JPH0627649B2 - 回転角度計 - Google Patents
回転角度計Info
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- JPH0627649B2 JPH0627649B2 JP5460483A JP5460483A JPH0627649B2 JP H0627649 B2 JPH0627649 B2 JP H0627649B2 JP 5460483 A JP5460483 A JP 5460483A JP 5460483 A JP5460483 A JP 5460483A JP H0627649 B2 JPH0627649 B2 JP H0627649B2
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- Japan
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- rotation angle
- parallel
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Links
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 この発明は物体の回転角度を検出するための回転角度計
に関するものである。
に関するものである。
切削機械の刃物台のごとき物体を直線運動させる際に
は、ピッチング、ヨーイング、ローリング等の3次元座
標軸に関する回転誤差を検出して物体の運動を補正する
必要があり、この様な場合にはその物体の本来の予定さ
れた直線方向の移動には影響されずに、回転変位だけを
検出することが出来る回転角度計が必要である。この様
な回転角度計としては、従来からオートコリメータやホ
ログラム回転角度計があるが、これら従来の回転角度計
は精度は高いが1次元の回転角度の変化を検出するもの
であったり、また可動範囲が限られていたりした。ま
た、オートコリメータは高精度のピッチング、ヨーイン
グを同時に測定できるが、ローリングについては感度を
もたないため、測定が不可能であるし、またレーザー測
長システムは2波長のレーザー光源を用い、干渉によっ
て高精度にピッチング、ヨーイングを測定できるが、可
動距離が限られており、かつ、光源及び測長システムが
複雑になるうえに、光学系システムも複雑である。また
一組の平行2枚鏡だけでは、その鏡に垂直な軸回りの回
転をした場合は測れない。
は、ピッチング、ヨーイング、ローリング等の3次元座
標軸に関する回転誤差を検出して物体の運動を補正する
必要があり、この様な場合にはその物体の本来の予定さ
れた直線方向の移動には影響されずに、回転変位だけを
検出することが出来る回転角度計が必要である。この様
な回転角度計としては、従来からオートコリメータやホ
ログラム回転角度計があるが、これら従来の回転角度計
は精度は高いが1次元の回転角度の変化を検出するもの
であったり、また可動範囲が限られていたりした。ま
た、オートコリメータは高精度のピッチング、ヨーイン
グを同時に測定できるが、ローリングについては感度を
もたないため、測定が不可能であるし、またレーザー測
長システムは2波長のレーザー光源を用い、干渉によっ
て高精度にピッチング、ヨーイングを測定できるが、可
動距離が限られており、かつ、光源及び測長システムが
複雑になるうえに、光学系システムも複雑である。また
一組の平行2枚鏡だけでは、その鏡に垂直な軸回りの回
転をした場合は測れない。
この発明は上記のごとき事情に鑑みてなされたものであ
って、構造が簡単で価格も低廉であり、高精度の三次元
回転角度の計測に適した回転角度計を提供することを目
的とするものである。
って、構造が簡単で価格も低廉であり、高精度の三次元
回転角度の計測に適した回転角度計を提供することを目
的とするものである。
この目的に対応して、この発明の回転角度計は、少なく
とも、平行に対向して位置しかつ相対回転変位が零とな
るように位置決めされた2枚の鏡面から成る平行2枚鏡
の2組を相互に異なる所定の方向に被測定体に取付けて
備え、固定位置に設けられたレーザー光源からの2本の
平行な光ビームのうち一方の光ビームを前記一方の平行
2枚鏡で反射したのち投影面に投影するようにし、かつ
前記他方の光ビームを前記他方の平行2枚鏡で反射した
のち投影面に投影するように構成し、被測定体の変化に
よる投影面上の前記2本の光ビーム投影位置の変化量を
測定し、その測定量に基づいて被測定体上に任意に定め
た軸の方向変化分とその軸回りの回転角の大きさを演算
することによって三次元回転角変化を求めることができ
るように構成したことを特徴としている。
とも、平行に対向して位置しかつ相対回転変位が零とな
るように位置決めされた2枚の鏡面から成る平行2枚鏡
の2組を相互に異なる所定の方向に被測定体に取付けて
備え、固定位置に設けられたレーザー光源からの2本の
平行な光ビームのうち一方の光ビームを前記一方の平行
2枚鏡で反射したのち投影面に投影するようにし、かつ
前記他方の光ビームを前記他方の平行2枚鏡で反射した
のち投影面に投影するように構成し、被測定体の変化に
よる投影面上の前記2本の光ビーム投影位置の変化量を
測定し、その測定量に基づいて被測定体上に任意に定め
た軸の方向変化分とその軸回りの回転角の大きさを演算
することによって三次元回転角変化を求めることができ
るように構成したことを特徴としている。
以下、この発明の詳細を一実施例を示す図面について説
明する。
明する。
第1図及び第2図に示すように、この発明の回転角度計
1は2組の平行2枚鏡2a 、2b 、レーザー光源3、光
学系5及び投影面6を備えている。
1は2組の平行2枚鏡2a 、2b 、レーザー光源3、光
学系5及び投影面6を備えている。
平行二枚鏡2a 、2b はそれぞれ、鏡面を平行にして対
向させた相互間で相対回転しない2枚の鏡Ia 、IIa 、
Ib 及びIIb で構成されている。2組の平行2枚鏡2a
、2b は、フレーム7を介して移動台8に取付けられ
ている。この移動台8は固定台11上を仮想線12に沿
って直線移動することが予定されているものであり、そ
の直線移動の際の移動台8の回転角度がこの発明の回転
角度計1での計測の対象である。2組の平行2枚鏡2a
、2b は相互に所定の方向で両者間で相対回転をしな
いように位置決めされている。ただし鏡Ia とIIa の間
隔、並びに鏡Ib とIIb の間隔は調整することが出来
る。
向させた相互間で相対回転しない2枚の鏡Ia 、IIa 、
Ib 及びIIb で構成されている。2組の平行2枚鏡2a
、2b は、フレーム7を介して移動台8に取付けられ
ている。この移動台8は固定台11上を仮想線12に沿
って直線移動することが予定されているものであり、そ
の直線移動の際の移動台8の回転角度がこの発明の回転
角度計1での計測の対象である。2組の平行2枚鏡2a
、2b は相互に所定の方向で両者間で相対回転をしな
いように位置決めされている。ただし鏡Ia とIIa の間
隔、並びに鏡Ib とIIb の間隔は調整することが出来
る。
レーザー光源3は、アライメントレーザ光を発射しう
る。レーザー光源3からのアライメントレーザー光はビ
ームスプリッタ9及びミラー10で2本の平行な光ビー
ム21、22に分割される。光ビーム21は平行2枚鏡
2a に入射し、鏡Ia 、IIa で反射した後、平行2枚鏡
2a を外れて投影面6に投影する。光ビーム22は平行
2枚鏡2b に入射し、鏡Ib 、IIb で反射した後、平行
2枚鏡2a を外れて投影面6に投影する。投影板6はほ
ぼ光学系5の焦点位置にある固定位置に設けられる。
る。レーザー光源3からのアライメントレーザー光はビ
ームスプリッタ9及びミラー10で2本の平行な光ビー
ム21、22に分割される。光ビーム21は平行2枚鏡
2a に入射し、鏡Ia 、IIa で反射した後、平行2枚鏡
2a を外れて投影面6に投影する。光ビーム22は平行
2枚鏡2b に入射し、鏡Ib 、IIb で反射した後、平行
2枚鏡2a を外れて投影面6に投影する。投影板6はほ
ぼ光学系5の焦点位置にある固定位置に設けられる。
このように構成された回転角度計1によって移動台8の
回転角度を計測する場合の操作は次の通りである。すな
わち、移動台8は本来直線運動をしようとするものであ
るが、その直線運動の途中で誤差としてヨーイング、ピ
ッチング、ローリング等の回転をする。この場合、固定
位置にあるレーザー光源3からアライメントレーザー光
を発射すると、アライメントレーザー光は光学系5を介
して、ビームスプリッタ9に入射し、次いでミラー10
で反射されて2本の平行な光ビーム21、22となり、
それぞれ平行2枚鏡2a 、2b に入射し、それぞれの鏡
Ia 、IIa 、Ib 、IIb で反射した後、投影面6の上の
P点、Q点に入射する。この場合、移動台が回転すると
2組の平行2枚鏡も回転し、投影面6上の点P、Qがシ
フトする。そのシフト量△x 1、△y 1、△x 2、△y
2を計測することにより、2組の平行2枚鏡2a 、2b
の三次元方向の回転量を求めることができる。その理論
は次の通りである。
回転角度を計測する場合の操作は次の通りである。すな
わち、移動台8は本来直線運動をしようとするものであ
るが、その直線運動の途中で誤差としてヨーイング、ピ
ッチング、ローリング等の回転をする。この場合、固定
位置にあるレーザー光源3からアライメントレーザー光
を発射すると、アライメントレーザー光は光学系5を介
して、ビームスプリッタ9に入射し、次いでミラー10
で反射されて2本の平行な光ビーム21、22となり、
それぞれ平行2枚鏡2a 、2b に入射し、それぞれの鏡
Ia 、IIa 、Ib 、IIb で反射した後、投影面6の上の
P点、Q点に入射する。この場合、移動台が回転すると
2組の平行2枚鏡も回転し、投影面6上の点P、Qがシ
フトする。そのシフト量△x 1、△y 1、△x 2、△y
2を計測することにより、2組の平行2枚鏡2a 、2b
の三次元方向の回転量を求めることができる。その理論
は次の通りである。
第3図に示すように、単位球上の 1点(λ,μ,υ)が
Z 3軸(Z 1軸をX 1軸のまわりにξ回転し続いてY 2
軸のまわりにη回転した軸)のまわりにδ回転した時に
(λ+△λ,μ+△μ,υ+△υ)になったとすると次
式が成りたつ。
Z 3軸(Z 1軸をX 1軸のまわりにξ回転し続いてY 2
軸のまわりにη回転した軸)のまわりにδ回転した時に
(λ+△λ,μ+△μ,υ+△υ)になったとすると次
式が成りたつ。
ここで r11=−(1−cosδ)cos2η+1 r12=−{(1−cosδ)sinξsinη +sinδcosξ}cosη r13={(1−cosδ)cosξsinη −sinδsinξ}cosη r21={−(1−cosδ)sinξsinη +sinδcosξ}cosη r22=(1−cosδ)sin2ξcos2η +cosδ r23=−(1−cosδ)sinξcosξ ・cos2η−sinδsinη r31={(1−cosδ)cosξsinη +sinδsinξ}cosη r32=−(1−cosδ)sinξcosξ ・cos2η+sinδsinη r33=(1−cosδ)cos2ξcos2η +cosδ …(2)である。
ただし λ2+μ2+υ2=1 (λ+△λ)2+(μ+△μ)2 …(3) +(υ+△υ)2=1 である。
今、 2点 が、回転後それぞれ となったりする。平行 2枚鏡間の距離を 2Rとするとス
クリーン上での移動量は △X1= 4R△λ1,△Y1= 4R△μ1,△X2= 4
R△λ2,△Y2= 4R△μ2…(5) となる。
クリーン上での移動量は △X1= 4R△λ1,△Y1= 4R△μ1,△X2= 4
R△λ2,△Y2= 4R△μ2…(5) となる。
逆にスクリーン上での移動量 △X1,△Y1,△
X2,△Y2が観測されると方向余弦変化は と求まる。(ただし△υ1,△υ2を求めるには(3)
の関係を用いた。) 今簡単のために とおくと、回転軸の方向(ξ,η)とその回転量δは次
式のように求まる。
X2,△Y2が観測されると方向余弦変化は と求まる。(ただし△υ1,△υ2を求めるには(3)
の関係を用いた。) 今簡単のために とおくと、回転軸の方向(ξ,η)とその回転量δは次
式のように求まる。
これにより回転角が三次元的に求まる。
数値計算例 ξ=45゜ η=60゜ δ=20゜の時 ( 1)式より 点P 1は点P 2となる。
P 1(λ1,μ1,υ1)=( 0.577350269, 0.57735026
9, 0.57735027 ) P 2(λ1+△λ1,μ1+△μ1,υ1+△υ1)
( 0.54732377 , 0.781400109, 0.299750829) よって(5)よりシフト量は △X1=− 7.02620075 mm △Y1=−47.7476627 mm である。ただし鏡の間隔を 2R=234 mmとした。
9, 0.57735027 ) P 2(λ1+△λ1,μ1+△μ1,υ1+△υ1)
( 0.54732377 , 0.781400109, 0.299750829) よって(5)よりシフト量は △X1=− 7.02620075 mm △Y1=−47.7476627 mm である。ただし鏡の間隔を 2R=234 mmとした。
同様点Q 1は点Q 2になる。
Q 1(λ2,μ2,υ2) =(− 0.577350269, 0.577350269, 0.57735027 ) Q 2(λ2+△λ2,μ2+△μ2,υ2+△υ2) =(− 0.589967527, 0.66302849 , 0.460701846) よってシフト量は △X2=− 2.95243835 mm △Y2=20.0637638 mmである。
鏡の間隔は 2R=234 mmである。
○ 逆に△X1,△Y1,△X2,△Y2を上記の値と
すると(6)と(7)と(8)より δ=19.9999999゜ η=60゜ ξ=44.99482゜と求ま
る。
すると(6)と(7)と(8)より δ=19.9999999゜ η=60゜ ξ=44.99482゜と求ま
る。
この時Z 3軸(回転軸)の方向は Z 3=(−Sinη,sinξcosη,cosξco
sη) で表わされる。上記の値を代入して結局『Z 3=(−
0.8660254, 0.3535534, 0.3535534)軸のまわりに20
゜回転した』ということになる。
sη) で表わされる。上記の値を代入して結局『Z 3=(−
0.8660254, 0.3535534, 0.3535534)軸のまわりに20
゜回転した』ということになる。
このようにしてこの発明によれば、三次元回転角度の計
測に適した回転角度計を得ることができ、このように三
次元の回転角が求まれば、その角度だけ逆方向に移動台
をフィードバック制御により回転させれば、移動台を常
に正しい方向に方向制御することができる。
測に適した回転角度計を得ることができ、このように三
次元の回転角が求まれば、その角度だけ逆方向に移動台
をフィードバック制御により回転させれば、移動台を常
に正しい方向に方向制御することができる。
第4図及び第5図に示すものは、この発明の他の実施例
に係わる回転角度計であり、この回転角度計1b は、2
組の平行2枚鏡2a 、2b のそれぞれについて、平行2
枚鏡を挾んで一対のコーナーキューブ4a 、4b が位置
する。コーナーキューブ4a 、4b はそれぞれ直交する
3枚の鏡面によって反射面14を構成し、その反射面1
4を向い合せて位置する。コーナーキューブ4a 、4b
は固定台11に取付けられており、平行2枚鏡に入射し
た光はコーナーキューブ4a 、4b で反射されて、再び
平行2枚鏡に入射し、その様な反射を多数回繰返した
後、投影面6に向かって出射するように構成されてい
る。
に係わる回転角度計であり、この回転角度計1b は、2
組の平行2枚鏡2a 、2b のそれぞれについて、平行2
枚鏡を挾んで一対のコーナーキューブ4a 、4b が位置
する。コーナーキューブ4a 、4b はそれぞれ直交する
3枚の鏡面によって反射面14を構成し、その反射面1
4を向い合せて位置する。コーナーキューブ4a 、4b
は固定台11に取付けられており、平行2枚鏡に入射し
た光はコーナーキューブ4a 、4b で反射されて、再び
平行2枚鏡に入射し、その様な反射を多数回繰返した
後、投影面6に向かって出射するように構成されてい
る。
光学系5は固定位置に設けられる。光学系5は長焦点の
ズームレンズで、その焦点距離はアライメントレーザー
光が前記の平行2枚鏡と一対のコーナーキューブ4a 、
4b とで多数回反射をしたのち投影面6に達する光路長
とほぼ等しく、したがって投影面6は光学系5の焦点位
置にあり、したがって投影面6上ではアライメントレー
ザー光は光点になっている。この光点の投影面6上での
位置を測定することによって前記の通り、移動台8の回
転角度が計測される。この様な回転角度計1b では各平
行2枚鏡2a 、2b のいずれにおいても、鏡Ia 、IIa
、Ib 、IIb の間での反射を多数回繰返させることに
より、鏡面間隔が大きくなるのと等価であるため、測定
精度が向上する。
ズームレンズで、その焦点距離はアライメントレーザー
光が前記の平行2枚鏡と一対のコーナーキューブ4a 、
4b とで多数回反射をしたのち投影面6に達する光路長
とほぼ等しく、したがって投影面6は光学系5の焦点位
置にあり、したがって投影面6上ではアライメントレー
ザー光は光点になっている。この光点の投影面6上での
位置を測定することによって前記の通り、移動台8の回
転角度が計測される。この様な回転角度計1b では各平
行2枚鏡2a 、2b のいずれにおいても、鏡Ia 、IIa
、Ib 、IIb の間での反射を多数回繰返させることに
より、鏡面間隔が大きくなるのと等価であるため、測定
精度が向上する。
第1図はこの発明の一実施例に係わる回転角度計を示す
斜視説明図、第2図はこの発明の一実施例に係わる回転
角度計の光路を示す斜視説明図、第3図の回転の位置関
係を示す説明図、第4図はこの発明の他の実施例に係わ
る回転角度計を示す斜視説明図、第5図はこの発明の他
の実施例に係わる回転角度計の光路を示す斜視説明図で
ある。 1……回転角度計、2a ,2b ……平行2枚鏡、3……
レーザー光源、4a ,4b ……コーナーキューブ、5…
…光学系、6……投影面、8……移動体、9……ビーム
スプリッタ、10……ミラー、21,22……光ビー
ム、Ia ,IIa ,Ib ,IIb ……鏡
斜視説明図、第2図はこの発明の一実施例に係わる回転
角度計の光路を示す斜視説明図、第3図の回転の位置関
係を示す説明図、第4図はこの発明の他の実施例に係わ
る回転角度計を示す斜視説明図、第5図はこの発明の他
の実施例に係わる回転角度計の光路を示す斜視説明図で
ある。 1……回転角度計、2a ,2b ……平行2枚鏡、3……
レーザー光源、4a ,4b ……コーナーキューブ、5…
…光学系、6……投影面、8……移動体、9……ビーム
スプリッタ、10……ミラー、21,22……光ビー
ム、Ia ,IIa ,Ib ,IIb ……鏡
Claims (1)
- 【請求項1】少なくとも、平行に対向して位置しかつ相
対回転変位が零となるように位置決めされた2枚の鏡面
から成る平行2枚鏡の2組を相互に異なる所定の方向に
被測定体に取付けて備え、固定位置に設けられたレーザ
ー光源からの2本の平行な光ビームのうち一方の光ビー
ムを前記一方の平行2枚鏡で反射したのち投影面に投影
するようにし、かつ前記他方の光ビームを前記他方の平
行2枚鏡で反射したのち投影面に投影するように構成
し、被測定体の変化による投影面上の前記2本の光ビー
ム投影位置の変化量を測定し、その測定量に基づいて被
測定体上に任意に定めた軸の方向変化分とその軸回りの
回転角の大きさを演算することによって三次元回転角変
化を求めることができるように構成したことを特徴とす
る回転角度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5460483A JPH0627649B2 (ja) | 1983-03-30 | 1983-03-30 | 回転角度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5460483A JPH0627649B2 (ja) | 1983-03-30 | 1983-03-30 | 回転角度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59180311A JPS59180311A (ja) | 1984-10-13 |
| JPH0627649B2 true JPH0627649B2 (ja) | 1994-04-13 |
Family
ID=12975335
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5460483A Expired - Lifetime JPH0627649B2 (ja) | 1983-03-30 | 1983-03-30 | 回転角度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0627649B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8970708B2 (en) | 2011-05-23 | 2015-03-03 | The Johns Hopkins University | Automatic device alignment mechanism |
| CN109959353A (zh) * | 2019-04-09 | 2019-07-02 | 北方民族大学 | 一种补偿式角度传感器 |
-
1983
- 1983-03-30 JP JP5460483A patent/JPH0627649B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 「センター技術」第3巻第2号第78〜82頁,昭和58年1月11日情報調査会発行 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59180311A (ja) | 1984-10-13 |
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