JPH0625735B2 - 光学測定器におけるゼロ補正装置 - Google Patents
光学測定器におけるゼロ補正装置Info
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- JPH0625735B2 JPH0625735B2 JP62136856A JP13685687A JPH0625735B2 JP H0625735 B2 JPH0625735 B2 JP H0625735B2 JP 62136856 A JP62136856 A JP 62136856A JP 13685687 A JP13685687 A JP 13685687A JP H0625735 B2 JPH0625735 B2 JP H0625735B2
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- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims description 47
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 43
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 18
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 17
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
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Description
【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は、示差屈折計や分光光度計等各種光学測定器に
おけるゼロ補正装置に関するものである。即ち、光学測
定器における検出機構の多くは、測定開始前の光のエネ
ルギーレベルと測定時における光のエネルギーレベルと
の差を電気信号に変換する方式になっている。従ってこ
の場合、当然のことながら測定開始前における出力がゼ
ロを表示するように設定しておく必要があり、この出力
をゼロに設定するための機構をゼロ補正機構（装置）と
言う。
おけるゼロ補正装置に関するものである。即ち、光学測
定器における検出機構の多くは、測定開始前の光のエネ
ルギーレベルと測定時における光のエネルギーレベルと
の差を電気信号に変換する方式になっている。従ってこ
の場合、当然のことながら測定開始前における出力がゼ
ロを表示するように設定しておく必要があり、この出力
をゼロに設定するための機構をゼロ補正機構（装置）と
言う。
＜従来の技術＞ この種ゼロ補正を自動的に行なう機構には、受光体に入
射する光を光学補正機構でコントロールする光学学的オ
ートゼロ方式と、測定開始前の誤差電圧に相当する電圧
を外部から与えて相殺する電気的オートゼロ方式とがあ
る。光学的オートゼロ方式は光のエネルギーを測定開示
前に常に同一とすることが出来るためエネルギーレベル
の変動に伴なう測定時の試料濃度と出力との関係を示す
検量線の直線性及び直線性の範囲が常に一定となる利点
を有するが、受光体に入射する光量や光軸を調整するた
めの光学補正機構を制御モータで駆動させなければなら
ない為、ゼロ補正作業に時間が掛かり、速く駆動させる
とゼロ補正の精度が低下すると言った不具合がある。
又、電気的オートゼロ方式ではゼロ補正時間は速いが光
学的エネルギーレベルのバランス補正を行なわない為、
検量線の変動を伴ない測定値の補正を必要とする不具合
がある。
射する光を光学補正機構でコントロールする光学学的オ
ートゼロ方式と、測定開始前の誤差電圧に相当する電圧
を外部から与えて相殺する電気的オートゼロ方式とがあ
る。光学的オートゼロ方式は光のエネルギーを測定開示
前に常に同一とすることが出来るためエネルギーレベル
の変動に伴なう測定時の試料濃度と出力との関係を示す
検量線の直線性及び直線性の範囲が常に一定となる利点
を有するが、受光体に入射する光量や光軸を調整するた
めの光学補正機構を制御モータで駆動させなければなら
ない為、ゼロ補正作業に時間が掛かり、速く駆動させる
とゼロ補正の精度が低下すると言った不具合がある。
又、電気的オートゼロ方式ではゼロ補正時間は速いが光
学的エネルギーレベルのバランス補正を行なわない為、
検量線の変動を伴ない測定値の補正を必要とする不具合
がある。
＜発明が解決しようとする問題点＞ 本発明はこの様な従来の不具合に鑑みてなされたもので
あり、ゼロ補正に要する時間を従来の光学的オートゼロ
方式よりも大巾に短縮させることが出来ると共に、ゼロ
補正の精度を従来の光学的オートゼロ方式と同程度とす
ることが出来、しかも光学的エネルギーレベルのバラン
スを測定開始前に常に同一となし検量線の直線性及び直
線性の範囲を常に一定に保持することが出来る光学測定
器におけるゼロ補正装置を提供せんとするものである。
あり、ゼロ補正に要する時間を従来の光学的オートゼロ
方式よりも大巾に短縮させることが出来ると共に、ゼロ
補正の精度を従来の光学的オートゼロ方式と同程度とす
ることが出来、しかも光学的エネルギーレベルのバラン
スを測定開始前に常に同一となし検量線の直線性及び直
線性の範囲を常に一定に保持することが出来る光学測定
器におけるゼロ補正装置を提供せんとするものである。
＜問題点を解決するための手段＞ 係る目的を達成するため本発明光学測定器におけるゼロ
補正装置は受光体に入射する光をコントロールする光学
補正機構の制御回路を上記受光体と電気的に接続させる
と共に、該制御回路の出力側に、測定開始前の誤差電圧
に相当する電圧を外部から与えて相殺する電気的ゼロ補
正回路を接続させた事を特徴としたものである。
補正装置は受光体に入射する光をコントロールする光学
補正機構の制御回路を上記受光体と電気的に接続させる
と共に、該制御回路の出力側に、測定開始前の誤差電圧
に相当する電圧を外部から与えて相殺する電気的ゼロ補
正回路を接続させた事を特徴としたものである。
＜実施例＞ 以下、本発明実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は示差屈折計の例を示し、第３図は分光光度計の
例を示すが、この値にも測定開始前の光のエネルギーレ
ベルと測定時における光のエネルギーレベルとの差を電
気信号に変換する検出機構を備えたあらゆる光学測定器
に本発明装置が適用できることは以下の説明によって容
易に理解されるだろう。
例を示すが、この値にも測定開始前の光のエネルギーレ
ベルと測定時における光のエネルギーレベルとの差を電
気信号に変換する検出機構を備えたあらゆる光学測定器
に本発明装置が適用できることは以下の説明によって容
易に理解されるだろう。
第１図において図中１は光源ランプであり、この光源ラ
ンプ１からの光Ｐは試料セル２を通り、試料セル２の後
方に設置した反射鏡３で反射されてガラス板４を通して
受光体５に入射する。受光体５に入射した光エネルギー
はその受光体５で電気エネルギーに変換され、制御回路
６で増巾されて電気的ゼロ補正回路７に出力される。こ
の反射鏡３から受光体５に至る光学系において、制御回
路６から信号によって制御モータ８を駆動させガラス板
４の角度を動かすことにより受光体５に入射する光軸を
平行に移動させて、測定開始前の光学的ゼロ補正を行な
うものである。即ち、受光体５に入射する光Ｐ１をコン
トロールする光学補正機構は、ガラス板４とそのガラス
板４を動かすための制御モータ８及び制御モータ８の駆
動させる制御回路６とで構成され、その制御回路６を受
光体５と電気的に接続させてなり、測定開始前の状態に
おいて試料側受光素子と対照側受光素子からなる受光体
５に入射した光Ｐ１が上記試料側受光素子と対照側受光
素子とに均等に入射されていない場合には、受光体５か
らそれに応じた信号が出力されて制御回路６に印加さ
れ、その信号によって試料側受光素子と対照側受光素子
とに光が均等に入射するように制御モータ８を介してガ
ラス板４が動かされ、受光体５に入射する光軸を平行に
移動させて光学的ゼロ補正を行なうものである。
ンプ１からの光Ｐは試料セル２を通り、試料セル２の後
方に設置した反射鏡３で反射されてガラス板４を通して
受光体５に入射する。受光体５に入射した光エネルギー
はその受光体５で電気エネルギーに変換され、制御回路
６で増巾されて電気的ゼロ補正回路７に出力される。こ
の反射鏡３から受光体５に至る光学系において、制御回
路６から信号によって制御モータ８を駆動させガラス板
４の角度を動かすことにより受光体５に入射する光軸を
平行に移動させて、測定開始前の光学的ゼロ補正を行な
うものである。即ち、受光体５に入射する光Ｐ１をコン
トロールする光学補正機構は、ガラス板４とそのガラス
板４を動かすための制御モータ８及び制御モータ８の駆
動させる制御回路６とで構成され、その制御回路６を受
光体５と電気的に接続させてなり、測定開始前の状態に
おいて試料側受光素子と対照側受光素子からなる受光体
５に入射した光Ｐ１が上記試料側受光素子と対照側受光
素子とに均等に入射されていない場合には、受光体５か
らそれに応じた信号が出力されて制御回路６に印加さ
れ、その信号によって試料側受光素子と対照側受光素子
とに光が均等に入射するように制御モータ８を介してガ
ラス板４が動かされ、受光体５に入射する光軸を平行に
移動させて光学的ゼロ補正を行なうものである。
次いで、制御回路６の出力側に電気的ゼロ補正回路７を
接続させて、電気的ゼロ補正を行なう。この電気的ゼロ
補正回路７は測定開始前の誤差電圧に相当する電圧を外
部から与えて相殺する回路となっており、具体的には第
２図に示す如く基本的に、受光体５から入力される電圧
の大小（プラズマ・マイナス）を判別するためのコンパ
レータ20と、そのコンパレータ20の判別にしたがい電圧
の加減算を行なうアップダウンカウンタ21と、誤差電圧
を相殺する為の差動増巾器22とで構成される。然して、
測定開始前の状態において受光体５に入射した光Ｐ１が
試料側受光素子と対照側受光素子とに均等に入射されて
いない場合には、受光体５からそれに応じた信号が出力
されるので、その信号を差動増巾器22の一方の入力端子
23から入力させ、その出力をコンパレータ20に入力させ
る。コンパレータ20では入力された信号の電圧の差をゼ
ロＶに対してHIGH側にあるかLOW 側にあるかを比較判別
して、その判別結果にしたがいアップダウンカウンタ21
でもってHIGHの時は加算を行ないLOW の時は減算を行な
い、＋INと−INの入力がバランスしたところでアップダ
ウンカウンタ21はバランスし平衡状態を保持し、差動増
巾器22に出力する。このアップダウンカウンタ21が平衡
状態の時にラッチをかけると、その出力電圧はこの時の
電圧をラッチが解かれるまで、入力電圧が変化してもこ
の電圧を保持し続ける。これで電気的ゼロ補正が行なわ
れる。
接続させて、電気的ゼロ補正を行なう。この電気的ゼロ
補正回路７は測定開始前の誤差電圧に相当する電圧を外
部から与えて相殺する回路となっており、具体的には第
２図に示す如く基本的に、受光体５から入力される電圧
の大小（プラズマ・マイナス）を判別するためのコンパ
レータ20と、そのコンパレータ20の判別にしたがい電圧
の加減算を行なうアップダウンカウンタ21と、誤差電圧
を相殺する為の差動増巾器22とで構成される。然して、
測定開始前の状態において受光体５に入射した光Ｐ１が
試料側受光素子と対照側受光素子とに均等に入射されて
いない場合には、受光体５からそれに応じた信号が出力
されるので、その信号を差動増巾器22の一方の入力端子
23から入力させ、その出力をコンパレータ20に入力させ
る。コンパレータ20では入力された信号の電圧の差をゼ
ロＶに対してHIGH側にあるかLOW 側にあるかを比較判別
して、その判別結果にしたがいアップダウンカウンタ21
でもってHIGHの時は加算を行ないLOW の時は減算を行な
い、＋INと−INの入力がバランスしたところでアップダ
ウンカウンタ21はバランスし平衡状態を保持し、差動増
巾器22に出力する。このアップダウンカウンタ21が平衡
状態の時にラッチをかけると、その出力電圧はこの時の
電圧をラッチが解かれるまで、入力電圧が変化してもこ
の電圧を保持し続ける。これで電気的ゼロ補正が行なわ
れる。
又、第３図は分光光度計の例を示し、図中９は入射して
来た光Ｐを試料側受光体5aと対照側受光体5bとに振り分
けるためハーフミラーであり、10，10b は受光体5a，5b
に入射する光量を調整するための絞り（スリット）であ
り、図中第１図と同じ符号は同様の構成部材を示す。こ
の例では受光体5a，5bに入射する光Ｐをコントロールす
る光学補正機構は、ハーフミラー９とそのハーフミラー
９を動かすための制御モータ８及び制御モータ８を駆動
させる制御回路６とで構成される。側ち、測定開始前の
状態において試料側受光体5aと対照側受光体5bとに入射
される光量が均等でない場合には、それに応じた信号が
制御回路６に出力されて試料側受光体5a対照側受光体5b
とに入射される光のエネルギー（光量）が均等となるよ
うに制御モータ８を介してハーフミラー９の反射角度を
変えて光学的ゼロ補正を行なうものである。尚、対照側
受光体5bを必要としない単一受光体を使用した場合で
も、試料セル２に達する光量を同様に変化させる事によ
り光学的ゼロ補正を行なうことが出来る。そして、制御
回路６の出力は先に説明した電気的ゼロ補正回路７を通
して出力される。
来た光Ｐを試料側受光体5aと対照側受光体5bとに振り分
けるためハーフミラーであり、10，10b は受光体5a，5b
に入射する光量を調整するための絞り（スリット）であ
り、図中第１図と同じ符号は同様の構成部材を示す。こ
の例では受光体5a，5bに入射する光Ｐをコントロールす
る光学補正機構は、ハーフミラー９とそのハーフミラー
９を動かすための制御モータ８及び制御モータ８を駆動
させる制御回路６とで構成される。側ち、測定開始前の
状態において試料側受光体5aと対照側受光体5bとに入射
される光量が均等でない場合には、それに応じた信号が
制御回路６に出力されて試料側受光体5a対照側受光体5b
とに入射される光のエネルギー（光量）が均等となるよ
うに制御モータ８を介してハーフミラー９の反射角度を
変えて光学的ゼロ補正を行なうものである。尚、対照側
受光体5bを必要としない単一受光体を使用した場合で
も、試料セル２に達する光量を同様に変化させる事によ
り光学的ゼロ補正を行なうことが出来る。そして、制御
回路６の出力は先に説明した電気的ゼロ補正回路７を通
して出力される。
＜発明の効果＞ 本発明光学測定器におけるゼロ補正装置は斯様に構成し
たので、測定開始前のゼロ補正操作を行なうと、光学補
正機構（光学的オートゼロ機構）と電気的ゼロ補正回路
（電気的オートゼロ機構）とが連動してはたらき、従っ
て光学的バランスをとりつつ電気的ゼロ補正を行なうこ
とが出来、光学的アンバランスによって生じる出力の大
きさのずれを生じることなく迅速に且つ正確にゼロ補正
を行なうことが出来る。即ち、光学的補正機構は検量線
の変化が生じない範囲内に光学バランスを戻すためにの
みはたらかせるので、精度を上げるための速度制限が大
幅に緩和され、結果としてゼロ補正に要する時間を従来
の光学的オートゼロ方式よりも大巾に短縮させることが
出来る。又、電気的ゼロの補正範囲を光学的ゼロの補正
範囲内に制限することが出来るので、ゼロ補正の精度を
従来の光学的オートゼロ方式と同等以上に保持すること
ができるものである。
たので、測定開始前のゼロ補正操作を行なうと、光学補
正機構（光学的オートゼロ機構）と電気的ゼロ補正回路
（電気的オートゼロ機構）とが連動してはたらき、従っ
て光学的バランスをとりつつ電気的ゼロ補正を行なうこ
とが出来、光学的アンバランスによって生じる出力の大
きさのずれを生じることなく迅速に且つ正確にゼロ補正
を行なうことが出来る。即ち、光学的補正機構は検量線
の変化が生じない範囲内に光学バランスを戻すためにの
みはたらかせるので、精度を上げるための速度制限が大
幅に緩和され、結果としてゼロ補正に要する時間を従来
の光学的オートゼロ方式よりも大巾に短縮させることが
出来る。又、電気的ゼロの補正範囲を光学的ゼロの補正
範囲内に制限することが出来るので、ゼロ補正の精度を
従来の光学的オートゼロ方式と同等以上に保持すること
ができるものである。
しかも、基本的なゼロ補正を光学補正機構（光学的オー
トゼロ機構）で行なっているので、光学的エネルギーレ
ベルのバランスを測定開始前に常に同一となし検量線の
直線線性及び直線性の範囲を常に一定に保持することが
出来、繰り返し補正の累積による光学的バランスの不良
がもたらす検量線の変化を来たす虞れがなくなる。第４
図はこの効果を示したグラフであり、縦軸に出力の大き
さを示し、横軸に光学的バランスのずれの大きさを示
し、光学的バランスの不良によって生じる試料濃度によ
って得られる出力信号の大きさの変化がない事が理解さ
れる。
トゼロ機構）で行なっているので、光学的エネルギーレ
ベルのバランスを測定開始前に常に同一となし検量線の
直線線性及び直線性の範囲を常に一定に保持することが
出来、繰り返し補正の累積による光学的バランスの不良
がもたらす検量線の変化を来たす虞れがなくなる。第４
図はこの効果を示したグラフであり、縦軸に出力の大き
さを示し、横軸に光学的バランスのずれの大きさを示
し、光学的バランスの不良によって生じる試料濃度によ
って得られる出力信号の大きさの変化がない事が理解さ
れる。
よって所期の目的を達成し得る
第１図は本発明第１実施例を示す模式図、第２図は本発
明に係る電気的ゼロ補正回路の実施の一例を示す回路
図、第３図は本発明第２図実施例を示す模式図、第４図
は本発明装置の効果を説明するグラフである。 図中、５，5a，5bは受光体、６は制御回路、７は電気的
ゼロ補正回路、である。
明に係る電気的ゼロ補正回路の実施の一例を示す回路
図、第３図は本発明第２図実施例を示す模式図、第４図
は本発明装置の効果を説明するグラフである。 図中、５，5a，5bは受光体、６は制御回路、７は電気的
ゼロ補正回路、である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 永井 昭彦 埼玉県川口市根岸2985 株式会社エルマ川 口工場内 (72)発明者 福永 徳人 埼玉県川口市根岸2985 株式会社エルマ川 口工場内 (56)参考文献 特開 昭51−98090（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】受光体に入射する光をコントロールする光
学補正機構の制御回路を上記受光体と電気的に接続させ
ると共に、該制御回路の出力側に、測定開始前の誤差電
圧に相当する電圧を外部から与えて相殺する電気的ゼロ
補正回路を接続させた事を特徴とする光学測定器におけ
るゼロ補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62136856A JPH0625735B2 (ja) | 1987-05-30 | 1987-05-30 | 光学測定器におけるゼロ補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62136856A JPH0625735B2 (ja) | 1987-05-30 | 1987-05-30 | 光学測定器におけるゼロ補正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63300941A JPS63300941A (ja) | 1988-12-08 |
| JPH0625735B2 true JPH0625735B2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
ID=15185110
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62136856A Expired - Fee Related JPH0625735B2 (ja) | 1987-05-30 | 1987-05-30 | 光学測定器におけるゼロ補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0625735B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008534945A (ja) * | 2005-03-31 | 2008-08-28 | セドゥー ディアグノスチックス | 血液分析用の光学装置、斯る装置を備えた分析装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03162651A (ja) * | 1989-11-20 | 1991-07-12 | Shimadzu Corp | 偏光型示差屈折計 |
| WO2006025104A1 (ja) * | 2004-08-31 | 2006-03-09 | Gl Sciences Incorporated | 光学的検出方法および光学的検出器 |
| JP4793413B2 (ja) * | 2008-07-30 | 2011-10-12 | 株式会社島津製作所 | 示差屈折率検出器 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5198090A (en) * | 1975-02-26 | 1976-08-28 | Atsuenyuno yubunnodosokuteihoho |
-
1987
- 1987-05-30 JP JP62136856A patent/JPH0625735B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008534945A (ja) * | 2005-03-31 | 2008-08-28 | セドゥー ディアグノスチックス | 血液分析用の光学装置、斯る装置を備えた分析装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63300941A (ja) | 1988-12-08 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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