JPH0627355A - 非対称光ビームを伴う装置に光ファイバーを結合するための集積光学パッケージ - Google Patents
非対称光ビームを伴う装置に光ファイバーを結合するための集積光学パッケージInfo
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- JPH0627355A JPH0627355A JP5105779A JP10577993A JPH0627355A JP H0627355 A JPH0627355 A JP H0627355A JP 5105779 A JP5105779 A JP 5105779A JP 10577993 A JP10577993 A JP 10577993A JP H0627355 A JPH0627355 A JP H0627355A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本件発明は、楕円形状光ビームのような非対
称光モードを有する光学装置と該光学装置とを光ファイ
バに結合するためのレンズを含む集積光学パッケージに
関する。 【構成】 本件発明の集積光学パッケージは、非対称モ
ードを有する光学装置、例えば調整器(11)と、他の
光学装置、例えば光ファイバ(13)とを結合するため
のくさび形レンズ(12)からなることを特徴とする。
該レンズ(12)は誘電体層(20)の上面に、例えば
有機ポリマー材料層を沈澱することより形成され、その
形状は方形乃至楕円形の断面図である。
称光モードを有する光学装置と該光学装置とを光ファイ
バに結合するためのレンズを含む集積光学パッケージに
関する。 【構成】 本件発明の集積光学パッケージは、非対称モ
ードを有する光学装置、例えば調整器(11)と、他の
光学装置、例えば光ファイバ(13)とを結合するため
のくさび形レンズ(12)からなることを特徴とする。
該レンズ(12)は誘電体層(20)の上面に、例えば
有機ポリマー材料層を沈澱することより形成され、その
形状は方形乃至楕円形の断面図である。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、楕円形状光ビームのよ
うな非対称光モードを有する光学装置と、該光学装置を
光ファイバーに結合するためのレンズとを含む集積光学
パッケージに関する。
うな非対称光モードを有する光学装置と、該光学装置を
光ファイバーに結合するためのレンズとを含む集積光学
パッケージに関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】将来の
ネットワークシステムは、長距離光学通信システム、相
互接続技術、2次元光学処理、光学計算やその他のもの
を含むかも知れない。レーザーや光検出器のような半導
体装置は、すでに光ファイバー通信システムの集積部分
になっている。ファイバーと共に、調整器や光学スイッ
チのような他の半導体装置も、同様にネットワークシス
テム内に含まれることになりそうである。
ネットワークシステムは、長距離光学通信システム、相
互接続技術、2次元光学処理、光学計算やその他のもの
を含むかも知れない。レーザーや光検出器のような半導
体装置は、すでに光ファイバー通信システムの集積部分
になっている。ファイバーと共に、調整器や光学スイッ
チのような他の半導体装置も、同様にネットワークシス
テム内に含まれることになりそうである。
【0003】不幸にして、多くの前記半導体装置の有用
性は、比較的大きな円筒形コアとそれゆえに大きな円形
モードの入力または(出力)領域とを有する典型的な単
一モードファイバーと、それより小さなモードの出力
(または入力)領域と1:1より大きな離心率とを有す
る半導体装置との間の根本的な不整合から少なくとも部
分的に生じる、高いファイバー挿入損失で制約される。
光ファイバーとこれらの装置の間に光を結合する際に生
じる損失は、平均モードの領域の不整合と同様に、(円
形対楕円形の)2つのモードの対称性の不整合から生じ
るものを含む。
性は、比較的大きな円筒形コアとそれゆえに大きな円形
モードの入力または(出力)領域とを有する典型的な単
一モードファイバーと、それより小さなモードの出力
(または入力)領域と1:1より大きな離心率とを有す
る半導体装置との間の根本的な不整合から少なくとも部
分的に生じる、高いファイバー挿入損失で制約される。
光ファイバーとこれらの装置の間に光を結合する際に生
じる損失は、平均モードの領域の不整合と同様に、(円
形対楕円形の)2つのモードの対称性の不整合から生じ
るものを含む。
【0004】従来、対称な半球状及び双曲線状に形成さ
れたマイクロレンズは、パルス化レーザービームにより
光ファイバーの端部に製作されていた。1990年6月
12日にエイチ・エム・プレスビー(H.M.Presby)に発行
された米国特許第4,932,989号及び1991年4月30
日にシー・エイ・エドワーズ(C.A.Edwards) とエイチ・
エム・プレスビー(H.M.Presby)に発行された米国特許第
5,011,254 号を参照。前記マイクロレンズは、対称モー
ドの出力を有するレーザーのような装置、すなわち出力
ビーム輪郭が円形になっているか、または1:1に近い
楕円比率を有する、すなわちレーザーの出力ビームの発
散がレーザーの接合面に対して平行かつ垂直な軸線に沿
って同じかまたは実質的に同じになっている装置のため
に、比較的高い結合効率をもたらした。双曲線形状マイ
クロレンズ化ファイバーの使用は、光ファイバーと対称
モードの出力を有する装置との間の結合効率を90%よ
り大きくした。しかしながら、多くの半導体装置で表わ
れるモードの非対称性は、良好な結合効率を有する非対
称マイクロレンズを必要とする。約1:1.5からの楕
円率や一層高い楕円率を伴ってレーザー小面から放射す
る楕円ビーム構造を有する、多数のレーザーが存在す
る。楕円光ビームをファイバーに結合するために対称マ
イクロレンズを使用すると、結合効率が相当に減少し
た。例えば、適正なモードの非対称例えば1:2.5乃
至1:3.5を有するレーザーダイオードのような半導
体装置のために、より典型的には25乃至35パーセン
トのファイバー結合効率を有する対称マイクロレンズを
用いることにより50パーセントまでのファイバー結合
効率を得ることができる。レーザー出力の約半分が使用
されないので、レーザーは、同じ結合エネルギーを与え
るために、もっと効率の良い結合スキームが与えること
ができるよりも大きな電流で動作させる必要がある。大
電流でレーザーを動作させることは、もっと多量の熱を
消費する結果となる。例えば、結合効率が50パーセン
トの時、レーザーの熱エネルギー消費は、100パーセ
ント結合効率の時より4倍多くなる。これは、レーザー
の長期安定性及び信頼性に影響を及ぼすと共に、非冷却
レーザーダイオード技術の発展に大きな障害を与える。
システム設計の観点から0.5〜1.0dB以下の挿入
損失が要求される調整器やスイッチのために、この状態
はもっと重大になり得る。もっと高い例えば3dBの挿
入損失は、信号対雑音比を減少させ、システムの複雑さ
を増させる。
れたマイクロレンズは、パルス化レーザービームにより
光ファイバーの端部に製作されていた。1990年6月
12日にエイチ・エム・プレスビー(H.M.Presby)に発行
された米国特許第4,932,989号及び1991年4月30
日にシー・エイ・エドワーズ(C.A.Edwards) とエイチ・
エム・プレスビー(H.M.Presby)に発行された米国特許第
5,011,254 号を参照。前記マイクロレンズは、対称モー
ドの出力を有するレーザーのような装置、すなわち出力
ビーム輪郭が円形になっているか、または1:1に近い
楕円比率を有する、すなわちレーザーの出力ビームの発
散がレーザーの接合面に対して平行かつ垂直な軸線に沿
って同じかまたは実質的に同じになっている装置のため
に、比較的高い結合効率をもたらした。双曲線形状マイ
クロレンズ化ファイバーの使用は、光ファイバーと対称
モードの出力を有する装置との間の結合効率を90%よ
り大きくした。しかしながら、多くの半導体装置で表わ
れるモードの非対称性は、良好な結合効率を有する非対
称マイクロレンズを必要とする。約1:1.5からの楕
円率や一層高い楕円率を伴ってレーザー小面から放射す
る楕円ビーム構造を有する、多数のレーザーが存在す
る。楕円光ビームをファイバーに結合するために対称マ
イクロレンズを使用すると、結合効率が相当に減少し
た。例えば、適正なモードの非対称例えば1:2.5乃
至1:3.5を有するレーザーダイオードのような半導
体装置のために、より典型的には25乃至35パーセン
トのファイバー結合効率を有する対称マイクロレンズを
用いることにより50パーセントまでのファイバー結合
効率を得ることができる。レーザー出力の約半分が使用
されないので、レーザーは、同じ結合エネルギーを与え
るために、もっと効率の良い結合スキームが与えること
ができるよりも大きな電流で動作させる必要がある。大
電流でレーザーを動作させることは、もっと多量の熱を
消費する結果となる。例えば、結合効率が50パーセン
トの時、レーザーの熱エネルギー消費は、100パーセ
ント結合効率の時より4倍多くなる。これは、レーザー
の長期安定性及び信頼性に影響を及ぼすと共に、非冷却
レーザーダイオード技術の発展に大きな障害を与える。
システム設計の観点から0.5〜1.0dB以下の挿入
損失が要求される調整器やスイッチのために、この状態
はもっと重大になり得る。もっと高い例えば3dBの挿
入損失は、信号対雑音比を減少させ、システムの複雑さ
を増させる。
【0005】非対称レンズを用いて楕円ビームに対する
ファイバーの結合を増す試みは、外部に取り付けられた
円筒形レンズとくさび形ファイバー端面の形態で発表さ
れていた。エム・サルワタリ(M.Saruwatari)等による"S
emiconductor Laser to Single-Mode Fiber Coupler,"A
pplied Optics,Vol.18,No.11,1979,pages 1847-1856
や、ブイ・エス・シャー(V.S.Shah)等による"Efficient
Power Coupling from a980nm,Broad Area Laser to a
Single-Mode Fiber Using a Wedge-Shaped Fiber Endfa
ce",J.Lightwave Technology,Vol.8,No.9,1990,pages 1
313-1318 を参照。前者の場合、結合は、レーザーと光
ファイバーの間に配置されたレンズ及び円筒形棒により
生じ、また後者の場合、ファイバーの端部は、円筒形レ
ンズを近似する、くさびのような形状で終端する拡大円
筒形部分を備えている。後者の場合、47パーセントの
結合効率が得られた。明らかに、楕円光ビーム出力(ま
たは入力)領域を有する装置と光ファイバーの間を最適
に結合するために必要なものは、円形の単一モードファ
イバーモード輪郭に整合させるために装置の楕円ビーム
出力を変形させるかまたはその反対のことを行なうレン
ズである。
ファイバーの結合を増す試みは、外部に取り付けられた
円筒形レンズとくさび形ファイバー端面の形態で発表さ
れていた。エム・サルワタリ(M.Saruwatari)等による"S
emiconductor Laser to Single-Mode Fiber Coupler,"A
pplied Optics,Vol.18,No.11,1979,pages 1847-1856
や、ブイ・エス・シャー(V.S.Shah)等による"Efficient
Power Coupling from a980nm,Broad Area Laser to a
Single-Mode Fiber Using a Wedge-Shaped Fiber Endfa
ce",J.Lightwave Technology,Vol.8,No.9,1990,pages 1
313-1318 を参照。前者の場合、結合は、レーザーと光
ファイバーの間に配置されたレンズ及び円筒形棒により
生じ、また後者の場合、ファイバーの端部は、円筒形レ
ンズを近似する、くさびのような形状で終端する拡大円
筒形部分を備えている。後者の場合、47パーセントの
結合効率が得られた。明らかに、楕円光ビーム出力(ま
たは入力)領域を有する装置と光ファイバーの間を最適
に結合するために必要なものは、円形の単一モードファ
イバーモード輪郭に整合させるために装置の楕円ビーム
出力を変形させるかまたはその反対のことを行なうレン
ズである。
【0006】
【発明の概要】本発明は、非対称モード出力を有する光
学コンポーンネントと、該コンポーネントに一体化さ
れ、大きなモード領域を有する別の光学コンポーネント
に結合するためのレンズとを含む集積光学パッケージを
具体化する。結合は、ポリマーの細長い導波路をまねた
(PEWE)レンズを用いることにより達せられる。模
範的な実施態様において、最初の光学コンポーネントは
調整器であり、別の光学コンポーネントは光ファイバー
である。調整器の小面は、共通基板上にPEWEレンズ
を集積させる反応イオンエチング(RIE)でエッチン
グされる。レンズは、ポリマー薄膜を使用して誘電体ク
ラッド層上に製造される。製作は、250μmの長さに
わたって、円形(光ファイバー)モード(約6μmの直
径)から半導体モード(約1μm)まで滑らかな断熱的
なモード縮小を与えるためにポリマー薄膜の再溶解及び
逆流特性に頼っている。PEWEレンズは、いかなる外
部のレンズもなしにファイバーに突合せ結合されても、
0.5dBの挿入損失及び80パーセントの結合効率を
有する結合を可能にする。PEWEレンズは、半導体装
置の結合のために典型的に必要とされる調整許容誤差の
大きさの緩和の同時状態を伴って、半導体レーザー、光
検出器、光学調整器、スイッチ及び増幅器に対する80
パーセント以上の直接ファイバー突合せ結合効率を実現
させる。単一モードファイバー。
学コンポーンネントと、該コンポーネントに一体化さ
れ、大きなモード領域を有する別の光学コンポーネント
に結合するためのレンズとを含む集積光学パッケージを
具体化する。結合は、ポリマーの細長い導波路をまねた
(PEWE)レンズを用いることにより達せられる。模
範的な実施態様において、最初の光学コンポーネントは
調整器であり、別の光学コンポーネントは光ファイバー
である。調整器の小面は、共通基板上にPEWEレンズ
を集積させる反応イオンエチング(RIE)でエッチン
グされる。レンズは、ポリマー薄膜を使用して誘電体ク
ラッド層上に製造される。製作は、250μmの長さに
わたって、円形(光ファイバー)モード(約6μmの直
径)から半導体モード(約1μm)まで滑らかな断熱的
なモード縮小を与えるためにポリマー薄膜の再溶解及び
逆流特性に頼っている。PEWEレンズは、いかなる外
部のレンズもなしにファイバーに突合せ結合されても、
0.5dBの挿入損失及び80パーセントの結合効率を
有する結合を可能にする。PEWEレンズは、半導体装
置の結合のために典型的に必要とされる調整許容誤差の
大きさの緩和の同時状態を伴って、半導体レーザー、光
検出器、光学調整器、スイッチ及び増幅器に対する80
パーセント以上の直接ファイバー突合せ結合効率を実現
させる。単一モードファイバー。
【0007】
【詳細な記述】本発明は、装置を円形モードを有するフ
ァイバーに結合するかまたはその反対のことを行なうた
めの細長い光学レンズと一体化した、楕円モード出力を
有する半導体装置を含む集積光学パッケージを具体化す
る。パッケージ及びこのパッケージの製作に用いられる
加工工程は、図面に関して下記に説明される。例示のた
め、図面の色々な寸法は尺度が示されていない。
ァイバーに結合するかまたはその反対のことを行なうた
めの細長い光学レンズと一体化した、楕円モード出力を
有する半導体装置を含む集積光学パッケージを具体化す
る。パッケージ及びこのパッケージの製作に用いられる
加工工程は、図面に関して下記に説明される。例示のた
め、図面の色々な寸法は尺度が示されていない。
【0008】図1に示されているのは、集積光学パッケ
ージ10の概略斜視図である。パッケージ10は、非対
称モード出力領域を有する複合半導体装置11と、該装
置と一体的に形成され、装置の光モード出力(または入
力)を光ファイバー13に結合する結合光学レンズ12
を含む。レンズ12は、フォトレジスト及び他のポリマ
ーを含む有機ポリマー材料からなる。装置からファイバ
ーにまたはその逆に光エネルギーを円滑に結合するため
に、レンズ12は細長いくさびのような導波路の形状に
なっている。このレンズを、ポリマーの細長い導波路を
まねた(PEWE)光学レンズと呼ぶ。
ージ10の概略斜視図である。パッケージ10は、非対
称モード出力領域を有する複合半導体装置11と、該装
置と一体的に形成され、装置の光モード出力(または入
力)を光ファイバー13に結合する結合光学レンズ12
を含む。レンズ12は、フォトレジスト及び他のポリマ
ーを含む有機ポリマー材料からなる。装置からファイバ
ーにまたはその逆に光エネルギーを円滑に結合するため
に、レンズ12は細長いくさびのような導波路の形状に
なっている。このレンズを、ポリマーの細長い導波路を
まねた(PEWE)光学レンズと呼ぶ。
【0009】典型的な半導体装置11は、半導体基板1
4と、底部クラッド層15と、活性層16と、上部クラ
ッド層17と、下部及び上部電極18及び19を含む。
装置は、さらに、基板と底部クラッド層の間に置かれた
緩衝層のような、少なくとも1つの別の層と、上部クラ
ッド層と上部電極の間に置かれた、高度にドープされた
接触層と、上部クラッド層または接触層の上部に置かれ
たキャップ層と、技術上周知なように、装置の構造次第
でいくつかのその他の層を含む。また、ドープされない
もしくは軽くドープされた遷移層を、活性層とクラッド
層の間に沈積しても良い。活性層は、単一層か、または
交互する多層構造か、または活性層の両面に等級づけら
れた構造のいずれでも良い。前記各層は、技術上周知で
あり、装置次第で変えても良い。
4と、底部クラッド層15と、活性層16と、上部クラ
ッド層17と、下部及び上部電極18及び19を含む。
装置は、さらに、基板と底部クラッド層の間に置かれた
緩衝層のような、少なくとも1つの別の層と、上部クラ
ッド層と上部電極の間に置かれた、高度にドープされた
接触層と、上部クラッド層または接触層の上部に置かれ
たキャップ層と、技術上周知なように、装置の構造次第
でいくつかのその他の層を含む。また、ドープされない
もしくは軽くドープされた遷移層を、活性層とクラッド
層の間に沈積しても良い。活性層は、単一層か、または
交互する多層構造か、または活性層の両面に等級づけら
れた構造のいずれでも良い。前記各層は、技術上周知で
あり、装置次第で変えても良い。
【0010】光を通す誘電体材料からなる層20は、装
置の上面21と、その発光(または受光)小面22と、
底部クラッド層15の表面23にかぶせられる。誘電体
層の沈積より前に、小面22の表面は光反射性被覆物で
被覆しても良い。AgBrまたはZnS のような被覆物がこの
目的に適している。層20の上面24は、活性層16の
下部境界と一直線になっている。レンズ12は、層20
の上面24上に置かれ、装置の小面22と接触している
層20のその部分に接している。レンズ12の下面は層
20の表面24上にあるので、レンズの底部は、同様に
活性層16の底部と一直線になっている。レンズを活性
領域16及び光ファイバーの断面に合わせるために、レ
ンズは先端を切ったくさびの形状になっている。くさび
の幅が狭い方の端部は活性領域16の横断面領域に位置
を合わせて接近させ、それに対してくさびの幅が広い方
の端部は、光ファイバーの少なくともコアの横断面に接
近させる。幅が狭い方の端部におけるレンズの表面は、
活性領域の表面に厳密に近似する非対称比率を有する方
形乃至楕円形の横断面を有する。レンズの細い方の端部
は装置11の小面22に隣接している。幅が広い方の端
部におけるレンズの反対側の表面は、少なくとも光ファ
イバーのコアの横断面に近似する正方形乃至円形、また
は楕円形の横断面を有する。誘電体層と基板を除いたレ
ンズ12の斜視図を図2に示す。光ファイバー13は、
レンズに接して示されているが、光学装置11のモード
領域に関して比較的大きなモード領域を有する他のどん
な光学コンポーネントでも良い。
置の上面21と、その発光(または受光)小面22と、
底部クラッド層15の表面23にかぶせられる。誘電体
層の沈積より前に、小面22の表面は光反射性被覆物で
被覆しても良い。AgBrまたはZnS のような被覆物がこの
目的に適している。層20の上面24は、活性層16の
下部境界と一直線になっている。レンズ12は、層20
の上面24上に置かれ、装置の小面22と接触している
層20のその部分に接している。レンズ12の下面は層
20の表面24上にあるので、レンズの底部は、同様に
活性層16の底部と一直線になっている。レンズを活性
領域16及び光ファイバーの断面に合わせるために、レ
ンズは先端を切ったくさびの形状になっている。くさび
の幅が狭い方の端部は活性領域16の横断面領域に位置
を合わせて接近させ、それに対してくさびの幅が広い方
の端部は、光ファイバーの少なくともコアの横断面に接
近させる。幅が狭い方の端部におけるレンズの表面は、
活性領域の表面に厳密に近似する非対称比率を有する方
形乃至楕円形の横断面を有する。レンズの細い方の端部
は装置11の小面22に隣接している。幅が広い方の端
部におけるレンズの反対側の表面は、少なくとも光ファ
イバーのコアの横断面に近似する正方形乃至円形、また
は楕円形の横断面を有する。誘電体層と基板を除いたレ
ンズ12の斜視図を図2に示す。光ファイバー13は、
レンズに接して示されているが、光学装置11のモード
領域に関して比較的大きなモード領域を有する他のどん
な光学コンポーネントでも良い。
【0011】多数のパッケージを1個の複合半導体ウェ
ハに作り、次に、例えば単一もしくは二重パッケージに
または二者択一的に切り取ることにより、相等しい多数
の単一もしくは二重パッケージに切り出すことができ
る。二重集積パッケージは、光放射線を、関連したレン
ズを介して1本の光ファイバーから1個の装置に挿入
し、該装置から別の装置に該光放射線を転送し、次に、
関連したレンズを介して前記別の装置から別の光ファイ
バーに該放射線を結合することができる、背中合わせ形
式に一体的に作られた2個の半導体装置11を含む。
ハに作り、次に、例えば単一もしくは二重パッケージに
または二者択一的に切り取ることにより、相等しい多数
の単一もしくは二重パッケージに切り出すことができ
る。二重集積パッケージは、光放射線を、関連したレン
ズを介して1本の光ファイバーから1個の装置に挿入
し、該装置から別の装置に該光放射線を転送し、次に、
関連したレンズを介して前記別の装置から別の光ファイ
バーに該放射線を結合することができる、背中合わせ形
式に一体的に作られた2個の半導体装置11を含む。
【0012】集積光学パッケージの製造は、平坦化技術
によって複数の異なる層を基板上に沈積することによ
り、半導体ウェハ上に装置の半導体構造を形成すること
から始まる。この構造は、典型的に、底部及び上部クラ
ッド層の間に置かれる活性層を含むが、技術上周知なよ
うに他の層を含めても良い。
によって複数の異なる層を基板上に沈積することによ
り、半導体ウェハ上に装置の半導体構造を形成すること
から始まる。この構造は、典型的に、底部及び上部クラ
ッド層の間に置かれる活性層を含むが、技術上周知なよ
うに他の層を含めても良い。
【0013】少なくとも1個の平坦な溝が、垂直な小面
22を露出して半導体装置の表面にエッチングされる。
小面間の各溝の幅はレンズの望ましい長さの2倍に等し
い。溝の間の間隔は2個の装置の長さに適合するように
選択される。レンズを形成する前に、エッチングされた
小面は、AgBrまたはZnS のような薄い逆反射性被覆物で
被覆しても良い。その後、各溝の底部、小面及び各装置
の上面は、光を通す誘電体材料の薄膜層で被覆される。
溝は前記深さからなり、誘電体材料は前記厚さからなる
から、誘電体材料が溝の底部に沈積された時、溝内の誘
電体材料の上面は、構造内の活性層の底部境界と一直線
になる。これは、誘電体層に置かれるレンズの下面が活
性層の底部境界と一直線になることを確実にする。
22を露出して半導体装置の表面にエッチングされる。
小面間の各溝の幅はレンズの望ましい長さの2倍に等し
い。溝の間の間隔は2個の装置の長さに適合するように
選択される。レンズを形成する前に、エッチングされた
小面は、AgBrまたはZnS のような薄い逆反射性被覆物で
被覆しても良い。その後、各溝の底部、小面及び各装置
の上面は、光を通す誘電体材料の薄膜層で被覆される。
溝は前記深さからなり、誘電体材料は前記厚さからなる
から、誘電体材料が溝の底部に沈積された時、溝内の誘
電体材料の上面は、構造内の活性層の底部境界と一直線
になる。これは、誘電体層に置かれるレンズの下面が活
性層の底部境界と一直線になることを確実にする。
【0014】レンズは、溝内の誘電体層20の上面24
に、フォトレジスト及び他のポリマーから選択され、光
を通す性質を有し、光ファイバーのコアの屈折率に近似
する屈折率を有する有機ポリマー材料層を沈積すること
により作られる。加工後の有機ポリマー材料は、縦断面
において、その上面が、光ファイバーに結合する幅が広
い端部から装置に結合する幅が狭い端部へ傾斜する、先
端を切ったくさびのような構造になる。有機体材料の厚
さは、レンズの上面が幅が広い端部から幅が狭い端部の
方へ段々に傾斜するように、広いレンズの長さと比較し
て小さくなっている。好適な実施態様において、レンズ
の上面は、約250μmの長さにわたって、幅が広い光
ファイバー端部における約6〜7μmから装置端部にお
ける1μmまで傾斜している。その後、有機ポリマー材
料は、装置からファイバーへまたはその逆に放射線エネ
ルギーの伝送のために不必要なすべての有機ポリマー材
料を除去するために、例えばプラズマエッチングにより
側面が切り取られる。レンズの上面は、ファイバーに面
して幅が広くなった基部と、装置に面して幅が狭くなっ
た基部を備えた、先端を切った三角形の形状を有する。
くさびのゆるやかな傾斜のため、レンズの無防備な表面
を介して放射線が漏洩する可能性はほとんどない。この
可能性をさらに減らすために、レンズの露出表面は、漏
洩を遮断することができる、n=1.47のSiO2のよう
な、誘電体材料の薄膜層で被覆しても良い。好ましく
は、被覆材料は、レンズの材料より低い屈折率を持たせ
よう。
に、フォトレジスト及び他のポリマーから選択され、光
を通す性質を有し、光ファイバーのコアの屈折率に近似
する屈折率を有する有機ポリマー材料層を沈積すること
により作られる。加工後の有機ポリマー材料は、縦断面
において、その上面が、光ファイバーに結合する幅が広
い端部から装置に結合する幅が狭い端部へ傾斜する、先
端を切ったくさびのような構造になる。有機体材料の厚
さは、レンズの上面が幅が広い端部から幅が狭い端部の
方へ段々に傾斜するように、広いレンズの長さと比較し
て小さくなっている。好適な実施態様において、レンズ
の上面は、約250μmの長さにわたって、幅が広い光
ファイバー端部における約6〜7μmから装置端部にお
ける1μmまで傾斜している。その後、有機ポリマー材
料は、装置からファイバーへまたはその逆に放射線エネ
ルギーの伝送のために不必要なすべての有機ポリマー材
料を除去するために、例えばプラズマエッチングにより
側面が切り取られる。レンズの上面は、ファイバーに面
して幅が広くなった基部と、装置に面して幅が狭くなっ
た基部を備えた、先端を切った三角形の形状を有する。
くさびのゆるやかな傾斜のため、レンズの無防備な表面
を介して放射線が漏洩する可能性はほとんどない。この
可能性をさらに減らすために、レンズの露出表面は、漏
洩を遮断することができる、n=1.47のSiO2のよう
な、誘電体材料の薄膜層で被覆しても良い。好ましく
は、被覆材料は、レンズの材料より低い屈折率を持たせ
よう。
【0015】例示のため、本発明は、半導体装置11と
して、例えば1:3の比を備えた楕円光モードを有する
光学調整導波路に関して説明される。この装置は、光フ
ァイバーのコアの屈折率(n=1.49〜1.52)に
近い屈折率(n=1.63)を有するフォトレジスト材
料から作られるPEWEレンズによって光ファイバーに
結合される。典型的な調心許容誤差の大きさの緩和のオ
ーダーを伴う80パーセントの効果的なファイバー結合
効率が、この配置で得られる。
して、例えば1:3の比を備えた楕円光モードを有する
光学調整導波路に関して説明される。この装置は、光フ
ァイバーのコアの屈折率(n=1.49〜1.52)に
近い屈折率(n=1.63)を有するフォトレジスト材
料から作られるPEWEレンズによって光ファイバーに
結合される。典型的な調心許容誤差の大きさの緩和のオ
ーダーを伴う80パーセントの効果的なファイバー結合
効率が、この配置で得られる。
【0016】図3に示されているのは、平坦化技術によ
りその上に成長したGaAs/AlGaAs 装置構造を備えた半導
体基板として作用する複合半導体ウェハの一部分の拡大
概略図である。模範的な実施態様において、装置11
は、150μm厚のGaAs基板14と、1.5μm厚のAl
0.4Ga0.6As底部クラッド層15と、各周期が10nm厚
のGaAs層と10nm厚のAl0.4Ga0.6As層を含む50周期
GaAs/AlGaAs 活性領域16と、0.3μm厚のAl0.4Ga
0.6Asクラッド層17と、50μm厚のGaAsキャップ層
25とを含む構造を有する調整器である。発光は、図面
の平面に垂直な小面22の表面から生じる。また、調整
器は電極18及び19を備えている。調整器は、平坦化
技術沈積による連続した調整器半導体層15〜17及び
25からなる基板14として用いられる約500μm厚
のGaAsウェハに珍咳することにより準備される。沈積
は、分子線エピタキシー(MBE)、または金属有機体
化学蒸着(MOCVD)として同様に知られている金属
有機体気相エピタキシー(MOVPE)、または水素化
物気相エピタキシー(VPE)によって行なっても良
い。本実施態様においては、沈積はMBEによって行な
われた。その後、被覆されたウェハは、発光させようと
する表面に対して平行な溝の輪郭を描くように、フォト
レジストマスクで描画された。各溝の幅500μmは、
互いに背中合わせに配置された、それぞれ約250μm
の長さの2個のレンズを作るために選択された。次に、
ウェハは、輪郭を描かれる溝領域内の層16、17及び
25と、底部クラッド層15の上面のわずかな厚み、約
0.5μmを全部除去するために、SiCl4 プラズマを使
用してエッチングされた。このわずかな厚みは、エッチ
ングされた表面が導波路または活性領域16の下部境界
の真下に約0.5μmになるように選ばれた。垂直な壁
は、0.16W/cm2 RF出力及び5mトール使用圧
を用いたプラズマでエッチングすることにより得られ
た。エッチングされた側壁は、溝を限定するために用い
られたフォトレジストのエッジ輪郭と同様に滑らかにな
った。次に、ウェハは150μmまで薄くされ、0.5
μm厚のSiO2層20は、ウェハの全体、すなわちキャッ
プ層25の上面21、小面22の表面及び底部クラッド
層15のエッチングされた表面23にわたって、プラズ
マで高められた化学蒸着(PECVD)により300℃
で沈積された。SiO2層は、PEWEレンズのために底部
クラッド層として役立つ。電極18及び19は、構造の
完成後に沈積しても良い。かけがえとして、電極は、Si
O2層20の沈積後に沈積しても良い。これは、電極19
を次に沈積する間、層20に窓を作っておく必要があ
る。
りその上に成長したGaAs/AlGaAs 装置構造を備えた半導
体基板として作用する複合半導体ウェハの一部分の拡大
概略図である。模範的な実施態様において、装置11
は、150μm厚のGaAs基板14と、1.5μm厚のAl
0.4Ga0.6As底部クラッド層15と、各周期が10nm厚
のGaAs層と10nm厚のAl0.4Ga0.6As層を含む50周期
GaAs/AlGaAs 活性領域16と、0.3μm厚のAl0.4Ga
0.6Asクラッド層17と、50μm厚のGaAsキャップ層
25とを含む構造を有する調整器である。発光は、図面
の平面に垂直な小面22の表面から生じる。また、調整
器は電極18及び19を備えている。調整器は、平坦化
技術沈積による連続した調整器半導体層15〜17及び
25からなる基板14として用いられる約500μm厚
のGaAsウェハに珍咳することにより準備される。沈積
は、分子線エピタキシー(MBE)、または金属有機体
化学蒸着(MOCVD)として同様に知られている金属
有機体気相エピタキシー(MOVPE)、または水素化
物気相エピタキシー(VPE)によって行なっても良
い。本実施態様においては、沈積はMBEによって行な
われた。その後、被覆されたウェハは、発光させようと
する表面に対して平行な溝の輪郭を描くように、フォト
レジストマスクで描画された。各溝の幅500μmは、
互いに背中合わせに配置された、それぞれ約250μm
の長さの2個のレンズを作るために選択された。次に、
ウェハは、輪郭を描かれる溝領域内の層16、17及び
25と、底部クラッド層15の上面のわずかな厚み、約
0.5μmを全部除去するために、SiCl4 プラズマを使
用してエッチングされた。このわずかな厚みは、エッチ
ングされた表面が導波路または活性領域16の下部境界
の真下に約0.5μmになるように選ばれた。垂直な壁
は、0.16W/cm2 RF出力及び5mトール使用圧
を用いたプラズマでエッチングすることにより得られ
た。エッチングされた側壁は、溝を限定するために用い
られたフォトレジストのエッジ輪郭と同様に滑らかにな
った。次に、ウェハは150μmまで薄くされ、0.5
μm厚のSiO2層20は、ウェハの全体、すなわちキャッ
プ層25の上面21、小面22の表面及び底部クラッド
層15のエッチングされた表面23にわたって、プラズ
マで高められた化学蒸着(PECVD)により300℃
で沈積された。SiO2層は、PEWEレンズのために底部
クラッド層として役立つ。電極18及び19は、構造の
完成後に沈積しても良い。かけがえとして、電極は、Si
O2層20の沈積後に沈積しても良い。これは、電極19
を次に沈積する間、層20に窓を作っておく必要があ
る。
【0017】7μm厚のAZ 4620 (登録商標)フォトレ
ジスト層が、ウェハのSiO2が被覆された表面にわたって
回転により加えられ、その後、細長いダイヤモンド状に
形成されたフォトレジスト領域26(図4)が、溝内に
おいて、エッチングされた小面間の中央に、小面の方向
を指す長い頂点を備えて描画された。図4には、図5〜
8と同様に、溝幅の半分より少し大きい、関連したフォ
トレジストが示される。一点鎖線27は、溝及びフォト
レジスト(“ダイヤモンド”)領域26の中央を表わ
す。ダイヤモンド26は、中央部分において10乃至5
0μmの幅で、装置間の溝の幅の約半分になる約250
μmの長さになった。これは、パッケージ10の各々に
対してダイヤモンドの長さの半分(約125μm)を割
り当てる。ダイヤモンドのほかの寸法部分は、ダイヤモ
ンドの幅が整合されるべき領域の幅例えば光ファイバー
のコアの直径を越えない限り、同様に用いることができ
る。次に、ダイヤモンドは、溶媒の大部分を蒸発させる
ために15分間120℃で後焼成された。その後、1μ
m厚のAZ 4110 (登録商標)フォトレジスト層28が、
3,000から5,000rpmまでの範囲の、好まし
くは4000rpmの回転速度で、ウェハ上で回転され
た。2つのフォトレジストは同じ溶媒基部を有するが、
AZ 4110 (登録商標)の回転のrpmが高くなると、ダ
イヤモンドパターン外に部分的に塗りつけられることが
ある。低いrpmで回転すると、フォトレジスト層の厚
みが薄くなる。かけがえとして、1μm厚のフォトレジ
ストを、ダイヤモンドパターンを含む表面全体にスプレ
ーしても良い。他の装置を備えた光学パッケージの製造
において、活性層は厚くても良く、したがって装置のモ
ード出力の高さは大体1μmぐらいになる。前記の場
合、rpmは、活性層の厚みに整合するフォトレジスト
の厚みを得るように調整されるべきである。
ジスト層が、ウェハのSiO2が被覆された表面にわたって
回転により加えられ、その後、細長いダイヤモンド状に
形成されたフォトレジスト領域26(図4)が、溝内に
おいて、エッチングされた小面間の中央に、小面の方向
を指す長い頂点を備えて描画された。図4には、図5〜
8と同様に、溝幅の半分より少し大きい、関連したフォ
トレジストが示される。一点鎖線27は、溝及びフォト
レジスト(“ダイヤモンド”)領域26の中央を表わ
す。ダイヤモンド26は、中央部分において10乃至5
0μmの幅で、装置間の溝の幅の約半分になる約250
μmの長さになった。これは、パッケージ10の各々に
対してダイヤモンドの長さの半分(約125μm)を割
り当てる。ダイヤモンドのほかの寸法部分は、ダイヤモ
ンドの幅が整合されるべき領域の幅例えば光ファイバー
のコアの直径を越えない限り、同様に用いることができ
る。次に、ダイヤモンドは、溶媒の大部分を蒸発させる
ために15分間120℃で後焼成された。その後、1μ
m厚のAZ 4110 (登録商標)フォトレジスト層28が、
3,000から5,000rpmまでの範囲の、好まし
くは4000rpmの回転速度で、ウェハ上で回転され
た。2つのフォトレジストは同じ溶媒基部を有するが、
AZ 4110 (登録商標)の回転のrpmが高くなると、ダ
イヤモンドパターン外に部分的に塗りつけられることが
ある。低いrpmで回転すると、フォトレジスト層の厚
みが薄くなる。かけがえとして、1μm厚のフォトレジ
ストを、ダイヤモンドパターンを含む表面全体にスプレ
ーしても良い。他の装置を備えた光学パッケージの製造
において、活性層は厚くても良く、したがって装置のモ
ード出力の高さは大体1μmぐらいになる。前記の場
合、rpmは、活性層の厚みに整合するフォトレジスト
の厚みを得るように調整されるべきである。
【0018】特別な例に用いられるフォトレジストは、
ホークスト セラニーズ株式会社(Hoechst Celanese Co
rporation)の電子製品部から商業上得ることができる。
AZ 4620 (登録商標)は、2-Ethoxyethyl Acetate(111-
15-9) と、xylenes(1330-20-7)と、n-butyl Acetate(12
3-86-41)と、Cresol Novolak Resin(9065-82-1) と、Di
azonaphto guinone sulfonic ester(5610-94-6) を含
む。AZ 4110 (登録商標)は、(117520-84-0) になって
いるものとして確認されるCresol Novolak Resinを除い
て、同じ構成になっている。これらのレジストは、12
0℃から150℃までの温度で再溶解かつリフローする
ことができ、光ファイバーのコアの屈折率に近い屈折率
を有する。この温度範囲は、装置に好ましくない影響を
及ぼす温度、例えば190℃、以下になっている。ま
た、同じ特性を有する他のレジストを用いても良い。例
えば、上記レジストは、propylene glycol monoethyl e
ther acetate(100-65-6)を両方とも含む、Shipley 1370
(登録商標)及びShipley 1195(登録商
標)のような、商業上入手可能なレジストで置換しても
良い。
ホークスト セラニーズ株式会社(Hoechst Celanese Co
rporation)の電子製品部から商業上得ることができる。
AZ 4620 (登録商標)は、2-Ethoxyethyl Acetate(111-
15-9) と、xylenes(1330-20-7)と、n-butyl Acetate(12
3-86-41)と、Cresol Novolak Resin(9065-82-1) と、Di
azonaphto guinone sulfonic ester(5610-94-6) を含
む。AZ 4110 (登録商標)は、(117520-84-0) になって
いるものとして確認されるCresol Novolak Resinを除い
て、同じ構成になっている。これらのレジストは、12
0℃から150℃までの温度で再溶解かつリフローする
ことができ、光ファイバーのコアの屈折率に近い屈折率
を有する。この温度範囲は、装置に好ましくない影響を
及ぼす温度、例えば190℃、以下になっている。ま
た、同じ特性を有する他のレジストを用いても良い。例
えば、上記レジストは、propylene glycol monoethyl e
ther acetate(100-65-6)を両方とも含む、Shipley 1370
(登録商標)及びShipley 1195(登録商
標)のような、商業上入手可能なレジストで置換しても
良い。
【0019】次に、ウェハは、ダイヤモンド形状を再溶
解かつリフローして、図6に示されるように再配置され
たフォトレジスト形状28を形成するために、1時間の
間120〜150℃で焼成された。このリフロー処理
は、フォトレジストの厚みの滑らかな断熱的な変化にい
たる。各々のダイヤモンド状フォトレジスト領域26の
中央に近いダイヤモンドパターンは、約6〜7μmの
(図5に示されるような)元の厚さの大部分を保ち、リ
フローされたダイヤモンドの先端に向かって1μmまで
の徐々の減少が見られた。
解かつリフローして、図6に示されるように再配置され
たフォトレジスト形状28を形成するために、1時間の
間120〜150℃で焼成された。このリフロー処理
は、フォトレジストの厚みの滑らかな断熱的な変化にい
たる。各々のダイヤモンド状フォトレジスト領域26の
中央に近いダイヤモンドパターンは、約6〜7μmの
(図5に示されるような)元の厚さの大部分を保ち、リ
フローされたダイヤモンドの先端に向かって1μmまで
の徐々の減少が見られた。
【0020】図5及び6は、装置の上面とエッチングさ
れた小面をつなぐ角を覆う、1μmのフォトレジストに
よる階段範囲を示す。この領域において、沈積されたフ
ォトレジストは、1μm厚のほとんど2倍まで膨張す
る。ポリマーの導波路と半導体の小面の間のこの接合形
式は好ましくない。導波路境界がそれらの地点における
ビームの発散に比較して小さい限り、光の場は断熱的な
導波路変形に従う。小面の近くのフォトレジスト層が望
ましい厚さのほとんど2倍に膨張するということは、活
性領域から発する光の場が、フォトレジスト境界が許す
であろう範囲まで広がるであろうということを意味す
る。フォトレジストの口径と半導体導波路活性領域16
の交差における不整合のため、約50パーセントのエネ
ルギーが活性層から散乱され得ることが、図5及び6か
ら明らかである。(すなわち、その地点のフォトレジス
トは約2μmの厚さになるのに対して、半導体導波路は
1μmの厚さになる。)この問題を克服するために、角
露出技術が用いられた。アルゴンイオンレーザーの出力
光は、450nmで3mW/cm2 の光束を与えるよ
うにフィルターをかけられた。サンプルは、12分間ビ
ームに接する5度の角度に置かれた。この入射角におけ
るフレネル反射と光束の依存関係のため、図7に示され
るように、エッチングされた小面の近くのフォトレジス
トが最初に露光される。光の場はフォトレジスト境界に
従うので、エッチングされた小面において活性領域16
に面したフォトレジストの厚さを約1μmに保つため
に、露光と現像を数回校正することが不可欠である。現
像後、図8に示されるフォトレジスト輪郭が得られた。
れた小面をつなぐ角を覆う、1μmのフォトレジストに
よる階段範囲を示す。この領域において、沈積されたフ
ォトレジストは、1μm厚のほとんど2倍まで膨張す
る。ポリマーの導波路と半導体の小面の間のこの接合形
式は好ましくない。導波路境界がそれらの地点における
ビームの発散に比較して小さい限り、光の場は断熱的な
導波路変形に従う。小面の近くのフォトレジスト層が望
ましい厚さのほとんど2倍に膨張するということは、活
性領域から発する光の場が、フォトレジスト境界が許す
であろう範囲まで広がるであろうということを意味す
る。フォトレジストの口径と半導体導波路活性領域16
の交差における不整合のため、約50パーセントのエネ
ルギーが活性層から散乱され得ることが、図5及び6か
ら明らかである。(すなわち、その地点のフォトレジス
トは約2μmの厚さになるのに対して、半導体導波路は
1μmの厚さになる。)この問題を克服するために、角
露出技術が用いられた。アルゴンイオンレーザーの出力
光は、450nmで3mW/cm2 の光束を与えるよ
うにフィルターをかけられた。サンプルは、12分間ビ
ームに接する5度の角度に置かれた。この入射角におけ
るフレネル反射と光束の依存関係のため、図7に示され
るように、エッチングされた小面の近くのフォトレジス
トが最初に露光される。光の場はフォトレジスト境界に
従うので、エッチングされた小面において活性領域16
に面したフォトレジストの厚さを約1μmに保つため
に、露光と現像を数回校正することが不可欠である。現
像後、図8に示されるフォトレジスト輪郭が得られた。
【0021】次に、装置とレンズは、反応イオンエッチ
ング(RIE)によって最終形状に整えられ、ウェハ
は、フォトレジスト境界をさらに滑らかにするために1
20〜150℃で焼成された。ウェハは、中央線27に
沿ったダイヤモンドパターンの中央部と図1に示される
集積光学パッケージ10形状にいたる装置(調整器)構
造のある地点で切り取られた。
ング(RIE)によって最終形状に整えられ、ウェハ
は、フォトレジスト境界をさらに滑らかにするために1
20〜150℃で焼成された。ウェハは、中央線27に
沿ったダイヤモンドパターンの中央部と図1に示される
集積光学パッケージ10形状にいたる装置(調整器)構
造のある地点で切り取られた。
【0022】好適な実施態様において、ポリマーフォト
レジストが上記のようなレンズのために用いられた。こ
のレジストは、ファイバーの屈折率(nf =1.49〜
1.52)に近づいた屈折率n=1.67を持ってい
た。フォトレジストは、取扱い、処理及び製作が容易な
ため用いられた。レジストの代わりに、他の有機ポリマ
ー材料を導波路レンズを準備する際に用いても良い。こ
の目的に適する材料のうちの1つは、屈折率n=1.6
を有するポリイミドである。ポリイミドの使用は、図9
及び10に関して説明されているように、多少異なる処
理を必要とする。
レジストが上記のようなレンズのために用いられた。こ
のレジストは、ファイバーの屈折率(nf =1.49〜
1.52)に近づいた屈折率n=1.67を持ってい
た。フォトレジストは、取扱い、処理及び製作が容易な
ため用いられた。レジストの代わりに、他の有機ポリマ
ー材料を導波路レンズを準備する際に用いても良い。こ
の目的に適する材料のうちの1つは、屈折率n=1.6
を有するポリイミドである。ポリイミドの使用は、図9
及び10に関して説明されているように、多少異なる処
理を必要とする。
【0023】誘電体層20まで含んで処理されたウェハ
から始まり、6〜7μm厚のポリイミド層29は誘電体
層20の上部に沈積される(図9)。その後、図4〜6
に関して上述したように、フォトレジストの沈積、描画
及び処理は、ポリイミド層29の上部において行なわ
れ、フォトレジスト輪郭30にいたる(図9)。このフ
ォトレジスト輪郭は、小面22と装置11の表面21ま
での間の厚くなった接合範囲のほかは、図6に示される
ものと同じになる。その後、フォトレジスト及びその下
にあるポリイミドは、(約70nm/minのエッチン
グ速度を有する3sccm O2 流量、100W RF出
力、430V DCバイアスの)O2 プラズマのドライ
エッチングにさらされる。フォトレジスト及びポリイミ
ドのエッチング速度は実質的に同じである。したがっ
て、フォトレジスト輪郭30は、ポリイミドに転移さ
れ、図10に示されるレンズ輪郭31に導く。
から始まり、6〜7μm厚のポリイミド層29は誘電体
層20の上部に沈積される(図9)。その後、図4〜6
に関して上述したように、フォトレジストの沈積、描画
及び処理は、ポリイミド層29の上部において行なわ
れ、フォトレジスト輪郭30にいたる(図9)。このフ
ォトレジスト輪郭は、小面22と装置11の表面21ま
での間の厚くなった接合範囲のほかは、図6に示される
ものと同じになる。その後、フォトレジスト及びその下
にあるポリイミドは、(約70nm/minのエッチン
グ速度を有する3sccm O2 流量、100W RF出
力、430V DCバイアスの)O2 プラズマのドライ
エッチングにさらされる。フォトレジスト及びポリイミ
ドのエッチング速度は実質的に同じである。したがっ
て、フォトレジスト輪郭30は、ポリイミドに転移さ
れ、図10に示されるレンズ輪郭31に導く。
【0024】フォトレジストのような有機ポリマー材料
を用いて作られたPEWEレンズを使用して、光ファイ
バーから非対称モード出力領域を有する半導体導波路ま
での間で80パーセントの結合効率が得られた。模範的
な実施態様において、半導体導波路は調節器構造になっ
た。同じ結合効率が、非対称モード出力(または入力)
領域を有する、レーザーダイオード、光検出器、半導体
光スイッチ、またはその他の構造できっと得られるであ
ろう。熱安定性をもっと良くするために、PEWEレン
ズはポリイミド薄膜を含めても良い。
を用いて作られたPEWEレンズを使用して、光ファイ
バーから非対称モード出力領域を有する半導体導波路ま
での間で80パーセントの結合効率が得られた。模範的
な実施態様において、半導体導波路は調節器構造になっ
た。同じ結合効率が、非対称モード出力(または入力)
領域を有する、レーザーダイオード、光検出器、半導体
光スイッチ、またはその他の構造できっと得られるであ
ろう。熱安定性をもっと良くするために、PEWEレン
ズはポリイミド薄膜を含めても良い。
【0025】PEWEレンズによるファイバー結合の高
揚の量は、平板導波路構造とNd:YAGレーザーの入射エネ
ルギーを用いて確認された。出力調整器小面における近
視野パターンの観測から、全部の光が半導体導波路の基
本モードに結合された。結合効率の改善の程度は、調整
器導波路の端部小面から放射する2次高調波信号から間
接的に観測された。同じNd:YAG入射エネルギーに対し
て、調整器の端部小面から放射された青色光は、PEW
Eレンズを含む装置に対して、これらのレンズのない導
波路と比較してずっと明るくなった。大きな結合効率に
加えて、光を導波路に容易に結合することができると共
に、長期間それを維持することができた。これは、単一
モードファイバーのコアとおおよそ同じ寸法を有する、
大きなPEWE入力口径によるものである。
揚の量は、平板導波路構造とNd:YAGレーザーの入射エネ
ルギーを用いて確認された。出力調整器小面における近
視野パターンの観測から、全部の光が半導体導波路の基
本モードに結合された。結合効率の改善の程度は、調整
器導波路の端部小面から放射する2次高調波信号から間
接的に観測された。同じNd:YAG入射エネルギーに対し
て、調整器の端部小面から放射された青色光は、PEW
Eレンズを含む装置に対して、これらのレンズのない導
波路と比較してずっと明るくなった。大きな結合効率に
加えて、光を導波路に容易に結合することができると共
に、長期間それを維持することができた。これは、単一
モードファイバーのコアとおおよそ同じ寸法を有する、
大きなPEWE入力口径によるものである。
【0026】追加的な利点及び変形は当業者に容易に思
い浮かぶであろう。したがって、本発明は、そのより広
い態様において、図示及び説明された、特定の詳細、模
範的な装置、及び例された実施例に限定されない。よっ
て、付随の背特許請求の範囲及びそれらの同等物により
定義されるような概括的な発明の概念の精神または範囲
に反することなく、種々の変形を行なうことができる。
い浮かぶであろう。したがって、本発明は、そのより広
い態様において、図示及び説明された、特定の詳細、模
範的な装置、及び例された実施例に限定されない。よっ
て、付随の背特許請求の範囲及びそれらの同等物により
定義されるような概括的な発明の概念の精神または範囲
に反することなく、種々の変形を行なうことができる。
【図1】光学装置を光ファイバーに結合するマイクロレ
ンズを示す集積光学パッケージの斜視図である。
ンズを示す集積光学パッケージの斜視図である。
【図2】マイクロレンズの斜視図である。
【図3】マイクロレンズの形成前にその上に薄いSiO2層
を備えた複合半導体構造の一部の側面の拡大概略図であ
る。
を備えた複合半導体構造の一部の側面の拡大概略図であ
る。
【図4】ダイヤモンドのような形状のフォトレジスト領
域を備えた図3の構造の平面図である。
域を備えた図3の構造の平面図である。
【図5】上部領域の全体にわたるフォトレジストの連続
層を備えた図4の構造の側断面の概略図である。
層を備えた図4の構造の側断面の概略図である。
【図6】図5に示されるフォトレジストの加熱及びリフ
ロー後の構造の概略図である。
ロー後の構造の概略図である。
【図7】装置に隣接するマイクロレンズの端部分から不
必要なフォトレジストを除去するためにフォトレジスト
領域の角度光露出の概略図である。
必要なフォトレジストを除去するためにフォトレジスト
領域の角度光露出の概略図である。
【図8】不必要なフォトレジストを除去した後であっ
て、中心線27に沿って2個の隣接するレンズを分離す
る前のマイクロレンズを示す。
て、中心線27に沿って2個の隣接するレンズを分離す
る前のマイクロレンズを示す。
【図9】ポリマー層の上部にリフローされたフォトレジ
スト層を使用するポリイミドマイクロレンズの形成にお
ける中間段階の概略図である。
スト層を使用するポリイミドマイクロレンズの形成にお
ける中間段階の概略図である。
【図10】図9の形態から形成されたポリイミドマイク
ロレンズの概略図である。
ロレンズの概略図である。
11 調整器 12 くさび形光導波路 13 光ファイバ 14 基板 20 誘電体層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 デボラー リー シヴコ アメリカ合衆国 07059 ニュージャーシ ィ,ウォーレン,プレインフィールド ア ヴェニュー 16 (72)発明者 ダリヨーシュ ヴァクショーリ アメリカ合衆国 07076 ニュージャーシ ィ,スコッチ プレインズ,アパートメン ト アール,パーク アヴェニュー 519
Claims (20)
- 【請求項1】 非対称モード領域を有する光学装置と円
形モード領域を有する光ファイバーを互いに結合するた
めの集積光学パッケージであって、 非対称モード領域を有する光学装置と、細長いくさび状
の光導波路からなり、 前記光学装置及び前記光導波路は共通の基板を有し、前
記光導波路の一方の端部分は前記装置の発光(または受
光)小面に接し、前記光導波路の反対側の端部分は光フ
ァイバーとの光結合のためにあり、 前記小面に接する光学装置のその端部の横断面は、装置
のモード領域の横断面に本質的に整合し、光導波路の反
対側の端部の横断面は、光ファイバーのコアの横断面に
本質的に整合するように設計されることを特徴とする集
積光学パッケージ。 - 【請求項2】 請求項1の集積光学パッケージにおい
て、 前記光導波路は平坦な誘電体層からなり、該誘電体層の
上部のくさび形ポリマーレンズと、誘電体層の上面と、
レンズの下面は、装置の活性層の下部境界と一直線にな
っている集積光学パッケージ。 - 【請求項3】 請求項2の集積光学パッケージにおい
て、 前記レンズは、平らな底部と、傾斜した上面と、レンズ
の長さにわたって、装置の活性領域の横断面と整合する
横断面から光ファイバーのコアの横断面と整合する横断
面まで段々に変化する横断面とを有する集積光学パッケ
ージ。 - 【請求項4】 請求項3の集積光学パッケージにおい
て、前記横断面は250μmの長さにわたって、高さ6
〜7μmから高さ1μmまで変化する集積光学パッケー
ジ。 - 【請求項5】 請求項1の集積光学パッケージにおい
て、導波路の上部平面は、装置の前記小面に接した、幅
の狭い、先端を切った上部と、光ファイバーと接するた
めのものである幅が広くなった基部を備えた、先端を切
った三角形の形状になっている集積光学パッケージ。 - 【請求項6】 請求項1の集積光学パッケージにおい
て、前記誘電体層はSi2 である集積光学パッケージ。 - 【請求項7】 請求項1の集積光学パッケージにおい
て、前記有機ポリマー材料は、光ファイバーの屈折率に
近い屈折率を有するポリマーフォトレジストである集積
光学パッケージ。 - 【請求項8】 請求項1の集積光学パッケージにおい
て、前記有機ポリマー材料はポリイミドである集積光学
パッケージ。 - 【請求項9】 請求項6の集積光学パッケージにおい
て、装置の前記小面は逆反射性被覆物を備えている集積
光学パッケージ。 - 【請求項10】 非対称モード領域を有する光学コンポ
ーネントとより大きなモード領域を有する別の光学コン
ポーネントを結合するための光学レンズであって、 導波路の両端に端面を有する、細長いくさび状の光導波
路からなり、非対称モード領域を有する前記光学コンポ
ーネントに接続される一方の端面は、前記非対称モード
領域と整合する横断面を有し、導波路の反対側の端部で
前記別の光学コンポーネントに接続される別の端面は、
前記より大きなモード領域と整合し、導波路の横断面
は、前記一方の端面から前記別の端面まで段々に変化す
ることを特徴とする光学レンズ。 - 【請求項11】 請求項10記載の光学レンズにおい
て、くさび状導波路の上面は、非対称モード領域を有す
る光学コンポーネントに接した、幅の狭い、先端を切っ
た上部と、より大きなモード領域を有する光学コンポー
ネントに接するためのものである幅が広くなった基部を
備えた、先端を切った三角形の形状になっている請求項
10の光学レンズ。 - 【請求項12】 請求項10記載の光学レンズにおい
て、前記くさび状導波路はその底面に誘電体層を備えて
いる光学レンズ。 - 【請求項13】 請求項12記載の光学レンズにおい
て、前記誘電体層はSiO2である光学レンズ。 - 【請求項14】 請求項10記載の光学レンズにおい
て、前記有機ポリマー材料は、光ファイバーの屈折率に
近い屈折率を有するポリマーフォトレジストである光学
レンズ。 - 【請求項15】 請求項10記載の光学レンズにおい
て、前記有機ポリマー材料はポリイミドである光学レン
ズ。 - 【請求項16】 非対称モード領域を有する光学装置
と、該装置を前記非対称モード領域と比較して大きなモ
ード領域を有する光学コンポーネントに結合するための
細長いレンズからなる集積光学パッケージの製作方法で
あって、 活性層と底部及び上部クラッド層をその上に含む複合半
導体構造を有する基板から始める工程と、 溝の両側で装置の小面を露出するように前記構造に溝を
エッチングし、該エッチングは、下部クラッド層の部分
的な厚みと、前記下部クラッド層上の構造のすべての他
の層を除去すると共に、光学装置として用いることを予
定した前記構造のそれらの部分を保つエッチング工程
と、 前記溝において、2個の小面の間の中央に、長さが小面
間の溝の幅の半分に等しく、厚さが装置に光学的に結合
されるファイバーのコアの少なくとも直径に等しい、ダ
イヤモンド形の高い形状を形成する工程と、 前記装置の活性層の高さに等しい厚さのポリマー材料の
薄膜層で構造全体を被覆する工程と、 結合されたポリマー材料を、前中央部分と前記小面に接
合する部分との間でゆるやかな傾斜を有する輪郭に改造
する工程と、 各小面の近くの前記ポリマー材料の余分な厚みを、前記
装置の活性層の高さに相当する厚みまで減らすように除
去する工程とからなる方法。 - 【請求項17】 請求項16の方法において、前記ポリ
マー材料は、ゆるやかな傾斜を有する輪郭に前記ポリマ
ー材料の再溶解かつリフローさせるように、結合された
ポリマー材料を加熱する、約190℃以下の温度で、再
溶解かつリフローすることができるポリマーフォトレジ
ストである方法。 - 【請求項18】 請求項16の方法において、前記加熱
は、120℃から150℃までの範囲内の温度で行なわ
れる方法。 - 【請求項19】 請求項16の方法において、前記ポリ
マー材料はポリイミドからなる方法。 - 【請求項20】 請求項19の方法において、前記輪郭
のゆるやかな傾斜は、 レンズの幅の広い横断面に相当する厚さでポリイミドを
沈積し、 ポリイミド層の上部に前記フォトレジストのくさびのよ
うな形状を形成し、該形成は、ポリイミド層の上部への
フォトレジストのダイヤモンド形の高い形状の沈積と、
構造全体にわたるフォトレジストの薄い層の沈積と、そ
の結果生じたレジストアセンブリーを加熱してフォトレ
ジストの輪郭にゆるやかな傾斜を得て、 フォトレジスト輪郭をポリイミドに転移するように、プ
ラズマでフォトレジスト及びポリイミドアセンブリーを
エッチングすることにより、ポリイミド材料に伝えられ
る方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US881020 | 1992-05-08 | ||
| US07/881,020 US5265177A (en) | 1992-05-08 | 1992-05-08 | Integrated optical package for coupling optical fibers to devices with asymmetric light beams |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0627355A true JPH0627355A (ja) | 1994-02-04 |
Family
ID=25377612
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5105779A Pending JPH0627355A (ja) | 1992-05-08 | 1993-05-07 | 非対称光ビームを伴う装置に光ファイバーを結合するための集積光学パッケージ |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US5265177A (ja) |
| EP (1) | EP0569181B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0627355A (ja) |
| KR (1) | KR0179988B1 (ja) |
| CA (1) | CA2092840C (ja) |
| DE (1) | DE69311966T2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001506373A (ja) * | 1996-12-17 | 2001-05-15 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | オプトエレクトロニクスモジュール |
| JP2002156539A (ja) * | 2001-09-28 | 2002-05-31 | Nec Corp | 光導波路 |
| JP2007079225A (ja) * | 2005-09-15 | 2007-03-29 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 波長変換素子の接続方法および接続部材 |
| CZ300674B6 (cs) * | 2005-10-31 | 2009-07-15 | Velteko, S. R. O. | Zpusob tvorby hadicových sácku a zarízení k jeho provádení |
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|---|---|---|---|---|
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| US5323476A (en) * | 1992-08-14 | 1994-06-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Apparatus for increasing the cross section of optical waves |
| US5866801A (en) * | 1993-01-19 | 1999-02-02 | Regents Of The University Of California | Universal penetration test apparatus with fluid penetration sensor |
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| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20020605 |