JPH06260672A - 光電デテクタ - Google Patents
光電デテクタInfo
- Publication number
- JPH06260672A JPH06260672A JP5053073A JP5307393A JPH06260672A JP H06260672 A JPH06260672 A JP H06260672A JP 5053073 A JP5053073 A JP 5053073A JP 5307393 A JP5307393 A JP 5307393A JP H06260672 A JPH06260672 A JP H06260672A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor material
- band
- energy
- barrier
- photoelectric detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y20/00—Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/10—Semiconductor bodies
- H10F77/14—Shape of semiconductor bodies; Shapes, relative sizes or dispositions of semiconductor regions within semiconductor bodies
- H10F77/146—Superlattices; Multiple quantum well structures
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/10—Semiconductor bodies
- H10F77/14—Shape of semiconductor bodies; Shapes, relative sizes or dispositions of semiconductor regions within semiconductor bodies
- H10F77/146—Superlattices; Multiple quantum well structures
- H10F77/1465—Superlattices; Multiple quantum well structures including only Group IV materials, e.g. Si-SiGe superlattices
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 多重量子井戸構造を有する型の光電デテクタ
を提供する。 【構成】 半導体物質が少なくとも部分的にキャリヤに
よってドーピングされ、第1および第3半導体物質C1
〜C3の化学組成は、バリヤB1,2において、前記第
1半導体物質中の前記電子バンドのエネルギー極値と前
記第3半導体物質中の前記電子バンドのエネルギー極値
とのエネルギー差分が井戸を構成する第2半導体物質中
の光縦フォノンの最大エネルギーより大となるように選
定され、前記構造は第2半導体物質層と、キャリヤ方向
において1つの井戸の第2バリヤから次の井戸の第1バ
リヤまで前記第3半導体物質の組成から前記第1半導体
物質の組成まで徐々に変動する化学組成を有し、前記第
2半導体物質層を相互に分離する半導体物質層とから成
る交互層の堆積によって前記構造が形成される。
を提供する。 【構成】 半導体物質が少なくとも部分的にキャリヤに
よってドーピングされ、第1および第3半導体物質C1
〜C3の化学組成は、バリヤB1,2において、前記第
1半導体物質中の前記電子バンドのエネルギー極値と前
記第3半導体物質中の前記電子バンドのエネルギー極値
とのエネルギー差分が井戸を構成する第2半導体物質中
の光縦フォノンの最大エネルギーより大となるように選
定され、前記構造は第2半導体物質層と、キャリヤ方向
において1つの井戸の第2バリヤから次の井戸の第1バ
リヤまで前記第3半導体物質の組成から前記第1半導体
物質の組成まで徐々に変動する化学組成を有し、前記第
2半導体物質層を相互に分離する半導体物質層とから成
る交互層の堆積によって前記構造が形成される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、多重量子井戸構造を示
す型の光電デテクタに関するものである。本発明の特に
望ましい応用分野は、特に2×1013乃至4×1013H
zの周波数範囲の赤外線デテクタの分野である。
す型の光電デテクタに関するものである。本発明の特に
望ましい応用分野は、特に2×1013乃至4×1013H
zの周波数範囲の赤外線デテクタの分野である。
【0002】
【従来の技術】最近まで、2×1013乃至4×1013H
zの周波数範囲のデテクタはメンデレーエフ周期律表の
第II族および第VI族の元素から成る物質、主として
HgCdTeによって製造されていた。これらの物質
は、所要幅(100乃至200meV)の禁止帯を有
し、顕著な検出性を示す。その主たる欠点は良質の接触
とp−n接合の実現が困難な事であり、この欠点がII
−VI物質を使用するデバイスの発達を制限していた。
特に、十分サイズの光電デテクタ・マトリックスの信頼
できる製造法が知られていない。
zの周波数範囲のデテクタはメンデレーエフ周期律表の
第II族および第VI族の元素から成る物質、主として
HgCdTeによって製造されていた。これらの物質
は、所要幅(100乃至200meV)の禁止帯を有
し、顕著な検出性を示す。その主たる欠点は良質の接触
とp−n接合の実現が困難な事であり、この欠点がII
−VI物質を使用するデバイスの発達を制限していた。
特に、十分サイズの光電デテクタ・マトリックスの信頼
できる製造法が知られていない。
【0003】80年代初期に、2×1013乃至4×10
13Hzの周波数範囲における検出のために、量子井戸に
おいてバンド間遷移ではなくサブバンド間遷移を使用す
る事が提案された。この型の光電デテクタは、非常に一
般的に、第1半導体物質から成る「第1」バリヤと、第
2半導体物質から成る「井戸」と、第3半導体物質から
成る「第2」バリヤとから成り、各半導体物質がその化
学組成によって定義され、また前記各物質のエネルギー
極値を代表する与えられた電子バンド中の与えられた電
荷キャリヤの第1バリヤから第2バリヤへの伝播によっ
て、前記デテクタ中の導電性が保証されるように成され
た量子井戸構造を成す。実際上、量子井戸光電デテクタ
は一般に前記半導体物質の各層の基板上の連続エピタキ
シーによって製造される。
13Hzの周波数範囲における検出のために、量子井戸に
おいてバンド間遷移ではなくサブバンド間遷移を使用す
る事が提案された。この型の光電デテクタは、非常に一
般的に、第1半導体物質から成る「第1」バリヤと、第
2半導体物質から成る「井戸」と、第3半導体物質から
成る「第2」バリヤとから成り、各半導体物質がその化
学組成によって定義され、また前記各物質のエネルギー
極値を代表する与えられた電子バンド中の与えられた電
荷キャリヤの第1バリヤから第2バリヤへの伝播によっ
て、前記デテクタ中の導電性が保証されるように成され
た量子井戸構造を成す。実際上、量子井戸光電デテクタ
は一般に前記半導体物質の各層の基板上の連続エピタキ
シーによって製造される。
【0004】量子井戸において、キャリヤがエピタキシ
ャル成長方向に閉じ込められるので、量子化エネルギー
準位を形成させる。例えば、第1および第3物質がGa
0.7 Al0.3 Asから成り第2物質がGaAsから成る
システム中の5nmのオーダの幅の井戸の場合、最初の
2準位の間に得られる分離は所望の波長に対応する。前
記のシステムにおいて、キャリヤは電子であり、また前
記の電子バンドは伝導帯である。井戸にドナーをドープ
すれば、井戸の基礎準位において電子母集団が得られ、
この場合、入射光が正確に偏光される限りシステムは吸
収する事ができる。キャリヤが電子である時、偏光が層
の成長方向に平行な成分を有する場合にのみ遷移が許さ
れる。従って、前述のような量子井戸光電デテクタの基
本原理はその後、多くの修正によって改良された。例え
ば遷移は実際上、井戸中の2つの量子化準位の間におい
て生じる事なく、閉じ込められた準位とバリヤ上方の準
位ミニバンドとの間において生じる。このようにして、
光励起された電子が電流に寄与する確率が高い。
ャル成長方向に閉じ込められるので、量子化エネルギー
準位を形成させる。例えば、第1および第3物質がGa
0.7 Al0.3 Asから成り第2物質がGaAsから成る
システム中の5nmのオーダの幅の井戸の場合、最初の
2準位の間に得られる分離は所望の波長に対応する。前
記のシステムにおいて、キャリヤは電子であり、また前
記の電子バンドは伝導帯である。井戸にドナーをドープ
すれば、井戸の基礎準位において電子母集団が得られ、
この場合、入射光が正確に偏光される限りシステムは吸
収する事ができる。キャリヤが電子である時、偏光が層
の成長方向に平行な成分を有する場合にのみ遷移が許さ
れる。従って、前述のような量子井戸光電デテクタの基
本原理はその後、多くの修正によって改良された。例え
ば遷移は実際上、井戸中の2つの量子化準位の間におい
て生じる事なく、閉じ込められた準位とバリヤ上方の準
位ミニバンドとの間において生じる。このようにして、
光励起された電子が電流に寄与する確率が高い。
【0005】B.F.レビンほか(Appl. Phys. Lett.5
7(4),1990, pp 383-385 )は、一定範囲の波長において
調整可能のデテクタを得るため、井戸の2つのバリヤの
間に限定された非対称を導入する事を提案した。他の改
良法は、選択規則を考慮して入射光を多重量子井戸とさ
らに効率的に結合させる周期を有する格子を光電デテク
タの接触上側面に彫刻するにある。このようにして、G
aAs素材上の技術的処理の発達を利用して、256×
256光電デテクタ・マトリックスも余り困難なく製造
する事ができる。この型のマトリックスは60゜Kで有
効である事が実証された。得られた画像の熱解像度は約
0.1゜Kである。この事自体が他の競合システムに対
する大きな利点である。
7(4),1990, pp 383-385 )は、一定範囲の波長において
調整可能のデテクタを得るため、井戸の2つのバリヤの
間に限定された非対称を導入する事を提案した。他の改
良法は、選択規則を考慮して入射光を多重量子井戸とさ
らに効率的に結合させる周期を有する格子を光電デテク
タの接触上側面に彫刻するにある。このようにして、G
aAs素材上の技術的処理の発達を利用して、256×
256光電デテクタ・マトリックスも余り困難なく製造
する事ができる。この型のマトリックスは60゜Kで有
効である事が実証された。得られた画像の熱解像度は約
0.1゜Kである。この事自体が他の競合システムに対
する大きな利点である。
【0006】しかし、実用的な光電デテクタを容易に製
造するためには、操作温度をできるだけ高くする必要が
ある。このような結果を得るためには、量子井戸デテク
タの検出度を改良しなければならない。この検出度は、
種々のパラメータ、特にサブバンド間の吸収係数の値に
よって影響される。この吸収係数を改良するための種々
の技術が提案された。例えば、主バリヤの組成と異なる
組成の薄いバリヤによって量子井戸を包囲する方法が提
案された。しかし一般にその利得と損失が相殺される。
前記の実施例においては、吸収における利得がバリヤに
向かっての電子転送係数の損失を伴う。
造するためには、操作温度をできるだけ高くする必要が
ある。このような結果を得るためには、量子井戸デテク
タの検出度を改良しなければならない。この検出度は、
種々のパラメータ、特にサブバンド間の吸収係数の値に
よって影響される。この吸収係数を改良するための種々
の技術が提案された。例えば、主バリヤの組成と異なる
組成の薄いバリヤによって量子井戸を包囲する方法が提
案された。しかし一般にその利得と損失が相殺される。
前記の実施例においては、吸収における利得がバリヤに
向かっての電子転送係数の損失を伴う。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】公知の量子井戸デテク
タの出力の基本的限界の1つは、デテクタのミニバンド
の光励起電子の井戸中の捕獲時間にある。実際に、この
型の構造の応答特性Rは、吸収係数(a)×井戸の中に
捕獲されずに再び接点に戻る電子の確率として非常に簡
単に現す事ができる。τcaptを平均捕獲時間としまたτ
drift を電子が構造を横断する時間とすれば、下記の式
(1)が得られる: Rαa・τcapt/τdrift (1)
タの出力の基本的限界の1つは、デテクタのミニバンド
の光励起電子の井戸中の捕獲時間にある。実際に、この
型の構造の応答特性Rは、吸収係数(a)×井戸の中に
捕獲されずに再び接点に戻る電子の確率として非常に簡
単に現す事ができる。τcaptを平均捕獲時間としまたτ
drift を電子が構造を横断する時間とすれば、下記の式
(1)が得られる: Rαa・τcapt/τdrift (1)
【0008】比率τcapt/τdrift を利得係数gで表
す。これは、平均捕獲時間が1つの接点から次の接点ま
でのドリフト時間より長ければ、デテクタが利得を示す
事を意味する。光デテクタの検出特性は、Rのみなら
ず、デバイスの暗電流のノイズiの寄与にも依存する。
実験的に、非常に近似的にiはショットノイズである事
が示されている。Idを暗電流とすれば、下記の式が得
られる:
す。これは、平均捕獲時間が1つの接点から次の接点ま
でのドリフト時間より長ければ、デテクタが利得を示す
事を意味する。光デテクタの検出特性は、Rのみなら
ず、デバイスの暗電流のノイズiの寄与にも依存する。
実験的に、非常に近似的にiはショットノイズである事
が示されている。Idを暗電流とすれば、下記の式が得
られる:
【0009】id(Id・g)1/2 および DαR/iα a×g1/2 /d1/2
【0010】出願人は、電子が量子井戸の中に捕獲され
るプロセスを深さにおいて分析し、ルミネッセンス実験
によって測定し、ピコ秒より高い精度まで経時的に定量
した。この検査結果は、通常構造において捕獲時間は常
に極度に短く、約1ピコ秒またはこれ以下である事を示
した。電子が構造を通過する時間は、これより長く、1
0psのオーダである。これは、現在公知の量子井戸デ
テクタの性能の限界を成す。
るプロセスを深さにおいて分析し、ルミネッセンス実験
によって測定し、ピコ秒より高い精度まで経時的に定量
した。この検査結果は、通常構造において捕獲時間は常
に極度に短く、約1ピコ秒またはこれ以下である事を示
した。電子が構造を通過する時間は、これより長く、1
0psのオーダである。これは、現在公知の量子井戸デ
テクタの性能の限界を成す。
【0011】本発明の目的は、構造を変更して光発生キ
ャリヤの捕獲時間を増大する事によって改良された検出
特性を有する多重量子井戸構造を有する光電デテクタを
提供するにある。
ャリヤの捕獲時間を増大する事によって改良された検出
特性を有する多重量子井戸構造を有する光電デテクタを
提供するにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、前記の
量子井戸構造を有する光電デテクタは、前記半導体物質
が少なくとも部分的にキャリヤによってドーピングさ
れ、前記第1および第3半導体物質の化学組成は、前記
バリヤにおいて、前記第1半導体物質中の前記電子バン
ドのエネルギー極値と前記第3半導体物質中の前記電子
バンドのエネルギー極値とのエネルギー差分の絶対値が
井戸を構成する半導体物質中の光縦フォノンの最大エネ
ルギーより大となるように選定される。本発明によれ
ば、第2半導体物質層と、キャリヤ方向において1つの
井戸の第2バリヤから次の井戸の第1バリヤまで、前記
第3半導体物質の組成から前記第1半導体物質の組成ま
で変動する化学組成を有し、前記第2半導体物質層を分
離する半導体物質層とから成る交互層の堆積によって前
記構造が形成される。
量子井戸構造を有する光電デテクタは、前記半導体物質
が少なくとも部分的にキャリヤによってドーピングさ
れ、前記第1および第3半導体物質の化学組成は、前記
バリヤにおいて、前記第1半導体物質中の前記電子バン
ドのエネルギー極値と前記第3半導体物質中の前記電子
バンドのエネルギー極値とのエネルギー差分の絶対値が
井戸を構成する半導体物質中の光縦フォノンの最大エネ
ルギーより大となるように選定される。本発明によれ
ば、第2半導体物質層と、キャリヤ方向において1つの
井戸の第2バリヤから次の井戸の第1バリヤまで、前記
第3半導体物質の組成から前記第1半導体物質の組成ま
で変動する化学組成を有し、前記第2半導体物質層を分
離する半導体物質層とから成る交互層の堆積によって前
記構造が形成される。
【0013】従って、公知の量子井戸のように同一また
はほとんど同一組成のバリヤを有するのでなく、本発明
によるホトデテクタのバリヤの組成は量子井戸の一方の
側の準位エネルギーが他方の側の電子エネルギーより、
例えばGaAlAs/GaAsシステムの場合、50m
eV以上大となるように変動する。このようにして、本
発明の光電デテクタが作動する場合のように電場に配置
される時、井戸の縁に達するキャリヤはその捕捉確率を
制限する下記の2つの効果を受ける: −キャリヤが不連続を通過する際により大きな動的エネ
ルギーを取得するので、キャリヤの速度が増大される。 −キャリヤの捕捉確率が光フォノンの放出によって低減
される。これは、この型のフォノンが放出された後にお
いても、キャリヤはなおもミニバンドの状態にあるから
である。井戸は相当に狭いので、衝撃によるイオン化の
問題は実際上解決される。
はほとんど同一組成のバリヤを有するのでなく、本発明
によるホトデテクタのバリヤの組成は量子井戸の一方の
側の準位エネルギーが他方の側の電子エネルギーより、
例えばGaAlAs/GaAsシステムの場合、50m
eV以上大となるように変動する。このようにして、本
発明の光電デテクタが作動する場合のように電場に配置
される時、井戸の縁に達するキャリヤはその捕捉確率を
制限する下記の2つの効果を受ける: −キャリヤが不連続を通過する際により大きな動的エネ
ルギーを取得するので、キャリヤの速度が増大される。 −キャリヤの捕捉確率が光フォノンの放出によって低減
される。これは、この型のフォノンが放出された後にお
いても、キャリヤはなおもミニバンドの状態にあるから
である。井戸は相当に狭いので、衝撃によるイオン化の
問題は実際上解決される。
【0014】継続的またピコ秒解像力を示すルミネッセ
ンス実験は、量子井戸の捕獲率を低減させるこの型の構
造の有効性を実証した。前記の式(1)により、出力は
同程度に増大される。一般式Gax Al1-x Asに見合
う半導体物質を利用する量子井戸構造において、キャリ
ヤは好ましくは伝導帯から出る電子である。この場合キ
ャリヤの符号は負であるので、第2バリヤ中の伝導帯の
エネルギー極値は、第1バリヤ中の伝導帯のエネルギー
極値より低い。
ンス実験は、量子井戸の捕獲率を低減させるこの型の構
造の有効性を実証した。前記の式(1)により、出力は
同程度に増大される。一般式Gax Al1-x Asに見合
う半導体物質を利用する量子井戸構造において、キャリ
ヤは好ましくは伝導帯から出る電子である。この場合キ
ャリヤの符号は負であるので、第2バリヤ中の伝導帯の
エネルギー極値は、第1バリヤ中の伝導帯のエネルギー
極値より低い。
【0015】しかし本発明は、キャリヤが荷電子帯から
出る正孔である多重量子井戸光電デテクタの製造を可能
とするという大きな利点を有する。これは、一般式Si
x Ge1-x の物質の場合であって、この物質はケイ素テ
クノロジーと両立するので、このようにして得られた光
デテクタがもっとも有効なケイ素基電子成分に組み込ま
れる利点を有する。この型のシステムにおいては、第1
バリヤ中の荷電子帯のエネルギー極値は第2バリヤ中の
荷電子帯の極値エネルギーより低くなければならない。
以下、本発明を図面に示す実施例について詳細に説明す
るが本発明はこれに限定されるものではない。
出る正孔である多重量子井戸光電デテクタの製造を可能
とするという大きな利点を有する。これは、一般式Si
x Ge1-x の物質の場合であって、この物質はケイ素テ
クノロジーと両立するので、このようにして得られた光
デテクタがもっとも有効なケイ素基電子成分に組み込ま
れる利点を有する。この型のシステムにおいては、第1
バリヤ中の荷電子帯のエネルギー極値は第2バリヤ中の
荷電子帯の極値エネルギーより低くなければならない。
以下、本発明を図面に示す実施例について詳細に説明す
るが本発明はこれに限定されるものではない。
【0016】
【実施例】図1乃至図5は単一量子井戸構造に関するも
のであり、多重量子井戸構造に関する本発明の理解を容
易にするために記載される。図1は、本発明の理解を助
けるために図示された単一量子井戸を有する光電デテク
タ構造の断面図であって、第1電気接触層C5を介して
基板S上に堆積された3層から成り、すなわち第1バリ
ヤB1を成す第1半導体物質の厚さL1の層C1と、井
戸Pを成す第2半導体物質の厚さL2の中間層C2と、
第2バリヤB2を成す第3半導体物質の厚さL3の層C
1とから成る。層C1は第2電気接触層C4によって覆
われている。
のであり、多重量子井戸構造に関する本発明の理解を容
易にするために記載される。図1は、本発明の理解を助
けるために図示された単一量子井戸を有する光電デテク
タ構造の断面図であって、第1電気接触層C5を介して
基板S上に堆積された3層から成り、すなわち第1バリ
ヤB1を成す第1半導体物質の厚さL1の層C1と、井
戸Pを成す第2半導体物質の厚さL2の中間層C2と、
第2バリヤB2を成す第3半導体物質の厚さL3の層C
1とから成る。層C1は第2電気接触層C4によって覆
われている。
【0017】各層C1,C2,C3の中の帯構造を図2
において基本的スケッチとして示し、またこの図2は伝
導帯BC1,BC2,BC3と、荷電子帯BV1,BV
2,BV3とを示す。この種の単一量子井戸構造におい
ては、半導体物質の組成は各層の厚さ全体を通して一定
である。図2のダイヤグラムにおいて、例えば伝導帯は
ブリュアン帯域中心Γ1、Γ2、Γ3において,それぞ
れ極値、この場合には最小値を示す。
において基本的スケッチとして示し、またこの図2は伝
導帯BC1,BC2,BC3と、荷電子帯BV1,BV
2,BV3とを示す。この種の単一量子井戸構造におい
ては、半導体物質の組成は各層の厚さ全体を通して一定
である。図2のダイヤグラムにおいて、例えば伝導帯は
ブリュアン帯域中心Γ1、Γ2、Γ3において,それぞ
れ極値、この場合には最小値を示す。
【0018】それぞれの電子帯のそれぞれの位置は本質
的に半導体物質の化学組成に依存する。このように構成
された光電デテクタの中の導電性は、与えられた電子バ
ンド(伝導帯または荷電子帯)中の与えられた荷電キャ
リヤ(電子または正孔)の、第1バリヤB1から第2バ
リヤB2の方向の伝播によって保証される。
的に半導体物質の化学組成に依存する。このように構成
された光電デテクタの中の導電性は、与えられた電子バ
ンド(伝導帯または荷電子帯)中の与えられた荷電キャ
リヤ(電子または正孔)の、第1バリヤB1から第2バ
リヤB2の方向の伝播によって保証される。
【0019】図3は、各層のブリュアン帯域中心におい
て取られた伝導帯BC1,BC2,BC3の極小値
Γ1、Γ2、Γ3によって発生された量子井戸のエネル
ギーダイヤグラムである。層C2のポテンシャル井戸に
おいて、キャリヤの閉じ込めの発生する量子化エネルギ
ー準位E1,E2,...Enの値は下記の式から概算
評価される。
て取られた伝導帯BC1,BC2,BC3の極小値
Γ1、Γ2、Γ3によって発生された量子井戸のエネル
ギーダイヤグラムである。層C2のポテンシャル井戸に
おいて、キャリヤの閉じ込めの発生する量子化エネルギ
ー準位E1,E2,...Enの値は下記の式から概算
評価される。
【0020】
【数1】 量子井戸が狭いほど、2つの第1準位E1とE2の間の
エネルギー差分が大きい事は理解されよう。従って、所
望の検出波長に対応して、量子井戸のサイズを調整する
事が可能である。
エネルギー差分が大きい事は理解されよう。従って、所
望の検出波長に対応して、量子井戸のサイズを調整する
事が可能である。
【0021】エネルギー準位Enに対応する波動関数Ψ
nは下記の式から近似的に求められる。 Ψn=Asin(nπZ/L2) n=1,2,3
… ここにAは正規化定数である。量子井戸構造の最下準位
E1を電子でポピュレートするため、層C1、C3の伝
導帯BC1,BC3の領域にドナー準位Ed1を生じま
たは基本層E1の近傍にドナー準位Ed2を生じる不純
物をもって、半導体物質をドーピングする。このように
して電子が準位E1をポピュレートする。同様に荷電子
帯の第1準位を正孔でポピュレートするため、半導体物
質を電子アクセプターによって適当にドーピングする。
nは下記の式から近似的に求められる。 Ψn=Asin(nπZ/L2) n=1,2,3
… ここにAは正規化定数である。量子井戸構造の最下準位
E1を電子でポピュレートするため、層C1、C3の伝
導帯BC1,BC3の領域にドナー準位Ed1を生じま
たは基本層E1の近傍にドナー準位Ed2を生じる不純
物をもって、半導体物質をドーピングする。このように
して電子が準位E1をポピュレートする。同様に荷電子
帯の第1準位を正孔でポピュレートするため、半導体物
質を電子アクセプターによって適当にドーピングする。
【0022】図3において、量子井戸構造の第1励起状
態のエネルギー準位E2は量子井戸の内部に閉じ込めら
れている事がわかる。従って、従ってエネルギー光子h
ν=E2−E1を吸収した後にそこに移動したキャリヤ
は伝播の確率がかなり低く、従って光電信号に実質的に
寄与する確率が低い。この伝播確率を増大するため、ゼ
ロ電場において図4に図示のように、量子井戸の閉じ込
め準位E1と第2バリヤB2の高さより高いエネルギー
準位のミニ帯E2との間の光遷移を実現する事が望まし
い。
態のエネルギー準位E2は量子井戸の内部に閉じ込めら
れている事がわかる。従って、従ってエネルギー光子h
ν=E2−E1を吸収した後にそこに移動したキャリヤ
は伝播の確率がかなり低く、従って光電信号に実質的に
寄与する確率が低い。この伝播確率を増大するため、ゼ
ロ電場において図4に図示のように、量子井戸の閉じ込
め準位E1と第2バリヤB2の高さより高いエネルギー
準位のミニ帯E2との間の光遷移を実現する事が望まし
い。
【0023】この最後のケースにおいて、図5は非ゼロ
電場における量子井戸の作動メカニズムを示す。エネル
ギー光子hνはエネルギーE1のキャリヤ、例えば電子
によって量子井戸の中に吸収されて、ミニバンド中にお
いてエネルギー準位E2に達する。この場合、印加され
た外部電場を受ける電子は構造を通して伝播できるが、
ミニバンド中を循環する電子は量子井戸を通過する際
に、構造によって捕捉されてこの量子井戸の最小エネル
ギー状態E1に戻る一定の確率を有する。
電場における量子井戸の作動メカニズムを示す。エネル
ギー光子hνはエネルギーE1のキャリヤ、例えば電子
によって量子井戸の中に吸収されて、ミニバンド中にお
いてエネルギー準位E2に達する。この場合、印加され
た外部電場を受ける電子は構造を通して伝播できるが、
ミニバンド中を循環する電子は量子井戸を通過する際
に、構造によって捕捉されてこの量子井戸の最小エネル
ギー状態E1に戻る一定の確率を有する。
【0024】この捕捉確率を制限するため、第1および
第3半導体物質の組成は、望ましくは、バリヤB1とB
2において、第1半導体物質の第1層C1中の伝導帯B
C1の極小値Γ1のエネルギーが第3半導体物質の第3
層C3中の伝導帯BC3の極小値Γ3のエネルギーより
大となり、エネルギー差分ΔEが量子井戸Pの第2半導
体物質中の光縦フォノンの最大エネルギーより大となる
ようにする。
第3半導体物質の組成は、望ましくは、バリヤB1とB
2において、第1半導体物質の第1層C1中の伝導帯B
C1の極小値Γ1のエネルギーが第3半導体物質の第3
層C3中の伝導帯BC3の極小値Γ3のエネルギーより
大となり、エネルギー差分ΔEが量子井戸Pの第2半導
体物質中の光縦フォノンの最大エネルギーより大となる
ようにする。
【0025】キャリヤが電子でありまた電子バンドが伝
導帯であるように成されたこの量子井戸は一般式Gax
Al1-x Asのヒ化ガリウム基半導体物質によって製造
する事ができる。特に、第1層C1の第1半導体物質の
組成はGax1-1Al1-x1Asとし、第2層C2の第2半
導体物質の組成はGaAsとし、また第3層の第3半導
体物質の組成はGax3Al1-x3Asとし、ここにx1>
x3、またx1−x3>0.05とし、50meV以上
のバリヤ間エネルギー差分ΔEを有するように成し、こ
のエネルギー差分それ自体がGaAs、AlAsおよび
GaAlAs中の光縦フォノンのエネルギーより大とす
る。代表的には、x1とx3はそれぞれ0.25と0.
2とする。一例として、各層の厚さは、L1=L3=
0.1μmおよびL2=6nmとする。
導帯であるように成されたこの量子井戸は一般式Gax
Al1-x Asのヒ化ガリウム基半導体物質によって製造
する事ができる。特に、第1層C1の第1半導体物質の
組成はGax1-1Al1-x1Asとし、第2層C2の第2半
導体物質の組成はGaAsとし、また第3層の第3半導
体物質の組成はGax3Al1-x3Asとし、ここにx1>
x3、またx1−x3>0.05とし、50meV以上
のバリヤ間エネルギー差分ΔEを有するように成し、こ
のエネルギー差分それ自体がGaAs、AlAsおよび
GaAlAs中の光縦フォノンのエネルギーより大とす
る。代表的には、x1とx3はそれぞれ0.25と0.
2とする。一例として、各層の厚さは、L1=L3=
0.1μmおよびL2=6nmとする。
【0026】本発明による多重量子井戸構造を図6およ
び図7に図示する。この構造は、第2井戸半導体物質、
例えばGaAsの層を、キャリヤの伝播方向において井
戸Pの第2バリヤB2から次の井戸P’の第1バリヤB
1まで第3半導体物質の組成、例えばGax3Al1-x3A
sから第1半導体物質の組成、例えばGax1-1Al1-x1
As(ここにx1>x3とする)まで徐々に変動する化
学組成を有する半導体物質層によって分離して成る交互
堆積層によって形成される。
び図7に図示する。この構造は、第2井戸半導体物質、
例えばGaAsの層を、キャリヤの伝播方向において井
戸Pの第2バリヤB2から次の井戸P’の第1バリヤB
1まで第3半導体物質の組成、例えばGax3Al1-x3A
sから第1半導体物質の組成、例えばGax1-1Al1-x1
As(ここにx1>x3とする)まで徐々に変動する化
学組成を有する半導体物質層によって分離して成る交互
堆積層によって形成される。
【0027】光励起準位E2が量子井戸中において閉じ
込め状態にある図3に図示の構造ダイヤグラムにおい
て、遷移E1→E2が対応波動関数間の大きな重なりの
故に比較的高い振動力を示す事は理解されよう。これに
反して、励起状態E2の閉じ込めはこの励起状態E2に
おいて電子が井戸を出て電流の中に参加する確率を制限
する効果を有する。逆に、図4に図示の構造はこの確率
に関してさらに有利であるが、波動関数の拡張により、
光遷移の振動力が弱くなる。
込め状態にある図3に図示の構造ダイヤグラムにおい
て、遷移E1→E2が対応波動関数間の大きな重なりの
故に比較的高い振動力を示す事は理解されよう。これに
反して、励起状態E2の閉じ込めはこの励起状態E2に
おいて電子が井戸を出て電流の中に参加する確率を制限
する効果を有する。逆に、図4に図示の構造はこの確率
に関してさらに有利であるが、波動関数の拡張により、
光遷移の振動力が弱くなる。
【0028】図8と図9に図示の他の実施態様の目的
は、導電性を改良すると共に活性状態の波動関数の重な
りを光学的に増大するにある。そのため本発明は、エネ
ルギー状態E2の波動関数を閉じ込めるが、ブリュアン
帯域の縁における近接可能の極値、この場合には極小値
の存在によって光発生キャリヤの脱出を許可する。
は、導電性を改良すると共に活性状態の波動関数の重な
りを光学的に増大するにある。そのため本発明は、エネ
ルギー状態E2の波動関数を閉じ込めるが、ブリュアン
帯域の縁における近接可能の極値、この場合には極小値
の存在によって光発生キャリヤの脱出を許可する。
【0029】図8に図示の構造は例えばGa0.9 Al
0.1 Asから成る量子井戸層を含み、この量子井戸層が
その両側において、導電方向において前記第3半導体物
質のAIAsから前記第1半導体物質の例えばGa0.7
Al0.3 Asまで徐々に変動する第2半導体物質層によ
って包囲され、もちろん、第1物質中のブリュアン帯域
中心における伝導帯の極小値Γが第3物質中のブリルア
ン区域縁の伝導帯の極小値Xより大であり、これらの2
つのエネルギー差分ΔEがGaAs中の光縦フォノンの
極大エネルギーより大である条件において、前記の組成
は変動する事ができる。9nmの幅とGa0.9 Al0.1
Asの量子井戸組成において、デテクタは2.7×10
13Hzの範囲内で作動する。
0.1 Asから成る量子井戸層を含み、この量子井戸層が
その両側において、導電方向において前記第3半導体物
質のAIAsから前記第1半導体物質の例えばGa0.7
Al0.3 Asまで徐々に変動する第2半導体物質層によ
って包囲され、もちろん、第1物質中のブリュアン帯域
中心における伝導帯の極小値Γが第3物質中のブリルア
ン区域縁の伝導帯の極小値Xより大であり、これらの2
つのエネルギー差分ΔEがGaAs中の光縦フォノンの
極大エネルギーより大である条件において、前記の組成
は変動する事ができる。9nmの幅とGa0.9 Al0.1
Asの量子井戸組成において、デテクタは2.7×10
13Hzの範囲内で作動する。
【0030】この型のホトデテクタの電場における作動
メカニズムを図9に図示する。閉じ込め状態E1とE2
の間の光遷移は実質的な振動力によって実施される。こ
のようにして発生された光電子は量子井戸中を第2バリ
ヤB2まで伝播し、第3物質の中に透過し、そこで、非
放射性脱励起によって極小エネルギーの準位X3に入
り、徐々に変動する組成の物質層中を伝播する間中この
準位に留まり、次にブリュアン帯域中心の伝導帯の極小
値を通る。次に電子はこの型の状態でその軌道を続け、
第1バリヤB1に達し、そこで量子井戸上方に、第1半
導体物質のΓ準位と第3半導体物質のX準位との間にお
いて量子跳躍が生じる。
メカニズムを図9に図示する。閉じ込め状態E1とE2
の間の光遷移は実質的な振動力によって実施される。こ
のようにして発生された光電子は量子井戸中を第2バリ
ヤB2まで伝播し、第3物質の中に透過し、そこで、非
放射性脱励起によって極小エネルギーの準位X3に入
り、徐々に変動する組成の物質層中を伝播する間中この
準位に留まり、次にブリュアン帯域中心の伝導帯の極小
値を通る。次に電子はこの型の状態でその軌道を続け、
第1バリヤB1に達し、そこで量子井戸上方に、第1半
導体物質のΓ準位と第3半導体物質のX準位との間にお
いて量子跳躍が生じる。
【0031】図10と図11には、図8と図9に図示の
構造と類似の構造の光電デテクタを示し、その応答性は
5×1013−1014Hzまで拡張されている。実際の量
子井戸は、例えば組成Ga0.2 Al0.8 Asの第3半導
体物質から組成Ga0.4 Al0.6 Asの第1半導体物質
まで徐々に変動する組成の2層によってGaAs層を包
囲して成る。この型の構造においては、第1物質中のブ
リュアン帯域縁における伝導帯の極小値Xが第3物質中
のブリュアン区域縁の伝導帯の極小値Xより大であり、
これらの2つのエネルギー差分ΔEがGaAs中の光学
縦フォノンの極大エネルギーより大である事が必要であ
る。3nmのGaAs量子井戸について、このデテクタ
は1014Hzの区域で作動する。
構造と類似の構造の光電デテクタを示し、その応答性は
5×1013−1014Hzまで拡張されている。実際の量
子井戸は、例えば組成Ga0.2 Al0.8 Asの第3半導
体物質から組成Ga0.4 Al0.6 Asの第1半導体物質
まで徐々に変動する組成の2層によってGaAs層を包
囲して成る。この型の構造においては、第1物質中のブ
リュアン帯域縁における伝導帯の極小値Xが第3物質中
のブリュアン区域縁の伝導帯の極小値Xより大であり、
これらの2つのエネルギー差分ΔEがGaAs中の光学
縦フォノンの極大エネルギーより大である事が必要であ
る。3nmのGaAs量子井戸について、このデテクタ
は1014Hzの区域で作動する。
【0032】図11に図示のように、光デテクタが作動
する際に、5×1013−1014Hzの範囲内の光子を吸
収した後にエネルギー準位E1まで上昇した電子は脱励
起して、第3半導体物質の極小値Xに達し、可変組成層
中を伝播して第1バリヤB1に達し、そこでこの電子は
第1半導体物質の極小値Xにある。本発明の構造によれ
ば、1つの準位Xから他の準位Xまで量子井戸を通して
の移行はポテンシャルジャンプによって実施される。
する際に、5×1013−1014Hzの範囲内の光子を吸
収した後にエネルギー準位E1まで上昇した電子は脱励
起して、第3半導体物質の極小値Xに達し、可変組成層
中を伝播して第1バリヤB1に達し、そこでこの電子は
第1半導体物質の極小値Xにある。本発明の構造によれ
ば、1つの準位Xから他の準位Xまで量子井戸を通して
の移行はポテンシャルジャンプによって実施される。
【0033】また本発明は、III−V族の化合物の他
のシステム、例えばGaAs/GaAlAsシステムの
ほか、GaInAs/GaAlInAs,GaInAs
/GaInAsP、GaSb/GaAlSbなどのシス
テムにも適用される。また本発明は、主要キャリヤとし
て荷電子帯の正孔を使用する光デテクタにも適用され
る。この原理に基づく量子井戸光電デテクタがすぐれた
検出性を示す事が実際に証明された。その本質的利点
は、垂直入射のもとに光デテクタの動作を可能とするに
ある。実際に、このコンフィグレーションにおいては重
い正孔の第1準位E1と第2準位E2の間の荷電子帯内
遷移が可能である。
のシステム、例えばGaAs/GaAlAsシステムの
ほか、GaInAs/GaAlInAs,GaInAs
/GaInAsP、GaSb/GaAlSbなどのシス
テムにも適用される。また本発明は、主要キャリヤとし
て荷電子帯の正孔を使用する光デテクタにも適用され
る。この原理に基づく量子井戸光電デテクタがすぐれた
検出性を示す事が実際に証明された。その本質的利点
は、垂直入射のもとに光デテクタの動作を可能とするに
ある。実際に、このコンフィグレーションにおいては重
い正孔の第1準位E1と第2準位E2の間の荷電子帯内
遷移が可能である。
【0034】この構造の主な問題点は正孔の遅いドリフ
ト速度による低利得である。その結果、正孔は与えられ
た量子井戸を通過する際に捕捉される80乃至100%
のチャンスを有する。本発明による構造は、電子の場合
と同様に、この捕捉確率を低下させる事が可能である。
図12と図13は、一般式Six Ge1-x の半導体物質
を使用して2.7×1013の範囲内の検出を可能とする
この型の構造を示す。
ト速度による低利得である。その結果、正孔は与えられ
た量子井戸を通過する際に捕捉される80乃至100%
のチャンスを有する。本発明による構造は、電子の場合
と同様に、この捕捉確率を低下させる事が可能である。
図12と図13は、一般式Six Ge1-x の半導体物質
を使用して2.7×1013の範囲内の検出を可能とする
この型の構造を示す。
【0035】この実施例において、第1バリヤB1を成
す第1半導体物質は純粋ケイ素層(x=0)である。こ
の場合の量子井戸Pは、式Si0.7 Ge0.3 の第2半導
体物質の厚さ0.004μmの層から成る。最後に、こ
の構造は第3層を備え、その組成は第2バリヤB2にお
けるSi0.94Ge0.06の第3半導体物質から純粋ケイ素
まで徐々に変動する組成を有する。
す第1半導体物質は純粋ケイ素層(x=0)である。こ
の場合の量子井戸Pは、式Si0.7 Ge0.3 の第2半導
体物質の厚さ0.004μmの層から成る。最後に、こ
の構造は第3層を備え、その組成は第2バリヤB2にお
けるSi0.94Ge0.06の第3半導体物質から純粋ケイ素
まで徐々に変動する組成を有する。
【0036】図12乃至図13のエネルギーダイヤグラ
ムは、考慮される各半導体物質について、ブリュアン帯
域の中心における荷電子帯の極値を基準としてとられ
た。第1および第3物質のこれらの極値間のエネルギー
差分ΔEは60meVであり、これは、ケイ素の光学縦
フォノンの極大エネルギー、57meVより大である。
ムは、考慮される各半導体物質について、ブリュアン帯
域の中心における荷電子帯の極値を基準としてとられ
た。第1および第3物質のこれらの極値間のエネルギー
差分ΔEは60meVであり、これは、ケイ素の光学縦
フォノンの極大エネルギー、57meVより大である。
【0037】量子井戸の縁における閉じ込め状態E1と
共鳴状態E2の間の遷移は周波数2.7×1013Hzの
近傍において生じる。量子井戸光電デテクタのこの特殊
のケースは、原則としてVLSI制御および処理エレク
トロニクスに容易に組み込む事ができるので特に有意義
である。
共鳴状態E2の間の遷移は周波数2.7×1013Hzの
近傍において生じる。量子井戸光電デテクタのこの特殊
のケースは、原則としてVLSI制御および処理エレク
トロニクスに容易に組み込む事ができるので特に有意義
である。
【図1】量子井戸光電デテクタの断面図。
【図2】図1の光電デテクタの各層のバンド構造を示す
ダイヤグラム。
ダイヤグラム。
【図3】ゼロ電界における量子井戸の第1ダイヤグラ
ム。
ム。
【図4】ゼロ電界における量子井戸の第2ダイヤグラ
ム。
ム。
【図5】図4に図示の量子井戸構造の非ゼロ電界におけ
る作動ダイヤグラム。
る作動ダイヤグラム。
【図6】ゼロ電界における本発明の多重量子井戸構造の
ダイヤグラム。
ダイヤグラム。
【図7】非ゼロ電界における本発明の多重量子井戸構造
のダイヤグラム。
のダイヤグラム。
【図8】交差極値Γ(実線)とX(破線)を有する多重
量子井戸の本発明による第1構造の伝導帯極値のゼロ電
界における位置を示すダイヤグラム。
量子井戸の本発明による第1構造の伝導帯極値のゼロ電
界における位置を示すダイヤグラム。
【図9】図8に図示の構造の作動ダイヤグラム。
【図10】交差極値Γ(実線)とX(破線)を有する多
重量子井戸の本発明による第2構造の伝導帯極値のゼロ
電界における位置を示すダイヤグラム。
重量子井戸の本発明による第2構造の伝導帯極値のゼロ
電界における位置を示すダイヤグラム。
【図11】図10の構造の作動ダイヤグラム。
【図12】Si(Ge)光電デテクタの量子井戸構造の
ダイヤグラム。
ダイヤグラム。
【図13】図12の構造の作動ダイヤグラム。
C1〜3 半導体層 B1,2 バリヤ P 量子井戸 L1〜L3 層の厚さ S 基板 BC1〜3 伝導帯 BV1〜3 荷電子帯 Γ1〜3 極値準位 ΔE エネルギー極値差分 E エネルギー準位 Ed ドナー準位 Ψ 波動関数 hν エネルギーフォトン
Claims (10)
- 【請求項1】各量子井戸は、第1半導体物質から成る第
1バリヤと、第2半導体物質から成る量子井戸と、第3
半導体物質から成る第2バリヤとから成り、各半導体物
質がその化学組成によって定義され、また前記各物質の
エネルギー極値を代表する与えられた電子バンド中の与
えられた電荷キャリヤの第1バリヤから第2バリヤへの
伝播によって、前記デテクタ中の導電性が保証されるよ
うに成された多重量子井戸構造を有する光電デテクタに
おいて、前記半導体物質が少なくとも部分的にキャリヤ
によってドーピングされ、前記第1および第3半導体物
質の化学組成は、前記バリヤにおいて、前記第1半導体
物質中の前記電子バンドのエネルギー極値と前記第3半
導体物質中の前記電子バンドのエネルギー極値とのエネ
ルギー差分が井戸を構成する第2半導体物質中の光縦フ
ォノンの最大エネルギーより大となるように選定され、
前記構造は第2半導体物質層と、キャリヤ方向において
1つの井戸の第2バリヤから次の井戸の第1バリヤまで
前記第3半導体物質の組成から前記第1半導体物質の組
成まで徐々に変動する化学組成を有し、前記第2半導体
物質層を相互に分離する半導体物質層とから成る交互層
の堆積によって前記構造が形成される事を特徴とする光
電デテクタ。 - 【請求項2】前記半導体物質は少なくとも部分的にドナ
ーによってドーピングされ、前記キャリヤは電子であ
り、また前記電子バンドは伝導帯であることを特徴とす
る請求項1に記載の光電デテクタ。 - 【請求項3】前記第1半導体物質中の前記電子バンドの
前記エネルギー極値は伝導帯のブリルアン区域中心の極
小値Γ1であり、前記第3半導体物質中の前記電子バン
ドの前記エネルギー極値は伝導帯のブリルアン区域中心
の極小値Γ3であることを特徴とする請求項2に記載の
光電デテクタ。 - 【請求項4】前記第1半導体物質中の前記電子バンドの
前記エネルギー極値は伝導帯のブリルアン区域中心の極
小値Γ1であり、前記第3半導体物質中の前記電子バン
ドの前記エネルギー極値は伝導帯のブリュアン帯域の縁
の極小値Xであることを特徴とする請求項2に記載の光
電デテクタ。 - 【請求項5】前記第1半導体物質中の前記電子バンドの
前記エネルギー極値は伝導帯のブリルアン区域の縁の極
小値Xであり、前記第3半導体物質中の前記電子バンド
の前記エネルギー極値は伝導帯のブリルアン区域の縁の
極小値Xであることを特徴とする請求項2に記載の光電
デテクタ。 - 【請求項6】前記半導体物質は少なくとも部分的にアク
セプターによってドーピングされ、前記キャリヤは正孔
であり、前記電子バンドは荷電子帯であることを特徴と
する請求項1に記載の光電デテクタ。 - 【請求項7】前記第1半導体物質中の前記電子バンドの
前記エネルギー極値は荷電子帯のブリュアン帯域の中心
の極大値であり、また前記第3半導体物質中の前記電子
バンドの前記エネルギー極値は荷電子帯のブリュアン帯
域の中心の極大値であることを特徴とする請求項6に記
載の光電デテクタ。 - 【請求項8】前記半導体物質は元素周期律表の第III
族および第V族の元素の化合物であることを特徴とする
請求項2に記載の光電デテクタ。 - 【請求項9】前記半導体物質は化学式Gax Al1-x A
sに対応することを特徴とする請求項8に記載の光電デ
テクタ。 - 【請求項10】前記半導体物質は一般式Six Ge1-x
に対応することを特徴とする請求項6に記載の光電デテ
クタ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9201826A FR2687480B1 (fr) | 1992-02-18 | 1992-02-18 | Detecteur photoelectrique a puits quantiques a detectivite amelioree. |
| FR9201826 | 1992-02-18 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06260672A true JPH06260672A (ja) | 1994-09-16 |
Family
ID=9426761
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5053073A Pending JPH06260672A (ja) | 1992-02-18 | 1993-02-18 | 光電デテクタ |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5296699A (ja) |
| EP (1) | EP0557186B1 (ja) |
| JP (1) | JPH06260672A (ja) |
| DE (1) | DE69303738T2 (ja) |
| FR (1) | FR2687480B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008205128A (ja) * | 2007-02-19 | 2008-09-04 | Fujitsu Ltd | 量子井戸型光検知器及びその製造方法 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5539206A (en) * | 1995-04-20 | 1996-07-23 | Loral Vought Systems Corporation | Enhanced quantum well infrared photodetector |
| US6054718A (en) * | 1998-03-31 | 2000-04-25 | Lockheed Martin Corporation | Quantum well infrared photocathode having negative electron affinity surface |
| FR2780203B1 (fr) | 1998-06-23 | 2003-07-04 | Thomson Csf | Detecteur a puits quantique avec couche de stockage des electrons photoexcites |
| US6198101B1 (en) | 1998-09-08 | 2001-03-06 | Lockheed Martin Corporation | Integral charge well for a QWIP FPA |
| JP4365255B2 (ja) * | 2004-04-08 | 2009-11-18 | 浜松ホトニクス株式会社 | 発光体と、これを用いた電子線検出器、走査型電子顕微鏡及び質量分析装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4873555A (en) * | 1987-06-08 | 1989-10-10 | University Of Pittsburgh Of The Commonwealth System Of Higher Education | Intraband quantum well photodetector and associated method |
| US5023673A (en) * | 1989-07-21 | 1991-06-11 | At&T Bell Laboratories | Semiconductor mesa structured optical processing devices, with added side-surface recombination centers to improve the speed of operation |
| FR2663787B1 (fr) * | 1990-06-26 | 1997-01-31 | Thomson Csf | Detecteur d'ondes electromagnetiques. |
-
1992
- 1992-02-18 FR FR9201826A patent/FR2687480B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-02-17 EP EP93400392A patent/EP0557186B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1993-02-17 DE DE69303738T patent/DE69303738T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-02-17 US US08/018,116 patent/US5296699A/en not_active Expired - Fee Related
- 1993-02-18 JP JP5053073A patent/JPH06260672A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008205128A (ja) * | 2007-02-19 | 2008-09-04 | Fujitsu Ltd | 量子井戸型光検知器及びその製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5296699A (en) | 1994-03-22 |
| FR2687480B1 (fr) | 1997-08-14 |
| DE69303738T2 (de) | 1997-03-06 |
| EP0557186B1 (fr) | 1996-07-24 |
| FR2687480A1 (fr) | 1993-08-20 |
| DE69303738D1 (de) | 1996-08-29 |
| EP0557186A1 (fr) | 1993-08-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10446701B2 (en) | In-plane resonant-cavity infrared photodetectors with fully-depleted absorbers | |
| Campbell et al. | Quantum-dot infrared photodetectors | |
| US4903101A (en) | Tunable quantum well infrared detector | |
| US4599728A (en) | Multi-quantum well laser emitting at 1.5 μm | |
| JPS63246626A (ja) | 赤外線検出器デバイスおよび赤外線を検出するための方法 | |
| US5313073A (en) | Light detector using intersub-valence band transitions with strained barriers | |
| US5121181A (en) | Resonant tunneling photodetector for long wavelength applications | |
| US7659536B2 (en) | High performance hyperspectral detectors using photon controlling cavities | |
| US5528051A (en) | Quantum well infrared detector | |
| JP2998375B2 (ja) | アバランシェフォトダイオード | |
| US5160993A (en) | High speed optosemiconductor device having multiple quantum wells | |
| EP0440910B1 (en) | Optical semiconductor device | |
| JPH06260672A (ja) | 光電デテクタ | |
| US6747296B1 (en) | Avalanche photodiode multiplication region and avalanche photodiode with low impact ionization rate ratio | |
| EP0509247A2 (en) | Infrared detector | |
| JPH02119274A (ja) | アバランシェフォトダイオード | |
| EP0648377B1 (en) | Miniband transport quantum well detector | |
| JPH04241473A (ja) | アバランシェフォトダイオード | |
| JP2671569B2 (ja) | アバランシェフォトダイオード | |
| JP3114496B2 (ja) | 赤外アバランシェ・フォトダイオード | |
| Zhang et al. | Long wavelength broadband normal incidence AlAs/AlGaAs X-valley quantum well infra-red phototector | |
| JPH09283782A (ja) | 太陽電池 | |
| JP2993010B2 (ja) | 半導体受光素子 | |
| JPH0282658A (ja) | 半導体受光素子 | |
| Tsuji et al. | High-crystallinity MOVPE-grown sawtooth-bandgap In1− x− yGaxAlyAs for use in staircase avalanche photodiodes |