JPH06259246A - プログラム検証方法とその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 プログラムがプログラム仕様書通りに作成さ
れているか否かを容易に検証すること。 【構成】 仕様書200に従って作成されたプログラム202
の命令がシミュレータ部203で解釈される際に、その命
令によりテスタ内の所定のハードウエア各々に対して設
定されるデータが抽出され、これら抽出データはフォー
マット変換部205でデータ記述形式が仕様書200と同一記
述形式に変換された上、仕様書200で指示されたデータ
と比較部207で比較される場合には、仕様書200での指示
と異なるデータが設定されているハードウエアが容易に
検索され得るものである。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えばテスタを使用し
てＩＣ等を検査する際に必要とされるテスタ制御用プロ
グラムが、その仕様書通りに作成されているか否かを検
証するためのプログラム検証方法とその装置に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】一般に、ＩＣ（ＬＳＩ、ＶＬＳＩ等を含
む）の機能動作をテストにより確認する際には、テスタ
と称されるＩＣ試験装置が用いられるものとなってい
る。テスタはその内部動作がテストプログラムと称され
るテスタ制御用プログラムによって制御された状態で、
テスト対象としてのＩＣに対しテスト信号を順次発生し
ている一方では、そのＩＣからの、テスト信号に対する
応答出力信号が予め用意されている期待値（期待信号状
態）と比較されることによって、そのＩＣの良否が判定
されているものである。ところで、テスタの内部にはそ
のテスト機能を実現すべく、ハードウエアとしてのテス
ト周期発生器、テスト信号発生器、応答出力信号評価器
等が収容されたものとなっている。ここで、上記テスト
周期発生器、テスト信号発生器および応答出力信号評価
器についてより詳細に説明すれば以下のようである。

【０００３】即ち、先ずテスト周期発生器について説明
すれば、テスト周期発生器からは一定周期のパルスが発
生された上、テスタ内部動作上での基準タイミング信号
として使用されているが、テスト信号発生器や応答出力
信号評価器での動作タイミングは、そのパルスからの経
過時間で定義されているものである。また、テスト周期
発生器でのパルス発生周期は更新可とされており、その
パルス間隔はテスト周期と称されている。

【０００４】次に、テスト信号発生器について説明すれ
ば、これはＩＣに印加されるテスト信号を発生させるた
めのものである。テスト周期各々でテスト信号がテスト
信号発生器より如何に発生されるかは、そのテスト周期
での動作（波形モードおよび印加パターン）やテスト信
号を変化させるタイミング、テスト信号の電圧上限値、
電圧下限値がテスト信号発生制御データとしてテスト信
号発生器に更新可として設定されることで、そのテスト
信号発生制御データに規定された状態で発生されている
ものである。例えば波形モードとしてＮＲＺが、また、
信号電圧の上限値、下限値としてそれぞれ３Ｖ、０Ｖ
が、更に信号変化のタイミングとして１０ｎｓが、更に
また、印加パターンとして“０”がテスト信号発生器に
設定されている場合を想定すれば、テスト信号発生器か
らは、先ずそのテスト周期開始時点から信号状態が３Ｖ
のテスト信号が発生されるが、そのテスト周期開始時点
から１０ｎｓ経過した時点で、テスト信号の状態は３Ｖ
から０Ｖに変化される、といった具合にテスト信号が発
生されているものである。これとは逆に、印加パターン
として、“１”が設定されている場合には、テスト周期
開始時点から１０ｎｓ経過した時点で、テスト信号の状
態は０Ｖから３Ｖに変化されるべく、テスト信号は発生
されているものである。

【０００５】最後に、応答出力信号評価器について説明
すれば、これは、テスト信号がＩＣに印加された場合
に、そのテスト信号に応答するものとして、そのＩＣか
ら出力される信号の信号状態を判定・評価するためのも
のである。応答出力信号評価器に、そのテスト周期での
出力信号の評価タイミングや、電圧レベル判定用上下限
値および期待値（期待信号状態）が設定された場合に
は、ＩＣからの出力信号はその評価タイミングでその電
圧レベルが判定された後、期待値と比較されているもの
である。電圧レベル判定用上下限値はＩＣからの出力信
号の電圧レベルがハイレベルと見做すか、ローレベルと
見做すかの判定基準とされ、出力信号が上限値より高い
電圧である場合には“ハイ”、下限値より低い電圧であ
る場合は“ロー”、その上限値と下限値の間にある場合
には、“ハイインピーダンス状態”として、出力信号の
電圧レベル状態が判定されているものである（なお、以
降では、説明の便宜上、それら“ハイ”、“ロー”、
“ハイインピーダンス状態”はそれぞれ記号Ｈ、Ｌ、Ｚ
として記す）。したがって、例えば応答出力信号評価器
に、ハイ判定電圧として３Ｖが、ロー判定電圧として０
Ｖが、評価タイミングとして１０ｎｓがそれぞれ設定さ
れている場合には、応答出力信号評価器では、テスト周
期開始時点から１０ｎｓ経過した時点で、ＩＣからの出
力信号の電圧レベルが判定されるが、その電圧レベルが
３Ｖより高ければＨとして、０Ｖより低ければＬとし
て、０Ｖから３Ｖの間であればＺとして判定された上、
予め設定されている期待値（期待値パターン）と比較さ
れることで、そのＩＣの良否が判定され得るものであ
る。その期待値もＨ、Ｌ、またはＺで記述されている
が、判定レベル結果がその期待値と一致しない場合は、
そのＩＣは不良品として判定されているものである。な
お、上記印加パターンと期待値パターンとを対として、
時系列に所定順に並べて記述したものをテストパターン
と称す。テスタによるテストでは、ＩＣが正常である場
合には、これに印加されるテスト信号と、そのテスト信
号に対する応答出力信号との関係は予め知れていること
から、テスト設計者はその関係を利用することで、テス
トパターンは容易に作成された上、予め記憶せしめてお
くことが可能とされているものである。

【０００６】さて、以上の如くにしてなるテスタに対し
ては、複数の動作タイミングが設定可とされる。例え
ば、テスト周期発生器でのテスト周期やテスト信号発生
器での信号変化タイミング、応答出力信号評価器での判
定・評価タイミングがそれぞれ５ｎｓ、１０ｎｓ、１５
ｎｓに設定される場合には、これらタイミング全体はタ
イミングデータ１として、また、２０ｎｓ、２５ｎｓ、
３０ｎｓに設定される場合は、これらタイミング全体は
タイミングデータ２として、それぞれ命名されているも
のである。したがって、テスト周期毎にテストパターン
中でタイミングデータの種別が指定されることで、テス
ト周期各々では、テスト信号は、その発生態様がタイミ
ングデータ種別およびテストパターンにもとづき容易に
制御された状態で発生され得るものである。

【０００７】ところで、テスタによりＩＣをテストする
には、テスト内容やその手順を指示しているテスト仕様
書に従い、テスト設計者によりテストプログラムが先ず
作成された上、このテストプログラムによりテスタの動
作が制御された状態で、ＩＣに対しテストが行われるも
のとなっている。しかしながら、専ら人手で作成された
テストプログラムにはしばしば誤りが含まれており、誤
りが含まれているテストプログラムによっては、テスト
が正しく実行され得ないことは明らかである。このた
め、テストプログラム作成後に、テスト設計者によりテ
スト仕様書通りにテストプログラムが作成されているか
否かを確認する作業が必要となっているのが実情である
（この作業を一般にプログラム検証と称す）。

【０００８】さて、仕様書通りにプログラムが作成され
ているか否かを確認する技術としては、これまでに、例
えば特開平４−５５９３８号公報に記載のものが知られ
ている。これによる場合、プログラムからはその仕様が
生成されるものとなっている。プログラム中に記述され
たコメントに着目の上、プログラムからはそのコメント
が抽出された上、元になったプログラム仕様書が作成さ
れているものである。通常、プログラム中のコメントは
プログラムの構文解釈時に無視されるが、この方式で
は、プログラムが解釈されプログラム中に記述されてい
るコメントが抽出された上、そのプログラム仕様書が作
成されているわけである。この方式によりテストプログ
ラムの仕様書が作成された上、テスト設計者により、そ
のテストプログラムが作成される元になった仕様書と比
較される場合には、テストプログラムが元の仕様書通り
に作成されているか否かが検証され得るものである。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記公
報による場合には、テストプログラム作成時に、予めテ
ストプログラム中にテスト内容をコメントとして記述し
ておく必要があるものとなっている。したがって、その
コメント自体に誤りがある場合には、プログラム仕様書
が正しく作成されず、プログラム検証が正しく行われ得
ないものとなっている。

【００１０】本発明の第１の目的は、プログラムの命令
を解釈することによって、その命令により所定のハード
ウエア各々にデータが設定される際に、そのプログラム
がプログラム仕様書通りに作成されているか否かを容易
に検証し得るプログラム検証方法とその装置を供するに
ある。本発明の第２の目的は、テストプログラムの命令
を解釈することによって、その命令により所定のハード
ウエア各々にデータが設定される際に、テストプログラ
ム仕様書での指示と異なるデータが設定されているハー
ドウエアが検索・表示可とされた状態で、そのテストプ
ログラムがテストプログラム仕様書通りに作成されてい
るか否かを容易に検証し得るプログラム検証方法とその
装置を供するにある。本発明の第３の目的は、テストプ
ログラムの命令を解釈することによって、その命令によ
り所定のハードウエア各々にデータが設定される際に、
テストプログラム仕様書での指示と異なるデータが設定
されていることを容易に発見可として、そのテストプロ
グラムがテストプログラム仕様書通りに作成されている
か否かを容易に検証し得るプログラム検証方法とその装
置を供するにある。本発明の第４の目的は、テストプロ
グラムの命令を解釈することによって、その命令により
所定のハードウエア各々にデータが設定される際に、テ
スト実行時での信号動作がシミュレートされた上、視覚
的に表示されることで、そのテストプログラムがテスト
プログラム仕様書通りに作成されているか否かを容易に
検証し得るプログラム検証方法とその装置を供するにあ
る。本発明の第５の目的は、テストプログラムの命令を
解釈することによって、その命令によりテスタ内の所定
のハードウエア各々にデータが設定される際に、テスト
プログラム仕様書での指示と異なるデータが設定されて
いるハードウエアが検索・表示可とされた状態で、その
テストプログラムがテストプログラム仕様書通りに作成
されているか否かを容易に検証し得るプログラム検証方
法とその装置を供するにある。本発明の第６の目的は、
テストプログラムの命令を解釈することによって、その
命令によりテスタ内の所定のハードウエア各々にデータ
が設定される際に、テストプログラム仕様書での指示と
異なるデータが設定されていることを容易に発見可とし
て、そのテストプログラムがテストプログラム仕様書通
りに作成されているか否かを容易に検証し得るプログラ
ム検証方法とその装置を供するにある。本発明の第７の
目的は、テストプログラムの命令を解釈することによっ
て、その命令によりテスタ内の所定のハードウエア各々
にデータが設定される際に、テスト実行時での信号動作
がシミュレートされた上、視覚的に表示されることで、
そのテストプログラムがテストプログラム仕様書通りに
作成されているか否かを容易に検証し得るプログラム検
証方法とその装置を供するにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記第１の目的は、プロ
グラムの命令を解釈することによって、該命令により所
定のハードウエア各々に対して設定されるデータを抽出
し、抽出されたデータは該データの記述形式がプログラ
ム仕様書と同一記述形式に変換された上、該プログラム
仕様書で指示されたデータと比較されることによって、
該プログラム仕様書での指示と異なるデータが設定され
ているハードウエアが検索された上、表示されることで
達成され、また、プログラムの命令を解釈することによ
って、該命令により所定のハードウエア各々に対して設
定されるデータを抽出するデータ抽出部と、該データ抽
出部からの抽出データの記述形式をプログラム仕様書と
同一記述形式に変換するデータ記述型式変換部と、該デ
ータ記述型式変換部からの記述型式変換後のデータと上
記プログラム仕様書で指示されているデータとを比較
し、該プログラム仕様書での指示と異なるデータが設定
されているハードウエアを検索する誤設定ハードウエア
検索部と、該誤設定ハードウエア検索部からの、データ
誤設定に係るハードウエアを表示する表示部と、を具備
せしめることで達成される。

【００１２】上記第２の目的は、テストプログラムの命
令を解釈することによって、該命令によりテスタ内の所
定のハードウエア各々に対して設定されるデータを抽出
し、抽出されたデータは該データの記述形式がテストプ
ログラム仕様書と同一記述形式に変換された上、該テス
トプログラム仕様書で指示されたデータと比較されるこ
とによって、該テストプログラム仕様書での指示と異な
るデータが設定されているハードウエアが検索された
上、表示されることで達成され、また、テストプログラ
ムの命令を解釈することによって、該命令によりテスタ
内の所定のハードウエア各々に対して設定されるデータ
を抽出するデータ抽出部と、該データ抽出部からの抽出
データの記述形式をテストプログラム仕様書と同一記述
形式に変換するデータ記述型式変換部と、該データ記述
型式変換部からの記述型式変換後のデータと上記テスト
プログラム仕様書で指示されているデータとを比較し、
該テストプログラム仕様書での指示と異なるデータが設
定されているハードウエアを検索する誤設定ハードウエ
ア検索部と、該誤設定ハードウエア検索部からの、デー
タ誤設定に係るハードウエアを表示する表示部と、を具
備せしめることで達成される。

【００１３】上記第３の目的は、テストプログラムの命
令を解釈することによって、該命令によりテスタ内の所
定のハードウエア各々に対して設定されるデータを抽出
し、抽出されたデータは該データの記述形式が所定の記
述形式に変換された上、表示されることで達成され、ま
た、テストプログラムの命令を解釈することによって、
該命令によりテスタ内の所定のハードウエア各々に対し
て設定されるデータを抽出するデータ抽出部と、該デー
タ抽出部からの抽出データの記述形式を所定の記述形式
に変換するデータ記述型式変換部と、該データ記述型式
変換部からの記述型式変換後のデータを表示する表示部
と、を具備せしめることで達成される。上記第４の目的
は、テストプログラムの命令を解釈することによって、
該命令によりテスタ内の所定のハードウエア各々に対し
て設定されるデータを抽出し、抽出されたデータと予め
記憶されている、テスト周期各々でのテスト信号および
該テスト信号に対する期待信号を含むテストパターンと
にもとづき、テスト実行時での信号動作がシミュレート
された上、視覚的に表示されることで達成され、また、
テストプログラムの命令を解釈することによって、該命
令によりテスタ内の所定のハードウエア各々に対して設
定されるデータを抽出するデータ抽出部と、該データ抽
出部からの抽出データと予め記憶されている、テスト周
期各々でのテスト信号および該テスト信号に対する期待
信号を含むテストパターンとにもとづき、テスト実行時
での信号動作をシミュレートする信号動作シミュレート
部と、上記信号動作を視覚的に表示する表示部と、を具
備せしめることで達成される。

【００１４】上記第５の目的は、テスタから、該テスタ
内の所定のハードウエア各々に対して実際に設定されて
いるデータを読み出し、読出しされたデータは該データ
の記述形式がテストプログラム仕様書と同一記述形式に
変換された上、該テストプログラム仕様書で指示された
データと比較されることによって、該テストプログラム
仕様書での指示と異なるデータが設定されているハード
ウエアが検索された上、表示されることで達成され、ま
た、テスタから、該テスタ内の所定のハードウエア各々
に対して実際に設定されているデータを読み出すデータ
読出部と、該データ読出部からの読出データの記述形式
をテストプログラム仕様書と同一記述形式に変換するデ
ータ記述型式変換部と、該データ記述型式変換部からの
記述型式変換後のデータと上記テストプログラム仕様書
で指示されているデータとを比較し、該テストプログラ
ム仕様書での指示と異なるデータが設定されているハー
ドウエアを検索する誤設定ハードウエア検索部と、該誤
設定ハードウエア検索部からの、データ誤設定に係るハ
ードウエアを表示する表示部と、を具備せしめることで
達成される。

【００１５】上記第６の目的は、テスタから、該テスタ
内の所定のハードウエア各々に対して実際に設定されて
いるデータを読み出し、読出しされたデータは該データ
の記述形式が所定の記述形式に変換された上、表示され
ることで達成され、また、テスタから、該テスタ内の所
定のハードウエア各々に対して実際に設定されているデ
ータを読み出すデータ読出部と、該データ読出部からの
読出データの記述形式を所定の記述形式に変換するデー
タ記述型式変換部と、該データ記述型式変換部からの記
述型式変換後のデータを表示する表示部と、を具備せし
めることで達成される。

【００１６】上記第７の目的は、テスタから、該テスタ
内の所定のハードウエア各々に対して実際に設定されて
いるデータを読み出し、読出しされたデータと予め記憶
されている、テスト周期各々でのテスト信号および該テ
スト信号に対する期待信号を含むテストパターンとにも
とづき、テスト実行時での信号動作がシミュレートされ
た上、視覚的に表示されることで達成され、また、テス
タから、該テスタ内の所定のハードウエア各々に対して
実際に設定されているデータを読み出すデータ読出部
と、該データ読出部からの読出データと予め記憶されて
いる、テスト周期各々でのテスト信号および該テスト信
号に対する期待信号を含むテストパターンとにもとづ
き、テスト実行時での信号動作をシミュレートする信号
動作シミュレート部と、上記信号動作を視覚的に表示す
る表示部と、を具備せしめることで達成される。

【００１７】

【作用】例えばテストプログラムに例を採れば、テスト
仕様書に従って作成されたプログラムの命令が解釈され
るに際しては、その命令によりテスタ内の所定のハード
ウエア各々に対して設定されるデータが抽出されるよう
にしたものである。抽出されたデータはそのデータの記
述形式がテストプログラム仕様書と同一記述形式に変換
された上、そのテストプログラム仕様書で指示されたデ
ータと比較されるようにすれば、そのテストプログラム
仕様書での指示と異なるデータが設定されているハード
ウエアが容易に検索され得るものである。

【００１８】

【実施例】以下、本発明を図１から図１１により説明す
る。 ［実施例その１］先ず本発明によるプログラム検証装置
について説明すれば、図１はそのプログラム検証装置の
一例での全体構成を示したものである。本例での検証対
象はテストプログラムとされているが、命令を解釈する
ことによって、その命令により所定のハードウエア各々
にデータが設定されるようなプログラムであれば、如何
なるものであってもよいものである。さて、図１による
場合、その内部には中央処理装置としてのＣＰＵ１００
が具備されており、これを中心としてその周辺に、入力
装置（キーボード１０２およびポインティングデバイス
１０３）や出力装置（ディスプレイ１０１）、テスタ仕
様データベース１０４、テストパターン格納メモリ１１
６、メモリ１０９、各種処理部（シミュレータ部１０
６、フォーマット変換部１０７、比較部１０８、信号表
示部１１５およびデータ参照部１１８）が配置されたも
のとなっている。シミュレータ部１０６では、テスト仕
様１１０に従って作成されたテストプログラム１１１の
動作がシミュレートされた上、テスタ設定データ１１２
が作成されており、フォーマット変換部１０７では、そ
のテスタ設定データ１１２をテスト仕様１１０と同一フ
ォーマットに変換した出力データ１１３が作成されてお
り、比較部１０８では、その出力データ１１３とテスト
仕様１１０を比較することによって、不一致に係る比較
結果１１４が出力されているものである。メモリ１０９
内には、以上のテスト仕様１１０、テストプログラム１
１１、テスタ設定データ１１２、出力データ１１３およ
び比較結果１１４が格納されているものである。信号表
示部１１５ではまた、テストパターン格納メモリ１１６
からのテストパターン１１７とテスタ設定データ１１２
にもとづき、テスト実行時の信号動作がシミュレートさ
れているが、その信号動作はディスプレイ１０１上に表
示可とされているものである。また、データ参照部１１
８によって、このプログラム検証装置に接続されている
テスタ１１９からは、テスタ１１９内のハードウエア各
々に対して設定されているデータが読み出された上、メ
モリ１０９上にテスタ設定データ１１２としてロードさ
れるものとなっている。

【００１９】図２は以上のプログラム検証装置によりテ
ストプログラムがテスト仕様書通りに作成されているか
否かを検証する場合での処理の流れを示したものであ
る。図示のように、テスト仕様書２００（１１０）に従
いテスト設計者２０１により予めプログラミングされて
いるテストプログラム２０２がプログラム検証装置に入
力された場合、そのシミュレータ部２０３（１０６）で
は、そのテストプログラム２０２の命令が解釈され、そ
の命令からテスタ内のハードウエア各々に対し所定に設
定されるデータが抽出された上、そのハードウエア名と
そのハードウエアに設定されたデータの一覧表であるテ
スタ設定データ２０４（１１２）が作成されるものとな
っている。その後、フォーマット変換部２０５（１０
７）では、そのテスタ設定データ２０４の記述フォーマ
ットがテスト仕様書２００の記述フォーマットと同一形
式に変換された上、出力データ２０６（１１３）として
変換出力されるものとなっている。比較部２０７（１０
８）では、その出力データ２０６とテスト仕様書２００
のデータとが比較されることで、不一致に係る比較結
果、即ち、テスト仕様書２００での指示と異なるデータ
が設定されているハードウエアに係る比較結果２０８
（１１４）が得られるが、この比較結果２０８を参照し
つつ、テスト設計者２０１はテスト仕様書２００とテス
トプログラム２０２の検証を行い得るものである。

【００２０】図３は一般化されたテスタの内部構成をテ
スト対象としてのＩＣとともに示したものである。図示
のように、テスタ３００（１１９）には外部接続用のピ
ン１およびピン２が具備された上、その内部には、テス
トパターンを格納するためのテストパターン格納器３０
６を始めとして、ハードウエアとしてのテスト信号発生
器３０１、応答出力信号評価器３０２およびテスト周期
発生器３０３が、更に、これらのハードウエアをピン
１、ピン２に中継接続するためのハードウエア接続器３
０４が収容されたものとなっている。テストが実際に行
われるに際しては、ピン１、ピン２がテスト対象である
ＩＣ（以降、ＤＵＴ（ＤＥＶＩＣＥ ＵＮＤＥＲ ＴＥ
ＳＴ）と称す）３０５の入出力端子に所定に接続された
状態で、テスタ３００からはテスト信号がＤＵＴ３０５
に印加される一方では、そのテスト信号が印加された結
果として、ＤＵＴ３０５から出力される応答出力信号は
テスタ３００内の応答出力信号評価器３０２で判定・評
価されているものである。

【００２１】さて、テストがＤＵＴ３０５に対し行われ
るに際しては、テスタ３００内のハードウエア各々に対
しては各種データが設定されるが、これら設定可能なデ
ータを纏めて図４にテスタ仕様１０５として示す。図示
のように、ハードウエア接続器３０４、テスト信号発生
器３０１、応答出力信号評価器３０２、テスト周期発生
器３０３各々については、ハードウエア接続器設定デー
タ４００、テスト信号発生器設定データ４０１、応答出
力信号評価器設定データ４０２、テスト周期発生器デー
タ４０３として示す各種データが設定されるが、これら
設定データはテスタ仕様データベース１０４にテスタ機
種毎にテスタ仕様１０５として登録されているものであ
る。先ずハードウエア接続器設定データ４００について
説明すれば、これには、テスタ３００の構成要素として
のピン１、ピン２各々に接続されるべきハードウエア名
がデータとして設定されるものとなっている。見出し４
０４，４０５各々には、ピン１、ピン２に接続されるべ
きハードウエア名が記述されるものである。また、テス
ト信号発生器設定データ４０１としては、その見出し４
０６，４０７にはそれぞれ発生されるべきテスト信号に
ついての信号電圧の上限値、下限値が、見出し４０８に
は、発生されるべきテスト信号の１テスト周期中での波
形を定義する波形モードが、見出し４０９，４１０に
は、発生されるべきテスト信号の変化タイミングを規定
するタイミングデータが設定されるものとなっている。
更に、応答出力信号評価器設定データ４０２としては、
見出し４１１，４１２には、それぞれＤＵＴ３０５から
応答出力される信号をＨ、またはＬとして判定する際で
の基準となる判定電圧値が、見出し４１３，４１４に
は、それぞれＤＵＴ３０５から応答出力される信号の判
定・評価タイミングが設定される。更にまた、テスト周
期発生器設定データ４０３としては、見出し４１５，４
１６にはそれぞれテスト周期が設定されるものとなって
いる。したがって、本例でのテスト信号発生器３０１、
応答出力信号評価器３０２およびテスト周期発生器３０
３各々には、２種類のタイミングデータ種別（タイミン
グデータ１、タイミングデータ２）が設定可とされてい
るものである。

【００２２】ここで、本発明によるプログラム検証装置
によるテストプログラム検証処理を図１等を参照しつつ
具体的に説明すれば以下のようである。即ち、先ずテス
トプログラム検証に先立っては、テスト設計者によりテ
ストプログラム１１１が作成された上、メモリ１０９に
格納されるものとなっている。キーボード１０２、また
はポインティングデバイス１０３によりメモリ１０９か
らはテスト仕様１１０が呼び出され、テスト仕様１１０
の指示内容に従ってテストプログラム１１１が作成され
た上、メモリ１０９にそのテストプログラム１１１が格
納されているものである。図５にテスト仕様１１０の一
例を、また、図６にテストプログラム１１１のコーディ
ング例をそれぞれ示す。図５に示すテスト仕様は説明の
便宜上、図４に示したテスタ設定データと同一フォーマ
ットとして記述されているが、これ以外のフォーマット
で記述されている場合もあり得るものである。テスト仕
様１１０には、テスタ３００内のハードウエア各々に設
定されるべきデータが指示されているものである。先ず
ハードウエア接続器設定データ５００では、その見出し
５０４，５０５からも判るように、ピン１、ピン２には
それぞれテスト信号発生器、応答出力信号評価器が接続
されるよう指示されている。また、テスト信号発生器設
定データ５０１では、その見出し５０６〜５１０から、
ＤＵＴ３０５に印加されるテスト信号の信号電圧の上限
値を３Ｖ、下限値を０Ｖ、テスト信号を変化させるタイ
ミングを１０ｎｓ、２０ｎｓの２種類、テスト信号の１
テスト周期中での動作をＮＲＺモードとするよう指示さ
れていることが判る。更に、応答出力信号評価器設定デ
ータ５０２では、その見出し５１１〜５１４からも判る
ように、ＤＵＴ３０５から応答出力される信号をＨと判
定するための判定電圧を３Ｖ、Ｌと判定するための判定
電圧を０Ｖ、その応答出力信号の電圧を判定・評価する
タイミングを４０ｎｓ、５０ｎｓの２種類とするよう指
示されている。更にまた、テスト周期発生器設定データ
５０３では、その見出し５１５，５１６からも判るよう
に、テスト周期を５０ｎｓ、６０ｎｓの２種類とするよ
う指示されている。因みに、図６に示すテストプログラ
ムについては後述するところである。

【００２３】さて、テストプログラム作成・格納後に、
プログラム検証装置が起動されれば、ＣＰＵ１００によ
りシミュレータ部１０６が起動され、メモリ１０９から
呼び出されたテストプログラム１１１はシミュレータ部
１０６に入力データとして渡されるものとなっている。
その後、シミュレータ部１０６では、先ずテスタ仕様デ
ータベース１０４から、図４に示すテスタ仕様（テスタ
設定データ）１０５を呼び出した後、図６に示すテスト
プログラムの命令を一般的なコンパイラ、インタプリタ
等の手法を用い逐次解釈しながら、そのテスタ設定デー
タの一覧表に設定データを書き込んでいくが、図７にデ
ータ書き込み後のテスタ設定データ１１２の例を示す
（但し、本例では、説明の便宜上、そのテスタ設定デー
タ１１２のフォーマットはテスト仕様１１０のフォーマ
ットと同一である）。シミュレータ部１０６が図６に示
すテストプログラムの命令を解釈するに際しては、先ず
命令６００が解釈される。命令６００はテスタ３００の
ピン１にテスト信号発生器３０１を接続する命令である
ことから、図７に示す見出し７００には、ピン１に接続
されるべきハードウエアとしてテスト信号発生器が書き
込まれるものである。次に、命令６０１が解釈される
が、命令６０１は、テスタ３００のピン２に応答出力信
号評価器３０２を接続する命令であることから、図７に
示す見出し７０１には、ピン２に接続されるべきハード
ウエアとして応答出力信号評価器が書き込まれるものと
なっている。その後は、同様にして、命令６０２〜６１
２が順次解釈されることで、図７に示す見出し７０２に
は印加電圧上限値として３Ｖが、見出し７０３には印加
電圧下限値として０Ｖが、見出し７０４にはＮＲＺが、
見出し７０５にはタイミングデータ１として１５ｎｓ
が、見出し７０６にはタイミングデータ２として２０ｎ
ｓが、見出し７０７にはＨ判定電圧として３Ｖが、見出
し７０８にはＬ判定電圧として０Ｖが、見出し７０９に
はタイミングデータ１として４０ｎｓが、見出し７１０
にはタイミングデータ２として５０ｎｓが、見出し７１
１にタイミングデータ１として５０ｎｓが、見出し７１
２にはタイミングデータ２として６０ｎｓがそれぞれ書
き込まれるものである。最後に命令６１３が解釈される
が、この命令６１３は命令６００〜６１２で指示された
条件下でＤＵＴ３０５に対しテストを行うことを指示す
る命令であることから、命令６１３が解釈された時点
で、シミュレータ部１０６は図７に示すテスタ設定デー
タの一覧表をメモリ１０９にテスタ設定データ１１２と
して格納した上、ＣＰＵ１００に解釈処理が終了したこ
とが通知されるものとなっている。

【００２４】テストプログラムの解釈終了後は、ＣＰＵ
１００によりフォーマット変換部１０７が起動された
上、メモリ１０９から呼び出されたテスタ設定データ１
１２がフォーマット変換部１０７に入力データとして渡
されるものとなっている。フォーマット変換部１０７に
よりそのテスタ設定データ１１２はテスト仕様１１０と
同一フォーマットに変換された上、出力データ１１３と
してメモリ１０９に格納された後、フォーマット変換処
理が終了した旨がＣＰＵ１００に通知されているもので
ある。尤も、本例では、テスタ設定データ１１２とテス
ト仕様１１０は同一フォーマットであることから、テス
タ設定データ１１２はそのまま出力データ１１３として
メモリ１０９に格納されているものである。フォーマッ
ト変換後は、ＣＰＵ１００により比較部１０８が起動さ
れ、メモリ１０９から呼び出された出力データ１１３お
よびテスト仕様１１０が比較部１０８で比較されるもの
となっている。テスト仕様１１０と、図７に示すテスタ
設定データと同一内容の出力データ１１３とが互いのデ
ータを一般的な文字列比較方法等を利用して比較される
ことによって、テスト仕様１１０で指示された設定デー
タと異なるデータが出力データ１１３で設定されている
か否かが調べられるものである。その比較結果は整理さ
れた上、その全部、あるいは不一致に係る比較結果だけ
がメモリ１０９に比較結果１１４として格納されている
ものである。図８にその比較結果１１４の例を示す。図
示のように、見出し８００〜８０５、８０７〜８１３各
々には“＊”印が書き込まれているが、“＊”印は、テ
スト仕様１１０での指示通りにデータが設定されている
ことを示す。しかし、見出し８０７にはテスト信号発生
器３０１に設定されるタイミングデータ１として１５ｎ
ｓが書き込まれているが、これは、図５に示すテスト仕
様１１０での見出し５０９で指示されている“テスト信
号発生器へのタイミングデータ１として１０ｎｓを設定
せよ”という指示に反しているからである。比較部１０
８からは、このような比較結果がメモリ１０９に比較結
果１１４として格納された上、ＣＰＵ１００に比較処理
が終了したことが通知されるが、この通知にもとづきＣ
ＰＵ１００では、処理の終了をディスプレイ１０１上に
表示することによって、一連のプログラム検証処理が終
了されているものである。テスト設計者はメモリ１０９
に格納されている比較結果１１４、出力データ１１３、
テスタ設定データ１１２およびテスト仕様１１０をディ
スプレイ１０１上に適宜表示せしめることによって、テ
ストプログラム検証作業を行い得るものである。

【００２５】［実施例その２］以下、本発明の他の実施
例を、図９から図１２により説明すれば以下のようであ
る。即ち、図９には本発明によるプログラム検証装置で
の信号表示処理の流れが示されているが、これによる場
合、テスタ設定データ９０４（２０４，１１２）がメモ
リ１０９に格納されるまでの処理は上記［実施例その
１］と同様である。しかしながら、本実施例では、その
後、信号表示部９０６（１１５）によりテスタ設定デー
タ９０４とテストパターン９０５（１１７）にもとづ
き、テスト実行時でのテスト／応答出力信号動作がシミ
ュレートされた上、ディスプレイ１０１上にそのテスト
／応答出力信号動作が表示されており、この表示からテ
ストプログラム検証が行われるものとなっている。既述
のように、シミュレータ部１０６は、メモリ１０９から
テストプログラム１１１を呼び出し、そのテストプログ
ラム１１１の命令を解釈しつつテスタ内のハードウエア
各々への設定データを書き込んだテスタ設定データを作
成し、メモリ１０９にテスタ設定データ１１２として格
納した後、ＣＰＵ１００には処理が終了したことが通知
されるものとなっている。しかしながら、その後、ＣＰ
Ｕ１００により信号表示部１１５が起動され、メモリ１
０９からはテスタ設定データ１１２が、また、テストパ
ターン格納メモリ１１６からはテストパターン１１７が
呼び出された上、信号表示部１１５に入力データとして
渡されるものとなっている。図１０にテストパターンの
例を示す。図示のように、縦の見出し１００１には、テ
スト信号発生器、応答出力信号評価器および周期発生器
に設定されるタイミングデータ種別が、また、縦の見出
し１００２、１００３には、それぞれテスタのピン１、
ピン２に設定される印加パターン、期待値パターンが記
述されたものとなっている。また、横の見出し１００４
〜１００７には、各テスト周期毎でのテスト周期発生
器、テスト信号発生器およに応答出力信号評価器に同時
に設定されるタイミングデータ、印加パターン、期待値
パターンが時系列で記述されたものとなっている。

【００２６】さて、起動状態におかれた信号表示部１１
５では、先ず図１０に示すテストパターンから、見出し
１００４対応のデータを読み込むが、そのデータでは、
タイミングデータとしてタイミングデータ２が指示され
ていることから、信号表示部１１５では、図７に示すテ
スタ設定データでの横の見出し７０６，７１０，７１２
を参照することによって、テスト信号発生器、応答出力
信号評価器およびテスト周期発生器に設定されるタイミ
ングデータがそれぞれ２０ｎｓ、５０ｎｓ、６０ｎｓで
あることが知れるものとなっている。これから、信号表
示部１１５では、第１テスト周期が６０ｎｓであって、
また、テスト信号発生器が発生すべきテスト信号はその
テスト周期開始時点から２０ｎｓ経過した時点で変化
し、更に、応答出力信号評価器ではテスト周期開始時点
から５０ｎｓ経過した時点で応答出力信号の電圧値を判
定・評価する、といった情報が得られるものである。ま
た、その際、ピン１に対しては印加パターン０が指示さ
れ、また、図７に示す見出し７００から、ピン１にはテ
スト信号発生器が接続されているため、テスト信号発生
器３０１に与えられる印加パターンが０であり、見出し
７０４からは、信号動作を規定する動作モードがＮＲ
Ｚ、見出し７０２からは、印加電圧上限値が３Ｖ、見出
し７０３からは、印加電圧下限値が０Ｖ、といった情報
が得られるものである。また、ピン２に対する期待値パ
ターンとしてＨが指示されており、図７に示す横の見出
し７０１から、ピン２には応答出力信号評価器３０２が
接続されていることから、横の見出し７０７からは、応
答出力信号の信号電圧がＨであると判定するための判定
電圧が３Ｖ、横の見出し７０８からは、応答出力信号の
信号電圧がＬであると判定するための判定電圧が０Ｖ、
といった情報が得られるものである。これら情報から信
号表示部１１５では、図１０に示すテストパターンの横
の見出し１００４に対応したテスト周期が６０ｎｓであ
り、テスタのピン１から出力されるテスト信号はテスト
周期開始時点から２０ｎｓ経過した時点で３Ｖから０Ｖ
に変化し、また、テスタのピン２で評価される信号、即
ち、テスト周期開始時点から５０ｎｓ経過した時点での
応答出力信号の電圧値は３Ｖ以上であることが求められ
るものである。

【００２７】以上の情報にもとづき信号表示部１１５で
は、ディスプレイ１０１上にテスト／応答出力信号動作
を表示するが、図１１にその表示例を示す。図示のよう
に、信号表示部１１５により先ず波線で囲まれた部分１
１０５にはテスタのピン名称であるピン１、ピン２が描
画された後、縦の実線１１００，１１０１が描画され、
更に、図１０に示す見出し１００４対応のテスト周期
（６０ｎｓ）に対応した時間スケールが、縦の実線１１
００、１１０１間の矢印１１０６で描画されるものとな
っている。縦の実線１１００、１１０１はそれぞれテス
ト周期開始位置とその終了位置を表しているわけであ
る。その後、信号表示部１１５により、テスト周期開始
時点から２０ｎｓ経過した時点で３Ｖから０Ｖに変化す
る、ピン１上でのテスト信号動作が描画されるが、その
際、信号表示部１１５により縦の実線１１００から２０
ｎｓ経過した位置まで矢印１１０７を描画することで、
この位置で３Ｖから０Ｖに変化するように、テスト信号
が描画されるものとなっている。更に、その後、信号表
示部１１５により、テスト周期開始時点から５０ｎｓ経
過した時点での電圧が３Ｖ以上ある、ピン２上でのの応
答出力信号動作が描画されるものとなっている。信号表
示部１１５によって、縦の実線１１００から５０ｎｓ経
過した位置まで矢印１１０８が描画され、その位置に応
答出力信号の信号電圧を観測するタイミングを表すシン
ボル１１０９が描画された上、そのシンボル１１０９位
置での信号電圧が３Ｖである、ピン２上での応答出漁信
号が描画されているものである。信号表示部１１５で
は、以上の処理を図１０に示す見出し１００５〜１００
７各々についても順次実行することで、４つのテスト周
期に亘るテスト／応答出力信号動作がディスプレイ１０
１上で表示されているものである。実線１１００、１１
０１間の領域は第１テスト周期を、実線１１０１、１１
０２間の領域は第２テスト周期を、実線１１０２、１１
０３間の領域は第３テスト周期を、実線１１０３、１１
０４間の領域は第４テスト周期をそれぞれ示しているわ
けである。信号表示部１１５では、ディスプレイ１０１
上にテスト／応答出力信号動作の表示した後、ＣＰＵ１
００に処理が終了したことを通知するが、これにもとづ
きＣＰＵ１００では、処理の終了をディスプレイ１０１
上に表示することで、一連の処理は終了されているもの
である。ディスプレイ１０１上でのテスト／応答出力信
号動作の表示を参照しつつ、テストプログラム検証作業
を行えるものである。

【００２８】［実施例その３］更に、異なる他の実施例
について図１，図４，図６，図７により説明すれば、先
ず図１において、テスト設計者はテスト仕様書１１０に
従ってテストプログラム１１１をプログラミングする。
図６にテストプログラムの例を示す。次に、テスト設計
者はこのテストプログラムをプログラム検証装置に接続
されているテスタ１１９に転送せしめた上、テスタ１１
９にテストを実行させることで、テスタ１１９内のハー
ドウエア各々にはデータを設定せしめるもとなってい
る。その後、プログラム検証装置が起動されれば、ＣＰ
Ｕ１００によりデータ参照部１１８が起動され、テスタ
仕様データベース１０４から呼び出された、図４に示す
テスタ設定データの一覧表は入力データとしてデータ参
照部１１８に渡されるものとなっている。データ参照部
１１８では、テスタ１１９内のハードウエア各々へのデ
ータ設定状況が調べられ、テスタ設定データ一覧表に設
定データを書き込んだ上、メモリ１０９にテスタ設定デ
ータ１１２として格納されるものとなっている。図７に
書き込まれたテスタ設定データの例を示す。これ以降で
の処理は、上記［実施例その１］，［実施例その２］の
場合と同様であるので、説明は省略する。

【００２９】［実施例その４］既述の［実施例その１］
では、フォーマット変換部１０７によりテスタ設定デー
タ１１２はテスト仕様１１０と同一フォーマットに変換
された上、出力データ１１３としてメモリ１０９に格納
された後、出力データ１１３とテスト仕様１１０が比較
部１０８で比較されているが、フォーマット変換部１０
７によりテスタ設定データ１１２がテスト設計者が容易
に理解し得るフォーマットに変換された上、ディスプレ
イ１０１上に表示される場合にも、プログラム検証は行
えるものとなっている。

【００３０】

【発明の効果】以上、説明したように、請求項１，２に
よる場合は、プログラムの命令を解釈することによっ
て、その命令により所定のハードウエア各々にデータが
設定される際に、そのプログラムがプログラム仕様書通
りに作成されているか否かを容易に検証し得るプログラ
ム検証方法とその装置が、また、請求項３，４による場
合には、テストプログラムの命令を解釈することによっ
て、その命令により所定のハードウエア各々にデータが
設定される際に、テストプログラム仕様書での指示と異
なるデータが設定されているハードウエアが検索・表示
可とされた状態で、そのテストプログラムがテストプロ
グラム仕様書通りに作成されているか否かを容易に検証
し得るプログラム検証方法とその装置が、更に、請求項
５，６によれば、テストプログラムの命令を解釈するこ
とによって、その命令により所定のハードウエア各々に
データが設定される際に、テストプログラム仕様書での
指示と異なるデータが設定されていることを容易に発見
可として、そのテストプログラムがテストプログラム仕
様書通りに作成されているか否かを容易に検証し得るプ
ログラム検証方法とその装置が、更にまた、請求項７，
８による場合は、テストプログラムの命令を解釈するこ
とによって、その命令により所定のハードウエア各々に
データが設定される際に、テスト実行時での信号動作が
シミュレートされた上、視覚的に表示されることで、そ
のテストプログラムがテストプログラム仕様書通りに作
成されているか否かを容易に検証し得るプログラム検証
方法とその装置がそれぞれ得られるものとなっている。

【００３１】請求項９，１０による場合は、テストプロ
グラムの命令を解釈することによって、その命令により
テスタ内の所定のハードウエア各々にデータが設定され
る際に、テストプログラム仕様書での指示と異なるデー
タが設定されているハードウエアが検索・表示可とされ
た状態で、そのテストプログラムがテストプログラム仕
様書通りに作成されているか否かを容易に検証し得るプ
ログラム検証方法とその装置が、また、請求項１１，１
２による場合には、テストプログラムの命令を解釈する
ことによって、その命令によりテスタ内の所定のハード
ウエア各々にデータが設定される際に、テストプログラ
ム仕様書での指示と異なるデータが設定されていること
を容易に発見可として、そのテストプログラムがテスト
プログラム仕様書通りに作成されているか否かを容易に
検証し得るプログラム検証方法とその装置が、更に、請
求項１３，１４によれば、テストプログラムの命令を解
釈することによって、その命令によりテスタ内の所定の
ハードウエア各々にデータが設定される際に、テスト実
行時での信号動作がシミュレートされた上、視覚的に表
示されることで、そのテストプログラムがテストプログ
ラム仕様書通りに作成されているか否かを容易に検証し
得るプログラム検証方法とその装置がそれぞれ得られる
ものとなっている。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は、本発明によるテストプログラム検証装
置の一例での全体構成を示す図

【図２】図２は、そのプログラム検証装置によりテスト
プログラムがテスト仕様書通りに作成されているか否か
を検証する場合での処理の流れを示す図

【図３】図３は、一般化されたテスタの内部構成をテス
ト対象としてのＩＣとともに示す図

【図４】図４は、テスタ内のハードウエア各々に対し設
定可能なデータの一覧表をテスタ仕様として示す図

【図５】図５は、テスト仕様の例を示す図

【図６】図６は、テストプログラムの例を示す図

【図７】図７は、テスタ設定データの例を示す図

【図８】図８は、テスト仕様とテスタ設定データの比較
結果の例を示す図

【図９】図９は、本発明によるプログラム検証装置での
信号表示処理の流れを説明するための図

【図１０】図１０は、テストパターンの例を示す図

【図１１】図１１は、テスト・応答出力信号の表示例を
示す図

【符号の説明】 １００…中央処理装置、１０１…ディスプレイ、１０２
…キーボード、１０３…ポインティングデバイス、１０
４…テスタ仕様データベース、１０５…テスタ仕様、１
０６…シミュレータ部、１０７…フォーマット変換部、
１０８…比較部、１０９…メモリ、１１５…信号表示
部、１１６…テストパターン格納メモリ、１１８…デー
タ参照部、１１９…テスタ

Claims (14)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 プログラムの命令を解釈することによっ
   て、該命令により所定のハードウエア各々に対して設定
   されるデータを抽出し、抽出されたデータは該データの
   記述形式がプログラム仕様書と同一記述形式に変換され
   た上、該プログラム仕様書で指示されたデータと比較さ
   れることによって、該プログラム仕様書での指示と異な
   るデータが設定されているハードウエアが検索された
   上、表示されるようにしたプログラム検証方法。
2. 【請求項２】 プログラムの命令を解釈することによっ
   て、該命令により所定のハードウエア各々に対して設定
   されるデータを抽出するデータ抽出部と、該データ抽出
   部からの抽出データの記述形式をプログラム仕様書と同
   一記述形式に変換するデータ記述型式変換部と、該デー
   タ記述型式変換部からの記述型式変換後のデータと上記
   プログラム仕様書で指示されているデータとを比較し、
   該プログラム仕様書での指示と異なるデータが設定され
   ているハードウエアを検索する誤設定ハードウエア検索
   部と、該誤設定ハードウエア検索部からの、データ誤設
   定に係るハードウエアを表示する表示部と、が具備され
   てなるプログラムの検証装置。
3. 【請求項３】 テストプログラムの命令を解釈すること
   によって、該命令によりテスタ内の所定のハードウエア
   各々に対して設定されるデータを抽出し、抽出されたデ
   ータは該データの記述形式がテストプログラム仕様書と
   同一記述形式に変換された上、該テストプログラム仕様
   書で指示されたデータと比較されることによって、該テ
   ストプログラム仕様書での指示と異なるデータが設定さ
   れているハードウエアが検索された上、表示されるよう
   にしたプログラム検証方法。
4. 【請求項４】 テストプログラムの命令を解釈すること
   によって、該命令によりテスタ内の所定のハードウエア
   各々に対して設定されるデータを抽出するデータ抽出部
   と、該データ抽出部からの抽出データの記述形式をテス
   トプログラム仕様書と同一記述形式に変換するデータ記
   述型式変換部と、該データ記述型式変換部からの記述型
   式変換後のデータと上記テストプログラム仕様書で指示
   されているデータとを比較し、該テストプログラム仕様
   書での指示と異なるデータが設定されているハードウエ
   アを検索する誤設定ハードウエア検索部と、該誤設定ハ
   ードウエア検索部からの、データ誤設定に係るハードウ
   エアを表示する表示部と、が具備されてなるプログラム
   の検証装置。
5. 【請求項５】 テストプログラムの命令を解釈すること
   によって、該命令によりテスタ内の所定のハードウエア
   各々に対して設定されるデータを抽出し、抽出されたデ
   ータは該データの記述形式が所定の記述形式に変換され
   た上、表示されるようにしたプログラム検証方法。
6. 【請求項６】 テストプログラムの命令を解釈すること
   によって、該命令によりテスタ内の所定のハードウエア
   各々に対して設定されるデータを抽出するデータ抽出部
   と、該データ抽出部からの抽出データの記述形式を所定
   の記述形式に変換するデータ記述型式変換部と、該デー
   タ記述型式変換部からの記述型式変換後のデータを表示
   する表示部と、が具備されてなるプログラムの検証装
   置。
7. 【請求項７】 テストプログラムの命令を解釈すること
   によって、該命令によりテスタ内の所定のハードウエア
   各々に対して設定されるデータを抽出し、抽出されたデ
   ータと予め記憶されている、テスト周期各々でのテスト
   信号および該テスト信号に対する期待信号を含むテスト
   パターンとにもとづき、テスト実行時での信号動作がシ
   ミュレートされた上、視覚的に表示されるようにしたプ
   ログラム検証方法。
8. 【請求項８】 テストプログラムの命令を解釈すること
   によって、該命令によりテスタ内の所定のハードウエア
   各々に対して設定されるデータを抽出するデータ抽出部
   と、該データ抽出部からの抽出データと予め記憶されて
   いる、テスト周期各々でのテスト信号および該テスト信
   号に対する期待信号を含むテストパターンとにもとづ
   き、テスト実行時での信号動作をシミュレートする信号
   動作シミュレート部と、上記信号動作を視覚的に表示す
   る表示部と、が具備されてなるプログラムの検証装置。
9. 【請求項９】 テスタから、該テスタ内の所定のハード
   ウエア各々に対して実際に設定されているデータを読み
   出し、読出しされたデータは該データの記述形式がテス
   トプログラム仕様書と同一記述形式に変換された上、該
   テストプログラム仕様書で指示されたデータと比較され
   ることによって、該テストプログラム仕様書での指示と
   異なるデータが設定されているハードウエアが検索され
   た上、表示されるようにしたプログラム検証方法。
10. 【請求項１０】 テスタから、該テスタ内の所定のハー
    ドウエア各々に対して実際に設定されているデータを読
    み出すデータ読出部と、該データ読出部からの読出デー
    タの記述形式をテストプログラム仕様書と同一記述形式
    に変換するデータ記述型式変換部と、該データ記述型式
    変換部からの記述型式変換後のデータと上記テストプロ
    グラム仕様書で指示されているデータとを比較し、該テ
    ストプログラム仕様書での指示と異なるデータが設定さ
    れているハードウエアを検索する誤設定ハードウエア検
    索部と、該誤設定ハードウエア検索部からの、データ誤
    設定に係るハードウエアを表示する表示部と、が具備さ
    れてなるプログラムの検証装置。
11. 【請求項１１】 テスタから、該テスタ内の所定のハー
    ドウエア各々に対して実際に設定されているデータを読
    み出し、読出しされたデータは該データの記述形式が所
    定の記述形式に変換された上、表示されるようにしたプ
    ログラム検証方法。
12. 【請求項１２】 テスタから、該テスタ内の所定のハー
    ドウエア各々に対して実際に設定されているデータを読
    み出すデータ読出部と、該データ読出部からの読出デー
    タの記述形式を所定の記述形式に変換するデータ記述型
    式変換部と、該データ記述型式変換部からの記述型式変
    換後のデータを表示する表示部と、が具備されてなるプ
    ログラムの検証装置。
13. 【請求項１３】 テスタから、該テスタ内の所定のハー
    ドウエア各々に対して実際に設定されているデータが読
    み出し、読出しされたデータと予め記憶されている、テ
    スト周期各々でのテスト信号および該テスト信号に対す
    る期待信号を含むテストパターンとにもとづき、テスト
    実行時での信号動作がシミュレートされた上、視覚的に
    表示されるようにしたプログラム検証方法。
14. 【請求項１４】 テスタから、該テスタ内の所定のハー
    ドウエア各々に対して実際に設定されているデータを読
    み出すデータ読出部と、該データ読出部からの読出デー
    タと予め記憶されている、テスト周期各々でのテスト信
    号および該テスト信号に対する期待信号を含むテストパ
    ターンとにもとづき、テスト実行時での信号動作をシミ
    ュレートする信号動作シミュレート部と、上記信号動作
    を視覚的に表示する表示部と、が具備されてなるプログ
    ラムの検証装置。