JPH06258373A - コネクタ収容端子の導通検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 端子の変形や電気特性の低下を発生させずに
導通検査が行えるコネクタの導通検査器を提供する。 【構成】 検査すべきコネクタ(１１)に、コネクタに収
容した端子(４)の電気接触部以外と対向する貫通穴(１
１b)を穿設する一方、コネクタの外方に貫通穴から差し
込んで端子に弾性接触する検査プローブ(１２b)を設け
て、端子が電線と導通しているか否かを検査する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、コネクタに収容した端
子が設定した配列に装着されているか否か及び電線間の
ジョイントのつながりが設定した通りになっているか否
かを検査する導通検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】電線に接続した端子をコネクタに収容し
て組み立てた後、上記した導通検査を行う必要がある。
即ち、図６(Ａ)に示す配列で端子〜をコネクタ１に
収容すべきところを、図６(Ｂ)に示すように誤った配列
になっていないか、また、図７(Ａ)に示すように回路Ｎ
o.１とＮo.２、Ｎo.３とＮo.４をジョイントすべきとこ
ろを、図７(Ｂ)に示すように誤って回路Ｎo.１とＮo.
４、Ｎo.２とＮo.３がジョイントされていないかを検査
する必要がある。

【０００３】従来、この種の導通検査装置としては図４
及び図５に示すように、検査すべきコネクタ１に、検査
用コネクタ２を矢印の方向から嵌め込んで、検査用コネ
クタ２の検査プローブ３を、コネクタ１の端子４の電気
接触部４aに差し込んで導通検査を行っている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記検
査プローブ３を用いる場合、検査プローブ３の先端を同
一水平位置に保持することは困難で、そのため、同一水
平位置に配列された端子４の電気接触部４aに差し込む
時、検査プローブ３により電気接触部４aに変形を生じ
させる可能性がある。また、端子４の電気接触部４aに
金メッキを施している場合、検査プローブ３の差し込み
で金メッキが剥がれて電気特性が低下するという不具合
がある。

【０００５】また、検査プローブ３のサイズが端子４の
サイズと合わない場合には、実際に嵌合する相手方の端
子を収容したコネクタを用いて、導通検査を行う必要が
あり、その場合には、１セットずつ嵌合する必要があ
り、非常に手数がかかる問題がある。

【０００６】さらに、図４に示す検査用コネクタ２を用
いる場合、全てのコネクタの形状と適合した検査用コネ
クタを設ける必要があり、多大の手間とコストとがかか
る問題がある。

【０００７】本発明は上記問題を解決するためになされ
たもので、端子の変形や電気特性の低下等が無いと共
に、端子のサイズに関係なく検査が出来るようにするこ
とを目的としている。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
に、本発明は、端子挿入方向と直交する方向から端子収
容室に開口する貫通穴をコネクタに穿設する一方、上記
貫通穴の外面開口から端子収容室内に差し込んで、端子
収容室内に収容している端子に、弾性接触させる検査プ
ローブを備えていることを特徴とするコネクタ収容端子
の導通検査装置を提供するものである。

【０００９】上記コネクタに穿設する貫通穴は、検査プ
ローブが上記端子の電気接触部以外の部分に弾性接触す
るように、位置決めしている。例えば、上記貫通穴をコ
ネクタの端子収容室の上面、下面あるいは側面に開口さ
せ、該貫通穴から挿入される検査プローブが圧着端子の
バレル部あるいは圧接端子のリーフ部に接触する構成と
している。

【００１０】上記検査プローブはＬ字形状で、複数の検
査プローブを検査ヘッドより櫛歯形状に突出させ、各検
査プローブの折れ曲がった先端部が端子と接触して停止
する位置に応じて検査ヘッド側支持部を支点として変位
可能としている。上記各検査プローブの先端部がコネク
タの上面、側面あるいは下面に並列に穿設された上記貫
通穴の開口より挿入して端子と接触するようにしてい
る。

【００１１】

【作用】上記構成としているため、検査プローブをコネ
クタの貫通穴から内部に差し込んで、コネクタに収容し
た端子に弾性接触させて、端子の導通チェックを行うこ
とが出来る。

【００１２】上記導通検査装置では、従来のように検査
プローブを端子の電気接触部に差し込まないので、端子
の電気接触部が変形することが無いと共に、金メッキが
剥がれないので、電気特性が低下することも無い。

【００１３】

【実施例】以下、本発明を図示の実施例により詳細に説
明する。図２に示すように、端子４は、電気接触部４a
と、電線５の端部を圧着する電線圧着部４b(芯線バレル
部４b−１および被覆バレル部４b−２)とで構成されて
いる。該端子４は、図１にも示すように、コネクタ１１
に並列に設けられた端子収容室(以下、 収容室と略す)に
所定の個数(図１の例では４個)が収容されて、各収容室
のランス(具体的に図示せず。)で係止されている。

【００１４】上記コネクタ１１の上壁１１aには、上記
各収容室に収容された端子４の側部、例えば電線圧着部
４bの芯線バレル部４b−１に対向する位置に一端が開口
すると共に、 他端が上面に開口する貫通穴１１b,…,１
１bを穿設している。

【００１５】一方、導通検査器１２の検査ヘッド１２a
には、上記コネクタ１１の各貫通穴１１bに対応して、
逆Ｌ字状に折曲させた検査プローブ１２b,…,１２bを櫛
歯状に取付けている。該各プローブ１２bの基部は検査
ヘッド１２aに固定されて、導通検査器１２に電線１３
で接続されている。また、各プローブ１２bの先端部(自
由端)１２cは、上記コネクタ１１の各貫通穴１１bの外
面開口から内部に差し込んだ時、図３(Ａ)に示すよう
に、各端子４の電線圧着部４bに上方から接触する長さ
に設定されている。なお、図３(Ｂ)に示すように、電線
５は２本束ねのものであってもよい。

【００１６】上記各検査プローブ１２bは、ばね性を有
する細幅の金属板を折り曲げて形成し、先端部１２cが
端子４の電線圧着部４bと接触する位置に応じて上下変
位して、電線圧着部４bに弾性接触して、電気的接触を
安定させるようにしている。

【００１７】上記構成としているため、図２に示すよう
に、検査ヘッド１２aをコネクタ１１の上方のa位置から
b位置に前進移動させた後、c位置に下降移動させる。こ
の検査ヘッド１２aの下降移動に伴って、各検査プロー
ブ１２bがコネクタ１１の各貫通穴１１bから内部に差し
込まれ、コネクタ１１に収容した各端子４の電線圧着部
４bに上方からそれぞれ弾性接触するので、導通検査器
１２により、端子４が電線５と導通しているか否かを検
査することができる。

【００１８】上記導通検査は、電線と接続した端子４を
コネクタ１に収容した後に、端子の配列チェックおよび
回路のジョイント・チェックのために行なわれる。該検
査では、検査プローブ１２bを、コネクタ１１の貫通穴
１１bから端子４の電線圧着部４bに弾性接触させるだけ
であり、従来のように、端子４の電気接触部４aに差し
込まないので、電気接触部４aが変形しない。また、電
気接触部４aに金メッキを施していても、金メッキが剥
がれないので、電気的特性が低下しない。

【００１９】さらに、検査プローブ１２bを、コネクタ
１１の貫通穴１１bから差し込んで端子４の電線圧着部
４bに弾性接触させさえすれば導通検査が行えるので、
検査プローブ１２bの部品精度や取付け(センタリング)
精度が低くてもよく、製造が容易になる。

【００２０】尚、検査プローブ１２bの先端部１２cで接
触させる端子４の位置は、電気接触部以外の部分であれ
ば、基板部、電線圧着部の被覆バレル部でもよく、ま
た、圧接端子であれば、リーフ部に接触させることが好
ましい。

【００２１】また、上記導通検査器１２を用いると、例
えば、上記端子を収容したコネクタを車両等に搭載した
後に、保守点検する場合にも用いることができ、コネク
タの貫通穴１１bに検査プローブ１２bを差し込むだけで
良い。

【００２２】

【発明の効果】以上の説明より明らかなように、本発明
のコネクタ収容端子の導通検査装置は、端子挿入方向と
直交する方向に開口するコネクタの貫通穴から検査プロ
ーブを端子収容室内に差し込んで、コネクタに収容した
端子の電気接触部以外の部分に弾性接触させることによ
り、端子の配列チェックおよび回路のジョイント・チェ
ックを行うことが出来る。したがって、従来のように検
査プローブを端子の電気接触部に差し込まないので、端
子が変形することが無いと共に、金メッキが剥がれ無い
ため、電気特性が低下することも無い。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の導通検査器の斜視図である。

【図２】 導通検査要領の側面図である。

【図３】 (Ａ)(Ｂ)は検査プローブの接触状態の断面図
である。

【図４】 従来の導通検査器の斜視図である。

【図５】 導通検査要領の側面図である。

【図６】 導通検査事項を示し、(Ａ)は端子の正規配列
状態、(Ｂ)は誤った配列状態を示す概略図である。

【図７】 導通検査事項を示し、(Ａ)は回路の正規ジョ
イント状態、(Ｂ)は誤った回路のジョイント状態を示す
ものである。

【符号の説明】

４ 端子 ４a 電気接触部 ４b 電線圧着部 １１ コネクタ １１b 貫通穴 １２ 導通検査器 １２a 検査ヘッド １２b 検査プローブ

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 端子挿入方向と直交する方向から端子収
   容室に開口する貫通穴をコネクタに穿設する一方、 上記貫通穴の外面開口から端子収容室内に差し込んで、
   端子収容室内に収容している端子に、弾性接触させる検
   査プローブを備えていることを特徴とするコネクタ収容
   端子の導通検査装置。
2. 【請求項２】 上記検査プローブの先端部が、上記端子
   の電気接触部以外の部分に弾性接触するように、上記コ
   ネクタに穿設する貫通穴の位置を設定している請求項１
   記載の導通検査装置。
3. 【請求項３】 上記貫通穴はコネクタの端子収容室の上
   面、下面あるいは側面に開口し、該貫通穴から挿入され
   る検査プローブの先端部が圧着端子のバレル部あるいは
   圧接端子のリーフ部に接触する構成としている前記請求
   項のいずれか１項に記載の導通検査装置。