JPH06258306A - ガスクロマトグラフ - Google Patents
ガスクロマトグラフInfo
- Publication number
- JPH06258306A JPH06258306A JP7279993A JP7279993A JPH06258306A JP H06258306 A JPH06258306 A JP H06258306A JP 7279993 A JP7279993 A JP 7279993A JP 7279993 A JP7279993 A JP 7279993A JP H06258306 A JPH06258306 A JP H06258306A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carrier gas
- column
- valve
- gas
- backflush
- Prior art date
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- Pending
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 分析中にキャリアガスの種類を変えることに
より、測定成分として炭化水素に水素が入っている場合
であっても、これら両測定成分を高い検出感度をもって
検出し得るようにする。 【構成】 第1のキャリアガス供給源20からN2 を第
1のキャリアガス流路22およびサンプルバルブ1を介
して第1カラム3に供給し、第2のキャリアガス供給源
21によってHeを第2のキャリアガス流路23および
バックフラッシュバルブ5を介して第2カラム4に供給
する。また、第2のキャリアガス流路23に減圧弁24
を接続配置する。測定成分として炭化水素(C2 H6 ,
CH4 )に水素(H2 )が入っている場合、炭化水素の
分離にN2 を用い、水素の分離にHeを用いると、これ
ら成分ガスを高感度に分離、分析することができる。
より、測定成分として炭化水素に水素が入っている場合
であっても、これら両測定成分を高い検出感度をもって
検出し得るようにする。 【構成】 第1のキャリアガス供給源20からN2 を第
1のキャリアガス流路22およびサンプルバルブ1を介
して第1カラム3に供給し、第2のキャリアガス供給源
21によってHeを第2のキャリアガス流路23および
バックフラッシュバルブ5を介して第2カラム4に供給
する。また、第2のキャリアガス流路23に減圧弁24
を接続配置する。測定成分として炭化水素(C2 H6 ,
CH4 )に水素(H2 )が入っている場合、炭化水素の
分離にN2 を用い、水素の分離にHeを用いると、これ
ら成分ガスを高感度に分離、分析することができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、カラム内に充填した固
定相とガスとの吸着性の差を利用してガスを分析するガ
スクロマトグラフに関し、特にバックフラッシュベント
方式を採用したガスクロマトグラフに関するものであ
る。
定相とガスとの吸着性の差を利用してガスを分析するガ
スクロマトグラフに関し、特にバックフラッシュベント
方式を採用したガスクロマトグラフに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】石油化学プロセスや鉄鋼プロセスなどに
おいてプロセスガスの成分分析を行い、その分析結果に
基づいて各プロセス工程を監視したり各種制御を行った
りするための検出装置としてガスクロマトグラフが従来
から一般に用いられている。また、近年では排気ガス等
による環境汚染が大きくクローズアップされていること
から大気中の微量成分測定用としてもガスクロマトグラ
フが利用されている。
おいてプロセスガスの成分分析を行い、その分析結果に
基づいて各プロセス工程を監視したり各種制御を行った
りするための検出装置としてガスクロマトグラフが従来
から一般に用いられている。また、近年では排気ガス等
による環境汚染が大きくクローズアップされていること
から大気中の微量成分測定用としてもガスクロマトグラ
フが利用されている。
【0003】このようなガスクロマトグラフによるプロ
セスガスの分析に際して、分析手法の1つとしてバック
フラッシュ方式がある。このバックフラッシュ方式は、
サンプルガス中の比重の軽いガス成分(低質成分)のみ
測定し、比重の重いガス成分(重質成分)については分
析周期の短縮、カラム劣化保護等のため、バックフラッ
シュバルブにより排出して測定しないようにしている。
セスガスの分析に際して、分析手法の1つとしてバック
フラッシュ方式がある。このバックフラッシュ方式は、
サンプルガス中の比重の軽いガス成分(低質成分)のみ
測定し、比重の重いガス成分(重質成分)については分
析周期の短縮、カラム劣化保護等のため、バックフラッ
シュバルブにより排出して測定しないようにしている。
【0004】図3はこのようなバックフラッシュベント
方式を採用した工業用ガスクロマトグラフの従来例を示
す概略構成図である。同図において、1はサンプルバル
ブ、2は計量管、3は第1カラム、4は第2カラム、5
はバックフラッシュバルブ、6は検出器、7はバルブ切
替時の圧力変動を防止する抵抗カラムで、これらは一定
の温度(60°C〜120°C)に保持された不図示の
恒温槽内に収納されている。第1カラム3はサンプルバ
ルブ1とバックフラッシュバルブ5との間に配設され、
第2カラム4はバックフラッシュバルブ5と検出器6と
の間に配設されている。これら両カラム3,4は同一内
径で、内部にはサンプルガスSGに応じて異なるが、活
性炭、活性アルミナ、モレキュラーシーブ等の粒度を揃
えた粉末が固定相として充填されている。検出器6とし
ては、熱伝導度検出器(TCD)等が使用され、その検
出信号がコントローラ8に送られて波形処理される。
方式を採用した工業用ガスクロマトグラフの従来例を示
す概略構成図である。同図において、1はサンプルバル
ブ、2は計量管、3は第1カラム、4は第2カラム、5
はバックフラッシュバルブ、6は検出器、7はバルブ切
替時の圧力変動を防止する抵抗カラムで、これらは一定
の温度(60°C〜120°C)に保持された不図示の
恒温槽内に収納されている。第1カラム3はサンプルバ
ルブ1とバックフラッシュバルブ5との間に配設され、
第2カラム4はバックフラッシュバルブ5と検出器6と
の間に配設されている。これら両カラム3,4は同一内
径で、内部にはサンプルガスSGに応じて異なるが、活
性炭、活性アルミナ、モレキュラーシーブ等の粒度を揃
えた粉末が固定相として充填されている。検出器6とし
ては、熱伝導度検出器(TCD)等が使用され、その検
出信号がコントローラ8に送られて波形処理される。
【0005】非測定時において、サンプルバルブ1およ
びバックフラッシュバルブ5の流路を実線の状態に保持
することにより、サンプルガス導入口9よりサンプルバ
ルブ1に供給されたサンプルガスSGを計量管2を経て
ベント口10より廃棄する一方、抵抗カラム7を通りバ
ックフラッシュバルブ5の第1キャリアガス導入口11
より同バルブ5に供給されたヘリウム(He)、窒素
(N2)、水素(H2)等の不活性ガスからなるキャリ
アガスCGを第2カラム4を経て検出器6に流すと共
に、第2キャリアガス導入口12よりバックフラッシュ
バルブ5に供給された前記と同じ不活性ガスからなるキ
ャリアガスCGを第1カラム3に流し、サンプルバルブ
1のベント口13から廃棄している。
びバックフラッシュバルブ5の流路を実線の状態に保持
することにより、サンプルガス導入口9よりサンプルバ
ルブ1に供給されたサンプルガスSGを計量管2を経て
ベント口10より廃棄する一方、抵抗カラム7を通りバ
ックフラッシュバルブ5の第1キャリアガス導入口11
より同バルブ5に供給されたヘリウム(He)、窒素
(N2)、水素(H2)等の不活性ガスからなるキャリ
アガスCGを第2カラム4を経て検出器6に流すと共
に、第2キャリアガス導入口12よりバックフラッシュ
バルブ5に供給された前記と同じ不活性ガスからなるキ
ャリアガスCGを第1カラム3に流し、サンプルバルブ
1のベント口13から廃棄している。
【0006】測定に際して、サンプルバルブ1およびバ
ックフラッシュバルブ5の流路を実線の状態から破線の
状態に切り換えると、計量管2によって計量、分取され
たサンプルガスSGは、サンプルバルブ1のキャリアガ
ス導入口14から同バルブ1に導入される前記と同じ不
活性ガスからなるキャリアガスCGによって第1カラム
3−バックフラッシュバルブ5−第2カラム4を経て検
出器6に送られる。
ックフラッシュバルブ5の流路を実線の状態から破線の
状態に切り換えると、計量管2によって計量、分取され
たサンプルガスSGは、サンプルバルブ1のキャリアガ
ス導入口14から同バルブ1に導入される前記と同じ不
活性ガスからなるキャリアガスCGによって第1カラム
3−バックフラッシュバルブ5−第2カラム4を経て検
出器6に送られる。
【0007】ここで、第1カラム3に流入したサンプル
ガスSGは、同カラム内に充填されている固定相によっ
て低質成分のグループと重質成分のグループに粗分離さ
れる。低質成分のグループは重質成分のグループより先
に固定相から分離してバックフラッシュバルブ5を通り
第2カラム4内に導かれ、同カラム内の固定相によって
さらに個々の成分に分離される。そして、この個々に分
離された低質成分は第2カラム4を通過して検出器6に
送られ、各成分毎に検出されて電気信号に変換される。
この電気信号は各ガス成分の濃度に比例している。これ
をコントローラ8で波形処理し、これに基づいてプロセ
スの制御を行ったり、クロマトグラム波形を記録する。
一方、重質成分は、低質成分がバックフラッシュバルブ
5を通過した時点でバックフラッシュバルブ5が再び切
り替えられてバックフラッシュ状態となることにより、
バックフラッシュバルブ5の第2キャリアガス導入口1
2に導かれるキャリアガスCGによってサンプルバルブ
1に戻され、ベント口13から廃棄される。
ガスSGは、同カラム内に充填されている固定相によっ
て低質成分のグループと重質成分のグループに粗分離さ
れる。低質成分のグループは重質成分のグループより先
に固定相から分離してバックフラッシュバルブ5を通り
第2カラム4内に導かれ、同カラム内の固定相によって
さらに個々の成分に分離される。そして、この個々に分
離された低質成分は第2カラム4を通過して検出器6に
送られ、各成分毎に検出されて電気信号に変換される。
この電気信号は各ガス成分の濃度に比例している。これ
をコントローラ8で波形処理し、これに基づいてプロセ
スの制御を行ったり、クロマトグラム波形を記録する。
一方、重質成分は、低質成分がバックフラッシュバルブ
5を通過した時点でバックフラッシュバルブ5が再び切
り替えられてバックフラッシュ状態となることにより、
バックフラッシュバルブ5の第2キャリアガス導入口1
2に導かれるキャリアガスCGによってサンプルバルブ
1に戻され、ベント口13から廃棄される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記したプロセスガス
クロマトグラフにおいては検出器6として熱伝導度検出
器が主として用いられる。その場合、測定成分に対し熱
伝導度の差が大きいガスをキャリアガスCGとして用い
ると感度が大きくとれる利点を有する。しかしながら、
キャリアガスCGは測定成分の種類によって感度が異な
るという問題があった。因ちに、測定成分として図4に
示すように炭化水素(C2 H6 ,CH4 )に水素(H
2 )が入っている場合、キャリアガスCGとしてHeを
用いると、炭化水素類の感度が大きい反面水素の検出感
度が小さく、ヘリウムN2を用いると、反対に水素の感
度は大きくなるが、炭化水素類の感度が小さくなる。し
たがって、いずれにしても1種類のキャリアガスCGで
水素と炭化水素を共に高い検出感度で測定することはで
きなかった。そこで、現状のプロセスガスクロマトグラ
フでは炭化水素などの分析では通常Heをキャリアガス
CGとして用いている。
クロマトグラフにおいては検出器6として熱伝導度検出
器が主として用いられる。その場合、測定成分に対し熱
伝導度の差が大きいガスをキャリアガスCGとして用い
ると感度が大きくとれる利点を有する。しかしながら、
キャリアガスCGは測定成分の種類によって感度が異な
るという問題があった。因ちに、測定成分として図4に
示すように炭化水素(C2 H6 ,CH4 )に水素(H
2 )が入っている場合、キャリアガスCGとしてHeを
用いると、炭化水素類の感度が大きい反面水素の検出感
度が小さく、ヘリウムN2を用いると、反対に水素の感
度は大きくなるが、炭化水素類の感度が小さくなる。し
たがって、いずれにしても1種類のキャリアガスCGで
水素と炭化水素を共に高い検出感度で測定することはで
きなかった。そこで、現状のプロセスガスクロマトグラ
フでは炭化水素などの分析では通常Heをキャリアガス
CGとして用いている。
【0009】本発明は上記したような従来の問題点に鑑
みてなされたもので、その目的とするところは、分析中
にキャリアガスの種類を変えることにより、キャリアガ
スに対して感度の異なる測定成分を高い検出感度をもっ
て検出し得るようにしたガスクロマトグラフを提供する
ことにある。
みてなされたもので、その目的とするところは、分析中
にキャリアガスの種類を変えることにより、キャリアガ
スに対して感度の異なる測定成分を高い検出感度をもっ
て検出し得るようにしたガスクロマトグラフを提供する
ことにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため、サンプルバルブ、バックフラッシュバルブ、
カラム、検出器等を備えたガスクロマトグラフにおい
て、前記サンプルバルブと検出器間に連接された第1カ
ラムと第2カラム間にバックフラッシュバルブを配設し
てなり、このバックフラッシュバルブは前記サンプルガ
スに供給されるキャリアガスとは異なった他のキャリア
ガス供給源に接続され、第2カラムにキャリアガスおよ
び他のキャリアガスを選択的に送給可能にするものであ
る。
するため、サンプルバルブ、バックフラッシュバルブ、
カラム、検出器等を備えたガスクロマトグラフにおい
て、前記サンプルバルブと検出器間に連接された第1カ
ラムと第2カラム間にバックフラッシュバルブを配設し
てなり、このバックフラッシュバルブは前記サンプルガ
スに供給されるキャリアガスとは異なった他のキャリア
ガス供給源に接続され、第2カラムにキャリアガスおよ
び他のキャリアガスを選択的に送給可能にするものであ
る。
【0011】
【作用】バックフラッシュバルブは、切り換えられるこ
とによりサンプルバルブに送られるキャリアガスとは異
なった他のキャリアガスを第2カラムに送給する。たと
えば、測定成分として水素を含む炭化水素の場合、炭化
水素の分離時にはキャリアガスとしてN2 を、水素の分
離時にはバックフラッシュバルブの切換によってキャリ
アガスとしてHeを第2カラムに送給すると、炭化水素
と水素を共に高い検出感度で測定することができる。
とによりサンプルバルブに送られるキャリアガスとは異
なった他のキャリアガスを第2カラムに送給する。たと
えば、測定成分として水素を含む炭化水素の場合、炭化
水素の分離時にはキャリアガスとしてN2 を、水素の分
離時にはバックフラッシュバルブの切換によってキャリ
アガスとしてHeを第2カラムに送給すると、炭化水素
と水素を共に高い検出感度で測定することができる。
【0012】
【実施例】以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて
詳細に説明する。図1は本発明に係るガスクロマトグラ
フの一実施例を示す概略構成図である。同図において、
本発明は2種類のキャリアガス供給源20,21を設
け、第1のキャリアガス供給源20を第1のキャリアガ
ス流路22によりサンプルバルブ1およびバックフラッ
シュバルブ5を介して第1カラム3に接続し、第2のキ
ャリアガス供給源21を第2のキャリアガス流路23に
よりバックフラッシュバルブ5を介して第2カラム4に
接続して構成したものである。第1のキャリアガス供給
源20はN2 を,第2のキャリアガス供給源21はHe
をそれぞれ送給する。第2のキャリアガス流路23には
減圧弁24が接続されている。検出器6は熱伝導度検出
器で、その回路はベースラインキャンセル方式(ブリッ
ジになっていない)で、キャリアガスCGが変わっても
ベースラインのキャンセルが瞬時に行なえるようになっ
ている。なお、その他の構成および測定方法は図3に示
した従来装置と同様であるため、同一構成部品に対して
は同一符号をもって示し、その説明を省略する。
詳細に説明する。図1は本発明に係るガスクロマトグラ
フの一実施例を示す概略構成図である。同図において、
本発明は2種類のキャリアガス供給源20,21を設
け、第1のキャリアガス供給源20を第1のキャリアガ
ス流路22によりサンプルバルブ1およびバックフラッ
シュバルブ5を介して第1カラム3に接続し、第2のキ
ャリアガス供給源21を第2のキャリアガス流路23に
よりバックフラッシュバルブ5を介して第2カラム4に
接続して構成したものである。第1のキャリアガス供給
源20はN2 を,第2のキャリアガス供給源21はHe
をそれぞれ送給する。第2のキャリアガス流路23には
減圧弁24が接続されている。検出器6は熱伝導度検出
器で、その回路はベースラインキャンセル方式(ブリッ
ジになっていない)で、キャリアガスCGが変わっても
ベースラインのキャンセルが瞬時に行なえるようになっ
ている。なお、その他の構成および測定方法は図3に示
した従来装置と同様であるため、同一構成部品に対して
は同一符号をもって示し、その説明を省略する。
【0013】このような構成において、測定成分として
炭化水素(C2 H6 ,CH4 )に水素(H2 )が入って
いる場合、第2カラム4内の固定相の保持力はHeに対
して水素より強く、C2 H6 ,CH4 より弱い。すなわ
ち、第2カラム4内の成分ガスの順序は、H2 ,N2 ,
He,CH2 ,C2 となっている。今、サンプルバルブ
1およびバックフラッシュバルブ5を実線の状態から破
線の状態に切り換えると、計量管2によって計量、分取
されたサンプルガスSGは、第1のキャリアガス供給源
20よりサンプルブバルブ1のキャリアガス導入口14
に導かれたN2 によって第1カラム3に送り込まれ、粗
分離された後、バックフラッシュバルブ5を通って第2
カラム4に入る。この時、減圧弁24はOFF状態に保
持されている。図2(a)はこの粗分離された成分ガス
のクロマトグラムを示す。成分ガスがバックフラッシュ
バルブ5を通過して第2カラム4に入ると、サンプルバ
ルブ1およびバックフラッシュバルブ5を破線の状態か
ら実線の状態に切り換える。すると、第2のキャリアガ
ス供給源21よりHeがキャリアガスCGとしてバック
フラッシュバルブ5を通って第2カラム4に供給され
る。したがって、同カラムの出口で分離された段階では
前方がN2 、後方がHeに区分される。この結果、図2
(b)に示すように水素の検出感度Ph1 は、キャリア
ガスCGとしてHeのみを使用する場合に比べて大きく
なる。一方、CH4,C2 H6 の検出感度Ph2 ,Ph3
は、従来と変わらない。なお、図2(b)の点Qはバ
ックフラッシュバルブ5の切り換え時期である。
炭化水素(C2 H6 ,CH4 )に水素(H2 )が入って
いる場合、第2カラム4内の固定相の保持力はHeに対
して水素より強く、C2 H6 ,CH4 より弱い。すなわ
ち、第2カラム4内の成分ガスの順序は、H2 ,N2 ,
He,CH2 ,C2 となっている。今、サンプルバルブ
1およびバックフラッシュバルブ5を実線の状態から破
線の状態に切り換えると、計量管2によって計量、分取
されたサンプルガスSGは、第1のキャリアガス供給源
20よりサンプルブバルブ1のキャリアガス導入口14
に導かれたN2 によって第1カラム3に送り込まれ、粗
分離された後、バックフラッシュバルブ5を通って第2
カラム4に入る。この時、減圧弁24はOFF状態に保
持されている。図2(a)はこの粗分離された成分ガス
のクロマトグラムを示す。成分ガスがバックフラッシュ
バルブ5を通過して第2カラム4に入ると、サンプルバ
ルブ1およびバックフラッシュバルブ5を破線の状態か
ら実線の状態に切り換える。すると、第2のキャリアガ
ス供給源21よりHeがキャリアガスCGとしてバック
フラッシュバルブ5を通って第2カラム4に供給され
る。したがって、同カラムの出口で分離された段階では
前方がN2 、後方がHeに区分される。この結果、図2
(b)に示すように水素の検出感度Ph1 は、キャリア
ガスCGとしてHeのみを使用する場合に比べて大きく
なる。一方、CH4,C2 H6 の検出感度Ph2 ,Ph3
は、従来と変わらない。なお、図2(b)の点Qはバ
ックフラッシュバルブ5の切り換え時期である。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係るガスク
ロマトグラフは、分析中にキャリアガスの種類をバック
フラッシュバルブによって変えるように構成したので、
キャリアガスによって感度の異なる無機ガスから炭化水
素のプロセスガスを高感度に分析することが可能であ
る。
ロマトグラフは、分析中にキャリアガスの種類をバック
フラッシュバルブによって変えるように構成したので、
キャリアガスによって感度の異なる無機ガスから炭化水
素のプロセスガスを高感度に分析することが可能であ
る。
【図1】本発明に係るガスクロマトグラフの一実施例を
示す概略構成図である。
示す概略構成図である。
【図2】(a),(b)は第2カラム入口におけるガス
クロマトグラムと第2カラム出口におけるクロマトグラ
ムフを示す図である。
クロマトグラムと第2カラム出口におけるクロマトグラ
ムフを示す図である。
【図3】従来のガスクロマトグラフの概略構成図であ
る。
る。
【図4】従来装置によるガスクロマトグラムフを示す図
である。
である。
1 サンプルバルブ 2 計量管 3 第1カラム 4 第2カラム 5 バックフラッシュバルブ 6 検出器 20 第1のキャリアガス供給源 21 第2のキャリアガス供給源 22 第1のキャリアガス流路 23 第2のキャリアガス流路 24 減圧弁
Claims (1)
- 【請求項1】 サンプルバルブ、バックフラッシュバル
ブ、カラム、検出器等を備えたガスクロマトグラフにお
いて、 前記サンプルバルブと検出器間に連接された第1カラム
と第2カラム間に前記バックフラッシュバルブを配設し
てなり、このバックフラッシュバルブは前記サンプルバ
ルブに供給されるキャリアガスとは異なった他のキャリ
アガス供給源に接続され、第2カラムにキャリアガスお
よび他のキャリアガスを選択的に送給可能にしたことを
特徴とするガスクロマトグラフ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7279993A JPH06258306A (ja) | 1993-03-09 | 1993-03-09 | ガスクロマトグラフ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7279993A JPH06258306A (ja) | 1993-03-09 | 1993-03-09 | ガスクロマトグラフ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06258306A true JPH06258306A (ja) | 1994-09-16 |
Family
ID=13499807
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7279993A Pending JPH06258306A (ja) | 1993-03-09 | 1993-03-09 | ガスクロマトグラフ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06258306A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102008061158B3 (de) * | 2008-12-09 | 2010-04-08 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Anordnung zur gaschromatographischen Analyse eines Gasgemischs |
| WO2012130923A1 (de) | 2011-03-30 | 2012-10-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur chromatographischen analyse eines wasserstoff enthaltenden gasgemischs |
| CN105510492A (zh) * | 2015-12-31 | 2016-04-20 | 上海正帆科技股份有限公司 | 一种电子级氯化氢的分析装置和方法 |
| CN109725071A (zh) * | 2017-10-31 | 2019-05-07 | 株式会社岛津制作所 | 分析方法以及分析装置 |
| CN113655159A (zh) * | 2021-08-04 | 2021-11-16 | 洛阳黎明大成氟化工有限公司 | 一种气相色谱分析粗制三氟化氮气体的方法及其阀路系统 |
| CN114509525A (zh) * | 2021-12-29 | 2022-05-17 | 聚光科技(杭州)股份有限公司 | 氢气和碳氢化合物的色谱分析装置和方法 |
-
1993
- 1993-03-09 JP JP7279993A patent/JPH06258306A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2010066758A1 (de) * | 2008-12-09 | 2010-06-17 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und anordnung zur gaschromatographischen analyse eines gasgemischs |
| WO2012130923A1 (de) | 2011-03-30 | 2012-10-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur chromatographischen analyse eines wasserstoff enthaltenden gasgemischs |
| DE102011006452A1 (de) | 2011-03-30 | 2012-10-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur chromatographischen Analyse eines Wasserstoff enthaltenden Gasgemischs |
| CN105510492A (zh) * | 2015-12-31 | 2016-04-20 | 上海正帆科技股份有限公司 | 一种电子级氯化氢的分析装置和方法 |
| CN109725071A (zh) * | 2017-10-31 | 2019-05-07 | 株式会社岛津制作所 | 分析方法以及分析装置 |
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