であ
り、実際にレーザ・ダイオードから出力される光信号の
雑音強度を示す。
ーザ・ダイオードの雑音成分、１０は電子−正孔結合の
ランダム発光に起因するレーザ・ダイオードの雑音成
分、１１は反射戻り光に起因する雑音成分９と電子−正
孔結合のランダム発光に起因する雑音成分１０の和であ
り、実際にレーザ・ダイオードから出力される光信号の
雑音強度を示す。
【００１６】レーザ・ダイオード４から出力される光信
号は、光ファイバ５に入射され、伝送される。光ファイ
バ５の屈折率と空気の屈折率の違いにより光信号の一部
は光ファイバ５の端面で反射をおこし、再びレーザ・ダ
イオード４に反射戻り光として入射する。このとき、レ
ーザ・ダイオードから出力される光信号の雑音強度は上
記反射戻り光により増加する。また、反射戻り光はレー
ザ・ダイオードの発光強度、すなわち、バイアス電流と
比例するので、９に示すようにバイアス電流の増加によ
り反射戻り光に起因する雑音成分は増加する。一方、１
０に示すようにバイアス電流の増加はレーザ・ダイオー
ドの内部で発生する電子−正孔結合のランダム発光に起
因する雑音成分を減少させる。ここで、レーザ・ダイオ
ードから出力される光信号の雑音強度は上記の二つの雑
音成分の和となり１１のようになる。１１によればレー
ザ・ダイオードの雑音強度はバイアス電流に対し最小値
を持つ。
号は、光ファイバ５に入射され、伝送される。光ファイ
バ５の屈折率と空気の屈折率の違いにより光信号の一部
は光ファイバ５の端面で反射をおこし、再びレーザ・ダ
イオード４に反射戻り光として入射する。このとき、レ
ーザ・ダイオードから出力される光信号の雑音強度は上
記反射戻り光により増加する。また、反射戻り光はレー
ザ・ダイオードの発光強度、すなわち、バイアス電流と
比例するので、９に示すようにバイアス電流の増加によ
り反射戻り光に起因する雑音成分は増加する。一方、１
０に示すようにバイアス電流の増加はレーザ・ダイオー
ドの内部で発生する電子−正孔結合のランダム発光に起
因する雑音成分を減少させる。ここで、レーザ・ダイオ
ードから出力される光信号の雑音強度は上記の二つの雑
音成分の和となり１１のようになる。１１によればレー
ザ・ダイオードの雑音強度はバイアス電流に対し最小値
を持つ。
【００１７】レーザ・ダイオード４から出力される光信
号の雑音強度はレーザ・ダイオード４の温度や使用時間
等の外部状況の変化により変化する。光信号の一部は、
モニタ・フォト・ダイオード６により電気モニタ信号に
変換される。電気モニタ信号は雑音強度検出器８により
雑音強度が検出され、その強度に応じた雑音モニタ信号
をバイアス制御回路８に出力する。バイアス制御回路７
は雑音モニタ信号に変化があれば、雑音モニタ信号が最
小になるように電力供給端子２からのバイアス電流の量
を変化させて、バイアス電流としてバイアス回路３に出
力する。このように、レーザ・ダイオード４の外部状況
の変化による雑音強度変化は常に補償され、雑音強度は
最小値に保たれる。
号の雑音強度はレーザ・ダイオード４の温度や使用時間
等の外部状況の変化により変化する。光信号の一部は、
モニタ・フォト・ダイオード６により電気モニタ信号に
変換される。電気モニタ信号は雑音強度検出器８により
雑音強度が検出され、その強度に応じた雑音モニタ信号
をバイアス制御回路８に出力する。バイアス制御回路７
は雑音モニタ信号に変化があれば、雑音モニタ信号が最
小になるように電力供給端子２からのバイアス電流の量
を変化させて、バイアス電流としてバイアス回路３に出
力する。このように、レーザ・ダイオード４の外部状況
の変化による雑音強度変化は常に補償され、雑音強度は
最小値に保たれる。
【００１８】また、バイアス電流に重畳された送信電気
信号は、復調するときに（ゆっくりした変化ならば）バ
イアス電流の変化を受けないことを記す。雑音検出回路
としては、例えば、送信電気信号の帯域外を通過させる
フィルタ、雑音強度を平均化し、直流に変換する回路で
構成する。
信号は、復調するときに（ゆっくりした変化ならば）バ
イアス電流の変化を受けないことを記す。雑音検出回路
としては、例えば、送信電気信号の帯域外を通過させる
フィルタ、雑音強度を平均化し、直流に変換する回路で
構成する。
【００１９】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば光信号
からの雑音強度を検出し、バイアス電流を変化させるこ
とにより、電気／光変換装置から出力される光信号の雑
音強度変化を常に補償し、雑音強度を最小に保つことが
できるという効果がある。
からの雑音強度を検出し、バイアス電流を変化させるこ
とにより、電気／光変換装置から出力される光信号の雑
音強度変化を常に補償し、雑音強度を最小に保つことが
できるという効果がある。
【図１】本発明の電気／光変換装置の構成図である。
【図２】従来の電気／光変換装置の構成図である。
【図３】バイアス電流とレーザ・ダイオードから出力さ
れる光信号の雑音強度の関係を示したものである。
れる光信号の雑音強度の関係を示したものである。
１ 信号入力端子 ２ 電力供給端子 ３ バイアス回路 ４ レーザ・ダイオード ５ 光ファイバ ６ モニタ・フォト・ダイオード ７ バイアス制御回路 ８ 雑音強度検出器 ９ 反射戻り光に起因するレーザ・ダイオードの雑音成
分 １０ 電子−正孔結合のランダム発光に起因するレーザ
・ダイオードの雑音成分 １１ レーザ・ダイオードから出力される光信号の雑音
強度
分 １０ 電子−正孔結合のランダム発光に起因するレーザ
・ダイオードの雑音成分 １１ レーザ・ダイオードから出力される光信号の雑音
強度
Claims (1)
- 【請求項１】 送信電気信号をバイアス電流に重畳さ
せ、変調電気信号として出力するバイアス回路と、 該バイアス回路の出力に接続され前記変調電気信号を光
信号に変換するレーザ・ダイオードと、 レーザ・ダイオードの一端に配置され、レーザ・ダイオ
ードから出力される光信号を伝送する光ファイバと、 レーザ・ダイオードの他端に配置され、レーザ・ダイオ
ードから出力される光信号を電気モニタ信号に変換する
モニタ・フォト・ダイオードと、 該モニタ・フォト・ダイオードの出力に接続され、光信
号の雑音強度を検出する雑音強度検出器と、 該検出器の出力に従って前記雑音強度が最小となるよう
に前記バイアス回路を制御するバイアス制御回路とを有
することを特徴とする、電気／光変換装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4987293A JPH06244461A (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 電気／光変換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4987293A JPH06244461A (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 電気／光変換装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06244461A true JPH06244461A (ja) | 1994-09-02 |
Family
ID=12843144
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4987293A Pending JPH06244461A (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 電気／光変換装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06244461A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014154835A (ja) * | 2013-02-13 | 2014-08-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光送信器 |
| JP2014165392A (ja) * | 2013-02-26 | 2014-09-08 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光送信器およびその制御方法 |
| KR20190076725A (ko) * | 2017-12-22 | 2019-07-02 | 주식회사 에스오에스랩 | 라이다 시스템 및 그의 동작 방법 |
-
1993
- 1993-02-17 JP JP4987293A patent/JPH06244461A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014154835A (ja) * | 2013-02-13 | 2014-08-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光送信器 |
| JP2014165392A (ja) * | 2013-02-26 | 2014-09-08 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光送信器およびその制御方法 |
| KR20190076725A (ko) * | 2017-12-22 | 2019-07-02 | 주식회사 에스오에스랩 | 라이다 시스템 및 그의 동작 방법 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20020430 |