JPH06265529A - スポット溶接部の評価方法及び装置 - Google Patents
スポット溶接部の評価方法及び装置Info
- Publication number
- JPH06265529A JPH06265529A JP5054209A JP5420993A JPH06265529A JP H06265529 A JPH06265529 A JP H06265529A JP 5054209 A JP5054209 A JP 5054209A JP 5420993 A JP5420993 A JP 5420993A JP H06265529 A JPH06265529 A JP H06265529A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- spot
- ultrasonic
- scanning
- lower plate
- intensity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 スポット溶接部のナゲット部を超音波探触子
による高精度に評価する。 【構成】 スポット溶接部に対して、超音波ビームを走
査する。このとき、超音波ビームの焦点位置が、下板3
の上板2側表面と、下板3の底面との間つまり下板3内
にくるようにする。上板2と下板3との接合面での反射
波B1を抽出してその強度分布を得、強度分布曲線が下
板3の底面反射波B2を抽出してその強度分布を得、反
射波B2の強度分布の両サイドの増加率がゼロになる2
点(イ)(ロ)の位置を検出し、反射波B1の強度分布
曲線と反射波B2の強度分布曲線とで囲まれる面積を算
出する。前記2点間の距離あるいは前記面積を基準にし
て、ナゲット部や接合状態を正確かつ簡便に評価する。
による高精度に評価する。 【構成】 スポット溶接部に対して、超音波ビームを走
査する。このとき、超音波ビームの焦点位置が、下板3
の上板2側表面と、下板3の底面との間つまり下板3内
にくるようにする。上板2と下板3との接合面での反射
波B1を抽出してその強度分布を得、強度分布曲線が下
板3の底面反射波B2を抽出してその強度分布を得、反
射波B2の強度分布の両サイドの増加率がゼロになる2
点(イ)(ロ)の位置を検出し、反射波B1の強度分布
曲線と反射波B2の強度分布曲線とで囲まれる面積を算
出する。前記2点間の距離あるいは前記面積を基準にし
て、ナゲット部や接合状態を正確かつ簡便に評価する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はスポット溶接部の評価方
法及び装置に係り、特に、スポット溶接部のナゲット部
を簡単且つ高精度に評価するのに好適なスポット溶接部
の評価方法及び装置に関する。
法及び装置に係り、特に、スポット溶接部のナゲット部
を簡単且つ高精度に評価するのに好適なスポット溶接部
の評価方法及び装置に関する。
【0002】
【従来の技術】スポット溶接は抵抗溶接の一種であり、
上板と下板の2枚の板を重ね、これを電極ではさみ加圧
しながら電流を流し、接触部の発熱で両板の一部を溶融
して接合するものである。接合部は、その接合形態か
ら、両板が溶融接合している中央部分をナゲット部と、
その外側の熱影響を受けて両板が固相接合している範囲
つまりコロナボンド部とからなる。なお、コロナボンド
部の外側は非接合部である。ナゲット部の大きさは、ス
ポット溶接部の接合強度と相関関係にあり、このため、
スポット溶接部の良否はナゲット部の大きさ(径)で評
価される。
上板と下板の2枚の板を重ね、これを電極ではさみ加圧
しながら電流を流し、接触部の発熱で両板の一部を溶融
して接合するものである。接合部は、その接合形態か
ら、両板が溶融接合している中央部分をナゲット部と、
その外側の熱影響を受けて両板が固相接合している範囲
つまりコロナボンド部とからなる。なお、コロナボンド
部の外側は非接合部である。ナゲット部の大きさは、ス
ポット溶接部の接合強度と相関関係にあり、このため、
スポット溶接部の良否はナゲット部の大きさ(径)で評
価される。
【0003】ナゲット径を超音波を用いて非破壊的に検
査する従来方法として、例えば特開平3-233352号公報記
載のものがある。この従来方法では、超音波探触子をス
ポット溶接部に接触させて走査しながら超音波を送受信
する。そして、ナゲット部とコロナボンド部との金属組
織の差により、ナゲット部を通過する超音波の減衰度が
コロナボンド部を通過する超音波の減衰度より大きいこ
とを利用し、予め設定した時間における下板底面反射波
のある高さを基準値とし、これと測定した下板底面反射
波の高さを比較し、測定した反射波の高さが基準値より
小さい箇所をナゲット部と判定し、測定した反射波の高
さが基準値より大きい箇所をコロナボンド部と判定して
いる。
査する従来方法として、例えば特開平3-233352号公報記
載のものがある。この従来方法では、超音波探触子をス
ポット溶接部に接触させて走査しながら超音波を送受信
する。そして、ナゲット部とコロナボンド部との金属組
織の差により、ナゲット部を通過する超音波の減衰度が
コロナボンド部を通過する超音波の減衰度より大きいこ
とを利用し、予め設定した時間における下板底面反射波
のある高さを基準値とし、これと測定した下板底面反射
波の高さを比較し、測定した反射波の高さが基準値より
小さい箇所をナゲット部と判定し、測定した反射波の高
さが基準値より大きい箇所をコロナボンド部と判定して
いる。
【0004】また、溶接学会論文集(第10巻、第4
号、1992年、「超音波によるスポット溶接部の品質評
価」)では、水中で超音波集束ビームの焦点を下板底面
より深い位置に合わせ、この超音波集束ビームをスポッ
ト溶接部に対して二次元的に走査し、その映像からスポ
ット溶接部を評価している。
号、1992年、「超音波によるスポット溶接部の品質評
価」)では、水中で超音波集束ビームの焦点を下板底面
より深い位置に合わせ、この超音波集束ビームをスポッ
ト溶接部に対して二次元的に走査し、その映像からスポ
ット溶接部を評価している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た前者の従来方法は、超音波探触子を凹凸のあるスポッ
ト溶接面に接触させながら走査するため、受信信号強度
が不安定になり、スポット溶接部の安定した評価ができ
ない。また、スポット溶接部に入った超音波は広がって
しまうので、反射超音波の検出強度も小さくなり、精度
の高い評価ができないという問題がある。また、後者の
従来方法は、接合部としてナゲット部にコロナボンド部
を含めた範囲で評価しているので、ナゲット部のみの範
囲を評価できないという問題がある。
た前者の従来方法は、超音波探触子を凹凸のあるスポッ
ト溶接面に接触させながら走査するため、受信信号強度
が不安定になり、スポット溶接部の安定した評価ができ
ない。また、スポット溶接部に入った超音波は広がって
しまうので、反射超音波の検出強度も小さくなり、精度
の高い評価ができないという問題がある。また、後者の
従来方法は、接合部としてナゲット部にコロナボンド部
を含めた範囲で評価しているので、ナゲット部のみの範
囲を評価できないという問題がある。
【0006】本発明の目的は、コロナボンド部とナゲッ
ト部との境界を正確に把握し、ナゲット部を簡便且つ高
精度に評価できるスポット溶接部の評価方法及び装置を
提供することにある。
ト部との境界を正確に把握し、ナゲット部を簡便且つ高
精度に評価できるスポット溶接部の評価方法及び装置を
提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的は、超音波集束
ビームの焦点をスポット溶接部の上板表面と下板底面と
の間に合わせる手段と、該超音波集束ビームを前記スポ
ット溶接部を径方向に横切るように走査する手段と、前
記走査に伴って前記スポット溶接部に対し超音波を送受
信し、各送受信位置毎のスポット溶接部下板の底面反射
波の強度を得る手段と、前記送受信位置に対する強度分
布の両サイドであってスポット溶接部の内側方向に向か
うにつれて増加し前記反射波強度の増加率が最初にそれ
ぞれゼロになる2点間の走査距離を検知する手段と、こ
の2点間の走査距離からスポット溶接部を評価する手段
とを設けることで、達成される。
ビームの焦点をスポット溶接部の上板表面と下板底面と
の間に合わせる手段と、該超音波集束ビームを前記スポ
ット溶接部を径方向に横切るように走査する手段と、前
記走査に伴って前記スポット溶接部に対し超音波を送受
信し、各送受信位置毎のスポット溶接部下板の底面反射
波の強度を得る手段と、前記送受信位置に対する強度分
布の両サイドであってスポット溶接部の内側方向に向か
うにつれて増加し前記反射波強度の増加率が最初にそれ
ぞれゼロになる2点間の走査距離を検知する手段と、こ
の2点間の走査距離からスポット溶接部を評価する手段
とを設けることで、達成される。
【0008】上記目的は、また、超音波集束ビームの焦
点を前記スポット溶接部の上板表面と下板底面との間に
合わせる手段と、前記超音波集束ビームを前記スポット
溶接部を径方向に横切るように走査する手段と、前記走
査に伴って前記スポット溶接部に対し超音波を送受信し
各送受信位置毎のスポット溶接部下板の底面反射波の強
度を得る手段と、前記送受信位置に対する反射波強度分
布の両サイドにおいてその強度が最大強度の所定比率に
なる強度位置の2点間の走査距離を検知する手段と、2
点間の走査距離からスポット溶接部を評価する手段とを
設けることで、達成される。
点を前記スポット溶接部の上板表面と下板底面との間に
合わせる手段と、前記超音波集束ビームを前記スポット
溶接部を径方向に横切るように走査する手段と、前記走
査に伴って前記スポット溶接部に対し超音波を送受信し
各送受信位置毎のスポット溶接部下板の底面反射波の強
度を得る手段と、前記送受信位置に対する反射波強度分
布の両サイドにおいてその強度が最大強度の所定比率に
なる強度位置の2点間の走査距離を検知する手段と、2
点間の走査距離からスポット溶接部を評価する手段とを
設けることで、達成される。
【0009】上記目的は、更に、超音波送波子と超音波
受波子を、スポット溶接部の上板と下板を挾むように配
置する手段と、前記超音波送波子あるいは前記超音波受
波子の少なくともどちらか一方の超音波集束ビームの焦
点を、前記スポット溶接部の上板表面と下板底面との間
に合わせる手段と、各送受信位置毎のスポット溶接部を
透過した超音波強度分布を得る手段とを設けることで、
達成される。
受波子を、スポット溶接部の上板と下板を挾むように配
置する手段と、前記超音波送波子あるいは前記超音波受
波子の少なくともどちらか一方の超音波集束ビームの焦
点を、前記スポット溶接部の上板表面と下板底面との間
に合わせる手段と、各送受信位置毎のスポット溶接部を
透過した超音波強度分布を得る手段とを設けることで、
達成される。
【0010】上記目的は、また、超音波集束ビームの焦
点をスポット溶接部の上板表面と下板底面との間に合わ
せる手段と、前記超音波集束ビームを前記スポット溶接
部を径方向に横切るように走査する手段と、前記走査に
伴って前記スポット溶接部に対し超音波を送受信し、各
送受信位置毎のスポット溶接部接合面からの反射波強度
を得る手段と、前記送受信位置に対する反射波強度分布
の両サイドにおいて、その強度が最大強度の所定比率に
なる強度位置の2点間の走査距離を検知する手段と、前
記2点間の走査距離に所定定数を加えた値からスポット
溶接部を評価する手段とを設けることで、達成される。
点をスポット溶接部の上板表面と下板底面との間に合わ
せる手段と、前記超音波集束ビームを前記スポット溶接
部を径方向に横切るように走査する手段と、前記走査に
伴って前記スポット溶接部に対し超音波を送受信し、各
送受信位置毎のスポット溶接部接合面からの反射波強度
を得る手段と、前記送受信位置に対する反射波強度分布
の両サイドにおいて、その強度が最大強度の所定比率に
なる強度位置の2点間の走査距離を検知する手段と、前
記2点間の走査距離に所定定数を加えた値からスポット
溶接部を評価する手段とを設けることで、達成される。
【0011】上記目的は、反射超音波から得られた上記
評価の結果と、透過超音波から得られた上記評価の結果
値との平均値からスポット溶接部を評価する構成とする
ことで、達成される。
評価の結果と、透過超音波から得られた上記評価の結果
値との平均値からスポット溶接部を評価する構成とする
ことで、達成される。
【0012】上記目的は、また、超音波集束ビームの焦
点を前記スポット溶接部の上板表面と下板底面との間に
合わせる手段と、前記超音波集束ビームを前記スポット
溶接部を径方向に横切るように走査する手段と、前記走
査に伴って前記スポット溶接部に対し超音波を送受信
し、各送受信位置毎のスポット溶接部の上板と下板の接
合面からの反射波強度と、スポット溶接部下板の底面か
らの反射波強度を得る手段と、前記二つの強度分布曲線
の両サイドにおいて、両曲線がスポット溶接部の内側方
向に向ってそれぞれ最初に交差する2点間で、各送受信
位置毎の下板底面の反射波強度から上板と下板の接合面
からの反射波強度を差し引いた値の積分値を得る手段
と、この積分値からスポット溶接部を評価する手段とを
設けることで、達成される。
点を前記スポット溶接部の上板表面と下板底面との間に
合わせる手段と、前記超音波集束ビームを前記スポット
溶接部を径方向に横切るように走査する手段と、前記走
査に伴って前記スポット溶接部に対し超音波を送受信
し、各送受信位置毎のスポット溶接部の上板と下板の接
合面からの反射波強度と、スポット溶接部下板の底面か
らの反射波強度を得る手段と、前記二つの強度分布曲線
の両サイドにおいて、両曲線がスポット溶接部の内側方
向に向ってそれぞれ最初に交差する2点間で、各送受信
位置毎の下板底面の反射波強度から上板と下板の接合面
からの反射波強度を差し引いた値の積分値を得る手段
と、この積分値からスポット溶接部を評価する手段とを
設けることで、達成される。
【0013】上記目的は、更に、スポット溶接部に対し
て超音波集束ビームを形成し且つ走査する手段として、
アレイ型超音波探触子を用いることで、達成される。
て超音波集束ビームを形成し且つ走査する手段として、
アレイ型超音波探触子を用いることで、達成される。
【0014】上記目的は、上述したスポット溶接部評価
装置をスポット溶接ラインのスポット溶接工程直後に動
作させ、スポット溶接部を不良と判定したとき、同じ箇
所を再度スポット溶接するようにスポット溶接機に指示
し、この指示がN回繰返えされてもなおかつ不良と判定
された場合には、溶接条件の見直しを行い或いはスポッ
ト溶接対象の製品を排除することにより、達成される。
装置をスポット溶接ラインのスポット溶接工程直後に動
作させ、スポット溶接部を不良と判定したとき、同じ箇
所を再度スポット溶接するようにスポット溶接機に指示
し、この指示がN回繰返えされてもなおかつ不良と判定
された場合には、溶接条件の見直しを行い或いはスポッ
ト溶接対象の製品を排除することにより、達成される。
【0015】
【作用】本発明では、超音波集束ビームの焦点をスポッ
ト溶接部の上板表面と下板底面との間に合わせるため、
スポット溶接部下板の底面反射波の強度を高めることが
可能となる。一般的に、超音波集束ビームの焦点では、
最も良い方位分解能と最も高い受信強度が得られ、焦点
から前後に離れるほど両者は低下する。従って、通常
は、観察対象面に焦点を合わせるが、場合によっては観
察面である接合面と、反射面である下板底面の位置が異
なることもある。その場合には、本発明のように、観察
対象面と超音波反射面の中間に焦点を合わせることで、
観察対象とするスポット溶接部の上板と下板の接合面で
の超音波ビーム径をあまり大きくせず、かつスポット溶
接部下板の底面反射波の強度を低下させることなく受信
でき、スポット溶接部のコロナボンド部とナゲット部境
界の微小な範囲毎の情報をS/Nが良い状態で得られ
る。
ト溶接部の上板表面と下板底面との間に合わせるため、
スポット溶接部下板の底面反射波の強度を高めることが
可能となる。一般的に、超音波集束ビームの焦点では、
最も良い方位分解能と最も高い受信強度が得られ、焦点
から前後に離れるほど両者は低下する。従って、通常
は、観察対象面に焦点を合わせるが、場合によっては観
察面である接合面と、反射面である下板底面の位置が異
なることもある。その場合には、本発明のように、観察
対象面と超音波反射面の中間に焦点を合わせることで、
観察対象とするスポット溶接部の上板と下板の接合面で
の超音波ビーム径をあまり大きくせず、かつスポット溶
接部下板の底面反射波の強度を低下させることなく受信
でき、スポット溶接部のコロナボンド部とナゲット部境
界の微小な範囲毎の情報をS/Nが良い状態で得られ
る。
【0016】本発明では、反射波強度分布の両サイドに
おいて、スポット溶接部の内側方向に向かうにつれて増
加し前記反射波強度の増加率が最初にそれぞれゼロにな
る2点間の走査距離からスポット溶接部を評価する。細
い超音波集束ビームによって、スポット溶接部のコロナ
ボンド部とナゲット部境界の微小な範囲毎の情報を、連
続的な強度分布として得るので、反射波強度分布の強度
増加率を検知することにより、コロナボンド部の微少な
すきまに対して、超音波の透過強度に影響が無くなる位
置、すなわち、コロナボンド部とナゲット部との境界を
正確に評価できる。
おいて、スポット溶接部の内側方向に向かうにつれて増
加し前記反射波強度の増加率が最初にそれぞれゼロにな
る2点間の走査距離からスポット溶接部を評価する。細
い超音波集束ビームによって、スポット溶接部のコロナ
ボンド部とナゲット部境界の微小な範囲毎の情報を、連
続的な強度分布として得るので、反射波強度分布の強度
増加率を検知することにより、コロナボンド部の微少な
すきまに対して、超音波の透過強度に影響が無くなる位
置、すなわち、コロナボンド部とナゲット部との境界を
正確に評価できる。
【0017】また、本発明では、反射波強度分布の両サ
イドにおいて、その強度が最大強度の所定比率になる強
度位置の2点間の走査距離からスポット溶接部を評価す
るので、接合面において上板と下板が溶着している範囲
の周囲で微妙な隙間があっても強度的に寄与する場合に
は、多少大きめの範囲をナゲット部として評価できる。
イドにおいて、その強度が最大強度の所定比率になる強
度位置の2点間の走査距離からスポット溶接部を評価す
るので、接合面において上板と下板が溶着している範囲
の周囲で微妙な隙間があっても強度的に寄与する場合に
は、多少大きめの範囲をナゲット部として評価できる。
【0018】また、超音波送波子と超音波受波子を、ス
ポット溶接部の上板と下板を挾むように配置した二探触
子法を採用することで、一探触子法で受信される上板表
面からの反射波の影響を無くすことができ、薄板のスポ
ット溶接部の最適な評価が可能となる。
ポット溶接部の上板と下板を挾むように配置した二探触
子法を採用することで、一探触子法で受信される上板表
面からの反射波の影響を無くすことができ、薄板のスポ
ット溶接部の最適な評価が可能となる。
【0019】また、本発明では、反射波強度分布の両サ
イドにおいて、その強度が最大強度の所定比率になる強
度位置の2点間の走査距離からスポット溶接部を評価す
るので、スポット溶接部の下板底面の凹凸による下板底
面反射エコーの強度変動を無くすことができ、安定した
スポット溶接部の評価が可能となる。
イドにおいて、その強度が最大強度の所定比率になる強
度位置の2点間の走査距離からスポット溶接部を評価す
るので、スポット溶接部の下板底面の凹凸による下板底
面反射エコーの強度変動を無くすことができ、安定した
スポット溶接部の評価が可能となる。
【0020】また、本発明では、第1に、各送受信位置
毎のスポット溶接部下板の底面反射波の強度を得る手段
と、第2に、各送受信位置毎のスポット溶接部接合面か
らの反射波強度を得る手段とを備え、さらに、第1と第
2の手段によって得られた走査距離の平均値を算出する
手段を備えている。従って、第1の、スポット溶接部接
合面の透過波と、第2の、スポット溶接部接合面の反射
波とにより、スポット溶接部の同一個所を2重の情報で
評価するので、評価の信頼性が向上する。
毎のスポット溶接部下板の底面反射波の強度を得る手段
と、第2に、各送受信位置毎のスポット溶接部接合面か
らの反射波強度を得る手段とを備え、さらに、第1と第
2の手段によって得られた走査距離の平均値を算出する
手段を備えている。従って、第1の、スポット溶接部接
合面の透過波と、第2の、スポット溶接部接合面の反射
波とにより、スポット溶接部の同一個所を2重の情報で
評価するので、評価の信頼性が向上する。
【0021】本発明では、各送受信位置毎のスポット溶
接部の上板と下板の接合面からの反射波強度と、スポッ
ト溶接部下板の底面からの反射波強度を得、この二つの
強度分布曲線の両サイドにおいて、両曲線がスポット溶
接部の内側方向に向ってそれぞれ最初に交差する2点間
で、各送受信位置毎の下板底面の反射波強度から上板と
下板の接合面からの反射波強度を差し引いた値の積分値
を算出し、この積分値からスポット溶接部を評価するの
で、ナゲット部とコロナボンド部の境界を知ることは勿
論、ナゲット部内の欠陥の有無や全体的な接合状態を二
重にチェックできる。
接部の上板と下板の接合面からの反射波強度と、スポッ
ト溶接部下板の底面からの反射波強度を得、この二つの
強度分布曲線の両サイドにおいて、両曲線がスポット溶
接部の内側方向に向ってそれぞれ最初に交差する2点間
で、各送受信位置毎の下板底面の反射波強度から上板と
下板の接合面からの反射波強度を差し引いた値の積分値
を算出し、この積分値からスポット溶接部を評価するの
で、ナゲット部とコロナボンド部の境界を知ることは勿
論、ナゲット部内の欠陥の有無や全体的な接合状態を二
重にチェックできる。
【0022】本発明で、スポット溶接部に対して超音波
集束ビームを形成且つ走査する手段としてアレイ型超音
波探触子を用いると、焦点位置を自由に設定でき、かつ
超音波集束ビームを電子的に高速で走査することがで
き、スポット溶接部の検査を短時間で効率良く行える。
集束ビームを形成且つ走査する手段としてアレイ型超音
波探触子を用いると、焦点位置を自由に設定でき、かつ
超音波集束ビームを電子的に高速で走査することがで
き、スポット溶接部の検査を短時間で効率良く行える。
【0023】さらに、本発明では、上述のスポット溶接
部の評価を、スポット溶接ラインのスポット溶接工程直
後に実行し、もし、スポット溶接部を不良と判定した場
合には、同じ場所を再度スポット溶接を行うように、ス
ポット溶接機にフィードバックし、このフィードバック
を同一スポット溶接箇所に対してN回繰返し、なおかつ
不良と判定した場合には、溶接条件の見直しを行うか、
場合によっては製品を排除する。つまり、スポット溶接
条件の管理をスポット溶接直後で行うので、スポット溶
接の異常を直ちに感知でき、不良を最小限に抑えられ
る。
部の評価を、スポット溶接ラインのスポット溶接工程直
後に実行し、もし、スポット溶接部を不良と判定した場
合には、同じ場所を再度スポット溶接を行うように、ス
ポット溶接機にフィードバックし、このフィードバック
を同一スポット溶接箇所に対してN回繰返し、なおかつ
不良と判定した場合には、溶接条件の見直しを行うか、
場合によっては製品を排除する。つまり、スポット溶接
条件の管理をスポット溶接直後で行うので、スポット溶
接の異常を直ちに感知でき、不良を最小限に抑えられ
る。
【0024】
【実施例】以下に、本発明の一実施例を図面を用いて説
明する。図1は、本発明の一実施例に係るスポット溶接
部評価方法における超音波ビーム走査方法を説明する図
であり、超音波集束ビーム1を、スポット溶接部の径の
中心Oを通過するようにX方向(径方向)に走査してい
る時の板材の断面図である。図2は、スポット溶接部の
各位置で得られる探傷波形であり、図3は、超音波集束
ビームの走査によって得られる下板底面エコーの強度分
布である。
明する。図1は、本発明の一実施例に係るスポット溶接
部評価方法における超音波ビーム走査方法を説明する図
であり、超音波集束ビーム1を、スポット溶接部の径の
中心Oを通過するようにX方向(径方向)に走査してい
る時の板材の断面図である。図2は、スポット溶接部の
各位置で得られる探傷波形であり、図3は、超音波集束
ビームの走査によって得られる下板底面エコーの強度分
布である。
【0025】図1で、超音波集束ビーム1は、液体を介
してスポット溶接部の上板2側から照射され、その焦点
が下板3の板厚tの半分の位置になるように制御されて
いる。スポット溶接部の接合面4は、その接合形態か
ら、接合部中心の上板2と下板3が溶着しているナゲッ
ト部Aと、その周囲の上板2と下板3が熱影響を受けて
密着しているコロナボンド部Bと、それ以外の非接合部
Cとに区別できる。特に、コロナボンド部Bでは、上板
2と下板3が数ミクロン以下の隙間で接触していると考
えられるので超音波は透過し、コロナボンド部Bの接合
面4からの反射波強度は非常に弱い。しかし、その透過
率は隙間の大小によって変化する。そこで、本実施例で
は、コロナボンド部Bの隙間4における超音波の透過率
の変化を検知して、コロナボンド部Bとナゲット部Aと
の境界を検出する。
してスポット溶接部の上板2側から照射され、その焦点
が下板3の板厚tの半分の位置になるように制御されて
いる。スポット溶接部の接合面4は、その接合形態か
ら、接合部中心の上板2と下板3が溶着しているナゲッ
ト部Aと、その周囲の上板2と下板3が熱影響を受けて
密着しているコロナボンド部Bと、それ以外の非接合部
Cとに区別できる。特に、コロナボンド部Bでは、上板
2と下板3が数ミクロン以下の隙間で接触していると考
えられるので超音波は透過し、コロナボンド部Bの接合
面4からの反射波強度は非常に弱い。しかし、その透過
率は隙間の大小によって変化する。そこで、本実施例で
は、コロナボンド部Bの隙間4における超音波の透過率
の変化を検知して、コロナボンド部Bとナゲット部Aと
の境界を検出する。
【0026】図2は、スポット溶接部のナゲット部A及
びコロナボンド部B、非接合部Cで夫々得られる超音波
の受信波形である。超音波集束ビームが(イ)の位置の
非接合部Cでは、上板2と下板3が完全に離れているの
で、上板2の表面での反射波Sの後に、上板2の底面で
の反射波B1が来て、次に、反射波B1の上板2内での
多重反射波B1-2が受信される。コロナボンド部Bと
ナゲット部Aでは、上板2の表面での反射波Sの後に、
上板2と下板3の隙間(超音波はほとんど透過する。)
での微弱な反射波B1が来て、次に、下板3まで透過し
下板3の底面5で反射した反射波B2が受信される。従
って、上板2と下板3の板厚が同じ場合には、表面反射
波Sから反射波B2が受信されるまでの時間は、表面反
射波Sから反射波B1が受信されるまでの時間の約2倍
である。
びコロナボンド部B、非接合部Cで夫々得られる超音波
の受信波形である。超音波集束ビームが(イ)の位置の
非接合部Cでは、上板2と下板3が完全に離れているの
で、上板2の表面での反射波Sの後に、上板2の底面で
の反射波B1が来て、次に、反射波B1の上板2内での
多重反射波B1-2が受信される。コロナボンド部Bと
ナゲット部Aでは、上板2の表面での反射波Sの後に、
上板2と下板3の隙間(超音波はほとんど透過する。)
での微弱な反射波B1が来て、次に、下板3まで透過し
下板3の底面5で反射した反射波B2が受信される。従
って、上板2と下板3の板厚が同じ場合には、表面反射
波Sから反射波B2が受信されるまでの時間は、表面反
射波Sから反射波B1が受信されるまでの時間の約2倍
である。
【0027】図3は、図2で説明した反射波B2の強度
変化を抽出するため、反射波B2が出現する時間位置に
ゲートGを設定し、反射波B2の強度Pを超音波集束ビ
ーム1のX方向の走査位置に対応してグラフ化した強度
分布である。非接合部Cのコロナボンド部Bとの境界
(ニ)までは、反射波B2は受信されず、ゲートGの出
力値は点線で示すように低くなるはずであるが、実際に
は反射波B1の2回目の多重反射波B1-2がゲートG
で検知され、ゲートGの出力値は実線のようにある値を
示す。多重反射波B1-2の強度は、超音波集束ビーム
1が境界(ニ)の少し手前から、X方向に走査されるに
従って低下し、非接合部Cとコロナボンド部Bの境界位
置(ニ)では反射波B2も受信されるが、その強度は極
小値を示す。
変化を抽出するため、反射波B2が出現する時間位置に
ゲートGを設定し、反射波B2の強度Pを超音波集束ビ
ーム1のX方向の走査位置に対応してグラフ化した強度
分布である。非接合部Cのコロナボンド部Bとの境界
(ニ)までは、反射波B2は受信されず、ゲートGの出
力値は点線で示すように低くなるはずであるが、実際に
は反射波B1の2回目の多重反射波B1-2がゲートG
で検知され、ゲートGの出力値は実線のようにある値を
示す。多重反射波B1-2の強度は、超音波集束ビーム
1が境界(ニ)の少し手前から、X方向に走査されるに
従って低下し、非接合部Cとコロナボンド部Bの境界位
置(ニ)では反射波B2も受信されるが、その強度は極
小値を示す。
【0028】さらに、超音波集束ビーム1がスポット溶
接部中心Oに向かって走査されると、反射波B2は、コ
ロナボンド部Bの隙間4が狭くなるにつれて、隙間4で
の減衰が少なくなるため、その強度は増加する。そし
て、コロナボンド部Bとナゲット部Aの境界位置(ホ)
から溶着状態になり、やがてコロナボンド部Bの隙間4
がゼロになるので、反射波B2の強度は最大となり、そ
の後は増加しない。ナゲット部A内では、反射波B2は
一定の強度かあるいはやや低下する傾向を示す。従っ
て、図3の強度分布の左右の極小値の間隔(ニ)〜
(ト)が、コロナボンド部Bの直径に対応する。また、
図3の反射波B2の強度分布において、左右の、スポッ
ト溶接部中心Oに向かって増加する、反射波B2の強度
の増加率がゼロになる2点間の距離(ホ)〜(ヘ)がナ
ゲット部Aの直径に対応する。
接部中心Oに向かって走査されると、反射波B2は、コ
ロナボンド部Bの隙間4が狭くなるにつれて、隙間4で
の減衰が少なくなるため、その強度は増加する。そし
て、コロナボンド部Bとナゲット部Aの境界位置(ホ)
から溶着状態になり、やがてコロナボンド部Bの隙間4
がゼロになるので、反射波B2の強度は最大となり、そ
の後は増加しない。ナゲット部A内では、反射波B2は
一定の強度かあるいはやや低下する傾向を示す。従っ
て、図3の強度分布の左右の極小値の間隔(ニ)〜
(ト)が、コロナボンド部Bの直径に対応する。また、
図3の反射波B2の強度分布において、左右の、スポッ
ト溶接部中心Oに向かって増加する、反射波B2の強度
の増加率がゼロになる2点間の距離(ホ)〜(ヘ)がナ
ゲット部Aの直径に対応する。
【0029】図4は、前述したナゲット部Aの直径を測
定する装置の回路構成図である。水槽7内の被検査体1
9に対し、X−Yスキャナ6をスキャナ駆動部8により
駆動し、超音波集束ビーム1をたとえば送りピッチ0.
05mmで走査する。一方、超音波集束ビーム1の送受
信は、超音波送受信部9により行い、送受信のタイミン
グは、X−Yスキャナ6の送りピッチに同期するように
制御回路11で制御する。各走査位置での下板3の底面
反射波B2は、ゲート回路10によりその強度を検出
し、メモリ回路12に走査位置と強度を格納すると同時
に、表示部15に強度分布として表示する。
定する装置の回路構成図である。水槽7内の被検査体1
9に対し、X−Yスキャナ6をスキャナ駆動部8により
駆動し、超音波集束ビーム1をたとえば送りピッチ0.
05mmで走査する。一方、超音波集束ビーム1の送受
信は、超音波送受信部9により行い、送受信のタイミン
グは、X−Yスキャナ6の送りピッチに同期するように
制御回路11で制御する。各走査位置での下板3の底面
反射波B2は、ゲート回路10によりその強度を検出
し、メモリ回路12に走査位置と強度を格納すると同時
に、表示部15に強度分布として表示する。
【0030】超音波集束ビーム1の走査が完了すると、
増加率演算回路13は、図5に示すように、メモリ回路
12に格納した強度データX1〜XNを、X1側から読
み出して増加率の演算処理(dP/dX)を行い、図5
のX1→XNの曲線を得る。この時、マイナスの増加率
は検出しないようにしているので、強度分布曲線上で増
加率が最初にゼロになる位置Sに対応するX1→XN曲
線上の位置データXSを知る。次に前記とは逆に、増加
率演算回路13は、メモリ回路12に格納した強度デー
タX1〜XNを、XN側から読み出して増加率の演算処
理(dP/dX)を行い、図5の強度分布曲線上の反対
側で増加率が最初にゼロになる位置Eに対応するXN→
X1曲線上の位置データXEを知る。走査距離演算回路
14は、前記2つの曲線の夫々最初に増加率がゼロとな
る点XSとXE間の走査距離(XS−XE)を算出し、
表示部15に数値や画像として表示する。この距離がナ
ゲット部Aの直径になる。もちろん、スポット溶接部表
面の凹凸の影響がある場合等、補正が必要な場合には、
算出したナゲット径の値に所定定数を加えた値をナゲッ
ト径とする。
増加率演算回路13は、図5に示すように、メモリ回路
12に格納した強度データX1〜XNを、X1側から読
み出して増加率の演算処理(dP/dX)を行い、図5
のX1→XNの曲線を得る。この時、マイナスの増加率
は検出しないようにしているので、強度分布曲線上で増
加率が最初にゼロになる位置Sに対応するX1→XN曲
線上の位置データXSを知る。次に前記とは逆に、増加
率演算回路13は、メモリ回路12に格納した強度デー
タX1〜XNを、XN側から読み出して増加率の演算処
理(dP/dX)を行い、図5の強度分布曲線上の反対
側で増加率が最初にゼロになる位置Eに対応するXN→
X1曲線上の位置データXEを知る。走査距離演算回路
14は、前記2つの曲線の夫々最初に増加率がゼロとな
る点XSとXE間の走査距離(XS−XE)を算出し、
表示部15に数値や画像として表示する。この距離がナ
ゲット部Aの直径になる。もちろん、スポット溶接部表
面の凹凸の影響がある場合等、補正が必要な場合には、
算出したナゲット径の値に所定定数を加えた値をナゲッ
ト径とする。
【0031】なお、上述のスポット溶接部の強度分布曲
線は、図6に示すように、2つの探触子をスポット溶接
部を挟むように配置した透過法によっても得られ、その
場合の評価方法も全く上述の方法と同様である。但し、
スポット溶接部両サイドのCの範囲は超音波が透過しな
いので、強度分布曲線の両サイドは図3の点線で示すよ
うに低い強度になる。
線は、図6に示すように、2つの探触子をスポット溶接
部を挟むように配置した透過法によっても得られ、その
場合の評価方法も全く上述の方法と同様である。但し、
スポット溶接部両サイドのCの範囲は超音波が透過しな
いので、強度分布曲線の両サイドは図3の点線で示すよ
うに低い強度になる。
【0032】尚、スポット溶接部を、図1〜図5で説明
した反射超音波の強度による評価の結果だけではなく、
図6の透過超音波の強度による評価の結果との平均値か
ら評価することで、より高精度の評価が可能となる。
した反射超音波の強度による評価の結果だけではなく、
図6の透過超音波の強度による評価の結果との平均値か
ら評価することで、より高精度の評価が可能となる。
【0033】図7(a)は、実際のスポット溶接部の板
厚方向の断面写真、同図(b)は、前記スポット溶接部
の断面位置において、超音波集束ビームを送受信しなが
ら走査して得られる、接合面反射波(B1)と下板底面
反射波(B2)の強度分布である。但し、スポット溶接
部の表面は平面に加工してある。
厚方向の断面写真、同図(b)は、前記スポット溶接部
の断面位置において、超音波集束ビームを送受信しなが
ら走査して得られる、接合面反射波(B1)と下板底面
反射波(B2)の強度分布である。但し、スポット溶接
部の表面は平面に加工してある。
【0034】図7(a)の断面写真から、ナゲット径す
なわち上板と下板の接合面の隙間が無くなる位置を読み
取ると4.28mmである。これに対し、図7(b)
の、接合面反射波(B1)と下板底面反射波(B2)の
強度分布からナゲット径を読み取ると、まず、下板底面
反射波(B2)の強度分布は、図のようにスポット溶接
部の中央部で反射波強度が高くなる台形形状になる。そ
の台形形状の両肩において、反射波強度の増加率が夫々
ゼロになる位置(イ)、(ロ)の2点間の距離を読み取
ると4.14mmとなり、断面写真から読み取った値よ
りやや小さめになる。なお、この強度分布において、
(ホ)及び(ヘ)の外側つまり非接合部側で再び反射波
強度が高くなるのは、前述したように上板底面の2回目
の多重反射波が同じゲートで検出されるためである。
なわち上板と下板の接合面の隙間が無くなる位置を読み
取ると4.28mmである。これに対し、図7(b)
の、接合面反射波(B1)と下板底面反射波(B2)の
強度分布からナゲット径を読み取ると、まず、下板底面
反射波(B2)の強度分布は、図のようにスポット溶接
部の中央部で反射波強度が高くなる台形形状になる。そ
の台形形状の両肩において、反射波強度の増加率が夫々
ゼロになる位置(イ)、(ロ)の2点間の距離を読み取
ると4.14mmとなり、断面写真から読み取った値よ
りやや小さめになる。なお、この強度分布において、
(ホ)及び(ヘ)の外側つまり非接合部側で再び反射波
強度が高くなるのは、前述したように上板底面の2回目
の多重反射波が同じゲートで検出されるためである。
【0035】次に、接合面反射波(B1)の強度分布
は、スポット溶接部の中心に向かって、上板2と下板3
の接合度合いが増すに従い隙間が小さくなるため、上板
2の底板の反射波は小さくなり、丁度先程の台形形状と
は逆の鍋底形状になる。この鍋底形状の最大強度の所定
比率になる強度位置、例えば図では、その強度が0.1
5になる(ハ)及び(ニ)の2点間の距離を読み取ると
4.64mmとなり、断面写真から読み取った値よりや
や大きめになる。両者の平均を取ると、4.39mmと
なり、断面写真から読み取った値と約0.1mmの差で
評価できる。
は、スポット溶接部の中心に向かって、上板2と下板3
の接合度合いが増すに従い隙間が小さくなるため、上板
2の底板の反射波は小さくなり、丁度先程の台形形状と
は逆の鍋底形状になる。この鍋底形状の最大強度の所定
比率になる強度位置、例えば図では、その強度が0.1
5になる(ハ)及び(ニ)の2点間の距離を読み取ると
4.64mmとなり、断面写真から読み取った値よりや
や大きめになる。両者の平均を取ると、4.39mmと
なり、断面写真から読み取った値と約0.1mmの差で
評価できる。
【0036】前述の実施例では、超音波集束ビーム1の
走査は、スポット溶接部の中心を通る1ラインだけであ
ったが、図8に示すように、超音波集束ビーム1をX−
Y方向の二次元的に走査することも可能である。この場
合、もちろん、反射波B2の強度分布をカラー階調化し
た二次元映像として得る手段を設ける。この結果、図9
に示すように、スポット溶接部の全体の様子がカラー映
像で把握でき、ナゲット部の形状やナゲット部に存在す
る欠陥Fの有無や、分布まで一目瞭然となる。尚、図9
の二次元映像を横切るA−A’上の強度を見れば、前述
と同様の強度分布が得られることは言うまでもない。
走査は、スポット溶接部の中心を通る1ラインだけであ
ったが、図8に示すように、超音波集束ビーム1をX−
Y方向の二次元的に走査することも可能である。この場
合、もちろん、反射波B2の強度分布をカラー階調化し
た二次元映像として得る手段を設ける。この結果、図9
に示すように、スポット溶接部の全体の様子がカラー映
像で把握でき、ナゲット部の形状やナゲット部に存在す
る欠陥Fの有無や、分布まで一目瞭然となる。尚、図9
の二次元映像を横切るA−A’上の強度を見れば、前述
と同様の強度分布が得られることは言うまでもない。
【0037】反射波B2の強度分布をカラー階調化した
二次元映像において、あるレベル以上の強度の面積率を
算出し、この面積率と正常なスポット溶接部の面積率と
を比較して、スポット溶接部の良否を判定できる。例え
ば、図10(a)に示すように、正常にスポット接合し
た場合の反射波B2の最大強度の、95%以上の強度の
面積率NSを“100”とすると、同図(b)に示すよ
うな、全体的に接合強度にむらがある場合、面積率NS
は“70”となり、あるいは、同図(c)に示すよう
に、接合部内部に欠陥がある場合には面積率NSは“9
0”となる。このように、異常がある場合には面積率は
“100”を下まわることになる。従って、面積率が許
容値以下になった場合には接合不良と判定できる。ま
た、連続的にスポット溶接部の検査を行い、ナゲット部
の形状が図11に示すように、一定方向に偏っている場
合は、電極消耗や片当り等の溶接条件の不良が考えられ
るので、スポット溶接部の二次元映像を見ながら溶接条
件の管理にも利用できる。
二次元映像において、あるレベル以上の強度の面積率を
算出し、この面積率と正常なスポット溶接部の面積率と
を比較して、スポット溶接部の良否を判定できる。例え
ば、図10(a)に示すように、正常にスポット接合し
た場合の反射波B2の最大強度の、95%以上の強度の
面積率NSを“100”とすると、同図(b)に示すよ
うな、全体的に接合強度にむらがある場合、面積率NS
は“70”となり、あるいは、同図(c)に示すよう
に、接合部内部に欠陥がある場合には面積率NSは“9
0”となる。このように、異常がある場合には面積率は
“100”を下まわることになる。従って、面積率が許
容値以下になった場合には接合不良と判定できる。ま
た、連続的にスポット溶接部の検査を行い、ナゲット部
の形状が図11に示すように、一定方向に偏っている場
合は、電極消耗や片当り等の溶接条件の不良が考えられ
るので、スポット溶接部の二次元映像を見ながら溶接条
件の管理にも利用できる。
【0038】図12(a)は、アレイ型超音波探触子1
6を用い超音波集束ビーム1をスポット溶接部に走査す
る実施例を示す図である。本実施例の場合、アレイを配
列したX方向には電子走査、また、それと直行するY方
向には機械走査を行う。二次元走査の1軸を電子走査化
したことで、走査時間は1/30に短縮され、短時間で
スポット溶接部の検査が行える。なお、超音波ビームの
集束は、超音波の送受信タイミング制御による電子集束
と、音響レンズ18による集束を併用している。また、
二次元アレイ探触子を用いることで、2軸とも電子走査
化が可能であり、より高速な検査が実現できる。
6を用い超音波集束ビーム1をスポット溶接部に走査す
る実施例を示す図である。本実施例の場合、アレイを配
列したX方向には電子走査、また、それと直行するY方
向には機械走査を行う。二次元走査の1軸を電子走査化
したことで、走査時間は1/30に短縮され、短時間で
スポット溶接部の検査が行える。なお、超音波ビームの
集束は、超音波の送受信タイミング制御による電子集束
と、音響レンズ18による集束を併用している。また、
二次元アレイ探触子を用いることで、2軸とも電子走査
化が可能であり、より高速な検査が実現できる。
【0039】図12(b)は、水槽に入れて検査するこ
とができない物の検査例を示し、アレイ型超音波探触子
16の前面には液体が入った袋17がとりつけられ、ス
ポット溶接部表面との音響的カプリングをとっている。
とができない物の検査例を示し、アレイ型超音波探触子
16の前面には液体が入った袋17がとりつけられ、ス
ポット溶接部表面との音響的カプリングをとっている。
【0040】上述した実施例では、何れも下板の底面反
射波B2を検出して映像化した例について述べたが、上
板と下板の境界に発生する欠陥を重点に検出する場合に
は、反射波B1を映像化すれば、より確実にスポット溶
接部内の欠陥を検出できることは言うまでもない。
射波B2を検出して映像化した例について述べたが、上
板と下板の境界に発生する欠陥を重点に検出する場合に
は、反射波B1を映像化すれば、より確実にスポット溶
接部内の欠陥を検出できることは言うまでもない。
【0041】また、スポット溶接部表面の凹凸の影響に
より、強度分布曲線が変形する場合には、強度の補正を
行えば良い。
より、強度分布曲線が変形する場合には、強度の補正を
行えば良い。
【0042】図13(a)は、スポット溶接の通電時間
を4サイクルとして溶接した試験片について、スポット
溶接部中心を径方向に横切る走査ラインについて超音波
集束ビームを走査したときの、上板と下板の接合面から
の反射波B1と、下板の底面からの反射波B2の強度分
布を示す図である。図13(b)〜(e)は、同様に、
通電時間が5,6,7,8サイクルの各試験片から得ら
れた強度分布図である。これ等からわかるように、スポ
ット溶接部では、通電時間が長く(サイクル数が多く)
なるにつれて接合状態が良くなり、反射波B1の強度は
段々低下し、また、反射波B2の強度は段々大きくなる
ことがわかる。従って、上板と下板の接合面からの反射
波B1と、下板の底面からの反射波B2で囲まれる面積
は、接合状態が良くなるにつれて大きくなる。そこで、
同図各強度分布の両端から見て両曲線が最初に交差する
2点a−bの間で、両曲線で囲まれる面積Sを次の数1
にしたがって、算出すると図14のようになる。
を4サイクルとして溶接した試験片について、スポット
溶接部中心を径方向に横切る走査ラインについて超音波
集束ビームを走査したときの、上板と下板の接合面から
の反射波B1と、下板の底面からの反射波B2の強度分
布を示す図である。図13(b)〜(e)は、同様に、
通電時間が5,6,7,8サイクルの各試験片から得ら
れた強度分布図である。これ等からわかるように、スポ
ット溶接部では、通電時間が長く(サイクル数が多く)
なるにつれて接合状態が良くなり、反射波B1の強度は
段々低下し、また、反射波B2の強度は段々大きくなる
ことがわかる。従って、上板と下板の接合面からの反射
波B1と、下板の底面からの反射波B2で囲まれる面積
は、接合状態が良くなるにつれて大きくなる。そこで、
同図各強度分布の両端から見て両曲線が最初に交差する
2点a−bの間で、両曲線で囲まれる面積Sを次の数1
にしたがって、算出すると図14のようになる。
【0043】
【数1】
【0044】また、図14中の×印で示す4〜6サイク
ルの試験片は、引き剥がし試験の結果簡単に剥がれてし
まい、接合強度が全く得られないものであった。7,8
サイクルの試験片は、引き剥がし試験の結果、接合部が
ボタン状に残り、ある接合強度が得られた。この結果、
例えば上記面積Sのしきい値を“30”〜“40”に設
定すれば、接合強度が全く得られないものと、接合部が
ボタン状に残るものとが区別でき、面積Sから接合状態
の良否が評価できるようになる。
ルの試験片は、引き剥がし試験の結果簡単に剥がれてし
まい、接合強度が全く得られないものであった。7,8
サイクルの試験片は、引き剥がし試験の結果、接合部が
ボタン状に残り、ある接合強度が得られた。この結果、
例えば上記面積Sのしきい値を“30”〜“40”に設
定すれば、接合強度が全く得られないものと、接合部が
ボタン状に残るものとが区別でき、面積Sから接合状態
の良否が評価できるようになる。
【0045】図15は、上述した評価方法をスポット溶
接ラインに適用した実施例を示す図であり、図16は、
処理手順を示すフロチャートである。スポット溶接対象
部品24は、ベルトコンベア23に乗って位置(a)ま
で来ると、スポット溶接機20と超音波検査機21が組
み込まれた溶接ロボット22(溶接機20と検査機21
は別々に設置しても良い)のスポット溶接機20が作動
して、所定箇所のスポット溶接を行う。この後、対象部
品24は位置(b)まで進み、超音波検査機21によ
り、スポット溶接部の検査を行う。超音波検査機21の
検出部は、ロボット22の手先に図12(b)の電子走
査式超音波探触子を取り付けたものを使用するのが好ま
しい。
接ラインに適用した実施例を示す図であり、図16は、
処理手順を示すフロチャートである。スポット溶接対象
部品24は、ベルトコンベア23に乗って位置(a)ま
で来ると、スポット溶接機20と超音波検査機21が組
み込まれた溶接ロボット22(溶接機20と検査機21
は別々に設置しても良い)のスポット溶接機20が作動
して、所定箇所のスポット溶接を行う。この後、対象部
品24は位置(b)まで進み、超音波検査機21によ
り、スポット溶接部の検査を行う。超音波検査機21の
検出部は、ロボット22の手先に図12(b)の電子走
査式超音波探触子を取り付けたものを使用するのが好ま
しい。
【0046】スポット溶接部の評価結果が良好(YE
S)であれば、スポット溶接機20は次の対象部品のス
ポット溶接を行う。もし、不良(NO)であれば、ロボ
ット22は、現在の位置(c)から位置(d)に移動
(ロボット22は移動せず、上部が回転しても良い)
し、再度不良箇所のスポット溶接を行う。そして、超音
波検査機21により、スポット溶接部の超音波検査を行
う。再溶接、再検査をN回繰返し、それでもまだスポッ
ト溶接部が不良と判定された場合には、一連の作業をス
トップし、スポット溶接機20の電極消耗具合等、スポ
ット溶接条件のチェックを行う。場合によっては不良の
対象製品を排除する。
S)であれば、スポット溶接機20は次の対象部品のス
ポット溶接を行う。もし、不良(NO)であれば、ロボ
ット22は、現在の位置(c)から位置(d)に移動
(ロボット22は移動せず、上部が回転しても良い)
し、再度不良箇所のスポット溶接を行う。そして、超音
波検査機21により、スポット溶接部の超音波検査を行
う。再溶接、再検査をN回繰返し、それでもまだスポッ
ト溶接部が不良と判定された場合には、一連の作業をス
トップし、スポット溶接機20の電極消耗具合等、スポ
ット溶接条件のチェックを行う。場合によっては不良の
対象製品を排除する。
【0047】以上のように、スポット溶接工程の直後に
検査を実施することで、スポット溶接条件の変動を速く
感知できる。
検査を実施することで、スポット溶接条件の変動を速く
感知できる。
【0048】
【発明の効果】本発明によれば、超音波集束ビームの焦
点を、スポット溶接部の上板と下板の接合面と下板底面
との間に合わせるようにしたため、観察対象とする接合
面の方位分解能をあまり低下させず、かつ下板底面反射
波の強度も低下させずにS/N良く下板底面反射波を検
出できる。また、超音波集束ビームを走査して、スポッ
ト溶接部下板の底面反射波強度の増加率から、スポット
溶接部のコロナボンド部の微小な隙間が無くなる位置を
検知できるので、ナゲット部の大きさを正確に評価でき
る。
点を、スポット溶接部の上板と下板の接合面と下板底面
との間に合わせるようにしたため、観察対象とする接合
面の方位分解能をあまり低下させず、かつ下板底面反射
波の強度も低下させずにS/N良く下板底面反射波を検
出できる。また、超音波集束ビームを走査して、スポッ
ト溶接部下板の底面反射波強度の増加率から、スポット
溶接部のコロナボンド部の微小な隙間が無くなる位置を
検知できるので、ナゲット部の大きさを正確に評価でき
る。
【0049】また、透過法によってスポット溶接部の表
面反射波の影響をなくせるので、特に薄板のナゲット部
の大きさを評価できる。
面反射波の影響をなくせるので、特に薄板のナゲット部
の大きさを評価できる。
【0050】また、スポット溶接部の下板の底面反射波
を用いない方法を採用すると、下板底面の凹凸の影響を
受けない、安定したスポット溶接部の評価ができる。
を用いない方法を採用すると、下板底面の凹凸の影響を
受けない、安定したスポット溶接部の評価ができる。
【0051】また、スポット溶接部の透過波と、スポッ
ト溶接部接合面の反射波とにより、スポット溶接部の同
一個所を2重の情報で評価すると、評価の信頼性が向上
する。更に、両反射波で囲まれる面積からスポット溶接
部の良否判定を行うと、ボイドや全体的な接合状態等の
情報が得られ、簡便な評価ができる。
ト溶接部接合面の反射波とにより、スポット溶接部の同
一個所を2重の情報で評価すると、評価の信頼性が向上
する。更に、両反射波で囲まれる面積からスポット溶接
部の良否判定を行うと、ボイドや全体的な接合状態等の
情報が得られ、簡便な評価ができる。
【0052】また、アレイ型超音波探触子を用い電子走
査法により超音波集束ビームを高速に走査すると、短時
間でスポット溶接部の評価が行える。
査法により超音波集束ビームを高速に走査すると、短時
間でスポット溶接部の評価が行える。
【0053】さらに、スポット溶接ラインのスポット溶
接工程の直後に検査を実施することで、スポット溶接条
件の変動を速く感知でき、スポット溶接の不良を最小限
に抑えることができる。
接工程の直後に検査を実施することで、スポット溶接条
件の変動を速く感知でき、スポット溶接の不良を最小限
に抑えることができる。
【図1】本発明の一実施例に係るスポット溶接部評価方
法における超音波集束ビーム走査方法の説明図である。
法における超音波集束ビーム走査方法の説明図である。
【図2】図1の各走査位置での送受信波形図である。
【図3】超音波集束ビームを走査して得られる反射超音
波の強度分布図である。
波の強度分布図である。
【図4】本発明の一実施例に係るスポット溶接部評価装
置の回路構成図である。
置の回路構成図である。
【図5】図4の増加率演算回路の演算説明図である。
【図6】透過法で超音波集束ビームを走査する説明図で
ある。
ある。
【図7】反射波強度分布とナゲット径との対応図であ
る。
る。
【図8】超音波集束ビームを二次元走査する説明図であ
る。
る。
【図9】強度分布の二次元映像図である。
【図10】各種スポット溶接部の強度分布の二次元映像
図である。
図である。
【図11】電極の片当りの場合の強度分布の二次元映像
図である。
図である。
【図12】アレイ型超音波探触子の使用説明図である。
【図13】通電時間が異なる試験片で得られる強度分布
図である。
図である。
【図14】通電時間と面積評価値の関係図である。
【図15】スポット溶接ロボットの説明図である。
【図16】図15の溶接ロボットの処理手順を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
1…超音波集束ビーム、2…上板、3…下板、4…接合
面、5…下板底面、6…X−Yスキャナ、7…水槽、8
…スキャナ駆動部、9…超音波送受信回路、10…ゲー
ト回路、11…制御回路、12…メモリ回路、13…増
加率演算回路、14…走査距離演算回路、15…表示
部、16…アレイ型超音波探触子、17…ゴム袋、18
…音響レンズ、19…被検査体、20…スポット溶接
機、21…超音波検査機、22…装置、23…コンベア
ー、A…ナゲット部、B…コロナボンド部、C…非接合
部、B1…接合面反射波、B2…下板底面反射波。
面、5…下板底面、6…X−Yスキャナ、7…水槽、8
…スキャナ駆動部、9…超音波送受信回路、10…ゲー
ト回路、11…制御回路、12…メモリ回路、13…増
加率演算回路、14…走査距離演算回路、15…表示
部、16…アレイ型超音波探触子、17…ゴム袋、18
…音響レンズ、19…被検査体、20…スポット溶接
機、21…超音波検査機、22…装置、23…コンベア
ー、A…ナゲット部、B…コロナボンド部、C…非接合
部、B1…接合面反射波、B2…下板底面反射波。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 文信 茨城県日立市大みか町七丁目2番1号 株 式会社日立製作所エネルギー研究所内
Claims (15)
- 【請求項1】 上板と下板とをスポット溶接した板材に
対し上板表面から下板方向に超音波ビームを送信すると
共に反射超音波を受信し、該超音波ビームを板材に対し
て相対的に走査しながら得られる反射超音波の強度変化
からスポット溶接部の走査方向の大きさを検査するスポ
ット溶接部の評価方法において、送信する超音波ビーム
を下板の上板側表面と裏面との間に焦合させながら超音
波ビームを板材に対して相対的に走査し、上板・下板間
接合部からの反射超音波と下板裏面からの反射超音波の
強度変化からスポット溶接部の走査方向の大きさを求め
ることを特徴とするスポット溶接部の評価方法。 - 【請求項2】 上板と下板とをスポット溶接した板材に
対し上板表面から下板方向に超音波ビームを送信すると
共に反射超音波を受信し、該超音波ビームを板材に対し
て相対的に走査しながら得られる反射超音波の強度変化
からスポット溶接部の走査方向の大きさを検査するスポ
ット溶接部評価装置において、送信する超音波ビームを
下板の上板側表面と裏面との間に焦合させる手段と、超
音波ビームを板材に対して相対的に走査し上板・下板間
接合部からの反射超音波と下板裏面からの反射超音波の
強度変化からスポット溶接部の走査方向の大きさを求め
る手段とを備えることを特徴とするスポット溶接部評価
装置。 - 【請求項3】 上板と下板とをスポット溶接した板材に
対し上板表面から下板方向に超音波ビームを送信すると
共に反射超音波を受信し、該超音波ビームを板材に対し
て相対的に走査しながら得られる反射超音波の強度変化
からスポット溶接部の走査方向の大きさを検査するスポ
ット溶接部の評価方法において、送信する超音波ビーム
を下板の上板側表面と裏面との間に焦合させながら超音
波ビームを板材に対して相対的に走査し、該走査がスポ
ット溶接部分に入り下板裏面からの反射超音波の強度増
加後に強度変化率がゼロとなる第1点と、該走査がスポ
ット溶接部分から外れるに際し下板裏面からの反射超音
波の強度変化率がゼロから変化開始する第2点とを求
め、前記第1点と前記第2点との距離を基本にスポット
溶接部の走査方向の大きさを決めることを特徴とするス
ポット溶接部の評価方法。 - 【請求項4】上板と下板とをスポット溶接した板材に対
し上板表面から下板方向に超音波ビームを送信すると共
に反射超音波を受信し、該超音波ビームを板材に対して
相対的に走査しながら得られる反射超音波の強度変化か
らスポット溶接部の走査方向の大きさを検査するスポッ
ト溶接部評価装置において、送信する超音波ビームを下
板の上板側表面と裏面との間に焦合させる手段と、超音
波ビームの走査がスポット溶接部分に入り下板裏面から
の反射超音波の強度が増加した後に該強度の変化率がゼ
ロとなる第1点を求める手段と、該走査がスポット溶接
部分から外れるに際し下板裏面からの反射超音波の強度
の変化率がゼロから変化開始する第2点を求める手段
と、前記第1点と前記第2点との距離を基本にスポット
溶接部の走査方向の大きさを求める手段とを備えること
を特徴とするスポット溶接部評価装置。 - 【請求項5】 上板と下板とをスポット溶接した板材に
対し上板表面から下板方向に超音波ビームを送信すると
共に反射超音波を受信し、該超音波ビームを板材に対し
て相対的に走査しながら得られる反射超音波の強度変化
からスポット溶接部の走査方向の大きさを検査するスポ
ット溶接部の評価方法において、送信する超音波ビーム
を下板の上板側表面と裏面との間に焦合させながら超音
波ビームを板材に対して相対的に走査し、走査に応じて
得られる上板・下板間接合部からの反射超音波強度曲線
を求め、走査に応じて得られる下板裏面からの反射超音
波強度曲線を求め、両反射波強度曲線に囲まれる面積か
らスポット溶接部の走査方向の大きさを求めることを特
徴とするスポット溶接部の評価方法。 - 【請求項6】 上板と下板とをスポット溶接した板材に
対し上板表面から下板方向に超音波ビームを送信すると
共に反射超音波を受信し、該超音波ビームを板材に対し
て相対的に走査しながら得られる反射超音波の強度変化
からスポット溶接部の走査方向の大きさを検査するスポ
ット溶接部評価装置において、送信する超音波ビームを
下板の上板側表面と裏面との間に焦合させながら超音波
ビームを板材に対して相対的に走査する手段と、走査に
応じて得られる上板・下板間接合部からの反射超音波強
度曲線を求める手段と、走査に応じて得られる下板裏面
からの反射超音波強度曲線を求める手段と、両反射波強
度曲線に囲まれる面積からスポット溶接部の走査方向の
大きさを求める手段とを備えることを特徴とするスポッ
ト溶接部評価装置。 - 【請求項7】 超音波集束ビームを送受信してスポット
溶接部を検査する装置において、前記超音波集束ビーム
の焦点を前記スポット溶接部の上板表面と下板底面との
間に合わせる手段と、前記超音波集束ビームを前記スポ
ット溶接部を径方向に横切るように走査する手段と、前
記走査に伴って前記スポット溶接部に対し超音波を送受
信し各送受信位置毎のスポット溶接部下板の底面反射波
の強度を求める手段と、前記送受信位置に対する反射波
強度分布の両サイドであってスポット溶接部の内側方向
に向かうにつれて増加し前記反射波強度の増加率が最初
にそれぞれゼロになる2点間の走査距離を求める手段
と、前記2点間の走査距離に所定定数を加えた値からス
ポット溶接部を評価する手段とを備えることを特徴とす
るスポット溶接部評価装置。 - 【請求項8】 超音波集束ビームを送受信してスポット
溶接部を検査する装置において、前記超音波集束ビーム
の焦点を前記スポット溶接部の上板表面と下板底面との
間に合わせる手段と、前記超音波集束ビームを前記スポ
ット溶接部を径方向に横切るように走査する手段と、前
記走査に伴って前記スポット溶接部に対し超音波を送受
信し各送受信位置毎のスポット溶接部下板の底面反射波
の強度を求める手段と、前記送受信位置に対する反射波
強度分布の両サイドであってその強度が最大強度の所定
比率になる強度位置の2点間の走査距離を検知する手段
と、前記2点間の走査距離に所定定数を加えた値からス
ポット溶接部を評価する手段とを備えることを特徴とす
るスポット溶接部評価装置。 - 【請求項9】 請求項7または請求項8において、前記
強度分布は、超音波送波子と超音波受波子を、スポット
溶接部の上板と下板を挾むように配置し、前記超音波送
波子あるいは前記超音波受波子の少なくともどちらか一
方の超音波集束ビームの焦点を、前記スポット溶接部の
上板表面と下板底面との間に合わせ、該スポット溶接部
を透過した超音波強度を測定して得た強度分布であるこ
とを特徴とするスポット溶接部評価装置。 - 【請求項10】 超音波集束ビームを送受信してスポッ
ト溶接部を検査する装置において、前記超音波集束ビー
ムの焦点を前記スポット溶接部の上板表面と下板底面と
の間に合わせる手段と、前記超音波集束ビームを前記ス
ポット溶接部を径方向に横切るように走査する手段と、
前記走査に伴って前記スポット溶接部に対し超音波を送
受信し各送受信位置毎のスポット溶接部接合面からの反
射波強度を求める手段と、前記送受信位置に対する反射
波強度分布の両サイドであってその強度が最大強度の所
定比率になる強度位置の2点間の走査距離を検知する手
段と、前記2点間の走査距離に所定定数を加えた値から
スポット溶接部を評価する手段とを備えることを特徴と
するスポット溶接部評価装置。 - 【請求項11】 請求項7記載のスポット溶接部評価装
置により得られた評価値と、請求項10記載のスポット
溶接部評価装置により得られた評価値との平均値からス
ポット溶接部を評価することを特徴とするスポット溶接
部評価装置。 - 【請求項12】 超音波集束ビームを送受信してスポッ
ト溶接部を検査する装置において、前記超音波集束ビー
ムの焦点を前記スポット溶接部の上板表面と下板底面と
の間に合わせる手段と、前記超音波集束ビームを前記ス
ポット溶接部を径方向に横切るように走査する手段と、
前記走査に伴って前記スポット溶接部に対し超音波を送
受信し各送受信位置毎のスポット溶接部下板底面からの
反射波強度とスポット溶接部の上板と下板の接合面から
の反射波強度を得る手段と、前記送受信位置に対する二
つの強度分布曲線の両サイドであって両曲線がスポット
溶接部の内側方向に向ってそれぞれ最初に交差する2点
間で各送受信位置毎の下板底面の反射波強度から上板と
下板の接合面からの反射波強度を差し引いた値の積分値
からスポット溶接部を評価する手段とを備えることを特
徴とするスポット溶接部評価装置。 - 【請求項13】 請求項7乃至請求項12のいずれかに
おいて、スポット溶接部に対して超音波集束ビームを形
成し且つ走査する手段として、アレイ型超音波探触子を
用いたことを特徴とするスポット溶接部評価装置。 - 【請求項14】 スポット溶接機と、請求項7乃至請求
項13のいずれかに記載のスポット溶接部評価装置と、
該スポット溶接部評価装置がスポット溶接部不良と判定
したときに同じ箇所に再度スポット溶接を前記スポット
溶接機にフィードバック指示する制御手段と、該制御手
段による同一箇所のスポット溶接指示がN回繰返えされ
た後も前記スポット溶接部評価装置が不良と判定したと
き溶接条件の見直しを行う手段または該スポット溶接の
対象製品を排除する手段とを備えることを特徴とするス
ポット溶接ロボット。 - 【請求項15】 超音波集束ビームを形成し且つ走査す
る手段として電子走査式超音波探触子を用いた請求項7
乃至請求項12のいずれかに記載のスポット溶接部評価
装置と、前記電子走査式超音波探触子を手先に備えるロ
ボットと、該手先の前記電子走査式超音波探触子を液密
に覆い内部に超音波伝播液体媒質が収納された被検体接
触用の袋体とを備えることを特徴とするスポット溶接検
査ロボット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5054209A JPH06265529A (ja) | 1993-03-15 | 1993-03-15 | スポット溶接部の評価方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5054209A JPH06265529A (ja) | 1993-03-15 | 1993-03-15 | スポット溶接部の評価方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06265529A true JPH06265529A (ja) | 1994-09-22 |
Family
ID=12964169
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5054209A Pending JPH06265529A (ja) | 1993-03-15 | 1993-03-15 | スポット溶接部の評価方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06265529A (ja) |
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005055237A (ja) * | 2003-08-01 | 2005-03-03 | Kumamoto Technology & Industry Foundation | スポット溶接部の超音波検査方法 |
| WO2005103675A1 (ja) * | 2004-04-26 | 2005-11-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 3次元超音波検査装置 |
| JP2005315582A (ja) * | 2004-04-26 | 2005-11-10 | Toshiba Corp | 3次元超音波検査装置 |
| WO2006085570A1 (ja) * | 2005-02-14 | 2006-08-17 | Exedy Corporation | 自動超音波検査装置、その検査方法及びその検査方法を用いた製造方法 |
| JP2008073730A (ja) * | 2006-09-21 | 2008-04-03 | Tokyu Car Corp | レーザスポット溶接部の評価方法 |
| JP2010014554A (ja) * | 2008-07-03 | 2010-01-21 | Toyota Motor Corp | 溶接溶け込み深さ評価方法 |
| JP2010019777A (ja) * | 2008-07-14 | 2010-01-28 | Hino Motors Ltd | 自動溶接/検査方法および自動溶接/検査システムならびにプログラム |
| JP2010073398A (ja) * | 2008-09-17 | 2010-04-02 | Toyota Motor Corp | 電池及びその製造方法 |
| US7698944B2 (en) | 2004-09-01 | 2010-04-20 | Jfe Steel Corporation | Ultrasonic method and apparatus for evaluating spot weld zone |
| JP2011058937A (ja) * | 2009-09-09 | 2011-03-24 | Toyota Central R&D Labs Inc | 構造物内部状態計測システム及び構造物内部状態計測方法 |
| JP2012047750A (ja) * | 2005-11-09 | 2012-03-08 | Japan Science & Technology Agency | 音波誘起電磁波による物体の特性測定方法及び装置 |
| WO2016056341A1 (ja) * | 2014-10-10 | 2016-04-14 | 三菱重工業株式会社 | 接合部の判定方法、及び接合材の製造方法 |
| JP5997861B1 (ja) * | 2016-04-18 | 2016-09-28 | 株式会社日立パワーソリューションズ | 超音波映像装置および超音波映像装置の画像生成方法。 |
| JP2021146437A (ja) * | 2020-03-18 | 2021-09-27 | 株式会社東芝 | 制御装置、検査システム、制御方法、プログラム、及び記憶媒体 |
| CN114761793A (zh) * | 2019-10-30 | 2022-07-15 | 株式会社东芝 | 处理系统、处理方法、程序、以及存储介质 |
| JP2023005097A (ja) * | 2021-06-28 | 2023-01-18 | 東芝検査ソリューションズ株式会社 | 超音波検査装置、方法及びプログラム |
| JP2025070085A (ja) * | 2023-10-19 | 2025-05-02 | 株式会社豊田中央研究所 | 接合評価方法、接合評価装置および溶接システム |
-
1993
- 1993-03-15 JP JP5054209A patent/JPH06265529A/ja active Pending
Cited By (34)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005055237A (ja) * | 2003-08-01 | 2005-03-03 | Kumamoto Technology & Industry Foundation | スポット溶接部の超音波検査方法 |
| CN100545650C (zh) | 2004-04-26 | 2009-09-30 | 株式会社东芝 | 三维超声检查设备 |
| JP2005315582A (ja) * | 2004-04-26 | 2005-11-10 | Toshiba Corp | 3次元超音波検査装置 |
| US7496456B2 (en) | 2004-04-26 | 2009-02-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 3D ultrasonographic device |
| WO2005103675A1 (ja) * | 2004-04-26 | 2005-11-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 3次元超音波検査装置 |
| US7698944B2 (en) | 2004-09-01 | 2010-04-20 | Jfe Steel Corporation | Ultrasonic method and apparatus for evaluating spot weld zone |
| WO2006085570A1 (ja) * | 2005-02-14 | 2006-08-17 | Exedy Corporation | 自動超音波検査装置、その検査方法及びその検査方法を用いた製造方法 |
| US7798002B2 (en) | 2005-02-14 | 2010-09-21 | Exedy Corporation | Automatic ultrasonic examination device, automatic ultrasonic examination method and production method using the examination method |
| JP2012047751A (ja) * | 2005-11-09 | 2012-03-08 | Japan Science & Technology Agency | 音波誘起電磁波による物体の特性測定方法及び装置 |
| US9901280B2 (en) | 2005-11-09 | 2018-02-27 | Japan Science And Technology Agency | Apparatus for measuring properties of an object with acoustically induced electromagnetic waves |
| US9901281B2 (en) | 2005-11-09 | 2018-02-27 | Japan Science And Technology Agency | Method of measuring properties of an object with acoustically induced electromagnetic waves |
| JP2012047750A (ja) * | 2005-11-09 | 2012-03-08 | Japan Science & Technology Agency | 音波誘起電磁波による物体の特性測定方法及び装置 |
| JP2008073730A (ja) * | 2006-09-21 | 2008-04-03 | Tokyu Car Corp | レーザスポット溶接部の評価方法 |
| JP2010014554A (ja) * | 2008-07-03 | 2010-01-21 | Toyota Motor Corp | 溶接溶け込み深さ評価方法 |
| JP2010019777A (ja) * | 2008-07-14 | 2010-01-28 | Hino Motors Ltd | 自動溶接/検査方法および自動溶接/検査システムならびにプログラム |
| JP2010073398A (ja) * | 2008-09-17 | 2010-04-02 | Toyota Motor Corp | 電池及びその製造方法 |
| JP2011058937A (ja) * | 2009-09-09 | 2011-03-24 | Toyota Central R&D Labs Inc | 構造物内部状態計測システム及び構造物内部状態計測方法 |
| JP2016080385A (ja) * | 2014-10-10 | 2016-05-16 | 三菱重工業株式会社 | 接合部の判定方法、及び接合材の製造方法 |
| US10307859B2 (en) | 2014-10-10 | 2019-06-04 | Mitsubishi Heavy Industries Engineering, Ltd. | Joint part determination method and joint material manufacturing method |
| GB2545376A (en) * | 2014-10-10 | 2017-06-14 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Weld part determination method and weld material manufacturing method |
| GB2545376B (en) * | 2014-10-10 | 2022-01-26 | Mitsubishi Heavy Ind Eng Ltd | Joint part determination method and joint material manufacturing method |
| CN106796202A (zh) * | 2014-10-10 | 2017-05-31 | 三菱重工业株式会社 | 接合部的判定方法及接合材料的制造方法 |
| WO2016056341A1 (ja) * | 2014-10-10 | 2016-04-14 | 三菱重工業株式会社 | 接合部の判定方法、及び接合材の製造方法 |
| CN106796202B (zh) * | 2014-10-10 | 2019-06-28 | 三菱重工工程株式会社 | 接合部的判定方法及接合材料的制造方法 |
| US10663433B2 (en) | 2016-04-18 | 2020-05-26 | Hitachi Power Solutions, Co., Ltd. | Ultrasound imaging device and method of generating image for ultrasound imaging device |
| KR20180121649A (ko) * | 2016-04-18 | 2018-11-07 | 가부시키가이샤 히타치 파워 솔루션즈 | 초음파 영상 장치 및 초음파 영상 장치의 화상 생성 방법 |
| JP5997861B1 (ja) * | 2016-04-18 | 2016-09-28 | 株式会社日立パワーソリューションズ | 超音波映像装置および超音波映像装置の画像生成方法。 |
| WO2017183540A1 (ja) * | 2016-04-18 | 2017-10-26 | 株式会社日立パワーソリューションズ | 超音波映像装置および超音波映像装置の画像生成方法 |
| CN114761793A (zh) * | 2019-10-30 | 2022-07-15 | 株式会社东芝 | 处理系统、处理方法、程序、以及存储介质 |
| EP4053552A4 (en) * | 2019-10-30 | 2023-11-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Processing system, processing method, program, and storage medium |
| US12153018B2 (en) | 2019-10-30 | 2024-11-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Processing system, processing method, and storage medium |
| JP2021146437A (ja) * | 2020-03-18 | 2021-09-27 | 株式会社東芝 | 制御装置、検査システム、制御方法、プログラム、及び記憶媒体 |
| JP2023005097A (ja) * | 2021-06-28 | 2023-01-18 | 東芝検査ソリューションズ株式会社 | 超音波検査装置、方法及びプログラム |
| JP2025070085A (ja) * | 2023-10-19 | 2025-05-02 | 株式会社豊田中央研究所 | 接合評価方法、接合評価装置および溶接システム |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA2835899C (en) | Three-dimensional matrix phased array spot weld inspection system | |
| US9733219B2 (en) | Automated weld inspection system with weld acceptability pass or fail indications | |
| JPH06265529A (ja) | スポット溶接部の評価方法及び装置 | |
| US9759691B2 (en) | Gating methods for use in weld inspection systems | |
| US6948369B2 (en) | Methods for ultrasonic inspection of spot and seam resistance welds in metallic sheets and a spot weld examination probe system (SWEPS) | |
| US9037419B2 (en) | Portable matrix phased array spot weld inspection system | |
| US8215173B2 (en) | UT method of identifying a stuck joint | |
| US6925882B1 (en) | Methods for ultrasonic inspection of spot and seam resistance welds in metallic sheets | |
| KR20160122165A (ko) | 휴대형 매트릭스 위상 배열 어레이 스폿 용접부 감시 시스템 | |
| WO2007116629A1 (ja) | 摩擦撹拌接合物の検査方法および検査装置 | |
| WO2016172078A1 (en) | Automated weld inspection system | |
| US12175649B2 (en) | Characterization and classification of spot welds by ultrasonic diagnostic techniques | |
| JPH11326287A (ja) | 超音波探傷装置を用いた溶接部の溶融凝固部分の判定法 | |
| KR20130089353A (ko) | 스폿용접부의 신뢰성 검사가 가능한 스폿용접기 | |
| CN114147382A (zh) | 电、超声波信号复合的电阻点焊质量在线监测方法及装置 | |
| JP2000180421A (ja) | 薄板重ね合わせシーム溶接部の検査方法及び装置 | |
| JP2000180422A (ja) | 薄板重ね合わせシーム溶接部の検査方法及びその装置 | |
| WO2016172178A1 (en) | Gating methods for use in weld inspection systems | |
| Kleiner et al. | Signal processing for quality assurance in friction stir welds | |
| JP2000146928A (ja) | スポット溶接の検査方法 | |
| JP4614219B2 (ja) | レーザ溶接継手の検査方法及び検査装置 | |
| KR920007199B1 (ko) | 비파괴 검사방법 및 장치 | |
| Acebes et al. | Development of an automated ultrasonic inspection device for quality control of spot welds | |
| Ghaffari et al. | Non-destructive evaluation of spot-weld quality | |
| JPS5914189B2 (ja) | 抵抗点溶接部の超音波検査装置 |