JPH06275545A - ガスクラスターイオン援用による化合物薄膜の 形成方法 - Google Patents
ガスクラスターイオン援用による化合物薄膜の 形成方法Info
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Abstract
スターイオンビームを蒸着域に照射して化合物薄膜を形
成する。 【効果】 ガスクラスターイオンの低エネルギー性と高
い化学反応性を利用し、エレクトロニクス、オプトエレ
クトロニクス等において有用な、イオン損傷を抑え、高
品質の化合物薄膜を形成することを可能とする。
Description
ン援用による化合物薄膜の形成方法に関するものであ
る。さらに詳しくは、この発明は、ガスクラスターイオ
ンの低エネルギー性と高い化学反応性を利用し、エレク
トロニクス、オプトエレクトロニクス等において有用
な、イオン損傷を抑え、高品質の化合物薄膜を形成する
ことを可能とする新しい化合物薄膜の形成方法に関する
ものである。
ス、オプトエレクトロニクス等の諸分野において酸化
物、窒化物、炭化物等の各種の化合物薄膜の形成が試み
られ、実用的にも様々な方法によって実施されるに至っ
ている。これらの化合物薄膜の製造法としては、いわゆ
る気相蒸着方法が最も注目されており、この気相蒸着法
としては、真空蒸着、CVD、MBE等の方法ととも
に、蒸着源物質を励起して薄膜形成するプラズマCV
D、イオンプレーティング、光CVD等の方法も知られ
ている。
の方法においては、薄膜生成の効率は高くなく、また薄
膜の組織の均質性、付着強度等の特性について所望のも
のが得られにくいという欠点がある。このような欠点を
解消するものとして、蒸着源物質をグロー放電プラズマ
やレーザー光等によって励起して薄膜形成する方法が開
発されてきているが、プラズマ励起方法の場合には、薄
膜形成のための効率や、組織の均質性、付着強度の向上
等が図られるという特徴があるものの、イオンによる損
傷が避けられないという問題がある。またレーザー光等
による励起の場合には、イオン損傷は抑えられるもの
の、どうしても膜生成効率に劣り、実用技術としては生
産性に問題がある。
合物薄膜としての化学反応の選択にも制約が多く、この
反応選択性の拡大の点においても改善が望まれていた。
そこでこの発明は、プラズマ励起方法に見られる高効率
での薄膜形成を実現しつつ、しかも従来方法の欠点を解
消し、イオン損傷を抑え、かつ、化学反応の選択性も大
きい改善された新しい気相蒸着方法を提供することを目
的としている。
を解決するものとして、気相蒸着による薄膜形成におい
て、ガスクラスターイオンビームを蒸着域に照射して化
合物薄膜を形成することを特徴とするガスクラスターイ
オン援用による化合物薄膜の形成方法を提供する。
るいはガス成分の導入等による薄膜形成物質の気相蒸着
において、その蒸着域にガスクラスターイオンビームを
照射することを特徴としている。このガスクラスターイ
オンビームは、常温で気体の塊状原子集団または分子
集団であるガスクラスターに電子を浴びさせて生成させ
たイオンを加速電圧によって加速したものであって、こ
れまでに、このイオンビームを利用した固体表面のクリ
ーニングやスール原子層レベルの極めて浅い表面表層部
のイオン注入のための新しい方法がこの発明の発明者に
よって提案されてもいる。
ビームについてのこれまでの検討を踏まえてなされたも
のであって、ガスクラスターイオンビームの持つ低エネ
ルギー特性と、高い化学反応性に着目してなされてい
る。つまり、クラスターは、通常数百個程度の原子によ
って構成されているので、たとえ印加電圧が1kVでも
それぞれの原子は、10eV以下の超低速、超低エネル
ギーのビームとして利用されることになる。しかも、ガ
スとしてその原子がイオン化励起されているので高い化
学反応活性を有している。
窒素等の原子を含有するガスのクラスターから生成され
るイオンビームを蒸着域に照射することによって、蒸発
された原子、分子、あるいはガスとして導入された反応
分子と反応して基板上に高品質で、エネルギー損傷の少
ない化合物薄膜を効率的に形成することが可能となる。
しかも、ガスクラスターの選択によって化学反応の態様
は様々に選択可能となる。
熱、電子ビーム照射等の各種の手段によって蒸発させる
か、あるいはガスとして蒸着域へ導入してもよい。この
ようにして蒸着域に導入、供給された気相状態の蒸着源
物質は、前記のガスクラスターイオンビーム照射によっ
てエネルギー付与され、かつ反応して基板表面に化学物
薄膜を形成することになる。
オンビームの生成のための装置を例示したものである。
また、図2は、これを用いた薄膜形成装置の一例を示し
たものである。まず、図1に沿ってクラスターイオンビ
ームの生成について説明すると、O2 、N2 、CO、C
O2 、NH3 、アルコール、アミン、さらにはSiH4
などの気体状のガスを導入孔(1)を通してガスソース
(2)にガス圧力が数気圧になるまで導入する。次い
で、導入したガスをガスソース(2)の先端に設けられ
たノズル(3)から噴射する。この時断熱膨張によって
数百個の原子から成るクラスター、すなわち塊状原子集
団あるいは塊状分子集団が形成される。このクラスター
をスキマー(4)を通じイオン化部(5)に導く。イオ
ン化部(5)を通過するときにそのクラスターの一部は
イオン化されクラスターイオンとなる。次いで、このク
ラスターイオンは加速電極(6)及び基板ホルダー
(7)に印加された負の加速電圧によって加速され、基
板(8)表面域に照射される。1個のクラスターは数百
個の原子から構成されているので、印加電圧が1kVで
もそれぞれの原子は10eV以下の超低速超低エネルギ
ービームとなる。また、この場合、必要に応じて、イオ
ン化した後に、図2に示したように、エネルギーアナラ
イザー/加速電極系(60)などの質量分離手段によっ
て特定の大きさのクラスターイオンビームを取り出して
利用することも有効である。この分離手段としてのアナ
ライザーは、孔の開いた電極板を複数組合せ、各々の電
極に適当に電圧を与えることによって可能となる。これ
により、たとえばクラスターサイズの小さなものが除去
可能となる。
ある。また、ノズルの長さや直径は、ガスの種類によっ
て異なり、断熱膨張によってクラスターが形成される寸
法にする。ノズルの材料はガラス製以外の金属製でもよ
い。また、実際の装置構成としては、ノズル(3)の置
かれている空間は、差動排気ポンプによって排気するこ
とが好ましい。
イオンビームは、通常、ビームが中心に偏よった指向性
ビームとなっており、その指向性はガス供給圧力の増大
とともに大きくなる。このようなガスクラスターイオン
を用いることにより、基板表面への入射エネルギーは表
面の原子を変位させるために必要なエネルギーより小さ
くできるため、基板はもちろんのこと生成化合物薄膜に
は欠陥は発生しない。また、ビームのガス成分原子は化
学的に活性であるため、それぞれの原子が持っている運
動エネルギーと併せ、化学物薄膜の生成を促す。なお、
クラスターイオンは、必要であれば、さらに各種の電界
や磁界等を用いて質量分離して照射してもよい。
るが、たとえばこの図3に例示したように、真空槽(1
0)内に設けたハース(11)に固体状の蒸着源物質
(12)を装入し、これをヒーター(12)による抵抗
加熱によって蒸発させるか、あるいは電子ビームガン
(13)による電子ビーム照射によって蒸発させる。そ
して、基板(8)近傍、もしくはその表面に前記のガス
クラスターイオンビームが照射されるようにする。
とができる。ガスクラスターイオンビームの形成につい
ては、この発明の方法においてもさらに様々な態様が可
能でもある。化合物薄膜の形成方法だけでなく、エッチ
ングや、スパッター方法等のための手段としても有効な
以下の態様が考慮される。
(a)(b)のように、円形状、直線状、あるいは任意
の形状に配置し、それぞれのノズル(3)に対応してス
キマーを配置するものである。この方法によって大型ビ
ームが形成されるとともに、クラスター形成のためのガ
スの消費量を節約し、小型の真空ポンプの使用を可能と
する。また、大面積基板への薄膜形成等が可能となる。
この場合、イオン化加速電極は、大きくしてもよいし、
多数の小電極系としてノズル、スキマーの前に配置して
もよい。
ニカルノズルの形状で、それと直角方向に長いスリット
状のノズルとこれに対応したスキマーからなる装置を採
用することができる。これによって、均一なシート状イ
オンビームが形成され、大型基板の処理に有効である。
ズマを形成し、このプラズマ中をクラスターが通過する
ようにしてイオン化することも有効である。たとえば具
体的には、ノズルの一部を金属で形成し、簡便にはネオ
ントランスや高周波電源を用いて電圧印加する。
は電子ビーム衝突による方法が用いられているが、イオ
ン化効率をあげるために、比較的密度の高いプラズマを
発生させて、この中を生成したクラスターを通過させ
て、プラズマ中の電子の衝突によってイオン化させるも
ので、大電流クラスターイオンビームの形成に利用する
ことができる。
のに有用な方法として混合ガスクラスターの発生があ
る。これは、たとえばBF3 、B2 H6 、PH3 、Si
H4 などの毒性、引火性の高いガスのクラスターを発生
させるために、これらをAr、He等の希ガスに少量混
入させ、ノズルから噴出させる方法である。
上記のガスのみのクラスターを発生させることを原理と
している。たとえば10%程度にまで希釈し、2〜5気
圧で噴出させる。もちろん、これ以外にも各種の態様が
採用される。以下、実施例を示し、さらに詳しくこの発
明について説明する。
らN2 ガスクラスターイオンを照射してSiN膜を作製
した。N2 の供給ガス圧力を2〜5気圧とし、生成され
たN2 ガスクラスターのイオン化のための電子電流(I
e)、電子電圧(Ve)をそれぞれIe=200mA、
Ve=100Vとしてイオン化を行なった。N2 ガスク
ラスターイオンを質量分離して、クラスターサイズを1
00以上のクラスターイオンを用いた。クラスターイオ
ンの加速電圧(Va)は0〜3kVとした。一方、Si
は2000℃に加熱して蒸着した。蒸着速度は100Å
/分である。
気圧にして生成したN2 ガスクラスターイオンの加速電
圧を0〜3kVと変化させて作製したSiN膜の屈折率
を示す。Va=3kVでは屈折率は2.1となり、Si
N膜が形成されていることがわかる。N2 分子1個あた
りの入射エネルギーは30eV以下であり、N2 ガスイ
オンの照射損傷は小さく、良質なSiN膜が得られた。
高品質の化合物薄膜を形成することが可能となる。
置例を示した断面図である。
である。
ためのノズル配置例を示した斜視図である。
た斜視図である。
図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 気相蒸着による薄膜形成において、ガス
クラスターイオンビームを蒸着域に照射して化合物薄膜
を形成することを特徴とするガスクラスターイオン援用
による化合物薄膜の形成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08822393A JP3386175B2 (ja) | 1993-03-22 | 1993-03-22 | ガスクラスターイオン援用による化合物薄膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08822393A JP3386175B2 (ja) | 1993-03-22 | 1993-03-22 | ガスクラスターイオン援用による化合物薄膜の形成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06275545A true JPH06275545A (ja) | 1994-09-30 |
| JP3386175B2 JP3386175B2 (ja) | 2003-03-17 |
Family
ID=13936881
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP08822393A Expired - Lifetime JP3386175B2 (ja) | 1993-03-22 | 1993-03-22 | ガスクラスターイオン援用による化合物薄膜の形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3386175B2 (ja) |
Cited By (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100298943B1 (ko) * | 1998-12-03 | 2001-10-20 | 황 철 주 | 반도체소자제조방법 |
| WO2001084612A1 (en) * | 2000-05-01 | 2001-11-08 | Epion Corporation | Interface control for film deposition by gas-cluster ion-beam processing |
| US6375790B1 (en) | 1999-07-19 | 2002-04-23 | Epion Corporation | Adaptive GCIB for smoothing surfaces |
| US6416820B1 (en) | 1999-11-19 | 2002-07-09 | Epion Corporation | Method for forming carbonaceous hard film |
| JP2006063382A (ja) * | 2004-08-26 | 2006-03-09 | Kyoto Univ | チタン酸化物薄膜を基板の表面に形成する方法 |
| JP2008518407A (ja) * | 2004-10-25 | 2008-05-29 | ティーイーエル エピオン インク. | ガスクラスターイオンビーム形成のためのイオナイザおよび方法 |
| JP2008519458A (ja) * | 2004-11-08 | 2008-06-05 | ティーイーエル エピオン インク. | 銅相互接続配線およびこれを形成する方法 |
| US7968422B2 (en) | 2009-02-09 | 2011-06-28 | Tel Epion Inc. | Method for forming trench isolation using a gas cluster ion beam growth process |
| US7982196B2 (en) | 2009-03-31 | 2011-07-19 | Tel Epion Inc. | Method for modifying a material layer using gas cluster ion beam processing |
| US8097860B2 (en) | 2009-02-04 | 2012-01-17 | Tel Epion Inc. | Multiple nozzle gas cluster ion beam processing system and method of operating |
| US8173980B2 (en) | 2010-05-05 | 2012-05-08 | Tel Epion Inc. | Gas cluster ion beam system with cleaning apparatus |
| JP2012517120A (ja) * | 2009-02-04 | 2012-07-26 | ティーイーエル エピオン インコーポレイテッド | 多重のノズルのガスクラスターイオンビームのシステム及び方法 |
| US8338806B2 (en) | 2010-05-05 | 2012-12-25 | Tel Epion Inc. | Gas cluster ion beam system with rapid gas switching apparatus |
| US8481340B2 (en) | 2010-06-16 | 2013-07-09 | Tel Epion Inc. | Method for preparing a light-emitting device using gas cluster ion beam processing |
| US8877299B2 (en) | 2009-03-31 | 2014-11-04 | Tel Epion Inc. | Method for enhancing a substrate using gas cluster ion beam processing |
| US9540725B2 (en) | 2014-05-14 | 2017-01-10 | Tel Epion Inc. | Method and apparatus for beam deflection in a gas cluster ion beam system |
| CN110670043A (zh) * | 2019-11-12 | 2020-01-10 | 武汉大学深圳研究院 | 一种基于气体团簇离子束溅射的薄膜沉积方法 |
| JP2020136185A (ja) * | 2019-02-22 | 2020-08-31 | 株式会社Sumco | クラスターイオンビーム生成方法及びクラスターイオンビーム照射方法 |
-
1993
- 1993-03-22 JP JP08822393A patent/JP3386175B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100298943B1 (ko) * | 1998-12-03 | 2001-10-20 | 황 철 주 | 반도체소자제조방법 |
| US6375790B1 (en) | 1999-07-19 | 2002-04-23 | Epion Corporation | Adaptive GCIB for smoothing surfaces |
| US6416820B1 (en) | 1999-11-19 | 2002-07-09 | Epion Corporation | Method for forming carbonaceous hard film |
| WO2001084612A1 (en) * | 2000-05-01 | 2001-11-08 | Epion Corporation | Interface control for film deposition by gas-cluster ion-beam processing |
| US6498107B1 (en) | 2000-05-01 | 2002-12-24 | Epion Corporation | Interface control for film deposition by gas-cluster ion-beam processing |
| JP2006063382A (ja) * | 2004-08-26 | 2006-03-09 | Kyoto Univ | チタン酸化物薄膜を基板の表面に形成する方法 |
| JP4926067B2 (ja) * | 2004-10-25 | 2012-05-09 | ティーイーエル エピオン インク. | ガスクラスターイオンビーム形成のためのイオナイザおよび方法 |
| JP2008518407A (ja) * | 2004-10-25 | 2008-05-29 | ティーイーエル エピオン インク. | ガスクラスターイオンビーム形成のためのイオナイザおよび方法 |
| JP2008519458A (ja) * | 2004-11-08 | 2008-06-05 | ティーイーエル エピオン インク. | 銅相互接続配線およびこれを形成する方法 |
| US8097860B2 (en) | 2009-02-04 | 2012-01-17 | Tel Epion Inc. | Multiple nozzle gas cluster ion beam processing system and method of operating |
| JP2012517120A (ja) * | 2009-02-04 | 2012-07-26 | ティーイーエル エピオン インコーポレイテッド | 多重のノズルのガスクラスターイオンビームのシステム及び方法 |
| US8304033B2 (en) | 2009-02-04 | 2012-11-06 | Tel Epion Inc. | Method of irradiating substrate with gas cluster ion beam formed from multiple gas nozzles |
| US8981322B2 (en) | 2009-02-04 | 2015-03-17 | Tel Epion Inc. | Multiple nozzle gas cluster ion beam system |
| US7968422B2 (en) | 2009-02-09 | 2011-06-28 | Tel Epion Inc. | Method for forming trench isolation using a gas cluster ion beam growth process |
| US8592784B2 (en) | 2009-03-31 | 2013-11-26 | Tel Epion Inc. | Method for modifying a material layer using gas cluster ion beam processing |
| US7982196B2 (en) | 2009-03-31 | 2011-07-19 | Tel Epion Inc. | Method for modifying a material layer using gas cluster ion beam processing |
| US8877299B2 (en) | 2009-03-31 | 2014-11-04 | Tel Epion Inc. | Method for enhancing a substrate using gas cluster ion beam processing |
| US8173980B2 (en) | 2010-05-05 | 2012-05-08 | Tel Epion Inc. | Gas cluster ion beam system with cleaning apparatus |
| US8338806B2 (en) | 2010-05-05 | 2012-12-25 | Tel Epion Inc. | Gas cluster ion beam system with rapid gas switching apparatus |
| US8481340B2 (en) | 2010-06-16 | 2013-07-09 | Tel Epion Inc. | Method for preparing a light-emitting device using gas cluster ion beam processing |
| US9540725B2 (en) | 2014-05-14 | 2017-01-10 | Tel Epion Inc. | Method and apparatus for beam deflection in a gas cluster ion beam system |
| JP2020136185A (ja) * | 2019-02-22 | 2020-08-31 | 株式会社Sumco | クラスターイオンビーム生成方法及びクラスターイオンビーム照射方法 |
| CN110670043A (zh) * | 2019-11-12 | 2020-01-10 | 武汉大学深圳研究院 | 一种基于气体团簇离子束溅射的薄膜沉积方法 |
| CN110670043B (zh) * | 2019-11-12 | 2022-04-08 | 武汉大学深圳研究院 | 一种基于气体团簇离子束溅射的薄膜沉积方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3386175B2 (ja) | 2003-03-17 |
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