JPH0627178A

JPH0627178A - フィルタピンコネクタの自動試験装置およびその方法

Info

Publication number: JPH0627178A
Application number: JP5038030A
Authority: JP
Inventors: Nicholas D Kefalas; ニコラス、ダイアモンド、ケファラス
Original assignee: United Technologies Corp
Current assignee: RTX Corp
Priority date: 1992-02-28
Filing date: 1993-02-26
Publication date: 1994-02-04
Also published as: US5241277A; TR28872A; KR930018279A

Abstract

(57)【要約】【目的】フィルタピンコネクタの絶縁抵抗、キャパシ
タンスおよび高周波減衰の迅速かつ正確な測定を行うフ
ィルタピンコネクタ用自動試験装置を供する。【構成】フィルタピンコネクタを試験するための自動
試験装置は、フィルタピンコネクタの絶縁抵抗を試験す
るための絶縁抵抗試験器、各フィルタピンコネクタのピ
ン接触子のキャパシタンスを測定するためのキャパシタ
ンス計、信号生成器、および信号生成器によって供給さ
れた試験信号のピン接触子の組の減衰を測定するための
無線周波（ＲＦ）マイクロボルト計を使用する。試験用
取付具は、各ピン接触子の組と試験装置との間に信号経
路を供給するための、一組の無線周波マルチプレクサお
よび高圧マルチプレクサを含む。マイクロプロセッサ
は、各ピン接触子の組の絶縁抵抗、キャパシタンスおよ
び信号減衰を測定するために試験装置およびマルチプレ
クサを制御する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、自動試験装置、詳細に
は、フィルタピンコネクタのキャパシタンス、絶縁抵抗
および高周波減衰を測定するための自動試験装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術およびその課題】フィルタピンコネクタ
は、電子装置間の信号経路上での電磁波妨害（ＥＭＩ）
および無線周波妨害（ＲＦＩ）をろ波するために経済的
な手段を提供する。例えば、各フィルタピンコネクタの
ピン接触子に低域フィルタを内蔵させ、それにより、そ
のフィルタピンコネクタが高周波を減衰する一方、直流
および低周波交流信号を通過させるようにすることがで
きる。いくつかの形式のフィルタピンコネクタがあり、
それぞれ、各自の概略図によってＬ形、Ｌ−Ｃ形、Ｔ
形、ｐｉ形などと名づけられた、その意図する用途に従
って異なる回路設計を有している。

【０００３】長い連続した非しゃへいケーブルは特に妨
害の影響を受けやすいので、そのようなケーブルの連続
には、ＥＭＩおよびＲＦＩを抑止するために電気フィル
タをコネクタの一体部分として備えることが必要かもし
れない。さらに、その電子装置が、航空機で使用される
電子装置などのように高度のＥＭＩおよびＲＦＩの影響
を受ける環境での使用を目的とする場合、その装置が正
しく動作できるように一連のケーブルにはフィルタピン
コネクタを備えることが必要であろう。電子装置をＥＭ
ＩおよびＲＦＩから保護することに加え、フィルタピン
コネクタは、雷撃などによって生じる静電放電に起因す
る電力サージから装置を保護するためにも使用されてい
る。フィルタピンコネクタは、遠隔通信システム、デー
タ処理システムやマイクロプロセッサにもとづくシステ
ム、動力車および航空機において特に有用である。

【０００４】一般に、フィルタピンコネクタについては
製造時に高位差電圧（ハイポット）試験しか行われな
い。ハイポット試験は、コネクタピン接触子を高位差電
圧下に置き、絶縁抵抗を測定し、絶縁抵抗の破壊を監視
することによって実施される。しかし、ハイポット試験
は、コネクタの減衰特性またはキャパシタンス値の誤動
作を識別しない。

【０００５】ディジタル電圧計（ＤＶＭ）を用いて対応
するピン接触子間の導通を測定し、キャパシタンス計に
よって適正なキャパシタンス範囲を検証するために、フ
ィルタピンコネクタについて手動ベンチ試験を行うこと
ができる。しかしこうした形式のベンチ試験も、予備試
験手続きとしての役目を果たすにすぎず、被試験フィル
タピンコネクタの適正動作または誤動作の種類について
限られた情報を提供するだけである。さらに、このよう
な手動試験は、試験すべきピン接触子を多数有するコネ
クタでは特に、実行するのに極めて時間がかかる。

【０００６】フィルタピンコネクタに関係する問題は、
そのコネクタの信号減衰特性の障害が、システムへの取
り付け以前にも以後にも、極めて発見が難しいというこ
とである。一度フィルタピンコネクタがシステムへ取り
付けられると、そのコネクタの故障は、信号経路におけ
る他の種類の故障とほとんど識別不可能となる。軍用規
格第２１２０号（ＭＩＬ−ＳＴＤ−２１２０，１９８４
年８月２７日）の第５．２．６．１項には、フィルタピ
ンコネクタの減衰試験を実施するための手動試験手順が
規定されている。この手動試験は、フィルタピンコネク
タの一方の側のピン接触子と信号発生器との間、およ
び、フィルタピンコネクタの他方の側のピン接触子とＲ
Ｆマイクロボルト計との間に、ＲＦプローブを接続する
ことを要する。プローブおよび信号発生器は、１０Ｍ
Ｈｚから１ＧＨｚの間の周波数範囲で動作できなけれ
ばならない。この試験に用いられる全部の装置は、いず
れの測定を行う前に校正を要する。試験は、被試験フィ
ルタピンコネクタの各ピン接触子について繰り返して行
われなければならず、また、試験装置は、試験プローブ
の移動が特に２００ＭＨｚ〜１ＧＨｚの高周波数で
信号発生器によって供給される試験信号に対する試験装
置の応答に影響するので、各試験の間に再校正する必要
がある。従って、この形式の手動減衰試験は、極めて時
間がかかり、かつ、高額であり、その上、高い誤差値を
もたらし、潜在的にその試験結果を反復不能かつ不確定
にさせる、干渉および雑音に著しく影響されやすい。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明の目的は、フィル
タピンコネクタの絶縁抵抗、キャパシタンスおよび高周
波減衰の迅速かつ正確な測定を行うフィルタピンコネク
タ用自動試験装置を提供することを含む。

【０００８】本発明に従えば、フィルタピンコネクタの
絶縁抵抗、キャパシタンスおよび高周波減衰の自動試験
は、コネクタと試験計器類との間でインタフェースとな
る試験用取付具にコネクタを装着することによって行わ
れる。コネクタおよび試験計器類は、フィルタピンコネ
クタのピン接触子の絶縁抵抗、キャパシタンスまたは高
周波減衰を測定するために、マイクロプロセッサが制御
する。試験に対する各フィルタピンコネクタのピン接触
子の応答は、フィルタピンコネクタの絶縁抵抗、キャパ
シタンスまたは高周波減衰の指示としてマイクロプロセ
ッサに供給される。

【０００９】さらに、本発明に従えば、その試験用取付
具は、複数の形式のフィルタピンコネクタと相互接続す
るための汎用インタフェースを備えており、マイクロプ
ロセッサは被試験コネクタのピン接触子に試験信号を供
給するために試験用取付具に取り付けられたフィルタピ
ンコネクタの形式を指示するコマンド信号に応答し、さ
らに、マイクロプロセッサはコネクタの絶縁抵抗、キャ
パシタンスまたは高周波減衰試験のいずれか一つまたは
その組合せを実行するために試験用取付具および計器類
を制御するためのコマンド信号に応答する。

【００１０】さらに、本発明に従えば、試験用取付具お
よび試験計器類は、試験結果の繰り返し性を保証し、か
つ、試験結果の誤差を最小限にするために、フィルタピ
ンコネクタにいずれかの試験信号を供給する前に、また
は、いずれかの測定を行う前に、自動的に校正される。

【００１１】本発明の自動試験装置は、被試験フィルタ
ピンコネクタの適正動作の迅速かつ信頼できる検証を行
う。汎用試験用取付具によって、本装置は多様な各種形
式のフィルタピンコネクタを試験するために使用するこ
とができる。さらに、本試験装置の操作者は、コネクタ
の特定の動作特性に応じて、フィルタピンコネクタでい
ずれの試験を実施するかを選択することができる。試験
用取付具は、測定値の繰り返し性を保証し、かつ、試験
結果の誤差を最小限にするために、コネクタを試験する
前に校正される。試験用取付具は、フィルタピンコネク
タの個々のピン接触子の試験の間に再校正する必要はな
い。試験計器類と各ピン接触子との間に個別のケーブル
が付与されるので、従って、試験計器類とコネクタのピ
ン接触子との間の各信号経路を個別に校正することがで
きる。コネクタが試験のために取り付けられた後、試験
用取付具の機器構成に変更はまったくない。

【００１２】本発明は、フィルタピンコネクタを試験す
る従来方法に比べて著しい進歩を示している。コネクタ
の試験における誤差は著しく低減され、さらに、コネク
タの自動試験により時間は手動試験よりもはるかにかか
らない。

【００１３】本発明の前述その他の目的、特徴および利
益は、添付図面の図示に従って、以下の例示実施例の詳
細な説明によってさらに明白になるであろう。

【００１４】

【実施例】本発明の自動試験装置は、フィルタピンコネ
クタの絶縁抵抗、キャパシタンスおよび高周波減衰の迅
速かつ正確な測定を行うために特に適する。本装置は、
図１に示す筒形フィルタピンコネクタのような各種径の
筒形フィルタピンコネクタ、および、図２に示す方形フ
ィルタピンコネクタのような方形フィルタピンコネクタ
を含む、多様な異なる形式のフィルタピンコネクタを試
験するために適応されている。

【００１５】図１および図２について説明すれば、各フ
ィルタピンコネクタは、コネクタの一方の側から他方の
側への信号経路を付与する１つ以上の組のピン接触子１
０を含む。各ピン経路は、通過する信号をろ波するため
のフィルタ網回路（図示せず）を含む。このフィルタ回
路は、所望のフィルタ特性を付与するための機器構成に
おいて、コンデンサ、抵抗器、誘導器などの各種構成要
素を含む。通常、筒形フィルタコネクタは、装置の他の
筒形コネクタとの嵌合を確保するためのねじ山２０，２
１などの締結手段を有するであろう。方形コネクタもや
はり、装置の他の方形コネクタとの嵌合を確保するため
の締結手段を備えている。

【００１６】図３について説明する。本発明の自動試験
装置は、無線周波生成器１００、高圧絶縁抵抗試験器１
０２、キャパシタンス計１０４および無線周波マイクロ
ボルト計１０６の４つの主要計器を含む。これらの計器
類は、１組のｎ×ｍ無線周波リレーモジュールマルチプ
レクサ１１２および１１３、ならびにｎ×ｍ高圧リレー
モジュールマルチプレクサ１１５によって試験用取付具
１１０とインタフェースされている。マルチプレクサ１
１２、１１３および１１５の値ｎおよびｍは、多数のピ
ン接触子を有するコネクタを試験するために十分な数の
信号経路を付与するように選択される。試験用取付具１
１０は、多様な種類のフィルタピンコネクタを装着する
ために機器構成されており、図５によって詳述する。

【００１７】試験装置は、これらの試験計器類およびマ
ルチプレクサの動作を制御するためのマイクロプロセッ
サ１２０を備えている。コンピュータインタフェースバ
ス１２１がマイクロプロセッサを試験計器類およびマル
チプレクサと相互接続している。このマイクロプロセッ
サは、標準のＲＳ−２３２，ＩＥＥＥ−４８８インタフ
ェースバスを用いたＨｅｗｌｅｔｔＰａｃｋａｒｄ
ＨＰ−９０００シリーズコンピュータなどの標準コンピ
ュータインタフェースバスによって試験計器類およびマ
ルチプレクサとインタフェースされることが可能ないず
れかの形式のものとしてよい。

【００１８】データ入力用キーパッドなどのユーザイン
タフェース１２２は、被試験フィルタピンコネクタの形
式を指示するコネクタ信号をマイクロプロセッサに供給
するために使用される。インタフェース１２２はまた、
そのフィルタピンコネクタについていずれの試験が実行
されるかを制御するために、マイクロプロセッサにコマ
ンド信号を供給するために使用される。ブラウン管表示
装置などの表示装置１２３は、試験結果を表示するため
に備わっている。

【００１９】フィルタピンコネクタの減衰試験は、ＭＩ
Ｌ−ＳＴＤ−２１２０に従って実施される。減衰試験で
は、マイクロプロセッサ１２０は、６ｄＢ絶縁パッド
１２５および無線周波リレーモジュールマルチプレクサ
の一方１１２を介して無線周波生成器１００から試験用
取付具１１０へ信号経路を付与するように本装置を制御
する。試験用取付具１１０は被試験フィルタピンコネク
タに信号を供給し、そのフィルタピンコネクタの出力は
無線周波リレーモジュールマルチプレクサの他方１１３
および６ｄＢ絶縁パッド１２６を介してマイクロボル
ト計１０６へ供給される。無線周波信号生成器１００
は、例えば、ＨｅｗｌｅｔｔＰａｃｋａｒｄＨＰ−
８６４２Ｂ信号生成器のように、＋／−２０ｄＢの増
幅および減衰、また、１０ＭＨｚ〜１ＧＨｚの周波
数スペクトルが可能でなければならない。さらに、無線
周波リレーモジュールマルチプレクサ１１２および１１
３は、０．５ｄＢ未満の減衰レベルで１ＧＨｚを越
える周波数を処理できなければならない。６ｄＢ絶縁
パッド１２５および１２６は、信号生成器１００が過励
振された場合に試験用取付具１１０およびマイクロボル
ト計１０６へ供給される電力を制限するために備わって
いる。

【００２０】本試験装置は、いずれの減衰測定も、その
実施前に校正されなければならない。これはまず、被試
験フィルタピンコネクタの形式を指示するコネクタ形式
信号をユーザインタフェース１２２を介してマイクロプ
ロセッサに供給することによって実行される。マイクロ
プロセッサは、フィルタピンコネクタによって信号経路
を付与するために使用される対応するマルチプレクサリ
レーモジュールを決定するために、ＥＥＰＲＯＭなどの
不揮発性メモリ１２８に記憶されたルックアップテーブ
ルを使用する。試験用取付具１１０は、試験用取付具の
信号生成器側の適応するマルチプレクサリレーモジュー
ル１１２から試験用取付具の無線周波マイクロボルト計
側のマルチプレクサリレーモジュール１１３へ直接の信
号経路を付与するように構成されている。その後、マイ
クロプロセッサは、無線周波信号の信号経路を付与する
ために他のリレーモジュールの全部を絶縁する一方、リ
レーモジュールの組を起動することによって、フィルタ
ピンコネクタの機器構成に対応する各信号経路を個別に
励起する。無線周波信号生成器１００は、信号経路のそ
れぞれによって＋２０ｄＢで１００ＭＨｚ信号を送
信するためにマイクロプロセッサ１２０によって励振さ
れる。無線周波マイクロボルト計１０６は、各信号経路
によって等価なｄＢ値を測定し、その値をマイクロプロ
セッサ１２０に供給する。無線周波信号生成器によって
供給される信号と無線周波マイクロボルト計によって測
定された信号との間の差が、その信号経路の校正係数で
あり、その信号経路による装置およびケーブルの全損失
を表している。この試験は、被試験フィルタピンコネク
タの機器構成に対応する各ピン経路について繰り返され
る。

【００２１】校正が完了すると、フィルタピンコネクタ
が試験用取付具に装着される。その後、マイクロプロセ
ッサ１２０は、試験信号をフィルタピンコネクタのピン
接触子の対応する組に供給するために無線周波信号生成
器１００ならびに無線周波リレーモジュールマルチプレ
クサ１１２および１１３を制御する。マイクロプロセッ
サ１２０は、ピン接触子の各組を１０ＭＨｚ、１００
ＭＨｚおよび１ＧＨｚで試験するために無線周波信
号生成器１００を制御する。各周波数について、マイク
ロプロセッサは、各ピン経路が適正に減衰していること
を検証するためにフィルタピンコネクタの各コネクタピ
ン経路を個別に励起する。無線周波マイクロボルト計１
０６によって得られた各減衰測定値はマイクロプロセッ
サ１２０に供給され、マイクロプロセッサは、測定値か
ら校正係数を減算し、そのフィルタピンコネクタによる
実際の減衰を指示する減衰測定値を付与する。全部の減
衰測定値は、マイクロプロセッサによって記憶される。

【００２２】キャパシタンス試験は、減衰試験と同様に
して実施される。キャパシタンス計１０４は、無線周波
リレーモジュールマルチプレクサの一方１１２を介して
試験用取付具に接続されている。フィルタピンコネクタ
のすべての測定は、ピン接触子のそれぞれからコネクタ
のシェルに対して行われる。キャパシタンス試験では、
フィルタピンコネクタは初めは試験用取付具に１１０に
装着されない。代わって、マイクロプロセッサ１２０が
キャパシタンス計１０４を起動させ、試験用取付具とキ
ャパシタンス計との間の経路のそれぞれについて校正す
る。これは、マルチプレクサリレーモジュール、同軸ケ
ーブルおよび試験用取付具のピン接触子などによる信号
経路に存在する何らかの漂遊キャパシタンスを考慮し、
実測キャパシタンス値から除去されるようにするために
実施される。

【００２３】校正中、マイクロプロセッサ１２０は、他
の全部を絶縁しつつ、正しいマルチプレクサ信号経路を
励起することによって各信号経路を選択する。キャパシ
タンス計１０４は、選択されたピン接触子とキャパシタ
ンス計との間の経路の漂遊キャパシタンスを指示するキ
ャパシタンス値を測定する。このキャパシタンス値はマ
イクロプロセッサによって記憶される。この校正ルーチ
ンは、被試験フィルタピンコネクタの機器構成に対応す
るそれらの経路に関してのみ実行されるものである。信
号経路の全部が試験されると、その累計値が平均化さ
れ、マイクロプロセッサによって記憶される平均誤差値
が確定される。

【００２４】校正が完了すると、フィルタピンコネクタ
がキャパシタンス測定のために試験用取付具に取り付け
られる。その後、フィルタピンコネクタの各ピン接触子
が、他の全部を絶縁しながら、正しいマルチプレクサ経
路を励起することによって試験される。各経路の測定結
果はマイクロプロセッサに供給され、マイクロプロセッ
サは、その経路について記録されていた漂遊キャパシタ
ンス値を記録結果から除き、それによって対応するフィ
ルタピンコネクタのピン接触子の実際のキャパシタンス
を指示するキャパシタンス値を付与する。測定はそのフ
ィルタピンコネクタのすべてについて繰り返され、それ
により、全部のコンデンサが正しい値のものであり、正
しく取り付けられていることを検証する。全部の測定値
はマイクロプロセッサによって記憶される。

【００２５】絶縁抵抗測定は、そのフィルタピンコネク
タが、ピン間およびピンとシェルとの間に正しい抵抗値
を有することを検証するために実施される。通常、その
抵抗値は３〜４ＧΩの目盛り範囲にある。絶縁抵抗試験
器１０２は、高圧リレーモジュールマルチプレクサ１１
５を介して試験用取付具１１０とインタフェースされて
いる。高圧マルチプレクサは、高圧配線１３０によって
試験用取付具に接続されている。高圧リレーモジュール
マルチプレクサの高圧リレーは、１ｋＶの定格であ
る。

【００２６】フィルタピンコネクタ絶縁抵抗試験の前に
は、校正手続きはまったく必要ない。フィルタピンコネ
クタは単に試験用取付具に装着される。マイクロプロセ
ッサは、高圧マルチプレクサ１１５に関係するもの以
外、全部のリレーモジュールを使用禁止にする。その
後、マイクロプロセッサは、ピン−ピン間絶縁抵抗およ
びピン−シェル間絶縁抵抗を試験するためにリレーモジ
ュールの組を起動することによって高圧リレーモジュー
ルを制御する。全部の測定値は、マイクロプロセッサに
供給され、記憶される。

【００２７】そのフィルタピンコネクタのピン接触子の
数および、筒形、方形といったフィルタピンコネクタの
形式に関する情報をマイクロプロセッサに与えるほか、
ユーザインタフェースは、フィルタピンコネクタのピン
経路に含まれる回路に関する情報をマイクロプロセッサ
に与えるために使用することもできる。各フィルタピン
コネクタの回路設計について、メモリ１２８は、そのコ
ネクタに関して実行すべき対応する試験および、その試
験結果の期待値をリスト化したテーブルを記憶してい
る。ブラウン管表示装置は、全部の試験結果を表示する
が、所定の許容差内にある期待値とは異なる結果だけを
表示するように制御することもできる。

【００２８】マイクロプロセッサは、フィルタピンコネ
クタ試験を実施するためにブラウン管表示装置およびユ
ーザインタフェースを利用する図４に示す形式の会話形
ルーチンを備えている。このルーチンは、コネクタ形
式、ピン数、ピン構成、概略図といった被試験フィルタ
ピンコネクタの形式に関する情報を付与するための使用
を要求し、その後、ルーチンは、使用者に対してステッ
プバイステップ手順によって試験を実行するように指示
する。

【００２９】図４について説明すれば、サブルーチン試
験シーケンスは段階２００に始まり、マイクロプロセッ
サは段階２０１を実行する。そして使用者は、被試験フ
ィルタピンコネクタの形式に関する情報を付与するよう
に促される。その後マイクロプロセッサは、段階２０１
でユーザインタフェースからその情報を受け取る。段階
２０１および２０２は、使用者が被試験コネクタの製造
者識別情報を入力する一つだけの対話を要求するとして
もよいし、または、使用者がコネクタ形式、ピン数、ピ
ン構成、概略図などを与えるように求められる一連の段
階を含んでもよい。

【００３０】次に、マイクロプロセッサは、段階２０２
で指定されたフィルタピンコネクタを試験する際に使用
すべき試験手順を決定するサブルーチン２０５を実行す
る。段階２０５のサブルーチンは、指定されたコネクタ
を特定の試験シーケンスに相互参照するルックアップテ
ーブルを含むとしてよい。

【００３１】適切な試験および機器構成が決定される
と、マイクロプロセッサは、検査２０６で減衰試験を実
施するかどうかを確認する。検査２０６の結果が肯定で
あれば、段階２０７が実行され、使用者は、減衰校正用
に試験用取付具を機器構成し、その機器構成がユーザイ
ンタフェースによって完了したことを指示するように促
される。段階２０８で試験用取付具が減衰校正用に機器
構成されたことを使用者が指示すると、マイクロプロセ
ッサは減衰校正が実施される段階２０９を実行する。次
にマイクロプロセッサは段階２１０を実行し、そこで使
用者はフィルタピンコネクタを減衰試験用に取り付け、
コネクタが取り付けられたことをユーザインタフェース
によって指示するように促される。段階２１１でコネク
タが取り付けられたことを使用者が指示すると、マイク
ロプロセッサは減衰試験が実施され、試験結果が記憶さ
れる段階２１２を実行する。

【００３２】検査２０６の結果が否定であれば、また
は、段階２１２の完了後、マイクロプロセッサは検査２
２０においてキャパシタンス試験を実施すべきかを確認
する。検査２２０の結果が肯定であれば、段階２２１が
実行され、使用者は、キャパシタンス校正用に試験用取
付具を機器構成し、その機器構成が完了したことをユー
ザインタフェースによって指示するように促される。段
階２２２で試験用取付具がキャパシタンス校正用に機器
構成されたことを使用者が指示すると、マイクロプロセ
ッサはキャパシタンス校正が実施される段階２２３を実
行する。次にマイクロプロセッサは段階２２４を実行
し、そこで使用者はフィルタピンコネクタをキャパシタ
ンス試験用に取り付け、コネクタが取り付けられている
ことをユーザインタフェースによって指示するように促
される。段階２２５でコネクタが取り付けられているこ
とを使用者が指示すると、マイクロプロセッサは、キャ
パシタンス試験が実施され、試験結果が記憶される段階
２２６を実行する。

【００３３】検査２２０の結果が否定であれば、また
は、段階２２６の完了後、マイクロプロセッサは検査２
３０において絶縁抵抗試験を実施すべきかを確認する。
検査２３０の結果が肯定であれば、段階２３１が実行さ
れ、使用者は、フィルタピンコネクタを絶縁抵抗試験用
に取り付け、コネクタが取り付けられたことをユーザイ
ンタフェースによって指示するように促される。段階２
３５でコネクタが取り付けられていることを使用者が指
示すると、マイクロプロセッサは、絶縁抵抗試験が実施
され、試験結果が記憶される段階２３６を実行する。

【００３４】検査２３０の結果が否定であれば、また
は、段階２３６の完了後、マイクロプロセッサは段階２
４０に復帰する。

【００３５】図５について説明すれば、試験用取付具１
１０は、雄形ＳＭＡコネクタなどの複数の無線周波同軸
ケーブル端コネクタ３０２を支持するための、金属取付
板などの取り付け構造物３００の付近に設置される。無
線周波同軸ケーブル３０５は、端コネクタ３０２のそれ
ぞれと各無線周波マルチプレクサリレーモジュールとの
間に接続される。従って、試験用取付具は、試験用取付
具の無線周波信号生成器側のマルチプレクサリレーモジ
ュールに相互接続された複数の無線周波同軸ケーブル端
コネクタを有する第１の取付板、および、試験用取付具
の無線周波マイクロボルト計側のマルチプレクサリレー
モジュールに相互接続された複数の無線周波同軸ケーブ
ル端コネクタを有する第２の取付板を含む。試験用取付
具の無線周波信号生成器側のマルチプレクサ１１２と試
験用取付具との間には、高圧用太ゲージ線１３０が各無
線周波同軸ケーブル３０５の中心線にはんだ付けされて
いる。太ゲージ線１３０の他方の端は、高圧マルチプレ
クサ１１５の各リレーモジュールに接続されている。

【００３６】アダプタケーブル３１５および３１６の組
は、試験用取付具１１０にフィルタピンコネクタ３２０
を取り付けるために備わっている。第１のアダプタケー
ブル３１５は、試験用取付具の無線周波信号生成器側と
フィルタピンコネクタとの間のインタフェースとなり、
第２のアダプタケーブル３１６は、試験用取付具の無線
周波マイクロボルト計側とフィルタピンコネクタとの間
のインタフェースとなっている。第１のアダプタケーブ
ルは、フィルタピンコネクタと嵌合するためのフィルタ
ピンコネクタ３２０と同じ構成を有する端コネクタ３２
５を含む。無線周波同軸ケーブル３０５は、そのコネク
タのピン接触子に一方の端で取り付けられる。無線周波
同軸ケーブル３０５のそれぞれの他方の端は、雌形ＳＭ
Ａコネクタなどの無線周波同軸ケーブルコネクタ３３０
が取り付けられる。無線周波同軸ケーブルコネクタ３３
０は、取付板３００に取り付けられた無線周波同軸ケー
ブル端コネクタ３０２と嵌合するように構成されてい
る。

【００３７】第２のアダプタケーブル３１６も、フィル
タピンコネクタ３２０と嵌合するように構成された端コ
ネクタ３３５を含む。端コネクタの３３５の各ピン接触
子は、無線周波同軸ケーブルが取り付けられており、無
線周波同軸ケーブルの他方の端は、取付板３００に取り
付けられた無線周波同軸ケーブル端コネクタ３０２と嵌
合するための、雌形ＳＭＡコネクタなどの同軸ケーブル
端コネクタ３３０を有する。

【００３８】従って、被試験フィルタピンコネクタの各
形式について、異なる組のアダプタケーブルが備えられ
なければならないことを当業者は理解するであろう。各
アダプタケーブルに備わっている無線周波同軸ケーブル
の数は、被試験フィルタピンコネクタのピン接触子の数
に応じて異なる。アダプタケーブルが試験用取付具に取
り付けられると、アダプタの無線周波同軸ケーブルのそ
れぞれは、対応する試験用取付具の無線周波同軸ケーブ
ル端コネクタ３０２と正しく接続されなければならな
い。無線周波同軸ケーブル端コネクタのそれぞれは、マ
ルチプレクサリレーモジュールの一方に対応するので、
従って、マイクロプロセッサがマルチプレクサリレーモ
ジュールを制御する際に、適切なフィルタピンコネクタ
のピン接触子に信号が供給されるように、正しく接続を
行うことが重要である。

【００３９】キャパシタンス試験および絶縁抵抗試験で
は、第１のアダプタケーブル３１５だけが用いられる。
キャパシタンス試験の場合、第１のアダプタケーブルが
取り付けられてから、キャパシタンス校正測定が実行さ
れる。その後、フィルタピンコネクタ３２０をコネクタ
３２５に取り付け、キャパシタンス測定値が取られる。
絶縁抵抗試験の場合、フィルタピンコネクタ３２０が第
１のアダプタケーブルコネクタ３２５に取り付けられ、
絶縁抵抗試験が実施される。

【００４０】減衰試験を実行するには、第１および第２
のアダプタケーブルの両者が必要となる。減衰試験校正
の場合、第１および第２のアダプタケーブル３１５およ
び３１６が取付板３００に接続された後、アダプタケー
ブルコネクタ３２５および３３５は信号経路を供給する
ために直接相互接続される。第１および第２のアダプタ
ケーブルコネクタが一緒に取り付けられるように機器構
成されていない場合、信号経路を供給するためにダミー
フィルタピンコネクタ（図示せず）を取り付けることが
できる。減衰試験校正が完了すると、被試験フィルタピ
ンコネクタ３２０はアダプタケーブルコネクタ３２５と
３３５との間に取り付けられ、試験が実行される。

【００４１】本発明は、方形および筒形フィルタピンコ
ネクタを試験するために使用されるものとして説明した
が、本発明の装置を用いていずれのフィルタピンコネク
タも試験できることを当業者は理解されるであろう。フ
ィルタピンコネクタを正しく試験するために必要とされ
ることは、適切なアダプタケーブル３１５および３１６
が試験信号を供給し、被試験フィルタピンコネクタの測
定を行うように機器構成されなければならないというこ
とだけである。

【００４２】本発明は、フィルタピンコネクタを試験す
る際に実行すべき個々の段階を使用者に指示するするた
めにコンピュータサブルーチンおよびルックアップテー
ブルを使用するものとして説明したが、本発明は、各種
形式のフィルタピンコネクタに関する試験手順が、フィ
ルタピンコネクタを試験するために実行すべき段階を使
用者に指示する文書による説明書または指導書を提供し
ても、等しく同様に実施されるであろう。

【００４３】本発明をその例示的な実施例によって図示
および説明したが、本発明の精神および範囲を逸脱する
ことなく、上述その他の変更、省略および追加をなし得
ることを当業者は理解されるであろう。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の装置を用いて試験することができる筒
形フィルタピンコネクタの部分破断斜視図。

【図２】本発明の装置を用いて試験することができる方
形フィルタピンコネクタの部分破断斜視図。

【図３】本発明の自動試験装置の略ブロック図。

【図４】フィルタピンコネクタ試験を実施するために本
装置のマイクロプロセッサによって実行される会話形ル
ーチンの略論理流れ図。

【図５】試験のために装着された筒形フィルタピンコネ
クタを備えた自動試験装置の試験用取付具の略図。

【符号の説明】

１１０試験用取付具３２０フィルタピンコネクタ１００無線周波信号生成器１０２高圧絶縁抵抗試験器１０４キャパシタンス計１０６無線周波マイクロボルト計１１２，１１３ｎ×ｍ無線周波リレーモジュールマル
チプレクサ１１５ｎ×ｍ高圧リレーモジュールマルチプレクサ１２０マイクロプロセッサ１２２ユーザインタフェース１２３表示装置１２８不揮発性メモリ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】１つ以上のピン接触子の組を有するフィル
タピンコネクタを試験するための自動試験装置であり、
各ピン接触子の組は通過する信号をろ波するためのフィ
ルタ回路を有しており、高圧（ＨＶ）絶縁抵抗試験器に
よって供給された高圧試験信号によりフィルタピンコネ
クタの絶縁抵抗を測定し、キャパシタンス計により各ピ
ン接触子の組のキャパシタンスを測定し、かつ、無線周
波（ＲＦ）マイクロボルト計により信号生成器試験信号
の各ピン接触子の組の減衰を測定する試験装置であっ
て、キャパシタンス計および信号生成器から各ピン接触子の
組の一方のピン接触子へ信号経路を付与するための、キ
ャパシタンス計および信号生成器に接続された複数の第
１の無線周波リレーモジュールを有する第１の無線周波
マルチプレクサ手段と、各ピン接触子の組の他方のピン接触子から無線周波マイ
クロボルト計へ信号経路を付与するための、無線周波マ
イクロボルト計に接続された複数の第２の無線周波リレ
ーモジュールを有する第２の無線周波マルチプレクサ手
段と、高圧絶縁抵抗試験器から各ピン接触子の組の一方のピン
接触子へ信号経路を付与するための、高圧絶縁抵抗試験
器に接続された複数の高圧リレーモジュールを有する高
圧マルチプレクサ手段と、被試験フィルタピンコネクタの形式を指示するコネクタ
形式信号を供給し、試験装置が減衰校正用機器構成であ
ることを指示する減衰校正信号を供給し、試験装置が各
ピン接触子の組の減衰試験実行用機器構成であることを
指示する減衰試験信号を供給し、試験装置がキャパシタ
ンス校正用機器構成であることを指示するキャパシタン
ス校正信号を供給し、試験装置が各ピン接触子の組のキ
ャパシタンス測定用機器構成であることを指示するキャ
パシタンス試験信号を供給し、かつ、試験装置が絶縁抵
抗試験用機器構成であることを指示する絶縁抵抗試験信
号を供給するためのユーザインタフェース手段と、前記第１および第２の無線周波リレーモジュールおよび
高圧リレーモジュールのうちのいずれが各ピン接触子の
組に試験信号経路を付与するために必要とされるかを決
定するために前記コネクタ形式信号に応答し、各試験信
号経路の減衰校正測定を個別に実行するために前記第１
および第２の無線周波リレーモジュール、信号生成器お
よび無線周波マイクロボルト計を制御するために前記減
衰校正信号に応答し、各ピン接触子の組の信号減衰を個
別に測定するために前記第１および第２の無線周波リレ
ーモジュール、信号生成器および無線周波マイクロボル
ト計を制御するために前記減衰試験信号に応答し、各試
験信号経路のキャパシタンス校正測定を個別に実行する
ために前記第１の無線周波リレーモジュールおよびキャ
パシタンス計を制御するために前記キャパシタンス校正
信号に応答し、各ピン接触子の組のキャパシタンスを個
別に測定するために前記第１の無線周波リレーモジュー
ルおよびキャパシタンス計を制御するために前記キャパ
シタンス試験信号に応答し、かつ、各ピン接触子の組の
絶縁抵抗を測定するために前記高圧リレーモジュールお
よび絶縁抵抗試験器を制御するために前記絶縁抵抗試験
信号に応答する信号処理手段とを含むことを特徴とする
自動試験装置。
【請求項２】請求項１記載の自動試験装置であって、減
衰、キャパシタンスおよび絶縁抵抗試験の結果を表示す
るための、前記信号処理手段によって供給された試験結
果信号に応答する表示手段をさらに含むことを特徴とす
る自動試験装置。
【請求項３】請求項２記載の自動試験装置であって、前記信号処理手段はさらに、フィルタピンコネクタにつ
いていずれの試験を実行すべきかを決定し、かつ、各命
令信号が一連の試験手順命令のうちの１つの手順命令に
対応する一連の命令信号を順次的に前記表示手段に供給
するために、前記コネクタ形式信号に応答し、前記表示手段は、試験手順命令を表示するために命令信
号に応答し、前記信号処理手段は、前記一連の命令信号における次の
命令信号を前記表示手段に供給するために前記ユーザイ
ンタフェースによって供給された肯定応答信号に応答す
ることを特徴とする自動試験装置。
【請求項４】請求項１記載の自動試験装置であって、それぞれがフィルタピンコネクタの一方の端との相互接
続のための一意の端コネクタを有する複数の第１の互換
可能アダプタ（ＩＡ）ケーブルであり、前記第１の互換
可能アダプタケーブルのそれぞれは前記第１の無線周波
リレーモジュールおよび前記高圧リレーモジュールのう
ちの対応するものから各ピン接触子の組の一方のピン接
触子へ信号経路を付与するものである、前記第１の互換
可能アダプタケーブルと、それぞれがフィルタピンコネクタの他方の端との相互接
続のための一意の端コネクタを有する複数の第２の互換
可能アダプタ（ＩＡ）ケーブルであり、前記第２の互換
可能アダプタケーブルのそれぞれは各ピン接触子の組の
他方のピン接触子から前記第２の無線周波リレーモジュ
ールのうちの対応するものへ信号経路を付与するもので
ある、前記第２の互換可能アダプタケーブルとをさらに
含むことを特徴とする自動試験装置。
【請求項５】シェルおよび１つ以上のピン接触子の組を
有するフィルタピンコネクタを試験するための自動試験
装置であり、ピン接触子の組の各組間およびシェルと各ピン接触子の
組との間の絶縁抵抗を試験するための絶縁抵抗試験器
と、各ピン接触子の組のキャパシタンスを測定するためのキ
ャパシタンス計と、信号生成器と、信号生成器によって供給された試験信号のピン接触子の
組の減衰を測定するための無線周波（ＲＦ）マイクロボ
ルト計とを有しており、各ピン接触子の組と、絶縁抵抗試験器、キャパシタンス
計、信号生成器および無線周波マイクロボルト計との間
に信号経路を付与するための試験用取付具手段と、各ピン接触子の組の絶縁抵抗、キャパシタンスおよび信
号減衰を測定するために前記試験用取付具手段、絶縁抵
抗試験器、キャパシタンス計、信号生成器および無線周
波マイクロボルト計を制御するための信号処理手段とを
含むことを特徴とする自動試験装置。
【請求項６】請求項５記載の自動試験装置であって、前
記試験用取付具手段が、キャパシタンス計および信号生成器から各ピン接触子の
組の一方のピン接触子へ信号経路を付与するための、キ
ャパシタンス計および信号生成器に接続された複数の第
１の無線周波リレーモジュールを有する第１の無線周波
マルチプレクサ手段と、各ピン接触子の組の他方のピン接触子から無線周波マイ
クロボルト計へ信号経路を付与するための、無線周波マ
イクロボルト計に接続された複数の第２の無線周波リレ
ーモジュールを有する第２の無線周波マルチプレクサ手
段と、高圧絶縁抵抗試験器から各ピン接触子の組の一方のピン
接触子へ信号経路を付与するための、高圧絶縁抵抗試験
器に接続された複数の高圧リレーモジュールを有する高
圧マルチプレクサ手段とを含むことを特徴とする自動試
験装置。
【請求項７】請求項６記載の自動試験装置であって、前
記試験用取付具手段がさらに、それぞれがフィルタピンコネクタの一方の端との相互接
続のための一意の端コネクタを有する複数の第１の互換
可能アダプタ（ＩＡ）ケーブルであり、前記第１の互換
可能アダプタケーブルのそれぞれは前記第１の無線周波
リレーモジュールおよび前記高圧リレーモジュールのう
ちの対応するものから各ピン接触子の組の一方のピン接
触子へ信号経路を付与するものである、前記第１の互換
可能アダプタケーブルと、それぞれがフィルタピンコネクタの他方の端との相互接
続のための一意の端コネクタを有する複数の第２の互換
可能アダプタ（ＩＡ）ケーブルであり、前記第２の互換
可能アダプタケーブルのそれぞれは各ピン接触子の組の
他方のピン接触子から前記第２の無線周波リレーモジュ
ールのうちの対応するものへ信号経路を付与するもので
ある、前記第２の互換可能アダプタケーブルとをさらに
含むことを特徴とする自動試験装置。
【請求項８】請求項５記載の自動試験装置であって、さ
らに、被試験フィルタピンコネクタの形式を指示するコネクタ
形式信号を供給し、試験装置が減衰校正用機器構成であ
ることを指示する減衰校正信号を供給し、試験装置が各
ピン接触子の組の減衰試験実行用機器構成であることを
指示する減衰試験信号を供給し、試験装置がキャパシタ
ンス校正用機器構成であることを指示するキャパシタン
ス校正信号を供給し、試験装置が各ピン接触子の組のキ
ャパシタンス測定実行用機器構成であることを指示する
キャパシタンス試験信号を供給し、かつ、試験装置が絶
縁抵抗試験用機器構成であることを指示する絶縁抵抗試
験信号を供給するためのユーザインタフェース手段と、前記第１および第２の無線周波リレーモジュールおよび
前記高圧リレーモジュールのうちのいずれが各ピン接触
子の組に試験信号経路を付与するために必要とされるか
を決定するために前記コネクタ形式信号に応答し、各試
験信号経路の減衰校正測定を個別に実行するために前記
第１および第２の無線周波リレーモジュール、信号生成
器および無線周波マイクロボルト計を制御するために前
記減衰校正信号に応答し、各ピン接触子の組の信号減衰
を個別に測定するために前記第１および第２の無線周波
リレーモジュール、信号生成器および無線周波マイクロ
ボルト計を制御するために前記減衰試験信号に応答し、
各試験信号経路のキャパシタンス校正測定を個別に実行
するために前記第１の無線周波リレーモジュールおよび
キャパシタンス計を制御するために前記キャパシタンス
校正信号に応答し、各ピン接触子の組のキャパシタンス
を個別に測定するために前記第１の無線周波リレーモジ
ュールおよびキャパシタンス計を制御するために前記キ
ャパシタンス試験信号に応答し、かつ、各ピン接触子の
組の絶縁抵抗を測定するために前記高圧リレーモジュー
ルおよび絶縁抵抗試験器を制御するために前記絶縁抵抗
試験信号に応答する信号処理手段とを含むことを特徴と
する自動試験装置。
【請求項９】請求項５記載の自動試験装置であって、減
衰、キャパシタンスおよび絶縁抵抗試験の結果を表示す
るための、前記信号処理手段によって供給された試験結
果信号に応答する表示手段をさらに含むことを特徴とす
る自動試験装置。
【請求項１０】請求項９記載の自動試験装置であって、
さらに、被試験フィルタピンコネクタの形式を指示するコネクタ
形式信号を供給するためのユーザインタフェース手段
と、前記信号処理手段は、フィルタピンコネクタについてい
ずれの試験を実行すべきかを決定し、かつ、一連の命令
信号のうちの命令信号を順次的に前記表示手段に供給す
るために前記コネクタ形式信号に応答するものであり、
各命令信号は一連の試験手順命令のうちの１つの試験手
順命令に対応しており、また、前記試験手順命令は校正
およびフィルタピンコネクタ試験のために試験装置を選
択的に機器構成するように使用者に命令する文章を含
む、前記信号処理手段と、前記表示手段は、試験手順命令の文章を表示するために
命令信号に応答するものである、前記表示手段と、前記信号処理手段は、試験装置の校正またはフィルタピ
ンコネクタ試験を実行するために、および、前記一連の
命令信号における次の命令信号を前記表示手段に供給す
るために前記ユーザインタフェースによって供給された
肯定応答信号に応答するものであり、前記肯定応答信号
は使用者によって実行される前記試験手順命令を指示す
るものである、前記信号処理手段とを含むことを特徴と
する自動試験装置。
【請求項１１】シェルおよび１つ以上のピン接触子の組
を有するフィルタピンコネクタを自動的に試験する方法
であり、その試験装置は、ピン接触子の組の各組間およびシェルと各ピン接触子の
組との間の絶縁抵抗を試験するための絶縁抵抗試験器
と、各ピン接触子の組のキャパシタンスを測定するためのキ
ャパシタンス計と、信号生成器と、信号生成器によって供給された試験信号のピン接触子の
組の減衰を測定するための無線周波（ＲＦ）マイクロボ
ルト計とを有しており、前記方法が、被試験フィルタピンコネクタを選択する段階と、選択されたフィルタピンコネクタについて実行すべき試
験の種類を決定する段階と、校正およびフィルタピンコネクタ試験のために試験装置
を選択的に機器構成する段階とを含むことを特徴とする
方法。
【請求項１２】請求項１１記載の方法であって、前記選
択されたフィルタピンコネクタについて実行すべき試験
の種類を決定する前記段階が、表示装置に質問を示すことによって、選択されたフィル
タピンコネクタの形式を指示する特定の入力を使用者に
促す段階と、使用者からの入力を処理することによって使用者の応答
を判定する段階とを含むことを特徴とする方法。
【請求項１３】請求項１１記載の方法であって、校正お
よびフィルタピンコネクタ試験のために試験装置を選択
的に機器構成する前記段階が、表示装置に命令を示すことによって、校正およびフィル
タピンコネクタ試験のために試験装置を選択的に機器構
成するように使用者に促す段階と、表示装置に質問を示すことによって、命令が完了したこ
とを指示する特定の入力を使用者に促す段階と、使用者からの入力を処理することによって試験装置が校
正またはフィルタピンコネクタ試験のために機器構成さ
れたことを判定する段階と、試験装置が校正またはフィルタピンコネクタ試験のため
に機器構成されたかの判定段階に応答して、試験装置の
校正およびフィルタピンコネクタ試験を選択的に実行す
る段階とを含むことを特徴とする方法。